JPH11161973A - 光学的情報記録／再生装置 - Google Patents
光学的情報記録／再生装置Info
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- JPH11161973A JPH11161973A JP9346776A JP34677697A JPH11161973A JP H11161973 A JPH11161973 A JP H11161973A JP 9346776 A JP9346776 A JP 9346776A JP 34677697 A JP34677697 A JP 34677697A JP H11161973 A JPH11161973 A JP H11161973A
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
- G11B7/0912—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only by push-pull method
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は光学的情報記録／再生装置に関し、
光検出ユニットの出力信号中のノイズを低減すると共
に、光検出ユニットの外形状を比較的小さくすることで
装置の小型化及び低コスト化を可能とすることを目的と
する。 【解決手段】 記録媒体からの反射光を利用してフォー
カスエラー信号、トラッキングエラー信号及び光磁気信
号を検出する光学的情報記録／再生装置において、前記
検光子は前記反射光を２つの偏光に分離可能であり、前
記光学素子は、前記検光子からの２つの分離光の夫々を
空間的に３分割すべくすく数の偏向部を有しており、前
記光検出器は前記光学素子を介して偏向された６つの分
割光を受光する受光素子を有し、前記６つの分割光を用
いて前記フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信
号及び光磁気信号を検出するように構成する。
光検出ユニットの出力信号中のノイズを低減すると共
に、光検出ユニットの外形状を比較的小さくすることで
装置の小型化及び低コスト化を可能とすることを目的と
する。 【解決手段】 記録媒体からの反射光を利用してフォー
カスエラー信号、トラッキングエラー信号及び光磁気信
号を検出する光学的情報記録／再生装置において、前記
検光子は前記反射光を２つの偏光に分離可能であり、前
記光学素子は、前記検光子からの２つの分離光の夫々を
空間的に３分割すべくすく数の偏向部を有しており、前
記光検出器は前記光学素子を介して偏向された６つの分
割光を受光する受光素子を有し、前記６つの分割光を用
いて前記フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信
号及び光磁気信号を検出するように構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光学的情報記録／再
生装置に係り、特に光磁気記録媒体にレーザ光を照射し
てトラッキング制御及びフォーカス制御を行いつつ光磁
気記録媒体に対して光磁気記録信号を記録及び／又は再
生する光学的情報記録／再生装置に関する。
生装置に係り、特に光磁気記録媒体にレーザ光を照射し
てトラッキング制御及びフォーカス制御を行いつつ光磁
気記録媒体に対して光磁気記録信号を記録及び／又は再
生する光学的情報記録／再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図１７は、従来の光磁気記録／再生装置
の要部、具体的には光磁気ヘッド装置の構成を示す図で
ある。同図に示すように、光磁気ヘッド装置は、光磁気
ディスク５の下方に配置されている。光磁気ヘッド装置
が備える可干渉光源であるレーザダイオード１から出射
されたレーザ光は、コリメータレンズ２により平行光に
変換され、第１のビームスプリッタ３に入射する。第１
のビームスプリッタ３を透過したレーザ光は、対物レン
ズ４により光磁気ディスク５の磁性膜上に集光される。
光磁気ディスク５上に集光されたレーザ光は、光磁気デ
ィスク５にて反射され、第１のビームスプリッタ３に再
入射する。反射光は、第１のビームスプリッタ３で反射
して、第２のビームスプリッタ１０に入射し、透過する
光と光磁気信号用に反射する光とに分離される。
の要部、具体的には光磁気ヘッド装置の構成を示す図で
ある。同図に示すように、光磁気ヘッド装置は、光磁気
ディスク５の下方に配置されている。光磁気ヘッド装置
が備える可干渉光源であるレーザダイオード１から出射
されたレーザ光は、コリメータレンズ２により平行光に
変換され、第１のビームスプリッタ３に入射する。第１
のビームスプリッタ３を透過したレーザ光は、対物レン
ズ４により光磁気ディスク５の磁性膜上に集光される。
光磁気ディスク５上に集光されたレーザ光は、光磁気デ
ィスク５にて反射され、第１のビームスプリッタ３に再
入射する。反射光は、第１のビームスプリッタ３で反射
して、第２のビームスプリッタ１０に入射し、透過する
光と光磁気信号用に反射する光とに分離される。
【０００３】光磁気信号を検出するために第２のビーム
スプリッタ１０で反射された光は、集光レンズ１１によ
り集光され、検光子であるウォラストンプリズム６に入
射され、略二等分に分離されて第１の２分割光検出器１
２上に投射され、２つのビームスポットを形成する。図
１８は、第１の２分割光検出器１２を示す平面図であ
る。光磁気ディスク５にて反射された光は、磁性膜の磁
区の向きにより偏波面の回転作用を受けている。これに
より、微小回転した直線偏向が略一対一に分離されるよ
うに、ウォラストンプリズム６は結晶軸に対して適当な
角度を有して切り出されている。ウォラストンプリズム
６により２つの偏光に分離された光ビームは、図１８に
示すように、２分割光検出器１２の夫々にビームスポッ
トを形成し、各ビームスポットに対応する出力Ｇ，Ｈが
２分割光検出器１２の分割部分から得られる。このと
き、光磁気信号ＭＯは、次式で求められる。
スプリッタ１０で反射された光は、集光レンズ１１によ
り集光され、検光子であるウォラストンプリズム６に入
射され、略二等分に分離されて第１の２分割光検出器１
２上に投射され、２つのビームスポットを形成する。図
１８は、第１の２分割光検出器１２を示す平面図であ
る。光磁気ディスク５にて反射された光は、磁性膜の磁
区の向きにより偏波面の回転作用を受けている。これに
より、微小回転した直線偏向が略一対一に分離されるよ
うに、ウォラストンプリズム６は結晶軸に対して適当な
角度を有して切り出されている。ウォラストンプリズム
６により２つの偏光に分離された光ビームは、図１８に
示すように、２分割光検出器１２の夫々にビームスポッ
トを形成し、各ビームスポットに対応する出力Ｇ，Ｈが
２分割光検出器１２の分割部分から得られる。このと
き、光磁気信号ＭＯは、次式で求められる。
【０００４】ＭＯ＝Ｇ−Ｈ 一方、第２のビームスプリッタ１０を透過した光は、集
光レンズ８を介して第３のビームスプリッタ１３に入射
され、第２の２分割光検出器１４に投射されてトラッキ
ングエラー信号を得る光と、テーパプリズム１５に入射
されてフーコー法によりフォーカスエラー信号を得る光
とに分割される。
光レンズ８を介して第３のビームスプリッタ１３に入射
され、第２の２分割光検出器１４に投射されてトラッキ
ングエラー信号を得る光と、テーパプリズム１５に入射
されてフーコー法によりフォーカスエラー信号を得る光
とに分割される。
【０００５】図１９は、第２の２分割光検出器１４を示
す平面図である。第２の２分割光検出器１４にビームス
ポットが形成されると、分割部分に対応する出力Ｅ，Ｆ
が出力される。このとき、トラッキングエラー信号ＴＥ
Ｓは、次式で求められる。 ＴＥＳ＝Ｅ−Ｆ 図２０は、テーパプリズム１５の構造を示す斜視図であ
る。テーパプリズム１５は、光軸に対して異なる傾斜を
有する２つのテーパ部１５ａ，１５ｂを有し、これらの
テーパ部１５ａ，１５ｂをその一側に配して並設した形
状を有する。テーパプリズム１５に入射された光は、テ
ーパ部１５ａ，１５ｂにより２つの光ビームに分割され
て、第３の４分割光検出器１６上に投射される。
す平面図である。第２の２分割光検出器１４にビームス
ポットが形成されると、分割部分に対応する出力Ｅ，Ｆ
が出力される。このとき、トラッキングエラー信号ＴＥ
Ｓは、次式で求められる。 ＴＥＳ＝Ｅ−Ｆ 図２０は、テーパプリズム１５の構造を示す斜視図であ
る。テーパプリズム１５は、光軸に対して異なる傾斜を
有する２つのテーパ部１５ａ，１５ｂを有し、これらの
テーパ部１５ａ，１５ｂをその一側に配して並設した形
状を有する。テーパプリズム１５に入射された光は、テ
ーパ部１５ａ，１５ｂにより２つの光ビームに分割され
て、第３の４分割光検出器１６上に投射される。
【０００６】図２１は、第３の４分割光検出器１６を示
す平面図である。同図（ａ）は、対物レンズ４と光磁気
ディスク５とが近づいた場合を示し、同図（ｂ）は、レ
ーザ光が光磁気ディスク５上で合焦している場合を示
し、同図（ｃ）は、対物レンズ４と光磁気ディスク５と
が遠い場合を示している。第３の４分割光検出器１６に
は、２つの光ビームによるビームスポットが形成され、
分割部分に対応する出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが出力される。
このとき、フォーカスエラー信号ＦＥＳは、次式で求め
られる。
す平面図である。同図（ａ）は、対物レンズ４と光磁気
ディスク５とが近づいた場合を示し、同図（ｂ）は、レ
ーザ光が光磁気ディスク５上で合焦している場合を示
し、同図（ｃ）は、対物レンズ４と光磁気ディスク５と
が遠い場合を示している。第３の４分割光検出器１６に
は、２つの光ビームによるビームスポットが形成され、
分割部分に対応する出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが出力される。
このとき、フォーカスエラー信号ＦＥＳは、次式で求め
られる。
【０００７】ＦＥＳ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ） このような構成の光磁気ヘッド装置を用いる光学的情報
記録／再生装置では、トラッキングエラー信号ＴＥＳを
得てレーザ光を光磁気ディスク５の所定のトラックに追
従させつつ、フォーカスエラー信号ＦＥＳがＦＥＳ＝０
となるように制御して、レーザ光を光磁気ディスク５上
に常に合焦させて、光磁気信号ＭＯを検出するようにし
ている。上記の如く、従来の光磁気ヘッド装置は、フォ
ーカスエラー信号ＦＥＳ、トラッキングエラー信号ＴＥ
Ｓ及び光磁気信号ＭＯを検出するために、２個のビーム
スプリッタと３個の光検出器とが必要であった。
記録／再生装置では、トラッキングエラー信号ＴＥＳを
得てレーザ光を光磁気ディスク５の所定のトラックに追
従させつつ、フォーカスエラー信号ＦＥＳがＦＥＳ＝０
となるように制御して、レーザ光を光磁気ディスク５上
に常に合焦させて、光磁気信号ＭＯを検出するようにし
ている。上記の如く、従来の光磁気ヘッド装置は、フォ
ーカスエラー信号ＦＥＳ、トラッキングエラー信号ＴＥ
Ｓ及び光磁気信号ＭＯを検出するために、２個のビーム
スプリッタと３個の光検出器とが必要であった。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の光
学的情報記録／再生装置では、光磁気ヘッド装置を構成
する光学素子や光検出器等の構成部品の数が多いので、
これらの部品の配置調整に手間がかかり、製造工程が複
雑化して光学的情報記録／再生装置のコストが高くなる
という問題があった。
学的情報記録／再生装置では、光磁気ヘッド装置を構成
する光学素子や光検出器等の構成部品の数が多いので、
これらの部品の配置調整に手間がかかり、製造工程が複
雑化して光学的情報記録／再生装置のコストが高くなる
という問題があった。
【０００９】この問題を解決するために、本出願人は、
先に特開平７−７３４７９号公報において、９本に分割
された反射光を単一の光検出器に投射して、フォーカス
エラー信号、トラッキングエラー信号及び光磁気信号を
検出する装置を提案した。この提案装置によれば、装置
の構成部品数が低減され、製造工程の簡略化が図れ、装
置のコストも低減することができる。
先に特開平７−７３４７９号公報において、９本に分割
された反射光を単一の光検出器に投射して、フォーカス
エラー信号、トラッキングエラー信号及び光磁気信号を
検出する装置を提案した。この提案装置によれば、装置
の構成部品数が低減され、製造工程の簡略化が図れ、装
置のコストも低減することができる。
【００１０】ところが、反射光の分割数が多いと、光検
出器の検出部の数が多くなり、検出部から出力される信
号のノイズ成分が多くなってしまい、信号品質が劣化す
る可能性があった。又、光検出器の外形状が大きくなる
ので、光磁気ヘッド装置及び光学的情報記録／再生装置
が大型化してしまうという問題があった。更に、光検出
器の外形状が大きくなると、パッケージも大きくなった
り、特種なものを使用する必要が生じてコストが増加す
るという問題もあった。
出器の検出部の数が多くなり、検出部から出力される信
号のノイズ成分が多くなってしまい、信号品質が劣化す
る可能性があった。又、光検出器の外形状が大きくなる
ので、光磁気ヘッド装置及び光学的情報記録／再生装置
が大型化してしまうという問題があった。更に、光検出
器の外形状が大きくなると、パッケージも大きくなった
り、特種なものを使用する必要が生じてコストが増加す
るという問題もあった。
【００１１】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、検出するフォーカスエラー信号、トラッキン
グエラー信号及び光磁気信号の精度を犠牲にすることな
く、光検出ユニットが有する光検出器及び光検出部の数
を減少させて光検出ユニットの出力信号中のノイズを低
減すると共に、光検出ユニットの外形状を比較的小さく
することで装置の小型化及び低コスト化を可能とする光
学的情報記録／再生装置を提供することを目的とする。
のであり、検出するフォーカスエラー信号、トラッキン
グエラー信号及び光磁気信号の精度を犠牲にすることな
く、光検出ユニットが有する光検出器及び光検出部の数
を減少させて光検出ユニットの出力信号中のノイズを低
減すると共に、光検出ユニットの外形状を比較的小さく
することで装置の小型化及び低コスト化を可能とする光
学的情報記録／再生装置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記の課題は、請求項１
記載の、記録媒体上に投射した可干渉光の反射光を検光
子及び光学素子を介して光検出器で受光し、前記可干渉
光の投射位置を制御するためのフォーカスエラー信号、
トラッキングエラー信号及び情報を再生するための光磁
気信号を検出する光学的情報記録／再生装置であって、
前記検光子は前記反射光を２つの偏光に分離可能であ
り、前記光学素子は、前記検光子からの２つの分離光の
夫々を空間的に３分割すべく複数の偏向部を有してお
り、前記光検出器は前記光学素子を介して偏向された６
つの分割光を受光する受光素子を有し、前記６つの分割
光を用いて前記フォーカスエラー信号、トラッキングエ
ラー信号及び光磁気信号を検出する光学的情報記録／再
生装置によって達成される。
記載の、記録媒体上に投射した可干渉光の反射光を検光
子及び光学素子を介して光検出器で受光し、前記可干渉
光の投射位置を制御するためのフォーカスエラー信号、
トラッキングエラー信号及び情報を再生するための光磁
気信号を検出する光学的情報記録／再生装置であって、
前記検光子は前記反射光を２つの偏光に分離可能であ
り、前記光学素子は、前記検光子からの２つの分離光の
夫々を空間的に３分割すべく複数の偏向部を有してお
り、前記光検出器は前記光学素子を介して偏向された６
つの分割光を受光する受光素子を有し、前記６つの分割
光を用いて前記フォーカスエラー信号、トラッキングエ
ラー信号及び光磁気信号を検出する光学的情報記録／再
生装置によって達成される。
【００１３】請求項２記載の発明では、請求項１におい
て、前記光磁気信号を得るために、前記６つの分割光の
うち、少なくとも前記フォーカスエラー信号及びトラッ
キングエラー信号のいずれか１つを得るための分割光を
用いる。請求項３記載の発明では、請求項１において、
前記フォーカスエラー信号を得るために、１つの偏向部
からの２つの分離光のうち、残りの偏向部における遮蔽
量が大きい側の分離光を用いる。
て、前記光磁気信号を得るために、前記６つの分割光の
うち、少なくとも前記フォーカスエラー信号及びトラッ
キングエラー信号のいずれか１つを得るための分割光を
用いる。請求項３記載の発明では、請求項１において、
前記フォーカスエラー信号を得るために、１つの偏向部
からの２つの分離光のうち、残りの偏向部における遮蔽
量が大きい側の分離光を用いる。
【００１４】請求項４記載の発明では、請求項１におい
て、前記受光素子は分割線を有し、前記受光素子が前記
分割光の合焦位置よりも遠い場合に、前記受光素子にお
ける受光スポットが、前記検光子の光学特性に応じて前
記分割線よりも前記光検出器の外縁側又は内側に位置す
べき分割光を、前記フォーカスエラー信号を得るために
用いる。
て、前記受光素子は分割線を有し、前記受光素子が前記
分割光の合焦位置よりも遠い場合に、前記受光素子にお
ける受光スポットが、前記検光子の光学特性に応じて前
記分割線よりも前記光検出器の外縁側又は内側に位置す
