JP2975395B2 - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JP2975395B2 JP2975395B2 JP2125139A JP12513990A JP2975395B2 JP 2975395 B2 JP2975395 B2 JP 2975395B2 JP 2125139 A JP2125139 A JP 2125139A JP 12513990 A JP12513990 A JP 12513990A JP 2975395 B2 JP2975395 B2 JP 2975395B2
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- light receiving
- record carrier
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
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- G—PHYSICS
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/131—Arrangement of detectors in a multiple array
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1356—Double or multiple prisms, i.e. having two or more prisms in cooperation
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1398—Means for shaping the cross-section of the beam, e.g. into circular or elliptical cross-section
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、いわゆるコンパクトディスク、レーザディ
スク等の再生専用型光ディスクの再生を行う光学的再生
装置又は追記型、書換え可能型等の光ディスクに記録再
生を行う光学的記録再生装置において使用される光ピッ
クアップ装置に関するものである。
スク等の再生専用型光ディスクの再生を行う光学的再生
装置又は追記型、書換え可能型等の光ディスクに記録再
生を行う光学的記録再生装置において使用される光ピッ
クアップ装置に関するものである。
従来、光ピックアップ装置として第７図に示すものが
知られている。半導体レーザ１からの出射光は回折素子
２によって回折され、０次回折光（メインビーム）と、
この０次回折光から図の紙面と直交する方向に離間する
±１次回折光（１対のサブビーム）とに分割される。
知られている。半導体レーザ１からの出射光は回折素子
２によって回折され、０次回折光（メインビーム）と、
この０次回折光から図の紙面と直交する方向に離間する
±１次回折光（１対のサブビーム）とに分割される。
上記メインビーム及びサブビームは回折素子３によっ
て更に回折され、各ビームの０次回折光がコリメートレ
ンズ４を通過し、対物レンズ５によって記録担体６上に
集光される。ここで、記録担体６に情報が物理的なピッ
トにより記録されているものとすると、メインビームは
情報を読み取るべく、上記ピットに集光され、その反射
強度から情報信号が検出される。
て更に回折され、各ビームの０次回折光がコリメートレ
ンズ４を通過し、対物レンズ５によって記録担体６上に
集光される。ここで、記録担体６に情報が物理的なピッ
トにより記録されているものとすると、メインビームは
情報を読み取るべく、上記ピットに集光され、その反射
強度から情報信号が検出される。
又、２つのサブビームは、上記メインビームに関して
対称な位置であって、トラック方向に大きく、かつ、ラ
ジアル方向に僅かにずれて集光され、２つのサブビーム
の反射強度からトラッキング誤差信号を得るようになっ
ている。
対称な位置であって、トラック方向に大きく、かつ、ラ
ジアル方向に僅かにずれて集光され、２つのサブビーム
の反射強度からトラッキング誤差信号を得るようになっ
ている。
情報信号、トラッキング誤差信号及びフォーカス誤差
信号を得るため、記録担体６からの戻り光は対物レンズ
５、コリメートレンズ４を通過し、回折素子３にて回折
され、その１次回折光が受光素子７に導かれる。
信号を得るため、記録担体６からの戻り光は対物レンズ
５、コリメートレンズ４を通過し、回折素子３にて回折
され、その１次回折光が受光素子７に導かれる。
回折素子３は、記録担体６側から見ると、第８図に示
すように、２つの分割領域3a・3bに分割され、各分割領
域3a・3bには互いに異なるピッチで格子3c・3c…、3d・
3d…が分割線3eに対し直角方向に形成されている。な
お、分割線3eの方向は記録担体６のラジアル方向と同方
向に設定されている。
すように、２つの分割領域3a・3bに分割され、各分割領
域3a・3bには互いに異なるピッチで格子3c・3c…、3d・
3d…が分割線3eに対し直角方向に形成されている。な
お、分割線3eの方向は記録担体６のラジアル方向と同方
向に設定されている。
一方、受光素子７は第９図に示すように、５つの受光
領域7a〜7eに分割されている。
領域7a〜7eに分割されている。
ここで、半導体レーザ１から出射された光ビームが記
録担体６に対して合焦状態の時、回折素子３の分割領域
3aで回折されたメインビームは受光素子７における受光
領域7a・7b間の分割線7f上に集光されてスポット状のビ
ームQ1を形成し、分割領域3bで回折されたメインビーム
は受光領域7c上に集光されてスポット状のビームQ2を形
成する。又、２つのサブビームは受光領域7d・7eにそれ
ぞれ２つのスポット状のビームQ3・Q4、Q5・Q6を形成す
る。
録担体６に対して合焦状態の時、回折素子３の分割領域
3aで回折されたメインビームは受光素子７における受光
領域7a・7b間の分割線7f上に集光されてスポット状のビ
