JP2001010024A - 検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】モアレの部分の影響を解消するか、すくなくと
も問題ない程度に軽減することができ良品を不良品と誤
判定することのない検査装置を提供する。 【解決手段】基準の物品の撮像画像である基準画像と検
査対象の物品の撮像画像である検査対象画像とに基づい
て検査を行う検査装置であって、前記基準画像と前記検
査対象画像に対して平滑化処理を行って平滑化基準画像
と平滑化検査対象画像を得る平滑化手段と、前記平滑化
基準画像と前記平滑化検査対象画像とを比較して良否判
定を行う良否判定手段と、を有する検査装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は撮像した画像に基づ
いて行う検査の技術分野に属する。たとえば、印刷機に
おける印刷品質の良否検査、製本機における投入折丁の
乱丁検査、等に関する。

【０００２】

【従来の技術】印刷機において排出される印刷物につい
て不良印刷物が製品に混入してしまうことがないように
印刷品質の良否を検査することが行われる（品質検
査）。また、製本機において正規でない折丁が投入され
乱丁が生じることを回避するため折丁が正規のものであ
るか否かを検査することが行われる（乱丁検査）。この
ような検査を目的とする検査装置には、撮像画像として
基準画像と検査対象画像とを得て、それらの画像を比較
して検査する方式の検査装置がある。この画像の比較は
画素単位で行われることが普通であるが、基準画像と検
査対象画像との間に撮像位置のずれが存在する場合に
は、対応する画素における比較が困難となる場合があ
る。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】たとえば、撮像するこ
とによって検査対象物品の光学像からディジタル画像が
得られるが、このディジタル化を行う過程において光学
像の絵柄によっては得られるディジタル画像にはモアレ
が存在することとなる。このモアレは撮像位置のずれが
僅かであっても大きなパターンの変化となって現れる。
そのため、基準画像と検査対象画像との比較を行った場
合に、光学像の絵柄は全く変化がない場合においても、
ディジタル画像においてモアレの部分は変化しているよ
うに検出される。したがって、品質検査においては良品
を不良品と判定する、乱丁検査においては正規の折丁を
乱丁と判定する、というような誤検出が起きることとな
る。

【０００４】この誤検出の一例を図５に基づいて説明す
る。図５（Ａ）は光学像、すなわち撮像対象の実際の絵
を示している。また図５（Ｂ）および図５（Ｃ）は、デ
ィジタル画像、すなわちその絵を撮像して得られる入力
画像を示している。図５（Ｂ）と図５（Ｃ）とでは撮像
を行った時刻が異なっており、撮像対象の絵は同じであ
っても撮像位置にはズレが生じている。その撮像位置の
ズレの影響が、走査位置のズレとなり、走査によって撮
像可能な部分と、走査と走査の間の撮像不可能な領域の
相違となって現れる。すなわち図５（Ｂ）のディジタル
画像においては１つの三角形と２つの長矩形が撮像でき
ているが、図５（Ｃ）のディジタル画像においては２つ
の三角形と１つの長矩形だけが撮像され、長矩形の１つ
は失われている。

【０００５】本発明は上記の問題を解決するために成さ
れたものであり、その目的は、モアレの部分の影響を解
消するか、すくなくとも問題ない程度に軽減することが
でき良品を不良品と誤判定することのない検査装置を提
供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記の課題は下記の本発
明によって解決される。すなわち、本発明の請求項１に
係る検査装置は、基準の物品の撮像画像である基準画像
と検査対象の物品の撮像画像である検査対象画像とに基
づいて検査を行う検査装置であって、前記基準画像と前
記検査対象画像に対して平滑化処理を行って平滑化基準
画像と平滑化検査対象画像を得る平滑化手段と、前記平
滑化基準画像と前記平滑化検査対象画像とを比較して良
否判定を行う良否判定手段と、を有するようにしたもの
である。

【０００７】本発明によれば、平滑化手段により基準画
像と検査対象画像に対して平滑化処理が行われ平滑化基
準画像と平滑化検査対象画像が得られ、良否判定手段に
より平滑化基準画像と平滑化検査対象画像とが比較され
良否判定が行われる。すなわち、撮像画像に対して平滑
化処理を行うことによりモアレの部分の影響を解消する
か、すくなくとも問題ない程度に軽減することができ良
品を不良品と誤判定することのない検査装置が提供され
る。

