JP2734685B2 - 光検出器の調整方法および焦点誤差検出装置 - Google Patents
光検出器の調整方法および焦点誤差検出装置Info
- Publication number
- JP2734685B2 JP2734685B2 JP1270270A JP27027089A JP2734685B2 JP 2734685 B2 JP2734685 B2 JP 2734685B2 JP 1270270 A JP1270270 A JP 1270270A JP 27027089 A JP27027089 A JP 27027089A JP 2734685 B2 JP2734685 B2 JP 2734685B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- photodetector
- area
- divided
- region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ディスク装置に用いられる光ヘッド装置の
焦点誤差検出装置のうち、ホログラム光学素子を用いた
焦点誤差検出装置、およびそれに用いられる光検出器の
調整方法に関する。
焦点誤差検出装置のうち、ホログラム光学素子を用いた
焦点誤差検出装置、およびそれに用いられる光検出器の
調整方法に関する。
近年、ホログラム光学素子と４分割光検出器を組み合
わせた構成からなる焦点誤差検出系を有する光ヘッド装
置が開発されている。この種の光ヘッド装置の焦点誤差
検出方式として、フーコー法が用いられることが多い。
以下に、フーコー法の原理に基づく、ホログラム光学素
子と４分割光検出器からなる誤差検出系について図面を
参照しながら説明する。
わせた構成からなる焦点誤差検出系を有する光ヘッド装
置が開発されている。この種の光ヘッド装置の焦点誤差
検出方式として、フーコー法が用いられることが多い。
以下に、フーコー法の原理に基づく、ホログラム光学素
子と４分割光検出器からなる誤差検出系について図面を
参照しながら説明する。
第２図は、ホログラム素子１と４分割光検出器２から
なる焦点誤差検出系について説明するための図である。
光源から出射した光は光ディスク上で反射し、反射光と
なってホログラム素子１に入射する。ホログラム素子１
は光軸３を含む分割線４で２つの領域に分けられてい
る。４分割光検出器２は、互いに直交する第１分割線５
と第２分割線６を持っており、第２分割線６は光軸を含
み、ホログラム素子の分割線４と光学的に平行になるよ
うに配置される。ホログラム素子の第１領域７には、光
ディスクがオンフォーカスの場合に、この領域へ入射光
を４分割光検出器２の第２分割線６上のＡ点８に集光さ
せる機能を有するホログラムが記録されている。同様
に、ホログラム素子の第２領域９には、光ディスクがオ
ンフォーカスの場合に、この領域への入射光を、４分割
光検出器２の第２分割線６上のＡ点８からみて第１分割
線５を挟んで反対側のＢ点10に集光させる機能を有する
ホログラムが記録されている。
なる焦点誤差検出系について説明するための図である。
光源から出射した光は光ディスク上で反射し、反射光と
なってホログラム素子１に入射する。ホログラム素子１
は光軸３を含む分割線４で２つの領域に分けられてい
る。４分割光検出器２は、互いに直交する第１分割線５
と第２分割線６を持っており、第２分割線６は光軸を含
み、ホログラム素子の分割線４と光学的に平行になるよ
うに配置される。ホログラム素子の第１領域７には、光
ディスクがオンフォーカスの場合に、この領域へ入射光
を４分割光検出器２の第２分割線６上のＡ点８に集光さ
せる機能を有するホログラムが記録されている。同様
に、ホログラム素子の第２領域９には、光ディスクがオ
ンフォーカスの場合に、この領域への入射光を、４分割
光検出器２の第２分割線６上のＡ点８からみて第１分割
線５を挟んで反対側のＢ点10に集光させる機能を有する
ホログラムが記録されている。
第３図は光ディスク上でのフォーカス状態の変化によ
る４分割光検出器２上での光スポットの変化を模式的に
示している。ここで、４分割光検出器２の個別の第１光
検出器11,第２光検出器12,第３光検出器13,第４光検出
器14の出力をそれぞれV1,V2,V3,V4とする。第３図
（ｂ）に示したオンフォーカスの場合光スポットはそれ
ぞれＡ点15,B点16にある。第３図（ａ）に示す近付く方
向のデフォーカスが生じた場合には、光スポットは第１
光検出器11上と第４光検出器14上にのみ分布する。逆