べき分割光を、前記フォーカスエラー信号を得るために
用いる。
【００１５】請求項５記載の発明では、請求項１におい
て、前記フォーカスエラー信号を得るために、前記検光
子により分離された２つの分離光のうち一方の分離光の
みを用いる。請求項６記載の発明では、請求項１〜５の
いずれかにおいて、前記光学素子は、前記反射光の光軸
に対して曲率を有して凸状をなす曲率偏向面と、該曲率
偏向面の両側に設けられ、前記光軸に対して夫々異なる
傾斜を有する傾斜偏向面とを備えるプリズムである。
て、前記フォーカスエラー信号を得るために、前記検光
子により分離された２つの分離光のうち一方の分離光の
みを用いる。請求項６記載の発明では、請求項１〜５の
いずれかにおいて、前記光学素子は、前記反射光の光軸
に対して曲率を有して凸状をなす曲率偏向面と、該曲率
偏向面の両側に設けられ、前記光軸に対して夫々異なる
傾斜を有する傾斜偏向面とを備えるプリズムである。
【００１６】請求項７記載の発明では、請求項１〜５の
いずれかにおいて、前記光学素子は、前記反射光の光軸
に対して曲率を有して凹状をなす曲率偏向面と、該曲率
偏向面の両側に設けられ、前記光軸に対して夫々異なる
傾斜を有する傾斜偏向面とを備えるプリズムである。請
求項８記載の発明では、請求項１〜５のいずれかにおい
て、前記光学素子は、前記反射光の光軸に対して略垂直
な平坦偏向面と、該平坦偏向面の両側に設けられ、前記
光軸に対して夫々異なる傾斜を有する傾斜偏向面とを備
えるプリズムである。
いずれかにおいて、前記光学素子は、前記反射光の光軸
に対して曲率を有して凹状をなす曲率偏向面と、該曲率
偏向面の両側に設けられ、前記光軸に対して夫々異なる
傾斜を有する傾斜偏向面とを備えるプリズムである。請
求項８記載の発明では、請求項１〜５のいずれかにおい
て、前記光学素子は、前記反射光の光軸に対して略垂直
な平坦偏向面と、該平坦偏向面の両側に設けられ、前記
光軸に対して夫々異なる傾斜を有する傾斜偏向面とを備
えるプリズムである。
【００１７】請求項９記載の発明では、請求項１〜５の
いずれかにおいて、前記光学素子は、前記反射光を±１
次光と０次光とに夫々回折せしめる偏光部を備えるホロ
グラム光学素子である。上記の課題は、請求項１０記載
の、光学的記録媒体からの反射光ビームを利用して情報
を記録及び／又は再生する光学的情報記録／再生装置で
あって、前記反射光ビームを複数の分離段において複数
の光ビームに分離する光分離部と、ｍ，ｎを正の整数で
ｍ≧ｎとすると、該光分離部の最終段から出力されるｍ
本の光ビームを受光するｎ個の光検出器からなる光検出
ユニットとからなり、該光検出ユニットのｎ個の光検出
器のうち、複数の光検出器はフォーカスエラーの検出に
用いられる光ビームを受光し、少なくとも１つの光検出
器はトラッキングエラーの検出に用いられる光ビームを
受光し、複数の光検出器は光磁気情報の検出に用いられ
る光ビームを受光するよう配置されている光学的情報記
録／再生装置によっても達成される。
いずれかにおいて、前記光学素子は、前記反射光を±１
次光と０次光とに夫々回折せしめる偏光部を備えるホロ
グラム光学素子である。上記の課題は、請求項１０記載
の、光学的記録媒体からの反射光ビームを利用して情報
を記録及び／又は再生する光学的情報記録／再生装置で
あって、前記反射光ビームを複数の分離段において複数
の光ビームに分離する光分離部と、ｍ，ｎを正の整数で
ｍ≧ｎとすると、該光分離部の最終段から出力されるｍ
本の光ビームを受光するｎ個の光検出器からなる光検出
ユニットとからなり、該光検出ユニットのｎ個の光検出
器のうち、複数の光検出器はフォーカスエラーの検出に
用いられる光ビームを受光し、少なくとも１つの光検出
器はトラッキングエラーの検出に用いられる光ビームを
受光し、複数の光検出器は光磁気情報の検出に用いられ
る光ビームを受光するよう配置されている光学的情報記
録／再生装置によっても達成される。
【００１８】請求項１１記載の発明では、請求項１０に
おいて、前記ｍ及びｎは、ｍ＝６且つｎ＝６、又は、ｍ
＝６且つｎ＝５、又は、ｍ＝１０且つｎ＝６である。請
求項１２記載の発明では、請求項１０又は１１におい
て、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器のうち、複数
の光検出器は前記光学的記録媒体上の位置情報の検出に
用いられる光ビームを受光するよう配置されている。
おいて、前記ｍ及びｎは、ｍ＝６且つｎ＝６、又は、ｍ
＝６且つｎ＝５、又は、ｍ＝１０且つｎ＝６である。請
求項１２記載の発明では、請求項１０又は１１におい
て、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器のうち、複数
の光検出器は前記光学的記録媒体上の位置情報の検出に
用いられる光ビームを受光するよう配置されている。
【００１９】請求項１３記載の発明では、請求項１２に
おいて、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器のうち、
前記位置情報の検出に用いられる光ビームを受光するよ
う配置されている複数の光検出器は、前記光磁気情報の
検出に用いられる光ビームを受光するよう配置されてい
る複数の光検出器と同じである。請求項１４記載の発明
では、請求項１２において、前記光検出ユニットのｎ個
の光検出器のうち、前記位置情報の検出に用いられる光
ビームを受光するよう配置されている複数の光検出器
は、前記光分離部の最終段から出力されるｍ本の光ビー
ムの全てを受光するよう配置されている。
おいて、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器のうち、
前記位置情報の検出に用いられる光ビームを受光するよ
う配置されている複数の光検出器は、前記光磁気情報の
検出に用いられる光ビームを受光するよう配置されてい
る複数の光検出器と同じである。請求項１４記載の発明
では、請求項１２において、前記光検出ユニットのｎ個
の光検出器のうち、前記位置情報の検出に用いられる光
ビームを受光するよう配置されている複数の光検出器
は、前記光分離部の最終段から出力されるｍ本の光ビー
ムの全てを受光するよう配置されている。
【００２０】請求項１５記載の発明では、請求項１０に
おいて、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器のうち、
前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを受光する
よう配置されている複数の光検出器は、前記フォーカス
エラー又は前記トラッキングエラーの検出に用いられる
光ビームも受光する。請求項１６記載の発明では、請求
項１０において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを
受光するよう配置されている複数の光検出器は、前記光
分離部の最終段から出力されるｍ本の光ビームの一部の
みを受光するよう配置されている。
おいて、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器のうち、
前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを受光する
よう配置されている複数の光検出器は、前記フォーカス
エラー又は前記トラッキングエラーの検出に用いられる
光ビームも受光する。請求項１６記載の発明では、請求
項１０において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを
受光するよう配置されている複数の光検出器は、前記光
分離部の最終段から出力されるｍ本の光ビームの一部の
みを受光するよう配置されている。
【００２１】請求項１７記載の発明では、請求項１０に
おいて、前記光分離部は、入来する光ビームを複数の偏
光光ビームに分離する検光子と、入来する光ビームを複
数の光ビームに空間的に分離する光学素子とからなり、
該検光子及び該光学素子は前記光学的記録媒体と前記光
検出ユニットとの間に任意の順番で配置され、該光検出
ユニットの光検出器のうち、前記フォーカスエラーの検
出に用いられる光ビームを受光するよう配置されている
複数の光検出器は、前記複数の偏光光ビームのうち１本
に対応する光ビームのみを受光するよう配置されてい
る。
おいて、前記光分離部は、入来する光ビームを複数の偏
光光ビームに分離する検光子と、入来する光ビームを複
数の光ビームに空間的に分離する光学素子とからなり、
該検光子及び該光学素子は前記光学的記録媒体と前記光
検出ユニットとの間に任意の順番で配置され、該光検出
ユニットの光検出器のうち、前記フォーカスエラーの検
出に用いられる光ビームを受光するよう配置されている
複数の光検出器は、前記複数の偏光光ビームのうち１本
に対応する光ビームのみを受光するよう配置されてい
る。
【００２２】請求項１８記載の発明では、請求項１７に
おいて、前記光学素子は、前記反射光ビームの光軸に対
して曲率を有する第１の偏向面と、該第１の偏向面の両
側に設けられており該光軸に対して互いに異なる方向に
傾斜している第２及び第３の偏向面とからなる。請求項
１９記載の発明では、請求項１８において、前記光学素
子は、前記第２及び第３の偏向面の両側に設けられてお
り前記第１の偏向面と同じ曲率を有すると共に該第１の
偏向面が存在する曲面と同じ曲面上に存在する第４及び
第５の偏向面を更に有する。
おいて、前記光学素子は、前記反射光ビームの光軸に対
して曲率を有する第１の偏向面と、該第１の偏向面の両
側に設けられており該光軸に対して互いに異なる方向に
傾斜している第２及び第３の偏向面とからなる。請求項
１９記載の発明では、請求項１８において、前記光学素
子は、前記第２及び第３の偏向面の両側に設けられてお
り前記第１の偏向面と同じ曲率を有すると共に該第１の
偏向面が存在する曲面と同じ曲面上に存在する第４及び
第５の偏向面を更に有する。
【００２３】請求項２０記載の発明では、請求項１８又
は１９において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記フォーカスエラーの検出に用いられる光ビ
ームを受光するよう配置されている複数の光検出器は、
前記光学素子の前記第２及び第３の偏向面の一方から出
力され、且つ、他方から出力される光ビームより光検出
器上に形成されるスポットが大きい光ビームを受光する
よう配置されている。
は１９において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記フォーカスエラーの検出に用いられる光ビ
ームを受光するよう配置されている複数の光検出器は、
前記光学素子の前記第２及び第３の偏向面の一方から出
力され、且つ、他方から出力される光ビームより光検出
器上に形成されるスポットが大きい光ビームを受光する
よう配置されている。
【００２４】請求項２１記載の発明では、請求項１０又
は１１において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを
受光するよう配置されている一方の光検出器及び前記フ
ォーカスエラーの検出に用いられる光ビームを受光する
よう配置されている一方の光検出器の出力の和と、前記
光磁気情報の検出に用いられる光ビームを受光するよう
配置されている他方の光検出器及び前記フォーカスエラ
ーの検出に用いられる光ビームを受光するよう配置され
ている他方の光検出器の出力の和との差から光磁気情報
を再生する。
は１１において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを
受光するよう配置されている一方の光検出器及び前記フ
ォーカスエラーの検出に用いられる光ビームを受光する
よう配置されている一方の光検出器の出力の和と、前記
光磁気情報の検出に用いられる光ビームを受光するよう
配置されている他方の光検出器及び前記フォーカスエラ
ーの検出に用いられる光ビームを受光するよう配置され
ている他方の光検出器の出力の和との差から光磁気情報
を再生する。
【００２５】請求項２２記載の発明では、請求項１０又
は１１において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを
受光するよう配置されている一方の光検出器及び前記フ
ォーカスエラーの検出に用いられる光ビームを受光する
よう配置されている一方の光検出器の出力の和と、前記
光磁気情報の検出に用いられる光ビームを受光するよう
配置されている他方の光検出器及び前記フォーカスエラ
ーの検出に用いられる光ビームを受光するよう配置され
ている他方の光検出器の出力の和との和から前記光学的
記録媒体上の位置情報を再生する。
は１１において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを
受光するよう配置されている一方の光検出器及び前記フ
ォーカスエラーの検出に用いられる光ビームを受光する
よう配置されている一方の光検出器の出力の和と、前記
光磁気情報の検出に用いられる光ビームを受光するよう
配置されている他方の光検出器及び前記フォーカスエラ
ーの検出に用いられる光ビームを受光するよう配置され
ている他方の光検出器の出力の和との和から前記光学的
記録媒体上の位置情報を再生する。
【００２６】請求項２３記載の発明では、請求項１０又
は１１において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
の全ての出力の和から前記光学的記録媒体上の位置情報
を再生する。請求項２４記載の発明では、請求項１０又
は１１において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光分離部からのｍ本の光ビームのうち前記
反射光ビームの中央部分を除く周辺部分のみに対応する
光ビームを受光するように配置されている光検出器の出
力に基づいて前記光磁気情報を再生する。
は１１において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
の全ての出力の和から前記光学的記録媒体上の位置情報
を再生する。請求項２４記載の発明では、請求項１０又
は１１において、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光分離部からのｍ本の光ビームのうち前記
反射光ビームの中央部分を除く周辺部分のみに対応する
光ビームを受光するように配置されている光検出器の出
力に基づいて前記光磁気情報を再生する。
【００２７】請求項２５記載の発明では、請求項２４に
おいて、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器の全ての
出力の和から前記光学的記録媒体上の位置情報を再生す
る。請求項１記載の発明によれば、２つの偏光に分離さ
れた反射光を更に空間的に３分割し、即ち、計６分割し
て光検出器に投射する。これにより、１つの光検出器で
光磁気信号、トラッキングエラー信号及びフォーカスエ
ラー信号の信号検出が可能となる。
おいて、前記光検出ユニットのｎ個の光検出器の全ての
出力の和から前記光学的記録媒体上の位置情報を再生す
る。請求項１記載の発明によれば、２つの偏光に分離さ
れた反射光を更に空間的に３分割し、即ち、計６分割し
て光検出器に投射する。これにより、１つの光検出器で
光磁気信号、トラッキングエラー信号及びフォーカスエ
ラー信号の信号検出が可能となる。
【００２８】請求項２記載の発明によれば、例えば、後
述する第１実施例のように、トラッキングエラー信号を
検出するための分割光を用いずに光磁気信号を得ること
ができる。又、第３実施例のように、フォーカスエラー
信号を検出するための分割光を用いずに光磁気信号を得
ることができる。更に、トラッキングエラー信号及びフ
ォーカスエラー信号を検出するための分割光を用いて光
磁気信号を得ることもできる。光磁気信号を得るとき、
少ない数の受光部から信号を得る方がノイズが少ない。
従って、トラッキングエラー信号のための分割光を用い
ずに、フォーカスエラー信号を検出するための分割光を
用いることにより、信号のＳ／Ｎ比が良好になる。又、
光磁気信号、トラッキングエラー信号及びフォーカスエ
ラー信号の必要周波数帯域は、夫々この順に高い。光ビ
ームから２種類の信号を得る場合は、両信号の周波数帯
域が離れている方が回路の構成を簡単にできる。従っ
て、光磁気信号をフォーカスエラー信号から得ることに
より、装置が簡略化される。
述する第１実施例のように、トラッキングエラー信号を
検出するための分割光を用いずに光磁気信号を得ること
ができる。又、第３実施例のように、フォーカスエラー
信号を検出するための分割光を用いずに光磁気信号を得
ることができる。更に、トラッキングエラー信号及びフ
ォーカスエラー信号を検出するための分割光を用いて光
磁気信号を得ることもできる。光磁気信号を得るとき、
少ない数の受光部から信号を得る方がノイズが少ない。
従って、トラッキングエラー信号のための分割光を用い
ずに、フォーカスエラー信号を検出するための分割光を
用いることにより、信号のＳ／Ｎ比が良好になる。又、
光磁気信号、トラッキングエラー信号及びフォーカスエ
ラー信号の必要周波数帯域は、夫々この順に高い。光ビ
ームから２種類の信号を得る場合は、両信号の周波数帯
域が離れている方が回路の構成を簡単にできる。従っ
て、光磁気信号をフォーカスエラー信号から得ることに
より、装置が簡略化される。
【００２９】請求項３記載の発明によれば、フォーカス
エラー信号を検出するために、遮蔽量、即ち、ケラレが
大きい分割光を用いている。分割光の光検出器上でのス