【０００８】本発明の請求項２に係る検査装置は、請求
項１に係る検査装置において、前記平滑化手段は、ｎを
正の整数として、中心画素Ｐ（ｉ，ｊ）の（２ｎ＋１）
個の一列の近傍画素Ｐ（ｉ，ｊ−ｎ）〜Ｐ（ｉ，ｊ＋
ｎ）を用いて平均化し、平均化中心画素Ｐｍ（ｉ，ｊ）
を生成する平滑化処理を行うようにしたものである。本
発明によれば、中心画素の値を、その近傍の一列の画素
を用いて演算した平均値に置き換えることにより平滑化
処理が行われる。

【０００９】また、本発明の請求項２に係る検査装置
は、請求項１に係る検査装置において、前記平滑化手段
は、ｎを正の整数として、中心画素Ｐ（ｉ，ｊ）の（２
ｎ＋１）×（２ｎ＋１）個の行列配置の近傍画素Ｐ（ｉ
−ｎ，ｊ−ｎ）〜Ｐ（ｉ＋ｎ，ｊ＋ｎ）を用いて平均化
し、平均化中心画素Ｐｍ（ｉ，ｊ）を生成する平滑化処
理を行うようにしたものである。本発明によれば、中心
画素の値を、その近傍の行列配置の画素を用いて演算し
た平均値に置き換えることにより平滑化処理が行われ
る。

【００１０】また、本発明の請求項３に係る検査装置
は、請求項１または２に係る検査装置において、前記物
品は折丁であって、前記良否判定手段による前記良否判
定は前記折丁が乱丁であるか否かの判定であるようにし
たものである。本発明によれば、正規の折丁を乱丁と誤
判定することなく乱丁検出を行う検査装置が提供され
る。

【００１１】

【発明の実施の形態】次に、本発明について実施の形態
により説明する。本発明における平滑化処理の作用につ
いての説明図を図１に示す。図１（Ａ）は光学像、すな
わち撮像対象の実際の絵を示している。図１（Ｂ）にお
いて（Ｂ−１）と（Ｂ−２）は平滑化処理を行うオペレ
ータの一例を示したものである。また、図１（Ｃ）は撮
像して得たディジタル画像に対し平滑化処理を行って得
られる画像を示している。図１（Ａ）に示すように、実
際の絵では１つの黒ベタの三角形と空白に挟まれた１つ
の黒ベタの長矩形とそれに続く１つの黒ベタの長矩形が
存在する。これを撮像して得られるディジタル画像に対
して平滑化処理を行って得られる画像には、図１（Ｃ）
に示すように、１つの黒ベタの三角形と１つの灰色の長
矩形と１つの黒ベタの長矩形とが存在する。すなわち、
図１（Ａ）における空白に挟まれた１つの黒ベタの長矩
形は、図１（Ｃ）における灰色の長矩形に変化する。

【００１２】図１（Ｂ）に示すオペレータの一例を用い
た平滑化処理について説明する。（Ｂ−１）は、中心画
素Ｐ（ｉ，ｊ）の３個の一列の近傍画素Ｐ（ｉ，ｊ−
１）〜Ｐ（ｉ，ｊ＋１）を用いて平均化し、平均化中心
画素Ｐｍ（ｉ，ｊ）を生成するオペレータを示してい
る。このオペレータの図において、縦に３つ配置してい
る四角形はこのオペレータを適用する画素の位置を示し
ており、四角形の中の数値（この一例では“１”）は平
均値を計算する際の重み付けを示している。すなわち、
このオペレータをＰｍ（ｉ，ｊ）に作用させることは、
下記に示す数１の計算を行うことに等しい。

【数１】 Ｐｍ（ｉ，ｊ） ＝ （１／３）×（１×Ｐ（ｉ，ｊ−１）＋１×Ｐ（ｉ，ｊ ）＋１×Ｐ（ｉ，ｊ＋１）） ＝ （Ｐ（ｉ，ｊ−１）＋Ｐ（ｉ，ｊ）＋Ｐ（ｉ，ｊ＋１） ）／３

【００１３】次に、（Ｂ−２）は、中心画素Ｐ（ｉ，
ｊ）の３×３個の行列配置の近傍画素Ｐ（ｉ−１，ｊ−
１）〜Ｐ（ｉ＋１，ｊ＋１）を用いて平均化し、平均化
中心画素Ｐｍ（ｉ，ｊ）を生成するオペレータを示して
いる。このオペレータの図において、縦横に３×３個が
行列配置している四角形はこのオペレータを適用する画
素の位置を示しており、四角形の中の数値（この一例で
は“１”）は平均値を計算する際の重み付けを示してい
る。すなわち、このオペレータをＰｍ（ｉ，ｊ）に作用
させることは、下記に示す数２の計算を行うことに等し
い。

