JP4932819B2 - 表面検査装置及び方法 - Google Patents
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Description
検査対象物を主走査方向に走査するラインセンサを有し、画像データを得るカメラと、
前記主走査方向と直交する副走査方向に前記カメラと検査対象物とを相対的に移動させる副走査手段と、
前記カメラから出力される画像データに対し演算処理を施して前記検査対象物の表面状態を検査する演算処理手段とを備える表面検査装置であって、
前記演算処理手段は、各主走査ラインの各画素の画像データに対して隣接する1つの主走査ラインの同一位置の画素の画像データを加算して該各主走査ラインの各画素の画像データ列を生成する画像データ列生成手段と、該画像データ列を用いて前記検査対象物の表面状態を検査する判定手段とを具備し、
前記判定手段は、前記各主走査ラインの画像データ列のうち前記主走査方向において連続する複数の画素からなるブロック内の画素の画像データを加算してブロック内加算データを算出する累積手段と、前記主走査方向において隣接する2ブロックのブロック内加算データの相関値を算出する相関手段と、前記相関値を閾値判定する手段とを具備するものである。
検査対象物を主走査方向に走査するラインセンサを有し、画像データを得るカメラと、
前記主走査方向と直交する副走査方向に前記カメラと検査対象物とを相対的に移動させる副走査手段と、
前記カメラから出力される画像データに対し演算処理を施して前記検査対象物の表面状態を検査する演算処理手段とを備える表面検査装置であって、
前記演算処理手段は、各主走査ラインの各画素の画像データに対して同一の主走査ラインの隣接する第1の画素の画像データと、隣接する1つの主走査ラインの同一位置の第2の画素の画像データと、該隣接する1つの主走査ラインにおいて前記第1の画素と前記第2の画素に隣接する第3の画素の画像データとを加算して該各主走査ラインの各画素の画像データ列を生成する画像データ列生成手段と、該画像データ列を用いて前記検査対象物の表面状態を検査する判定手段とを具備し、
前記判定手段は、前記各主走査ラインの画像データ列のうち前記主走査方向において連続する複数の画素からなるブロック内の画素の画像データを加算してブロック内加算データを算出する累積手段と、前記主走査方向において隣接する2ブロックのブロック内加算データの相関値を算出する相関手段と、前記相関値を閾値判定する手段とを具備するものである。
検査対象物を主走査方向に走査するラインセンサを有し、画像データを得るカメラを用いる表面検査方法において、
前記主走査方向と直交する副走査方向に前記カメラと検査対象物とを相対的に移動させるステップと、
前記カメラから出力される画像データに対し演算処理を施して前記検査対象物の表面状態を検査する演算処理ステップとを備え、
前記演算処理ステップは、各主走査ラインの各画素の画像データに対して隣接する1つの主走査ラインの同一位置の画素の画像データを加算して該各主走査ラインの各画素の画像データ列を生成する画像データ列生成ステップと、該画像データ列を用いて前記検査対象物の表面状態を検査する判定ステップとを具備し、
前記判定ステップは、前記各主走査ラインの画像データ列のうち前記主走査方向において連続する複数の画素からなるブロック内の画素の画像データを加算してブロック内加算データを算出するステップと、前記主走査方向において隣接する2ブロックのブロック内加算データの相関値を算出するステップと、前記相関値を閾値判定するステップとを具備するものである。
検査対象物を主走査方向に走査するラインセンサを有し、画像データを得るカメラを陥る表面検査方法において、
前記主走査方向と直交する副走査方向に前記カメラと検査対象物とを相対的に移動させるステップと、
前記カメラから出力される画像データに対し演算処理を施して前記検査対象物の表面状態を検査する演算処理ステップとを備え、
前記演算処理ステップは、各主走査ラインの各画素の画像データに対して同一の主走査ラインの隣接する第1の画素の画像データと、隣接する1つの主走査ラインの同一位置の第2の画素の画像データと、該隣接する1つの主走査ラインにおいて前記第1の画素と前記第2の画素に隣接する第3の画素の画像データを加算して該各主走査ラインの各画素の画像データ列を生成する画像データ列生成ステップと、該画像データ列を用いて前記検査対象物の表面状態を検査する判定ステップとを具備し、
前記判定ステップは、前記各主走査ラインの画像データ列のうち前記主走査方向において連続する複数の画素からなるブロック内の画素の画像データを加算してブロック内加算データを算出するステップと、前記主走査方向において隣接する2ブロックのブロック内加算データの相関値を算出するステップと、前記相関値を閾値判定するステップとを具備するものである。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る表面検査装置の構成を示す図である。検査対象物10は例えば押し出し成形物、引き抜き成形物やロール成形物などであり、表面検査時には図示しない主走査装置によって矢印Yで示す方向(副走査方向)に移動する。なお、成形物を成形時に検査する場合は、成形機の搬送機構が副走査装置となるので、格別な副走査装置を設ける必要はない。この検査対象物10に対向して、ディジタルカメラ11が設置されている。