ームQ1を形成し、分割領域3bで回折されたメインビーム
は受光領域7c上に集光されてスポット状のビームQ2を形
成する。又、２つのサブビームは受光領域7d・7eにそれ
ぞれ２つのスポット状のビームQ3・Q4、Q5・Q6を形成す
る。
受光領域7a〜7eから得られる出力信号をそれぞれS1a
〜S1eとすると、フォーカス誤差信号は（S1a−S1b）の
演算で、トラッキング誤差信号は（S1d−S1e）の演算
で、又、情報信号は（S1a＋S1b＋S1c）の演算でそれぞ
れ求められる。
〜S1eとすると、フォーカス誤差信号は（S1a−S1b）の
演算で、トラッキング誤差信号は（S1d−S1e）の演算
で、又、情報信号は（S1a＋S1b＋S1c）の演算でそれぞ
れ求められる。
又、従来、第10図に示すような構成の光ピックアップ
装置も知られている。
装置も知られている。
ここでは、第７図の装置における回折素子２をなくし
てサブビームを生成しないようにし、コリメートレンズ
４及び対物レンズ５を通過した光ビームを記録担体６上
の１点に集光して、その反射強度分布からトラッキング
誤差信号を得るようにしている。
てサブビームを生成しないようにし、コリメートレンズ
４及び対物レンズ５を通過した光ビームを記録担体６上
の１点に集光して、その反射強度分布からトラッキング
誤差信号を得るようにしている。
すなわち、第13図（ｂ）に示すように、記録担体６上
のピット列或いは案内溝等により形成されるトラック８
の中央に光ビームＢが照射された場合、記録担体６から
の戻り光の強度分布（強度の低い部分をハッチングで示
す）は、第14図（ｂ）に示すように、上記光ビームＢの
中心線l1−l1に対応する中心線l2−l2に対して線対称と
なり、一方、第13図（ａ）又は（ｃ）に示すように、ト
ラック８の中央から外周側又は内周側にずれた位置に光
ビームＢが照射された場合は、戻り光の強度分布は第14
図（ａ）又は（ｃ）に示すように、上記中心線l2−l2に
対して非対称となる。
のピット列或いは案内溝等により形成されるトラック８
の中央に光ビームＢが照射された場合、記録担体６から
の戻り光の強度分布（強度の低い部分をハッチングで示
す）は、第14図（ｂ）に示すように、上記光ビームＢの
中心線l1−l1に対応する中心線l2−l2に対して線対称と
なり、一方、第13図（ａ）又は（ｃ）に示すように、ト
ラック８の中央から外周側又は内周側にずれた位置に光
ビームＢが照射された場合は、戻り光の強度分布は第14
図（ａ）又は（ｃ）に示すように、上記中心線l2−l2に
対して非対称となる。
このような現象を利用し、回折素子３′（第11図）に
おける分割線3e′の方向をトラック方向、つまり、ラジ
アル方向と直交する方向とし、分割領域3a′で回折され
る記録担体６からの戻り光の光量と分割領域3b′で回折
される戻り光の光量とを比較することにより、トラッキ
ング誤差信号を得ることができる。なお、この場合、第
12図に示すように、受光素子７′は３個の受光領域7a′
〜7c′を備えており、分割領域3a′で回折された戻り光
が、受光領域7a′・7b′間の分割線7d′上に集光された
ビームQ1′を形成する一方、分割領域3b′で回折された
戻り光が受光領域7c′に集光されてビームQ2′を形成す
るようになっている。
おける分割線3e′の方向をトラック方向、つまり、ラジ
アル方向と直交する方向とし、分割領域3a′で回折され
る記録担体６からの戻り光の光量と分割領域3b′で回折
される戻り光の光量とを比較することにより、トラッキ
ング誤差信号を得ることができる。なお、この場合、第
12図に示すように、受光素子７′は３個の受光領域7a′
〜7c′を備えており、分割領域3a′で回折された戻り光
が、受光領域7a′・7b′間の分割線7d′上に集光された
ビームQ1′を形成する一方、分割領域3b′で回折された
戻り光が受光領域7c′に集光されてビームQ2′を形成す
るようになっている。
受光領域7a′〜7c′から得られる出力信号をそれぞれ
S2a〜S2cとすると、フォーカス誤差信号は（S2a−S2b）
の演算で、トラッキング誤差信号は（S2a＋S2b）−S2c
の演算で、情報信号は（S2a＋S2b＋S2c）の演算でそれ
ぞれ求められる。
S2a〜S2cとすると、フォーカス誤差信号は（S2a−S2b）
の演算で、トラッキング誤差信号は（S2a＋S2b）−S2c
の演算で、情報信号は（S2a＋S2b＋S2c）の演算でそれ
ぞれ求められる。
ところが、まず、第７図の従来例では、回折素子２に
より半導体レーザ１からの光ビームを３つのビームに分
割するので、例えば、追記型又は書換え可能型等の記録
を必要とする記録担体６を使用する場合、記録を行うメ
インビームに充分な光パワーを確保することが困難にな
る問題がある。更に、メインビームの光パワーが不充分
になるので、受光素子７上でも情報信号、フォーカス誤
差信号の感度が低下し、正確な情報の記録再生が困難に
なるものである。
より半導体レーザ１からの光ビームを３つのビームに分
割するので、例えば、追記型又は書換え可能型等の記録
を必要とする記録担体６を使用する場合、記録を行うメ
インビームに充分な光パワーを確保することが困難にな
る問題がある。更に、メインビームの光パワーが不充分
になるので、受光素子７上でも情報信号、フォーカス誤
差信号の感度が低下し、正確な情報の記録再生が困難に
なるものである。
又、第10図に示す従来例においては、記録担体６上で
の合焦時に理論上は受光素子７′上のビームQ1′・Q2′
がスポットを形成する筈であるが、実際に光ピックアッ
プ装置を構成する場合、各種光学部品の性能上のばらつ
き、組立公差或いは半導体レーザ１の波長のばらつき等
により、第15図（ａ）に示すように、合焦時のビーム
Q1′・Q2′がある程度拡がるものである。従って、合焦
時にフォーカス誤差信号にオフセットが発生する。
の合焦時に理論上は受光素子７′上のビームQ1′・Q2′
がスポットを形成する筈であるが、実際に光ピックアッ
プ装置を構成する場合、各種光学部品の性能上のばらつ
き、組立公差或いは半導体レーザ１の波長のばらつき等
により、第15図（ａ）に示すように、合焦時のビーム
