JPH07192298A - 光ピックアップ - Google Patents

光ピックアップ

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Publication number
JPH07192298A
JPH07192298A JP5335013A JP33501393A JPH07192298A JP H07192298 A JPH07192298 A JP H07192298A JP 5335013 A JP5335013 A JP 5335013A JP 33501393 A JP33501393 A JP 33501393A JP H07192298 A JPH07192298 A JP H07192298A
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JP
Japan
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light
order
spot
diffraction grating
track
Prior art date
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Pending
Application number
JP5335013A
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English (en)
Inventor
Noriyuki Sato
則之 佐藤
Hisahiro Ishihara
久寛 石原
Kazuo Higashiura
一雄 東浦
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Nidec Sankyo Corp
Original Assignee
Nidec Sankyo Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ピックアップにおいて、分割化光検出器の
不感帯の影響を除去し、ジッター特性に優れ、調整の容
易で、高感度な信号検出を行う。読み取り効率を上げ
る。 【構成】 媒体のトラックに記録した情報を読み取る光
ピックアップとして、光源と媒体との間の光路にホログ
ラム素子を配置し、該ホログラム素子は、光軸上で媒体
のトラックと直交する方向の線により分割され、少なく
とも一方に上記トラック方向に格子の基本間隔を変調し
た回折格子を有し、上記分割線の両側の格子の基本間隔
を異ならせた、更に、分割線に対して輪郭が対称なホロ
グラム素子を配置した。 【効果】 ジッター特性に優れ、調整の容易で、高感度
な信号検出が行える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクあるいは光
磁気ディスク等の情報記録媒体から情報を読み取るため
の光ピックアップに関する。
【0002】
【従来の技術】CD(コンパクトディスク)での記録情
報は、ディスク面に設けられた円周状のトラックに沿っ
て並んだピット列として蓄積されている。この記録情報
を読み取るピックアップとしては、図10に示す3ビー
ム非点収差法が多用さている。これは、レーザ光源1の
光を回折格子7、ハーフミラー3を介して対物レンズ4
にて集光されたコヒーレント光をディスク5の情報トラ
ック(ピット列)に照射し、反射光を対物レンズ4、ハ
ーフミラー3、シリンドリカルレンズ8を介して光検出
器9に導いている。ディスク5に照射したスポット位置
がピットのエッジ部分にかかった場合は反射光と照射光
との干渉効果により、ピット外の平らな場所で反射した
場合に比べて反射光の光量が減少する。光ピックアップ
では、このピット列に対応した反射光量の減衰パルス
を、光検出器により電気パルス信号に変換して出力して
いる。
【0003】ところで現実の光ディスクにおいて、表面
にそりや歪みを全く持たないような理想的な平坦性を求
めることは無理であり、またディスクを駆動するドライ
バーの回転軸の傾きなども考慮すると、正確な情報読み
取りのためにはピックアップの対物レンズ4とディスク
表面との位置関係を適切に保つことが非常に大切であ
る。そこで、レーザ光等の光源1からの照射光がピット
列(トラック)からそれないためのトラッキング方向の
位置制御と、レーザビームの焦点位置を常にディスクの
情報面に一致させるためのフォーカス制御を行ってい
る。このような制御を行うための現在位置の検出法とし
て従来技術では、トラッキングずれ(TE)検出には3
ビーム法が、フォーカスずれ(FE)検出には非点収差
法が一般的であった。
【0004】この従来の技術が図10、図11に示して
あり、3ビーム法では回折格子7によってレーザビーム
を0次、±1次の3本の光束に分け、ディスク5上で3
つの光スポットが情報トラックより若干角度がついた位
置に並ぶよう集光している。この両端の±1次回折光ス
