JP5541848B2 - センサユニット - Google Patents

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Description

本発明は、センサユニットに関し、詳しくは、例えば3軸加速度センサによって検出されたX軸、Y軸、及びZ軸方向の複数の加速度値を補正するセンサユニットに関する。
従来、加速度センサの一つとして、3軸加速度センサが知られている(例えば特許文献1〜3参照)。3軸加速度センサ1は、公知のMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)技術を用いた静電容量型の加速度センサであり、互いに直交する3軸、即ちX軸、Y軸、及びZ軸方向に沿った複数の加速度値を容量値として検出する。
図1Aは、3軸加速度センサ1の出力を補正する従来のセンサユニット100の概略的な回路ブロック図である。
センサユニット100は、3軸加速度センサ1に接続されたC−V変換回路110と、TCO(Temperature Coefficient Offset)回路121〜123と、TCO回路121〜123にそれぞれ接続されたオペアンプ131〜133とを含む。C−V変換回路110は、センサ1から加速度の検出結果(容量値)を受け取り、その容量値を電圧値に変換して図1Bに示す入力信号Vinを生成する。
TCO回路121〜123は、3軸加速度センサ1の温度特性、即ち、センサ1により検出されたX軸、Y軸、及びZ軸方向の加速度値Ax,Ay,Azの温度依存を補正するための温度係数値TCx,TCy,TCzを生成する。尚、3つのTCO回路121〜123は同一構成であるので、TCO回路121について代表的に説明する。
TCO回路121には、温度係数値TCxを設定するトリミング信号Txが供給される。TCO回路121は、トリミング信号Txを受信するデコーダと、温度係数値TCxを保持するレジスタとを含む。TCO回路121は、トリミング信号Txをデコーダによりデコードし、そのデコード結果に基づいて、レジスタから温度係数値TCxを読み出す。TCO回路121から読み出された温度係数値TCxは、オペアンプ131に基準電圧として供給される。同様に、TCO回路122は、トリミング信号Tyをデコードして温度係数値TCyを読み出し、その温度係数値TCyをオペアンプ132に供給する。また、TCO回路123は、トリミング信号Tzをデコードして温度係数値TCzを読み出し、その温度係数値TCzをオペアンプ133に供給する。
オペアンプ131〜133の各々は、第1入力端子、第2入力端子、及び出力端子を有する。オペアンプ131〜133の第1入力端子とC−V変換回路110との間には入力信号Vinを保持する入力キャパシタ141が接続されている。オペアンプ131の第2入力端子、オペアンプ132の第2入力端子、及びオペアンプ133の第2入力端子には、TCO回路121〜123で生成された温度係数値TCx,TCy,TCzがそれぞれ供給される。オペアンプ131の第1入力端子と出力端子との間、オペアンプ132の第1入力端子と出力端子との間、オペアンプ133の第1入力端子と出力端子との間には、帰還キャパシタ151〜153がそれぞれ接続されている。
オペアンプ131は、入力信号Vin(加速度値Ax)と温度係数値TCx(基準電圧)との差を求め、その差を増幅して加速度信号Xoutを生成する。即ち、オペアンプ131は、加速度値Axを温度係数値TCxにより補正してX軸方向の加速度信号Xoutを生成する。同様に、オペアンプ132は、加速度値Ayを温度係数値TCyにより補正してY軸方向の加速度信号Youtを生成し、オペアンプ133は、加速度値Azを温度係数値TCzにより補正してZ軸方向の加速度信号Zoutを生成する。
このように従来のセンサユニット100は、X軸、Y軸及びZ軸方向の加速度値を3つのTCO回路121〜123から供給された個別の温度係数値TCx,TCy,TCzを用いて補正することで、センサ1のオフセット温度特性を補償する。
米国特許第6894482 B2号明細書 米国特許出願公開第2005/0199434 A1号明細書 米国特許出願公開第2004/0189340 A1号明細書
従来のセンサユニット100は、個別の温度係数値TCx,TCy,TCzを得るために、3つのTCO回路121〜123が必要である。上記したようにTCO回路121〜123の各々はデコーダとレジスタとを含む。このため、TCO回路の面積はそれ自体でも比較的大きい。それゆえ、3つのTCO回路121〜123がセンサユニット100のチップ面積に対して占める面積は極めて大きい。これは、センサユニット100を搭載するASICのチップサイズを大きくし、結果的に、チップコストを増大させる。近年は、加速度センサの価格低下が一層要求されているため、加速度センサの出力回路として用いられるセンサユニットのチップサイズも小さくする必要がある。
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであって、その目的は、チップサイズを低減し得る加速度センサ用ユニット、好適には3軸加速度センサ用センサユニットを提供することにある。
本発明の一つの態様は、センサユニットである。当該センサユニットは、複数の軸方向に沿った複数の加速度値をそれぞれ検出する加速度センサに接続されている。当該センサユニットは、複数の加速度値をそれぞれ補正するための複数の補正値を順次生成する補正値生成回路と、前記複数の補正値を前記補正値生成回路から受け取り、該対応する補正値を用いて前記複数の加速度値を順次補正して複数の被補正加速度値を生成する補正回路とを含む。
本発明は、加速度センサ、好適には3軸加速度センサ用センサユニットのチップサイズを低減することができる。
以下、本発明の一実施形態のセンサユニット10を図面を参照して説明する。
図2は、一実施形態のセンサユニット10の概略的な回路ブロック図である。尚、図2に示すセンサユニット10において、図1Aに示すセンサユニット100と同一構成要素には同一符号を付している。一実施形態のセンサユニット10は、3軸加速度センサ1に接続されている。3軸加速度センサ1は、X軸、Y軸、及びZ軸方向の加速度値Ax,Ay,Azをそれぞれ静電容量値として検出する。