に、第３図（ｃ）に示す遠ざかる方向へのデフォーカス
が生じると、光スポットは第２光検出器12上と第３光検
出器13上にのみ分布する。従って、焦点誤差信号Sfeは
次式により与えられる。
る４分割光検出器２上での光スポットの変化を模式的に
示している。ここで、４分割光検出器２の個別の第１光
検出器11,第２光検出器12,第３光検出器13,第４光検出
器14の出力をそれぞれV1,V2,V3,V4とする。第３図
（ｂ）に示したオンフォーカスの場合光スポットはそれ
ぞれＡ点15,B点16にある。第３図（ａ）に示す近付く方
向のデフォーカスが生じた場合には、光スポットは第１
光検出器11上と第４光検出器14上にのみ分布する。逆
に、第３図（ｃ）に示す遠ざかる方向へのデフォーカス
が生じると、光スポットは第２光検出器12上と第３光検
出器13上にのみ分布する。従って、焦点誤差信号Sfeは
次式により与えられる。
Sfe＝（V1＋V4）−（V2＋V3） ここで、オンフォーカスの場合の収束点A15,B16は、
第１分割線５を挟んでそれぞれ反対側の第２分割線６上
にあれば焦点誤差を検出できる。つまり、上述の条件を
満足する位置にＡ点15,B点16があれば、焦点誤差検出特
性に大きな変化はない。しかし、光ヘッド装置の温度安
定性や、衝撃耐久力を向上させるためには、光スポット
がなるべく４分割光検出器の中央に位置することが望ま
しく、そのために、光スポットが４分割光検出器上の所
定の位置に形成されるよう、４分割光検出器の位置調整
を行う必要がある。
第１分割線５を挟んでそれぞれ反対側の第２分割線６上
にあれば焦点誤差を検出できる。つまり、上述の条件を
満足する位置にＡ点15,B点16があれば、焦点誤差検出特
性に大きな変化はない。しかし、光ヘッド装置の温度安
定性や、衝撃耐久力を向上させるためには、光スポット
がなるべく４分割光検出器の中央に位置することが望ま
しく、そのために、光スポットが４分割光検出器上の所
定の位置に形成されるよう、４分割光検出器の位置調整
を行う必要がある。
以上の説明では、説明を分かりやすくするために、光
スポットの４分割光検出器上での収束点と、望ましい光
スポット位置とを区別せずに、Ａ点,B点と記述したが、
以下の説明では、所望の光スポット位置をＡ点,B点と記
述する。
スポットの４分割光検出器上での収束点と、望ましい光
スポット位置とを区別せずに、Ａ点,B点と記述したが、
以下の説明では、所望の光スポット位置をＡ点,B点と記
述する。
従来、上述した原理による焦点誤差検出系において、
４分割光検出器の第１の調整方法は、第１分割線に沿う
方向に関しては、焦点誤差信号の振幅を観測し最大とな
るように、また、第２分割線に沿う方向に関しては、光
ビームの集光点が個別光検出器の端に来る位置を光検出
器の出力から検出し、その位置を基準にして光ビームの
集光点が上述のＡ点およびＢ点と一致するよう４分割光
検出器を所定量だけ微動させて位置決めを行っていた。
４分割光検出器の第１の調整方法は、第１分割線に沿う
方向に関しては、焦点誤差信号の振幅を観測し最大とな
るように、また、第２分割線に沿う方向に関しては、光
ビームの集光点が個別光検出器の端に来る位置を光検出
器の出力から検出し、その位置を基準にして光ビームの
集光点が上述のＡ点およびＢ点と一致するよう４分割光
検出器を所定量だけ微動させて位置決めを行っていた。
また、４分割光検出器の第２の調整方法として、光検
出器調整用の光ビームを用いる方法がある。第４図はこ
の方法を説明するための図である。この方法は、ホログ
ラム領域として、焦点誤差検出用の第１領域17,第２領
域18に加え、ホログラム光学素子19の光軸20付近に光軸
対称な形状を有する第３のホログラム領域21を設け、焦
点誤差検出用の２つの光ビームがＡ点22およびＢ点23と
一致している場合に、この第３領域21への入射光を第１
分割線５と第２分割線６の交点に導くためのものであ
る。調整が完全に行われた状態では、位置調整用の光ビ
ームによって形成された第３の光スポット24は、第１分
割線５により光量が２分割されるため、第１分割線の左
右の光量は等しくなる。すなわち、４分割光検出器位置
ずれ信号Sadjを Sadj＝（V1＋V2）−（V3＋V4） とすれば、Sadj＝０となる。ところが、位置ずれがある
場合には、Sadjは０にはならない。従って、信号Sadjの
極性と絶対値から誤差量を見積もることができ、それを
もとにSadj＝０になるよう調整すればよい。
出器調整用の光ビームを用いる方法がある。第４図はこ
の方法を説明するための図である。この方法は、ホログ