Q1′・Q2′がある程度拡がるものである。従って、合焦
時にフォーカス誤差信号にオフセットが発生する。
この場合、第15図（ｂ）に示す如く、合焦時にビーム
Q1′が受光領域7a′・7b′上に均等に形成され、受光領
域7a′・7b′の受光量が等しくなるように回折素子３′
を微調整すれば、上記のオフセットが除去されるかのよ
うに思われる。
Q1′が受光領域7a′・7b′上に均等に形成され、受光領
域7a′・7b′の受光量が等しくなるように回折素子３′
を微調整すれば、上記のオフセットが除去されるかのよ
うに思われる。
ところが、第13図（ａ）又は（ｃ）のように、光ビー
ムＢがトラック８の中央からずれると、第14図（ａ）又
は（ｃ）に示す戻り光の強度分布から分かるように、回
折素子３′上での戻り光の強度分布が分割領域3a′と3
b′とで不均一になるので、ビームQ1′の強度分布も変
化し、受光領域7a′と7b′との受光量が一致しなくな
る。従って、トラッキング誤差があれば合焦時にもフォ
ーカス誤差信号にオフセットが発生し、正確にフォーカ
ス調整を行うことが不可能となる。
ムＢがトラック８の中央からずれると、第14図（ａ）又
は（ｃ）に示す戻り光の強度分布から分かるように、回
折素子３′上での戻り光の強度分布が分割領域3a′と3
b′とで不均一になるので、ビームQ1′の強度分布も変
化し、受光領域7a′と7b′との受光量が一致しなくな
る。従って、トラッキング誤差があれば合焦時にもフォ
ーカス誤差信号にオフセットが発生し、正確にフォーカ
ス調整を行うことが不可能となる。
本発明の光ピックアップ装置は、光源と、光源からの
光を記録担体上に集光させるとともに記録担体からの戻
り光を回折素子に導く光学系と、上記戻り光を受光素子
側に回折させる回折素子と、回折素子で回折された戻り
光に基づいて少なくともフォーカス誤差及びトラッキン
グ誤差の検出を行う受光素子とを備えた光ピックアップ
装置において、上記回折素子は、光源から出射された光
が記録担体に到達するまでの間の光路内に配置され、記
録担体のトラック方向に対応する方向に延びる第１の分
割線により互いに分割され、且つ第１の分割線に対し互
いに逆向きに傾斜した方向に延びる格子を有する２つの
トラッキング用分割領域と、記録担体のラジアル方向に
対応する方向に延びる第２の分割線により上記トラッキ
ング用分割領域と区分され、且つ第２の分割線に対し直
交する方向に延びる格子を有する１つのフォーカス用分
割領域とを備えており、上記受光素子は、上記各トラッ
キング用分割領域で回折された戻り光をそれぞれ受光す
る２つのトラッキング用受光領域と、上記フォーカス用
分割領域で回折された戻り光を受光する２つのフォーカ
ス用受光領域を備えており、上記２つのフォーカス用受
光領域は、ラジアル方向に対応する方向に延びる第３の
分割線を挟んで互いに隣接しているものである。
光を記録担体上に集光させるとともに記録担体からの戻
り光を回折素子に導く光学系と、上記戻り光を受光素子
側に回折させる回折素子と、回折素子で回折された戻り
光に基づいて少なくともフォーカス誤差及びトラッキン
グ誤差の検出を行う受光素子とを備えた光ピックアップ
装置において、上記回折素子は、光源から出射された光
が記録担体に到達するまでの間の光路内に配置され、記
録担体のトラック方向に対応する方向に延びる第１の分
割線により互いに分割され、且つ第１の分割線に対し互
いに逆向きに傾斜した方向に延びる格子を有する２つの
トラッキング用分割領域と、記録担体のラジアル方向に
対応する方向に延びる第２の分割線により上記トラッキ
ング用分割領域と区分され、且つ第２の分割線に対し直
交する方向に延びる格子を有する１つのフォーカス用分
割領域とを備えており、上記受光素子は、上記各トラッ
キング用分割領域で回折された戻り光をそれぞれ受光す
る２つのトラッキング用受光領域と、上記フォーカス用
分割領域で回折された戻り光を受光する２つのフォーカ
ス用受光領域を備えており、上記２つのフォーカス用受
光領域は、ラジアル方向に対応する方向に延びる第３の
分割線を挟んで互いに隣接しているものである。
上記の構成によれば、光源から出射された光は、回折
素子により回折されて記録担体に集光され、そして、記
録担体にて反射されて再び回折素子に照射される。この
戻り光は、回折素子の少なくとも２つのトラッキング用
分割領域で回折され、受光素子における各トラッキング
用受光領域でそれぞれ受光される。２つのフォーカス用
受光領域における戻り光の光量同士を比較することによ
りトラッキング誤差を検出することができる。
素子により回折されて記録担体に集光され、そして、記
録担体にて反射されて再び回折素子に照射される。この
戻り光は、回折素子の少なくとも２つのトラッキング用
分割領域で回折され、受光素子における各トラッキング
用受光領域でそれぞれ受光される。２つのフォーカス用
受光領域における戻り光の光量同士を比較することによ
りトラッキング誤差を検出することができる。
又、回折素子に照射された上記戻り光は、回折素子に
おけるトラック方向に延びた格子を持つフォーカス用分
割領域で回折され、受光素子における互いに隣接する２
つのフォーカス用受光領域で受光される。これらフォー
カス用受光領域での戻り光の光量同士を比較することに
よりフォーカス誤差を検出することができる。
おけるトラック方向に延びた格子を持つフォーカス用分
割領域で回折され、受光素子における互いに隣接する２
つのフォーカス用受光領域で受光される。これらフォー
カス用受光領域での戻り光の光量同士を比較することに
よりフォーカス誤差を検出することができる。
又、トラッキング用分割領域とフォーカス用分割領域
とがラジアル方向に対応する方向に延びる分割線により
分割されているので、フォーカス用分割領域に回折さ
れ、フォーカス用受光領域で受光されるフォーカス誤差
検出用ビームがトラックに対する光ビーム照射位置によ
って変化する光強度分布の影響を受けることがない。し
たがって、各種光学部品の性能上のばらつき、組立公
差、半導体レーザの波長のばらつき等によりある程度拡
がった受光素子上のフォーカス誤差検出用ビームを微調
