JP5096131B2 - 半導体記憶装置 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体記憶装置に関し、特に、内部にパワーオンリセット回路を備えた半導体記憶装置に関する。
半導体記憶装置(以下メモリ)を含むシステムの場合、動作中の想定外の事象(ノイズによる電源ドロップ、システム異常動作等)によりシステム全体がハングアップすることがある。この時、メモリの設定状態も不明となるため外部制御によりソフトリセットを実行し、確実にメモリ内部をリセットする必要がある。
図3は、従来のメモリの半導体装置の構成例を示す図である。電源投入時には、パワーオンリセット信号(PONZ信号)により、各回路の初期化処理が実行される。また、電源投入後、外部からモードレジスタ設定コマンドが入力されると、MRS制御回路64pから出力されるモードレジスタ設定信号(MRSPON信号)により、内部電源発生回路20以外の各回路をリセットするソフトリセットが実行される。
例えば、特許文献1には、ソフトリセット時に所定レベルで印加される外部信号を利用してデータ経路関連ブロックをリセットする技術が開示されている。これにより、ソフトリセット後に印加されるリード/ライト命令時にデータ衝突や無効データが発生する問題点を防止する。
特許文献2には、メモリ制御部の回路が動作不能に陥った場合、自動的にリセット信号を発生させ、メモリ制御部をイニシャライズする技術が開示されている。
特許文献3には、半導体メモリの内部回路を外部制御により確実にリセットする技術が開示されている。ここでは、メモリ内部を確実にリセットするために、メモリの動作モードを設定するモードレジスタを応用する手法を用い、特定のビットによるモードレジスタ設定を行うとソフトリセット信号が発生し内部をリセットしている。
特開2004−103222号公報 特開平01−137494号公報 特開2006−252654号公報
しかしながら、立ち上げ時に発生するパワーオン信号と同じ信号をモードレジスタ設定から再発生させるリセットの手法では、モードレジスタ設定コマンドからのパワーオン信号でメモリ全体の系をリセットすることになる。一般にパワーオン信号発生レベルは、立ち上げ時にのみ発生させる必要があるため、通常動作仕様のデバイスに供給される電圧よりも低い電圧を検知して発生する。これを考慮すると、モードレジスタ設定コマンドからパワーオン信号を再発生させる場合、すでに電源が十分供給されており、立ち上げ時よりも高い電圧でメモリ全体の系をリセットすることになるので、消費電流が増大し、リセット動作自体がノイズ源となり、結局、正しいソフトリセットができないという問題が発生する。
また、近年メモリ容量が増大し、回路構成が複雑化しており、パワーオン後の立ち上げに要する時間が長くなる傾向にある。メモリ全体の系をリセットする場合には、その復帰にかかる時間も長くなってしまう。このため、モードレジスタ設定コマンドから内部動作を設定する制御回路をリセットする機能が望まれている。
このように、ソフトリセットにおいて、内部動作を設定する制御回路を確実にリセットすることが困難であった。
本発明に係る半導体装置の一態様は、電源電圧のレベルを検知して第1のリセット信号を出力する電圧検知回路と、外部制御ピンの入力に応じてモード設定状態に移行し、アドレスピンから入力されるコマンドに応じてモード設定情報を出力するコマンドデコーダと、前記モード設定情報に応じてモードリセット信号を出力するモードレジスタ設定回路と、前記モードリセット信号と前記第1リセット信号とに応じて、内部動作設定回路を初期化する第2リセット信号を出力するリセット回路と、を備える。第2リセット信号により第1リセット信号とは別個に、内部動作を設定する制御回路を初期化することができる。
本発明によれば、ソフトリセットにおいて、内部動作を設定する制御回路を確実にリセットすることが可能となる。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略、及び簡略化がなされている。各図面において同一の構成または機能を有する構成要素および相当部分には、同一の符号を付し、その説明を省略する。
