JPS59231736A - フォーカスおよびトラッキング誤差検出装置 - Google Patents

フォーカスおよびトラッキング誤差検出装置

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JPS59231736A
JPS59231736A JP10411983A JP10411983A JPS59231736A JP S59231736 A JPS59231736 A JP S59231736A JP 10411983 A JP10411983 A JP 10411983A JP 10411983 A JP10411983 A JP 10411983A JP S59231736 A JPS59231736 A JP S59231736A
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JP
Japan
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diffraction grating
light
focus
tracking error
diffracted
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JP10411983A
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Yoshihiro Katase
片瀬 順弘
Toshihiko Goto
敏彦 後藤
Masayuki Inoue
雅之 井上
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、光学式ビデオディスクプレーヤなどにおいて
、光源から照射された光が対物レンズ等を介して光ディ
スク等の記録媒体上の情報トラック上に正しく集光して
いるかどうかを検出するために用いるフォーカスおよび
トラッキング誤差検出装置に関する。
〔発明の背景〕
光学式ビデオディスクプレーヤ等においては、その記録
・再生に当って、レーザ等の光源からの光束を光学系に
より微小スポットとしてディスクの情報トラック上に常
に正しく集光する必要があり、そのためのフォーカスお
よびトラッキング誤差検出装置が備えられている。
第1図はl’Jational ’l’echnica
l 1eport VOl、28No、5 June 
1982に見られる従来のフォーカスおよびトラッキン
グの誤差検出装置を示す構成図である。第1図において
、1は半導体レーザ光源、2はコリメートレンズ、6は
発散光、4は平行光、5は偏光ビームスプリッタ、6は
4分の1波長板、7は対物レンズ、8は光ディスク、9
は情報トランク、10は反射光、11は平行光、12は
凸レンズ、16はミラー、14は凹レンズ、15はフォ
ーカス誤差信号、16と17は2分割受光素子、18ハ
トラッキング誤差信号、19と20は2分割受光素子、
である。
次に動作について簡単に説明する。光源には半導体レー
ザ光源1が用いられる。コリメートレンズ2は光源の発
散光3を集光して平行光4に変換する集光レンズである
。平行光4は、偏光ビームスプリッタ5,4分の1波長
板6を通過し、対物レンズ7によりて絞り込まれ、ディ
スク8における情報トラック9上に照射する情報トラッ
ク9からの反射光10は対物レンズ7によって集光され
て再び平行光11となり、4分の1波長板6を通過後、
偏光ビームスプリッタ5で反射される。この平行光11
は凸レンズ12を通過後ミラー13で2分割され、一方
は凹レンズ14を経てフォーカス誤差信号15を得るた
めの2分割受光素子16.17に、他方はトラッキング
誤差信号1Bを得るための2分割受光素子19.20に
導かれる。図には示されてはいないが、これらの誤差信
号15.18は、フィートノくツク制御に用〜・られ、
対物レンズ7をX軸、y軸方向に動かすことによりフォ
ーカスサーボ、トラッキングサーボな行なう。
ところで、再生専用のビデオディスク等で用いられるフ
ォーカス誤差信号検出方式としては、円柱レンズを用い
る非点収差方式が良く知られている。この方式は反射光
のファーフィールド像の形状の変化を利用して誤差信号
を得るものであり、フォーカス感度が高いという特徴が
ある。ところが、トラッキング用としてディスク8に設
けられであるλ/8の溝トラツク9によりて一次元方向
の回折を受けるために、この回折の影響がフォーカス誤
差信号に外乱として混入し、フォーカス精度が劣化する
。その結果、トラッキング誤差信号の品質が悪くなりト
ラッキングの引込み時や検索時にサーボ系が不安定とな
る要因になる。この影響は、非点収差方式のように反射
光のファーフィールド像からフォーカス誤差信号を得る
方式の方が太きい。
そのため、第1図に示した反射光学系では、凸レンズ1