ラム領域として、焦点誤差検出用の第１領域17,第２領
域18に加え、ホログラム光学素子19の光軸20付近に光軸
対称な形状を有する第３のホログラム領域21を設け、焦
点誤差検出用の２つの光ビームがＡ点22およびＢ点23と
一致している場合に、この第３領域21への入射光を第１
分割線５と第２分割線６の交点に導くためのものであ
る。調整が完全に行われた状態では、位置調整用の光ビ
ームによって形成された第３の光スポット24は、第１分
割線５により光量が２分割されるため、第１分割線の左
右の光量は等しくなる。すなわち、４分割光検出器位置
ずれ信号Sadjを Sadj＝（V1＋V2）−（V3＋V4） とすれば、Sadj＝０となる。ところが、位置ずれがある
場合には、Sadjは０にはならない。従って、信号Sadjの
極性と絶対値から誤差量を見積もることができ、それを
もとにSadj＝０になるよう調整すればよい。
従来技術による４分割光検出器の第１の調整方法では
特に第２分割線に沿う方向の調整に際して、光検出器の
出力をモニタしながら光検出器を移動させ検出器端を見
つけだし、その後所定量だけ再び光検出器を移動させる
必要があるため、調整工数が非常に大きくなってしまう
という欠点を有していた。さらに調整終了後、光スポッ
トが光検出器上の所定の位置にあるか否かを検出する方
法がなく、従って光ヘッドが所定の規格を満足している
ことが確認できなかった。
特に第２分割線に沿う方向の調整に際して、光検出器の
出力をモニタしながら光検出器を移動させ検出器端を見
つけだし、その後所定量だけ再び光検出器を移動させる
必要があるため、調整工数が非常に大きくなってしまう
という欠点を有していた。さらに調整終了後、光スポッ
トが光検出器上の所定の位置にあるか否かを検出する方
法がなく、従って光ヘッドが所定の規格を満足している
ことが確認できなかった。
また、第２の調整方法では次のような問題点がある。
ホログラム光学素子を用いた光ヘッドの場合、光源であ
る半導体レーザの波長が環境温度などにより変化するた
め、ホログラム光学素子からの回折光もそれに応じて位
置を変える。通常、変化の方向は、４分割光検出器の第
２分割線に沿う方向になるように設定されるが、わずか
ながら、それと直交する移動成分を生じる。特に反射型
ホログラム光学素子では顕著である。一方、焦点誤差信
号は、第２分割線で分割された領域間の光量の差から得
ている。位置調整用の光スポットを用いる位置調整法で
は、この直交成分の影響のために４分割光検出器上の位
置調整用の光スポットは第２分割線に沿うように移動せ
ず、結果として、光量が第２分割線により正しく２分割
されなくなる。このために、焦点誤差信号にオフセット
が発生し、情報の記録再生に支障をきたす恐れがあっ
た。
ホログラム光学素子を用いた光ヘッドの場合、光源であ
る半導体レーザの波長が環境温度などにより変化するた
め、ホログラム光学素子からの回折光もそれに応じて位
置を変える。通常、変化の方向は、４分割光検出器の第
２分割線に沿う方向になるように設定されるが、わずか
ながら、それと直交する移動成分を生じる。特に反射型
ホログラム光学素子では顕著である。一方、焦点誤差信
号は、第２分割線で分割された領域間の光量の差から得
ている。位置調整用の光スポットを用いる位置調整法で
は、この直交成分の影響のために４分割光検出器上の位
置調整用の光スポットは第２分割線に沿うように移動せ
ず、結果として、光量が第２分割線により正しく２分割
されなくなる。このために、焦点誤差信号にオフセット
が発生し、情報の記録再生に支障をきたす恐れがあっ
た。
本発明の目的は、上述の課題を解決して、調整工数の
少ない正確な位置決めができ、また、検査が可能で、耐
環境性にもすぐれた光検出器の調整方法および焦点誤差
検出装置を提供することにある。
少ない正確な位置決めができ、また、検査が可能で、耐
環境性にもすぐれた光検出器の調整方法および焦点誤差
検出装置を提供することにある。
本発明の光検出器の調整方法は、 光ディスク信号面で反射した戻り光を光軸対称な形状
を有する少なくも第１の領域と第２の領域および第３の
領域と第４の領域の光に分離し、前記第１および第２の
領域の光を略直交する第１および第２の分割線を有する
４分割光検出器の第１の分割線を挟んで第２の分割線上
にそれぞれ集光させ、前記第３および第４の領域の光
を、前記第１の領域と前記第２の領域の光が前記４分割
光検出器上で所定の位置に光スポットを形成している状
態で、前記第２の分割線を挟んで前記第１の分割線上に
導き、前記第１の分割線によって分離された両側各々２