センサユニット10は、C−V変換回路110と、TCO回路(補正値生成回路)12と、C−V変換回路110及びTCO回路12に接続された出力回路(補正回路)14とを含む。C−V変換回路110は、3軸加速度センサ1から加速度の検出結果(容量値)を受け取り、その容量値を電圧値に変換して入力信号Vin(図1B参照)を生成する。
TCO回路12は、トリミング信号Tx,Ty,Tyとクロック信号CKx,CKy,CKzを受け、3軸加速度センサ1の温度特性を補正する補正信号Vtcoを生成する。一実施形態では、TCO回路12は、補正信号Vtcoの電圧レベルを変化させることにより、加速度値Ax,Ay,Azを個別に補正するための温度係数値(補正値)TCx,TCy,TCz(図4参照)を順次生成する。
出力回路14は、第1〜第3スイッチドキャパシタ(SC)回路21〜23と、第1〜第3SC回路21〜23と協働して出力処理を行う第1〜第3オペアンプ(増幅回路)31〜33とを含む。第1〜第3オペアンプ31〜33は同一構成であり、第1〜第3SC回路21〜23は同一構成である。従って、ここでは第1SC回路21、第1オペアンプ31、及び第1SC回路21と第1オペアンプ31との接続関係を代表的に説明する。
第1SC回路21は、スイッチ41〜47と、入力キャパシタ48と、帰還キャパシタ49とを含む。スイッチ41は、TCO回路12の出力端子に接続された第1端子と、入力キャパシタ35の第1電極に接続された第2端子とを有する。入力キャパシタ35の第2電極はC−V変換回路110の出力端子に接続されている。スイッチ42は、スイッチ41の第2端子に接続された第1端子と、第1オペアンプ31の第1入力端子に接続された第2端子とを有する。スイッチ43は、スイッチ41の第1端子に接続された第1端子と、第1オペアンプ31の第2入力端子及び入力キャパシタ48の第1電極に接続された第2端子とを有する。入力キャパシタ48の第2電極はグランドに接続されている。スイッチ44は、スイッチ42の第2端子に接続された第1端子と、帰還キャパシタ49の第1電極に接続された第2端子とを有する。スイッチ45は、スイッチ44の第2端子に接続された第1端子と、スイッチ41の第1端子(即ちTCO回路12)に接続された第2端子とを有する。スイッチ46は、帰還キャパシタ49の第2電極に接続された第1端子と、スイッチ45の第2端子(即ちTCO回路12)に接続された第2端子とを有する。スイッチ47は、スイッチ46の第1端子に接続された第1端子と、第1オペアンプ31の出力端子に接続された第2端子とを有する。第1オペアンプ31の第1入力端子と出力端子との間には、帰還キャパシタ50が接続されている。
スイッチ41,43,45,46は、TCO回路12からリセット信号s1として供給される第1パルスφ1によってオンされる。スイッチ42,44,47は、TCO回路12からサンプリング信号s2として供給される第2パルスφ2によってオンされる。第1及び第2パルスφ1,φ2は互いに異なる位相で生成される。詳しくは、第2パルスφ2は、第1パルスφ1の立ち下がりから数ナノ秒経過後に立ち上がる(図14参照)。第2パルスφ2は、第1パルスφ1よりも長いパルス幅を有する。
第1リセット・フェーズRP1の期間、スイッチ41,43,45,46は第1パルスφ1によってオンされる。このときスイッチ42,44,47はオフされる。C−V変換回路110に接続された入力キャパシタ35の第2電極には、X軸方向の加速度値Axに対応する電圧レベル(図1B参照)にて入力信号Vinが印加される。また、TCO回路12は、補正信号Vtcoを温度係数値TCxに対応する電圧レベルで生成し、その電圧(TCx)を第1リセット・フェーズRP1の期間に亘って保持する(図4参照)。ゆえに、入力キャパシタ35の第1電極、入力キャパシタ48の第1電極、帰還キャパシタ49の第1及び第2電極には、温度係数値TCxに対応する電圧が印加される。従って、入力キャパシタ35には、加速度値Axに対応する電荷が蓄積され、入力キャパシタ48には、温度係数値TCxに対応する電荷が蓄積される。帰還キャパシタ49の第1及び第2電極間の電位は補正信号Vtcoによってリセットされる。
第1サンプル・フェーズSP1の期間、スイッチ42,44,47は第2パルスφ2によってオンされる。このときスイッチ41,43,45,46はオフされる。図4に示すように、第1サンプル・フェーズSP1は第1リセット・フェーズRP1に続いて始まる。第1サンプル・フェーズSP1の期間、第1オペアンプ31の第1入力端子には、入力キャパシタ35に蓄積された電荷に基づいて、加速度値Axに対応する電圧が印加される。また、第1オペアンプ31の第2入力端子には、入力キャパシタ48に蓄積された電荷に基づいて、温度係数値TCxに対応する電圧が印加される。更に、第1オペアンプ31の第1入力端子と出力端子との間には、帰還キャパシタ49,50が並列に接続される。第1オペアンプ31は、第1入力端子に供給された加速度値Ax(入力電圧)と第2入力端子に供給された温度係数値TCx(基準電圧)との差を演算し、その差を増幅してX軸方向の加速度信号Xout(被補正加速度値)を生成する。即ち、第1オペアンプ31はX軸方向の加速度値Axを温度係数値TCxを用いて補正する。
第1ホールド・フェーズHP1の期間、スイッチ41〜47は全てオフされる。この第1ホールド・フェーズHP1は第1サンプル・フェーズSP1に続いて始まり、第1オペアンプ31は、第1ホールド・フェーズHP1の期間に亘って加速度信号Xoutを保持する。このように、第1オペアンプ31は、第1SC回路21と協働して、第1リセット・フェーズRP1、第1サンプル・フェーズSP1、及び第1ホールド・フェーズHP1からなる出力サイクルを繰り返し、X軸方向における加速度値Axの補正動作を行う。
第2SC回路22は、スイッチ51〜57と、入力キャパシタ58と、帰還キャパシタ59とを含む。第2オペアンプ32と第2SC回路22との接続は、第1オペアンプ31と第1SC回路21との接続と同じであるので、詳細な説明は省略する。
