JP7260234B2 - Pチャンネルmosfetを制御するためのドライバー回路及びそれを含む制御装置 - Google Patents

Pチャンネルmosfetを制御するためのドライバー回路及びそれを含む制御装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7260234B2
JP7260234B2 JP2020560981A JP2020560981A JP7260234B2 JP 7260234 B2 JP7260234 B2 JP 7260234B2 JP 2020560981 A JP2020560981 A JP 2020560981A JP 2020560981 A JP2020560981 A JP 2020560981A JP 7260234 B2 JP7260234 B2 JP 7260234B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
transistor
sub
driver circuit
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020560981A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021521724A (ja
Inventor
キム、ジュン-ヨブ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LG Energy Solution Ltd
Original Assignee
LG Energy Solution Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LG Energy Solution Ltd filed Critical LG Energy Solution Ltd
Publication of JP2021521724A publication Critical patent/JP2021521724A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7260234B2 publication Critical patent/JP7260234B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/16Modifications for eliminating interference voltages or currents
    • H03K17/161Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
    • H03K17/162Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches without feedback from the output circuit to the control circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/06Modifications for ensuring a fully conducting state
    • H03K17/063Modifications for ensuring a fully conducting state in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/30Modifications for providing a predetermined threshold before switching
    • H03K17/302Modifications for providing a predetermined threshold before switching in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/567Circuits characterised by the use of more than one type of semiconductor device, e.g. BIMOS, composite devices such as IGBT
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/60Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being bipolar transistors
    • H03K17/603Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being bipolar transistors with coupled emitters
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/06Modifications for ensuring a fully conducting state
    • H03K2017/066Maximizing the OFF-resistance instead of minimizing the ON-resistance
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K2217/00Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
    • H03K2217/0063High side switches, i.e. the higher potential [DC] or life wire [AC] being directly connected to the switch and not via the load

Landscapes

  • Electronic Switches (AREA)