つの光検出器の和信号の差が零になるように４分割光検
出器の位置決めを行うことを特徴とする。
を有する少なくも第１の領域と第２の領域および第３の
領域と第４の領域の光に分離し、前記第１および第２の
領域の光を略直交する第１および第２の分割線を有する
４分割光検出器の第１の分割線を挟んで第２の分割線上
にそれぞれ集光させ、前記第３および第４の領域の光
を、前記第１の領域と前記第２の領域の光が前記４分割
光検出器上で所定の位置に光スポットを形成している状
態で、前記第２の分割線を挟んで前記第１の分割線上に
導き、前記第１の分割線によって分離された両側各々２
つの光検出器の和信号の差が零になるように４分割光検
出器の位置決めを行うことを特徴とする。
また本発明の焦点誤差検出装置は、 格子型光学素子と、受光面が２本の略直交する分割線
により少なくとも４分割された４分割光検出器を少なく
とも備え、前記格子型光学素子は、前記格子型光学素子
内の基準点を中心とする点対称な形状を有する第１の領
域と第２の領域および前記基準点を中心とする点対称な
形状を有する第３の領域と第４の領域とを少なくとも有
し、光情報記録媒体からの戻り光の光軸と前記基準点が
略一致するように配置され、前記第１の領域と第２の領
域へ入射する前記戻り光を前記４分割光検出器の第１の
分割線を挟んで第２の分割線上にそれぞれ集束させ、こ
れら２つの集束点が前記４分割光検出器上の所定の位置
にあるとき、前記第３の領域と第４の領域へ入射する前
記戻り光を前記４分割光検出器の第２の分割線を挟んで
第１の分割線上にそれぞれ集束させることを特徴とす
る。
により少なくとも４分割された４分割光検出器を少なく
とも備え、前記格子型光学素子は、前記格子型光学素子
内の基準点を中心とする点対称な形状を有する第１の領
域と第２の領域および前記基準点を中心とする点対称な
形状を有する第３の領域と第４の領域とを少なくとも有
し、光情報記録媒体からの戻り光の光軸と前記基準点が
略一致するように配置され、前記第１の領域と第２の領
域へ入射する前記戻り光を前記４分割光検出器の第１の
分割線を挟んで第２の分割線上にそれぞれ集束させ、こ
れら２つの集束点が前記４分割光検出器上の所定の位置
にあるとき、前記第３の領域と第４の領域へ入射する前
記戻り光を前記４分割光検出器の第２の分割線を挟んで
第１の分割線上にそれぞれ集束させることを特徴とす
る。
以下、図面を参照しながら、本発明の作用を説明す
る。第５図は、本発明の作用を説明するための図であ
る。
る。第５図は、本発明の作用を説明するための図であ
る。
光ディスク信号面で反射した戻り光は、ホログラム光
学素子により４つの光ビームに分けられて４分割光検出
器に導かれる。この場合、４分割光検出器上には第２分
割線６上に、ホログラム光学素子の４つの領域のうち、
第１領域、第２領域による第１光スポット25,第２光ス
ポット26が第１分割線５を挟んで形成され、同時に、第
２分割線６を挟んで、第３領域，第４領域による第３光
スポット27,第４光スポット28がそれぞれ形成される。
第１および第２光スポット25,26は焦点誤差検出用、第
３及び４光スポット27,28は光検出器の位置調整用であ
る。第１光スポット25の光量と第２光スポット26の光
量、および第３光スポット27の光量と第４光スポット28
の光量はそれぞれ等しくなるようにしてある。
学素子により４つの光ビームに分けられて４分割光検出
器に導かれる。この場合、４分割光検出器上には第２分
割線６上に、ホログラム光学素子の４つの領域のうち、
第１領域、第２領域による第１光スポット25,第２光ス
ポット26が第１分割線５を挟んで形成され、同時に、第
２分割線６を挟んで、第３領域，第４領域による第３光
スポット27,第４光スポット28がそれぞれ形成される。
第１および第２光スポット25,26は焦点誤差検出用、第
３及び４光スポット27,28は光検出器の位置調整用であ
る。第１光スポット25の光量と第２光スポット26の光
量、および第３光スポット27の光量と第４光スポット28
の光量はそれぞれ等しくなるようにしてある。
ホログラム光学素子は、次の２つの条件を満足する位
置に第３および第４光スポットを形成するよう設計され
ている。第１の条件は、第１光スポットおよび第２光ス
ポットがそれぞれＡ点29,B点30にあるとき、第３光スポ
ットおよび第４光スポットが第１分割線上に形成される
ことである。第２の条件は、光源である半導体レーザの
発振波長が変化した場合でも、第３光スポット27は個別
の第１光検出器31かまたは第３光検出器33上にあり、ま