2と凹レンズ14による反射光の結像位置に2分割受光
素子16.17を設はフォーカス誤差信号15を得るよ
うにする。反射光の結像位置では、ディスク8上の像に
対して共役な像ができるため、溝トラツク9による回折
の影響はかなり軽減でき、フォーカス精度を高めること
ができる。
次に、トラッキング誤差信号18の検出について述べる
第2図は溝トラツク9を横切った時のファーフィールド
PI21の変化を示したものである。実際には、光学系
側からみて凸部に信号の記録再生が行なわれる。
溝トラツク9の深さは半導体レーザ1の波長λに対して
、λ/8の光学的距離をもち、溝と溝間からの両反射光
にはπ/2の位相差がある。このπ/2の位相差をもつ
新トラック9の端に光が入射したとき、反射光のファー
フィールド像21では、その方向に光強度の強いところ
が移る。
したがって、この光強度の変化を第1図に示した光学系
に示す2分割受光素子19.20で検出し、両受光素子
19.20の受光量の差からトラッキング誤差信号18
を得ることができる。
このように、従来のフォーカスおよびトラッキング誤差
検出装置では、ミラー13により光束を異なった方向に
2分割し、それぞれの光束を受けるために、フォーカス
誤差信号15を得るための2分割受光素子16.17と
トラッキング誤差信号18を得るための2分割受光素子
19.20とを別々の位置にそれぞれ独立して配置しな
ければならない。そのため受光素子や調整機構などの部
品点数が多くなり、光学系が大形になり、調整箇所がふ
えるといった欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上述した欠点を除去し、フォーカス信
号を得るための2分割受光素子とトラッキング誤差信号
を得るための2分割受光素子とを同一平面上に近接させ
て配置して光学系を小形に構成し、しかも常に正確に正
しく動作するフォーカスおよびトラッキング誤差検出装
置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明のフォーカスおよびトラッキング誤差検出装置は
、光源から射出された光を集束させて、ディスク記録面
の情報トランク上に照射させる対物レンズと、該対物レ
ンズと該光源との間に配置され、前記光源からの光を該
対物レンズに導くと共に、前記情報トラックで反射され
、該対物レンズで集光された反射光を分割受光素子に導
くビームスプリッタと、該ビームスプリッタと該分割受
光素子との間に配置され、前記情報トラックにおけるト
ラック中心線に光学的に対応する直線により分割された
、互いに性質の異なる第1の回折格子面と第2の回折格
子面を同一平面上に有する回折格子とを具備し、第1の
回折格子面で回折された回折光と、第2の回折格子面で
回折された回折光の光量分布の変化を検出することによ
り、前記対物レンズの情報トラックに対するフォーカス
およびトラッキング誤差信号を得るように構成したこと
を特徴としている。
〔発明の実施例〕
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
第3図は本発明の一実施例を示す斜視図、第4図ta)
は第3図における回折格子22の正面図、第4図(b)
は同側面図、第4図(C)は第4図(b)の部分的拡大
図、第5図は光束11に対する回折格子22の位置関係
を示す回折格子22の正面図、第6図は分割受光素子2
8および信号処理を示す構成図である。
第6図において、ディスク80反射光10を偏光ビーム
スプリッタ5で反射させるまでは、第1図に示した従来
の光学的記録再生装置と同じ構成であり、第1図に示す
符号と同一符号は同一光学部材を表わす。さらに、22
は回折格子、22aは第1の回折格子面、22bは第2
の回折格子面、23はトラック中心線に光学的に対応す
る直線、27は検出レンズ、28は分割受光素子、であ
る。
つづいて回折格子22について説明する。
この回折格子22は、回折格子面が情報トラック中心線
と光学的に対応する直線23により分割された、互いに
性質の異なる第1の回折格子面22aと第2の回折格子
面22bを同一平面上に有するよう構成されている。本
実施例においては、第2の回折格子面22bとして、回
折格子が形成されていない面とし、第1の回折格子面2
2aのみ回折格子が形成されている面とした。
第1の回折格子面22aに形成された回折格子は第4図
に示すように、表面が凸凹形状をなした透過型の回折格
子であり、凸部の幅すと凹部の幅aが等しく、かつ凸部
と凹部の高さの差りと、光源の波長λおよび回折格子の
屈折率nとの間に λ 2(n−1) ナル関係を満足するよう構成されている。凸部の幅すと
四部の幅aが等しい回折格子面において光が回折される
と偶数次(0次を除く)回折光は光量が0となる。また
、凸部と凹部の高さの差りがλ/2の光学的距離をもつ