Description

本発明は、パワーサプライと電気負荷との間の電力ラインに設けられるメインスイッチとしてのPチャンネルMOSFETを制御するためのドライバー回路及びそれを含む制御装置に関する。
本出願は、2018年10月30日出願の韓国特許出願第10-2018-0131303号に基づく優先権を主張し、該当出願の明細書及び図面に開示された内容は、すべて本出願に組み込まれる。
電気車両に設けられる電気モーターなどの電気負荷は、メインスイッチを介してパワーサプライに接続する。制御装置は、メインスイッチを選択的にオン状態またはオフ状態に制御する。メインスイッチがオン状態である間、パワーサプライからの電力がメインスイッチを介して電気負荷に供給される。
図1は、従来技術による制御装置の構成を例示的に示す。図1を参照すれば、 メインスイッチとしてのNチャンネルMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect transistor)に備えられたドレイン端子及びソース端子は、パワーサプライと電気負荷に各々電気的に接続している。コントローラがメインスイッチのゲート端子に制御信号(例えば、ハイレベルの電圧)を出力する場合、メインスイッチのドレイン端子とソース端子との間の電流経路が導通することで、パワーサプライから電気負荷への電力供給が可能になる。また、電気負荷の駆動が不要である場合、コントローラはメインスイッチをオフ状態にするために、制御信号の出力を中断する。
ところで、NチャンネルMOSFETのゲート端子に制御信号が印加されていないことにもかかわらず、電気負荷のインダクタンス成分によってNチャンネルMOSFETのソース端子にマイナスの電圧が一時的に発生することがある。これによって、NチャンネルMOSFETのゲート端子とソース端子との間に臨界電圧を超える順方向のバイアスがかかり、NチャンネルMOSFETが意図せずにオン状態とオフ状態を交互に繰り返す現象が発生し得る。上記現象は、電気負荷に保存された電気エネルギーがほぼ消耗するまで持続することがあり、安全上望ましくない。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、パワーサプライと電気負荷との間に接続するメインスイッチとしてNチャンネルMOSFETの代わりにPチャンネルMOSFETを用いることで、電気負荷のインダクタンス成分によるメインスイッチの誤動作を防止することができるドライバー回路及びドライバー回路を含む制御装置を提供することを目的とする。
本発明の他の目的及び長所は、下記する説明によって理解でき、本発明の実施例によってより明らかに分かるであろう。また、本発明の目的及び長所は、特許請求の範囲に示される手段及びその組合せによって実現することができる。
上記の課題を達成するための本発明の多様な実施例は、以下のようである。
本発明の一面によるドライバー回路は、ゲート端子、パワーサプライに接続するソース端子及び電気負荷に接続するドレイン端子を含むPチャンネルMOSFETを制御するためのものである。ドライバー回路は、PチャンネルMOSFETのソース端子に一端が接続し、第1接続ノードを介して直列接続する第1分配抵抗素子及び第2分配抵抗素子を含む第1電圧分配器と、第1コレクタ端子、第1エミッタ端子及び第1ベース端子を含み、第1コレクタ端子が第1電圧分配器の他端に接続し、第1エミッタ端子が接地に接続する第1サブトランジスターと、第2コレクタ端子、第2エミッタ端子及び第2ベース端子を含み、第2エミッタ端子がPチャンネルMOSFETのゲート端子に接続し、第2ベース端子が第1接続ノードに接続する第2サブトランジスターと、第3コレクタ端子、第3エミッタ端子及び第3ベース端子を含み、第3エミッタ端子が第2エミッタ端子に接続し、第3コレクタ端子が接地に接続する第3サブトランジスターと、第2コレクタ端子と第2エミッタ端子との間に接続する第1抵抗素子を含む。
第1接続ノードは、第3ベース端子にさらに接続し得る。
第1分配抵抗素子の抵抗は、第2分配抵抗素子の抵抗よりも大きいことがある。
第3エミッタ端子は、PチャンネルMOSFETのゲート端子にさらに接続し得る。
第1電圧分配器は、第1サブトランジスターがオン状態である間、パワーサプライの入力電圧を用いて第1接続ノードに第1スイチング電圧を生成し得る。第3サブトランジスターは、第3ベース端子に第1スイチング電圧が印加されることに応じてオン状態になり得る。
第3サブトランジスターがオン状態である間に、第1抵抗素子にかかる第2スイチング電圧がPチャンネルMOSFETのソース端子とゲート端子との間に印加され得る。
第1サブトランジスターがオフ状態である間、パワーサプライからの入力電圧が第1接続ノードを介して第2ベース端子及び第3ベース端子の各々に印加され得る。第2サブトランジスターは、第2ベース端子に入力電圧が印加されることに応じてオン状態になり得る。第3サブトランジスターは、第3ベース端子に入力電圧が印加されることに応じてオフ状態になり得る。第2サブトランジスターがオン状態であり、第3サブトランジスターがオフ状態である間、入力電圧が第2エミッタ端子を介してPチャンネルMOSFETのゲート端子に印加され得る。
第1サブトランジスター及び第2サブトランジスターの各々は、NPNタイプトランジスターであり、第3サブトランジスターの各々は、PNPタイプトランジスターであり得る。
ドライバー回路は、第2エミッタ端子と接地との間に接続し、第3接続ノードを介して直列接続する第3分配抵抗素子及び第4分配抵抗素子を含む第2電圧分配器と、第4コレクタ端子、第4エミッタ端子及び第4ベース端子を含み、第4エミッタ端子は接地に接続し、第4ベース端子は第3接続ノードに接続する第4サブトランジスターと、一端がPチャンネルMOSFETのドレイン端子に接続し、他端が第4コレクタ端子に接続する放電抵抗素子をさらに含み得る。
第2電圧分配器は、第1サブトランジスターがオフ状態である間、第3接続ノードに第3スイチング電圧を生成し得る。第4サブトランジスターは、第4ベース端子に印加される第3スイチング電圧に応じてオン状態になり得る。
本発明の他面による制御装置は、ドライバー回路を含む。
