JP6124217B2 - 固体撮像装置及びそれを用いたカメラシステム - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1の実施形態に係る積層型固体撮像装置の概略構成を示す図であり、図2は図1の画素11の構造を示す断面図である。
本実施形態の固体撮像装置では、光電導膜積層センサにおけるリセット雑音の抑圧が出来るが、さらにリセット雑音を抑圧する手段がある。本実施形態のリセット雑音はkTC雑音と呼ばれ、その電圧(En)は以下の式(1)で表される。
En = √(kT/C)= √(4kTRΔf) ・・・(1)
本実施形態を例にとると、蓄積ダイオードの電位を検出している電荷読出期間は、増幅トランジスタ113はソースフォロアとして回路動作しているため蓄積ダイオードの電位に影響は出ないが、検出していない期間は、増幅トランジスタ113のソースとドレインの影響が蓄積ダイオードの電位に強くでる。その原理を図8A及び図8Bの駆動で説明する。わかりやすくするため、信号電荷として正孔を取り扱う場合を想定して以下を記述する。
図9Aは、本発明の第2の実施形態に係る積層型固体撮像装置の詳細な回路構成を示す図である。図9Bは、1行分の画素信号の読み出しにおける、画素11に与えられる行リセット信号RESET及び行選択信号SEL、負荷トランジスタ130のゲートに与えられる駆動信号LGCELL、電源線125の電位(増幅トランジスタ113の拡散層51の電位)VDD並びにFD(蓄積ダイオード)の電位の時間変化を示す図である。なお、図9Bにおいて、時刻t0からt3までは画素信号を列信号線141に読み出す電荷読出期間であり、時刻t3からt4までは蓄積電荷を光電変換部111に蓄積する電荷蓄積期間である。また、図9Bにおいて、Aは「カップリングでFD電位下降、FD暗電流は減少する。」ことを示しており、Bは「理想的な電荷蓄積時のFD電位変化」を示しており、Cは「電荷読出期間はSF動作しているので、増幅トランジスタのゲート容量は動作に影響しない。」ことを示しており、Dは「LGCELLを0.0Vに下げることで、列信号線はフローティング。FD電位はカップリングにより降下。FD暗電流は減少する。」ことを示している。
図10Aは、本発明の第3の実施形態に係る積層型固体撮像装置の詳細な回路構成を示す図である。図10Bは、1行分の画素信号の読み出しにおける、画素11に与えられる行リセット信号RESET及び行選択信号SEL、負荷トランジスタ130のゲートに与えられる駆動信号LGCELL、電源線125の電位(増幅トランジスタ113の拡散層51の電位)VDD並びにFD(蓄積ダイオード)の電位の時間変化を示す図である。なお、図10Bにおいて、時刻t0からt3までは画素信号を列信号線141に読み出す電荷読出期間であり、時刻t3からt4までは蓄積電荷を光電変換部111に蓄積する電荷蓄積期間である。また、図10Bにおいて、Aは「カップリングでFD電位下降、FDリークは良化傾向になる。」ことを示しており、Bは「理想的な電荷蓄積時のFD電位変化」を示しており、Cは「電荷読出期間はSF動作しているので、増幅トランジスタのゲート容量は動作に影響しない。」ことを示しており、Dは「LOW電位を−1.0Vに下げることで、SFのダイナミックレンジを広げる。」ことを示しており、Eは「LGCELLを0.0Vに下げることで、垂直信号線はフローティング。FD電位はカップリングにより降下。FD暗電流減少。」を示している。
図11は、本発明の第4の実施形態に係る積層型固体撮像装置のチップ構成を示している。図12は画素部243およびその周辺回路の構成の詳細を示している。図13は、本実施形態に係る固体撮像装置の回路図である。
図17は、本発明における第5の実施形態の撮像装置(カメラシステム)の全体構成を示す図である。
11 画素
13 垂直走査部
15 水平走査部
21 列信号処理部
23 フィードバック回路
30 水平信号線
31 半導体基板
33 素子分離領域
41、42、43 ゲート電極
45 光電変換膜