スイッチ51,53,55,56は、TCO回路12からリセット信号s3として供給される第3パルスφ3によってオンされる。スイッチ52,54,57は、TCO回路12からサンプリング信号s4として供給される第4パルスφ4によってオンされる。第3及び第4パルスφ3,φ4は互いに異なる位相で生成される。詳しくは、第4パルスφ4は、第3パルスφ3の立ち下がりから数ナノ秒経過後に立ち上がる。第4パルスφ4は、第3パルスφ3よりも長いパルス幅を有する。
第2リセット・フェーズRP2の期間、スイッチ51,53,55,56は第3パルスφ3によってオンされる。このときスイッチ52,54,57はオフされる。図4に示すように、第2リセット・フェーズRP2は、第1サンプル・フェーズSP1に続いて始まり、第1ホールド・フェーズHP1とオーバーラップされる。第2リセット・フェーズRP2の期間、C−V変換回路110に接続された入力キャパシタ35の第2電極には、Y軸方向の加速度値Ayに対応する電圧レベル(図1B参照)にて入力信号Vinが印加される。TCO回路12は、補正信号Vtcoを温度係数値TCyに対応する電圧レベルで生成し、その電圧(TCy)を第2リセット・フェーズRP2の期間に亘って保持する(図4参照)。ゆえに、入力キャパシタ35の第1電極、入力キャパシタ58の第1電極、帰還キャパシタ59の第1及び第2電極には、温度係数値TCyに対応する電圧が印加される。従って、入力キャパシタ35には、加速度値Ayに対応する電荷が蓄積され、入力キャパシタ58には、温度係数値TCyに対応する電荷が蓄積される。更に、帰還キャパシタ59の第1及び第2電極間の電位は補正信号Vtcoによってリセットされる。
第2サンプル・フェーズSP2の期間、スイッチ52,54,57は第4パルスφ4によってオンされる。このときスイッチ51,53,55,56はオフされる。図4に示すように、第2サンプル・フェーズSP2は第2リセット・フェーズRP2に続いて始まる。第2サンプル・フェーズSP2の期間、第2オペアンプ32の第1入力端子には、入力キャパシタ35に蓄積された電荷に基づいて、加速度値Ayに対応する電圧が印加される。また、第2オペアンプ32の第2入力端子には、入力キャパシタ58に蓄積された電荷に基づいて、温度係数値TCyに対応する電圧が印加される。更に、第2オペアンプ32の第1入力端子と出力端子との間には、帰還キャパシタ59,60が並列に接続される。第2オペアンプ32は、第1入力端子に供給された加速度値Ay(入力電圧)と第2入力端子に供給された温度係数値TCy(基準電圧)との差を演算し、その差を増幅してY軸方向の加速度信号Yout(被補正加速度値)を生成する。即ち、第2オペアンプ32はY軸方向の加速度値Ayを温度係数値TCyを用いて補正する。
第2ホールド・フェーズHP2の期間、スイッチ51〜57は全てオフされる。この第2ホールド・フェーズHP2は第2サンプル・フェーズSP2に続いて始まり、第2オペアンプ32は、第2ホールド・フェーズHP2の期間に亘って加速度信号Youtを保持する。このように、第2オペアンプ32は、第2SC回路22と協働して、第2リセット・フェーズRP2、第2サンプル・フェーズSP2、及び第2ホールド・フェーズHP2からなる出力サイクルを繰り返し、Y軸方向における加速度値Ayの補正動作を行う。
第3SC回路23は、スイッチ61〜67と、入力キャパシタ68と、帰還キャパシタ69とを含む。第3オペアンプ33と第3SC回路23との接続は、第1オペアンプ31と第1SC回路21との接続と同じであるので、詳細な説明は省略する。
スイッチ61,63,65,66は、TCO回路12からリセット信号s5として供給される第5パルスφ5によってオンされる。スイッチ62,64,67は、TCO回路12からサンプリング信号s6として供給される第6パルスφ6によってオンされる。第5及び第6パルスφ5,φ6は互いに異なる位相で生成される。詳しくは、第6パルスφ6は、第5パルスφ5の立ち下がりから数ナノ秒経過後に立ち上がる。第6パルスφ6は、第5パルスφ5よりも長いパルス幅を有する。
第3リセット・フェーズRP3の期間、スイッチ61,63,65,66は第5パルスφ5によってオンされる。このときスイッチ62,64,67はオフされる。図4に示すように、第3リセット・フェーズRP3は、第2サンプル・フェーズSP2に続いて始まり、第1及び第2ホールド・フェーズHP1,HP2とオーバーラップされる。この第3リセット・フェーズRP3の期間、C−V変換回路110に接続された入力キャパシタ35の第2電極には、Z軸方向の加速度値Azに対応する電圧レベル(図1B参照)にて入力信号Vinが印加される。TCO回路12は、補正信号Vtcoを温度係数値TCzに対応する電圧レベルで生成し、その電圧(TCz)を、第3リセット・フェーズRP3の期間に亘って保持する(図4参照)。ゆえに、入力キャパシタ35の第1電極、入力キャパシタ68の第1電極、帰還キャパシタ69の第1及び第2電極には、温度係数値TCzに対応する電圧が印加される。従って、入力キャパシタ35には、加速度値Azに対応する電荷が蓄積され、入力キャパシタ68には、温度係数値TCzに対応する電荷が蓄積される。さらに、帰還キャパシタ69の第1及び第2電極間の電位は補正信号Vtcoによってリセットされる。
第3サンプル・フェーズSP3の期間、スイッチ62,64,67は第6パルスφ6によってオンされる。このときスイッチ61,63,65,66はオフされる。図4に示すように、第3サンプル・フェーズSP3は第3リセット・フェーズRP3に続いて始まる。第3サンプル・フェーズSP3の期間、第3オペアンプ33の第1入力端子には、入力キャパシタ35に蓄積された電荷に基づいて、加速度値Azに対応する電圧が印加される。また、第3オペアンプ33の第2入力端子には、入力キャパシタ68に蓄積された電荷に基づいて、温度係数値TCzに対応する電圧が印加される。更に、第3オペアンプ33の第1入力端子と出力端子との間には、帰還キャパシタ69,70が並列に接続される。第3オペアンプ33は、第1入力端子に供給された加速度値Az(入力電圧)と第2入力端子に供給された温度係数値TCz(基準電圧)との差を演算し、その差を増幅してZ軸方向の加速度信号Zout(被補正加速度値)を生成する。即ち、第3オペアンプ33はZ軸方向の加速度値Azを温度係数値TCzを用いて補正する。