ポット形状は、ケラレが大きい分割光の方が小さい分割
光よりも長径が長い。フーコー法によりフォーカスエラ
ー信号を検出する場合に、スポット形状の長径が長い
程、分割受光素子の分割線がずれた際の影響が少ないの
で検出誤差が小さくなり、正確なフォーカスエラー信号
が得られる。
エラー信号を検出するために、遮蔽量、即ち、ケラレが
大きい分割光を用いている。分割光の光検出器上でのス
ポット形状は、ケラレが大きい分割光の方が小さい分割
光よりも長径が長い。フーコー法によりフォーカスエラ
ー信号を検出する場合に、スポット形状の長径が長い
程、分割受光素子の分割線がずれた際の影響が少ないの
で検出誤差が小さくなり、正確なフォーカスエラー信号
が得られる。
【００３０】請求項４記載の発明によれば、光磁気ヘッ
ド装置の温度が上昇した場合に、分割線よりも光検出器
の外縁側又は内側に投射されるべき分割光をフォーカス
エラー信号に用いている。例えば、検光子の光学特性に
より温度が上昇した際に分離角が狭くなる場合は、受光
スポットが外縁側に位置する分割光を用い、分離角が広
くなる場合は、内側に位置する分割光を用いる。これに
より、外縁側又は内側も投射される分割光の受光スポッ
トを分割線上に位置されることができ、フォーカスエラ
ー信号を正確に求められる。
ド装置の温度が上昇した場合に、分割線よりも光検出器
の外縁側又は内側に投射されるべき分割光をフォーカス
エラー信号に用いている。例えば、検光子の光学特性に
より温度が上昇した際に分離角が狭くなる場合は、受光
スポットが外縁側に位置する分割光を用い、分離角が広
くなる場合は、内側に位置する分割光を用いる。これに
より、外縁側又は内側も投射される分割光の受光スポッ
トを分割線上に位置されることができ、フォーカスエラ
ー信号を正確に求められる。
【００３１】請求項５記載の発明によれば、検光子によ
り２つの偏光に分離された一方のみをフォーカスエラー
信号に用いている。検光子が、例えば複屈折材料で形成
されている場合に、２つの分離光の分離角は温度の影響
を受けて変化する。従って、分離された一方のみの分離
光を用いることにより、検光子の温度変化の影響を受け
ずに、正確なフォーカスエラー信号が得られる。
り２つの偏光に分離された一方のみをフォーカスエラー
信号に用いている。検光子が、例えば複屈折材料で形成
されている場合に、２つの分離光の分離角は温度の影響
を受けて変化する。従って、分離された一方のみの分離
光を用いることにより、検光子の温度変化の影響を受け
ずに、正確なフォーカスエラー信号が得られる。
【００３２】請求項６〜８記載の発明によれば、光学素
子はプリズムであり、光軸に帯して異なる角度を有する
３つの偏向面を有しているので、２つの偏光に分離した
分離光の夫々を空間的に３分割することができ、計６分
割の分割光が光検出器に投射される。請求項９記載の発
明によれば、光学素子はホログラム光学素子であり、２
つの偏光に分離した分離光の夫々を＋１次光、−１次光
及び０次光に３分割することができ、計６分割の分割光
が光検出器に投射される。
子はプリズムであり、光軸に帯して異なる角度を有する
３つの偏向面を有しているので、２つの偏光に分離した
分離光の夫々を空間的に３分割することができ、計６分
割の分割光が光検出器に投射される。請求項９記載の発
明によれば、光学素子はホログラム光学素子であり、２
つの偏光に分離した分離光の夫々を＋１次光、−１次光
及び０次光に３分割することができ、計６分割の分割光
が光検出器に投射される。
【００３３】請求項１０記載の発明によれば、上記誤差
要因に対するフォーカスエラー検出系の許容マージンを
大きくして、正確なフォーカスエラー信号を得ることが
できる。又、信号品質の高いフォーカスエラー信号、ト
ラッキングエラー信号及び光磁気情報を得ることもでき
る。請求項１１記載の発明によれば、必要となる部品の
数を削減することで、光学的情報記録／再生装置の製造
プロセスを簡略化すると共に、光学的情報記録／再生装
置のコストを削減できる。
要因に対するフォーカスエラー検出系の許容マージンを
大きくして、正確なフォーカスエラー信号を得ることが
できる。又、信号品質の高いフォーカスエラー信号、ト
ラッキングエラー信号及び光磁気情報を得ることもでき
る。請求項１１記載の発明によれば、必要となる部品の
数を削減することで、光学的情報記録／再生装置の製造
プロセスを簡略化すると共に、光学的情報記録／再生装
置のコストを削減できる。
【００３４】請求項１２〜１４記載の発明によれば、比
較的簡単な構成で、信号品質の高い位置情報を得ること
ができる。請求項１５及び１６記載の発明によれば、比
較的簡単な構成で、信号品質の高い光磁気情報を得るこ
とができる。請求項１７及び１８記載の発明によれば、
光学部品の数及び構成を比較的簡単にすることができ、
光学的情報記録／再生装置の製造プロセスを簡略化する
と共に、光学的情報記録／再生装置のコストを削減でき
る。
較的簡単な構成で、信号品質の高い位置情報を得ること
ができる。請求項１５及び１６記載の発明によれば、比
較的簡単な構成で、信号品質の高い光磁気情報を得るこ
とができる。請求項１７及び１８記載の発明によれば、
光学部品の数及び構成を比較的簡単にすることができ、
光学的情報記録／再生装置の製造プロセスを簡略化する
と共に、光学的情報記録／再生装置のコストを削減でき
る。
【００３５】請求項１９記載の発明によれば、光磁気情
報の分解能を向上することができる。請求項２０記載の
発明によれば、光学的情報記録／再生装置の部品の調整
を簡単にして正確なフォーカスエラー信号得ることがで
きる。請求項２１及び２４記載の発明によれば、簡単な
回路構成により高品質の光磁気情報を再生することがで
きる。
報の分解能を向上することができる。請求項２０記載の
発明によれば、光学的情報記録／再生装置の部品の調整
を簡単にして正確なフォーカスエラー信号得ることがで
きる。請求項２１及び２４記載の発明によれば、簡単な
回路構成により高品質の光磁気情報を再生することがで
きる。
【００３６】請求項２２、２３及び２５記載の発明によ
れば、高品質の位置情報を再生することができる。従っ
て、本発明によれば、検出するフォーカスエラー信号、
トラッキングエラー信号及び光磁気信号の精度を犠牲に
することなく、光検出ユニットが有する光検出器及び光
検出部の数を減少させて光検出ユニットの出力信号中の
ノイズを低減すると共に、光検出ユニットの外形状を比
較的小さくすることで装置の小型化及び低コスト化を可
能とすることができる。
れば、高品質の位置情報を再生することができる。従っ
て、本発明によれば、検出するフォーカスエラー信号、
トラッキングエラー信号及び光磁気信号の精度を犠牲に
することなく、光検出ユニットが有する光検出器及び光
検出部の数を減少させて光検出ユニットの出力信号中の
ノイズを低減すると共に、光検出ユニットの外形状を比
較的小さくすることで装置の小型化及び低コスト化を可
能とすることができる。
【００３７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図１〜図
１５と共に説明する。
１５と共に説明する。
【００３８】
【実施例】図１は、本発明になる光学的情報記録／再生
装置の第１実施例の構成を示す図である。同図中、図１
６と同一部分には同一符号を付す。図１において、光磁
気ヘッド装置は、光磁気ディスク５の下方に配置されて
いる。光磁気ヘッド装置が備える可干渉光源であるレー
ザダイオード１から出射されたレーザ光は、コリメータ
レンズ２により平行光に変換され、ビームスプリッタ３
に入射する。ビームスプリッタ３を透過したレーザ光
は、対物レンズ４により光磁気ディスク５の磁性膜上に
集光される。光磁気ディスク５上に集光されたレーザ光
は、光磁気ディスク５により反射されて、ビームスプリ
ッタ３に再入射する。ビームスプリッタ３に入射された
反射光は、光検出ユニット９側に反射され、検光子であ
るウォラストンプリズム６に入射される。
装置の第１実施例の構成を示す図である。同図中、図１
６と同一部分には同一符号を付す。図１において、光磁
気ヘッド装置は、光磁気ディスク５の下方に配置されて
いる。光磁気ヘッド装置が備える可干渉光源であるレー
ザダイオード１から出射されたレーザ光は、コリメータ
レンズ２により平行光に変換され、ビームスプリッタ３
に入射する。ビームスプリッタ３を透過したレーザ光
は、対物レンズ４により光磁気ディスク５の磁性膜上に
集光される。光磁気ディスク５上に集光されたレーザ光
は、光磁気ディスク５により反射されて、ビームスプリ
ッタ３に再入射する。ビームスプリッタ３に入射された
反射光は、光検出ユニット９側に反射され、検光子であ
るウォラストンプリズム６に入射される。
【００３９】図２は、第１実施例の要部、具体的には光
磁気ヘッド装置の信号検出系を示す斜視図である。同図
は、ウォラストンプリズム６から出射された光ビームが
光検出ユニット９に投射される状態を示しており、光検
出ユニット９の裏面側から見た図である。ウォラストン
プリズム６に入射された反射光は、２本の偏光光ビーム
に分離されて複合プリズム７に入射する。複合プリズム
７は、図２に示すように、３つの偏向面７１，７２，７
３を左右方向に並列配置して形成された光学素子であ
る。複合プリズム７の両側の偏向面７１，７３は、光ビ
ームを上下方向に夫々異なる角度に偏向せしめるテーパ
を有する。他方、複合プリズム７の中央の偏向面７２
は、反射光の光軸に対して曲率を有するように凸状に形
成されている。このような構造の複合プリズム７に入射
された２本の偏光光ビームは、各々３つの偏向面７１，
７２，７３において空間的に３分割され、合計６本の光
ビームが集光レンズ８を介して光検出ユニット９に投射
される。尚、図２においては、便宜上、図１に示す集光
レンズ８の図示は省略してある。
磁気ヘッド装置の信号検出系を示す斜視図である。同図
は、ウォラストンプリズム６から出射された光ビームが
光検出ユニット９に投射される状態を示しており、光検
出ユニット９の裏面側から見た図である。ウォラストン
プリズム６に入射された反射光は、２本の偏光光ビーム
に分離されて複合プリズム７に入射する。複合プリズム
７は、図２に示すように、３つの偏向面７１，７２，７
３を左右方向に並列配置して形成された光学素子であ
る。複合プリズム７の両側の偏向面７１，７３は、光ビ
ームを上下方向に夫々異なる角度に偏向せしめるテーパ
を有する。他方、複合プリズム７の中央の偏向面７２
は、反射光の光軸に対して曲率を有するように凸状に形
成されている。このような構造の複合プリズム７に入射
された２本の偏光光ビームは、各々３つの偏向面７１，
７２，７３において空間的に３分割され、合計６本の光
ビームが集光レンズ８を介して光検出ユニット９に投射
される。尚、図２においては、便宜上、図１に示す集光
レンズ８の図示は省略してある。
【００４０】図３〜図５は、光検出ユニット９を示す平
面図である。図３は、対物レンズ４と光磁気ディスク５
とが近づいた場合を示し、図４は、レーザ光が光磁気デ
ィスク５上で合焦している場合を示す。又、図５は、対
物レンズ４と光磁気ディスク５とが遠い場合を示す。図
３〜図５は、説明の便宜上、光検出ユニット９を裏面側
から見た状態を示し、光検出ユニット９の表面側には光
ビームが照射されるものとする。
面図である。図３は、対物レンズ４と光磁気ディスク５
とが近づいた場合を示し、図４は、レーザ光が光磁気デ
ィスク５上で合焦している場合を示す。又、図５は、対
物レンズ４と光磁気ディスク５とが遠い場合を示す。図
３〜図５は、説明の便宜上、光検出ユニット９を裏面側
から見た状態を示し、光検出ユニット９の表面側には光
ビームが照射されるものとする。
【００４１】図３〜図５に示すように、光検出ユニット
９は、受光素子である光検出器が上下方向に３段に配置
されている。光検出ユニット９の上段部分には、光磁気
信号ＭＯを検出するための光検出部Ｇからなる光検出器
と、フォーカスエラ−信号ＦＥＳを検出するための光検
出部Ａ，Ｂからなる左右２分割光検出器とが設けられて
いる。光検出ユニット９の中段部分には、トラッキング
エラー信号ＴＥＳを検出するための光検出部Ｅ，Ｆから
なる上下２分割光検出器が設けられている。又、光検出
ユニット９の下段部分には、フォーカスエラ−信号ＦＥ
Ｓを検出するための光検出部Ｃ，Ｄからなる左右２分割
光検出器と、光磁気信号ＭＯを検出するための光検出部
Ｈからなる光検出器とが設けられている。下段部分に設
けられた光検出部Ｃ，Ｄからなる２分割光検出器は、上
段部分に設けられた光検出部Ｇからなる光検出器の下側
に配置されている。他方、下段部分に設けられた光検出
部Ｈからなる光検出器は、上段部分に設けられた光検出
部Ａ，Ｂからなる２分割光検出器の下側に配置されてい
る。
９は、受光素子である光検出器が上下方向に３段に配置
されている。光検出ユニット９の上段部分には、光磁気
信号ＭＯを検出するための光検出部Ｇからなる光検出器
と、フォーカスエラ−信号ＦＥＳを検出するための光検
出部Ａ，Ｂからなる左右２分割光検出器とが設けられて
いる。光検出ユニット９の中段部分には、トラッキング
エラー信号ＴＥＳを検出するための光検出部Ｅ，Ｆから
なる上下２分割光検出器が設けられている。又、光検出
ユニット９の下段部分には、フォーカスエラ−信号ＦＥ
Ｓを検出するための光検出部Ｃ，Ｄからなる左右２分割
光検出器と、光磁気信号ＭＯを検出するための光検出部
Ｈからなる光検出器とが設けられている。下段部分に設
けられた光検出部Ｃ，Ｄからなる２分割光検出器は、上
段部分に設けられた光検出部Ｇからなる光検出器の下側
に配置されている。他方、下段部分に設けられた光検出
部Ｈからなる光検出器は、上段部分に設けられた光検出
部Ａ，Ｂからなる２分割光検出器の下側に配置されてい
る。
【００４２】図３に示すように、光検出ユニット９には
６本の光ビームによるビームスポットが形成される。こ
こで、各光検出器の光検出部Ａ〜Ｈから得られる出力
を、対応する光検出部Ａ〜Ｈと同じ符号で表すと、フー
コー法によるフォーカスエラー信号ＦＥＳは、次式
（１）で求められ、周知の加算器と減算器の組み合わせ
で生成することができる。
６本の光ビームによるビームスポットが形成される。こ
こで、各光検出器の光検出部Ａ〜Ｈから得られる出力
を、対応する光検出部Ａ〜Ｈと同じ符号で表すと、フー
コー法によるフォーカスエラー信号ＦＥＳは、次式
（１）で求められ、周知の加算器と減算器の組み合わせ
で生成することができる。
【００４３】 ＦＥＳ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ） （１） 又、プッシュプル法によるトラッキングエラー信号ＴＥ
Ｓは、次式（２）で求められ、周知の減算器で生成する
ことができる。 ＴＥＳ＝Ｅ−Ｆ （２） 光磁気ディスク５に記録されている光磁気信号ＭＯは、
次式（３）で求められ、周知の加算器と減算器の組み合
わせで再生することができる。
Ｓは、次式（２）で求められ、周知の減算器で生成する
ことができる。 ＴＥＳ＝Ｅ−Ｆ （２） 光磁気ディスク５に記録されている光磁気信号ＭＯは、
次式（３）で求められ、周知の加算器と減算器の組み合
わせで再生することができる。
【００４４】 ＭＯ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｈ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｇ） （３） 又、光磁気ディスク５には、トラック、セクタ等の位置
情報が予め記録されている。この位置情報は、識別信号
又はＩＤ信号等と呼ばれている。識別信号ＩＤは、周知
の如く、光磁気ディスク５に予め形成されたピットの形
態で記録されている。光磁気ディスク５上に記録された
識別信号ＩＤは、次式（４ａ）又は（４ｂ）で求めら
れ、周知の加算器で再生することができる。つまり、光
磁気信号ＭＯは加算器の出力の差から求められるのに対
し、識別信号ＩＤは加算器の出力の和から求められる。
情報が予め記録されている。この位置情報は、識別信号
又はＩＤ信号等と呼ばれている。識別信号ＩＤは、周知
の如く、光磁気ディスク５に予め形成されたピットの形
態で記録されている。光磁気ディスク５上に記録された
識別信号ＩＤは、次式（４ａ）又は（４ｂ）で求めら
れ、周知の加算器で再生することができる。つまり、光
磁気信号ＭＯは加算器の出力の差から求められるのに対
し、識別信号ＩＤは加算器の出力の和から求められる。
【００４５】 ＩＤ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｈ）＋（Ｃ＋Ｄ＋Ｇ） （４ａ） ＩＤ＝Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ＋Ｇ＋Ｈ （４ｂ） 識別信号ＩＤを上記式（４ａ）により求める場合、大規
模集積回路（ＬＳＩ）に内蔵される加算器の数は比較的
少なくて済むので、識別信号ＩＤの信号対雑音（Ｓ／
Ｎ）比を向上することができる。他方、識別信号ＩＤ
は、光磁気ディスク５に形成されるピットの形状や深さ
によって歪みを生じる可能性がある。このような場合
は、識別信号ＩＤを上記式（４ｂ）により求めることに
より、識別信号ＩＤに生じる歪みを防止することができ
る。つまり、識別信号ＩＤを上記式（４ｂ）により求め
る場合には、識別信号ＩＤが光磁気ディスク５のピット
からの全ての回折光に基づいて再生されるので、ピット
の形状や深さによって識別信号ＩＤに歪みが生じるのを
防止することができる。
模集積回路（ＬＳＩ）に内蔵される加算器の数は比較的
少なくて済むので、識別信号ＩＤの信号対雑音（Ｓ／
Ｎ）比を向上することができる。他方、識別信号ＩＤ