本発明の実施例の少なくとも一つによれば、パワーサプライと電気負荷との間に接続するメインスイッチとしてNチャンネルMOSFETの代わりにPチャンネルMOSFETを用いることで、電気負荷のインダクタンス成分によるメインスイッチの誤動作を防止することができる。
また、本発明の実施例の少なくとも一つによれば、メインスイッチをオフ状態に制御する間、電気負荷のインダクタンス成分によって電気負荷に貯蔵された電気エネルギーを強制的に放電することで、メインスイッチの誤動作可能性をより確かに低減することができる。
本発明の効果は以上で言及した効果に制限されず、言及されていない本発明の他の効果は請求範囲の記載から当業者により明らかに理解されるだろう。
本明細書に添付される次の図面は、本発明の望ましい実施例を例示するものであり、発明の詳細な説明とともに本発明の技術的な思想をさらに理解させる役割をするため、本発明は図面に記載された事項だけに限定されて解釈されてはならない。
従来の制御装置の構成を例示した図である。 本発明の第1実施例による制御装置の構成を例示的に示した図である。 図2に示したメインスイッチをオン状態に制御するための動作の説明に参照される図である。 図2に示したメインスイッチをオフ状態に制御するための動作の説明に参照される図である。 本発明の第2実施例による制御装置の構成を例示的に示す図である。
以下、添付された図面を参照して本発明の望ましい実施例を詳しく説明する。これに先立ち、本明細書及び特許請求の範囲に使われた用語や単語は通常的や辞書的な意味に限定して解釈されてはならず、発明者自らは発明を最善の方法で説明するために用語の概念を適切に定義できるという原則に則して本発明の技術的な思想に応ずる意味及び概念で解釈されねばならない。
したがって、本明細書に記載された実施例及び図面に示された構成は、本発明のもっとも望ましい一実施例に過ぎず、本発明の技術的な思想のすべてを代弁するものではないため、本出願の時点においてこれらに代替できる多様な均等物及び変形例があり得ることを理解せねばならない。
また、本発明に関連する公知の機能または構成についての具体的な説明が、本発明の要旨をぼやかすと判断される場合、その説明を省略する。
第1、第2などのように序数を含む用語は、多様な構成要素のうちいずれか一つを残りと区別する目的として使用され、このような用語によって構成要素が限定されることではない。
なお、明細書の全体にかけて、ある部分が、ある構成要素を「含む」とするとき、これは特に反する記載がない限り、他の構成要素を除くことではなく、他の構成要素をさらに含み得ることを意味する。
さらに、明細書の全体に亘って、ある部分が他の部分と「連結(接続)」されているとするとき、これは、「直接的に連結(接続)」されている場合のみならず、その中間に他の素子を介して「間接的に連結(接続)」されている場合も含む。
図2は、本発明の第1実施例による制御装置10の構成を例示した図である。
図2を参照すれば、制御装置10は、電気負荷ELに入力電圧VINを選択的に供給するためのものであって、パワーサプライ20、メインスイッチ30、コントローラ40及びドライバー回路100を含む。電気負荷ELは、例えば、電気車に設置されるコンタクターコイル、発光ダイオード、ヒーターなどであり得る。
パワーサプライ20は、入力電圧VIN(例えば、12V)を生成するように構成される。パワーサプライ20は、例えば、鉛蓄電池及びDC-DCコンバータを含み得る。DC-DCコンバータは、鉛蓄電池からの直流電圧を降圧または昇圧することで入力電圧VINを生成し得る。
メインスイッチ30は、パワーサプライ20と電気負荷ELとの間に電気的に接続する。メインスイッチ30は、ソース端子、ドレイン端子及びゲート端子を有するPチャンネルMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect transistor)であり得る。メインスイッチ30のソース端子は、パワーサプライ20に電気的に接続する。メインスイッチ30のドレイン端子は、電気負荷ELに電気的に接続する。電気負荷ELの一端はメインスイッチ30のドレイン端子に電気的に接続し、電気負荷ELの他端は接地され得る。メインスイッチ30のゲート端子はドライバー回路100に電気的に接続し得る。メインスイッチ30は、メインスイッチ30のソース-ゲート電圧が臨界電圧以上である場合にオン状態になり、その外にはオフ状態になる。ソース-ゲート電圧は、ソース端子の電圧からゲート端子の電圧を差し引いた電圧を示す。
コントローラ40は、ドライバー回路100に制御信号CSを選択的に出力するように構成され得る。コントローラ40は、外部デバイス(例えば、電気車両のMCU(Micro Controller Unit))からの第1命令に応じて、制御信号CSを出力するように構成され得る。コントローラ40は、外部デバイスからの第2命令に応じて、制御信号CSの出力を中断するように構成され得る。外部デバイスは、電気車両のキーオン時に第1命令を出力し、電気車両のキーオフ時に第2命令を出力し得る。
制御信号CSは、電気負荷ELに入力電圧VINを供給するように(即ち、メインスイッチ30をターンオンするように)ドライバー回路100を誘導するためのものであり得る。即ち、コントローラ40がドライバー回路100に制御信号CSを出力するとき、ドライバー回路100は、メインスイッチ30をオン状態へ切り換える。一方、コントローラ40が制御信号CSの出力を中断する場合、ドライバー回路100は、メインスイッチ30をオフ状態へ切り換える。
コントローラ40は、メインスイッチ30のためのドライバーICとして提供されるものであって、ハードウェア的に、ASICs(application specific integrated circuits)、DSPs(digital signal processors)、DSPDs(digital signal processing devices)、PLDs(programmable logic devices)、FPGAs(field programmable gate arrays)、マイクロプロセッサー(microprocessors)、その他の機能遂行のための電気的ユニットのうち少なくとも一つを含むように具現され得る。また、コントローラ40にはメモリーデバイスが内蔵され得、メモリーデバイスとしては、例えば、RAM、ROM、レジスター、ハードディスク、光記録媒体または磁気記録媒体を用い得る。メモリーデバイスは、コントローラ40によって実行される各種制御ロジックを含むプログラム、及び/または制御ロジックが実行されるときに発生するデータを、保存、更新及び/または消去できる。