第3ホールド・フェーズHP3の期間、スイッチ61〜67は全てオフされる。この第3ホールド・フェーズHP3は第3サンプル・フェーズSP3に続いて始まり、第3オペアンプ33は、第3ホールド・フェーズHP3の期間に亘って加速度信号Zoutを保持する。このように、第3オペアンプ33は、第3SC回路23と協働して、第3リセット・フェーズRP3、第3サンプル・フェーズSP3、及び第3ホールド・フェーズHP3からなる出力サイクルを繰り返し、Z軸方向における加速度値Azの補正動作を行う。
次に、TCO回路12の具体的構成を図3A,図3Bに従って説明する。図3Aは、TCO回路12のデコーダ72(制御回路)を示す概略的なブロック図であり、図3Bは、TCO回路12のレジスタ74を示す概略的な回路図である。
図3Aに示すように、デコーダ72には、温度係数値TCx,TCy,TCzを設定するトリミング信号Tx,Ty,Tzが供給される。更に、デコーダ72には、トリミング信号Tx,Ty,Tzによって設定された温度係数値TCx,TCy,TCzを順次発生するためのクロック信号CKx,CKy,CKzが供給される。デコーダ72は、トリミング信号Tx,Ty,Tzとクロック信号CKx,CKy,CKzとに基づいて、リセット信号s1,s3,s5(パルスφ1,φ3,φ5)、サンプリング信号s2,s4,s6(パルスφ2,φ4,φ6)及びスイッチ制御信号s11〜s18を生成する。
詳述すると、図4に示すように、時刻t1で、デコーダ72は、クロック信号CKxの立ち上がり及びクロック信号CKzの立ち下がりに応答して、リセット信号s5(φ5)を立ち下げるとともに、サンプリング信号s6(φ6)を立ち上げる。そして、デコーダ72は、第3サンプル・フェーズSP3に相当するパルス幅で第6パルスφ6を生成し、時刻t2でリセット信号s1(φ1)を立ち上げる。
次いで、時刻t3で、デコーダ72は、クロック信号CKxの立ち下がり及びクロック信号CKyの立ち上がりに応答して、リセット信号s1(φ1)を立ち下げるとともに、サンプリング信号s2(φ2)を立ち上げる。なお、リセット信号s1(φ1)のパルス幅は第1リセット・フェーズRP1に相当する。その後、デコーダ72は、第1サンプル・フェーズSP1に相当するパルス幅で第2パルスφ2を生成し、時刻t4で、リセット信号s3(φ3)を立ち上げる。
次いで、時刻t5で、デコーダ72は、クロック信号CKyの立ち下がり及びクロック信号CKzの立ち上がりに応答して、リセット信号s3(φ3)を立ち下げるとともに、サンプリング信号s4(φ4)を立ち上げる。なお、リセット信号s3(φ3)のパルス幅は第2リセット・フェーズRP2に相当する。その後、デコーダ72は、第2サンプル・フェーズSP2に相当するパルス幅で第4パルスφ4を生成し、時刻t6で、リセット信号s5(φ5)を立ち上げる。
次いで、時刻t7で、デコーダ72は、クロック信号CKzの立ち下がり及びクロック信号CKxの立ち上がりに応答して、リセット信号s5(φ5)を立ち下げるとともに、サンプリング信号s6(φ6)を立ち上げる。なお、リセット信号s5(φ5)のパルス幅は第3リセット・フェーズRP3に相当する。その後、デコーダ72は、第3サンプル・フェーズSP3に相当するパルス幅で第6パルスφ6を生成し、時刻t8で、リセット信号s1(φ1)を立ち上げる。このように、デコーダ72は、各クロック信号CKx,CKy,CKzの論理状態に基づいて、リセット信号s1,s3,s5及びサンプリング信号s2,s4,s6を制御する。
更に、デコーダ72は、クロック信号CKxがHレベルのとき(即ち、時刻t1−t3の間)、トリミング信号Txをデコードして、そのデコード結果を示すスイッチ制御信号s11〜s18をレジスタ74に供給する。同様に、デコーダ72は、クロック信号CKyがHレベルのとき(即ち、時刻t3−t5の間)、トリミング信号Tyのデコード結果を示すスイッチ制御信号s11〜s18をレジスタ74に供給し、クロック信号CKzがHレベルのとき(即ち、時刻t5−t7の間)、トリミング信号Tzのデコード結果を示すスイッチ制御信号s11〜s18をレジスタ74に供給する。
図3Bに示すように、レジスタ74は、電源Vdd及びグランドGND間に直列接続された抵抗回路81a〜81lと、スイッチ91〜98とを含む。8つの抵抗回路81a〜81lは、好適には、抵抗回路81c,81d,81f,81h,81k,81lの各々が正抵抗特性(図中、「+R」で示す)を有し、抵抗回路81a,81b,81e,81g,81i,81jの各々が負抵抗特性(図中、「−R」で示す)を有するように構成されている。なお、正抵抗特性の場合、抵抗回路の抵抗値は、温度の上昇に伴って上昇し、負抵抗特性の場合、抵抗回路の抵抗値は、温度の上昇に伴って低下する。
スイッチ91〜98は、抵抗回路81a,81b,81c,81d,81i,81j,81k,81lに、それぞれ並列に接続されている。抵抗回路81f,81g間の接続点は、補正信号Vtcoを出力する出力ノードN1として規定される。スイッチ91〜98は、デコーダ72(図3A)から供給されたスイッチ制御信号s11〜s18(デコード結果)に応答してオン・オフされる。従って、レジスタ74は、各スイッチ91〜98のオン/オフに基づいて、電源Vdd及びグランドGND間に接続すべき抵抗回路(正抵抗回路、及び負抵抗回路)の数を変更する。その結果、TCO回路12(即ち、ノードN1)から出力される補正信号Vtcoの電圧レベルが変更され、温度係数値TCx,TCy,TCzが順次生成される。
次に、上記のように構成されたセンサユニット10の作用を図4〜図13に従って説明する。
図5は、第3サンプル・フェーズSP3(例えば、図4の時刻t1−t2)のスイッチング状態を示すセンサユニット10の回路図、図6は、第1リセット・フェーズRP1(例えば、図4の時刻t2−t3)のスイッチング状態を示すセンサユニット10の回路図である。
