JP5375247B2 - 反射防止膜の形成方法及び光学素子 - Google Patents
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Description
本発明の反射防止膜の形成方法は、(1)(a) 溶媒中でアルコキシシランを塩基性触媒により加水分解・重合してアルカリ性ゾルを調製し、(b) これに酸性触媒を添加してさらに加水分解・重合することにより第一の酸性ゾルを調製し、(2) 溶媒中でアルコキシシランを酸性触媒により加水分解・重合して第二の酸性ゾルを調製し、(3) 第一及び第二の酸性ゾルを混合し、(4) 得られた混合ゾルを基材に塗布し、(5) 乾燥し、(6) 得られたシリカエアロゲル膜をアルカリで処理し、(7) 乾燥する工程を有する。必要に応じて、工程(7)の前及び/又は後に、(8) 洗浄工程を設けてもよい。基材上に予め緻密膜を形成し、その上にシリカエアロゲル膜を形成した後、アルカリで処理し、多層の反射防止膜を形成してもよい。
(a) 塩基性触媒による加水分解・重合
溶媒中でアルコキシシランを塩基性触媒により加水分解・重合してアルカリ性ゾルを調製する。
(i) 原料
アルコキシシランとしてはテトラアルコキシシランが好ましい。3官能以下のアルコキシシランを原料とすると、比較的大きなメジアン径を有するゾルを得るのが困難となる。ただし本発明の効果を阻害しない範囲で、テトラアルコキシシランと、少量の3官能以下のアルコキシシランとを含むアルコキシシランを用いてもよい。テトラアルコキシシランはモノマーでも、オリゴマーでも良い。テトラアルコキシシランモノマーは、式:Si(OR)4により表される。式中のRとしては、炭素数1〜5のアルキル基又は炭素数1〜4のアシル基が好ましく、メチル基、エチル基、n-プロピル基、i-プロピル基、n-ブチル基、sec-ブチル基、tert-ブチル基、アセチル基等が挙げられる。
溶媒にアルコキシシランを溶解させる。溶媒/アルコキシシランのモル比は3〜100にするのが好ましい。このモル比を3未満にすると、ゾルの粒径が大きくなり過ぎる。一方100超にすると、ゾルの粒径が小さくなり過ぎる。アルコキシシランの溶液に、塩基性触媒及び水を添加する。塩基性触媒/アルコキシシランのモル比は1×10-4〜1にするのが好ましく、1×10-4〜0.8にするのがより好ましく、3×10-4〜0.5にするのが最も好ましい。このモル比が1×10-4未満であると、アルコキシシランの加水分解反応が十分に起こらない。一方1超としても、触媒効果は増大しない。水/アルコキシシランのモル比は0.1〜5にするのが好ましい。このモル比が5超であると、加水分解反応が速く進行し過ぎる。一方0.1未満であると、アルコキシシランの加水分解が十分に起こらない。
得られたアルカリ性ゾルに、酸性触媒、水及び溶媒を添加し、さらに加水分解・重合して第一の酸性ゾルを調製する。酸性触媒の例として塩酸、硝酸、燐酸、硫酸及び酢酸が挙げられる。溶媒は上記と同じでよい。
以上のようにして、溶媒中でアルコキシシランを塩基性触媒及び酸性触媒をこの順に用いて加水分解・重合して得られる第一の酸性ゾルのメジアン径は100 nm以下であり、好ましくは1nm〜50 nmである。メジアン径は動的光散乱法により測定する(以下同じ)。