は、光磁気ディスク５に形成されるピットの形状や深さ
によって歪みを生じる可能性がある。このような場合
は、識別信号ＩＤを上記式（４ｂ）により求めることに
より、識別信号ＩＤに生じる歪みを防止することができ
る。つまり、識別信号ＩＤを上記式（４ｂ）により求め
る場合には、識別信号ＩＤが光磁気ディスク５のピット
からの全ての回折光に基づいて再生されるので、ピット
の形状や深さによって識別信号ＩＤに歪みが生じるのを
防止することができる。
【００４６】本実施例では、光分離部は、光磁気ディス
ク５からの反射光を複数の光ビームに分離する複数の分
離段からなり、これら複数の光ビームは単一の光検出ユ
ニット９に投射される。つまり、光分離部はウォラスト
ンプリズム６及び複合プリズム７からなり、光磁気ディ
スク５からの反射光は６本の光ビームに分離される。こ
れら６本の光ビームが、単一の光検出ユニット９に投射
される。この結果、光学的情報記録／再生装置は、比較
的少数の部品で構成することができ、これらの部品の配
置は容易に、且つ、簡単に調整可能である。更に、部品
数が少ないので、光学的情報記録／再生装置のコストを
低減することができる。又、光検出ユニット９は、５個
の光検出器（８個の光検出部Ａ〜Ｈ）からなるので、例
えば特開平７−７３４７９号公報で提案されている９本
に分割された反射光を単一の光検出器に投射する装置と
比較すると、光検出器の数が少ない分光検出器の浮遊容
量を減少すると共に、フォーカスエラー信号ＦＥＳ、ト
ラッキングエラー信号ＴＥＳ、光磁気信号ＭＯ及び識別
信号ＩＤを生成するＬＳＩに内蔵された加算器で発生す
るノイズを低減することもできる。従って、フォーカス
エラー信号ＦＥＳ、トラッキングエラー信号ＴＥＳ、光
磁気信号ＭＯ及び識別信号ＩＤの信号品質を向上するこ
とができる。
ク５からの反射光を複数の光ビームに分離する複数の分
離段からなり、これら複数の光ビームは単一の光検出ユ
ニット９に投射される。つまり、光分離部はウォラスト
ンプリズム６及び複合プリズム７からなり、光磁気ディ
スク５からの反射光は６本の光ビームに分離される。こ
れら６本の光ビームが、単一の光検出ユニット９に投射
される。この結果、光学的情報記録／再生装置は、比較
的少数の部品で構成することができ、これらの部品の配
置は容易に、且つ、簡単に調整可能である。更に、部品
数が少ないので、光学的情報記録／再生装置のコストを
低減することができる。又、光検出ユニット９は、５個
の光検出器（８個の光検出部Ａ〜Ｈ）からなるので、例
えば特開平７−７３４７９号公報で提案されている９本
に分割された反射光を単一の光検出器に投射する装置と
比較すると、光検出器の数が少ない分光検出器の浮遊容
量を減少すると共に、フォーカスエラー信号ＦＥＳ、ト
ラッキングエラー信号ＴＥＳ、光磁気信号ＭＯ及び識別
信号ＩＤを生成するＬＳＩに内蔵された加算器で発生す
るノイズを低減することもできる。従って、フォーカス
エラー信号ＦＥＳ、トラッキングエラー信号ＴＥＳ、光
磁気信号ＭＯ及び識別信号ＩＤの信号品質を向上するこ
とができる。
【００４７】又、光磁気信号ＭＯ及び識別信号ＩＤは、
フォーカスエラー信号ＦＥＳの生成に用いる光ビームを
検出する２分割光検出器（光検出部Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）の
出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、光検出器（光検出部Ｇ，Ｈ）の
出力Ｇ，Ｈとを用いて再生される。このように、光磁気
信号ＭＯ及び識別信号ＩＤは、少ない数の光検出部の出
力を用いて生成できるので、この点からも光磁気信号Ｍ
Ｏ及び識別信号ＩＤの信号品質を向上することができ
る。他方、トラッキングエラー信号ＴＥＳ及びトラッキ
ングエラー信号ＴＥＳより低い周波数帯域を必要とする
フォーカスエラー信号ＦＥＳと比べると、光磁気信号Ｍ
Ｏ及び識別信号ＩＤに必要とされる周波数帯域は高い。
又、同じ光ビームをの検出に基づき２種類以上の信号を
生成する場合、これら２種類以上の信号を生成するのに
用いる回路の構成は、これら２種類以上の信号の周波数
帯域が離れていればいる程簡単となる。従って、光磁気
信号ＭＯ及び識別信号ＩＤを、フォーカスエラー信号Ｆ
ＥＳの生成に用いる光ビームをも用いて再生すると、こ
の点からも光磁気信号ＭＯ及び識別信号ＩＤを再生する
のに用いる回路の構成をより簡単にすることができる。
フォーカスエラー信号ＦＥＳの生成に用いる光ビームを
検出する２分割光検出器（光検出部Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）の
出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、光検出器（光検出部Ｇ，Ｈ）の
出力Ｇ，Ｈとを用いて再生される。このように、光磁気
信号ＭＯ及び識別信号ＩＤは、少ない数の光検出部の出
力を用いて生成できるので、この点からも光磁気信号Ｍ
Ｏ及び識別信号ＩＤの信号品質を向上することができ
る。他方、トラッキングエラー信号ＴＥＳ及びトラッキ
ングエラー信号ＴＥＳより低い周波数帯域を必要とする
フォーカスエラー信号ＦＥＳと比べると、光磁気信号Ｍ
Ｏ及び識別信号ＩＤに必要とされる周波数帯域は高い。
又、同じ光ビームをの検出に基づき２種類以上の信号を
生成する場合、これら２種類以上の信号を生成するのに
用いる回路の構成は、これら２種類以上の信号の周波数
帯域が離れていればいる程簡単となる。従って、光磁気
信号ＭＯ及び識別信号ＩＤを、フォーカスエラー信号Ｆ
ＥＳの生成に用いる光ビームをも用いて再生すると、こ
の点からも光磁気信号ＭＯ及び識別信号ＩＤを再生する
のに用いる回路の構成をより簡単にすることができる。
【００４８】更に、光磁気信号ＭＯ及び識別信号ＩＤ
は、フォーカスエラー信号ＦＥＳの生成に用いる光ビー
ムを検出する２分割光検出器（光検出部Ａ，Ｂ，Ｃ，
Ｄ）の出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、光検出器（光検出部Ｇ，
Ｈ）の出力Ｇ，Ｈとを用いて再生されるので、光磁気信
号ＭＯ及び識別信号ＩＤの分解能が向上される。特開平
７−６３７９号公報には、記録媒体からの反射光の中央
部分をマスクし、周辺光から光磁気信号を検出すると、
光磁気信号の分解能が向上することが開示されている。
本実施例では、フォーカスエラー信号ＦＥＳの生成に用
いる光ビームは、図２に示す複合プリズム７のテーパを
有する偏向面７１，７３を透過した光ビームである。つ
まり、光磁気ディスク５からの反射光のうち、複合プリ
ズム７の中央の偏向面７２を透過した光ビームは使用せ
ず、偏向面７２の両側の偏向面７１，７３を透過した光
ビームのみを用いてフォーカスエラー信号ＦＥＳを生成
している。このようにして、光磁気信号ＭＯ及び識別信
号ＩＤは、複合プリズム７の偏向面７１，７３を透過し
たフォーカスエラー信号ＦＥＳの生成に用いる光ビーム
を用いて再生されるので、光磁気信号ＭＯ及び識別信号
ＩＤの分解能が向上される。
は、フォーカスエラー信号ＦＥＳの生成に用いる光ビー
ムを検出する２分割光検出器（光検出部Ａ，Ｂ，Ｃ，
Ｄ）の出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、光検出器（光検出部Ｇ，
Ｈ）の出力Ｇ，Ｈとを用いて再生されるので、光磁気信
号ＭＯ及び識別信号ＩＤの分解能が向上される。特開平
７−６３７９号公報には、記録媒体からの反射光の中央
部分をマスクし、周辺光から光磁気信号を検出すると、
光磁気信号の分解能が向上することが開示されている。
本実施例では、フォーカスエラー信号ＦＥＳの生成に用
いる光ビームは、図２に示す複合プリズム７のテーパを
有する偏向面７１，７３を透過した光ビームである。つ
まり、光磁気ディスク５からの反射光のうち、複合プリ
ズム７の中央の偏向面７２を透過した光ビームは使用せ
ず、偏向面７２の両側の偏向面７１，７３を透過した光
ビームのみを用いてフォーカスエラー信号ＦＥＳを生成
している。このようにして、光磁気信号ＭＯ及び識別信
号ＩＤは、複合プリズム７の偏向面７１，７３を透過し
たフォーカスエラー信号ＦＥＳの生成に用いる光ビーム
を用いて再生されるので、光磁気信号ＭＯ及び識別信号
ＩＤの分解能が向上される。
【００４９】次に、本実施例において、光磁気信号ＭＯ
を再生するのに用いる光ビームについて説明する。図６
は、分割された光ビームのビームスポットの形状を説明
する図である。同図中、（ａ）は複合プリズム７の偏向
面７１，７２，７３の平面図であり、２本の偏光光ビー
ムが複合プリズム７の偏向面７１，７２，７３を透過す
る際の光ビームａ，ｂを共に示す。同図（ｂ）は、光ビ
ームａが投射される光検出部Ｇからなる光検出器の平面
図であり、光ビームａのビームスポットａａを示す。同
図（ｃ）は、光ビームｂが投射される光検出部Ａ，Ｂか
らなる２分割光検出器の平面図であり、光ビームｂのビ
ームスポットｂｂを示す。同図（ｂ）及び（ｃ）は、光
検出ユニット９の光検出器を裏面側から見た図である。
を再生するのに用いる光ビームについて説明する。図６
は、分割された光ビームのビームスポットの形状を説明
する図である。同図中、（ａ）は複合プリズム７の偏向
面７１，７２，７３の平面図であり、２本の偏光光ビー
ムが複合プリズム７の偏向面７１，７２，７３を透過す
る際の光ビームａ，ｂを共に示す。同図（ｂ）は、光ビ
ームａが投射される光検出部Ｇからなる光検出器の平面
図であり、光ビームａのビームスポットａａを示す。同
図（ｃ）は、光ビームｂが投射される光検出部Ａ，Ｂか
らなる２分割光検出器の平面図であり、光ビームｂのビ
ームスポットｂｂを示す。同図（ｂ）及び（ｃ）は、光
検出ユニット９の光検出器を裏面側から見た図である。
【００５０】複合プリズム７の偏向面７１を透過する光
ビームａ，ｂの面積は、光ビームｂの方が小さく、即
ち、光ビームｂの方が偏向によるケラレが大きい。この
ため、光検出部Ａ，Ｂに投射されるビームスポットｂｂ
の長径は、光検出部Ｇに投射されるビームスポットａａ
の長径より長い。フーコー法を採用する場合、光検出部
に投射されるビームスポットの長径が長い方が、光学素
子や光検出器等の配置の調整が容易であり、生成される
フォーカスエラー信号ＦＥＳが経時変化や温度変化等の
影響を受けにくい。そこで、本実施例では、複合プリズ
ム７の偏向面７１，７３からの光ビームのうち、ケラレ
が大きい光ビームが光検出部Ａ，Ｂからなる２分割光検
出器及び光検出部Ｃ，Ｄからなる２分割光検出器に投射
されるように、これらの光検出器の配置を決定してい
る。
ビームａ，ｂの面積は、光ビームｂの方が小さく、即
ち、光ビームｂの方が偏向によるケラレが大きい。この
ため、光検出部Ａ，Ｂに投射されるビームスポットｂｂ
の長径は、光検出部Ｇに投射されるビームスポットａａ
の長径より長い。フーコー法を採用する場合、光検出部
に投射されるビームスポットの長径が長い方が、光学素
子や光検出器等の配置の調整が容易であり、生成される
フォーカスエラー信号ＦＥＳが経時変化や温度変化等の
影響を受けにくい。そこで、本実施例では、複合プリズ
ム７の偏向面７１，７３からの光ビームのうち、ケラレ
が大きい光ビームが光検出部Ａ，Ｂからなる２分割光検
出器及び光検出部Ｃ，Ｄからなる２分割光検出器に投射
されるように、これらの光検出器の配置を決定してい
る。
【００５１】次に、本実施例における温度の光磁気ヘッ
ド装置への影響について説明する。光磁気ヘッド装置及
び光学的情報記録／再生装置の温度が上昇すると、光検
出ユニット９を固定している筐体が膨張し、光検出器は
複合プリズム７から遠くなる。このため、光ビームは一
旦集光した後に反転して拡がった状態で光検出器に投射
される。例えば、図５に示すように、光検出部Ａ，Ｂか
らなる２分割光検出器及び光検出部Ｃ，Ｄからなる２分
割光検出器が夫々光ビームの合焦位置に配置されている
場合は、光ビームのビームスポットは対応する２分割光
検出器の分割線上に投射されるが、２分割光検出器が光
ビームの合焦位置より遠い位置にある場合には、ビーム
スポットは対応する２分割光検出器の分割線の外側に投
射されてしまう。
ド装置への影響について説明する。光磁気ヘッド装置及
び光学的情報記録／再生装置の温度が上昇すると、光検
出ユニット９を固定している筐体が膨張し、光検出器は
複合プリズム７から遠くなる。このため、光ビームは一
旦集光した後に反転して拡がった状態で光検出器に投射
される。例えば、図５に示すように、光検出部Ａ，Ｂか
らなる２分割光検出器及び光検出部Ｃ，Ｄからなる２分
割光検出器が夫々光ビームの合焦位置に配置されている
場合は、光ビームのビームスポットは対応する２分割光
検出器の分割線上に投射されるが、２分割光検出器が光
ビームの合焦位置より遠い位置にある場合には、ビーム
スポットは対応する２分割光検出器の分割線の外側に投
射されてしまう。
【００５２】光磁気ヘッド装置及び光学的情報記録／再
生装置の温度が上昇すると、ウォラストンプリズム６に
よる光ビームの分離角も変化する。図７は、高温時の光
検出ユニット９を示す平面図であり、光検出ユニット９
を裏面側から見た場合を示している。ウォラストンプリ
ズム６は、水晶、リチウムナイオベート等の複屈折材料
で形成されており、温度によってその分離角が変化す
る。例えば高温で分離角が狭くなるウォラストンプリズ
ム６の場合について説明すると、図７に示すように、光
検出部Ａ，Ｂからなる２分割光検出器と光検出部Ｃ，Ｄ
からなる２分割光検出器に照射される光ビームのビーム
スポットが、ウォラストンプリズム６の温度特性の影響
を受けて夫々光検出ユニット９の内側に移動している。
即ち、温度上昇によりウォラストンプリズム６の分離角
が狭くなり、ビームスポットが内側に移動してこれらの
２分割光検出器の分割線上に投射されている。
生装置の温度が上昇すると、ウォラストンプリズム６に
よる光ビームの分離角も変化する。図７は、高温時の光
検出ユニット９を示す平面図であり、光検出ユニット９
を裏面側から見た場合を示している。ウォラストンプリ
ズム６は、水晶、リチウムナイオベート等の複屈折材料
で形成されており、温度によってその分離角が変化す
る。例えば高温で分離角が狭くなるウォラストンプリズ
ム６の場合について説明すると、図７に示すように、光
検出部Ａ，Ｂからなる２分割光検出器と光検出部Ｃ，Ｄ
からなる２分割光検出器に照射される光ビームのビーム
スポットが、ウォラストンプリズム６の温度特性の影響
を受けて夫々光検出ユニット９の内側に移動している。
即ち、温度上昇によりウォラストンプリズム６の分離角
が狭くなり、ビームスポットが内側に移動してこれらの
２分割光検出器の分割線上に投射されている。
【００５３】このように、高温で分離角が狭くなるウォ
ラストンプリズム６を用いる場合は、フォーカスエラー
信号ＦＥＳを生成するのに用いる光ビームとして、光検
出部Ａ，Ｂからなる２分割光検出器と光検出部Ｃ，Ｄか
らなる２分割光検出器に照射される光ビームのビームス
ポットがこれらの２分割光検出器を遠ざけた場合、２分
割光検出器の分割線より光検出ユニット９の外側に位置
するような光ビームを用いた場合に、温度が上昇して２
分割光検出器の光検出部Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄがウォラストン
プリズム６から遠くなったために分割線から外れて投射
されるはずのビームスポットが、ウォラストンプリズム
６の分離角の変化により分割線上に投射されるので、安
定したオートフォーカス動作を行うことができる。尚、
高温で分離角が広くなるウォラストンプリズム６又はロ
ーションプリズムをウォラストンプリズム６の代わりに
用いる場合は、上記２分割光検出器の光検出部Ａ，Ｂ，
Ｃ，Ｄがウォラストンプリズム６（又はローションプリ
ズム）から遠い場合に、ビームスポットが分割線より光
検出ユニット９の内側に位置するような光ビームを用い
ることにより、ビームスポットが外側に移動して分割線
上に投射される。
ラストンプリズム６を用いる場合は、フォーカスエラー
信号ＦＥＳを生成するのに用いる光ビームとして、光検
出部Ａ，Ｂからなる２分割光検出器と光検出部Ｃ，Ｄか
らなる２分割光検出器に照射される光ビームのビームス
ポットがこれらの２分割光検出器を遠ざけた場合、２分
割光検出器の分割線より光検出ユニット９の外側に位置
するような光ビームを用いた場合に、温度が上昇して２
分割光検出器の光検出部Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄがウォラストン
プリズム６から遠くなったために分割線から外れて投射
されるはずのビームスポットが、ウォラストンプリズム
６の分離角の変化により分割線上に投射されるので、安
定したオートフォーカス動作を行うことができる。尚、
高温で分離角が広くなるウォラストンプリズム６又はロ
ーションプリズムをウォラストンプリズム６の代わりに
用いる場合は、上記２分割光検出器の光検出部Ａ，Ｂ，
Ｃ，Ｄがウォラストンプリズム６（又はローションプリ
ズム）から遠い場合に、ビームスポットが分割線より光
検出ユニット９の内側に位置するような光ビームを用い
ることにより、ビームスポットが外側に移動して分割線
上に投射される。
【００５４】次に、本発明になる光学的情報記録／再生
装置の第２実施例を図８と共に説明する。本実施例で
は、光学的情報記録／再生装置の基本構成は、図１及び
図２に示す第１実施例の構成と同じであり、図８に示す
光検出ユニット９１が光検出ユニット９の代わりに設け
られている。図８は、第２実施例における光検出ユニッ
ト９１を示す平面図であり、同図中、図３と同一部分に
は同一符号を付す。図８は、光検出ユニット９１を裏面