図5及び図6に示すように、レジスタ74は、第3サンプル・フェーズSP3及び第1リセット・フェーズRP1の双方の期間、デコーダ72からのスイッチ制御信号s11〜s18(トリミング信号Txのデコード結果)に応答して、スイッチ92,93,95,96をオンし、スイッチ91,94,97,98をオフする。そして、レジスタ74は、抵抗回路81a,81d〜81h,81k,81lの各抵抗値に基づいて、補正係数値TCxを与える補正信号Vtcoを生成する。このとき、補正信号Vtcoは、図11に示すような、傾き「V1/T1」(V1,T1>0)を持つ直線で表される第1温度特性を有する。従って、レジスタ74(即ち、TCO回路12)は、任意の温度に対応する補正係数値TCxを生成可能である。
TCO回路12によって生成された補正係数値TCxは、第1リセット・フェーズRP1(図6)の期間に、第1SC回路21の入力キャパシタ48に保持される。更に、この第1リセット・フェーズRP1の期間には、C−V変換回路110から供給されるX軸方向の加速度値Ax(図1B)が入力キャパシタ35に保持される。
図7は、第1サンプル・フェーズSP1(例えば、図4の時刻t3−t4)のスイッチング状態を示すセンサユニット10の回路図、図8は、第2リセット・フェーズRP2(例えば、図4の時刻t4−t5)のスイッチング状態を示すセンサユニット10の回路図である。
図7及び図8に示すように、レジスタ74は、第1サンプル・フェーズSP1及び第2リセット・フェーズRP2の双方の期間、デコーダ72からのスイッチ制御信号s11〜s18(トリミング信号Tyのデコード結果)に応答して、スイッチ93〜96をオンし、スイッチ91,92,97,98をオフする。そして、レジスタ74は、抵抗回路81a,81b,81e〜81h,81k,81lの各抵抗値に基づいて、補正係数値TCyを与える補正信号Vtcoを生成する。このとき、補正信号Vtcoは、図12に示すような、傾き「V2/T1」(V2>V1)を持つ直線で表される第2温度特性を有する。従って、レジスタ74(即ち、TCO回路12)は、任意の温度に対応する補正係数値TCyを生成可能である。
上記したように、入力キャパシタ35,48にそれぞれ保持された加速度値Ax,補正係数値TCxは、第1サンプル・フェーズSP1(図7)の期間に、第1オペアンプ31によって取り込まれる。そして、第1オペアンプ31は、補正及び増幅動作を行ってX軸方向の加速度信号Xoutを生成し、その加速度信号Xoutを第1ホールド・フェーズHP1(図4参照)に亘って保持する。
一方、TCO回路12によって生成された補正係数値TCyは、第1ホールド・フェーズHP1と同時に開始される第2リセット・フェーズRP2(図8)の期間に、第2SC回路22の入力キャパシタ58に保持される。更に、上記したように、この第2リセット・フェーズRP2の期間には、C−V変換回路110から供給されるY軸方向の加速度値Ay(図1B)が入力キャパシタ35に保持される。
図9は、第2サンプル・フェーズSP2(例えば、図4の時刻t5−t6)のスイッチング状態を示すセンサユニット10の回路図、図10は、第3リセット・フェーズRP3(例えば、図4の時刻t6−t7)のスイッチング状態を示すセンサユニット10の回路図である。
図9及び図10に示すように、レジスタ74は、第2サンプル・フェーズSP2及び第3リセット・フェーズRP3の双方の期間、デコーダ72からのスイッチ制御信号s11〜s18(トリミング信号Tzのデコード結果)に応答して、スイッチ91,92,97,98をオンし、スイッチ93〜96をオフする。そして、レジスタ74は、抵抗回路81c〜81jの各抵抗値に基づいて、補正係数値TCzを与える補正信号Vtcoを生成する。このとき、補正信号Vtcoは、図13に示すような、傾き「−V3/T1」(V3>0)を持つ直線で表される第3温度特性を有する。従って、レジスタ74(即ち、TCO回路12)は、任意の温度に対応する補正係数値TCzを生成可能である。
上記したように、入力キャパシタ35,58にそれぞれ保持された加速度値Ay,補正係数値TCyは、第2サンプル・フェーズSP2(図9)の期間に、第2オペアンプ32によって取り込まれる。そして、第2オペアンプ32は、補正及び増幅動作を行ってY軸方向の加速度信号Youtを生成し、その加速度信号Youtを第2ホールド・フェーズHP2(図4参照)に亘って保持する。
一方、TCO回路12によって生成された補正係数値TCzは、第2ホールド・フェーズHP2と同時に開始される第3リセット・フェーズRP3(図10)の期間に、第3SC回路23の入力キャパシタ68に保持される。更に、上記したように、この第3リセット・フェーズRP3の期間には、C−V変換回路110から供給されるZ軸方向の加速度値Az(図1B)が入力キャパシタ35に保持される。
入力キャパシタ35,68にそれぞれ保持された加速度値Az,補正係数値TCzは、第3サンプル・フェーズSP3(図5)の期間に、第3オペアンプ33によって取り込まれる。そして、第3オペアンプ33は、補正及び増幅動作を行ってZ軸方向の加速度信号Zoutを生成し、その加速度信号Zoutを第3ホールド・フェーズHP3(図4参照)に亘って保持する。
このように、センサユニット10の出力回路14は、TCO回路12によって順次生成された補正係数値TCx,TCy,TCzを、それぞれリセット・フェーズの期間に第1〜第3SC回路21〜23によって取り込む。そして、出力回路14は、X軸、Y軸、及びZ軸方向の加速度値Ax,Ay,Azを、それぞれサンプル・フェーズの期間に第1〜第3オペアンプ31〜33によって補正し、その補正された信号(加速度信号Xout,Yout,Zout)をそれぞれホールド・フェーズの期間に保持する。従って、本発明では、センサユニット10のTCO回路の数を1つにすることができる。
次に、TCO回路12のクロックタイミングの特徴を図14に従って詳しく説明する。ここでは、クロック信号CKxについて代表的に説明する。