溶媒中でアルコキシシランを酸性触媒により加水分解・重合して第二の酸性ゾルを調製する。溶媒及び酸性触媒は上記と同じでよい。アルコキシシランとしては、2〜4官能のアルコキシシランが使用できる。テトラアルコキシシランは上記と同じでよい。アルコキシシランはモノマーでも、オリゴマーでも良い。2官能及び3官能のアルコキシシランモノマーは、式:Si(OR1)x(R2)4-xにより表される(ただしxは2又は3である)。式中のR1としては、上記の炭素数1〜5のアルキル基又は炭素数1〜4のアシル基が好ましい。R2としては、炭素数1〜10の有機基が好ましく、メチル基、エチル基、n-プロピル基、i-プロピル基、n-ブチル基、tert-ブチル基、n-ヘキシル基、シクロヘキシル基、n-オクチル基、tert-オクチル基、n-デシル基、フェニル基、ビニル基、アリル基等の無置換の炭化水素基、及びγ-クロロプロピル基、CF3CH2-基 、CF3CH2CH2-基、C2F5CH2CH2-基 、C3F7CH2CH2CH2-基、CF3OCH2CH2CH2-基、C2F5OCH2CH2CH2-基 、C3F7OCH2CH2CH2-基 、(CF3)2CHOCH2CH2CH2-基 、C4F9CH2OCH2CH2CH2-基、3-(パーフルオロシクロヘキシルオキシ)プロピル基、H(CF2)4CH2OCH2CH2CH2-基、H(CF2)4CH2CH2CH2-基、γ-グリシドキシプロピル基、γ-メルカプトプロピル基、3,4-エポキシシクロヘキシルエチル基、γ-メタクリロイルオキシプロピル基等の置換炭化水素基が挙げられる。
上記のようにして得られた第一及び第二の酸性ゾルを混合し、第一及び第二の酸性ゾルの混合物を、1〜30℃で1分〜6時間程度ゆっくり撹拌する。必要に応じて、混合物を30℃超〜80℃以下の温度に加熱しながら撹拌してもよい。
混合ゾルを基材の表面に塗布する。混合ゾルの塗布方法として、スピンコート法、スプレーコート法、ディップコート法、フローコート法、バーコート法、リバースコート法、フレキソ法、印刷法及びこれらを併用する方法等が挙げられる。中でもスピンコート法及びスプレーコート法は、膜の均一化、膜厚の制御等が容易であるので好ましい。得られるゲル膜の物理膜厚は、例えばスピンコート法における基材回転速度の調整、混合ゾルの濃度の調整等により制御することができる。スピンコート法における基材回転速度は1,000〜15,000 rpm程度にするのが好ましい。
塗布した混合ゾルから溶媒を揮発させ、シリカエアロゲル膜を形成する。塗布膜の乾燥条件は特に制限されず、基材の耐熱性等に応じて適宜選択すればよい。上記溶媒は揮発性であるので、自然乾燥することができるが、溶媒の沸点±20℃で15分〜24時間熱処理した後、100〜200℃の温度で15分〜24時間熱処理して乾燥を促進するのが好ましい。ただし熱処理温度の上限は、基材のガラス転移温度が好ましく、ガラス転移温度−100℃がより好ましい。熱処理温度を基材のガラス転移温度超にすると、基材が変形する。熱処理中にシリカエアロゲルを構成する粒子同士の結合が強くなるので、耐擦傷性が向上する。
シリカエアロゲル膜をアルカリで処理する。これにより耐擦傷性が一層向上する。アルカリとして、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、アンモニア等の無機アルカリ;、炭酸ナトリウム、炭酸水素ナトリウム、炭酸アンモニウム、炭酸水素アンモニウム等の無機アルカリ塩;モノメチルアミン、ジメチルアミン、トリメチルアミン、モノエチルアミン、ジエチルアミン、トリエチルアミン、n-プロピルアミン、ジ-n-プロピルアミン、n-ブチルアミン、ジ-n-ブチルアミン、n-アミルアミン、n-ヘキシルアミン、ラウリルアミン、エチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、アニリン、メチルアニリン、エチルアニリン、シクロヘキシルアミン、ジシクロヘキシルアミン、ピロリジン、ピリジン、イミダゾール、グアニジン、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラエチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラブチルアンモニウムハイドロオキサイド、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、コリン等の有機アルカリ;蟻酸アンモニウム、酢酸アンモニウム、蟻酸モノメチルアミン、酢酸ジメチルアミン、酢酸アニリン、乳酸ピリジン、グアニジノ酢酸等の有機酸アルカリ塩等を用いることができる。