ポットからの反射光信号のレベルが常に等しくなるよう
にサーボをかけることで、真ん中の0次光スポットの位
置をトラック中央に保っている。また非点収差法はディ
スク5面からの反射光の光束にシリンドリカルレンズ8
で非点収差を作りだし、フォーカスずれによってスポッ
ト形状(楕円の方向と楕円度)が変化するのを、4分割
光検出器26の2対の受光素子(26a、26dと26
b、26c)の対角成分出力の大きさを加算器33、3
4と比較器35を用いて比較したFE信号で検知してい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで非点収差法に
よる従来例のフォーカスずれ検出では、図11に示す通
り4分割光検出器26の出力を演算した結果からFE信
号を求めているため、信号光スポットの中心部は4分割
光検出器26の分割線(不感帯)上に位置することとな
る。この方式ではその4分割光検出器26の各受光素子
出力の総和から記録データを読み取った高周波(RF)
信号も得ているが、光パワー密度の高い光スポット中心
部が不感帯に位置するため、スポット径の増減、あるい
はスポット位置の移動により、出力信号の大きさが変化
してしまう。つまりトラッキング制御、フォーカス制御
のためのレンズのアクチュエータ動作自体が、出力信号
変動(すなわちジッター)を招いてしまった。
【0006】そこで本発明は光検出器の不感帯の影響を
除去し、スポット径の増減、スポット位置の移動があっ
てもRF出力信号の大きさが変化する事がない、ジッタ
ー特性に優れ、調整の容易な光ピックアップ装置を提供
する事を目的とする。
【0007】
【問題を解決するための手段】本発明は、媒体のトラッ
クに記録した情報を読み取る光ピックアップとして、光
源と媒体との間の光路にホログラム素子を配置し、該ホ
ログラム素子は、光軸上で媒体のトラックと直交する方
向の線により分割され、少なくとも一方に上記トラック
方向に格子の基本間隔を変調した回折格子を有し、上記
分割線の両側の格子の基本間隔を異ならせたことを第1
の特徴とし、更に、分割線に対して輪郭が対称なホログ
ラム素子を配置したこと、格子の角度が異なるホログラ
ム素子を用いたことを他の特徴とする。
【0008】
【作用】このような構成を有する光ピックアップにおい
ては、回折格子等のホログラム素子で回折を受けた光束
成分(±1次光)によりトラッキングずれ信号及びフォ
ーカスずれ信号を得る一方、回折を受けない0次光成分
はRF信号を得るためだけに利用される。従ってRF信
号検出には分割化光検出器を用いる必要がなく、受光素
子の不感帯の影響が皆無のため、光スポット径の増減、
スポット位置の移動があっても出力信号の大きさが変化
する事はない。そして、格子の変調により回折±1次光
の光スポットはトラック方向に伸びた形状となりフォー
カスズレに対する受光素子出力ゲインが小さくなり、F
E信号における受光素子の位置調整が容易となる。
【0009】
【実施例】以下本発明の実施例について、図面を用いて
詳細な説明を行う。図1に本発明の一実施例の光ピック
アップ装置の模式的な構造図を示す。光源となる半導体
レーザ1からの射出光をホログラム2で複数の光ビーム
に分割し、対物レンズ4によって光ディスク5の記録面
近傍に複数の光スポットとして収束させている。ここで
このホログラム素子2は、図1、3、5、6に示すよう
に光軸上で媒体のトラックと直交する方向の線により分
割され(分割線は図3(a)、(b)以外は仮想であ
る)、少なくとも一方に上記トラック方向に回折機能を
有し、上記分割線の両側の格子の基本間隔を異ならせた
回折格子A、Bを有している。(図3の(e)の場合は
格子Aのみを有する)
【0010】本実施例の図3(b)タイプのホログラム
素子について以下に説明するが、図3の(a)、
(c)、(d)、(e)など他のパターンのホログラム
素子についても、以下に説明する効果は同様に得られ
る。具体的回折格子の例としては、格子Aの基本間隔が
30μmで、変調は格子数が30本とした時の両端での
差が1μmの漸減あるいは漸増、格子Bの基本間隔が6
0μmで、変調は格子数が30本とした時の両端での差
が2μmの漸減あるいは漸増というように変調量は基本
間隔に対して微量である。従って、これを図示したので
は変調が図面に現れないので、図1、2、5は変調が理
解できるように強調して示してある。又、格子A、Bの
角度差も数度以下で、これを図示したのでは角度差が図
面に現れないので、変調と同様に強調して示してある。
【0011】尚、格子の基本間隔や変調量は、受光素子
の配置、フォーカス等での制御可能範囲、位置ズレと受
光素子出力ゲインの関係(許容される光ピックアップの
性能と調整のし易さとから)等の条件に応じて適宜に設
定すればよい。格子間隔を変調した回折格子の作用によ
って、回折1次光の虚像がどの位置になるか図2(a)
(b)の原理図を用いて具体的に説明する。図2(a)
の回折格子は、格子の基本間隔に対して図の上側ほど狭