図14の左に示すクロックタイミングでは、TCO回路12は、クロック信号CKxの立ち上がりに同期してリセット信号s1(パルスφ1)を立ち上げる(時刻t11)。その後、TCO回路12は、リセット信号s1を立ち下げてから数ナノ秒経過後にサンプリング信号s2(パルスφ2)を立ち上げ(時刻t12)、クロック信号CKxの立ち下がりに同期してサンプリング信号s2を立ち下げる。上記したように、TCO回路12は、クロック信号CKxのHレベルの期間に補正信号Vtco(この場合、補正係数値TCx)を生成する。しかしながら、図14に示すように、この補正信号Vtcoの立ち上がりが、寄生容量等の影響によって鈍る可能性がある。その結果、リセット・フェーズRP1の期間に補正信号Vtcoが不安定なレベルで取り込まれ、入力キャパシタ48に十分な電荷量がチャージされない可能性がある。
そこで、一実施形態では、図14の右図(図4の拡大図)に示すようなクロックタイミングが設定されている。即ち、TCO回路12は、クロック信号CKxのレベル(Hレベル状態)が安定した状態でリセット信号s1(パルスφ1)を立ち上げる(時刻t11)。そして、TCO回路12は、クロック信号CKxの立ち下がりに同期してリセット信号s1を立ち下げる(時刻t12)。従って、リセット・フェーズRP1の期間に、安定したレベルの補正信号Vtcoを取り込むことができ、入力キャパシタ48に十分な電荷量をチャージすることができる。
以上記述した一実施形態のセンサユニット10は、以下の利点を有する。
(1)TCO回路12は、X軸、Y軸、及びZ軸方向の加速度値Ax,Ay,Azをそれぞれ補正するための補正係数値TCx,TCy,TCzを順次生成する。出力回路14は、第1〜第3SC回路21〜23と、第1〜第3オペアンプ31〜33とを含む。第1SC回路21は、入力キャパシタ35に加速度値Axが保持されるとき、TCO回路12の第1パルスφ1(第1リセット信号s1)に応答して補正係数値TCxを保持する。次いで、第1SC回路21は、TCO回路12の第2パルスφ2(第1サンプリング信号s2)に応答して加速度値Ax及び補正係数値TCxを第1オペアンプ31に供給する。第2SC回路22は、入力キャパシタ35に加速度値Ayが保持されるとき、TCO回路12の第3パルスφ3(第2リセット信号s3)に応答して補正係数値TCyを保持する。次いで、第2SC回路22は、TCO回路12の第4パルスφ4(第2サンプリング信号s2)に応答して加速度値Ay及び補正係数値TCyを第2オペアンプ32に供給する。第3SC回路23は、入力キャパシタ35に加速度値Azが保持されるとき、TCO回路12の第5パルスφ5(第3リセット信号s5)に応答して補正係数値TCyを保持する。次いで、第3SC回路23は、TCO回路12の第6パルスφ6(第3サンプリング信号s6)に応答して加速度値Az及び補正係数値TCzを第3オペアンプ33に供給する。従って、センサユニット10は、単一のTCO回路12を用いて、3軸加速度センサ1の出力(加速度値Ax,Ay,Az)を補正することができる。
(2)第1〜第3SC回路21〜23は、補正係数値TCx,TCy,TCzのレベルがそれぞれ安定している状態でそれらを取り込む(図14参照)。従って、加速度値Ax,Ay,Azの補正を高度に行うことができる。
なお、上記実施形態は、以下のように変形してもよい。
・本発明のセンサユニットは、3軸加速度センサに限らず、例えば2軸加速度センサに適用してもよい。この場合、2つのスイッチドキャパシタ回路と2つのオペアンプを設ければよい。
・レジスタ74に設ける抵抗回路(正抵抗回路、負抵抗回路)の数や、スイッチの数を適宜変更してもよい。
3軸加速度センサに接続された従来のセンサユニットの概略的なブロック回路図。 図1AのC−V変換回路により生成される入力信号(X軸、Y軸、及びZ軸方向の加速度値)の概略的な波形図。 3軸加速度センサに接続された一実施形態のセンサユニットの概略的なブロック回路図。 図2のTCO回路に配置されるデコーダのブロック図。 図2のTCO回路に配置されるレジスタの概略的な回路図。 図2のセンサユニットの概略的な動作波形図。 Z軸方向の加速度を取り込むときのスイッチ状態を示すセンサユニットの回路図。 X軸方向の加速度を補正する温度係数値を取り込むときのスイッチ状態を示すセンサユニットの回路図。 X軸方向の加速度を取り込むときのスイッチ状態を示すセンサユニットの回路図。 Y軸方向の加速度を補正する温度係数値を取り込むときのスイッチ状態を示すセンサユニットの回路図。 Y軸方向の加速度を取り込むときのスイッチ状態を示すセンサユニットの回路図。 Z軸方向の加速度を補正する温度係数値を取り込むときのスイッチ状態を示すセンサユニットの回路図。 図6のスイッチ状態のレジスタにより生成される補正信号の温度特性を表す概略的なグラフ。 図8のスイッチ状態のレジスタにより生成される補正信号の温度特性を表す概略的なグラフ。 図10のスイッチ状態のレジスタにより生成される補正信号の温度特性を表す概略的なグラフ。 図4の波形図の拡大図。
符号の説明
1:加速度センサ、10:センサユニット、12:TCO回路(補正値生成回路)、14:出力回路(補正回路)、Ax,Ay,Az:加速度値、TCx,TCy,TCz:温度係数値(補正値)、Xout,Yout,Zout:加速度信号(被補正加速度値)。

Claims (8)

  1. 複数の軸方向に沿った複数の加速度値をそれぞれ検出する加速度センサに接続されたセンサユニットであって、
    前記加速度センサに接続され、前記複数の加速度値を順次保持する入力キャパシタと、
    前記複数の加速度値をそれぞれ補正するための複数の補正値を順次生成する補正値生成回路と、
    前記複数の補正値を前記補正値生成回路から受け取り、該対応する補正値を用いて前記複数の加速度値を順次補正して複数の被補正加速度値を生成する補正回路と、
    を備え、
    前記補正回路は、
    前記入力キャパシタ及び前記補正値生成回路に切り替え可能に接続され、前記複数の補正値をそれぞれ保持する複数のスイッチドキャパシタ回路と、
