JPH01137494A - メモリ装置 - Google Patents

メモリ装置

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Publication number
JPH01137494A
JPH01137494A JP62294051A JP29405187A JPH01137494A JP H01137494 A JPH01137494 A JP H01137494A JP 62294051 A JP62294051 A JP 62294051A JP 29405187 A JP29405187 A JP 29405187A JP H01137494 A JPH01137494 A JP H01137494A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reset
circuit
memory control
reset signal
signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP62294051A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Hajika
羽鹿 健
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP62294051A priority Critical patent/JPH01137494A/ja
Publication of JPH01137494A publication Critical patent/JPH01137494A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はダイナミックRAM  (以下DRAMという
)を使用したメモリ装置に関し、特にこのようなメモリ
装置におけるリセット回路(初期化回路)に関するもの
である。
(従来の技術) DRAMを用いたメモリ装置における制御部ではフリッ
プフロップやカウンタ等を多用しているため、最初にそ
れらをイニシャライズしておく必要がある。従来、この
制御部のイニシャライズは、電源投入時に発生するリセ
ット信号、或いは外部からのリセット人力(例えば、リ
セットスイッチの押下やリセット命令によるもの)によ
って行なっていた。
第8図は従来のメモリ装置の構成を示すブロック図で、
図中1はDRAMアレー、2はメモリ制御部、3はゲー
ト、4は電源投入時または電圧が規定電圧以下になった
場合にリセット信号すを発生する低電圧検出回路であり
、またaは外部からのリセット人力である。
この装置におけるメモリ制御部2のイニシャライズ動作
について述べると、例えばリセットスイッチ(図示せず
)の押下やリセット命令の出力があると、外部からリセ
ット人力aが当該メモリ装置に入力される。また電源を
投入した時または電圧が規定電圧以下となフた時、低電
圧検出回路4はそれを検出してリセット信号すを発生す
る。このリセット人力aまたはリセット信号すが有効に
なるとゲート3を介してメモリ制御部2のリセット端子
(RESET)に供給され、メモリ制御部2がリセット
され、インシャライズが行われる。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、以上述べた従来の回路構成では、何らか
の原因によって制御シーケンスがくずれてメモリ制御部
2の回路が動作不能に陥った場合には、−度電源を切る
か、または外部からリセット信号を入力するしか対処の
方法がなかった。
ところが、電源を切るとメモリの内容が失われるし、ま
た外部からのリセットによる方法ではリフレッシュが停
止するためメモリの内容が壊れてしまい、結局システム
を再立ち上げしなければならないという問題点があった
この発明は、このような従来技術の問題点を解決するた
めに成されたものであって、何らかの原因でメモリ制御
部の回路が動作不能に陥った場合、電源を切らずにしか
も外部からリセット信号を与えずに、自動的にメモリ制
御部をリセットするメモリ装置を提供することを目的と
する。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、ダイナミックRAMを用いるとともに、その
制御を行うメモリ制御部を備えたメモリ装置を対象とし
、前記従来技術の問題点を解決するため、2回のリフレ
ッシュ要求の間にリード・サイクル、ライト・サイクル
、リフレッシュ・サイクルのいずれもが1回も実行され
なかった場合にリセット信号を発生するリセット回路を
設け、該リセット回路の発生するリセット信号により前
記メモリ制御部をリセットするようにしたものである。
(作用) 本発明では、メモリ制御部の回路が動作不能に陥った場
合、リセット回路は2回のリフレッシュ要求の間にリー
ド・サイクル、ライト・サイクル、リフレッシュ・サイ
クルのいずれもが1回も実行されなかったことを検出し
、リセット信号を発生し、メモリ制御部に出力する。メ
モリ制御部はこれを受け、必要な部分のイニシャライズ
をする。したがって、メモリ制御部をイニシャライズす
るために、電源を切ったり、外部からリセット信号を与
えてやる必要がなくなり、前記従来技術の問題点が解決
される。
(実施例) 以下本発明の実施例について詳細に説明する。
第1図は本実施例の要部構成を示す回路図、第2図は本
実施例の全体構成を示すブロック図である。先ず、第2
図により全体構成を述べると、本実施例のメモリ装置は
DRAMアレー1、メモリ制御部2及びリセット回路5
から構成される。本実施例の構成上の特徴はリセット回
路5を設けたことにあり、その内部構成が第1図に示さ
れている。
第1図に示すように、リセット回路5はフリップフロッ
プ11、フリップフロップ12、同期回路13及びゲー
ト14から構成される。同期回路13の一構成例として
2つフリップフロップから成る回路が第3図に示されて
いる。また、第1図において、人力Cはリード・サイク
ル、ライト・サイクル、リフレッシュ・サイクルのどれ
かが実行されたことを示す信号、人力dはリフレッシュ
要求信号、人力りは同期用のクロックであり、信号eは
フリップフロップ11のD入力、信号fはフリップフロ
ップ12の0人力、信号gはリセット信号である。
次に本実施例の動作につき第4図を参照して説明する。
第4図は第1図の回路における信号のタイムチャートで
ある。
先ず、メモリ制御部2(第2図)が正常に動作している
場合には、第4図のT1の間のように、サイクルが実行
されるたびにCが人力されるため、フリップフロップ1
1.12はクリアされ、信号fは0、信号eは1に保た