以下、本実施形態のソフトリセットの動作について説明する。本明細書では、コンピュータシステムに同期式メモリが搭載される場合を仮定すると、ハードリセットは、コンピュータシステムの電源をオンからオフとすることで実行されるリセット処理である。また、ソフトリセットは、システムの電源をオフすることなく、特定のリセットキーを用いて、コンピュータシステムをリセットする処理である。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係るメモリの半導体装置の構成例を示すブロック図である。図1に示す半導体装置1は、パワーオンリセット生成回路(電圧検知回路)10、内部電源発生回路20、クロック発生回路30、コマンドデコーダ40、アドレス入力回路50、動作制御部60、メモリ部70、及び、リセット回路(OR回路)80を備える。本実施形態では、動作制御部(内部動作設定回路)60は、リード・ライト制御回路61、データ制御回路62、テストモード制御回路63、及び、MRS(Mode Resister Set)制御回路(モードレジスタ回路)64を有する回路を一例として用いて説明する。また、メモリ部70は、メモリセル71、ロウデコーダ72、SAMP回路73、カラムデコーダ74、及び、データ入出力回路75を有する構成例として用いて説明する。
クロック発生回路30は、半導体装置1内のクロック(ローカルクロック)を発生させ、コマンドデコーダ40と動作制御部60の各回路へクロックを供給する。
パワーオンリセット生成回路10は、外部電源電圧(VDD)が所定の電圧より低い状態のとき、パワーオンリセット信号(PONZ信号、第1リセット信号)をON状態(ここでは低レベルとする)にする。PONZ信号は、内部電源発生回路、メモリ部70へ出力される。外部電源電圧(VDD)が所定の電圧よりも高くなったとき、パワーオンリセット信号をOFF状態(ここでは高レベルとする)にする。
コマンドデコーダ40は、外部コマンドを受信し、受信したコマンドを解読し、解読した外部コマンドを動作制御部60の各回路へ出力する。コマンドデコーダ40は、外部コマンドとして、チップイネーブル信号(/CE)、ライトイネーブル信号(/WE)、リフレッシュ信号(/REF)をそれぞれの外部入力ピンから受信する例を示している。また、コマンドデコーダ40は、モードレジスタを有し、チップイネーブル信号、ライトイネーブル信号、及びリフレッシュ信号がOFF状態(ここでは低レベルとする)のときに、アドレスピン(ADD)からデータの入力を可能とし、入力データに応じてモードレジスタへモード設定情報を設定する。本実施形態では、コマンドデコーダ40は、アドレスピンからソフトリセットの開始コマンドあるいは終了コマンドを入力し、モードレジスタへ設定する。モードレジスタに設定したモード設定情報は、動作制御部60の各回路へ出力される。
アドレス入力回路50は、外部からメモリのアドレスあるいは外部コマンドを入力する。アドレス入力回路50から入力されたデータは、ロウデコーダ72とカラムデコーダ74とへ入力され、チップイネーブル信号、ライトイネーブル信号、及びリフレッシュ信号がOFF状態のときは、コマンドデコーダ40へ取り込まれる。
動作制御部60は、コマンドデコーダ40から入力するコマンド信号に基づいて各動作を制御する。リード・ライト制御回路61は、コマンドデコーダ40からリード・ライトのコマンドを受け付け、アドレス入力回路50からメモリ部70へ入力されるアドレスに基づいてメモリ部70をリードあるいはライトする動作を制御する。データ制御回路62は、コマンドデコーダ40からデータ制御のコマンドを受け付け、リード・ライト制御回路61がメモリ部70をアクセスする場合のデータ形式を制御する。テストモード制御回路63は、コマンドデコーダ40からテストモードであるか否かのコマンドを受け付け、モードの設定を行う。
MRS制御回路64は、モード設定情報に基づいてソフトリセットの開始・終了を制御する。MRS制御回路64は、ソフトリセット開始コマンドと終了コマンドに応じて、モードレジスタ設定信号(MRSPON信号)のレベルを変更し、ソフトリセットの開始、終了を指定する。