【数２】 Ｐｍ（ｉ，ｊ） ＝ （１／９）×（１×Ｐ（ｉ−１，ｊ−１）＋１×Ｐ（ｉ ，ｊ−１）＋１×Ｐ（ｉ＋１，ｊ−１）＋１×Ｐ（ｉ−１，ｊ）＋１×Ｐ（ｉ， ｊ）＋１×Ｐ（ｉ＋１，ｊ）＋１×Ｐ（ｉ−１，ｊ＋１）＋１×Ｐ（ｉ，ｊ＋１ ）＋１×Ｐ（ｉ＋１，ｊ＋１）） ＝ （Ｐ（ｉ−１，ｊ−１）＋Ｐ（ｉ，ｊ−１）＋Ｐ（ｉ＋ １，ｊ−１）＋Ｐ（ｉ−１，ｊ）＋Ｐ（ｉ，ｊ）＋Ｐ（ｉ＋１，ｊ）＋Ｐ（ｉ− １，ｊ＋１）＋Ｐ（ｉ，ｊ＋１）＋Ｐ（ｉ＋１，ｊ＋１））／９

【００１４】図１（Ａ）における空白に挟まれた１つの
黒ベタの長矩形は、図１（Ｃ）における灰色の長矩形に
変化する理由は、明らかに平均値が計算されることにあ
る。前述のモアレの影響は、撮像手段によって撮像して
得たディジタル画像における画素配列の空間周波数（周
期の逆数）と絵柄の空間周波数とが関係している。一般
に、画素配列と絵柄における空間周波数がほぼ一致する
かほぼ単純な整数比を有する場合にモアレの影響は顕著
となる。図１に示すような変化は、たとえば、灰色に変
化した領域縦方向（天地方向）における画素配列の空間
周波数が、図１（Ａ）における空白に挟まれた１つの黒
ベタの長矩形の部分における絵柄の空間周波数とほぼ一
致する場合に起きる。モアレについては周知事項である
から詳細な説明は省略するが、図１に絵図として示すよ
うに、本発明はこのようにして起きるモアレによる影響
を平滑化処理により回避する。

【００１５】次に、本発明の検査装置について乱丁を検
査する装置を一例として詳細を説明する。ここでは、乱
丁を検査する本発明の「検査装置」のことを本発明の
「乱丁検査装置」と呼ぶ。本発明の乱丁検査装置の構成
の一例を図２に示す。図２において、１は乱丁検査装置
本体、２は撮像手段、３は入力部、４は出力部である。
また、乱丁検査装置本体１において、５はインターフェ
ース部、６は演算部、７は記憶部、８は平滑化手段、９
は位置ずれ補正手段、１０は良否判定手段、１１は基準
画像、１２は平滑化基準画像、１３は検査対象画像、１
４は平滑化検査対象画像、１５は判定データである。

【００１６】また、中綴製本機の丁合ユニットにおいて
本発明の乱丁検査装置の撮像部２を設置したときの構成
の一例を図３に示す。図３において、Ｆはフィーダー、
Ｓは折丁、Ｇはギャザリングチェーン、２は撮像部、２
０はラップドラム、２２はオープニングドラム、２４は
フィーダードラム、３１はレジスターストッパー支持
軸、３２はレジスターストッパー、３３は押さえコロ、
３４はガイドバーである。また、本発明の乱丁検査装置
におけるデータ処理の過程の一例をフロー図として図４
に示す。以下、図２〜図４に基づいて、本発明の説明を
行う。

【００１７】乱丁検査装置本体１は、パーソナルコンピ
ュータ、ワークステーション、画像処理装置、等のデー
タ処理装置のハードウェアとソフトウェアによって実現
することができる。乱丁検査装置本体１には、撮像部
２、入力部３、出力部４が接続されている。撮像部２は
照明部と撮像部とを有する。撮像部には、たとえば、薄
膜技術を応用し結像光学系を有しない密着型のラインセ
ンサ、ロッドレンズ等の小型のレンズを配列した結像光
学系を有する近接型のラインセンサ、ＣＣＤ（charge c
oupled device ）を撮像素子とし、縮小結像光学系を有
するラインセンサカメラ、エリアセンサカメラ、等を使
用することができる。エリアセンサカメラ、照明装置、
等を有する。撮像部２は折丁Ｓ（図３参照）を撮像して
撮像信号を出力する。撮像信号はＡ／Ｄ変換器（analog
-to-digital converter ）によってディジタルデータに
変換され、乱丁検査装置本体１のインタフェース部５を
経由して記憶部７に記憶される。