くなるように格子間隔を変調してある。
【0012】従って、メリジオナル面内で半導体レーザ
Lから射出した光ビームは、光軸に近い部分で回折され
た回折角より光軸から離れた部分で回折された回折角が
大きくなり、回折1次光は半導体レーザの位置Lを中心
として点対称で光軸方向に異なる点に虚像A+ 、A- を
生成する。同様に、図2(b)の回折格子は、格子の基
本間隔に対して光軸に近いほど狭くなるように格子間隔
を変調してあるが、光軸方向に図2(a)と逆の位置に
虚像A+ 、A- を生成する。尚、前記虚像のサジタル面
内の焦点は、半導体レーザの位置を中心として光軸に垂
直な断面内にある。
【0013】上記変調回折格子を上記分割線の上下に組
み合わせたホログラム素子は、図5に示すような組み合
わせがあるが、以下(a)について詳しく説明する。こ
のホログラム素子の作用によって、光ディスクの記録面
に収束する光スポットについて図6を用いて説明する。
図で格子A、Bは基本間隔が異なり、変調度は同一とし
てある。半導体レーザ1(L)から射出して図6の上側
の回折格子Aに入射した光ビームのうち、回折されない
0次光は回折格子Aを通過して対物レンズ4に入射し、
点L' に収束する。回折をうけた回折1次光は半導体レ
ーザーの位置Lを中心として点対称にある虚像A+ 、A
- に光源があるかのごとく対物レンズ4に入射し、ディ
スク5付近で点A'+、A'-に収束する。
【0014】即ち、回折格子Aを射出した光ビームは対
物レンズ4によって、0次光に関してはLと共役な点
L' に、1次光に関してはA+ 、A- の共役点A'+,
A'-にと、各々記録面近傍の対応した位置(共役点)に
収束する。ディスク5に対し点A'+、A'-が前後にずれ
るのは、変調格子の作用である。半導体レーザ1から射
出して図6の下側の回折格子Bに入射した光ビームにつ
いても、これと全く同様に考えることができ、0次光に
関してはLと共役な点L' に、1次光に関してはB+ 、
B- の共役点B'+、B'-にと、各々ディスク5付近で収
束する。
【0015】従って、半導体レーザーの射出光は、ホロ
グラム素子2の上下の回折格子A、Bの作用によって回
折0次と回折1次の光ビームとなり、対物レンズ4を通
過した後光ディスク5の記録面近傍にL' 、A'+、A'
-、B'+、B'-の5点の光スポットとして収束すること
になる。そして、格子A、Bの変調度を同一としてある
ので、ディスク5面に対する点A'+、A'-、B'+、B'-
の光軸方向距離が一致している。光スポットを、光ディ
スク5の記録面に対して垂直方向から見た様子を図4に
示す。トラック15の中心の光スポット10は回折0次
光であり、その他の4点は±1次の回折光である。尚、
ホログラム素子2で回折格子の設けられていない部分を
通過した光ビームは、回折0次光と同じ光スポットに収
束する。
【0016】ここで、回折格子Aの回折1次光スポット
11、13は中心の光スポット10に対して点対称の位
置になり、回折格子Bの回折1次光スポット12、14
も中心の光スポット10に対して点対称の位置になる。
それぞれのスポット位置は各回折格子A、B各々の格子
の基本間隔と格子方向を定めることで、各々の1次回折
光をトラックの適切な位置に収束させる事ができる。ま
た、これらの回折1次光の光スポットの概略形状は、各
々の回折格子開口形状のフーリエ変換のデフォーカス像
として得られる。
【0017】次に光検出器6上の光スポットについて説
明する。光ディスク5の記録面上の光スポットは、図1
に示す通り光ディスク5で反射し再度対物レンズ4を通
過し光検出器6側の焦点面で再結像するが、光検出器6
側の焦点面での光スポットの位置関係は記録面上の光ス
ポットの位置関係とやはり共役関係になる。従って、対
物レンズ4と光ディスク5の位置関係が光軸方向あるい
は光軸と垂直方向に移動した場合、スポット位置及びス
ポット形状が、記録面と光検出器側の焦点面上とで同様
に変化することになる。対物レンズ4と光ディスク5の
位置関係の光軸方向の変化、すなわちフォーカスずれに
対する光検出器6上の光スポットの変化を図7、8で説
明する。
【0018】図7は合焦点を(b)、対物レンズ4とデ
ィスク5が近い時を(a)、対物レンズ4とディスク5
が遠い時を(c)とし、受光素子6付近での0次光の光
ビーム16’、回折格子Aの回折1次ビーム17’、1
9’、回折格子Bの回折1次ビーム18’、20’のメ
リジオナル面での形状を示しており、各ビームの受光素
子での光スポットを図8に示している。合焦点では、図
8(b)に示すように0次光の光スポット16を中心と
して回折格子Aの回折1次光の光スポット17、19と
回折格子Bの回折1次光の光スポット18、20が上下
に位置し、概略サジタル方向(トラックと直交する方
向)に最小幅の光スポットを形成している。そして、光
スポット16は受光素子21の中心に、回折1次光の光
スポット17〜20は受光素子21の両側に1列に並べ