    前記複数のスイッチドキャパシタ回路にそれぞれ接続された複数のオペアンプであって、前記複数のオペアンプの各々は、前記入力キャパシタ及び前記補正値生成回路に接続された対応するスイッチドキャパシタ回路を介して前記入力キャパシタから複数の加速度値の1つを受け取り、該受け取った加速度値を、対応するスイッチドキャパシタ回路に保持された補正値により補正する、前記複数のオペアンプと、を含む、センサユニット。
  2. 請求項1記載のセンサユニットにおいて、
    前記補正値生成回路は、複数のクロック信号に従って前記複数の補正値を順次生成する、センサユニット。
  3. 請求項1又は2記載のセンサユニットにおいて、
    前記加速度センサは、X軸、Y軸、及びZ軸方向にそれぞれ沿った第1、第2、及び第3加速度値を検出し、前記補正値生成回路は、前記第1、第2、及び第3加速度値をそれぞれ補正するための第1、第2、及び第3補正値を生成し、
    前記補正回路の前記複数のスイッチドキャパシタ回路および前記複数のオペアンプは、
    前記加速度センサ及び前記補正値生成回路に接続され、前記第1補正値を保持する第1スイッチドキャパシタ回路と、
    前記第1スイッチドキャパシタ回路に接続され、前記第1スイッチドキャパシタ回路を介して前記第1加速度値と前記第1補正値を受け取り、第1の被補正加速度値を生成する第1オペアンプと、
    前記加速度センサ及び前記補正値生成回路に接続され、前記第2補正値を保持する第2スイッチドキャパシタ回路と、
    前記第2スイッチドキャパシタ回路に接続され、前記第2スイッチドキャパシタ回路を介して前記第2加速度値と前記第2補正値を受け取り、第2の被補正加速度値を生成する第2オペアンプと、
    前記加速度センサ及び前記補正値生成回路に接続され、前記第3補正値を保持する第3スイッチドキャパシタ回路と、
    前記第3スイッチドキャパシタ回路に接続され、前記第3スイッチドキャパシタ回路を介して前記第3加速度値と前記第3補正値を受け取り、第3の被補正加速度値を生成する第3オペアンプと、
    を含む、センサユニット。
  4. 請求項記載のセンサユニットは更に、
    前記加速度センサと前記第1〜第3スイッチドキャパシタ回路との間に接続され、前記
    第1〜第3加速度値を順次保持する入力キャパシタを備え、
    前記入力キャパシタが前記第1加速度値を保持するとき、前記第1スイッチドキャパシタ回路は前記第1補正値を保持し、
    前記入力キャパシタが前記第2加速度値を保持するとき、前記第2スイッチドキャパシタ回路は前記第2補正値を保持し、
    前記入力キャパシタが前記第3加速度値を保持するとき、前記第3スイッチドキャパシタ回路は前記第3補正値を保持する、センサユニット。
  5. 請求項記載のセンサユニットにおいて、
    前記補正値生成回路は、
    第1〜第3クロック信号に従って前記第1〜第3補正値を順次生成し、
    前記第1補正値及び前記第1加速度値を前記第1オペアンプによって取り込むための第1サンプリング信号を、前記第1クロック信号の非活性及び前記第2クロック信号の活性に同期して生成し、
    前記第2補正値及び前記第2加速度値を前記第2オペアンプによって取り込むための第2サンプリング信号を、前記第2クロック信号の非活性及び前記第3クロック信号の活性に同期して生成し、
    前記第3補正値及び前記第3加速度値を前記第3オペアンプによって取り込むための第3サンプリング信号を、前記第3クロック信号の非活性及び前記第1クロック信号の活性に同期して生成し、
    前記第1補正値を前記第1スイッチドキャパシタ回路によって保持するための第1リセット信号を、前記第3サンプリング信号に続いて生成し、
    前記第2補正値を前記第2スイッチドキャパシタ回路によって保持するための第2リセット信号を、前記第1サンプリング信号に続いて生成し、
    前記第3補正値を前記第3スイッチドキャパシタ回路によって保持するための第3リセット信号を、前記第2サンプリング信号に続いて生成する、センサユニット。
  6. 請求項乃至の何れか一項記載のセンサユニットにおいて、
    前記補正値生成回路は、
    前記第1〜第3補正値を順次出力するための出力ノードを含む直列接続された複数の抵抗回路と、
    前記複数の抵抗回路の少なくとも2つに並列に接続された少なくとも2つのスイッチと、
    前記少なくとも2つのスイッチを制御して、前記第1〜第3補正値を前記出力ノードに順次発生させる制御回路と、
    を含む、センサユニット。
  7. 請求項記載のセンサユニットにおいて、
    前記複数の抵抗回路は、正抵抗特性を有する第1抵抗回路と、負抵抗特性を有する第2抵抗回路とを含む、センサユニット。
  8. 請求項1記載のセンサユニットにおいて、
    前記複数の加速度値は温度依存性を有し、前記複数の補正値の各々は前記温度依存性を補正するための温度係数値である、センサユニット。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101685102B (zh) * 2009-04-17 2012-06-13 幻音科技(深圳)有限公司 三轴加速度计的精度调整装置与调整方法
US8096179B2 (en) * 2009-04-09 2012-01-17 Freescale Semiconductor, Inc. Sensor device with reduced parasitic-induced error
JP5257897B2 (ja) * 2009-06-01 2013-08-07 フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド 出力回路
JP5673574B2 (ja) * 2012-01-27 2015-02-18 株式会社デンソー 物理量検出装置
KR101252791B1 (ko) * 2012-04-04 2013-04-09 주식회사 마이크로어드벤텍 디지털 센서 바이어스 보정장치 및 방법
JP6020711B2 (ja) * 2013-04-02 2016-11-02 富士電機株式会社 静電容量型センサ、及び非線形出力の補正方法