整した場合において、トラッキング誤差が発生したとき
でもそのフォーカス誤差検出用ビームは常にほぼ一定の
ビーム強度を持ち、フォーカス誤差信号にオフセットが
発生することがない。
とがラジアル方向に対応する方向に延びる分割線により
分割されているので、フォーカス用分割領域に回折さ
れ、フォーカス用受光領域で受光されるフォーカス誤差
検出用ビームがトラックに対する光ビーム照射位置によ
って変化する光強度分布の影響を受けることがない。し
たがって、各種光学部品の性能上のばらつき、組立公
差、半導体レーザの波長のばらつき等によりある程度拡
がった受光素子上のフォーカス誤差検出用ビームを微調
整した場合において、トラッキング誤差が発生したとき
でもそのフォーカス誤差検出用ビームは常にほぼ一定の
ビーム強度を持ち、フォーカス誤差信号にオフセットが
発生することがない。
さらに、回折素子における、トラッキング用分割領域
のそれぞれの格子はトラック方向に対し互いに逆向きに
傾斜した方向で、ほぼトラック方向にほぼ延びており、
またフォーカス用分割領域の格子は同トラック方向に延
びる格子を有するものであるので、受光素子はそれぞれ
の受光領域をトラック方向に一列に配置することができ
る。一方、特に光源の波長の変動に対して、それぞれの
戻り光を受光素子のラジアル方向の領域の受光により対
応が可能であるとともに、上記のように受光素子の配置
はトラック方向に合わせられており、受光領域をこれ以
上ラジアル方向に展開することがなく、受光素子の配置
を小型化できる利点がある。
のそれぞれの格子はトラック方向に対し互いに逆向きに
傾斜した方向で、ほぼトラック方向にほぼ延びており、
またフォーカス用分割領域の格子は同トラック方向に延
びる格子を有するものであるので、受光素子はそれぞれ
の受光領域をトラック方向に一列に配置することができ
る。一方、特に光源の波長の変動に対して、それぞれの
戻り光を受光素子のラジアル方向の領域の受光により対
応が可能であるとともに、上記のように受光素子の配置
はトラック方向に合わせられており、受光領域をこれ以
上ラジアル方向に展開することがなく、受光素子の配置
を小型化できる利点がある。
又、上記の構成によれば、光源からの光をメインビー
ム及びサブビームに分割しないので、記録担体が記録を
行う形式のものであっても、記録に要する光パワーを充
分に確保できるものである。
ム及びサブビームに分割しないので、記録担体が記録を
行う形式のものであっても、記録に要する光パワーを充
分に確保できるものである。
〔実施例１〕 本発明の一実施例を第１図乃至第５図に基づいて説明
すれば、以下の通りである。
すれば、以下の通りである。
第３図及び第４図に示すように、光源としての半導体
レーザ11からの出射光は回折素子12により回折され、そ
の内の０次回折光がコリメートレンズ13を介して成形プ
リズム14に入射する。成形プリズム14は、半導体レーザ
11からのほぼ楕円形の強度分布を有する光ビームをほぼ
円形の強度分布に成形して光パワーを有効利用を図るた
めの光学部品であって、半導体レーザ11の出射光におけ
る短軸方向（ｘ方向）を拡大するようになっている。
レーザ11からの出射光は回折素子12により回折され、そ
の内の０次回折光がコリメートレンズ13を介して成形プ
リズム14に入射する。成形プリズム14は、半導体レーザ
11からのほぼ楕円形の強度分布を有する光ビームをほぼ
円形の強度分布に成形して光パワーを有効利用を図るた
めの光学部品であって、半導体レーザ11の出射光におけ
る短軸方向（ｘ方向）を拡大するようになっている。
成形プリズム14で成形された光ビームは対物レンズ15
を介して記録担体16上に集光される。記録担体16として
は、再生専用型、追記型、書換え可能型等、各種の方式
のものを使用でき、記録担体16にはピット列又は案内溝
等によるトラック（具体的に図示せず）が形成されてい
る。なお、コリメートレンズ13、成形プリズム14及び対
物レンズ15は光学系を構成する。
を介して記録担体16上に集光される。記録担体16として
は、再生専用型、追記型、書換え可能型等、各種の方式
のものを使用でき、記録担体16にはピット列又は案内溝
等によるトラック（具体的に図示せず）が形成されてい
る。なお、コリメートレンズ13、成形プリズム14及び対
物レンズ15は光学系を構成する。
記録担体16からの戻り光は、対物レンズ15を経て成形
プリズム14で再びｘ方向が短軸となるほぼ楕円形の強度
分布とされ、コリメートレンズ13を介して回折素子12に
導かれて、第１図に示す如く、ビームＲを形成する。回
折素子12は記録担体16側から見ると、記録担体16のラジ
アル方向に対応するｙ方向に延びる分割線12gと、この
分割線12gの中心から記録担体16のラジアル方向と直交
するｘ方向、つまり、記録担体16のトラック方向に対応
する方向に延びる分割線12hとにより３つの分割領域12a
〜12cに分割され、各分割領域12a〜12cにそれぞれ格子1
2d・12d…〜12f・12f…が形成されている。なお、分割
領域12b及び12c（トラッキング用分割領域）の面積は互
いに等しく、かつ、分割領域12b及び12cを合わせた面積
と分割領域12a（フォーカス用分割領域）の面積とが等
しく設定されている。
プリズム14で再びｘ方向が短軸となるほぼ楕円形の強度
分布とされ、コリメートレンズ13を介して回折素子12に
導かれて、第１図に示す如く、ビームＲを形成する。回
折素子12は記録担体16側から見ると、記録担体16のラジ
アル方向に対応するｙ方向に延びる分割線12gと、この
分割線12gの中心から記録担体16のラジアル方向と直交
するｘ方向、つまり、記録担体16のトラック方向に対応
する方向に延びる分割線12hとにより３つの分割領域12a
〜12cに分割され、各分割領域12a〜12cにそれぞれ格子1
2d・12d…〜12f・12f…が形成されている。なお、分割
領域12b及び12c（トラッキング用分割領域）の面積は互
いに等しく、かつ、分割領域12b及び12cを合わせた面積
と分割領域12a（フォーカス用分割領域）の面積とが等
しく設定されている。