アルカリ処理したシリカエアロゲル膜を乾燥する。乾燥は、100〜200℃の温度で15分〜24時間行うのが好ましい。
必要に応じて、乾燥の前及び/又は後に、アルカリ処理シリカエアロゲル膜を洗浄してもよい。洗浄は、水に浸漬する方法、水をシャワーする方法、又はこれらの組合せにより行うことができる。水に浸漬する場合、超音波処理してもよい。洗浄温度は、1〜40℃の範囲が好ましい。洗浄時間は0.2〜15分が好ましい。水はアルカリ処理シリカエアロゲル膜1cm2当たり0.01〜1,000 mL使用するのが好ましい。乾燥後に洗浄する場合、上記条件で再び乾燥する。
基材上に予め緻密膜を形成し、その上に上記シリカエアロゲル膜を形成した後、アルカリで処理して多層の反射防止膜を形成してもよい。緻密膜は、金属酸化物等の無機材料からなる層(「無機層」と言う)、無機微粒子とバインダからなる複合層(「無機微粒子−バインダ複合層」又は単に「複合層」と言う)、又は樹脂からなる層のいずれでも良い。緻密膜の材料は、基材の屈折率より小さく、アルカリ処理シリカエアロゲル膜の屈折率より大きな屈折率を有するものの中から選択する。
上記形成方法により得られる反射防止膜はアルカリ処理シリカエアロゲル膜からなるか、アルカリ処理シリカエアロゲル膜と単層又は多層の緻密膜との多層膜からなる。アルカリ処理シリカエアロゲル膜の物理膜厚は15〜500 nmが好ましく、70〜170 nmがより好ましい。アルカリ処理シリカエアロゲル膜の物理膜厚は混合ゾルの濃度や、塗布の回数等によって適宜調製できる。
本発明の光学素子は、光学基材の表面に上記反射防止膜を有する。光学基材の材料は、ガラス、結晶性材料及びプラスチックのいずれでも良い。光学基材の材料の具体例として、BK7、LASF01、LASF016、LaFK55、LAK14、SF5等の光学ガラス、パイレックス(登録商標)ガラス、石英、青板ガラス、白板ガラス、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、ポリカーボネート(PC)、鎖状又は環状のポリオレフィン等が挙げられる。これらの材料の屈折率は1.45〜1.85の範囲内である。光学基材の形状としては、平板状、レンズ状、プリズム状、ライトガイド状、フィルム状、回折素子状等が挙げられる。
(1) 第一の酸性ゾルの調製
(a) 塩基性触媒による加水分解・重合
テトラエトキシシラン17.05 gとメタノール69.13 gとを混合した後、アンモニア水(3N)3.88 gを加えて室温で15時間撹拌し、アルカリ性ゾルを調製した。
アルカリ性ゾル40.01 gに、メタノール2.50 gと塩酸(12 N)1.71 gとを添加して室温で30分間撹拌し、第一の酸性ゾル(固形分:4.94質量%)を調製した。
室温でテトラエトキシシラン30 mLと、エタノール30 mLと、水2.4 mLとを混合した後、塩酸(1N)0.1 mLを加え、60℃で90分間撹拌し、第二の酸性ゾル(固形分:14.8質量%)を調製した。
動的光散乱式粒径分布測定装置LB-550(株式会社堀場製作所製)を使用し、第一及び第二の酸性ゾルのメジアン径を動的光散乱法により測定した。第一及び第二の酸性ゾルのメジアン径はそれぞれ16.0 nm及び1.8 nmであった。