た、第４光スポット28は第２光検出器32かまたは第４光
検出器34上にあって、それぞれ第２分割線６を横断して
移動することがないことである。
置に第３および第４光スポットを形成するよう設計され
ている。第１の条件は、第１光スポットおよび第２光ス
ポットがそれぞれＡ点29,B点30にあるとき、第３光スポ
ットおよび第４光スポットが第１分割線上に形成される
ことである。第２の条件は、光源である半導体レーザの
発振波長が変化した場合でも、第３光スポット27は個別
の第１光検出器31かまたは第３光検出器33上にあり、ま
た、第４光スポット28は第２光検出器32かまたは第４光
検出器34上にあって、それぞれ第２分割線６を横断して
移動することがないことである。
４分割光検出器が正しく調整されている場合は、第１
分割線５により第３光スポット27および第４光スポット
28の光量は等しく２分割され、前述の光検出器の調整ず
れ信号はSadj＝０となる。また位置ずれがある場合に
は、位置ずれの方向とずれ量によりSadjの信号が変化す
るため、この信号をもとに光検出器を正しく調整するこ
とができる。また、調整が正しく行われたか否かを確認
するためには、Sadjの信号の絶対値が規定値以下である
ことを確認すればよい。
分割線５により第３光スポット27および第４光スポット
28の光量は等しく２分割され、前述の光検出器の調整ず
れ信号はSadj＝０となる。また位置ずれがある場合に
は、位置ずれの方向とずれ量によりSadjの信号が変化す
るため、この信号をもとに光検出器を正しく調整するこ
とができる。また、調整が正しく行われたか否かを確認
するためには、Sadjの信号の絶対値が規定値以下である
ことを確認すればよい。
また、動作中に温度変化等の要因により半導体レーザ
の発振波長が変動した場合でも、第３および第４光スポ
ット27,28はそれぞれ第１光検出器31と第２光検出器3
2、または第３光検出器33と第４光検出器34上にあり、
かつ２つの光スポットの光量は等しいので、焦点誤差検
出動作にはなんら影響を与えない。
の発振波長が変動した場合でも、第３および第４光スポ
ット27,28はそれぞれ第１光検出器31と第２光検出器3
2、または第３光検出器33と第４光検出器34上にあり、
かつ２つの光スポットの光量は等しいので、焦点誤差検
出動作にはなんら影響を与えない。
以下、本発明の実施例を、図面を参照しながら説明す
る。第１図は、本発明の実施例を説明するための図であ
る。４分割ホログラム光学素子35はそれぞれ格子パター
ンの異なる第１領域から第４領域を持つ。第１領域36と
第２領域37は焦点誤差検出用のホログラムであり、第３
領域38と第４領域39は光検出器の位置ずれ調整用のホロ
グラムである。第１領域36と第２領域37を分ける分割線
40は光ヘッドの結像光学系の光軸41を含む直線である。
ホログラム光学素子の第１領域36および第２領域37で回
折される回折光は、光検出器の調整が終了した状態では
それぞれ異なる２点、すなわち４分割光検出器２上のＡ
点29およびＢ点30にそれぞれ焦点を結ぶものとする。ま
た、このとき第３領域38および第４領域39からの回折光
による第３および第４光スポット27,28は第１分割線５
上にあるようにしてある。
る。第１図は、本発明の実施例を説明するための図であ
る。４分割ホログラム光学素子35はそれぞれ格子パター
ンの異なる第１領域から第４領域を持つ。第１領域36と
第２領域37は焦点誤差検出用のホログラムであり、第３
領域38と第４領域39は光検出器の位置ずれ調整用のホロ
グラムである。第１領域36と第２領域37を分ける分割線
40は光ヘッドの結像光学系の光軸41を含む直線である。
ホログラム光学素子の第１領域36および第２領域37で回
折される回折光は、光検出器の調整が終了した状態では
それぞれ異なる２点、すなわち４分割光検出器２上のＡ
点29およびＢ点30にそれぞれ焦点を結ぶものとする。ま
た、このとき第３領域38および第４領域39からの回折光
による第３および第４光スポット27,28は第１分割線５
上にあるようにしてある。
本発明によるホログラム光学素子35は、第１領域、第
２領域とは格子パターンの異なる第３領域および第４領
域を持つことを特徴とするもので、本実施例の第３領域
および第４領域は光軸41を中心とする円形をさらに、第
１領域と第２領域を分割する分割線40と同じ分割線によ
り分割された半円形の形状を有している。このような形
状とすることで、第１領域と第２領域、および第３領域
と第４領域からの回折光強度を等しくしている。