ドライバー回路100は、第1電圧分配器VD1、第1サブトランジスターQ1、第2サブトランジスターQ2及び第3サブトランジスターQ3を含む。ドライバー回路100は、第1抵抗素子RP1、第2抵抗素子RP2、第3抵抗素子RP3及び第4抵抗素子RP4の少なくとも一つをさらに含み得る。
第1電圧分配器VD1は、第1分配抵抗素子RD1及び第2分配抵抗素子RD2を含む。第1分配抵抗素子RD1と第2分配抵抗素子RD2とは、第1接続ノードN1を介いて直列接続する。第1分配抵抗素子RD1の抵抗(例えば、10kΩ)は、第2分配抵抗素子RD2の抵抗(例えば、1kΩ)よりも大きく予め決められていてもよい。第2分配抵抗素子RD2の抵抗は、第4抵抗素子RP4の抵抗と同一であってもよい。第1電圧分配器VD1の一端(即ち、第1分配抵抗素子RD1の一端)は、メインスイッチ30のソース端子に接続する。
第1サブトランジスターQ1は、第1電圧分配器VD1の他端(即ち、第2分配抵抗素子RD2の他端)と接地との間に電気的に接続する。即ち、第1分配抵抗素子RD1、第1接続ノードN1、第2分配抵抗素子RD2及び第1サブトランジスターQ1は、メインスイッチ30のソース端子と接地との間に順次に直列接続する。
第1サブトランジスターQ1は、コレクタ端子、エミッタ端子及びベース端子を有するNPNタイプトランジスターであり得る。第1サブトランジスターQ1のコレクタ端子は、第1電圧分配器VD1の他端に電気的に接続する。第1サブトランジスターQ1のエミッタ端子は接地される。第1サブトランジスターQ1のベース端子は、コントローラ40からの制御信号CSを受信できるように、所定の抵抗(例えば、75kΩ)を有する第3抵抗素子RP3を介してコントローラ40に電気的に接続する。
コントローラ40からの制御信号CSは、第3抵抗素子RP3を介して第1サブトランジスターQ1のベース端子に印加される。制御信号CSは、順方向電圧であって、第1サブトランジスターQ1のベース端子とエミッタ端子との間に印加され得る。
第2サブトランジスターQ2の一端は、メインスイッチ30のソース端子に電気的に接続する。第2サブトランジスターQ2の他端は、第3サブトランジスターQ3の一端に電気的に接続する。第2サブトランジスターQ2は、コレクタ端子、エミッタ端子及びベース端子を有するNPNタイプトランジスターであり得る。第2サブトランジスターQ2のコレクタ端子は、メインスイッチ30のソース端子に電気的に接続する。第2サブトランジスターQ2のエミッタ端子は、第3サブトランジスターQ3の一端(例えば、エミッタ端子)に電気的に接続する。第2サブトランジスターQ2のベース端子は、第1接続ノードN1に電気的に接続する。
第3サブトランジスターQ3の一端は、第2サブトランジスターQ2の他端に電気的に接続する。第3サブトランジスターQ3の他端は、第4抵抗素子RP4を介して接地に接続し得る。第3サブトランジスターQ3は、コレクタ端子、エミッタ端子及びベース端子を有するPNPタイプトランジスターであり得る。第3サブトランジスターQ3のエミッタ端子は、第2サブトランジスターQ2のエミッタ端子に電気的に接続する。第3サブトランジスターQ3のコレクタ端子は、所定の抵抗(例えば、1kΩ)を有する第4抵抗素子RP4を介して接地される。第3サブトランジスターQ3のベース端子は、第2サブトランジスターQ2のベース端子と共通的に、第1接続ノードN1に電気的に接続する。
第1抵抗素子RP1と第2抵抗素子RP2とは、第2接続ノードN2を介して直列接続する。第1抵抗素子RP1と第2抵抗素子RP2の直列回路は、第2サブトランジスターQ2に並列接続する。第1抵抗素子RP1の抵抗(例えば、10kΩ)は、第2抵抗素子RP2の抵抗(例えば、30Ω)よりも大きくなり得る。第1抵抗素子RP1の抵抗と第1分配抵抗素子RD1の抵抗とは、同一であり得る。第2抵抗素子RP2は、メインスイッチ30のゲート端子における急激な電圧変化を抑制するためのものである。
第2抵抗素子RP2がドライバー回路100から省略される場合、第1抵抗素子RP1は第2サブトランジスターQ2に並列接続する。この場合、メインスイッチ30のゲート端子は、第2接続ノードN2の代わりに第2サブトランジスターQ2及び第3サブトランジスターQ3の各々のエミッタ端子に共通して接続する。
図3は、図2に示したメインスイッチ30をオン状態に制御するための動作の説明に参照される図である。
図3を参照すれば、コントローラ40は、メインスイッチ30をオン状態へ切り換えるために、ドライバー回路100に制御信号CSを出力する。制御信号CSは、予め決められたハイレベルを有する電圧であって、第3抵抗素子RP3を介して第1サブトランジスターQ1に伝達される。即ち、第3抵抗素子RP3は、制御信号CSの伝達経路として機能する。
第1サブトランジスターQ1は、第1サブトランジスターQ1のベース端子に制御信号CSが印加されることに応じて、オン状態になる。第1サブトランジスターQ1がオン状態に維持される間、パワーサプライ20の入力電圧VINによる電流が第1電圧分配器VD1と第1サブトランジスターQ1を介して流れる。これによって、第1電圧分配器VD1は、パワーサプライ20の入力電圧VINを用いて、入力電圧VINよりも小さい第1スイチング電圧V1(例えば、1V)を第1接続ノードN1に生成する。第1スイチング電圧V1は、第2分配抵抗素子RD2にかかる電圧と第1サブトランジスターQ1にかかる電圧との和(即ち、第1接続ノードN1と接地との間の電圧)である。第1スイチング電圧V1は、第1接続ノードN1を介して第2サブトランジスターQ2及び第3サブトランジスターQ3の各々のベース端子に印加される。
第1サブトランジスターQ1がオン状態になる前には、第2サブトランジスターQ2及び第3サブトランジスターQ3の各々がオフ状態であるため、第2サブトランジスターQ2及び第3サブトランジスターQ3の各々のエミッタ端子の電圧は、メインスイッチ30のソース端子の電圧(即ち、VIN)と同一である。