た2分割受光素子22a・22b〜25a・25bの分
割線に中心が位置する。
【0019】一方、対物レンズ4と光ディスク5の距離
が近づいた時は、図8(a)に示すように0次光の光ス
ポット16は位置の変化は無く径が大きくなり、回折格
子Aの回折1次光の光スポット17は回折格子Aの開口
形状に似た形に大きくなりながらその中心が図8の上側
に移動し、回折格子Aの回折1次光の光スポット19は
メリジオナル方向は狭くなりサジタル方向は広がりなが
らその中心が図8の上側に移動し、回折格子Bの回折1
次光の光スポット18はメリジオナル方向は狭くなりサ
ジタル方向は広がりながらその中心が図8の下側に移動
し、回折格子Bの回折1次光の光スポット20は回折格
子Bの開口形状に似た形に大きくなりながらその中心が
図8の下側に移動し、回折1次光の光スポット17〜2
0は2分割受光素子22a・22b〜25a・25bの
一方に大半が位置することになる。尚、図8は理想状態
を示したので一方のみに位置しているが、実際はボケ等
により他方にも一部が位置する。
【0020】逆に対物レンズ4と光ディスク5の距離が
遠くなった時は、図8(c)に示すように0次光の光ス
ポット16は位置の変化は無く径が大きくなり、回折格
子Aの回折1次光の光スポット17はメリジオナル方向
は狭くなりサジタル方向は広がりながらその中心が図8
の下側に移動し、回折格子Aの回折1次光の光スポット
19は回折格子Aの開口形状に似た形に大きくなりなが
らその中心が図8の下側に移動し、回折格子Bの回折1
次光の光スポット18は回折格子Bの開口形状に似た形
に大きくなりながらその中心が図8の上側に移動し、回
折格子Bの回折1次光の光スポット20はメリジオナル
方向は狭くなりサジタル方向は広がりながらその中心が
図8の上側に移動する。
【0021】ホログラム素子の格子を変調しないと、図
8(b)での1次光スポット17〜20は微小面積の点
となり、2分割受光素子22a・22b〜25a・25
bの分割線と光スポット17〜20の中心を合わせる調
整が面倒になるが、上記実施例によれば光スポットがト
ラック方向に伸びているので、微調整ができて位置調整
が容易となる。
【0022】以上は、図5の(a)のホログラム素子に
ついての説明である。他の(b)(c)(d)などはメ
リジオナル面内の収束位置が異なり、従ってフォーカシ
ングによる光検出器上の光スポットの形状は各々に対応
した変化をするが、光スポットの移動に関しては今まで
の説明と同様に変化する。
【0023】従って、光検出器6の各受光素子22a・
22b〜25a・25bの出力を図9に示すように、F
E信号に関しては2分割受光素子22a・22bと23
a・23bの出力、2分割受光素子24a・24bと2
5a・25bの出力をそれぞれ比較器27、28で上下
逆に比較し、その結果を比較器29で比較するように結
線する事で得られる。そして、このようにFE信号を得
ると、比較により波長変動が解消できる。
【0024】一方、対物レンズ4と光ディスク5との位
置関係のトラッキング方向のずれ(TE信号)検出に関
しては、通常の3ビーム法の場合と全く同様であり、図
9に示すように、2分割受光素子22a・22bと23
a・23bの出力、2分割受光素子24a・24bと2
5a・25bの出力をそれぞれ加算器30、31で加算
し、その結果を比較器32で比較するように結線して+
1次回折光と−1次回折光との差を求める事でプッシュ
プル検出できる。
【0025】尚、TE信号は2分割受光素子22a・2
2bと24a・24bの出力、あるいは2分割受光素子
23a・23bと25a・25bの出力だけでも得られ
る。またRF信号に関しては、焦点合わせの程度に応じ
て回折0次光のビーム径が増減するのみで、常に光検出
器6の受光素子21上にスポットが位置している。従っ
て、従来例に見られたような光検出素子不感帯の影響
は、一切発生しない。
【0026】上記実施例は光ディスクのピックアップに
ついて説明したが、光磁気ディスクに用いる場合は、図
1でハーフミラー3と光検出器6との間に偏光分離のた
めの素子を配置すれば同様に用いられる。また、ホログ
ラム素子を回折格子としたが、トラック方向に回折機能
を有するホログラムも同様に用いられる。
【0027】
【発明の効果】以上述べたように本発明による光ピック
アップでは、光検出素子不感帯の影響が皆無のため、ス
ポット径の増減、スポット位置の移動があってもRF出
力信号の大きさが変化する事がなく、ジッター特性に優
れた信号検出が可能となると共に、回折±1次光の光ビ
ームのスポット形状を格子変調によってトラック方向に
伸ばしたから、2分割受光素子の配置や位置調整が容易
となる。また、第2請求項によると3ビームセンサとな
って、センサの構成が簡単となり、第3請求項の5ビー
ム方式にするとフォーカシングに4ビームが使えて精度
の向上ができると共に光軸に対するディスク等の媒体の
傾きの影響が無くせ、第4請求項によると同一トラック
に5ビームを収束できて正確な制御ができるという効果