第一の酸性ゾルの全量に、第二の酸性ゾル0.22 gを添加し(第一の酸性ゾル/第二の酸性ゾルの固形分質量比:67.1)、室温で5分間攪拌して混合ゾル(I)を調製した。混合ゾル(I)の調製条件を表1に示す。
(2) 3N。
(3) 12 N。
(4) 1N。
(5) 第一の酸性ゾル/第二の酸性ゾルの固形分質量比。
(6) 第一の酸性ゾル/第二の酸性ゾルのメジアン径比。
LASF01ガラス平板(φ30 mm、屈折率1.79)に、表4に示す構成になるように、電子ビーム式の蒸着源を有する装置を用いて、真空蒸着法により六層の緻密膜を形成した。物理膜厚及び屈折率の測定には、レンズ反射率測定機(型番:USPM-RU、オリンパス株式会社製)を使用した(以下同じ)。
六層緻密膜上に混合ゾル(I)をスピンコートし、80℃で30分間及び160℃で30分間熱処理し、物理膜厚97 nmのシリカエアロゲル膜を形成した。
シリカエアロゲル膜上に、0.001 Nの水酸化ナトリウム水溶液400 mLをスピンコートし、室温で30分間放置した後、120℃で30分間乾燥して反射防止膜を形成した。
0.01 Nの水酸化ナトリウム水溶液を用いた以外実施例1と同様にして、反射防止膜を形成した。
0.1 Nの水酸化ナトリウム水溶液を用いた以外実施例1と同様にして、反射防止膜を形成した。
六層緻密膜及びシリカエアロゲル膜を形成したLASF01ガラス平板と、28質量%のアンモニア水50 mLとを、デシケーター中に非接触の状態で6時間室温で静置し、アンモニアガスでシリカエアロゲル膜をアルカリ処理した以外実施例1と同様にして、反射防止膜を形成した。
アンモニアガスによる処理時間を72時間とした以外実施例4と同様にして、反射防止膜を形成した。
LASF01ガラス平板に、真空蒸着法により、物理膜厚が71 nmの緻密アルミナ層(屈折率:1.64)を形成した(光学膜厚:116 nm)。この緻密アルミナ層上に、実施例1と同様にして、シリカエアロゲル膜を形成した。シリカエアロゲル膜上に、0.001 Nの水酸化ナトリウム水溶液400 mLをスピンコートし、室温で30分間放置した後、120℃で30分間乾燥して反射防止膜を形成した。
0.01 Nの水酸化ナトリウム水溶液を用いた以外実施例6と同様にして、反射防止膜を形成した。
0.1 Nの水酸化ナトリウム水溶液を用いた以外実施例6と同様にして、反射防止膜を形成した。
アルミナ緻密膜及びシリカエアロゲル膜を形成したLASF01ガラス平板と、28質量%のアンモニア水50 mLとを、デシケーター中に非接触の状態で6時間室温で静置し、アンモニアガスでシリカエアロゲル膜をアルカリ処理した以外実施例6と同様にして、反射防止膜を形成した。
アンモニアガスによる処理時間を72時間とした以外実施例9と同様にして、反射防止膜を形成した。
実施例1と同様にして第一の酸性ゾルを調製した。室温でメチルトリエトキシシラン30 mLと、メタノール30 mLと、水2.4 mLとを混合した後、塩酸(1N)0.1 mLを加え、60℃で90分間撹拌し、第二の酸性ゾル(固形分:14.8質量%)を調製した。第一及び第二の酸性ゾルのメジアン径は、それぞれ16.1 nm及び1.1 nmであった。第一酸性ゾルの全量に、第二の酸性ゾル2.22 gを添加し(第一の酸性ゾル/第二の酸性ゾルの固形分質量比:6.7)、室温で5分間攪拌して混合ゾル(II)を調製した。混合ゾル(II)の調製条件を表2に示す。
(2) 3N。
(3) 12 N。
(4) MTEOSはメチルトリエトキシシランを表す。
(5) 1N。
(6) 第一の酸性ゾル/第二の酸性ゾルの固形分質量比。
(7) 第一の酸性ゾル/第二の酸性ゾルのメジアン径比。