したがって、第1サブトランジスターQ1がオフ状態からオン状態へ切り換えられる時点で、第2サブトランジスターQ2のベース端子とエミッタ端子との間に逆方向のバイアスがかかるので、第2サブトランジスターQ2はオフ状態に維持される。一方、第1サブトランジスターQ1がオフ状態からオン状態へ切り換えられる時点で、第3サブトランジスターQ3のエミッタ端子とベース端子との間に順方向バイアスがかかるので、第3サブトランジスターQ3はオフ状態からオン状態へ切り換えられる。
第3サブトランジスターQ3がオン状態に維持される間、パワーサプライ20の入力電圧VINによる電流が第1抵抗素子RP1、第2抵抗素子RP2、第3サブトランジスターQ3及び第4抵抗素子RP4を介して流れる。これによって、第1抵抗素子RP1にかかる電圧である第2スイチング電圧V2(たとえば、約11V)が生成される。
図示したように、第1抵抗素子RP1は、メインスイッチ30のソース端子とゲート端子との間に接続する。したがって、第3サブトランジスターQ3がオン状態に維持される間、メインスイッチ30のソース端子の電圧は、メインスイッチ30のゲート端子の電圧よりも第2スイチング電圧V2だけ高く維持される。即ち、メインスイッチ30のソース-ゲート電圧は、第2スイチング電圧V2と同一になる。メインスイッチ30は、ゲート端子の電圧がソース端子の電圧よりも臨界電圧以上に低い場合、オン状態へ切り換えられる。メインスイッチ30がオン状態に維持される間、パワーサプライ20からの入力電圧VINによる電力がメインスイッチ30を介して電気負荷ELに供給される。
図4は、図2に示したメインスイッチ30をオフ状態に制御するための動作の説明に参照される図である。
図4を参照すれば、コントローラ40は、メインスイッチ30をオフ状態へ切り換えるために、制御信号CSの出力を中断する。制御信号CSの出力を中断するということは、制御信号CSをハイレベルの電圧から予め決められたローレベルの電圧へ低めるということを意味する。
第1サブトランジスターQ1は、第1サブトランジスターQ1のベース端子に制御信号CSが印加されないことに応じて、オフ状態になる。第1サブトランジスターQ1がオフ状態に維持される間、パワーサプライ20の入力電圧VINによる電流が第1電圧分配器VD1を介して流れることができないので、第1接続ノードN1の電圧は、入力電圧VINと同一なる。したがって、入力電圧VINは、第1接続ノードN1を介して第2サブトランジスターQ2及び第3サブトランジスターQ3の各々のベース端子に印加される。
第1サブトランジスターQ1がオン状態からオフ状態になる直前の時点で、入力電圧VINよりも低い電圧(例えば、V1)が第2サブトランジスターQ2及び第3サブトランジスターQ3の各々のエミッタ端子に印加される。したがって、第1サブトランジスターQ1がオン状態からオフ状態になる時点で、第2サブトランジスターQ2のベース端子とエミッタ端子との間に順方向のバイアスがかかるので、第2サブトランジスターQ2はオフ状態からオン状態へ切り換えられる。一方、第3サブトランジスターQ3のエミッタ端子とベース端子との間に逆方向のバイアスがかかるので、第3サブトランジスターQ3はオフ状態へ切り換えられる。
第2サブトランジスターQ2がオン状態に維持される間、メインスイッチ30のソース端子の電圧とゲート端子の電圧とは相互に同一であるか、または同一であると看做すことができるほど非常に小さい差のみを有するようになり、メインスイッチ30はオフ状態になる。
図2~図4を参照して前述の実施例において注目すべきことは、メインスイッチ30がオン状態からオフ状態へ、またはオフ状態からオン状態へ制御する動作が、メインスイッチ30のドレイン電圧に影響を受けないということである。因みに、メインスイッチ30のドレイン電圧は、電気負荷ELのインダクタンス成分による共振現象によって変化できる。しかし、本発明によれば、メインスイッチ30のオンオフ制御は、メインスイッチ30のソース-ゲート電圧のみに依存するようになるので、電気負荷ELのインダクタンス成分によってメインスイッチ30が意図せずオン状態またはオフ状態になる問題を低減することができる。
図5は、本発明の第2実施例による制御装置10の構成を例示した図である。
図5に示した第2実施例による制御装置10については、図2~図4を参照して前述した第1実施例と共通する内容については重複する説明は省略し、相違点を中心にして説明する。
第2実施例の制御装置10と第1実施例制御装置10との相違点は、ドライバー回路100が第2電圧分配器VD2、第4サブトランジスターQ4及び放電抵抗素子RDCをさらに含むという点である。
図5を参照すれば、第2電圧分配器VD2は、第3分配抵抗素子RD3及び第4分配抵抗素子RD4を含む。第3分配抵抗素子RD3と第4分配抵抗素子RD4とは、第3接続ノードN3を介して直列接続する。第3分配抵抗素子RD3の抵抗(例えば、10kΩ)は、第4分配抵抗素子RD4の抵抗(例えば、1kΩ)よりも大きくなり得る。
第2電圧分配器VD2の一端(即ち、第3分配抵抗素子RD3の一端)は、第1接続ノードN1に接続し得る。または、第2電圧分配器VD2の一端、第1接続ノードN1の代わりに、第2サブトランジスターQ2のエミッタ端子または第2接続ノードN2に電気的に接続することもできる。第2電圧分配器VD2の他端(即ち、第4分配抵抗素子RD4の一端)は接地され得る。
第2電圧分配器VD2は、第1接続ノードN1、第2サブトランジスターQ2のエミッタ端子または第2接続ノードN2の電圧を用いて、第3スイチング電圧を第3接続ノードN3に生成する。第3スイチング電圧は、第4分配抵抗素子RD4にかかる電圧を指す。第3スイチング電圧は、第3接続ノードN3を介して第4サブトランジスターQ4のベース端子に印加される。
第4サブトランジスターQ4と放電抵抗素子RDCは、メインスイッチ30のドレイン端子と接地との間に直列接続する。例えば、図5のように、放電抵抗素子RDCの一端は、メインスイッチ30のドレイン端子に電気的に接続し、放電抵抗素子RDCの他端は、第4サブトランジスターQ4の一端(例えば、コレクタ)に電気的に接続し、第4サブトランジスターQ4の他端(例えば、エミッタ)は接地され得る。