【００１８】図３に示すように、撮像部２は、中綴製本
機の丁合ユニットのフィーダーＦに積載され次にフィー
ダードラム２４によって引き出される折丁Ｓの表面を撮
像する。フィーダーＦの周りには十分余裕のある空間は
存在しないため、図３に示す一例においては、撮像部２
は、近接型等のラインセンサが用いられている。撮像部
２と折丁Ｓとの間の仕切り板には開口部、すなわち窓が
設けられており、その窓を通じて撮像部２は折丁Ｓの表
面の絵柄を撮像する。撮像は折丁Ｓがフィーダードラム
２４によってフィーダーＦから引き出されるときに行わ
れる。ラインセンサによる主走査と折丁Ｓが引き出され
るときの副走査によって２次元の撮像画像を得ることが
できる。

【００１９】なお、フィーダードラムＦの咬によって一
方の端部において把持された折丁Ｓは、フィーダードラ
ムＦの回転にともないレジスターストッパー３２までそ
の端部が達する。このとき、ラップドラム２０とオープ
ニングドラム２２によって折丁Ｓの他方の２つの端部が
開かれるとともに、フィーダードラムＦの咬は折丁Ｓの
一方の端部を開放する。これにより、折丁Ｓはギャザリ
ングチェーンＧの上にまたぐようにして載せられる。中
綴製本機は複数の丁合ユニットを有する。その複数の丁
合ユニットにおいて複数の折丁がギャザリングチェーン
Ｇの上に重ねられ、一冊分の折丁がまとめられる。

【００２０】したがって、乱丁検査装置においてすくな
くとも撮像部２は、複数存在する丁合ユニットの数と同
数が必要である。しかし、乱丁検査装置本体１は、必ず
しも複数存在する丁合ユニットの数と同数が必要とはな
らない。乱丁検査装置本体１に複数の撮像部２を接続す
る構成とすることができる。本発明はこのような構成に
おける態様によって限定されることはない。また、特定
数の丁合ユニットを有する特定の製本装置に本発明の乱
丁検査装置を応用することは極めて容易なことである。
そこで、以降の説明においては、丁合ユニット、乱丁検
査装置本体１、撮像部２、等の数量については特に言及
しない。

【００２１】図２に戻って、入力部３は、たとえばキー
ボード、マウス、等を有する。キーボード、マウス、等
を操作して、乱丁検査装置本体１に対し、検査開始、検
査終了、動作環境の設定、等の指示入力を行うことがで
きる。出力部４は、たとえばＣＲＴ（cathode ray tub
e）ディスプレイ、液晶ディスプレイ、等のディスプレ
イである。ディスプレイには、基準画像、平滑化基準画
像、検査対象画像、平滑化検査対象画像、判定データ、
等を表示することができる。また動作環境を設定する画
面、等の指示入力を行う画面を表示することができる。

【００２２】乱丁検査装置本体１において、インタフェ
ース部５は、各種のインタフェースを１つのブロックで
示したものである。たとえば、撮像部２、入力部３、出
力部４だけでなく、イーサーネット等のＬＡＮ（local
area network）を構成するインターフェース機能を持た
せることができる。そして、乱丁検査装置本体１は、生
産管理システム、等のコンピュータシステムとネットワ
ーク接続するように構成することができる。

【００２３】図２に示すように、演算部６は、平滑化手
段８、位置ずれ補正手段９、良否判定手段１０から構成
され、記憶部７は、基準画像１１、平滑化基準画像１
２、検査対象画像１３、平滑化検査対象画像１４、判定
データ１５から構成される。平滑化手段８は、基準画像
１１と検査対象画像１３に対して平滑化処理を行って平
滑化基準画像１２と平滑化検査対象画像１４を得る。平
滑化処理の具体的な内容はすでに説明したとおりであ
る。

