JP5807333B2 - ディレイラッチ回路、および、ディレイフリップフロップ - Google Patents
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Description
1.第1の実施の形態(トランジスタを追加したDフリップフロップ)
2.第2の実施の形態(NANDゲートおよび複合ゲートを備えたDフリップフロップ)
3.第3の実施の形態(NORゲートおよび複合ゲートを備えたDフリップフロップ)
4.第4の実施の形態(NANDゲートおよびNORゲートと複合ゲートとを備えたDフリップフロップ)
5.第5の実施の形態(NORゲートおよびNANDゲートと複合ゲートとを備えたDフリップフロップ)
[順序回路の構成]
図1は、本発明の実施の形態における順序回路100の一構成例を示す回路図である。この順序回路100は、インバータ110および120とDフリップフロップ130とを備える。Dフリップフロップ130は、マスタのDラッチ回路210と、スレーブのDラッチ回路220と、インバータ230および240とを備える。また、順序回路100には、データ信号Dおよびクロック信号CKが入力される。
図2は、本発明の第1の実施の形態におけるマスタのDラッチ回路210の一構成例を示す回路図である。Dラッチ回路210は、内部信号生成部300およびデータ保持部400を備える。
次に、図8乃至12を参照して、順序回路100の動作について説明する。図8は、本発明の第1の実施の形態におけるDラッチ回路210の動作の一例を示す真理値表である。Dラッチ回路210は、クロック信号がローレベル(L)の場合に、データ信号Dを透過して出力信号QMとして出力する。Dラッチ回路210は、クロック信号がハイレベル(H)の場合に、データ信号Dを出力信号QMとして保持するとともに出力する。
[順序回路の構成]
図14は、本発明の第2の実施の形態における順序回路101の一構成例を示す回路図である。この順序回路101は、Dフリップフロップ130の代わりにDフリップフロップ131を備える点以外は、第1の実施の形態の順序回路100と同様の構成である。Dフリップフロップ131は、マスタのDラッチ回路211とスレーブのDラッチ回路221とインバータ240とを備える。
図15は、本発明の第2の実施の形態におけるマスタのDラッチ回路211の一構成例を示す回路図である。Dラッチ回路211の構成は、データ保持部400の代わりにデータ保持部402を備える点以外は、第1の実施の形態のDラッチ回路220と同様の構成である。データ保持部402は、複合ゲート450を備える。
[順序回路の構成]
図17は、本発明の第3の実施の形態における順序回路102の一構成例を示す回路図である。この順序回路102は、Dフリップフロップ130の代わりにDフリップフロップ132を備える点以外は、第1の実施の形態の順序回路100と同様の構成である。Dフリップフロップ132は、マスタのDラッチ回路212とスレーブのDラッチ回路222とインバータ240とを備える。
図18は、本発明の第3の実施の形態におけるマスタのDラッチ回路212の一構成例を示す回路図である。Dラッチ回路212の構成は、データ保持部400の代わりにデータ保持部402を備える点以外は、第1の実施の形態のDラッチ回路210と同様の構成である。第3の実施の形態のデータ保持部402は、第2の実施の形態のデータ保持部402の構成と同様である。
[順序回路の構成]
図20は、本発明の第4の実施の形態における順序回路103の一構成例を示す回路図である。この順序回路103は、Dフリップフロップ130およびインバータ120の代わりにDフリップフロップ133を備える点以外は、第1の実施の形態の順序回路100と同様の構成である。Dフリップフロップ133は、マスタのDラッチ回路211とスレーブのDラッチ回路222とインバータ240とを備える。インバータ110からの反転クロック信号CKBは、Dラッチ回路211および222に入力される。
[順序回路の構成]
図21は、本発明の第5の実施の形態における順序回路104の一構成例を示す回路図である。この順序回路104は、Dフリップフロップ130とインバータ110および120との代わりにDフリップフロップ134を備える点以外は、第1の実施の形態の順序回路100と同様の構成である。Dフリップフロップ134は、マスタのDラッチ回路212とスレーブのDラッチ回路221とインバータ240とを備える。クロック信号CKは、Dラッチ回路212および221に入力される。
110、120、230、240 インバータ
130、131、132、133、134 Dフリップフロップ