TWI513182B (zh) * 2013-06-19 2015-12-11 Coretex Technology Corp 切換式電容濾波器及其濾波方法
JP6661937B2 (ja) * 2015-09-28 2020-03-11 富士電機株式会社 加速度補正データ算出装置及び加速度センサの製造方法
EP3495826B1 (fr) * 2017-12-07 2020-11-25 EM Microelectronic-Marin SA Dispositif électronique de mesure d'un paramètre physique
CN109116051B (zh) * 2018-10-31 2020-12-15 中国船舶重工集团公司第七0七研究所 高精度加速度计分辨率测试方法
TWI759855B (zh) 2020-09-10 2022-04-01 財團法人工業技術研究院 感測裝置以及校正方法
CN117825749B (zh) * 2024-03-04 2024-05-24 四川芯音科技有限公司 一种三轴加速度传感器处理电路

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3634023A1 (de) * 1986-10-07 1988-04-21 Bodenseewerk Geraetetech Integriertes, redundantes referenzsystem fuer die flugregelung und zur erzeugung von kurs- und lageinformationen
EP0461265B1 (en) 1989-12-28 1995-05-10 Wacoh Corporation Acceleration sensors
US6864677B1 (en) 1993-12-15 2005-03-08 Kazuhiro Okada Method of testing a sensor
US5531092A (en) 1989-12-28 1996-07-02 Okada; Kazuhiro Device for moving a suspended weight body
US6314823B1 (en) 1991-09-20 2001-11-13 Kazuhiro Okada Force detector and acceleration detector and method of manufacturing the same
US5421213A (en) 1990-10-12 1995-06-06 Okada; Kazuhiro Multi-dimensional force detector
DE69124377T2 (de) 1991-03-30 1997-06-12 Kazuhiro Okada Beschleunigungssensor mit Selbsttest
JPH08304448A (ja) * 1995-05-11 1996-11-22 Nikon Corp 力学量検出器および力学量検出方法
JPH0968472A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Tokin Corp 圧力センサ
JPH09113534A (ja) * 1995-10-23 1997-05-02 Yoshinobu Matsumoto 加速度センサー
JPH09318649A (ja) * 1996-05-30 1997-12-12 Texas Instr Japan Ltd 複合センサ
US6023664A (en) * 1996-10-16 2000-02-08 Automotive Systems Laboratory, Inc. Vehicle crash sensing system
JP3262013B2 (ja) * 1997-02-24 2002-03-04 三菱電機株式会社 容量型センサインターフェース回路
AU2001253093A1 (en) * 2000-04-04 2001-10-15 Rosemount Aerospace Inc. Three axis accelerometer
JP2003166999A (ja) * 2001-12-03 2003-06-13 Denso Corp 半導体力学量センサ
US7409291B2 (en) * 2003-02-28 2008-08-05 Stmicroelectronics S.R.L. Device for automatic detection of states of motion and rest, and portable electronic apparatus incorporating it
US20060112754A1 (en) * 2003-04-11 2006-06-01 Hiroshi Yamamoto Method and device for correcting acceleration sensor axis information
JP3978728B2 (ja) * 2003-07-17 2007-09-19 日立金属株式会社 多軸センサ装置
US7398688B2 (en) * 2003-12-11 2008-07-15 Proteus Biomedical, Inc. Pressure sensor circuits
JP2005308531A (ja) * 2004-04-21 2005-11-04 Matsushita Electric Works Ltd 加速度センサ補正回路
JP4229885B2 (ja) * 2004-08-18 2009-02-25 株式会社デンソー 容量式物理量検出装置
JP2006078310A (ja) 2004-09-09 2006-03-23 Nippon Seiki Co Ltd 半導体センサ装置
JP2006113036A (ja) * 2004-10-13 2006-04-27 Ryuichi Yokota 測定装置とセンサの校正方法

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