分割領域12aの格子12d・12d…は分割線12gに対し直交
する方向に延びる一方、分割領域12b及び12cの格子12e
・12e…、12f・12f…は分割線12hに対し互いに逆向きに
傾斜した方向に延びている。又、各格子12d・12d…〜12
f・12f…のピッチ及び上記格子の傾きは、各分割領域12
a〜12cと、後述する受光素子17上での各分割領域12a〜1
2cからの回折光によるビームP1〜P3との相対位置によっ
てそれぞれ決定される。なお、収差を補正するため、各
格子12d・12d…〜12f・12f…の格子線は必要に応じて緩
やかな曲線を描いていても良い。
する方向に延びる一方、分割領域12b及び12cの格子12e
・12e…、12f・12f…は分割線12hに対し互いに逆向きに
傾斜した方向に延びている。又、各格子12d・12d…〜12
f・12f…のピッチ及び上記格子の傾きは、各分割領域12
a〜12cと、後述する受光素子17上での各分割領域12a〜1
2cからの回折光によるビームP1〜P3との相対位置によっ
てそれぞれ決定される。なお、収差を補正するため、各
格子12d・12d…〜12f・12f…の格子線は必要に応じて緩
やかな曲線を描いていても良い。
第２図（ａ）にも示すように、受光素子17は記録担体
16のトラック方向に対応するｘ方向に配列された４つの
矩形状の受光領域17a〜17dに分割されている。中央の２
つの受光領域17a,17b（フォーカス用受光領域）は、記
録担体16のラジアル方向に対応するｙ方向に延びる分割
線17eを挟んで隣接して配置される一方、両側の受光領
域17c・17d（トラッキング用受光領域）は受光領域17a
・17bとの間にｘ方向に所定の間隔を隔てて設けられ、
各受光領域17a〜17dは記録担体16のラジアル方向に対応
するｙ方向に延びている。
16のトラック方向に対応するｘ方向に配列された４つの
矩形状の受光領域17a〜17dに分割されている。中央の２
つの受光領域17a,17b（フォーカス用受光領域）は、記
録担体16のラジアル方向に対応するｙ方向に延びる分割
線17eを挟んで隣接して配置される一方、両側の受光領
域17c・17d（トラッキング用受光領域）は受光領域17a
・17bとの間にｘ方向に所定の間隔を隔てて設けられ、
各受光領域17a〜17dは記録担体16のラジアル方向に対応
するｙ方向に延びている。
そして、第３図及び第４図に示すように、半導体レー
ザ11からの出射光が記録担体16に対して合焦状態の時に
回折素子12の分割領域12aで回折された戻り光が分割線1
7e上にスポット状のビームP1を形成し、分割領域12bで
回折された戻り光が受光領域17c上にスポット状のビー
ムP2を形成し、かつ、分割領域12cで回折された戻り光
が受光領域17d上にスポット状のビームP3を形成するよ
うになっている。
ザ11からの出射光が記録担体16に対して合焦状態の時に
回折素子12の分割領域12aで回折された戻り光が分割線1
7e上にスポット状のビームP1を形成し、分割領域12bで
回折された戻り光が受光領域17c上にスポット状のビー
ムP2を形成し、かつ、分割領域12cで回折された戻り光
が受光領域17d上にスポット状のビームP3を形成するよ
うになっている。
ここで、受光領域17a〜17dの出力信号をそれぞれSa〜
Sdとすると、ビームP1はフォーカス誤差が生じていない
合焦時には、受光領域17a及び17bに等分に、理想的には
分割線17e上にスポットとして形成され、フォーカス誤
差が生じた時にはいずれかの受光領域17a又は17b上に拡
がるので、フォーカス誤差信号はシングルナイフエッジ
法により（Sa−Sb）の演算で求められる。又、トラッキ
ング誤差信号は、記録担体16のトラック方向に対応する
ｘ方向の分割線12hで分割された分割領域12b・12cから
の回折光同士を比較することにより、プッシュプル法に
て（Sc−Sd）の演算で求められる。更に、情報信号は
（Sa＋Sb＋Sc＋Sd）の演算で求められる。
Sdとすると、ビームP1はフォーカス誤差が生じていない
合焦時には、受光領域17a及び17bに等分に、理想的には
分割線17e上にスポットとして形成され、フォーカス誤
差が生じた時にはいずれかの受光領域17a又は17b上に拡
がるので、フォーカス誤差信号はシングルナイフエッジ
法により（Sa−Sb）の演算で求められる。又、トラッキ
ング誤差信号は、記録担体16のトラック方向に対応する
ｘ方向の分割線12hで分割された分割領域12b・12cから
の回折光同士を比較することにより、プッシュプル法に
て（Sc−Sd）の演算で求められる。更に、情報信号は
（Sa＋Sb＋Sc＋Sd）の演算で求められる。
上記の構成において、合焦時にビームP1が分割線17e
上にスポットを形成せず、各種公差に起因してある程度
の拡がりを有する場合は、第２図（ｂ）に示すように、
ビームP1′が受光領域17a′および17b′に等分に形成さ
れ、受光領域17a′及び17b′の出力信号Sa及びSbが互い
に等しくなるように回折素子12を微調整すれば良い。そ
の場合、本実施例では、トラッキング誤差により回折素
子12上でのビームＲの光強度分布が変化したとしても、
変化の方向は分割線12gと平行方向であり、従って、変
化の有無に係わらず分割領域12aで回折されたビーム
P1′の受光領域17a及び17bでのそれぞれの受光量は変化
しない。そのため、トラッキング誤差に基づいてフォー
カス誤差信号にオフセットが生じることはない。
上にスポットを形成せず、各種公差に起因してある程度
の拡がりを有する場合は、第２図（ｂ）に示すように、
ビームP1′が受光領域17a′および17b′に等分に形成さ
れ、受光領域17a′及び17b′の出力信号Sa及びSbが互い
に等しくなるように回折素子12を微調整すれば良い。そ
の場合、本実施例では、トラッキング誤差により回折素
子12上でのビームＲの光強度分布が変化したとしても、
変化の方向は分割線12gと平行方向であり、従って、変
化の有無に係わらず分割領域12aで回折されたビーム
P1′の受光領域17a及び17bでのそれぞれの受光量は変化
しない。そのため、トラッキング誤差に基づいてフォー