次に、図9を参照して本発明の第2の実施形態について説明する。第2実施形態に係る表面検査装置の構成は図1に示した第1実施形態のものと同一である。
第2実施形態に係る表面検査装置の全体構成も図1に示した第1実施形態のものと同一である。第2実施形態と同様、第3実施形態も画像データ列の生成方法の変形に関する。
Claims (4)
- 検査対象物を主走査方向に走査するラインセンサを有し、画像データを得るカメラと、
前記主走査方向と直交する副走査方向に前記カメラと検査対象物とを相対的に移動させる副走査手段と、
前記カメラから出力される画像データに対し演算処理を施して前記検査対象物の表面状態を検査する演算処理手段とを備える表面検査装置であって、
前記演算処理手段は、各主走査ラインの各画素の画像データに対して隣接する1つの主走査ラインの同一位置の画素の画像データを加算して該各主走査ラインの各画素の画像データ列を生成する画像データ列生成手段と、該画像データ列を用いて前記検査対象物の表面状態を検査する判定手段とを具備し、
前記判定手段は、前記各主走査ラインの画像データ列のうち前記主走査方向において連続する複数の画素からなるブロック内の画素の画像データを加算してブロック内加算データを算出する累積手段と、前記主走査方向において隣接する2ブロックのブロック内加算データの相関値を算出する相関手段と、前記相関値を閾値判定する手段とを具備する表面検査装置。 - 検査対象物を主走査方向に走査するラインセンサを有し、画像データを得るカメラと、
前記主走査方向と直交する副走査方向に前記カメラと検査対象物とを相対的に移動させる副走査手段と、
前記カメラから出力される画像データに対し演算処理を施して前記検査対象物の表面状態を検査する演算処理手段とを備える表面検査装置であって、
前記演算処理手段は、各主走査ラインの各画素の画像データに対して同一の主走査ラインの隣接する第1の画素の画像データと、隣接する1つの主走査ラインの同一位置の第2の画素の画像データと、該隣接する1つの主走査ラインにおいて前記第1の画素と前記第2の画素に隣接する第3の画素の画像データとを加算して該各主走査ラインの各画素の画像データ列を生成する画像データ列生成手段と、該画像データ列を用いて前記検査対象物の表面状態を検査する判定手段とを具備し、
前記判定手段は、前記各主走査ラインの画像データ列のうち前記主走査方向において連続する複数の画素からなるブロック内の画素の画像データを加算してブロック内加算データを算出する累積手段と、前記主走査方向において隣接する2ブロックのブロック内加算データの相関値を算出する相関手段と、前記相関値を閾値判定する手段とを具備する表面検査装置。 - 検査対象物を主走査方向に走査するラインセンサを有し、画像データを得るカメラを用いる表面検査方法において、
前記主走査方向と直交する副走査方向に前記カメラと検査対象物とを相対的に移動させるステップと、
前記カメラから出力される画像データに対し演算処理を施して前記検査対象物の表面状態を検査する演算処理ステップとを備え、
前記演算処理ステップは、各主走査ラインの各画素の画像データに対して隣接する1つの主走査ラインの同一位置の画素の画像データを加算して該各主走査ラインの各画素の画像データ列を生成する画像データ列生成ステップと、該画像データ列を用いて前記検査対象物の表面状態を検査する判定ステップとを具備し、
前記判定ステップは、前記各主走査ラインの画像データ列のうち前記主走査方向において連続する複数の画素からなるブロック内の画素の画像データを加算してブロック内加算データを算出するステップと、前記主走査方向において隣接する2ブロックのブロック内加算データの相関値を算出するステップと、前記相関値を閾値判定するステップとを具備する表面検査方法。 - 検査対象物を主走査方向に走査するラインセンサを有し、画像データを得るカメラを陥る表面検査方法において、
前記主走査方向と直交する副走査方向に前記カメラと検査対象物とを相対的に移動させるステップと、
前記カメラから出力される画像データに対し演算処理を施して前記検査対象物の表面状態を検査する演算処理ステップとを備え、
前記演算処理ステップは、各主走査ラインの各画素の画像データに対して同一の主走査ラインの隣接する第1の画素の画像データと、隣接する1つの主走査ラインの同一位置の第2の画素の画像データと、該隣接する1つの主走査ラインにおいて前記第1の画素と前記第2の画素に隣接する第3の画素の画像データを加算して該各主走査ラインの各画素の画像データ列を生成する画像データ列生成ステップと、該画像データ列を用いて前記検査対象物の表面状態を検査する判定ステップとを具備し、
前記判定ステップは、前記各主走査ラインの画像データ列のうち前記主走査方向において連続する複数の画素からなるブロック内の画素の画像データを加算してブロック内加算データを算出するステップと、前記主走査方向において隣接する2ブロックのブロック内加算データの相関値を算出するステップと、前記相関値を閾値判定するステップとを具備する表面検査方法。
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