0.01 Nの水酸化ナトリウム水溶液を用いた以外実施例11と同様にして、反射防止膜を形成した。
0.1 Nの水酸化ナトリウム水溶液を用いた以外実施例11と同様にして、反射防止膜を形成した。
シリカエアロゲル膜を形成したBK7ガラス平板と、28質量%のアンモニア水50 mLとを、デシケーター中に非接触の状態で6時間室温で静置し、アンモニアガスでシリカエアロゲル膜をアルカリ処理した以外実施例11と同様にして、反射防止膜を形成した。
アンモニアガスによる処理時間を72時間とした以外実施例14と同様にして、反射防止膜を形成した。
シリカエアロゲル膜に水酸化ナトリウム水溶液をスピンコートし、30分間放置した後、ガラス板を室温の水100 mLに15分間浸漬することにより洗浄し、120℃で30分間乾燥した以外実施例1と同様にして、反射防止膜を形成した。
シリカエアロゲル膜に水酸化ナトリウム水溶液をスピンコートし、30分間放置した後、ガラス板を室温の水100 mLに15分間浸漬することにより洗浄し、120℃で30分間乾燥した以外実施例6と同様にして、反射防止膜を形成した。
水酸化ナトリウム水溶液の代わりに28質量%のアンモニア水(15N)を用いた以外実施例1と同様にして、反射防止膜を形成した。
シリカエアロゲル膜にアンモニア水をスピンコートし、室温で30分間放置した後、ガラス板を室温の水100 mLに15分間浸漬することにより洗浄し、120℃で30分間乾燥した以外実施例18と同様にして、反射防止膜を形成した。
水酸化ナトリウム水溶液の代わりに水酸化テトラエチルアンモニウムの0.25質量%のメタノール溶液(0.0238N)を用いた以外実施例1と同様にして、反射防止膜を形成した。
シリカエアロゲル膜に水酸化テトラエチルアンモニウムのメタノール溶液をスピンコートし、15〜30℃で30分間放置した後、ガラス板を室温の水100 mLに15分間浸漬することにより洗浄し、120℃で30分間乾燥した以外実施例20と同様にして、反射防止膜を形成した。
BK7ガラス平板(屈折率1.52)上に混合ゾル(I)をスピンコートし、80℃で30分間及び160℃で30分間熱処理することにより形成した物理膜厚100 nmのシリカエアロゲル膜に、水酸化ナトリウム水溶液による処理を行わなかった以外実施例1と同様にして、反射防止膜を形成した。
水酸化ナトリウム水溶液による処理を行わなかった以外実施例1と同様にして、シリカエアロゲル膜と多層緻密膜とからなる反射防止膜を形成した。
水酸化ナトリウム水溶液による処理を行わなかった以外実施例6と同様にして、シリカエアロゲル膜とアルミナ緻密膜とからなる反射防止膜を形成した。
水酸化ナトリウム水溶液による処理を行わなかった以外実施例11と同様にして、シリカエアロゲル膜からなる反射防止膜を形成した。
(1) 有機修飾シリカ含有ゾルの作製
テトラエトキシシラン5.21 gと、エタノール4.38 gとを混合した後、塩酸(0.01 N)0.4 gを加えて90分間撹拌した。エタノール44.3 gと、アンモニア水(0.02 N)0.5 gとを添加して46時間撹拌した後、この混合液を60℃に昇温して46時間エージングしたところ、湿潤ゲルが生成した。溶媒をデカンテーションした後、素早くエタノールを加えて振とうし、デカンテーションすることにより湿潤ゲルの溶媒をエタノールに置換した。さらにメチルイソブチルケトン(MIBK)を加えて振とうし、デカンテーションすることによりエタノールをMIBKに置換した。ゲル状のシリカにトリメチルクロロシランのMIBK溶液(濃度5体積%)を加え、20時間撹拌して、酸化珪素末端を有機修飾した。得られた有機修飾シリカゲルは、イソプロパノール(IPA)洗浄した。有機修飾シリカゲルにIPAを加えて濃度10質量%にした後、40分間超音波照射(20 kHz、500 W)することによりゾル化した。