回折格子面において光が回折されると凸部の透過光と凹
部の一透過光との間にはπの位相差が生じるため0次回
折光の光量は0になる。しかるに両者の性質を兼ね備え
た回折格子面を用いた場合、透過光は0次及び偶数次回
折光の光量は0となり、±1次回折光の光量のみが十分
得られるようになる。
すなわち、該回折格子面を通過した光は2方向に分割し
て回折される。
ところで、本実施例で用いられる回折格子22は、分光
用のそれとは異なり、1霧あたり数本〜数十本程度の比
較的粗い格子であるから、ルーyングエンジンを用いず
に、ガラスエツチングやガラス蒸着等の手法により安価
にかつ容易に製作することができる。
以上のことを踏まえて本実施例における動作について説
明する。ディスク8における情報トラック9上で反射さ
れた反射光10が偏光ビームスプリッタ5で反射するま
では第1図に示す従来の光学的記録再生装置と同様の動
作を行なう。
偏光ビームスプリッタ5で反射された後、光束11は第
5図に示すように回折格子22に入射する。
このとき第1の回折格子面22aに入射した光束は該回
折格子面22aにより回折され+1次元24と一1次光
25とに2分割される。また、第2の回折格子面22b
に入射した光束は、該回折格子面22bには回折格子が
形成されていないために、回折を受けず透過され0次元
26となる。そして+1次光24、−1次元25.0次
元26はそれぞれ検出レンズ27によって集束光となり
、分割受光素子28の各受光面に入射する。
この分割受光素子28は、H次光24の受光面28aと
、−1次元25の受光面28bと、ディスク8における
情報トラック9のトラック中心線と光学的に対応する直
線29により2領域に分割された、0次光の受光面28
c、28dとにより構成されている。
各受光面に入射した光束はそれぞれ電気信号に変換され
、第6図に示すように信号処理される。すなわち従来例
で説明した原理と同様に、フォーカス誤差信号15は、
受光面28c 、 28dの出力の差から得られる。ま
た、トラッキング誤差信号18は、受光面28c、28
dの加算信号6oと、受光面28a、28bの加算信号
31を適当に増幅した信号62との差から得られる。
次に本発明において用いる回折格子および受光素子の他
の構成例について述べる。
第7図、第9図、第11図はそれぞれ他の構成例を示す
回折格子の正面図、第8図、第10図、第12図はそれ
ぞれ第7図、第9図、第11図に示した回折格子に対応
する分割受光素子および信号処理を示す構成図、である
第5図では、回折格子22の境界線26に対して、格子
線63の方向が垂直であるが、第7図のように、回折格
子34の境界線65に対して格子IfM56の方向を平
行としてもよい。この場合には、第8図に示した分割受
光素子67を用いればよい。
また、第9図のように、互いに格子間隔が異なる2つの
回折格子面38a、38bで構成される回折格子68を
用いることもできる。この場合には、例えば第10図に
示した分割受光素子69を用いればよい。
さらに、第11図のように、互いに格子線の向きが異な
る2つの回折格子面40a 、 40bで構成される回
折格子40を用いることもできる。この場合には、例え
ば第12図に示した分割受光素子41を用いればよい。
このように、互いに性質の異なる2つの回折格子面を有
する回折格子を用いた場合には、少なくとも4つ以上の
回折光が得られ、それらの内2つをフォーカス検出用に
、残りの2つをトラッキング検出用に使用することがで
きるので、信号処理もより簡単になる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、回折格子で回折
された回折光の光量分布の変化を検出することにより、
対物レンズの情報トラックに対するフォーカスおよびト
ラッキング誤差信号を検出するために、フォーカス信号
を得るための2分割受光素子とトラッキング誤差信号を
得るための2分割受光素子とを同一平面上に近接させて
配置することができるので、受光素子や調整機構などの
部品点数が減り、光学系が小型になり、調整箇所が減る
といった効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はフォーカスおよびトラッキング誤差検出装置の
従来例を示す構成図、第2図は反射光のファーフィール
ド像の説明図、第3図は本発明の一実施例を示す斜視図
、第4図(a)は第3図における回折格子22の正面図
、第4図(b)は同側面図、第4図(C)は第4図(b
)の部分的拡大図、第5図は回折格子22の正面図、第
6図は分割受光素子28および信号処理を示す構成図、
第7図、l第9図、第11図はそれぞれ本発明において
用いる回折格子の他の構成例を示す構成図、第8図、第
10図、第12図は同じく分割受光素子および信号処理
の他の構成例を示す構成図、である。 1・・・半導体レーザ光源、2・・・コリメートレンズ