側から見た場合を示す。
装置の第２実施例を図８と共に説明する。本実施例で
は、光学的情報記録／再生装置の基本構成は、図１及び
図２に示す第１実施例の構成と同じであり、図８に示す
光検出ユニット９１が光検出ユニット９の代わりに設け
られている。図８は、第２実施例における光検出ユニッ
ト９１を示す平面図であり、同図中、図３と同一部分に
は同一符号を付す。図８は、光検出ユニット９１を裏面
側から見た場合を示す。
【００５５】図８において、光検出ユニット９１に投射
される光ビームは、上記第１実施例と共に説明したのと
同様の光路を通ってウォラストンプリズム６に入射さ
れ、複合プリズム７を透過する。光検出ユニット９１
は、受光素子である光検出器が上下方向に３段に配置さ
れている。光検出ユニット９１の上段部分には、フォー
カスエラ−信号ＦＥＳを検出するための光検出部ＡＡ，
ＢＢからなる左右２分割光検出器と、光磁気信号ＭＯを
検出するための光検出部Ｇからなる光検出器とが設けら
れている。光検出ユニット９１の中段部分には、トラッ
キングエラー信号ＴＥＳを検出するための光検出部Ｅ，
Ｆからなる上下２分割光検出器が設けられている。又、
光検出ユニット９１の下段部分には、フォーカスエラ−
信号ＦＥＳを検出するための光検出部Ｃ，Ｄからなる左
右２分割光検出器と、光磁気信号ＭＯを検出するための
光検出部Ｈからなる光検出器とが設けられている。下段
部分に設けられた光検出部Ｃ，Ｄからなる２分割光検出
器は、上段部分に設けられた２分割光検出部ＡＡ，ＢＢ
からなる光検出器の下側に配置されている。他方、下段
部分に設けられた光検出部Ｈからなる光検出器は、上段
部分に設けられた光検出部Ｇからなる光検出器の下側に
配置されている。
される光ビームは、上記第１実施例と共に説明したのと
同様の光路を通ってウォラストンプリズム６に入射さ
れ、複合プリズム７を透過する。光検出ユニット９１
は、受光素子である光検出器が上下方向に３段に配置さ
れている。光検出ユニット９１の上段部分には、フォー
カスエラ−信号ＦＥＳを検出するための光検出部ＡＡ，
ＢＢからなる左右２分割光検出器と、光磁気信号ＭＯを
検出するための光検出部Ｇからなる光検出器とが設けら
れている。光検出ユニット９１の中段部分には、トラッ
キングエラー信号ＴＥＳを検出するための光検出部Ｅ，
Ｆからなる上下２分割光検出器が設けられている。又、
光検出ユニット９１の下段部分には、フォーカスエラ−
信号ＦＥＳを検出するための光検出部Ｃ，Ｄからなる左
右２分割光検出器と、光磁気信号ＭＯを検出するための
光検出部Ｈからなる光検出器とが設けられている。下段
部分に設けられた光検出部Ｃ，Ｄからなる２分割光検出
器は、上段部分に設けられた２分割光検出部ＡＡ，ＢＢ
からなる光検出器の下側に配置されている。他方、下段
部分に設けられた光検出部Ｈからなる光検出器は、上段
部分に設けられた光検出部Ｇからなる光検出器の下側に
配置されている。
【００５６】上記の如き構成の光検出ユニット９１を備
える本実施例では、フォーカスエラー信号ＦＥＳを生成
するのに、長径が長い方のビームスポットを形成する光
ビームと、長径が短い方のビームスポットを形成する光
ビームとを用いている。これは、ウォラストンプリズム
６で分離された２本の光ビームの片方を用いていること
を意味する。これにより、光検出ユニット９１の配置調
整の容易さや経時変化の影響等の受けにくさは上記第１
実施例程ではないものの、ウォラストンプリズム６又は
ローションプリズムを用いれば温度特性の影響を受けに
くいという効果を得ることができる。
える本実施例では、フォーカスエラー信号ＦＥＳを生成
するのに、長径が長い方のビームスポットを形成する光
ビームと、長径が短い方のビームスポットを形成する光
ビームとを用いている。これは、ウォラストンプリズム
６で分離された２本の光ビームの片方を用いていること
を意味する。これにより、光検出ユニット９１の配置調
整の容易さや経時変化の影響等の受けにくさは上記第１
実施例程ではないものの、ウォラストンプリズム６又は
ローションプリズムを用いれば温度特性の影響を受けに
くいという効果を得ることができる。
【００５７】上述の如く、ウォラストンプリズム６（又
は、ローションプリズム）は、温度によって２本の光ビ
ームに帯する分離角が変化し、例えば高温で分離角が狭
くなる。これにより、ウォラストンプリズム６（又は、
ローションプリズム）により分離された両方の光ビーム
を用いた場合には、温度による影響を大きく受けること
になる。ところが、本実施例のように片方の光ビームの
みを用いた場合には、ウォラストンプリズム６（又は、
ローションプリズム）による温度の影響を受けることな
くフォーカスエラー信号ＦＥＳを生成することができ
る。
は、ローションプリズム）は、温度によって２本の光ビ
ームに帯する分離角が変化し、例えば高温で分離角が狭
くなる。これにより、ウォラストンプリズム６（又は、
ローションプリズム）により分離された両方の光ビーム
を用いた場合には、温度による影響を大きく受けること
になる。ところが、本実施例のように片方の光ビームの
みを用いた場合には、ウォラストンプリズム６（又は、
ローションプリズム）による温度の影響を受けることな
くフォーカスエラー信号ＦＥＳを生成することができ
る。
【００５８】尚、光検出部ＡＡ，ＢＢ，Ｃ〜Ｈの出力を
同じ符号で表すと、フーコー法によるフォーカスエラー
信号ＦＥＳは次式（５）、プッシュプル法によるトラッ
キングエラー信号ＴＥＳは次式（６）、光磁気信号ＭＯ
は次式（７）、識別信号ＩＤは次式（８ａ）又は（８
ｂ）で求められ、周知の加算器及び減算器で生成するこ
とができる。
同じ符号で表すと、フーコー法によるフォーカスエラー
信号ＦＥＳは次式（５）、プッシュプル法によるトラッ
キングエラー信号ＴＥＳは次式（６）、光磁気信号ＭＯ
は次式（７）、識別信号ＩＤは次式（８ａ）又は（８
ｂ）で求められ、周知の加算器及び減算器で生成するこ
とができる。
【００５９】 ＦＥＳ＝（ＡＡ＋Ｃ）−（ＢＢ＋Ｄ） （５） ＴＥＳ＝Ｅ−Ｆ （６） ＭＯ＝（ＡＡ＋ＢＢ＋Ｃ＋Ｄ）−（Ｇ＋Ｈ） （７） ＩＤ＝（ＡＡ＋ＢＢ＋Ｃ＋Ｄ）＋（Ｇ＋Ｈ） （８ａ） ＩＤ＝ＡＡ＋ＢＢ＋Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ＋Ｇ＋Ｈ （８ｂ） 識別信号ＩＤを上記式（８ａ）により求める場合、ＬＳ
Ｉに内蔵される加算器の数は比較的少なくて済むので、
識別信号ＩＤのＳ／Ｎ比を向上することができる。他
方、識別信号ＩＤは、光磁気ディスク５に形成されるピ
ットの形状や深さによって歪みを生じる可能性がある。
このような場合は、識別信号ＩＤを上記式（８ｂ）によ
り求めることにより、識別信号ＩＤに生じる歪みを防止
することができる。つまり、識別信号ＩＤを上記式（８
ｂ）により求める場合には、識別信号ＩＤが光磁気ディ
スク５のピットからの全ての回折光に基づいて再生され
るので、ピットの形状や深さによって識別信号ＩＤに歪
みが生じるのを防止することができる。
Ｉに内蔵される加算器の数は比較的少なくて済むので、
識別信号ＩＤのＳ／Ｎ比を向上することができる。他
方、識別信号ＩＤは、光磁気ディスク５に形成されるピ
ットの形状や深さによって歪みを生じる可能性がある。
このような場合は、識別信号ＩＤを上記式（８ｂ）によ
り求めることにより、識別信号ＩＤに生じる歪みを防止
することができる。つまり、識別信号ＩＤを上記式（８
ｂ）により求める場合には、識別信号ＩＤが光磁気ディ
スク５のピットからの全ての回折光に基づいて再生され
るので、ピットの形状や深さによって識別信号ＩＤに歪
みが生じるのを防止することができる。
【００６０】次に、本発明になる光学的情報記録／再生
装置の第３実施例を図９と共に説明する。本実施例で
は、光学的情報記録／再生装置の基本構成は、図１及び
図２に示す第１実施例の構成と同じであり、図９に示す
光検出ユニット９２が光検出ユニット９の代わりに設け
られている。図９は、第３実施例における光検出ユニッ
ト９２を示す平面図であり、同図中、図３と同一部分に
は同一符号を付す。図９は、光検出ユニット９２を裏面
側から見た場合を示す。
装置の第３実施例を図９と共に説明する。本実施例で
は、光学的情報記録／再生装置の基本構成は、図１及び
図２に示す第１実施例の構成と同じであり、図９に示す
光検出ユニット９２が光検出ユニット９の代わりに設け
られている。図９は、第３実施例における光検出ユニッ
ト９２を示す平面図であり、同図中、図３と同一部分に
は同一符号を付す。図９は、光検出ユニット９２を裏面
側から見た場合を示す。
【００６１】図９において、光検出ユニット９２に投射
される光ビームは、上記第１実施例と共に説明したのと
同様の光路を通ってウォラストンプリズム６に入射さ
れ、複合プリズム７を透過する。光検出ユニット９２
は、受光素子である光検出器が上下方向に３段に配置さ
れている。光検出ユニット９２の上段部分には、光磁気
信号ＭＯを検出するための光検出部Ｇからなる光検出器
と、フォーカスエラ−信号ＦＥＳを検出するための光検
出部Ａ，Ｂからなる左右２分割光検出器とが設けられて
いる。光検出ユニット９２の中段部分には、トラッキン
グエラー信号ＴＥＳを検出するための光検出部Ｅ１，Ｆ
１からなる上下２分割光検出器と、光検出部Ｅ２，Ｆ２
からなる上下２分割光検出器とが設けられている。又、
光検出ユニット９２の下段部分には、フォーカスエラ−
信号ＦＥＳを検出するための光検出部Ｃ，Ｄからなる左
右２分割光検出器と、光磁気信号ＭＯを検出するための
光検出部Ｈからなる光検出器とが設けられている。下段
部分に設けられた光検出部Ｃ，Ｄからなる２分割光検出
器は、上段部分に設けられた光検出部Ｇからなる光検出
器の下側に配置されている。他方、下段部分に設けられ
た光検出部Ｈからなる光検出器は、上段部分に設けられ
た光検出部Ａ，Ｂからなる２分割光検出器の下側に配置
されている。上記の如き構成の光検出ユニット９２を備
える本実施例では、トラッキングエラー信号ＴＥＳを生
成するのに、複合プリズム７の偏向面７２からの光ビー
ムを光検出ユニット９２の中段部分に設けられた２つの
上下２分割光検出器で受光する。
される光ビームは、上記第１実施例と共に説明したのと
同様の光路を通ってウォラストンプリズム６に入射さ
れ、複合プリズム７を透過する。光検出ユニット９２
は、受光素子である光検出器が上下方向に３段に配置さ
れている。光検出ユニット９２の上段部分には、光磁気
信号ＭＯを検出するための光検出部Ｇからなる光検出器
と、フォーカスエラ−信号ＦＥＳを検出するための光検
出部Ａ，Ｂからなる左右２分割光検出器とが設けられて
いる。光検出ユニット９２の中段部分には、トラッキン
グエラー信号ＴＥＳを検出するための光検出部Ｅ１，Ｆ
１からなる上下２分割光検出器と、光検出部Ｅ２，Ｆ２
からなる上下２分割光検出器とが設けられている。又、
光検出ユニット９２の下段部分には、フォーカスエラ−
信号ＦＥＳを検出するための光検出部Ｃ，Ｄからなる左
右２分割光検出器と、光磁気信号ＭＯを検出するための
光検出部Ｈからなる光検出器とが設けられている。下段
部分に設けられた光検出部Ｃ，Ｄからなる２分割光検出
器は、上段部分に設けられた光検出部Ｇからなる光検出
器の下側に配置されている。他方、下段部分に設けられ
た光検出部Ｈからなる光検出器は、上段部分に設けられ
た光検出部Ａ，Ｂからなる２分割光検出器の下側に配置
されている。上記の如き構成の光検出ユニット９２を備
える本実施例では、トラッキングエラー信号ＴＥＳを生
成するのに、複合プリズム７の偏向面７２からの光ビー
ムを光検出ユニット９２の中段部分に設けられた２つの
上下２分割光検出器で受光する。
【００６２】尚、光検出部Ａ〜Ｄ，Ｅ１，Ｅ２，Ｆ１，
Ｆ２，Ｇ，Ｈの出力を同じ符号で表すと、フーコー法に
よるフォーカスエラー信号ＦＥＳは次式（９ａ）、プッ
シュプル法によるトラッキングエラー信号ＴＥＳは次式
（１０ａ）、光磁気信号ＭＯは次式（１１）、識別信号
ＩＤは次式（１２ａ）又は（１２ａａ）で求められ、周
知の加算器及び減算器で生成することができる。
Ｆ２，Ｇ，Ｈの出力を同じ符号で表すと、フーコー法に
よるフォーカスエラー信号ＦＥＳは次式（９ａ）、プッ
シュプル法によるトラッキングエラー信号ＴＥＳは次式
（１０ａ）、光磁気信号ＭＯは次式（１１）、識別信号
ＩＤは次式（１２ａ）又は（１２ａａ）で求められ、周
知の加算器及び減算器で生成することができる。
【００６３】 ＦＥＳ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ） （９ａ） ＴＥＳ＝（Ｅ１＋Ｅ２）−（Ｆ１＋Ｆ２） （１０ａ） ＭＯ＝（Ｅ１＋Ｆ１＋Ｇ）−（Ｅ２＋Ｆ２＋Ｈ） （１１ａ） ＩＤ＝（Ｅ１＋Ｆ１＋Ｇ）＋（Ｅ２＋Ｆ２＋Ｈ） （１２ａ） ＩＤ＝Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ＋Ｅ１＋Ｅ２＋Ｆ１＋Ｆ２＋Ｇ＋Ｈ （１２ａａ） 識別信号ＩＤを上記式（１２ａ）により求める場合、Ｌ
ＳＩに内蔵される加算器の数は比較的少なくて済むの
で、識別信号ＩＤのＳ／Ｎ比を向上することができる。
他方、識別信号ＩＤは、光磁気ディスク５に形成される
ピットの形状や深さによって歪みを生じる可能性があ
る。このような場合は、識別信号ＩＤを上記式（１２ａ
ａ）により求めることにより、識別信号ＩＤに生じる歪
みを防止することができる。つまり、識別信号ＩＤを上
記式（１２ａａ）により求める場合には、識別信号ＩＤ
が光磁気ディスク５のピットからの全ての回折光に基づ
いて再生されるので、ピットの形状や深さによって識別
信号ＩＤに歪みが生じるのを防止することができる。
ＳＩに内蔵される加算器の数は比較的少なくて済むの
で、識別信号ＩＤのＳ／Ｎ比を向上することができる。
他方、識別信号ＩＤは、光磁気ディスク５に形成される
ピットの形状や深さによって歪みを生じる可能性があ
る。このような場合は、識別信号ＩＤを上記式（１２ａ
ａ）により求めることにより、識別信号ＩＤに生じる歪
みを防止することができる。つまり、識別信号ＩＤを上
記式（１２ａａ）により求める場合には、識別信号ＩＤ
が光磁気ディスク５のピットからの全ての回折光に基づ
いて再生されるので、ピットの形状や深さによって識別
信号ＩＤに歪みが生じるのを防止することができる。
【００６４】本実施例によれば、光磁気信号ＭＯ及び識
別信号ＩＤは、夫々トラッキングエラー信号ＴＥＳを生
成するのに用いる光ビームも用いて再生する。光磁気信
号ＭＯ及び識別信号ＩＤは、夫々トラッキングエラー信
号ＴＥＳ及びフォーカスエラー信号ＦＥＳを生成するの
に用いる光ビームも用いて再生するようにしても良い。
この場合、フーコー法によるフォーカスエラー信号ＦＥ
Ｓは次式（９ｂ）、プッシュプル法によるトラッキング
エラー信号ＴＥＳは次式（１０ｂ）、光磁気信号ＭＯは
次式（１１ｂ）、識別信号ＩＤは次式（１２ｂ）で求め
られ、周知の加算器及び減算器で生成することができ
る。
別信号ＩＤは、夫々トラッキングエラー信号ＴＥＳを生
成するのに用いる光ビームも用いて再生する。光磁気信
号ＭＯ及び識別信号ＩＤは、夫々トラッキングエラー信
号ＴＥＳ及びフォーカスエラー信号ＦＥＳを生成するの
に用いる光ビームも用いて再生するようにしても良い。
この場合、フーコー法によるフォーカスエラー信号ＦＥ
Ｓは次式（９ｂ）、プッシュプル法によるトラッキング
エラー信号ＴＥＳは次式（１０ｂ）、光磁気信号ＭＯは
次式（１１ｂ）、識別信号ＩＤは次式（１２ｂ）で求め
られ、周知の加算器及び減算器で生成することができ
る。
【００６５】 ＦＥＳ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ） （９ｂ） ＴＥＳ＝（Ｅ１＋Ｅ２）−（Ｆ１＋Ｆ２） （１０ｂ） ＭＯ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｅ２＋Ｆ２＋Ｈ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｅ１＋Ｆ１＋Ｇ） （１１ｂ） ＩＤ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｅ２＋Ｆ２＋Ｈ）＋（Ｃ＋Ｄ＋Ｅ１＋Ｆ１＋Ｇ） （１２ｂ） 次に、本発明になる光学的情報記録／再生装置の第４実
施例を図１０〜図１２と共に説明する。本実施例では、
光学的情報記録／再生装置の基本構成は、図１及び図２
に示す第１実施例の構成と同じであり、図１０及び図１
１に示す複合プリズム４７が複合プリズム７の代わりに
設けられている。図１０は、第４実施例の要部を示す斜
視図であり、集光レンズ８の図示は省略してある。図１
１は複合プリズム４７の斜視図である。図１２は、第４
実施例における光検出ユニット９２を示す平面図であ
り、光検出ユニット９２を裏面側から見た場合を示す。
図１０及び図１２中、図１、図２及び図９と同一部分に
は同一符号を付し、その説明は省略する。
施例を図１０〜図１２と共に説明する。本実施例では、
光学的情報記録／再生装置の基本構成は、図１及び図２
に示す第１実施例の構成と同じであり、図１０及び図１
１に示す複合プリズム４７が複合プリズム７の代わりに
設けられている。図１０は、第４実施例の要部を示す斜
視図であり、集光レンズ８の図示は省略してある。図１
１は複合プリズム４７の斜視図である。図１２は、第４
実施例における光検出ユニット９２を示す平面図であ
り、光検出ユニット９２を裏面側から見た場合を示す。
図１０及び図１２中、図１、図２及び図９と同一部分に
は同一符号を付し、その説明は省略する。
【００６６】本実施例では、図１０に示す複合プリズム
４７及び光検出ユニット９２が、図２に示す複合プリズ
ム７及び光検出ユニット９の代わりに設けられている。