上記BK7ガラス平板上に、工程(1)で得られた有機修飾シリカ含有ゾルをスピンコートし、室温で風乾した後、150℃で1時間熱処理し、物理膜厚が110 nmの有機修飾シリカエアロゲル多孔質膜からなる反射防止膜を形成した。
有機修飾シリカエアロゲル多孔質膜上に、0.001 Nの水酸化ナトリウム水溶液400 mLをスピンコートし、室温で30分間放置した後、120℃で30分間乾燥した以外比較例5と同様にして、反射防止膜を形成した。
有機修飾シリカエアロゲル多孔質膜上に、0.1 Nの水酸化ナトリウム水溶液400 mLをスピンコートし、室温で30分間放置した後、120℃で30分間乾燥した以外比較例5と同様にして、反射防止膜を形成した。
有機修飾シリカエアロゲル多孔質膜を形成したBK7ガラス平板と、28質量%のアンモニア水50 mLとを、デシケーター中に非接触の状態で72時間15〜30℃で静置し、アンモニアガスで有機修飾シリカエアロゲル多孔質膜をアルカリ処理した以外比較例5と同様にして、反射防止膜を形成した。
実施例1〜21及び比較例1〜8の反射防止膜について、1kg/cm2の圧力及び120回/分の速度で不織布(商品名「スピックレンズワイパー」、小津産業株式会社製)で10回擦る処理を施した後、表面の様子を観察し、下記基準により耐擦傷性を評価した。
○:全く傷が付かなかった。
△:少し傷が付いたが剥離しなかった。
×:剥離した。
(2) Al2O3(屈折率1.64、物理膜厚71 nm)からなる緻密膜。
実施例2,5,7,10及び比較例2,3の反射防止膜について、380〜780 nmの波長域の0°の入射角の光線の分光反射率をレンズ反射率測定機(型番:USPM-RU、オリンパス株式会社製)を用いて測定した。実施例2,5及び比較例2の反射防止膜については、作製日、その一週間後及び七週間後の三回にわたり測定を行い、経時変化を調べた。実施例7,10及び比較例3の反射防止膜については、作製日のみ測定した。結果を図3〜6に示す。実施例2,5,7,10の反射防止膜は、アルカリ処理をしていない比較例2,3の反射防止膜と同レベルの分光反射率を示した。図3,4から明らかなように、実施例2,5の反射防止膜は、七週間分光反射率に変化がなかった。しかし図5から明らかなように、比較例2の反射防止膜は、七週間後400〜650 nmの光線に対する分光反射率が増加していた。
実施例2,5及び比較例2の反射防止膜について、作製日、その一週間後及び七週間後の三回にわたり屈折率の測定を行い、経時変化を調べた。結果を図7に示す。実施例2,5の反射防止膜は、七週間屈折率に変化がなかった。しかし比較例2の反射防止膜は、明らかに屈折率が増加しており、実施例2,5の反射防止膜に比べて劣化し易いといえる。
上記混合ゾル(I)を、LAK14ガラスからなるレンズ1(図1参照、レンズの有効径:3mm、S/S0×100:62%、屈折率:1.72)の凸面11に、スプレーコート法により塗布し、80℃で30分間及び160℃で30分間熱処理し、シリカエアロゲル膜がコートされたレンズを得た。シリカエアロゲル膜上に、0.01 Nの水酸化ナトリウム水溶液10 mLをスピンコートし、室温で30分間放置した後、120℃で30分間乾燥してアルカリ処理シリカエアロゲル膜を有する反射防止レンズを得た。
BK7からなるレンズ1(レンズの有効径:3mm、S/S0×100:62%、屈折率:1.52)を用いた以外実施例22と同様にして、アルカリ処理シリカエアロゲル膜を有する反射防止レンズを得た。
