JP5279034B2 - 故障検出回路 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 34
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 16
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 52
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Description
RAMマクロ120、121から、それぞれ出力信号S120、S121が、BIST入力選択回路200に出力される。BIST入力選択回路200は、検査を行いたいRAMマクロに応じて、入力された信号をメモリBIST100に選択的に出力する。例えば、RAMマクロ120の検査を行いたい場合には、BIST入力選択回路200は、出力信号S120をメモリBISTに出力する。
メモリBIST100は、BIST入力選択回路200から入力された信号と、RAMマクロ試験データ信号S100との比較を行うことにより、選択したRAMマクロの故障検出を行う。
RAMマクロ120、121から、それぞれ出力信号S120、S121が、BIST入力選択回路200に出力される。BIST入力選択回路200は、検査を行いたいRAMマクロに応じて、入力された信号をメモリBIST100に選択的に出力する。例えば、RAMマクロ120の検査を行いたい場合には、BIST入力選択回路200は、出力信号S120をメモリBISTに出力する。
メモリBIST100は、BIST入力選択回路200から入力された信号と、RAMマクロ試験データ信号S100との比較を行うことにより、選択したRAMマクロの故障検出を行う。
FF140、141から、それぞれ出力信号S140、S141が、BIST入力選択回路200に出力される。BIST入力選択回路200は、検査を行いたいRAMマクロ出力選択回路に応じて、入力された信号をメモリBIST100に選択的に出力する。例えば、RAMマクロ出力選択回路130の検査を行いたい場合には、BIST入力選択回路200は、出力信号S140をメモリBISTに出力する。
また、図5に示す回路のように、機能テストパターンを用いる検査方法では、テストパターン作成コスト及びテスト時間増大によりテストのコストが増加するという問題がある。
本発明は、このような問題点を解決するためになされたものであり、RAMマクロ出力回路のテストを効率良く行うことができる故障検出回路を提供することを目的とする。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図1は、本実施の形態にかかる故障検出回路のブロック図である。
RAMマクロ入力選択回路110の出力は、RAMマクロ120と接続されている。RAMマクロ入力選択回路110で選択された信号はRAMマクロ120に出力される。同様に、RAMマクロ入力選択回路111の出力は、RAMマクロ121と接続されている。RAMマクロ入力選択回路111で選択された信号は、RAMマクロ121に出力される。
なお、パリティチェック回路151もパリティチェック回路150と同様に構成することができる。
なお、上記説明での構成例は一例であり、RAMマクロ入力選択回路の個数、RAMマクロの個数、RAMマクロ出力選択回路の個数、フリップフロップの個数及びパリティチェック回路の個数は限定されない。
同様に、RAMマクロ入力選択回路111は、メモリBIST100で生成されたRAMマクロ試験データ信号S100と、外部機器から出力された信号S2の、いずれの信号を用いるか選択し、選択した信号に応じた書き込みデータをRAMマクロ121に出力する。
RAMマクロ出力選択回路130は、出力信号S120、S121から信号を選択し、選択した信号をFF140に格納する。同様に、RAMマクロ出力選択回路131は、出力信号S120、S121から信号を選択し、選択した信号をFF141に格納する。
図4は、選択信号生成回路310の動作を示す図である。選択信号生成回路310は、通常動作モードを選択する場合には通常動作時選択信号を送出する。テスト動作モードであって、RAMマクロ120を選択する場合には、RAMマクロ120選択信号を送出し、RAMマクロ121を選択する場合には、RAMマクロ121選択信号を送出する。すなわち、RAMマクロ出力選択回路130、131は、選択信号S310に応じて、RAMマクロ120、121のいずれかの出力信号S120、S121を選択するかを決定し、信号をそれぞれFF140、141に出力する。
ここで、XOR150aは通常動作モードにおける故障検出回路である。XOR150aは、FF140から出力された複数のデータに対して演算を行い、演算結果を出力する。演算は、例えば入力されたデータのそれぞれのパリティビットについて行われる。XOR回路150aの出力は、偶数パリティの場合、RAMマクロ出力選択回路130やFF140が故障していると"1"になり、これにより故障を検出する。
パリティチェック回路151は、パリティチェック回路150と同様に動作し、RAMマクロ出力選択回路131やFF141の故障検出を行う。
同様にして、出力信号S120はRAMマクロ出力選択回路131及びFF141を介して、パリティチェック回路151に入力される。パリティチェック回路151は、XOR(排他的論理和)の演算を行う。また、外部機器からRAMマクロ入力選択回路111に入力された信号S2を用い、RAMマクロ121から出力された信号について、パリティチェック回路150、151において演算を行うことができる。
これにより、通常動作モードにおいて、RAMマクロ120、121及びRAMマクロ出力選択回路130、131の故障検出を行うことができる。
同様にして、出力信号S120はRAMマクロ出力選択回路131及びFF141を介して、パリティチェック回路151に入力される。パリティチェック回路151は、パリティチェック回路150と同様に動作し、データのチェックを行う。
なお、RAMマクロ入力選択回路110及びRAMマクロ120を用いる代わりに、RAMマクロ入力選択回路111及びRAMマクロ121を用い、RAMマクロ121から出力された信号について、処理を行うことができる。
これによりテスト動作モードにおいて、パリティを用いてRAMマクロ出力選択回路130、131の故障検出を行うことができる。
BIST入力選択回路200で選択された出力信号S120、S121は、メモリBIST100に入力される。メモリBIST100は、入力されたデータとRAMマクロ試験データ信号S100に応じた期待値との比較を行い、RAMマクロ120、121の故障検出を行う。
すなわち、メモリBIST100による比較を行うこと無く、RAMマクロ出力選択回路130、131のテストを行うことができる。したがって、メモリBIST100によるRAMマクロ120、121のテストと同時に、RAMマクロ120、121の出力からFF140、141に至るまでの回路のテストをおこなうことができ、テスト時間の短縮が可能となる。
110 RAMマクロ入力選択回路
111 RAMマクロ入力選択回路
120 RAMマクロ
121 RAMマクロ
130 RAMマクロ出力選択回路
131 RAMマクロ出力選択回路
140 フリップフロップ
150 パリティチェック回路
151 パリティチェック回路
150a、150b、151a、151b XOR回路
200 BIST入力選択回路