カス誤差信号にオフセットが生じることはない。
またこのように、各種公差、特に半導体レーザ11の波
長のバラツキに対して受光素子17のｙ方向の領域で対応
し得て、かつ、各受光領域17a,17b,17c,17dは、回折素
子12のほぼｘ方向にそって形成された各格子により、ｘ
方向に一列に配置することが可能であるので、従来例で
説明した第９図、や第12図のように、フォーカス検出の
ための分割線方向に大型化することがなく、受光素子17
の配置を小型化できる利点がある。
長のバラツキに対して受光素子17のｙ方向の領域で対応
し得て、かつ、各受光領域17a,17b,17c,17dは、回折素
子12のほぼｘ方向にそって形成された各格子により、ｘ
方向に一列に配置することが可能であるので、従来例で
説明した第９図、や第12図のように、フォーカス検出の
ための分割線方向に大型化することがなく、受光素子17
の配置を小型化できる利点がある。
又、本実施例では、半導体レーザ11からの出射光をメ
インビームとサブビームに分割することなく記録担体16
に導くようにしたので、光パワーを効率的に利用でき、
記録担体16が記録を必要とするものである場合に光パワ
ーを確保しやすくなる。
インビームとサブビームに分割することなく記録担体16
に導くようにしたので、光パワーを効率的に利用でき、
記録担体16が記録を必要とするものである場合に光パワ
ーを確保しやすくなる。
なお、上記の実施例では、回折素子12における分割領
域12aの面積と分割領域12b及び12cを合わせた面積とを
等しくしたが、分割領域12aの面積と分割領域12b及び12
cを合わせた面積とは必ずしも等しくしなくて良い。
又、回折素子12に導かれる戻り光はほぼ楕円形の強度分
布を有するので、回折素子12もそれに対応させて楕円形
状としても良い。
域12aの面積と分割領域12b及び12cを合わせた面積とを
等しくしたが、分割領域12aの面積と分割領域12b及び12
cを合わせた面積とは必ずしも等しくしなくて良い。
又、回折素子12に導かれる戻り光はほぼ楕円形の強度分
布を有するので、回折素子12もそれに対応させて楕円形
状としても良い。
更に、上記の実施例では、回折素子12に導かれた戻り
光の長軸方向（ｙ方向）が記録担体16のラジアル方向に
対応していたが、回折素子12に導かれた戻り光の長軸方
向が記録担体16のラジアル方向と直交する方向（トラッ
ク方向）に対応している場合、第５図に示すように、回
折素子12を上記の実施例とは90゜回転させて配置すると
ともに、半導体レーザ11を基準とする受光素子17の配置
を上記の実施例とは90゜回転させた配置とすれば良い。
光の長軸方向（ｙ方向）が記録担体16のラジアル方向に
対応していたが、回折素子12に導かれた戻り光の長軸方
向が記録担体16のラジアル方向と直交する方向（トラッ
ク方向）に対応している場合、第５図に示すように、回
折素子12を上記の実施例とは90゜回転させて配置すると
ともに、半導体レーザ11を基準とする受光素子17の配置
を上記の実施例とは90゜回転させた配置とすれば良い。
〔実施例２〕 本発明の他の実施例を第６図に基づいて説明する。
この実施例の光ピックアップ装置は光磁気ディスク記
録再生装置に組み込んで使用されるものであって、第１
実施例の成形プリズム14に代えてビーム成形機能を有す
る偏向ビームスプリッタ14′を備えている。なお、第１
実施例と等価の構成を有する部位には、図に同一の参照
番号を付して示す。
録再生装置に組み込んで使用されるものであって、第１
実施例の成形プリズム14に代えてビーム成形機能を有す
る偏向ビームスプリッタ14′を備えている。なお、第１
実施例と等価の構成を有する部位には、図に同一の参照
番号を付して示す。
半導体レーザ11から出射された光ビームは回折素子12
及びコリメートレンズ13を介して偏光ビームスプリッタ
14′に導かれ、ここで、ほぼ楕円形の強度分布がほぼ円
形の強度分布に成形された後、対物レンズ15を介して、
光磁気ディスクからなる記録担体16上に集光される。
及びコリメートレンズ13を介して偏光ビームスプリッタ
14′に導かれ、ここで、ほぼ楕円形の強度分布がほぼ円
形の強度分布に成形された後、対物レンズ15を介して、
光磁気ディスクからなる記録担体16上に集光される。
記録担体16からの戻り光は、いわゆるカー効果に基づ
き、記録担体16上の単位記録領域である各スポット領域
の磁化の向きが上向きの場合と下向きの場合とで互いに
逆方向に偏光面の回転を受けた後、対物レンズ15を介し
て偏光ビームスプリッタ14′の面14a′に入射する。そ
して、スプリッタ面14b′で上記偏光面の回転変調を受
けた情報成分を含んだ偏光成分がa1方向に直角に反射さ
れて情報信号検出光学系18に導かれ、ここで、情報信号
が検出される。
き、記録担体16上の単位記録領域である各スポット領域
の磁化の向きが上向きの場合と下向きの場合とで互いに
逆方向に偏光面の回転を受けた後、対物レンズ15を介し
て偏光ビームスプリッタ14′の面14a′に入射する。そ
して、スプリッタ面14b′で上記偏光面の回転変調を受
けた情報成分を含んだ偏光成分がa1方向に直角に反射さ
れて情報信号検出光学系18に導かれ、ここで、情報信号
が検出される。
又、戻り光における他方の、つまり、変調情報成分を
含まない偏光成分はスプリット面14b′をa2方向に透過
し、面14c′で再度ほぼ楕円形の強度分布とされた後、
コリメートレンズ13を介して回折素子12に導かれる。回
折素子12及び受光素子17は第１実施例と同様に構成さ
れ、回折素子12の各分割領域12a〜12c（第６図には具体
的に図示せず）で回折された戻り光が受光素子17に導か
れて、第１実施例と同様にしてフォーカス誤差信号及び
トラッキング誤差信号が得られる。なお、本実施例で
は、受光素子17で情報信号の検出は行われない。
含まない偏光成分はスプリット面14b′をa2方向に透過
し、面14c′で再度ほぼ楕円形の強度分布とされた後、
コリメートレンズ13を介して回折素子12に導かれる。回
折素子12及び受光素子17は第１実施例と同様に構成さ
れ、回折素子12の各分割領域12a〜12c（第６図には具体