なお、動作制御部60は、少なくともMRS制御回路64を含む構成であり、コマンドデコーダ40からコマンド信号またはコマンド設定情報を入力する制御回路であれば、その他の制御回路を含む構成であってもよい。
リセット回路80は、PONZ信号とMRSPON信号との少なくともいずれかがON状態(ここでは低レベルとする)であることを検出すると、ソフトリセットを指示するPONRST信号(第2リセット信号)をON状態(ここでは低レベルとする)に変化させ、動作制御部60の各回路へ出力する。従って、リセット回路80は、電源を立ち上げる場合には、パワーオンリセット生成回路10からPONZ信号が発生するため、PONRST信号をON状態にする。また、外部コマンドによりソフトリセットが要求される場合には、MRS制御回路64からMRSPON信号が発生するため、PONRST信号をON状態にする。
続いて、本実施形態の半導体装置の動作を説明する。図2は、半導体装置の動作例を示すシーケンス図である。コンピュータシステムの電源が投入された段階(T1)から初期化処理が開始される。PONZ信号の低レベルに同期して、リセット回路80は、低レベルのMRSPON信号を出力する(T1〜T2)。図1に示すように、半導体装置1では、PONZ信号に応じて、内部電源発生回路20、クロック発生回路30、コマンドデコーダ40、及び、メモリ部70の各回路が初期化を行う。また、MRSPON信号に応じて、動作制御部60の各回路、具体的には、リード・ライト制御回路61、データ制御回路62、テストモード制御回路63、及び、MRS制御回路64が初期化処理を行う。
クロック発生回路30からクロックの供給が開始され(T3)、システム稼働中にソフトリセットが必要になると、モード設定状態へ移行する。具体的には、チップイネーブル信号、ライトイネーブル信号、及びリフレッシュ信号を低レベルとして、アドレスピン(Ai−j)から入力される外部コマンドを、アドレス入力回路50を介してコマンドデコーダ40へ入力することを可能とする(T5)。アドレスピンからソフトリセットモードを開始するEntryコードが入力される(T6)。コマンドデコーダ40は、Entryコードをモードレジスタへ設定し、ソフトリセット開始のモード設定情報を出力する。MRS制御回路64は、ソフトリセット開始のモード設定情報の入力に応じて、PONRST信号を低レベルにする(T7)。リセット回路80は、MRSPON信号のFall edgeが発生することに同期して、低レベルのMRSPON信号を出力する。これにより、ソフトリセット状態が開始し、動作制御部60の各回路は、初期化処理を開始する。
ソフトリセットを終了するときには、再度、モード設定状態へ移行し、アドレスピンから入力される外部コマンドを、アドレス入力回路50を介してコマンドデコーダ40へ入力することを可能とする(T9)。アドレスピンからソフトリセットモードを終了するExitコードが入力される(T10)。コマンドデコーダ40は、Exitコードをモードレジスタへ設定し、ソフトリセット終了のモード設定情報を出力する。MRS制御回路64は、ソフトリセット終了のモード設定情報の入力に応じて、MRSPON信号を高レベルにする(T7)。リセット回路80は、MRSPON信号のRise edgeが発生することに同期して、高レベルのPONRST信号を出力する。これにより、ソフトリセット状態が終了する。
このように、EntryコードとExitコードを外部から入力することによって、ソフトリセット期間を任意に設定することができる。ソフトリセット期間は、μs(マイクロ秒)からms(ミリ秒)のオーダーで決められ、半導体装置1の置かれている環境(例えば、温度、実装条件)などによって異なる。
以上説明したように、本発明の好適な実施形態では、外部から入力されるコマンドによって、動作モードの初期化を確実に実施する。具体的には、電源立ち上げ時にはメモリ全体の系がすべてリセット対象となり、従来と変わらず正常にチップの動作を開始することができる。また、動作中のノイズによる電源ドロップ、システム異常動作等によりシステム全体がハングアップしてメモリをリセットしたい場合には、ソフトリセット用の特定アドレスを指定したモードレジスタ設定(Entryコード、Exitコード)を実行する。これにより、MRSPON信号が発生し、リード・ライト制御回路61、データ制御回路62、テストモード制御回路63、MRS制御回路64に対してのみリセットを実施する。