上記混合ゾル(I)を、シクロオレフィンポリマー(商品名ZEONEX330R、日本ゼオン株式会社製)からなるレンズ1(レンズの有効径:3mm、S/S0×100:62%、屈折率:1.51)の凸面11に、スプレーコート法により塗布し、室温で乾燥し、80℃で120分間熱処理し、シリカエアロゲル膜がコートされたレンズを得た。シリカエアロゲル膜上に、0.01 Nの水酸化ナトリウム水溶液10 mLをスピンコートし、室温で30分間放置した後、80℃で60分間乾燥してアルカリ処理シリカエアロゲル膜を有する反射防止レンズを得た。
LAK14ガラスからなるレンズ1の凸面11に、真空蒸着法により、物理膜厚が100 nmのMgF2緻密膜(屈折率:1.38)を形成した(光学膜厚:138 nm)。このMgF2緻密膜上に、実施例22と同様にして、アルカリ処理シリカエアロゲル膜を形成し、反射防止レンズを得た。
BK7からなるレンズ1の凸面11に、真空蒸着法により、物理膜厚が100 nmのMgF2緻密膜(屈折率:1.38)を形成した(光学膜厚:138 nm)。このMgF2緻密膜上に、実施例22と同様にして、アルカリ処理シリカエアロゲル膜を形成し、反射防止レンズを得た。
シクロオレフィンポリマーからなるレンズ1の凸面11に、真空蒸着法により、物理膜厚が100 nmのMgF2緻密膜(屈折率:1.38)を形成した(光学膜厚:138 nm)。このMgF2緻密膜上に、実施例24と同様にして、アルカリ処理シリカエアロゲル膜を形成し、反射防止レンズを得た。
LAK14ガラスからなるレンズ1の凸面11に、比較例5と同様にして調製した有機修飾シリカ含有ゾルをスピンコートし、室温で風乾した後、150℃で1時間熱処理し、有機修飾シリカエアロゲル多孔質膜からなる反射防止膜を形成し、反射防止レンズを得た。
BK7からなるレンズ1を用いた以外比較例9と同様にして有機修飾シリカエアロゲル多孔質膜からなる反射防止膜を有する反射防止レンズを作製した。
シクロオレフィンポリマーからなるレンズ1を用い、有機修飾シリカ含有ゾル塗膜の焼成条件を80℃/180分間とした以外比較例9と同様にして有機修飾シリカエアロゲル多孔質膜からなる反射防止膜を有する反射防止レンズを作製した。
アルカリ処理を行わなかった以外実施例22〜24と同様にして反射防止レンズを得た。
LAK14ガラスからなるレンズ1の凸面11に、真空蒸着法により、物理膜厚が100 nmのMgF2緻密膜(屈折率:1.38)を形成した(光学膜厚:138 nm)。このMgF2緻密膜上に、比較例5と同様にして調製した有機修飾シリカ含有ゾルをスピンコートし、室温で風乾した後、150℃で1時間熱処理し、有機修飾シリカエアロゲル多孔質膜からなる反射防止膜を形成し、反射防止レンズを得た。
BK7からなるレンズ1の凸面11に、真空蒸着法により、物理膜厚が100 nmのMgF2緻密膜(屈折率:1.38)を形成した(光学膜厚:138 nm)。このMgF2緻密膜上に、比較例5と同様にして調製した有機修飾シリカ含有ゾルをスピンコートし、室温で風乾した後、150℃で1時間熱処理し、有機修飾シリカエアロゲル多孔質膜からなる反射防止膜を形成し、反射防止レンズを得た。
シクロオレフィンポリマーからなるレンズ1の凸面11に、真空蒸着法により、物理膜厚が100 nmのMgF2緻密膜(屈折率:1.38)を形成した(光学膜厚:138 nm)。このMgF2緻密膜上に、比較例5と同様にして調製した有機修飾シリカ含有ゾルをスピンコートし、室温で風乾した後、80℃で180分間熱処理し、屈折率が1.15で、物理膜厚が110 nmの有機修飾シリカエアロゲル多孔質膜からなる反射防止膜を形成し、反射防止レンズを得た。
アルカリ処理を行わなかった以外実施例25〜27と同様にして反射防止レンズを得た。
LAK14ガラスからなるレンズ1の凸面11に、真空蒸着法により、物理膜厚が91 nmのMgF2緻密膜(屈折率:1.38)を形成して反射防止レンズを作製した。