第4サブトランジスターQ4は、コレクタ端子、エミッタ端子及びベース端子を有するNPNタイプトランジスターであり得る。第4サブトランジスターQ4のベース端子は、第3スイチング電圧を受けることができるように第3接続ノードN3に電気的に接続する。
第3接続ノードN3の電圧は、第1サブトランジスターQ1がオン状態であるときよりもオフ状態であるときにさらに大きい。具体的に、第1サブトランジスターQ1がオン状態であるときの第3スイチング電圧は、第4サブトランジスターQ4のターンオン電圧よりも低い一方、第1サブトランジスターQ1がオフ状態であるときの第3スイチング電圧は、第4サブトランジスターQ4のターンオン電圧よりも高い。したがって、第4サブトランジスターQ4は、第1サブトランジスターQ1がオフ状態である間に第3接続ノードN3を介して第4サブトランジスターQ4のベース端子に印加される第3スイチング電圧に応じてオン状態になる。一方、第1サブトランジスターQ1がオン状態である間には、第3スイチング電圧が充分に大きくないので、第4サブトランジスターQ4はオフ状態になる。
第4サブトランジスターQ4がオン状態である間、負荷EL、放電抵抗素子RDC及び第4サブトランジスターQ4を含む閉回路が形成される。閉回路が形成されるとき、負荷ELのインダクタンス成分によって電気負荷ELに残っている電気エネルギーは、放電抵抗素子RDCによって消耗される。これによって、電気負荷ELのインダクタンス成分によるメインスイッチ30の誤動作可能性がより効果的に低減される。
以上、本発明を限定された実施例と図面によって説明したが、本発明はこれに限定されず、本発明の属する技術分野で通常の知識を持つ者によって本発明の技術思想と特許請求の範囲の均等範囲内で多様な修正及び変形が可能であることは言うまでもない。
また、上述の本発明は、本発明が属する技術分野における通常の知識を持つ者によって本発明の技術思想から脱しない範囲内で多様な置換、変形及び変更が可能であるため、上述の実施例及び添付された図面によって限定されず、多様な変形が行われるように各実施例の全部または一部を選択的に組み合わせて構成可能である
[項目1]
ゲート端子、パワーサプライに接続するソース端子及び電気負荷に接続するドレイン端子を含むPチャンネルMOSFETを制御するためのドライバー回路であって、
上記PチャンネルMOSFETのソース端子に一端が接続し、第1接続ノードを介して直列接続する第1分配抵抗素子及び第2分配抵抗素子を含む第1電圧分配器と、
第1コレクタ端子、第1エミッタ端子及び第1ベース端子を含み、上記第1コレクタ端子が上記第1電圧分配器の他端に接続し、上記第1エミッタ端子が接地に接続する第1サブトランジスターと、
第2コレクタ端子、第2エミッタ端子及び第2ベース端子を含み、上記第2エミッタ端子が上記PチャンネルMOSFETの上記ゲート端子に接続し、上記第2ベース端子が上記第1接続ノードに接続する第2サブトランジスターと、
第3コレクタ端子、第3エミッタ端子及び第3ベース端子を含み、上記第3エミッタ端子が上記第2エミッタ端子に接続し、上記第3コレクタ端子が上記接地に接続する第3サブトランジスターと、
上記第2コレクタ端子と上記第2エミッタ端子との間に接続する第1抵抗素子を含む、ドライバー回路。
[項目2]
上記第1接続ノードが、上記第3ベース端子にさらに接続する、項目1に記載のドライバー回路。
[項目3]
上記第1分配抵抗素子の抵抗が、上記第2分配抵抗素子の抵抗よりも大きい、項目2に記載のドライバー回路。
[項目4]
上記第3エミッタ端子は、上記PチャンネルMOSFETの上記ゲート端子にさらに接続する、項目1に記載のドライバー回路。
[項目5]
上記第1電圧分配器は、上記第1サブトランジスターがオン状態である間、上記パワーサプライの入力電圧を用いて上記第1接続ノードに第1スイチング電圧を生成し、
上記第3サブトランジスターは、上記第3ベース端子に上記第1スイチング電圧が印加されることに応じてオン状態になる、項目1に記載のドライバー回路。
[項目6]
上記第3サブトランジスターがオン状態である間に、上記第1抵抗素子にかかる第2スイチング電圧が上記PチャンネルMOSFETの上記ソース端子と上記ゲート端子との間に印加される、項目5に記載のドライバー回路。
[項目7]
上記第1サブトランジスターがオフ状態である間、上記パワーサプライからの入力電圧が上記第1接続ノードを介して上記第2ベース端子及び上記第3ベース端子の各々に印加され、
上記第2サブトランジスターは、上記第2ベース端子に上記入力電圧が印加されることに応じてオン状態になり、
上記第3サブトランジスターは、上記第3ベース端子に上記入力電圧が印加されることに応じてオフ状態になり、
上記第2サブトランジスターがオン状態であり、上記第3サブトランジスターがオフ状態である間、上記入力電圧が上記第2エミッタ端子を介して上記PチャンネルMOSFETの上記ゲート端子に印加される、項目1に記載のドライバー回路。
[項目8]
上記第1サブトランジスター及び上記第2サブトランジスターの各々は、NPNタイプトランジスターであり、
上記第3サブトランジスターは、PNPタイプトランジスターである、項目1に記載のドライバー回路。
[項目9]
上記第2エミッタ端子と上記接地との間に接続し、第3接続ノードを介して直列接続する第3分配抵抗素子及び第4分配抵抗素子を含む第2電圧分配器と、
第4コレクタ端子、第4エミッタ端子及び第4ベース端子を含み、上記第4エミッタ端子が上記接地に接続し、上記第4ベース端子が上記第3接続ノードに接続する第4サブトランジスターと、
一端が上記PチャンネルMOSFETの上記ドレイン端子に接続し、他端が上記第4コレクタ端子に接続する放電抵抗素子をさらに含み、
上記第2電圧分配器は、上記第1サブトランジスターがオフ状態である間、上記第3接続ノードに第3スイチング電圧を生成し、
上記第4サブトランジスターは、上記第4ベース端子に印加される上記第3スイチング電圧に応じて、オン状態になる、項目1に記載のドライバー回路。
[項目10]
項目1から項目9のいずれか一項に記載の上記ドライバー回路を含む、制御装置。