２領域とは格子パターンの異なる第３領域および第４領
域を持つことを特徴とするもので、本実施例の第３領域
および第４領域は光軸41を中心とする円形をさらに、第
１領域と第２領域を分割する分割線40と同じ分割線によ
り分割された半円形の形状を有している。このような形
状とすることで、第１領域と第２領域、および第３領域
と第４領域からの回折光強度を等しくしている。
第６図は調整ずれがある場合の、４分割光検出器２上
での光スポット分布を示している。
での光スポット分布を示している。
戻り光のスポットがＡ点29およびＢ点30に位置する場
合は、すなわち、第６図（ｂ）に示す位置ずれ無しの場
合は、第３領域38および第４領域39で回折された第３光
スポット27および第４光スポット28は４分割光検出器の
第１分割線５上に、第２分割線６を挟んで光スポットを
形成する。従って、位置ずれ信号Sadj＝０である。
合は、すなわち、第６図（ｂ）に示す位置ずれ無しの場
合は、第３領域38および第４領域39で回折された第３光
スポット27および第４光スポット28は４分割光検出器の
第１分割線５上に、第２分割線６を挟んで光スポットを
形成する。従って、位置ずれ信号Sadj＝０である。
しかし調整不良によりホログラムからの回折光の光ス
ポットが第６図（ｂ）の位置から第６図（ａ）に示すよ
うに左側にずれたとすると、第３光スポット27,第４光
スポット28は第１光検出器31,第２光検出器32により、
多くの部分が入射し、Sadj＞０となる。逆に第６図
（ｃ）に示すように右方向にずれたとすると、Sadj＜０
となる。従って、４分割光検出器は位置ずれ信号Sadjが
零となるように調整することで、精度よく位置決めする
ことができる。また調整誤差が規定の範囲内にあること
は、位置ずれ信号Sadjの絶対値が所定の値以下であるこ
とを確認することで可能である。
ポットが第６図（ｂ）の位置から第６図（ａ）に示すよ
うに左側にずれたとすると、第３光スポット27,第４光
スポット28は第１光検出器31,第２光検出器32により、
多くの部分が入射し、Sadj＞０となる。逆に第６図
（ｃ）に示すように右方向にずれたとすると、Sadj＜０
となる。従って、４分割光検出器は位置ずれ信号Sadjが
零となるように調整することで、精度よく位置決めする
ことができる。また調整誤差が規定の範囲内にあること
は、位置ずれ信号Sadjの絶対値が所定の値以下であるこ
とを確認することで可能である。
第７図は、光源である半導体レーザの波長が変動して
回折角が変化した場合の４分割光検出器２上の第３光ス
ポット27および第４光スポット28の位置変動の軌跡の例
を示す。第３光スポット27,第４光スポット28は第１お
よび第２光検出器31,32に入射する。焦点誤差信号Sfeは Sfe＝（V1＋V4）−（V2＋V3） で得られるために、これらの領域からの回折光による信
号強度は、これらの光スポットが第２分割線を横断して
移動しないかぎり、焦点誤差信号を算出する演算におい
て完全にキャンセルされる。
回折角が変化した場合の４分割光検出器２上の第３光ス
ポット27および第４光スポット28の位置変動の軌跡の例
を示す。第３光スポット27,第４光スポット28は第１お
よび第２光検出器31,32に入射する。焦点誤差信号Sfeは Sfe＝（V1＋V4）−（V2＋V3） で得られるために、これらの領域からの回折光による信
号強度は、これらの光スポットが第２分割線を横断して
移動しないかぎり、焦点誤差信号を算出する演算におい
て完全にキャンセルされる。
以上述べた実施例において、４分割光検出器の位置調
整用ビームを生成するホログラム領域は光軸を含む半円
形であるが、もちろん光軸対称な形状であれば、光軸を
含む必要もまた半円形である必要もない。
整用ビームを生成するホログラム領域は光軸を含む半円
形であるが、もちろん光軸対称な形状であれば、光軸を
含む必要もまた半円形である必要もない。
以上述べたように、本発明の光検出器調整方法および
焦点誤差検出装置によれば、光検出器の出力の適当な演
算により、零位法で正確に、かつ容易に位置調整を行う
ことができる。またその調整結果を調整終了時に確認す
ることができるために、光ヘッドの信頼性向上に寄与す
ると共に、調整工数の削減が可能であるので、光ヘッド
の低価格化にも寄与する。さらに、光源の波長変動が生
じた場合でも安定に動作するため、高い安定性を有する
光ヘッドを提供することが可能である。
焦点誤差検出装置によれば、光検出器の出力の適当な演
算により、零位法で正確に、かつ容易に位置調整を行う