又、ウォラストンプリズム６によって２本に分割された
光ビームが更に複合プリズム４７によってそれぞれ５本
に分割され、合計２×５＝１０本の光ビームに分割され
ている。分割された１０本の光ビームは、光検出ユニッ
ト９２の対応する６つの光検出器へ入射される。
４７及び光検出ユニット９２が、図２に示す複合プリズ
ム７及び光検出ユニット９の代わりに設けられている。
又、ウォラストンプリズム６によって２本に分割された
光ビームが更に複合プリズム４７によってそれぞれ５本
に分割され、合計２×５＝１０本の光ビームに分割され
ている。分割された１０本の光ビームは、光検出ユニッ
ト９２の対応する６つの光検出器へ入射される。
【００６７】図１１に示すように、複合プリズム４７
は、テーパを有する第１の偏向面４７−１と、第１の偏
向面４７−１とは異なる方向にテーパを有する第２の偏
向面４７−２と、反射光ビームの光軸に対して若干の凸
状の曲率を持たせた第３の偏向面４７−３と、第１及び
第２の偏向面４７−１，４７−２の両側に設けられると
共に第３の偏向面４７−３と同じ凸状の曲率を有する第
４及び第５の偏向面４７−４，４７−５とからなる。つ
まり、第３、第４及び第５の偏向面４７−３，４７−
４，４７−５は、夫々反射光ビームの光軸に対して若干
の凸状の曲率を持たせた同一の凸状の曲面上に存在す
る。第１及び第２の偏向面４７−１，４７−２は、上記
第１実施例の偏向面７１，７３と同様の機能を有する。
は、テーパを有する第１の偏向面４７−１と、第１の偏
向面４７−１とは異なる方向にテーパを有する第２の偏
向面４７−２と、反射光ビームの光軸に対して若干の凸
状の曲率を持たせた第３の偏向面４７−３と、第１及び
第２の偏向面４７−１，４７−２の両側に設けられると
共に第３の偏向面４７−３と同じ凸状の曲率を有する第
４及び第５の偏向面４７−４，４７−５とからなる。つ
まり、第３、第４及び第５の偏向面４７−３，４７−
４，４７−５は、夫々反射光ビームの光軸に対して若干
の凸状の曲率を持たせた同一の凸状の曲面上に存在す
る。第１及び第２の偏向面４７−１，４７−２は、上記
第１実施例の偏向面７１，７３と同様の機能を有する。
【００６８】図１２に示すように、光検出ユニット９２
は、光検出部Ａ，Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｅ１，Ｆ１、Ｅ２，Ｆ２
からなる二分割光検出器と、光検出器Ｇ、Ｈからなる検
出器とからなる。複合プリズム４７の第３の偏向面４７
−３から出力される２本の光ビームは、夫々光検出ユニ
ット９２の光検出部Ｅ１，Ｆ１からなる二分割光検出器
と、光検出部Ｅ２，Ｆ２からなる二分割光検出器とに照
射される。複合プリズム４７の第４の偏向面４７−４か
ら出力される２本の光ビームは、夫々光検出ユニット９
２の光検出部Ｅ１，Ｆ１からなる二分割光検出器と、光
検出部Ｅ２，Ｆ２からなる二分割光検出器とに照射され
る。複合プリズム４７の第５の偏向面４７−５から出力
される２本の光ビームは、夫々光検出ユニット９２の光
検出部Ｅ１，Ｆ１からなる二分割光検出器と、光検出部
Ｅ２，Ｆ２からなる二分割光検出器とに照射される。他
方、複合プリズム４７の第１の偏向面４７−１から出力
される２本の光ビームは、夫々光検出ユニット９２の光
検出部Ｇからなる光検出器と、光検出部Ａ，Ｂからなる
２分割光検出器とに照射される。複合プリズム４７の第
２の偏向面４７−２から出力される２本の光ビームは、
夫々光検出ユニット９２の光検出部Ｃ，Ｄからなる２分
割光検出器と、光検出部Ｈからなる光検出器とに照射さ
れる。
は、光検出部Ａ，Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｅ１，Ｆ１、Ｅ２，Ｆ２
からなる二分割光検出器と、光検出器Ｇ、Ｈからなる検
出器とからなる。複合プリズム４７の第３の偏向面４７
−３から出力される２本の光ビームは、夫々光検出ユニ
ット９２の光検出部Ｅ１，Ｆ１からなる二分割光検出器
と、光検出部Ｅ２，Ｆ２からなる二分割光検出器とに照
射される。複合プリズム４７の第４の偏向面４７−４か
ら出力される２本の光ビームは、夫々光検出ユニット９
２の光検出部Ｅ１，Ｆ１からなる二分割光検出器と、光
検出部Ｅ２，Ｆ２からなる二分割光検出器とに照射され
る。複合プリズム４７の第５の偏向面４７−５から出力
される２本の光ビームは、夫々光検出ユニット９２の光
検出部Ｅ１，Ｆ１からなる二分割光検出器と、光検出部
Ｅ２，Ｆ２からなる二分割光検出器とに照射される。他
方、複合プリズム４７の第１の偏向面４７−１から出力
される２本の光ビームは、夫々光検出ユニット９２の光
検出部Ｇからなる光検出器と、光検出部Ａ，Ｂからなる
２分割光検出器とに照射される。複合プリズム４７の第
２の偏向面４７−２から出力される２本の光ビームは、
夫々光検出ユニット９２の光検出部Ｃ，Ｄからなる２分
割光検出器と、光検出部Ｈからなる光検出器とに照射さ
れる。
【００６９】複合プリズム４７の第１及び第２の偏向面
４７−１，４７−２から出力される４本の光ビームの結
像点（焦点）は、光検出ユニット９２の上段部分及び下
段部分に設けられた光検出器の位置と一致する。これに
対し、複合プリズム４７の第３〜第５の偏向面４７−３
〜４７−５の各々から出力される２本の光ビームの結像
点（焦点）は、光検出ユニット９２の中段部分に設けら
れた２分割光検出器の位置からずれている。
４７−１，４７−２から出力される４本の光ビームの結
像点（焦点）は、光検出ユニット９２の上段部分及び下
段部分に設けられた光検出器の位置と一致する。これに
対し、複合プリズム４７の第３〜第５の偏向面４７−３
〜４７−５の各々から出力される２本の光ビームの結像
点（焦点）は、光検出ユニット９２の中段部分に設けら
れた２分割光検出器の位置からずれている。
【００７０】尚、光検出部Ａ〜Ｄ，Ｅ１，Ｅ２，Ｆ１，
Ｆ２，Ｇ，Ｈの出力を同じ符号で表すと、フーコー法に
よるフォーカスエラー信号ＦＥＳは次式（１３）、プッ
シュプル法によるトラッキングエラー信号ＴＥＳは次式
（１４）、光磁気信号ＭＯは次式（１５）、識別信号Ｉ
Ｄは次式（１６ａ）又は（１６ｂ）で求められ、周知の
加算器及び減算器で生成することができる。
Ｆ２，Ｇ，Ｈの出力を同じ符号で表すと、フーコー法に
よるフォーカスエラー信号ＦＥＳは次式（１３）、プッ
シュプル法によるトラッキングエラー信号ＴＥＳは次式
（１４）、光磁気信号ＭＯは次式（１５）、識別信号Ｉ
Ｄは次式（１６ａ）又は（１６ｂ）で求められ、周知の
加算器及び減算器で生成することができる。
【００７１】 ＦＥＳ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ） （１３） ＴＥＳ＝（Ｅ１＋Ｅ２）−（Ｆ１＋Ｆ２） （１４） ＭＯ＝（Ｅ１＋Ｆ１）−（Ｅ２＋Ｆ２） （１５） ＩＤ＝（Ｅ１＋Ｆ１）＋（Ｅ２＋Ｆ２） （１６ａ） ＩＤ＝Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ＋Ｅ１＋Ｅ２＋Ｆ１＋Ｆ２＋Ｇ＋Ｈ （１６ｂ） 識別信号ＩＤを上記式（１６ａ）により求める場合、Ｌ
ＳＩに内蔵される加算器の数は比較的少なくて済むの
で、識別信号ＩＤのＳ／Ｎ比を向上することができる。
他方、識別信号ＩＤは、光磁気ディスク５に形成される
ピットの形状や深さによって歪みを生じる可能性があ
る。このような場合は、識別信号ＩＤを上記式（１６
ｂ）により求めることにより、識別信号ＩＤに生じる歪
みを防止することができる。つまり、識別信号ＩＤを上
記式（１６ｂ）により求める場合には、識別信号ＩＤが
光磁気ディスク５のピットからの全ての回折光に基づい
て再生されるので、ピットの形状や深さによって識別信
号ＩＤに歪みが生じるのを防止することができる。
ＳＩに内蔵される加算器の数は比較的少なくて済むの
で、識別信号ＩＤのＳ／Ｎ比を向上することができる。
他方、識別信号ＩＤは、光磁気ディスク５に形成される
ピットの形状や深さによって歪みを生じる可能性があ
る。このような場合は、識別信号ＩＤを上記式（１６
ｂ）により求めることにより、識別信号ＩＤに生じる歪
みを防止することができる。つまり、識別信号ＩＤを上
記式（１６ｂ）により求める場合には、識別信号ＩＤが
光磁気ディスク５のピットからの全ての回折光に基づい
て再生されるので、ピットの形状や深さによって識別信
号ＩＤに歪みが生じるのを防止することができる。
【００７２】又、上記式（１５）により光磁気信号ＭＯ
を求めると、比較的高い分解能の光磁気信号ＭＯを得る
ことができる。このように、図１１に示す構成の複合プ
リズム４７を使用した場合に再生される光磁気信号ＭＯ
の分解能が向上する理由は、Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ
ｏｆ Ｍａｇｎｅｔｏ−Ｏｐｔｉｃａｌ Ｒｅｃｏｒｄ
ｉｎｇ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｓｙｍｐｏｓｉ
ｕｍ’９６，Ｊ．Ｍａｇｎ．Ｓｏｃ．Ｊｐｎ．，Ｖｏ
ｌ．２０，Ｓｕｐｐｅｌｍｅｎｔ Ｎｏ．Ｓ１（１９９
６），ｐｐ．２３３−２３８からも理解できよう。
を求めると、比較的高い分解能の光磁気信号ＭＯを得る
ことができる。このように、図１１に示す構成の複合プ
リズム４７を使用した場合に再生される光磁気信号ＭＯ
の分解能が向上する理由は、Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ
ｏｆ Ｍａｇｎｅｔｏ−Ｏｐｔｉｃａｌ Ｒｅｃｏｒｄ
ｉｎｇ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｓｙｍｐｏｓｉ
ｕｍ’９６，Ｊ．Ｍａｇｎ．Ｓｏｃ．Ｊｐｎ．，Ｖｏ
ｌ．２０，Ｓｕｐｐｅｌｍｅｎｔ Ｎｏ．Ｓ１（１９９
６），ｐｐ．２３３−２３８からも理解できよう。
【００７３】図１３は、複合プリズムの一実施例を示す
斜視図である。図１３に示す複合プリズムは、例えば図
１０及び図１１に示す複合プリズム４７の代わりに使用
可能である。図１３に示すように、複合プリズム１３５
Ｂは、テーパを有する第１の偏向面１３５Ｂ−１と、第
１の偏向面１３５Ｂ−１とは異なる方向にテーパを有す
る第２の偏向面１３５Ｂ−２と、反射光ビームの光軸に
対して若干の凹状の曲率を持たせた第３の偏向面１３５
Ｂ−３と、第１及び第２の偏向面１３５Ｂ−１，１３５
Ｂ−２の両側に設けられると共に第３の偏向面１３５Ｂ
−３と同じ凹状の曲率を有する第４及び第５の偏向面１
３５Ｂ−４，１３５Ｂ−５とからなる。つまり、第３、
第４及び第５の偏向面１３５Ｂ−３，１３５Ｂ−４，１
３５Ｂ−５は、夫々反射光ビームの光軸に対して若干の
凹状の曲率を持たせた同一の凹状の曲面上に存在する。
第１及び第２の偏向面１３５Ｂ−１，１３５Ｂ−２は、
上記第１実施例の偏向面７１，７３と同様の機能を有す
る。又、第３〜第５の偏向面１３５Ｂ−３〜１３５Ｂ−
５は、夫々図１１に示す複合プリズム４７の第３〜第５
の偏向面４７−３〜４７−５と同様の機能を有し、第３
の偏向面１３５Ｂ−３は特に後述する第５実施例の複合
プリズム１７の偏向面７２ａの機能を有する。
斜視図である。図１３に示す複合プリズムは、例えば図
１０及び図１１に示す複合プリズム４７の代わりに使用
可能である。図１３に示すように、複合プリズム１３５
Ｂは、テーパを有する第１の偏向面１３５Ｂ−１と、第
１の偏向面１３５Ｂ−１とは異なる方向にテーパを有す
る第２の偏向面１３５Ｂ−２と、反射光ビームの光軸に
対して若干の凹状の曲率を持たせた第３の偏向面１３５
Ｂ−３と、第１及び第２の偏向面１３５Ｂ−１，１３５
Ｂ−２の両側に設けられると共に第３の偏向面１３５Ｂ
−３と同じ凹状の曲率を有する第４及び第５の偏向面１
３５Ｂ−４，１３５Ｂ−５とからなる。つまり、第３、
第４及び第５の偏向面１３５Ｂ−３，１３５Ｂ−４，１
３５Ｂ−５は、夫々反射光ビームの光軸に対して若干の
凹状の曲率を持たせた同一の凹状の曲面上に存在する。
第１及び第２の偏向面１３５Ｂ−１，１３５Ｂ−２は、
上記第１実施例の偏向面７１，７３と同様の機能を有す
る。又、第３〜第５の偏向面１３５Ｂ−３〜１３５Ｂ−
５は、夫々図１１に示す複合プリズム４７の第３〜第５
の偏向面４７−３〜４７−５と同様の機能を有し、第３
の偏向面１３５Ｂ−３は特に後述する第５実施例の複合
プリズム１７の偏向面７２ａの機能を有する。
【００７４】次に、本発明になる光学的情報記録／再生
装置の第５実施例を図１４と共に説明する。本実施例で
は、光学的情報記録／再生装置の基本構成は、図１に示
す第１実施例の構成と同じであり、図１４に示す複合プ
リズム１７が複合プリズム７の代わりに設けられてい
る。図１４は、第５実施例の要部を示す斜視図であり、
同図中、図１〜図３と同一部分には同一符号を付し、そ
の説明は省略する。
装置の第５実施例を図１４と共に説明する。本実施例で
は、光学的情報記録／再生装置の基本構成は、図１に示
す第１実施例の構成と同じであり、図１４に示す複合プ
リズム１７が複合プリズム７の代わりに設けられてい
る。図１４は、第５実施例の要部を示す斜視図であり、
同図中、図１〜図３と同一部分には同一符号を付し、そ
の説明は省略する。
【００７５】図１４は、ウォラストンプリズム６から出
射された光ビームが光検出ユニット９に投射される状態
を示している。ウォラストンプリズム６に入射された反
射光は、２本の偏光光ビームに分離されて複合プリズム
１７に入射する。複合プリズム１７は、図１４に示すよ
うに、３つの偏向面７１，７２ａ，７３を左右方向に並
列配置して形成された光学素子である。複合プリズム１
７の両側の偏向面７１，７３は、光ビームを上下方向に
夫々異なる角度に偏向せしめるテーパを有する。他方、
複合プリズム１７の中央の偏向面７２ａは、反射光の光
軸に対して曲率を有するように凹状に形成されている。
このような構造の複合プリズム１７に入射された２本の
偏光光ビームは、各々３つの偏向面７１，７２ａ，７３
において空間的に３分割され、合計６本の光ビームが集
光レンズ８を介して光検出ユニット９に投射される。複
合プリズム１７の中央の偏向面７２ａからの光ビーム
は、光検出ユニット９の中段部分に設けられた光検出部
Ｅ，Ｆからなる２分割光検出器に投射される。尚、図１
４においては、便宜上、図１に示す集光レンズ８の図示
は省略してある。
射された光ビームが光検出ユニット９に投射される状態
を示している。ウォラストンプリズム６に入射された反
射光は、２本の偏光光ビームに分離されて複合プリズム
１７に入射する。複合プリズム１７は、図１４に示すよ
うに、３つの偏向面７１，７２ａ，７３を左右方向に並
列配置して形成された光学素子である。複合プリズム１
７の両側の偏向面７１，７３は、光ビームを上下方向に
夫々異なる角度に偏向せしめるテーパを有する。他方、
複合プリズム１７の中央の偏向面７２ａは、反射光の光
軸に対して曲率を有するように凹状に形成されている。
このような構造の複合プリズム１７に入射された２本の
偏光光ビームは、各々３つの偏向面７１，７２ａ，７３
において空間的に３分割され、合計６本の光ビームが集
光レンズ８を介して光検出ユニット９に投射される。複
合プリズム１７の中央の偏向面７２ａからの光ビーム
は、光検出ユニット９の中段部分に設けられた光検出部
Ｅ，Ｆからなる２分割光検出器に投射される。尚、図１
４においては、便宜上、図１に示す集光レンズ８の図示
は省略してある。
【００７６】本実施例のその他の構成は、上記第１実施
例と同様であり、光検出ユニット９の光検出器からの出
力に基づいて第１実施例と共に説明した計算式を用いる
ことにより、フォーカスエラー信号ＦＥＳ、トラッキン
グエラー信号ＴＥＳ、光磁気信号ＭＯ及び識別信号ＩＤ
を求めることができる。本実施例によれば、基本的には
上記第１実施例と同様の効果を得ることができる。又、
上記第２又は第３実施例と同様な光検出ユニットを用い
れば、第２又は第３実施例と同様な効果を得ることもで
きる。
例と同様であり、光検出ユニット９の光検出器からの出
力に基づいて第１実施例と共に説明した計算式を用いる
ことにより、フォーカスエラー信号ＦＥＳ、トラッキン
グエラー信号ＴＥＳ、光磁気信号ＭＯ及び識別信号ＩＤ
を求めることができる。本実施例によれば、基本的には
上記第１実施例と同様の効果を得ることができる。又、
上記第２又は第３実施例と同様な光検出ユニットを用い
れば、第２又は第３実施例と同様な効果を得ることもで
きる。
【００７７】次に、本発明になる光学的情報記録／再生
装置の第６実施例を図１５と共に説明する。本実施例で
は、光学的情報記録／再生装置の基本構成は、図１に示
す第１実施例の構成と同じであり、図１５に示す複合プ
リズム２７及び光検出ユニット９３が複合プリズム７及
び光検出ユニット９の代わりに設けられている。図１５
は、第６実施例の要部を示す斜視図であり、同図中、図
１〜図３と同一部分には同一符号を付し、その説明は省
略する。
装置の第６実施例を図１５と共に説明する。本実施例で
は、光学的情報記録／再生装置の基本構成は、図１に示
す第１実施例の構成と同じであり、図１５に示す複合プ
リズム２７及び光検出ユニット９３が複合プリズム７及
び光検出ユニット９の代わりに設けられている。図１５
は、第６実施例の要部を示す斜視図であり、同図中、図
１〜図３と同一部分には同一符号を付し、その説明は省
略する。
【００７８】図１５は、ウォラストンプリズム６から出
射された光ビームが光検出ユニット９に投射される状態
を示している。ウォラストンプリズム６に入射された反
射光は、２本の偏光光ビームに分離されて複合プリズム
２７に入射する。複合プリズム２７は、図１５に示すよ
うに、３つの偏向面７１，７２ｂ，７３を左右方向に並