Claims (12)

  1. ゲート端子、パワーサプライに接続するソース端子及び電気負荷に接続するドレイン端子を含むPチャンネルMOSFETを制御するためのドライバー回路であって、
    前記ソース端子に一端が接続され、第1接続ノードを介して直列接続される第1分配抵抗素子及び第2分配抵抗素子を含む第1電圧分配器と、
    第1コレクタ端子、第1エミッタ端子及び第1ベース端子を含み、前記第1コレクタ端子は前記第1電圧分配器の他端に接続され、前記第1エミッタ端子は接地に接続される第1サブトランジスターと、
    第2コレクタ端子、第2エミッタ端子及び第2ベース端子を含み、前記第2コレクタ端子は前記ソース端子に接続され、前記第2エミッタ端子は前記ゲート端子に接続され、前記第2ベース端子は前記第1接続ノードに接続される第2サブトランジスターと、
    第3コレクタ端子、第3エミッタ端子及び第3ベース端子を含み、前記第3エミッタ端子は前記第2エミッタ端子に接続され、前記第3コレクタ端子は前記接地に接続される第3サブトランジスターと、
    前記ソース端子と前記ゲート端子との間に接続される第1抵抗素子と、
    前記第2エミッタ端子と前記ゲート端子との間に接続される第2抵抗素子と、
    を備え、
    前記第1抵抗素子と前記第2抵抗素子とは、前記ゲート端子、前記第1抵抗素子および前記第2抵抗素子と接続された第2接続ノードを介して直列接続し、前記第1抵抗素子と前記第2抵抗素子の直列回路は、前記第2サブトランジスターに並列接続され
    前記第1抵抗素子の電気抵抗は、前記第2抵抗素子の電気抵抗よりも大きい、
    ドライバー回路。
  2. 前記第1抵抗素子の電気抵抗は、前記第1分配抵抗素子の電気抵抗と同一である、請求項に記載のドライバー回路。
  3. 前記第1接続ノードは、前記第3ベース端子に接続される、請求項1または2に記載のドライバー回路。
  4. 前記第1分配抵抗素子の電気抵抗は、前記第2分配抵抗素子の電気抵抗よりも大きい、請求項1からのいずれか一項に記載のドライバー回路。
  5. 前記第3エミッタ端子は、前記ゲート端子に接続される、請求項1からのいずれか一項に記載のドライバー回路。
  6. 前記第1電圧分配器は、前記第1サブトランジスターがオン状態である間、前記パワーサプライの入力電圧を用いて前記第1接続ノードに第1スイチング電圧を生成し、
    前記第3サブトランジスターは、前記第3ベース端子に前記第1スイチング電圧が印加されることに応じてオン状態になる、請求項1からのいずれか一項に記載のドライバー回路。
  7. 前記第3サブトランジスターがオン状態である間に、前記第1抵抗素子にかかる第2スイチング電圧が前記ソース端子と前記ゲート端子との間に印加される、請求項に記載のドライバー回路。
  8. 前記第1サブトランジスターがオフ状態である間、前記パワーサプライからの入力電圧が前記第1接続ノードを介して前記第2ベース端子及び前記第3ベース端子の各々に印加され、
    前記第2サブトランジスターは、前記第2ベース端子に前記入力電圧が印加されることに応じてオン状態になり、
    前記第3サブトランジスターは、前記第3ベース端子に前記入力電圧が印加されることに応じてオフ状態になり、
    前記第2サブトランジスターがオン状態であり、前記第3サブトランジスターがオフ状態である間、前記入力電圧が前記第2エミッタ端子を介して前記ゲート端子に印加される、請求項1からのいずれか一項に記載のドライバー回路。
  9. ドライバー回路のコントローラと前記第1ベース端子との間に接続される第3抵抗素子と、
    前記第3コレクタ端子と前記接地との間に接続される第4抵抗素子と、を備える、
    請求項1からのいずれか一項に記載のドライバー回路。
  10. 前記第1接続ノードと前記接地との間に接続され、第3接続ノードを介して直列接続される第3分配抵抗素子及び第4分配抵抗素子を含む第2電圧分配器と、
    第4コレクタ端子、第4エミッタ端子及び第4ベース端子を含み、前記第4エミッタ端子は前記接地に接続される、前記第4ベース端子は前記第3接続ノードに接続される第4サブトランジスターと、
    一端が前記PチャンネルMOSFETの前記ドレイン端子に接続され、他端は前記第4コレクタ端子に接続される放電抵抗素子と、を含み、
    前記第2電圧分配器は、前記第1サブトランジスターがオフ状態である間、前記第3接続ノードに第3スイチング電圧を生成し、
    前記第4サブトランジスターは、前記第4ベース端子に印加される前記第3スイチング電圧に応じて、オン状態になる、請求項1からのいずれか一項に記載のドライバー回路。
  11. 前記第1サブトランジスター及び前記第2サブトランジスターは、NPNタイプトランジスターであり、
    前記第3サブトランジスターは、PNPタイプトランジスターである、請求項1から10のいずれか一項に記載のドライバー回路。
  12. 請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の前記ドライバー回路を含む、制御装置。
JP2020560981A 2018-10-30 2019-10-28 Pチャンネルmosfetを制御するためのドライバー回路及びそれを含む制御装置 Active JP7260234B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2018-0131303 2018-10-30
KR1020180131303A KR102382253B1 (ko) 2018-10-30 2018-10-30 메인 스위치를 위한 드라이버 회로 및 그것을 포함하는 제어 장치
PCT/KR2019/014308 WO2020091356A1 (ko) 2018-10-30 2019-10-28 P채널 mosfet을 제어하기 위한 드라이버 회로 및 그것을 포함하는 제어 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021521724A JP2021521724A (ja) 2021-08-26
JP7260234B2 true JP7260234B2 (ja) 2023-04-18