46 画素電極
47 透明電極
51、52、53、54、55 拡散層
111 光電変換部
113 増幅トランジスタ
115 選択トランジスタ
117 リセットトランジスタ
121 アドレス制御線
123 リセット制御線
125 電源線
126 フィードバック線
127 列選択トランジスタ
130 負荷トランジスタ
131 光電変換部制御線
133 基準電圧端子
141 列信号線
142 水平出力端子
143 電源端子
151 リセット信号制御素子
212 フィードバックアンプ
214 垂直信号線リセットトランジスタ
217 フィードバック線リセットトランジスタ
219、225 コンデンサ
220 サンプルトランジスタ
222 クランプトランジスタ
226 CDS出力ノード
229 列走査回路
231 出力アンプ
233 行走査回路
237 画素リセット信号スイッチ
238 画素アドレス信号スイッチ
241 マルチプレクサ回路
243 画素部
250、1230 タイミング制御回路
251 基準電圧発生回路
252 センサチップ
1200 固体撮像装置
1210 撮像領域
1220 垂直選択回路
1240 光学系
1241 レンズ
1250 DSP
1260 カメラシステム制御部
1270 画像処理回路
1280 画像表示デバイス
1290 画像メモリ
Claims (7)
- 半導体基板と、
前記半導体基板に行列状に配置された複数の画素と、
前記画素の列ごとに形成された垂直信号線とを備え、
前記画素は、増幅トランジスタ、選択トランジスタ、リセットトランジスタ及び光電変換部を有し、
前記光電変換部は、前記半導体基板上方に形成された光電変換膜と、前記光電変換膜の上方に形成された透明電極と、前記光電変換膜の下方に形成された画素電極と、を有し、
前記光電変換膜は、入射光を電子正孔対に変換し、
前記リセットトランジスタは、前記画素電極と接続され、ソース及びドレインのどちらか一方である第1拡散層と、ソース及びドレインの他方である第2拡散層と、を有し、
前記第1拡散層は、前記電子正孔対のうち正孔を蓄積し、
前記画素電極及び前記第1拡散層は、前記増幅トランジスタのゲートに接続され、
前記増幅トランジスタは、デプレッション型であり、ソース及びドレインのいずれか一方である第3拡散層と、ソース及びドレインの他方である第4拡散層と、を有し、
前記増幅トランジスタでは、前記第3拡散層が前記垂直信号線と接続され、前記第4拡散層が電源線と接続され、
前記選択トランジスタは、前記第3拡散層と前記垂直信号線との間又は前記第4拡散層と前記電源線との間に挿入され、
前記増幅トランジスタの閾値電圧は、前記第1拡散層の初期化電位よりも低い
固体撮像装置。 - 前記選択トランジスタは、前記第3拡散層と前記垂直信号線との間に挿入され、
前記電源線は、前記選択トランジスタがオンしている期間において所定の電圧を供給し、前記選択トランジスタがオフしている期間において前記所定の電圧より低い電圧を供給する
請求項1に記載の固体撮像装置。 - 前記所定の電圧より低い電圧は、前記リセットトランジスタ及び前記選択トランジスタがオンしている期間において前記増幅トランジスタから前記垂直信号線に出力される電圧よりも低い
請求項2に記載の固体撮像装置。 - 前記固体撮像装置は、さらに、前記垂直信号線と固定電位との間に挿入された負荷トランジスタを備え、
前記選択トランジスタは、前記第4拡散層と前記電源線との間に挿入され、
前記選択トランジスタがオフしている期間では、前記負荷トランジスタがオフし、前記垂直信号線の電圧が前記第4拡散層の電圧よりも低い
請求項1に記載の固体撮像装置。 - 前記固定電位は、負電位である
請求項4に記載の固体撮像装置。 - 前記第2拡散層は、反転増幅器を介して、前記垂直信号線と接続されている
請求項1〜5のいずれか1項に記載の固体撮像装置。 - 請求項1〜6のいずれか1項に記載の固体撮像装置を備える
カメラシステム。
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