BK7からなるレンズ1の凸面11に、真空蒸着法により、物理膜厚が91 nmのMgF2緻密膜(屈折率:1.38)を形成して反射防止レンズを作製した。
シクロオレフィンポリマーからなるレンズ1の凸面11に、真空蒸着法により、物理膜厚が91 nmのMgF2緻密膜(屈折率:1.38)を形成して反射防止レンズを作製した。
11・・・凸面
110・・・中心
12・・・凹面
2・・・反射防止膜
Claims (9)
- 基材の表面に、アルカリ処理したシリカエアロゲル膜からなる反射防止膜を形成する方法であって、溶媒中でアルコキシシランを塩基性触媒により加水分解・重合してアルカリ性ゾルを調製し、これに酸性触媒を添加してさらに加水分解・重合することにより第一の酸性ゾルを調製し、溶媒中でアルコキシシランを酸性触媒により加水分解・重合して第二の酸性ゾルを調製し、前記第一及び第二の酸性ゾルを混合し、得られた混合ゾルを前記基材に塗布し、乾燥し、得られたシリカエアロゲル膜をアルカリで処理することを特徴とする方法。
- 基材の表面に、単層又は多層の緻密膜と、アルカリ処理したシリカエアロゲル膜とからなる反射防止膜を形成する方法であって、前記基材の表面に無機層、無機微粒子−バインダ複合層及び樹脂層の少なくとも一つからなる単層又は多層の緻密膜を形成した後、溶媒中でアルコキシシランを塩基性触媒により加水分解・重合してアルカリ性ゾルを調製し、これに酸性触媒を添加してさらに加水分解・重合することにより第一の酸性ゾルを調製し、溶媒中でアルコキシシランを酸性触媒により加水分解・重合して第二の酸性ゾルを調製し、前記第一及び第二の酸性ゾルを混合し、得られた混合ゾルを前記単層又は多層の緻密膜に塗布し、乾燥し、得られたシリカエアロゲル膜をアルカリで処理することを特徴とする方法。
- 請求項1又は2に記載の反射防止膜の形成方法において、前記第一の酸性ゾルの調製を、前記アルコキシシランとしてテトラアルコキシシラン又はそのオリゴマーを用い、前記塩基性触媒としてアンモニアを用い、前記溶媒としてメタノールを用いて行うことを特徴とする方法。
- 請求項1〜3のいずれかに記載の反射防止膜の形成方法において、前記第二の酸性ゾルの調製を、前記アルコキシシランとしてメチルトリアルコキシシラン、テトラアルコキシシラン及びこれらのオリゴマーからなる群から選ばれた少なくとも一種を用い、前記酸性触媒として塩酸を用い、前記溶媒としてメタノール及び/又はエタノールを用いて行うことを特徴とする方法。
- 請求項1〜4のいずれかに記載の反射防止膜の形成方法において、前記混合ゾルの第一の酸性ゾルと第二の酸性ゾルとの固形分質量比を5〜90にすることを特徴とする方法。
- 請求項1〜5のいずれかに記載の反射防止膜の形成方法において、前記混合ゾルの第一の酸性ゾルと第二の酸性ゾルとのメジアン径比を5〜50にすることを特徴とする方法。
- 請求項1〜6のいずれかに記載の反射防止膜の形成方法において、前記アルカリ処理として、前記シリカエアロゲル膜に、無機アルカリ、無機アルカリ塩、有機アルカリ及び有機酸アルカリ塩からなる群から選ばれた少なくとも一種のアルカリの溶液を塗布するか、アンモニアガスを接触させる処理を行うことを特徴とする方法。
- 請求項7に記載の反射防止膜の形成方法において、前記アルカリ処理が、前記アルカリ溶液を塗布する処理であり、前記アルカリ溶液の濃度を1×10-4〜20Nにすることを特徴とする方法。
- 請求項1〜8のいずれかに記載の反射防止膜の形成方法において、前記アルカリ処理シリカエアロゲル膜の物理膜厚を15〜500 nmにすることを特徴とする方法。
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