ことができる。またその調整結果を調整終了時に確認す
ることができるために、光ヘッドの信頼性向上に寄与す
ると共に、調整工数の削減が可能であるので、光ヘッド
の低価格化にも寄与する。さらに、光源の波長変動が生
じた場合でも安定に動作するため、高い安定性を有する
光ヘッドを提供することが可能である。
第１図，第６図，第７図は本発明の実施例を説明するた
めの図、 第２図，第３図,4図は従来の技術を説明するための図、 第５図は本発明の作用を説明するための図である。 1,19……ホログラム光学素子 ２……４分割光検出器 3,20,41……光軸 4,40……分割線 ５……第１分割線 ６……第２分割線 7,17……第１領域 8,15,22,29……Ａ点 9,18……第２領域 10,16,23,30……Ｂ点 11,31……第１光検出器 12,32……第２光検出器 13,33……第３光検出器 14,34……第４光検出器 21……第３領域 24……第３の領域による光スポット 25……第１光スポット 26……第２光スポット 27……第３光スポット 28……第４光スポット 35……４分割ホログラム光学素子 36……第１領域 37……第２領域 38……第３領域 39……第４領域
めの図、 第２図，第３図,4図は従来の技術を説明するための図、 第５図は本発明の作用を説明するための図である。 1,19……ホログラム光学素子 ２……４分割光検出器 3,20,41……光軸 4,40……分割線 ５……第１分割線 ６……第２分割線 7,17……第１領域 8,15,22,29……Ａ点 9,18……第２領域 10,16,23,30……Ｂ点 11,31……第１光検出器 12,32……第２光検出器 13,33……第３光検出器 14,34……第４光検出器 21……第３領域 24……第３の領域による光スポット 25……第１光スポット 26……第２光スポット 27……第３光スポット 28……第４光スポット 35……４分割ホログラム光学素子 36……第１領域 37……第２領域 38……第３領域 39……第４領域
Claims (2)
- 【請求項１】光ディスク信号面で反射した戻り光を光軸
対称な形状を有する少なくも第１の領域と第２の領域お
よび第３の領域と第４の領域の光に分離し、前記第１お
よび第２の領域の光を略直交する第１および第２の分割
線を有する４分割光検出器の第１の分割線を挟んで第２
の分割線上にそれぞれ集光させ、前記第３および第４の
領域の光を、前記第１の領域と前記第２の領域の光が前
記４分割光検出器上で所定の位置に光スポットを形成し
ている状態で、前記第２の分割線を挟んで前記第１の分
割線上に導き、前記第１の分割線によって分離された両
側各々２つの光検出器の和信号の差が零になるように４
分割光検出器の位置決めを行うことを特徴とする光検出
器の調整方法。 - 【請求項２】格子型光学素子と、受光面が２本の略直交
する分割線により少なくとも４分割された４分割光検出
器を少なくとも備え、前記格子型光学素子は、前記格子
型光学素子内の基準点を中心とする点対称な形状を有す
る第１の領域と第２の領域および前記基準点を中心とす
る点対称な形状を有する第３の領域と第４の領域とを少
なくとも有し、光情報記録媒体からの戻り光の光軸と前
記基準点が略一致するように配置され、前記第１の領域
と第２の領域へ入射する前記戻り光を前記４分割光検出
器の第１の分割線を挟んで第２の分割線上にそれぞれ集
束させ、これら２つの集束点が前記４分割光検出器上の
所定の位置にあるとき、前記第３の領域と第４の領域へ
入射する前記戻り光を前記４分割光検出器の第２の分割
線を挟んで第１の分割線上にそれぞれ集束させることを
特徴とする焦点誤差検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1270270A JP2734685B2 (ja) | 1989-10-19 | 1989-10-19 | 光検出器の調整方法および焦点誤差検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1270270A JP2734685B2 (ja) | 1989-10-19 | 1989-10-19 | 光検出器の調整方法および焦点誤差検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03132924A JPH03132924A (ja) | 1991-06-06 |
| JP2734685B2 true JP2734685B2 (ja) | 1998-04-02 |