的に図示せず）で回折された戻り光が受光素子17に導か
れて、第１実施例と同様にしてフォーカス誤差信号及び
トラッキング誤差信号が得られる。なお、本実施例で
は、受光素子17で情報信号の検出は行われない。
本発明の光ピックアップ装置は、光源と、光源からの
光を記録担体上に集光させるとともに記録担体からの戻
り光を回折素子に導く光学系と、上記戻り光を受光素子
側に回折させる回折素子と、回折素子で回折された戻り
光に基づいて少なくともフォーカス誤差及びトラッキン
グ誤差の検出を行う受光素子とを備えた光ピックアップ
装置において、上記回折素子は、光源から出射された光
が記録担体に到達するまでの間の光路内に配置され、記
録担体のトラック方向に対応する方向に延びる第１の分
割線により互いに分割され、且つ第１の分割線に対し互
いに逆向きに傾斜した方向に延びる格子を有する２つの
トラッキング用分割領域と、記録担体のラジアル方向に
対応する方向に延びる第２の分割線により上記トラッキ
ング用分割領域と区分され、且つ第２の分割線に対し直
交する方向に延びる格子を有する１つのフォーカス用分
割領域とを備えており、上記受光素子は、上記各トラッ
キング用分割領域で回折された戻り光をそれぞれ受光す
る２つのトラッキング用受光領域と、上記フォーカス用
分割領域で回折された戻り光を受光する２つのフォーカ
ス用受光領域を備えており、上記２つのフォーカス用受
光領域は、ラジアル方向に対応する方向に延びる第３の
分割線を挟んで互いに隣接している構成である。
光を記録担体上に集光させるとともに記録担体からの戻
り光を回折素子に導く光学系と、上記戻り光を受光素子
側に回折させる回折素子と、回折素子で回折された戻り
光に基づいて少なくともフォーカス誤差及びトラッキン
グ誤差の検出を行う受光素子とを備えた光ピックアップ
装置において、上記回折素子は、光源から出射された光
が記録担体に到達するまでの間の光路内に配置され、記
録担体のトラック方向に対応する方向に延びる第１の分
割線により互いに分割され、且つ第１の分割線に対し互
いに逆向きに傾斜した方向に延びる格子を有する２つの
トラッキング用分割領域と、記録担体のラジアル方向に
対応する方向に延びる第２の分割線により上記トラッキ
ング用分割領域と区分され、且つ第２の分割線に対し直
交する方向に延びる格子を有する１つのフォーカス用分
割領域とを備えており、上記受光素子は、上記各トラッ
キング用分割領域で回折された戻り光をそれぞれ受光す
る２つのトラッキング用受光領域と、上記フォーカス用
分割領域で回折された戻り光を受光する２つのフォーカ
ス用受光領域を備えており、上記２つのフォーカス用受
光領域は、ラジアル方向に対応する方向に延びる第３の
分割線を挟んで互いに隣接している構成である。
これにより、回折素子の少なくとも２つのトラッキン
グ用分割領域で回折され、受光素子における各トラッキ
ング用受光領域でそれぞれ受光される戻り光の光量同士
を比較することによりトラッキング誤差を検出すること
ができる一方、回折素子におけるフォーカス用分割領域
で回折され、受光素子における互いに隣接する２つのフ
ォーカス用受光領域で受光される戻り光の光量同士を比
較することによりフォーカス誤差を検出することができ
る。
グ用分割領域で回折され、受光素子における各トラッキ
ング用受光領域でそれぞれ受光される戻り光の光量同士
を比較することによりトラッキング誤差を検出すること
ができる一方、回折素子におけるフォーカス用分割領域
で回折され、受光素子における互いに隣接する２つのフ
ォーカス用受光領域で受光される戻り光の光量同士を比
較することによりフォーカス誤差を検出することができ
る。
又、各種光学部品の性能上のばらつき、組立公差、半
導体レーザの波長のばらつき等によりある程度拡がった
受光素子上のフォーカス誤差検出用ビームを微調整した
時でも、そのフォーカス誤差検出用ビームは回折素子上
の戻り光ビームのうち、トラックに対する光ビーム照射
位置によって変化する光強度分布の影響を受けないよう
に分割された部分のビームの回折光であるため、トラッ
キング誤差がある場合でも常にほぼ一定のビーム強度を
持ち、フォーカス誤差信号にオフセットが発生すること
もない。従って、フォーカス誤差の検出が正確に行え
る。
導体レーザの波長のばらつき等によりある程度拡がった
受光素子上のフォーカス誤差検出用ビームを微調整した
時でも、そのフォーカス誤差検出用ビームは回折素子上
の戻り光ビームのうち、トラックに対する光ビーム照射
位置によって変化する光強度分布の影響を受けないよう
に分割された部分のビームの回折光であるため、トラッ
キング誤差がある場合でも常にほぼ一定のビーム強度を
持ち、フォーカス誤差信号にオフセットが発生すること
もない。従って、フォーカス誤差の検出が正確に行え
る。
又、上記の構成によれば、光源からの光をメインビー
ム及びサブビームに分割しないので、記録担体が記録を
行う形式のものであっても、記録を要する光パワーを充
分に確保できるという効果を奏する。
ム及びサブビームに分割しないので、記録担体が記録を
行う形式のものであっても、記録を要する光パワーを充
分に確保できるという効果を奏する。
第１図乃至第５図は本発明の一実施例を示すものであ
る。 第１図は回折素子の概略平面図である。 第２図（ａ）は受光素子の概略平面図である。 同図（ｂ）は受光素子上でビームが拡がりを有する場合
の概略平面図である。 第３図は光ピックアップ装置の概略正面図である。 第４図は同概略側面図である。 第５図は変形例における回折素子の概略平面図である。 第６図は本発明の他の実施例における光ピックアップ装
置の概略正面図である。 第７図乃至第９図は第１の従来例を示すものである。 第７図は光ピックアップ装置の概略正面図である。 第８図は回折素子の概略平面図である。 第９図は受光素子の概略平面図である。 第10図乃至第15図は第２の従来例を示すものである。 第10図は光ピックアップ装置の概略正面図である。 第11図は回折素子の概略平面図である。 第12図は受光素子の概略平面図である。 第13図（ａ）〜（ｃ）はそれぞれトラックと光ビームと