300 選択信号生成回路
310 選択信号生成回路
400 パリティ生成回路
S1、S2 入力信号
S100 マクロ試験データ信号
S120 出力信号
S121 出力信号
S140、S141 出力信号
S300 選択信号
S310 選択信号
S400 パリティ信号
Claims (7)
- メモリBISTと、
前記メモリBISTの出力信号である第1の出力信号を入力し当該第1の出力信号を選択する複数のRAMマクロ入力選択回路と、
選択された前記第1の出力信号をそれぞれ入力する複数のRAMマクロと、
前記RAMマクロの出力信号である第2の出力信号を入力し、当該第2の出力信号のうちのいずれかを選択し前記メモリBISTに出力するBIST入力選択回路と、
前記RAMマクロから出力された前記第2の出力信号のうちのいずれかを選択するRAMマクロ出力選択回路と、
前記RAMマクロ出力選択回路で選択された前記第2の出力信号を保持するフリップフロップと、
前記メモリBISTの出力信号からパリティ信号を生成するパリティ生成回路と、
前記パリティ生成回路から出力されたパリティ信号と前記フリップフロップが保持している前記第2の出力信号のパリティチェックを行うパリティチェック回路と、を備える、
故障検出回路。 - 前記パリティチェック回路は、
前記フリップフロップから出力された前記第2の出力信号を入力し、演算結果を出力する第1のXOR回路と、
前記第1のXOR回路の出力信号を第1の入力信号とし、前記パリティ生成回路で生成されたパリティ信号を第2の入力信号として、演算結果を出力する第2のXOR回路と、を備える、請求項1に記載の故障検出回路。 - 選択信号生成回路をさらに備え、
前記選択信号生成回路は、前記第2の出力信号が前記RAMマクロ出力選択回路を経て前記フリップフロップに入力されるような制御信号を生成する、請求項1または請求項2に記載の故障検出回路。 - 前記BIST入力選択回路は、検査を行いたい前記RAMマクロに応じて、前記第2の出力信号を選択して、前記メモリBISTに信号を出力する、
請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の故障検出回路。 - 前記RAMマクロ入力選択回路は、前記メモリBISTの出力信号である第1の出力信号と、外部機器が出力した第3の出力信号とを入力し、いずれかの信号を前記RAMマクロに出力する、
請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の故障検出回路。 - 前記パリティチェック回路は、前記RAMマクロ入力選択回路において前記メモリBISTの出力信号である第1の出力信号が選択された場合に、前記フリップフロップに格納された複数の第2の出力信号について演算を行った演算結果と、前記パリティ生成回路で生成したパリティ信号との演算を行う、
請求項5に記載の故障検出回路。 - 前記パリティチェック回路は、前記RAMマクロ入力選択回路において外部機器が出力した第3の出力信号が選択された場合に、前記フリップフロップに格納された複数の第2の出力信号について演算を行う、
請求項5または請求項6に記載の故障検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009262546A JP5279034B2 (ja) | 2009-11-18 | 2009-11-18 | 故障検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009262546A JP5279034B2 (ja) | 2009-11-18 | 2009-11-18 | 故障検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011108325A JP2011108325A (ja) | 2011-06-02 |
JP5279034B2 true JP5279034B2 (ja) | 2013-09-04 |
Family
ID=44231618
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009262546A Expired - Fee Related JP5279034B2 (ja) | 2009-11-18 | 2009-11-18 | 故障検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5279034B2 (ja) |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6011952A (ja) * | 1983-07-01 | 1985-01-22 | Mitsubishi Electric Corp | 誤り訂正機構付半導体メモリ装置 |
JPH04344400A (ja) * | 1991-05-21 | 1992-11-30 | Nec Corp | ゲートアレイのramブロックテスト回路 |
JPH05259832A (ja) * | 1992-01-13 | 1993-10-08 | Hitachi Ltd | ホールド型ラッチ回路、及び半導体記憶装置 |
JPH0689236A (ja) * | 1992-09-09 | 1994-03-29 | Fujitsu Ltd | ランダムアクセスメモリ監視回路 |
JPH09311825A (ja) * | 1996-05-23 | 1997-12-02 | Nec Eng Ltd | Rom監視回路 |
JP2910692B2 (ja) * | 1996-08-15 | 1999-06-23 | 日本電気株式会社 | ランダムアクセスメモリの試験の方法 |
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JP3866478B2 (ja) * | 2000-03-28 | 2007-01-10 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
JP2003007085A (ja) * | 2001-06-19 | 2003-01-10 | Nec Microsystems Ltd | エラー訂正機能付きメモリ |
JP3716192B2 (ja) * | 2001-06-27 | 2005-11-16 | エヌイーシーコンピュータテクノ株式会社 | 多ポートramの障害検出回路、および、障害検出方法 |
EP1369878A1 (en) * | 2002-06-04 | 2003-12-10 | Infineon Technologies AG | System for testing a group of functionally independent memories and for replacing failing memory words |
JP3788983B2 (ja) * | 2003-07-10 | 2006-06-21 | 松下電器産業株式会社 | 半導体集積回路装置 |
-
2009
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011108325A (ja) | 2011-06-02 |
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|
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