Family
ID=17483911
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1270270A Expired - Lifetime JP2734685B2 (ja) | 1989-10-19 | 1989-10-19 | 光検出器の調整方法および焦点誤差検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2734685B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5673241A (en) * | 1991-11-08 | 1997-09-30 | Seiko Epson Corporation | Focus detection mechanism and optical head and optical storage device that use it |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6356819A (ja) * | 1986-08-27 | 1988-03-11 | Nec Corp | 光ヘツド装置 |
| JPS6356816A (ja) * | 1986-08-28 | 1988-03-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体 |
-
1989
- 1989-10-19 JP JP1270270A patent/JP2734685B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03132924A (ja) | 1991-06-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH043013B2 (ja) | ||
| JPH06195727A (ja) | 光学式走査装置 | |
| EP0612064B1 (en) | An optical pickup apparatus | |
| JPH05307759A (ja) | 光ピックアップ | |
| US6167017A (en) | Optical head assembly having means for detecting tracking errors based on astigmatisms generated by returning beams | |
| JPS59231736A (ja) | フォーカスおよびトラッキング誤差検出装置 | |
| JP2734685B2 (ja) | 光検出器の調整方法および焦点誤差検出装置 | |
| JPH073700B2 (ja) | 光学式ヘッド装置 | |
| JP2594445B2 (ja) | ホログラム光ヘッド | |
| US6466526B1 (en) | Apparatus for recording and replaying information on optical information record medium and optical pickup | |
| JPH04372728A (ja) | 光学式ピックアップ | |
| JP3044667B2 (ja) | 光学式読取り装置 | |
| JPH056564A (ja) | 光デイスク読取り装置におけるトラツキング誤差検出方式 | |
| JP2858202B2 (ja) | 光ピックアップ | |
| JP2561253B2 (ja) | トラツク誤差検出装置 | |
| JP3062787B2 (ja) | 光ピックアップ | |
| JP3544785B2 (ja) | 光学式記録再生装置 | |
| JP2690550B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JP2561271B2 (ja) | 焦点誤差検出装置 | |
| JPH05307760A (ja) | 光ピックアップ | |
| JP3439124B2 (ja) | 光学ヘッド装置 | |
| JPH1049884A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPH0323977B2 (ja) | ||
| JPH10241187A (ja) | 光ピックアップ装置およびそれを用いた光学記録媒体駆動装置 | |
| JPH08153337A (ja) | 光ヘッド装置 |