また、Entryコード、Exitコードをモードレジスタに設定することにより、リセット期間の開始・終了を設定することができるため、リセットに必要な期間が確保される。
従来、ソフトリセットを実行する場合、システムの電源レベルは維持したままで行うため、電源を立ち上げ時と同じリセットを行うと消費電流が増大し、リセット動作自体がノイズ源となる可能性が高くなっていた。本発明の好適な実施形態では、必要最小限の系をリセットすることで消費電流を抑えノイズの影響をなくすことにより、確実にソフトリセットを実行できるようになる。
このように、本発明の好適な実施形態によれば、リセットによる電源ノイズを抑えたままメモリチップを元のデフォルトのモードレジスタ設定状態に戻すことで、システム全体がハングアップした場合でも確実にシステムリスタートを実現することができる。また、十分なリセット期間を確保することによって、確実なリセットを実現できる。リセットする回路を限定することによって、リスタートできる状態に復帰するまでの時間を短縮することが可能となる。さらに、従来のメモリ全体の系をソフトリセットする手法に対して、メモリチップの必要最小限の系をリセットすることで消費電流を抑え、ノイズの影響をなくすことにより、確実にソフトリセットを実行することができる。
なお、上記実施形態において、PONRST信号によるリセットは、動作制御部(内部動作設定回路)60に含まれるMRS制御回路64のみを初期化する場合であってもよし、MRS制御回路64を含む一部の制御回路を初期化する場合であってもよい。
本発明は上記に示す実施形態に限定されるものではない。本発明の範囲において、上記実施形態の各要素を、当業者であれば容易に考えうる内容に変更、追加、変換することが可能である。
本発明の実施形態1に係るメモリの半導体装置の構成例を示すブロック図である。 半導体装置の動作例を示すシーケンス図である。 従来のメモリの半導体装置の構成例を示す図である。
符号の説明
1 半導体装置
10 パワーオンリセット生成回路
20 内部電源発生回路
30 クロック発生回路
40 コマンドデコーダ
50 アドレス入力回路
60 動作制御部
61 リード・ライト制御回路
62 データ制御回路
63 テストモード制御回路
64 MRS制御回路
70 メモリ部
71 メモリセル
72 ロウデコーダ
73 SAMP回路
74 カラムデコーダ
75 データ入出力回路
80 リセット回路

Claims (4)

  1. 電源電圧のレベルを検知して内部動作設定回路を除く、メモリ全体の系を初期化する第1のリセット信号を出力する電圧検知回路と、
    外部制御ピンの入力に応じてモード設定状態に移行し、アドレスピンから入力されるコマンドに応じてモード設定情報を出力するコマンドデコーダと、
    前記モード設定情報に応じてモードリセット信号を出力するモードレジスタ設定回路と、
    前記モードリセット信号と前記第1リセット信号とに応じて、前記内部動作設定回路を初期化する第2リセット信号を出力するリセット回路と、を備える半導体記憶装置。
  2. 前記第2リセット信号によって初期化する期間は、前記コマンドデコーダへ入力されるコマンドによって設定されることを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装置。
  3. 前記コマンドデコーダは、前記第2リセット信号による初期化を開始する開始コマンドと、前記初期化を終了する終了コマンドとを受け付け、
    前記リセット回路は、前記開始コマンドが入力されてから、前記終了コマンドが入力されるまで、前記第2リセット信号による初期化を継続することを特徴とする請求項1または2記載の半導体記憶装置。
  4. 前記リセット回路は、前記コマンドデコーダからモード設定情報を入力する複数の回路を初期化することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の半導体記憶装置。
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