を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による光ピックアップの基本
構成模式図である。
【図2】ホログラム素子により虚像が生成される様子を
説明する原理図。
【図3】ホログラム素子の格子パターンを説明するため
の模式図。
【図4】光ディスク面に於ける5つのスポットの照射状
態を示す説明図。
【図5】格子間隔を変調した回折格子の組み合わせを示
す説明図。
【図6】ホログラム素子により光ビームがディスク記録
面近傍に収束する様子を説明する原理図。
【図7】受光素子近傍での収束光束のメリジオナル面内
の様子を説明する説明図。
【図8】光検出器の受光面上での光スポットの状態を示
す説明図。
【図9】光検出器の各エレメント出力からRF信号,F
E信号,TE信号を得るための結線の状態を示す説明
図。
【図10】従来例の光ピックアップの基本構成模式図。
【図11】従来例の4分割光検出素子出力の結線を示す
説明図。
【符号の説明】
1・・半導体レーザ 2・・ホログラム素子 3・・ハーフミラー 4・・対物レンズ 5・・光ディスク 6、9・・光検出器 10・・回折0次光 11、12、13、14・・回折±1次光 15・・情報トラック 16、17、18、19、20・・光検出器上での光ス
ポット形状 21・・RF信号用受光素子 22、23、24、25・・TE、FE信号用受光素子
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成6年6月24日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0002
【補正方法】変更
【補正内容】
【0002】
【従来の技術】CD(コンパクトディスク)での記録情
報は、ディスク面に設けられた円周状のトラックに沿っ
て並んだピット列として蓄積されている。この記録情報
を読み取るピックアップとしては、図10に示す3ビー
ム非点収差法が多用さている。これは、レーザ光源1
の光を回折格子7、ハーフミラー3を介して対物レンズ
4にて集光されたコヒーレント光をディスク5の情報ト
ラック(ピット列)に照射し、反射光を対物レンズ4、
ハーフミラー3、シリンドリカルレンズ8を介して光検
出器9に導いている。ディスク5に照射したスポット位
置がピットのエッジ部分にかかった場合は反射光と照射
光との干渉効果により、ピット外の平らな場所で反射し
た場合に比べて反射光の光量が減少する。光ピックアッ
プでは、このピット列に対応した反射光量の減衰パルス
を、光検出器により電気パルス信号に変換して出力して
いる。
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図6
【補正方法】変更
【補正内容】
【図6】

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源の光を媒体に当て、反射光を受光素
    子に導いて媒体のトラックに記録した情報を読み取る光
    ピックアップにおいて、 光源と媒体との間の光路にホログラム素子を配置し、 該ホログラム素子は、光軸上で媒体のトラックと直交す
    る方向の線により分割され、少なくとも一方に上記トラ
    ック方向に格子の間隔を変調した回折格子を有し、上記
    分割線の両側の格子の基本間隔を異ならせた光ピックア
    ップ。
  2. 【請求項2】 分割線の片側のみにホログラム素子を配
    置した請求項1の光ピックアップ。
  3. 【請求項3】 分割線に対して輪郭が対称なホログラム
    素子を配置した請求項1の光ピックアップ。
  4. 【請求項4】 分割線の両側の回折格子の基本間隔およ
    び角度を異ならせた請求項1、3の光ピックアップ。
JP5335013A 1993-12-28 1993-12-28 光ピックアップ Pending JPH07192298A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7295504B2 (en) 2002-03-04 2007-11-13 Sharp Kabushiki Kaisha Beam shaping element, and light source unit and optical pickup using same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7295504B2 (en) 2002-03-04 2007-11-13 Sharp Kabushiki Kaisha Beam shaping element, and light source unit and optical pickup using same

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Effective date: 19981020