Family

ID=70463435

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020560981A Active JP7260234B2 (ja) 2018-10-30 2019-10-28 Pチャンネルmosfetを制御するためのドライバー回路及びそれを含む制御装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11171642B2 (ja)
EP (1) EP3820047B1 (ja)
JP (1) JP7260234B2 (ja)
KR (1) KR102382253B1 (ja)
CN (1) CN112119589B (ja)
WO (1) WO2020091356A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102022211425A1 (de) 2022-10-27 2024-05-02 Inventronics Gmbh Schaltungsanordnung zum Ansteuern einer Last

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007174756A (ja) 2005-12-20 2007-07-05 Yazaki Corp 電力供給回路のオン故障検出装置
CN107959491A (zh) 2017-12-29 2018-04-24 英迪迈智能驱动技术无锡股份有限公司 一种高效节能型p+n沟道驱动电路

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4536699A (en) * 1984-01-16 1985-08-20 Gould, Inc. Field effect regulator with stable feedback loop
JPH0525945U (ja) 1991-09-13 1993-04-02 日本無線株式会社 電流制限回路
ES2101148T3 (es) * 1992-03-10 1997-07-01 Siemens Ag Circuito de proteccion para un mosfet de potencia, que acciona una carga inductiva.
JPH08140273A (ja) 1994-11-08 1996-05-31 Fujitsu Ltd 負荷短絡保護回路
KR100202195B1 (ko) * 1996-09-03 1999-06-15 문정환 과전원 차단 회로
US5815362A (en) 1996-12-04 1998-09-29 Westinghouse Air Brake Company Pulse width modulated drive for an infinitely variable solenoid operated brake cylinder pressure control valve
JP3394509B2 (ja) * 1999-08-06 2003-04-07 株式会社リコー 定電圧電源
JP3926975B2 (ja) * 1999-09-22 2007-06-06 株式会社東芝 スタック型mosトランジスタ保護回路
KR100933743B1 (ko) 2003-11-11 2009-12-24 두산인프라코어 주식회사 릴레이 접점 과열 방지회로
JP4592408B2 (ja) * 2004-12-07 2010-12-01 株式会社リコー 電源回路
JP2006319711A (ja) 2005-05-13 2006-11-24 Kyosan Electric Mfg Co Ltd ゲートドライブ回路
TWI323064B (en) * 2006-09-01 2010-04-01 Compal Electronics Inc Power supplying system with remote-controlling circuit and method for operating a power supplying system
JP4901445B2 (ja) * 2006-12-06 2012-03-21 ローム株式会社 駆動回路及びこれを用いた半導体装置
JP5112846B2 (ja) * 2007-12-27 2013-01-09 セイコーインスツル株式会社 電源切替回路
JP5305325B2 (ja) 2008-03-29 2013-10-02 新電元工業株式会社 異常検出保護回路及び方法、プログラム
TWI363474B (en) 2008-11-13 2012-05-01 Advanced Analog Technology Inc Bootstrap circuit and bulk circuit thereof
CN201656423U (zh) * 2010-03-02 2010-11-24 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 过压保护装置及使用其的电子设备
US8345398B2 (en) * 2010-09-30 2013-01-01 Telefonix, Incorporated Integrated variable output power supply protection circuit
DE112010006027T5 (de) 2010-12-22 2013-10-02 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Gate-Treiber für einen MOSFET-Schalter, MOSFET-Schalter-System und Verfahren
US9893510B2 (en) * 2012-12-17 2018-02-13 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Electronic circuit for protecting a load against over-voltage
US9917575B2 (en) 2013-07-08 2018-03-13 Infineon Technologies Ag Circuit comprising an accelerating element
US9753478B2 (en) 2014-06-06 2017-09-05 Electro-Motive Diesel, Inc. Temperature compensated current limiting mechanism
CN104124870B (zh) * 2014-08-08 2017-09-05 华为技术有限公司 开关电源
EP3148077B1 (en) * 2015-09-25 2019-07-17 Delta Electronics (Thailand) Public Co., Ltd. Driver for a p-channel mosfet
US9645594B2 (en) 2015-10-13 2017-05-09 STMicroelectronics Design & Application S.R.O. Voltage regulator with dropout detector and bias current limiter and associated methods
JP6467474B2 (ja) 2016-09-16 2019-02-13 旭化成エレクトロニクス株式会社 スイッチ装置
US10312906B2 (en) 2016-09-16 2019-06-04 Asahi Kasei Microdevices Corporation Switch apparatus
US9813009B1 (en) * 2017-02-07 2017-11-07 Ford Global Technologies, Llc Active gate clamping for inverter switching devices using grounded gate terminals
KR102356216B1 (ko) 2017-05-30 2022-01-28 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 발광소자 패키지 및 광원 장치
US10778019B2 (en) * 2017-07-20 2020-09-15 Connaught Electronics Ltd. Reverse current prevention for FET used as reverse polarity protection device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007174756A (ja) 2005-12-20 2007-07-05 Yazaki Corp 電力供給回路のオン故障検出装置
CN107959491A (zh) 2017-12-29 2018-04-24 英迪迈智能驱动技术无锡股份有限公司 一种高效节能型p+n沟道驱动电路

Also Published As

Publication number Publication date
KR20200048803A (ko) 2020-05-08
CN112119589B (zh) 2023-11-21
EP3820047A4 (en) 2021-10-27
KR102382253B1 (ko) 2022-04-01
EP3820047A1 (en) 2021-05-12
EP3820047B1 (en) 2024-04-03
WO2020091356A1 (ko) 2020-05-07
US20210258006A1 (en) 2021-08-19
US11171642B2 (en) 2021-11-09
JP2021521724A (ja) 2021-08-26
CN112119589A (zh) 2020-12-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101222315B1 (ko) 솔레노이드 구동 회로
US9787301B2 (en) Semiconductor switching device
JP6603287B2 (ja) 構成可能なクランプ回路
KR101069485B1 (ko) 모터 구동 회로
JP2017079534A (ja) ゲート制御回路
JP7260234B2 (ja) Pチャンネルmosfetを制御するためのドライバー回路及びそれを含む制御装置
US9791916B2 (en) Control circuit including load switch, electronic apparatus including the load switch, and control method thereof
JP7224935B2 (ja) 半導体装置
WO2013161201A1 (ja) 駆動装置
JP2014042394A (ja) スイッチング素子の駆動装置
JP2019190453A (ja) 噴射制御装置
US7319359B2 (en) High current charge pump for intelligent power switch drive
EP3624340A2 (en) Optically isolated latching solid state relay with low on resistance and linear operation
JP2011024368A (ja) 電力用半導体の駆動回路および駆動方法
KR20200020236A (ko) 전기 부하를 위한 구동 장치 및 그것을 포함하는 전자 기기
JP6365424B2 (ja) ブートストラップ・プリドライバ
JP6668474B2 (ja) 電子制御装置
US11863177B2 (en) H-bridge driver with output signal compensation
US20230016629A1 (en) Load drive device
JP6900662B2 (ja) スイッチング回路
JP7135810B2 (ja) 噴射制御装置
JP2018109832A (ja) 制御回路
JP2005268134A (ja) リレー駆動回路
JP2021175132A (ja) 電源切り替え装置
JP2023068978A (ja) 制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201104

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20201104

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20211208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211214

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20220215

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20220217

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220314

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20220314

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220816

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221110

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230307

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230404

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7260234

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150