の相対位置関係を示す説明図である。 第14図（ａ）〜（ｃ）はそれぞれ第13図（ａ）〜（ｃ）
の相対位置関係に対応する戻り光の強度分布を示す説明
図である。 第15図（ａ）は受光素子上のビームが拡がりを有する状
態を示す概略平面図である。 同図（ｂ）は回折素子の微調整を行った状態を示す回折
素子の概略平面図である。 11は半導体レーザ（光源）、12は回折素子、12aは分割
領域（フォーカス用分割領域）、12b・12cは分割領域
（トラッキング用分割領域）、12g・12hは分割線、13は
コリメートレンズ（光学系）、14は成形プリズム（光学
系）、14′は偏光ビームスプリッタ（光学系）、15は対
物レンズ（光学系）、16は記録担体、17は受光素子、17
a・17bは受光領域（フォーカス用受光領域）、17c・17d
は受光領域（トラッキング用受光領域）である。
る。 第１図は回折素子の概略平面図である。 第２図（ａ）は受光素子の概略平面図である。 同図（ｂ）は受光素子上でビームが拡がりを有する場合
の概略平面図である。 第３図は光ピックアップ装置の概略正面図である。 第４図は同概略側面図である。 第５図は変形例における回折素子の概略平面図である。 第６図は本発明の他の実施例における光ピックアップ装
置の概略正面図である。 第７図乃至第９図は第１の従来例を示すものである。 第７図は光ピックアップ装置の概略正面図である。 第８図は回折素子の概略平面図である。 第９図は受光素子の概略平面図である。 第10図乃至第15図は第２の従来例を示すものである。 第10図は光ピックアップ装置の概略正面図である。 第11図は回折素子の概略平面図である。 第12図は受光素子の概略平面図である。 第13図（ａ）〜（ｃ）はそれぞれトラックと光ビームと
の相対位置関係を示す説明図である。 第14図（ａ）〜（ｃ）はそれぞれ第13図（ａ）〜（ｃ）
の相対位置関係に対応する戻り光の強度分布を示す説明
図である。 第15図（ａ）は受光素子上のビームが拡がりを有する状
態を示す概略平面図である。 同図（ｂ）は回折素子の微調整を行った状態を示す回折
素子の概略平面図である。 11は半導体レーザ（光源）、12は回折素子、12aは分割
領域（フォーカス用分割領域）、12b・12cは分割領域
（トラッキング用分割領域）、12g・12hは分割線、13は
コリメートレンズ（光学系）、14は成形プリズム（光学
系）、14′は偏光ビームスプリッタ（光学系）、15は対
物レンズ（光学系）、16は記録担体、17は受光素子、17
a・17bは受光領域（フォーカス用受光領域）、17c・17d
は受光領域（トラッキング用受光領域）である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 倉田 幸夫 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (72)発明者 佐藤 秀朗 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (56)参考文献 特開 平２−44552（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−217426（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−106341（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】光源と、光源からの光を記録担体上に集光
させるとともに記録担体からの戻り光を回折素子に導く
光学系と、上記戻り光を受光素子側に回折させる回折素
子と、回折素子で回折された戻り光に基づいて少なくと
もフォーカス誤差及びトラッキング誤差の検出を行う受
光素子とを備えた光ピックアップ装置において、 上記回折素子は、光源から出射された光が記録担体に到
達するまでの間の光路内に配置され、記録担体のトラッ
ク方向に対応する方向に延びる第１の分割線により互い
に分割され、且つ第１の分割線に対し互いに逆向きに傾
斜した方向に延びる格子を有する２つのトラッキング用
分割領域と、記録担体のラジアル方向に対応する方向に
延びる第２の分割線により上記トラッキング用分割領域
と区分され、且つ第２の分割線に対し直交する方向に延
びる格子を有する１つのフォーカス用分割領域とを備え
ており、 上記受光素子は、上記各トラッキング用分割領域で回折
された戻り光をそれぞれ受光する２つのトラッキング用
受光領域と、上記フォーカス用分割領域で回折された戻
り光を受光する２つのフォーカス用受光領域を備えてお
り、 上記２つのフォーカス用受光領域は、ラジアル方向に対
応する方向に延びる第３の分割線を挟んで互いに隣接し
ていることを特徴とする光ピックアップ装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2125139A JP2975395B2 (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 光ピックアップ装置 |
| CA002041928A CA2041928C (en) | 1990-05-15 | 1991-05-07 | Optical head |
| KR1019910007555A KR960010330B1 (ko) | 1990-05-15 | 1991-05-10 | 광학헤드 |
| EP91304366A EP0457573B1 (en) | 1990-05-15 | 1991-05-15 | Optical head |
| DE69112266T DE69112266T2 (de) | 1990-05-15 | 1991-05-15 | Optischer Kopf. |
| US08/065,458 US5283772A (en) | 1990-05-15 | 1993-05-20 | Optical head |
Applications Claiming Priority (1)
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