【００２４】位置ずれ補正手段９は、平滑化基準画像１
２と平滑化検査対象画像１４との間の位置ずれを補正す
る。位置ずれ補正手段９の動作は、通常は、平滑化基準
画像１２と平滑化検査対象画像１４との間の位置ずれ量
を検出する過程と、検出した位置ずれ量に基づいて位置
ずれを補正する過程とから構成される。しかし、位置ず
れを補正する過程は、平滑化基準画像１２と平滑化検査
対象画像１４とにおいて対応する画素を決定する際のア
ドレス変換と見做すことができる。そのため、位置ずれ
補正手段９は位置ずれ量を検出する過程だけで、位置ず
れを補正する過程は良否判定手段１０に組み込まれる場
合がある。本発明においては、位置ずれ補正手段９が独
立したものであっても、位置ずれ補正手段９と良否判定
手段１０が関連して動作するものであってもよい。

【００２５】良否判定手段１０は、平滑化基準画像１２
と平滑化検査対象画像１４とを比較して良否判定を行い
判定データ１５を生成する。判定データ１５は記憶部７
に記憶され、出力部４（ディスプレイ）に判定内容が表
示される。また判定データ１６はインタフェース５を通
じて外部に制御信号として出力される。制御信号は、乱
丁であると判定された場合に、中綴製本機を停止す
る、警報を発する、等のために用いられる。

【００２６】上記の構成において、次に、本発明の乱丁
検査装置における処理過程について整理して説明する。
まず、図４のステップＳ１において、使用する丁合ユニ
ットの番号、適用する平滑化処理の種類、適用する判定
方法（許容レベル、等）、等に関する検査条件入力が行
われる。この検査条件入力は、オペレータが乱丁検査装
置本体１を操作して、直接的に条件を入力するか、また
は、ＬＡＮを通じて生産管理装置等からデータ転送を受
けて入力を行う。

【００２７】次に、ステップＳ２において、検出タイミ
ングであるか否かが判定される。丁合ユニットにおいて
丁合の準備が完了し丁合が開始されると、丁合ユニット
の動作に同期して乱丁検査装置は動作を行う。そのた
め、丁合ユニットの原動軸の回転はロータリーエンコー
ダ等により検出さて、その検出によって得られる回転信
号を乱丁検査装置は入力する。この回転信号に基づいて
検出タイミングであるか否かが判定される。検出タイミ
ングでないと判定された場合にはステップＳ２において
乱丁検査装置は待機状態となる。一方、検出タイミング
であると判定された場合にはステップＳ３に進む。

【００２８】次に、ステップＳ３において、丁合ユニッ
トに設けられた撮像部２において折丁の撮像が行われ撮
像画像が得られる。次に、ステップＳ４において、その
撮像画像が正規の折丁の撮像画像、すなわち基準画像で
あるか否かが判定される。基準画像であると判定された
場合にはステップＳ５に進み、基準画像でない（撮像画
像は検査対象画像である）と判定された場合にはステッ
プＳ８に進む。

【００２９】撮像画像が基準画像である場合には、ステ
ップＳ５において、基準画像は記憶部７に基準画像１１
として記憶される。次に、ステップＳ６において、平滑
化手段８は基準画像に対して平滑化処理を行い平滑化基
準画像を生成する。次に、ステップＳ７において、平滑
化基準画像は記憶部７に平滑化基準画像１２として記憶
される。そして、前述のステップＳ２に戻る。

【００３０】撮像画像が検査対象画像である場合には、
ステップＳ８において、検査対象画像は記憶部７に検査
対象画像１３として記憶される。平滑化手段８は検査対
象画像１３を平滑化処理して平滑化検査対象画像を生成
する。この平滑化検査対象画像は記憶部７に平滑化検査
対象画像１４として記憶される。次に、ステップＳ９に
おいて、位置ずれ補正手段９は平滑化基準画像１２と平
滑化検査対象画像１４の位置ずれを補正する。

【００３１】次に、ステップＳ１０において、良否判定
手段１０は、位置ずれ補正を行った平滑化基準画像１２
と平滑化検査対象画像１４に基づいて良否判定を行う。
たとえば、平滑化基準画像１２と平滑化検査対象画像１
４の対応する画素の画素値を比較して、その差異が許容
範囲に含まれている場合には“良”、すなわち正規の折
丁と判定し、その差異が許容範囲を越えている場合には
“不良”、すなわち正規の折丁ではなく乱丁であると判
定する。その判定は、判定データ１５として記憶部７に
記憶される。次に、ステップＳ１１において、乱丁検知
を継続するか終了するかの判定が行われる。継続する場
合にはステップＳ２に戻って上記の処理過程を繰り返
す。終了する場合には処理過程を終了とする。