れる。従って、リセット信号gも出力されず!のままで
ある。
一方、何らかの原因でメモリ制御部2が動作不能になっ
た場合の動作は次のようになる。例えば第5図に例示す
るごときメモリ制御部2内の回路にトラブルが生じた場
合について考えてみる。第5図の回路はフリップフロッ
プとゲートから成リ、正常時には第6図に示すようなi
、j、にの入力に対し、同図に示すような出力mが期待
される回路である。ところが、第7図に示すように入力
kにα点でハザー・ドが発生すると、出力mが1となら
ずOのままになってしまう。mが1になることによって
次段の回路が動作するようになっている場合、mが0の
ままになってしまうと全く動作できなくなってしまい、
結果として、サイクルが途中で止まってしまう。このた
め、第1図の入力Cを作成している回路(図示せず)が
動作できず、Cは1のままになる。一方、リフレッシュ
要求信号dを作成する回路は、一定間隔毎に発生するも
ので、通常、基本クロックを分周するカウンタで構成さ
れ、サイクルが途中で停止しても基本タロツクが止らな
い限りリフレッシュ要求信号を一定間隔で出力する。従
って、第1図のdの入力は常に一定間隔で入力されるた
め、Cの信号をフリップフロップ11が取り込み、その
結果信号fが1になり、次のdの人力により、eが0に
変化する。
同期回路13はeがメモリ制御部2の回路の動作と非同
期に発生するような場合に同期をとるものであり、第5
図に示すように、フリップ・フロップ2個を用いて、同
期クロックhにより同期をとるものである。信号eはこ
の同期回路13により同期化され、リセット信号gとし
て出力される。
メモリ制御部2ではこのリセット信号gによって必要な
部分のイニシャライズを行なう。また、このリセット信
号gは、ゲート14を経由してフリップフロップ11お
よび12に対するクリア信号として人力されるため、e
の信号が再び1になり、fが0になり、リセット信号g
も1になる(第4図のT2の期間)。以上のようなシー
ケンスにてリセットが発生し、メモリ制御部2がイニシ
ャライズされ、再びサイクルが実行されるようになる(
第4図のT3の期間)。
(発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によれば、メモリ制
御部の回路が動作不能に陥った場合、自動的にリセット
信号を発生し、メモリ制御部をイニシャライズするため
、電源を切る、あるいは外部からリセット信号を入力す
ることが不要となる。また、本発明によれば、メモリ制
御部のイニシャライズにおいてリフレッシュが2回動作
しないだけなので、メモリの内容はほとんど保持される
。さらに、電源投入時にメモリ制御部が動作できない場
合にもリセット回路は動作するので、従来装置で使用さ
れていた低電圧検出回路は不要となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の要部構成を示す回路図、第2
図は本発明の実施例の全体構成を示すブロック図、第3
図は同期回路の一構成例を示す回路図、第4図は第1図
の回路における信号のタイムチャート、第5図はメモリ
制御部内の回路の一例を示す図、第6図は第5図の回路
の正常時のタイムチャート、第7図は第5図の回路の異
常時の例におけるタイムチャート、第8図は従来のメモ
リ装置の構成を示すブロック図である。 1 ・ ・ ・DRAMアレー 2・・・メモリ制御部 5・・・リセット回路 11.12・・串フリップフロップ 13・・・同期回路 14・・ ・ゲート 特許出願人  沖電気工業株式会社 特許出願代理人 弁理士 山本恵− 正牟朝)の信号のフイムテヤ−1 4−乙 図 x5#@のイフ)Iてお1すもイ1ものクイムナヤート
砺り7 図 尾8図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ダイナミックRAMを用いるとともに、その制御を行う
    メモリ制御部を備えたメモリ装置において、 2回のリフレッシュ要求の間にリード・サイクル、ライ
    ト・サイクル、リフレッシュ・サイクルのいずれもが1
    回も実行されなかった場合にリセット信号を発生するリ
    セット回路を設け、 該リセット回路の発生するリセット信号により前記メモ
    リ制御部をリセットすることを特徴とするメモリ装置。
JP62294051A 1987-11-24 1987-11-24 メモリ装置 Pending JPH01137494A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62294051A JPH01137494A (ja) 1987-11-24 1987-11-24 メモリ装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP62294051A JPH01137494A (ja) 1987-11-24 1987-11-24 メモリ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01137494A true JPH01137494A (ja) 1989-05-30

Family

ID=17802644

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62294051A Pending JPH01137494A (ja) 1987-11-24 1987-11-24 メモリ装置

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JP (1) JPH01137494A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7924651B2 (en) 2007-12-27 2011-04-12 Renesas Electronics Corporation Semiconductor storage device and resetting method for a semiconductor storage device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7924651B2 (en) 2007-12-27 2011-04-12 Renesas Electronics Corporation Semiconductor storage device and resetting method for a semiconductor storage device

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