、3・・・発散光、     4・・・平行光、5・・
・偏光ビームスプリッタ、6・・・4分の1波長板、7
・・・対物レンズ、    8・・・光ディスク、9・
・・情報トラック、  −10・・・反射光、11・・
・平行光、     12・・・凸レンズ、16・・・
ミラー、14・・・凹レンズ、15・・・フォーカス誤
差信号、16.17・・・2分割受光素子、18・・・
トラッキング誤差信号、19.20・・・2分割受光素
子、21・・・反射光のファーフィールド像、22・・
・回折格子、     22a・・・第1の回折格子面
、22b・・・第2の回折格子面、 23・・・直線、
24・・・+1次光、     25・・・−1次光、
26・・・0次光、     27・・・検出レンズ、
28・・・分割受光素子、  28a〜28d・・・受
光面、29・・・直線、      63・・・格子線
。 第1 圀 X 第20 20、[丁)1? 第 3 口 2? 第4図 3 (i)               (b)    
      (Cン第51      第6図 第?図 J夏 第11図 第10m 第tz I!1

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)光源から射出された光を集束させて、ディスク記録
    面の情報トラック上に照射させる対物レンズと、該対物
    レンズと前記光源との間に配置され、該光源からの光を
    前記対物レンズに導くと共に、前記情報トラックで反射
    され、対物レンズで集光された反射光を分割受光素子に
    導(ビームスプリッタと、該ビームスプリッタと前記分
    割受光素子との間に配置され、前記情報トラックにおけ
    るトラック中心線に光学的に対応する直線により分割さ
    れた、互いに性質の異なる第1の回折格子面と第2の回
    折格子面を同一平面上に有する回折格子とを具備し、前
    記第1の回折格子面で回折された回折光と、第2の回折
    格子面で回折された回折光の光量分布を検出することに
    より、前記対物レンズの情報トラックに対するフォーカ
    スおよびトラッキング誤差信号を検出するようにしたこ
    とを特徴とするフォーカスおよびトラッキング誤差検出
    装置。 2)前記回折格子は、表面が凸凹形状をなした透過型の
    回折格子であり、凸部の幅と凹部の幅が等しく、凸部と
    凹部の高さの差りと、前記光源の波長λおよび回折格子
    の屈折率nとの間になる関係を満足するようにしたこと
    を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のフォーカス
    およびトラッキング誤差検出装置。 6)前記回折格子の第1の回折格子面と第2の回折格子
    面のうちの一方は、回折格子が形成されていない面とし
    たことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のフォ
    ーカスおよびトラッキング誤差検出装置。 4)前記回折格子は、互いに格子線の向きが異なるよう
    に形成された第1の回折格子面と第2の回折格子面から
    成ることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のフ
    ォーカスおよびトラッキング誤差検出装置。 5)前記回折格子は、互いに格子間隔が異なるように形
    成された第1の回折格子面と第2の回折格子面から成る
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のフォー
    カスおよびトラッキング誤差検出装置。 6)前記分割受光素子は、第1の回折格子面で回折され
    た回折光と、第2の回折格子拘で回折された回折光をそ
    れぞれ受光するための少なくとも2つの受光面を具え、
    そのうちの少なくとも1つの受光面は、前記情報トラッ
    クにおけるトラック中心線に光学的に対応する直線によ
    り2領域に分割されていることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項に記載のフォーカスおよびトラッキング誤差
    検出装置。
JP10411983A 1983-06-13 1983-06-13 フォーカスおよびトラッキング誤差検出装置 Granted JPS59231736A (ja)

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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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