【００３２】

【発明の効果】以上のように本発明の請求項１に係る検
査装置によれば、撮像画像に対して平滑化処理を行うこ
とによりモアレの部分の影響を解消するか、すくなくと
も問題ない程度に軽減することができ良品を不良品と誤
判定することのない検査装置が提供される。また、本発
明の請求項２に係る検査装置によれば、中心画素の値
を、その近傍の一列の画素を用いて演算した平均値に置
き換えることにより平滑化処理が行われる。また、本発
明の請求項３に係る検査装置によれば、中心画素の値
を、その近傍の行列配置の画素を用いて演算した平均値
に置き換えることにより平滑化処理が行われる。また、
本発明の請求項４に係る検査装置によれば、正規の折丁
を乱丁と誤判定することなく乱丁検出を行う検査装置が
提供される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明における平滑化処理の作用に関する説明
図である。

【図２】本発明の検査装置（乱丁検査装置）の構成の一
例を示す図である。

【図３】中綴製本機の丁合ユニットにおいて本発明の検
査装置（乱丁検査装置）の撮像部２を設置したときの構
成の一例を示す図である。

【図４】本発明の検査装置（乱丁検査装置）におけるデ
ータ処理の過程の一例を示すフロー図である。

【図５】誤検出の一例を示す説明図である。

【符号の説明】

Ｆ フィーダー Ｓ 折丁 Ｇ ギャザリングチェーン １ 乱丁検査装置本体 ２ 撮像部 ３ 入力部 ４ 出力部 ５ インターフェース部 ６ 演算部 ７ 記憶部 ８ 平滑化手段 ９ 位置ずれ補正手段 １０ 良否判定手段 １１ 基準画像 １２ 平滑化基準画像 １３ 検査対象画像 １４ 平滑化検査対象画像 １５ 判定データ ２０ ラップドラム ２２ オープニングドラム ２４ フィーダードラム ３１ レジスターストッパー支持軸 ３２ レジスターストッパー ３３ 押さえコロ ３４ ガイドバー

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 橋本 浩一 東京都新宿区市谷加賀町一丁目１番１号 大日本印刷株式会社内 (72)発明者 加来 昌典 東京都新宿区市谷加賀町一丁目１番１号 大日本印刷株式会社内 Ｆターム(参考） 2C250 EB43 2G051 AA34 AB11 AB20 BA20 CA03 CA04 DA01 DA06 EA12 EB01 EB02 EC03 ED03 ED07 FA10

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】基準の物品の撮像画像である基準画像と検
   査対象の物品の撮像画像である検査対象画像とに基づい
   て検査を行う検査装置であって、 前記基準画像と前記検査対象画像に対して平滑化処理を
   行って平滑化基準画像と平滑化検査対象画像を得る平滑
   化手段と、 前記平滑化基準画像と前記平滑化検査対象画像とを比較
   して良否判定を行う良否判定手段と、 を有することを特徴とする検査装置。
2. 【請求項２】請求項１記載の検査装置において、前記平
   滑化手段は、ｎを正の整数として、中心画素Ｐ（ｉ，
   ｊ）の（２ｎ＋１）個の一列の近傍画素Ｐ（ｉ，ｊ−
   ｎ）〜Ｐ（ｉ，ｊ＋ｎ）を用いて平均化し、平均化中心
   画素Ｐｍ（ｉ，ｊ）を生成する平滑化処理を行うことを
   特徴とする検査装置。
3. 【請求項３】請求項１記載の検査装置において、前記平
   滑化手段は、ｎを正の整数として、中心画素Ｐ（ｉ，
   ｊ）の（２ｎ＋１）×（２ｎ＋１）個の行列配置の近傍
   画素Ｐ（ｉ−ｎ，ｊ−ｎ）〜Ｐ（ｉ＋ｎ，ｊ＋ｎ）を用
   いて平均化し、平均化中心画素Ｐｍ（ｉ，ｊ）を生成す
   る平滑化処理を行うことを特徴とする検査装置。
4. 【請求項４】請求項１〜３のいずれか記載の検査装置に
   おいて、前記物品は折丁であって、前記良否判定手段に
   よる前記良否判定は前記折丁が乱丁であるか否かの判定
   であることを特徴とする検査装置。