210、211、212、220、221、222 Dラッチ回路
300、301 内部信号生成部
310、410、420 NORゲート
320、350 内部信号出力回路
321、322、351、352、360、411、412、431、432 pMOSトランジスタ
323、324、330、353、354、413、414、433、434 nMOSトランジスタ
340、430、440 NANDゲート
400、401、402、403 データ保持部
450、460 複合ゲート
Claims (6)
- データの透過が指示されてから第1の遅延時間が経過するとデータ信号を反転した信号を内部信号として生成し、データの保持が指示されてから前記第1の遅延時間が経過すると所定値に値を固定した信号を前記内部信号として生成する内部信号生成部と、
前記内部信号および帰還信号の一方が前記所定値に固定されると他方に基づいて生成した信号を出力信号として出力する信号出力回路と、
データの透過が指示されてから前記第1の遅延時間より短い第2の遅延時間が経過すると前記所定値に値を固定した信号を前記帰還信号として出力し、データの保持が指示されてから前記第2の遅延時間が経過すると前記出力信号に基づいて生成した信号を前記帰還信号として出力する帰還信号出力回路と
を具備するディレイラッチ回路。 - 前記内部信号生成部は、データの透過または保持を指示するクロック信号と前記データ信号とに対して否定論理和演算を実行した結果を前記内部信号として生成する
請求項1記載のディレイラッチ回路。 - 前記帰還信号出力回路は、前記クロック信号を反転した信号と前記出力信号とに対して否定論理和演算を実行した結果を帰還信号として出力し、
前記信号出力回路は、前記内部信号と前記帰還信号とに対して否定論理和演算を実行した結果を前記出力信号として出力する
請求項2記載のディレイラッチ回路。 - 前記内部信号生成部は、データの透過または保持を指示するクロック信号と前記データ信号とに対して否定論理積演算を実行した信号を前記内部信号として生成する
請求項1記載のディレイラッチ回路。 - 前記帰還信号出力回路は、前記クロック信号を反転した信号と前記出力信号とに対して否定論理積演算を実行した結果を帰還信号として出力し、
前記信号出力回路は、前記内部信号と前記帰還信号とに対して否定論理積演算を実行した結果を前記出力信号として出力する
請求項4記載のディレイラッチ回路。 - データの保持または透過を指示するクロック信号がローレベルに遷移したときから第1の遅延時間が経過するとデータ信号を反転した信号を第1の内部信号として生成し、前記クロック信号がハイレベルに遷移したときから前記第1の遅延時間が経過すると前記ローレベルに値を固定した信号を前記第1の内部信号として生成する第1の内部信号生成部と、前記第1の内部信号および第1の帰還信号の一方が前記ローレベルに固定されると他方に基づいて生成した信号を第1の出力信号として出力する第1の信号出力回路と、前記クロック信号を反転した反転クロック信号が前記ハイレベルに遷移したときから前記第1の遅延時間より短い第2の遅延時間が経過すると前記ローレベルに値を固定した信号を前記第1の帰還信号として出力し、前記反転クロック信号が前記ローレベルに遷移したときから前記第2の遅延時間が経過すると前記第1の出力信号に基づいて生成した信号を前記第1の帰還信号として出力する第1の帰還信号出力回路とを備える第1のディレイラッチ回路と、
前記第1の出力信号を反転して反転出力信号として出力する第1の反転部と、
前記クロック信号が前記ハイレベルに遷移したときから第3の遅延時間が経過すると前記反転出力信号を反転した信号を第2の内部信号として生成し、前記クロック信号が前記ローレベルに遷移したときから前記第3の遅延時間が経過すると前記ハイレベルに値を固定した信号を前記第2の内部信号として生成する第2の内部信号生成部と、前記第2の内部信号および第2の帰還信号の一方が前記ハイレベルに固定されると他方に基づいて生成した信号を第2の出力信号として出力する第2の信号出力回路と、前記反転クロック信号が前記ローレベルに遷移したときから前記第3の遅延時間より短い第4の遅延時間が経過すると前記ハイレベルに値を固定した信号を前記第2の帰還信号として出力し、前記反転クロック信号が前記ハイレベルに遷移したときから前記第4の遅延時間が経過すると前記第2の出力信号に基づいて生成した信号を前記第2の帰還信号として出力する第2の帰還信号出力回路とを備える第2のディレイラッチ回路と、
前記第2の出力信号を反転する第2の反転部と
を具備するディレイフリップフロップ。
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