列配置して形成された光学素子である。複合プリズム２
７の両側の偏向面７１，７３は、光ビームを上下方向に
夫々異なる角度に偏向せしめるテーパを有する。他方、
複合プリズム２７の中央の偏向面７２ｂは、反射光の光
軸に対して直交する角度で平坦に形成されている。この
ような構造の複合プリズム２７に入射された２本の偏光
光ビームは、各々３つの偏向面７１，７２ｂ，７３にお
いて空間的に３分割され、合計６本の光ビームが集光レ
ンズ８を介して光検出ユニット９３に投射される。複合
プリズム２７の中央の偏向面７２ｂからの光ビームは、
光検出ユニット９３の中段部分に設けられた光検出部
Ｅ，Ｆからなる２分割光検出器に投射される。尚、図１
５においては、便宜上、図１に示す集光レンズ８の図示
は省略してある。光検出ユニット９３の中段部分は、コ
の字状に折曲せしめた形状を有し、中段部分が上段及び
下段部分に比べて複合プリズム２７側に近く位置するよ
うに配置されている。上段、中段及び下段部分に設けら
れている検出器自体は、上記第１実施例の光検出ユニッ
ト９と同じである。
射された光ビームが光検出ユニット９に投射される状態
を示している。ウォラストンプリズム６に入射された反
射光は、２本の偏光光ビームに分離されて複合プリズム
２７に入射する。複合プリズム２７は、図１５に示すよ
うに、３つの偏向面７１，７２ｂ，７３を左右方向に並
列配置して形成された光学素子である。複合プリズム２
７の両側の偏向面７１，７３は、光ビームを上下方向に
夫々異なる角度に偏向せしめるテーパを有する。他方、
複合プリズム２７の中央の偏向面７２ｂは、反射光の光
軸に対して直交する角度で平坦に形成されている。この
ような構造の複合プリズム２７に入射された２本の偏光
光ビームは、各々３つの偏向面７１，７２ｂ，７３にお
いて空間的に３分割され、合計６本の光ビームが集光レ
ンズ８を介して光検出ユニット９３に投射される。複合
プリズム２７の中央の偏向面７２ｂからの光ビームは、
光検出ユニット９３の中段部分に設けられた光検出部
Ｅ，Ｆからなる２分割光検出器に投射される。尚、図１
５においては、便宜上、図１に示す集光レンズ８の図示
は省略してある。光検出ユニット９３の中段部分は、コ
の字状に折曲せしめた形状を有し、中段部分が上段及び
下段部分に比べて複合プリズム２７側に近く位置するよ
うに配置されている。上段、中段及び下段部分に設けら
れている検出器自体は、上記第１実施例の光検出ユニッ
ト９と同じである。
【００７９】本実施例のその他の構成は、上記第１実施
例と同様であり、光検出ユニット９３の光検出器からの
出力に基づいて第１実施例と共に説明した計算式を用い
ることにより、フォーカスエラー信号ＦＥＳ、トラッキ
ングエラー信号ＴＥＳ、光磁気信号ＭＯ及び識別信号Ｉ
Ｄを求めることができる。本実施例によれば、基本的に
は上記第１実施例と同様の効果を得ることができる。
又、上記第２又は第３実施例と同様な光検出ユニットを
用いれば、第２又は第３実施例と同様な効果を得ること
もできる。
例と同様であり、光検出ユニット９３の光検出器からの
出力に基づいて第１実施例と共に説明した計算式を用い
ることにより、フォーカスエラー信号ＦＥＳ、トラッキ
ングエラー信号ＴＥＳ、光磁気信号ＭＯ及び識別信号Ｉ
Ｄを求めることができる。本実施例によれば、基本的に
は上記第１実施例と同様の効果を得ることができる。
又、上記第２又は第３実施例と同様な光検出ユニットを
用いれば、第２又は第３実施例と同様な効果を得ること
もできる。
【００８０】尚、光検出ユニット９３の中段部分は、中
段部分が上段及び下段部分に比べて複合プリズム２７側
から遠く位置するように配置されてコの字状に折曲せし
めた形状を有しても良い。次に、本発明になる光学的情
報記録／再生装置の第７実施例を図１６と共に説明す
る。本実施例では、光学的情報記録／再生装置の基本構
成は、図１に示す第１実施例の構成と同じであり、図１
６に示すホログラム光学素子３７が複合プリズム７の代
わりに設けられている。図１６は、第７実施例の要部を
示す斜視図であり、同図中、図１〜図３と同一部分には
同一符号を付し、その説明は省略する。
段部分が上段及び下段部分に比べて複合プリズム２７側
から遠く位置するように配置されてコの字状に折曲せし
めた形状を有しても良い。次に、本発明になる光学的情
報記録／再生装置の第７実施例を図１６と共に説明す
る。本実施例では、光学的情報記録／再生装置の基本構
成は、図１に示す第１実施例の構成と同じであり、図１
６に示すホログラム光学素子３７が複合プリズム７の代
わりに設けられている。図１６は、第７実施例の要部を
示す斜視図であり、同図中、図１〜図３と同一部分には
同一符号を付し、その説明は省略する。
【００８１】図１６は、ウォラストンプリズム６から出
射された光ビームが光検出ユニット９に投射される状態
を示している。ウォラストンプリズム６に入射された反
射光は、２本の偏光光ビームに分離されてホログラム光
学素子３７に入射する。ホログラム光学素子３７は、図
１６に示すように、２つの回折面３７ａ，３７ｂを左右
方向に並列配置して形成された光学素子である。回折面
３７ａ，３７ｂは、断面形状が鋸歯状の格子形状を有し
ており、夫々の断面形状はホログラム光学素子３７の中
心に帯して点対称である。このような構造のホログラム
光学素子３７に入射された２本の偏光光ビームは、各々
２つの回折面３７ａ，３７ｂにおいて±１次光及び０次
光の回折光に分離され、合計６本の光ビームが集光レン
ズ８を介して光検出ユニット９に投射される。実際に
は、±２次以上の高次の回折光も生成されるが、これら
高次の回折光の光量は少ないので無視し得る。±１次光
の回折光は、光検出ユニット９の上段及び下段部分に設
けられた光検出器に投射され、０次光の回折光は、光検
出ユニット９の中段部分に設けられた光検出器に投射さ
れる。尚、図１６においては、便宜上、図１に示す集光
レンズ８の図示は省略してある。
射された光ビームが光検出ユニット９に投射される状態
を示している。ウォラストンプリズム６に入射された反
射光は、２本の偏光光ビームに分離されてホログラム光
学素子３７に入射する。ホログラム光学素子３７は、図
１６に示すように、２つの回折面３７ａ，３７ｂを左右
方向に並列配置して形成された光学素子である。回折面
３７ａ，３７ｂは、断面形状が鋸歯状の格子形状を有し
ており、夫々の断面形状はホログラム光学素子３７の中
心に帯して点対称である。このような構造のホログラム
光学素子３７に入射された２本の偏光光ビームは、各々
２つの回折面３７ａ，３７ｂにおいて±１次光及び０次
光の回折光に分離され、合計６本の光ビームが集光レン
ズ８を介して光検出ユニット９に投射される。実際に
は、±２次以上の高次の回折光も生成されるが、これら
高次の回折光の光量は少ないので無視し得る。±１次光
の回折光は、光検出ユニット９の上段及び下段部分に設
けられた光検出器に投射され、０次光の回折光は、光検
出ユニット９の中段部分に設けられた光検出器に投射さ
れる。尚、図１６においては、便宜上、図１に示す集光
レンズ８の図示は省略してある。
【００８２】本実施例のその他の構成は、上記第１実施
例と同様であり、光検出ユニット９の光検出器からの出
力に基づいて第１実施例と共に説明した計算式を用いる
ことにより、フォーカスエラー信号ＦＥＳ、トラッキン
グエラー信号ＴＥＳ、光磁気信号ＭＯ及び識別信号ＩＤ
を求めることができる。本実施例によれば、基本的には
上記第１実施例と同様の効果を得ることができる。又、
上記第２又は第３実施例と同様な光検出ユニットを用い
れば、第２又は第３実施例と同様な効果を得ることもで
きる。
例と同様であり、光検出ユニット９の光検出器からの出
力に基づいて第１実施例と共に説明した計算式を用いる
ことにより、フォーカスエラー信号ＦＥＳ、トラッキン
グエラー信号ＴＥＳ、光磁気信号ＭＯ及び識別信号ＩＤ
を求めることができる。本実施例によれば、基本的には
上記第１実施例と同様の効果を得ることができる。又、
上記第２又は第３実施例と同様な光検出ユニットを用い
れば、第２又は第３実施例と同様な効果を得ることもで
きる。
【００８３】尚、上記各実施例では、複合プリズム７，
４７，１７，２７，１３５Ｂ又はホログラム光学素子３
７がウォラストンプリズム６と集光レンズ８との間に配
置されているが、ウォラストンプリズム６を複合プリズ
ム７，４７，１７，２７又はホログラム光学素子３７と
集光レンズ８との間に配置しても良いことは言うまでも
ない。
４７，１７，２７，１３５Ｂ又はホログラム光学素子３
７がウォラストンプリズム６と集光レンズ８との間に配
置されているが、ウォラストンプリズム６を複合プリズ
ム７，４７，１７，２７又はホログラム光学素子３７と
集光レンズ８との間に配置しても良いことは言うまでも
ない。
【００８４】以上、本発明を実施例により説明したが、
本発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能であること
は言うまでもない。
本発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能であること
は言うまでもない。
【００８５】
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、２つの偏
光に分離された反射光を更に空間的に３分割し、即ち、
計６分割して光検出器に投射する。これにより、１つの
光検出器で光磁気信号、トラッキングエラー信号及びフ
ォーカスエラー信号の信号検出が可能となる。
光に分離された反射光を更に空間的に３分割し、即ち、
計６分割して光検出器に投射する。これにより、１つの
光検出器で光磁気信号、トラッキングエラー信号及びフ
ォーカスエラー信号の信号検出が可能となる。
【００８６】請求項２記載の発明によれば、例えば、後
述する第１実施例のように、トラッキングエラー信号を
検出するための分割光を用いずに光磁気信号を得ること
ができる。又、第３実施例のように、フォーカスエラー
信号を検出するための分割光を用いずに光磁気信号を得
ることができる。更に、トラッキングエラー信号及びフ
ォーカスエラー信号を検出するための分割光を用いて光
磁気信号を得ることもできる。光磁気信号を得るとき、
少ない数の受光部から信号を得る方がノイズが少ない。
従って、トラッキングエラー信号のための分割光を用い
ずに、フォーカスエラー信号を検出するための分割光を
用いることにより、信号のＳ／Ｎ比が良好になる。又、
光磁気信号、トラッキングエラー信号及びフォーカスエ
ラー信号の必要周波数帯域は、夫々この順に高い。光ビ
ームから２種類の信号を得る場合は、両信号の周波数帯
域が離れている方が回路の構成を簡単にできる。従っ
て、光磁気信号をフォーカスエラー信号から得ることに
より、装置が簡略化される。
述する第１実施例のように、トラッキングエラー信号を
検出するための分割光を用いずに光磁気信号を得ること
ができる。又、第３実施例のように、フォーカスエラー
信号を検出するための分割光を用いずに光磁気信号を得
ることができる。更に、トラッキングエラー信号及びフ
ォーカスエラー信号を検出するための分割光を用いて光
磁気信号を得ることもできる。光磁気信号を得るとき、
少ない数の受光部から信号を得る方がノイズが少ない。
従って、トラッキングエラー信号のための分割光を用い
ずに、フォーカスエラー信号を検出するための分割光を
用いることにより、信号のＳ／Ｎ比が良好になる。又、
光磁気信号、トラッキングエラー信号及びフォーカスエ
ラー信号の必要周波数帯域は、夫々この順に高い。光ビ
ームから２種類の信号を得る場合は、両信号の周波数帯
域が離れている方が回路の構成を簡単にできる。従っ
て、光磁気信号をフォーカスエラー信号から得ることに
より、装置が簡略化される。
【００８７】請求項３記載の発明によれば、フォーカス
エラー信号を検出するために、遮蔽量、即ち、ケラレが
大きい分割光を用いている。分割光の光検出器上でのス
ポット形状は、ケラレが大きい分割光の方が小さい分割
光よりも長径が長い。フーコー法によりフォーカスエラ
ー信号を検出する場合に、スポット形状の長径が長い
程、分割受光素子の分割線がずれた際の影響が少ないの
で検出誤差が小さくなり、正確なフォーカスエラー信号
が得られる。
エラー信号を検出するために、遮蔽量、即ち、ケラレが
大きい分割光を用いている。分割光の光検出器上でのス
ポット形状は、ケラレが大きい分割光の方が小さい分割
光よりも長径が長い。フーコー法によりフォーカスエラ
ー信号を検出する場合に、スポット形状の長径が長い
程、分割受光素子の分割線がずれた際の影響が少ないの
で検出誤差が小さくなり、正確なフォーカスエラー信号
が得られる。
【００８８】請求項４記載の発明によれば、光磁気ヘッ
ド装置の温度が上昇した場合に、分割線よりも光検出器
の外縁側又は内側に投射されるべき分割光をフォーカス
エラー信号に用いている。例えば、検光子の光学特性に
より温度が上昇した際に分離角が狭くなる場合は、受光
スポットが外縁側に位置する分割光を用い、分離角が広
くなる場合は、内側に位置する分割光を用いる。これに
より、外縁側又は内側も投射される分割光の受光スポッ
トを分割線上に位置されることができ、フォーカスエラ
ー信号を正確に求められる。
ド装置の温度が上昇した場合に、分割線よりも光検出器
の外縁側又は内側に投射されるべき分割光をフォーカス
エラー信号に用いている。例えば、検光子の光学特性に
より温度が上昇した際に分離角が狭くなる場合は、受光
スポットが外縁側に位置する分割光を用い、分離角が広
くなる場合は、内側に位置する分割光を用いる。これに
より、外縁側又は内側も投射される分割光の受光スポッ
トを分割線上に位置されることができ、フォーカスエラ
ー信号を正確に求められる。
【００８９】請求項５記載の発明によれば、検光子によ
り２つの偏光に分離された一方のみをフォーカスエラー
信号に用いている。検光子が、例えば複屈折材料で形成
されている場合に、２つの分離光の分離角は温度の影響
を受けて変化する。従って、分離された一方のみの分離
光を用いることにより、検光子の温度変化の影響を受け
ずに、正確なフォーカスエラー信号が得られる。
り２つの偏光に分離された一方のみをフォーカスエラー
信号に用いている。検光子が、例えば複屈折材料で形成
されている場合に、２つの分離光の分離角は温度の影響
を受けて変化する。従って、分離された一方のみの分離
光を用いることにより、検光子の温度変化の影響を受け
ずに、正確なフォーカスエラー信号が得られる。
【００９０】請求項６〜８記載の発明によれば、光学素
子はプリズムであり、光軸に帯して異なる角度を有する
３つの偏向面を有しているので、２つの偏光に分離した
分離光の夫々を空間的に３分割することができ、計６分
割の分割光が光検出器に投射される。請求項９記載の発
明によれば、光学素子はホログラム光学素子であり、２
つの偏光に分離した分離光の夫々を＋１次光、−１次光
及び０次光に３分割することができ、計６分割の分割光
が光検出器に投射される。
子はプリズムであり、光軸に帯して異なる角度を有する
３つの偏向面を有しているので、２つの偏光に分離した
分離光の夫々を空間的に３分割することができ、計６分
割の分割光が光検出器に投射される。請求項９記載の発
明によれば、光学素子はホログラム光学素子であり、２
つの偏光に分離した分離光の夫々を＋１次光、−１次光
及び０次光に３分割することができ、計６分割の分割光
が光検出器に投射される。
【００９１】請求項１０記載の発明によれば、上記誤差
要因に対するフォーカスエラー検出系の許容マージンを
大きくして、正確なフォーカスエラー信号を得ることが
できる。又、信号品質の高いフォーカスエラー信号、ト
ラッキングエラー信号及び光磁気情報を得ることもでき
る。請求項１１記載の発明によれば、必要となる部品の
数を削減することで、光学的情報記録／再生装置の製造
プロセスを簡略化すると共に、光学的情報記録／再生装
置のコストを削減できる。
要因に対するフォーカスエラー検出系の許容マージンを
大きくして、正確なフォーカスエラー信号を得ることが
できる。又、信号品質の高いフォーカスエラー信号、ト
ラッキングエラー信号及び光磁気情報を得ることもでき
る。請求項１１記載の発明によれば、必要となる部品の
数を削減することで、光学的情報記録／再生装置の製造
プロセスを簡略化すると共に、光学的情報記録／再生装
置のコストを削減できる。
【００９２】請求項１２〜１４記載の発明によれば、比
較的簡単な構成で、信号品質の高い位置情報を得ること
ができる。請求項１５及び１６記載の発明によれば、比
較的簡単な構成で、信号品質の高い光磁気情報を得るこ
とができる。請求項１７及び１８記載の発明によれば、
光学部品の数及び構成を比較的簡単にすることができ、
光学的情報記録／再生装置の製造プロセスを簡略化する
と共に、光学的情報記録／再生装置のコストを削減でき
る。
較的簡単な構成で、信号品質の高い位置情報を得ること
ができる。請求項１５及び１６記載の発明によれば、比
較的簡単な構成で、信号品質の高い光磁気情報を得るこ
とができる。請求項１７及び１８記載の発明によれば、
光学部品の数及び構成を比較的簡単にすることができ、
光学的情報記録／再生装置の製造プロセスを簡略化する
と共に、光学的情報記録／再生装置のコストを削減でき
る。
【００９３】請求項１９記載の発明によれば、光磁気情
報の分解能を向上することができる。請求項２０記載の
発明によれば、光学的情報記録／再生装置の部品の調整
を簡単にして正確なフォーカスエラー信号得ることがで
きる。請求項２１及び２４記載の発明によれば、簡単な
回路構成により高品質の光磁気情報を再生することが出
きる。
報の分解能を向上することができる。請求項２０記載の
発明によれば、光学的情報記録／再生装置の部品の調整
を簡単にして正確なフォーカスエラー信号得ることがで
きる。請求項２１及び２４記載の発明によれば、簡単な
回路構成により高品質の光磁気情報を再生することが出
きる。
【００９４】請求項２２、２３及び２５記載の発明によ
れば、高品質の位置情報を再生することができる。従っ
て、本発明によれば、検出するフォーカスエラー信号、
トラッキングエラー信号及び光磁気信号の精度を犠牲に
することなく、光検出ユニットが有する光検出器及び光
検出部の数を減少させて光検出ユニットの出力信号中の
ノイズを低減すると共に、光検出ユニットの外形状を比
較的小さくすることで装置の小型化及び低コスト化を可
能とすることができる。
れば、高品質の位置情報を再生することができる。従っ
て、本発明によれば、検出するフォーカスエラー信号、
トラッキングエラー信号及び光磁気信号の精度を犠牲に
することなく、光検出ユニットが有する光検出器及び光
検出部の数を減少させて光検出ユニットの出力信号中の
ノイズを低減すると共に、光検出ユニットの外形状を比
較的小さくすることで装置の小型化及び低コスト化を可
能とすることができる。
【図１】本発明になる光学的情報記録／再生装置の第１
実施例の構成を示す図である。
実施例の構成を示す図である。
【図２】第１実施例の要部を示す斜視図である。
【図３】対物レンズと光磁気ディスクとが近づいた場合
の第１実施例の光検出ユニットを示す平面図である。
の第１実施例の光検出ユニットを示す平面図である。
【図４】レーザ光が光磁気ディスク上で合焦している場
合の第１実施例の光検出ユニットを示す平面図である。
合の第１実施例の光検出ユニットを示す平面図である。
【図５】対物レンズと光磁気ディスクとが遠い場合の第
１実施例の光検出ユニットを示す平面図である。
１実施例の光検出ユニットを示す平面図である。
【図６】分割された光ビームのビームスポットの形状を
説明する図である。
説明する図である。
【図７】高温時の光検出ユニットを示す平面図である。
【図８】第２実施例の光検出ユニットを示す平面図であ
る。
る。
【図９】第３実施例の光検出ユニットを示す平面図であ
る。
る。
【図１０】第４実施例の要部を示す斜視図である。
【図１１】第４実施例の複合プリズムを示す斜視図であ
る。
る。
【図１２】第４実施例の光検出ユニットを示す平面図で
ある。
ある。
【図１３】複合プリズムの一実施例を示す斜視図であ
る。
る。
【図１４】第５実施例の要部を示す斜視図である。
【図１５】第６実施例の要部を示す斜視図である。
【図１６】第７実施例の要部を示す斜視図である。
【図１７】従来の光磁気ヘッド装置の構成を示す図であ
る。
る。
【図１８】図１７の第１の２分割光検出器を示す平面図
である。
である。
【図１９】図１７の第２の２分割光検出器を示す平面図
である。
である。
【図２０】図１７のテーパプリズムの構造を示す斜視図
である。
である。
【図２１】図１７の第３の４分割光検出器を示す平面図
である。
である。
１ レーザダイオード ２ コリメータレンズ ３ ビームスプリッタ ４ 対物レンズ ５ 光磁気ディスク ６ ウォラストンプリズム ７，１７，２７，４７，１３５Ｂ 複合プリズム ８ 集光レンズ ９，９１〜９３ 光検出ユニット ３７ ホログラム光学素子 ７１，７２ａ，７２ｂ，７３ 偏向面
Claims (25)
- 【請求項１】 記録媒体上に投射した可干渉光の反射光
を検光子及び光学素子を介して光検出器で受光し、前記
可干渉光の投射位置を制御するためのフォーカスエラー
信号、トラッキングエラー信号及び情報を再生するため
の光磁気信号を検出する光学的情報記録／再生装置であ
って、 前記検光子は前記反射光を２つの偏光に分離可能であ
り、前記光学素子は、前記検光子からの２つの分離光の
夫々を空間的に３分割すべく複数の偏向部を有してお
り、前記光検出器は前記光学素子を介して偏向された６
つの分割光を受光する受光素子を有し、前記６つの分割
光を用いて前記フォーカスエラー信号、トラッキングエ
ラー信号及び光磁気信号を検出する、光学的情報記録／
再生装置。 - 【請求項２】 前記光磁気信号を得るために、前記６つ
の分割光のうち、少なくとも前記フォーカスエラー信号
及びトラッキングエラー信号のいずれか１つを得るため
の分割光を用いる、請求項１記載の光学的情報記録／再
生装置。 - 【請求項３】 前記フォーカスエラー信号を得るため
に、１つの偏向部からの２つの分離光のうち、残りの偏
向部における遮蔽量が大きい側の分離光を用いる、請求
項１記載の光学的情報記録／再生装置。 - 【請求項４】 前記受光素子は分割線を有し、前記受光
素子が前記分割光の合焦位置よりも遠い場合に、前記受
光素子における受光スポットが、前記検光子の光学特性
に応じて前記分割線よりも前記光検出器の外縁側又は内
側に位置すべき分割光を、前記フォーカスエラー信号を
得るために用いる、請求項１記載の光学的情報記録／再
生装置。 - 【請求項５】 前記フォーカスエラー信号を得るため
に、前記検光子により分離された２つの分離光のうち一
方の分離光のみを用いる、請求項１記載の光学的情報記
録／再生装置。 - 【請求項６】 前記光学素子は、前記反射光の光軸に対
して曲率を有して凸状をなす曲率偏向面と、該曲率偏向
面の両側に設けられ、前記光軸に対して夫々異なる傾斜
を有する傾斜偏向面とを備えるプリズムである、請求項
１〜５のいずれか１項記載の光学的情報記録／再生装
置。 - 【請求項７】 前記光学素子は、前記反射光の光軸に対
して曲率を有して凹状をなす曲率偏向面と、該曲率偏向
面の両側に設けられ、前記光軸に対して夫々異なる傾斜
を有する傾斜偏向面とを備えるプリズムである、請求項
１〜５のいずれか１項記載の光学的情報記録／再生装
置。 - 【請求項８】 前記光学素子は、前記反射光の光軸に対
して略垂直な平坦偏向面と、該平坦偏向面の両側に設け
られ、前記光軸に対して夫々異なる傾斜を有する傾斜偏
向面とを備えるプリズムである、請求項１〜５のいずれ
か１項記載の光学的情報記録／再生装置。 - 【請求項９】 前記光学素子は、前記反射光を±１次光
と０次光とに夫々回折せしめる偏光部を備えるホログラ
ム光学素子である、請求項１〜５のいずれか１項記載の
光学的情報記録／再生装置。 - 【請求項１０】 光学的記録媒体からの反射光ビームを
利用して情報を記録及び／又は再生する光学的情報記録
／再生装置であって、 前記反射光ビームを複数の分離段において複数の光ビー
ムに分離する光分離部と、 ｍ，ｎを正の整数でｍ≧ｎとすると、該光分離部の最終
段から出力されるｍ本の光ビームを受光するｎ個の光検
出器からなる光検出ユニットとからなり、 該光検出ユニットのｎ個の光検出器のうち、複数の光検
出器はフォーカスエラーの検出に用いられる光ビームを
受光し、少なくとも１つの光検出器はトラッキングエラ
ーの検出に用いられる光ビームを受光し、複数の光検出
器は光磁気情報の検出に用いられる光ビームを受光する
よう配置されている、光学的情報記録／再生装置。 - 【請求項１１】 前記ｍ及びｎは、ｍ＝６且つｎ＝６、
又は、ｍ＝６且つｎ＝５、又は、ｍ＝１０且つｎ＝６で
ある、請求項１０記載の光学的情報記録／再生装置。 - 【請求項１２】 前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、複数の光検出器は前記光学的記録媒体上の位置
情報の検出に用いられる光ビームを受光するよう配置さ
れている、請求項１０又は１１記載の光学的情報記録／
再生装置。 - 【請求項１３】 前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記位置情報の検出に用いられる光ビームを受
光するよう配置されている複数の光検出器は、前記光磁
気情報の検出に用いられる光ビームを受光するよう配置
されている複数の光検出器と同じである、請求項１２記
載の光学的情報記録／再生装置。 - 【請求項１４】 前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記位置情報の検出に用いられる光ビームを受
光するよう配置されている複数の光検出器は、前記光分
離部の最終段から出力されるｍ本の光ビームの全てを受
光するよう配置されている、請求項１２記載の光学的情
報記録／再生装置。 - 【請求項１５】 前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを
受光するよう配置されている複数の光検出器は、前記フ
ォーカスエラー又は前記トラッキングエラーの検出に用
いられる光ビームも受光する、請求項１０記載の光学的
情報記録／再生装置。 - 【請求項１６】 前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを
受光するよう配置されている複数の光検出器は、前記光
分離部の最終段から出力されるｍ本の光ビームの一部の
みを受光するよう配置されている、請求項１０記載の光
学的情報記録／再生装置。 - 【請求項１７】 前記光分離部は、入来する光ビームを
複数の偏光光ビームに分離する検光子と、入来する光ビ
ームを複数の光ビームに空間的に分離する光学素子とか
らなり、 該検光子及び該光学素子は前記光学的記録媒体と前記光
検出ユニットとの間に任意の順番で配置され、 該光検出ユニットの光検出器のうち、前記フォーカスエ
ラーの検出に用いられる光ビームを受光するよう配置さ
れている複数の光検出器は、前記複数の偏光光ビームの
うち１本に対応する光ビームのみを受光するよう配置さ
れている、請求項１０記載の光学的情報記録／再生装
置。 - 【請求項１８】 前記光学素子は、前記反射光ビームの
光軸に対して曲率を有する第１の偏向面と、該第１の偏
向面の両側に設けられており該光軸に対して互いに異な
る方向に傾斜している第２及び第３の偏向面とからな
る、請求項１７記載の光学的情報記録／再生装置。 - 【請求項１９】 前記光学素子は、前記第２及び第３の
偏向面の両側に設けられており前記第１の偏向面と同じ
曲率を有すると共に該第１の偏向面が存在する曲面と同
じ曲面上に存在する第４及び第５の偏向面を更に有す
る、請求項１８記載の光学的情報記録／再生装置。 - 【請求項２０】 前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記フォーカスエラーの検出に用いられる光ビ
ームを受光するよう配置されている複数の光検出器は、
前記光学素子の前記第２及び第３の偏向面の一方から出
力され、且つ、他方から出力される光ビームより光検出
器上に形成されるスポットが大きい光ビームを受光する
よう配置されている、請求項１８又は１９記載の光学的
情報記録／再生装置。 - 【請求項２１】 前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを
受光するよう配置されている一方の光検出器及び前記フ
ォーカスエラーの検出に用いられる光ビームを受光する
よう配置されている一方の光検出器の出力の和と、前記
光磁気情報の検出に用いられる光ビームを受光するよう
配置されている他方の光検出器及び前記フォーカスエラ
ーの検出に用いられる光ビームを受光するよう配置され
ている他方の光検出器の出力の和との差から光磁気情報
を再生する、請求項１０又は１１記載の光学的情報記録
／再生装置。 - 【請求項２２】 前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光磁気情報の検出に用いられる光ビームを
受光するよう配置されている一方の光検出器及び前記フ
ォーカスエラーの検出に用いられる光ビームを受光する
よう配置されている一方の光検出器の出力の和と、前記
光磁気情報の検出に用いられる光ビームを受光するよう
配置されている他方の光検出器及び前記フォーカスエラ
ーの検出に用いられる光ビームを受光するよう配置され
ている他方の光検出器の出力の和との和から前記光学的
記録媒体上の位置情報を再生する、請求項１０又は１１
記載の光学的情報記録／再生装置。 - 【請求項２３】 前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
の全ての出力の和から前記光学的記録媒体上の位置情報
を再生する、請求項１０又は１１記載の光学的情報記録
／再生装置。 - 【請求項２４】 前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
のうち、前記光分離部からのｍ本の光ビームのうち前記
反射光ビームの中央部分を除く周辺部分のみに対応する
光ビームを受光するように配置されている光検出器の出
力に基づいて前記光磁気情報を再生する、請求項１０又
は１１記載の光学的情報記録／再生装置。 - 【請求項２５】 前記光検出ユニットのｎ個の光検出器
の全ての出力の和から前記光学的記録媒体上の位置情報
を再生する、請求項２４記載の光学的情報記録／再生装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9346776A JPH11161973A (ja) | 1997-09-24 | 1997-12-16 | 光学的情報記録／再生装置 |
| EP98111085A EP0910070A3 (en) | 1997-09-24 | 1998-06-17 | Optical information recording/reproducing apparatus |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25895797 | 1997-09-24 | ||
| JP9-258957 | 1997-09-24 | ||
| JP9346776A JPH11161973A (ja) | 1997-09-24 | 1997-12-16 | 光学的情報記録／再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11161973A true JPH11161973A (ja) | 1999-06-18 |
Family
ID=26543905
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9346776A Withdrawn JPH11161973A (ja) | 1997-09-24 | 1997-12-16 | 光学的情報記録／再生装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0910070A3 (ja) |
| JP (1) | JPH11161973A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010027098A (ja) * | 2008-07-15 | 2010-02-04 | Sony Corp | 光ピックアップ及び光ディスク装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108663733A (zh) * | 2018-06-28 | 2018-10-16 | 鹤山市嘉米基光电科技有限公司 | 分光棱镜 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4983017A (en) * | 1988-08-02 | 1991-01-08 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical head device for reading information stored in a recording medium |
| JP2975395B2 (ja) * | 1990-05-15 | 1999-11-10 | シャープ株式会社 | 光ピックアップ装置 |
| JPH04364231A (ja) * | 1991-01-07 | 1992-12-16 | Toshiba Corp | 光学ヘッド装置 |
| US5353267A (en) * | 1992-06-02 | 1994-10-04 | Nec Corporation | Magneto-optical light detector apparatus |
| EP0627733B1 (en) * | 1993-06-02 | 2001-02-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head device and optical information apparatus |
| JPH1011785A (ja) * | 1996-06-21 | 1998-01-16 | Sharp Corp | 光学ヘッド |
-
1997
- 1997-12-16 JP JP9346776A patent/JPH11161973A/ja not_active Withdrawn
-
1998
- 1998-06-17 EP EP98111085A patent/EP0910070A3/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010027098A (ja) * | 2008-07-15 | 2010-02-04 | Sony Corp | 光ピックアップ及び光ディスク装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0910070A3 (en) | 2000-02-23 |
| EP0910070A2 (en) | 1999-04-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050301 |