JP4911169B2 - アレイ基板及び表示装置 - Google Patents

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Description

本発明は、アレイ基板及び表示装置に関するものである。特に、表示装置の主要部である表示パネルにおいて、マザー基板上に複数の表示パネルが形成される場合の、各種配線、薄膜トランジスタ、画素電極等が形成されたアレイ基板の静電気対策、及び表示装置の腐食対策の構成に関するものである。
近年、表示装置は様々な機器において、観察者への情報表示手段として使用されている。現在の代表的な表示装置の表示パネル(外部回路、筐体等を除いた主要部)は、従来の主流であったブラウン管に代わって、液晶、プラズマ、エレクトロルミネッセンス(EL:Electro Luminescence)、FED(Field Emission Display)等を利用した新しい表示パネルが主流になっている。これらの新しい表示パネルは、表示領域に画像を形成する基本単位である画素がマトリクス状に複数配置されており、一般に、表示領域は平面(フラット)である。また、表示装置の厚さが薄くできる方式でもある。これらの新しい表示装置は、総称してフラットパネルディスプレイとも呼ばれている。
現在、最も代表的な表示装置であるアクティブマトリクス型の液晶表示装置を例にすると、透明なガラス、プラスチック等の絶縁性基板からなるマザー基板上に、複数の表示領域が形成される。そして、各表示領域には、複数の走査配線や信号配線が格子状に配置され、その交点にスイッチング素子である薄膜トランジスタや、画素電極を有する画素がマトリクス状に配置されている。これらの製造工程によってマザー基板は、走査配線、信号配線、画素電極、及び各種配線、端子等が形成されたアレイ基板となる。アレイ基板は、表示領域と対応するようにして、対向基板が数μm程度の隙間(ギャップ)を空けて貼り合わされ、切断、分離される。これによって、複数枚の液晶パネル(表示パネル)が得られる。また、対向基板との隙間には液晶が注入される。液晶の注入は、方式によって、対向基板を貼り合せる前に行う適下注入方式と、後に行う真空注入方式がある。
ここで、アレイ基板の切断、分離前の製造工程、及び駆動回路、外部回路等の実装前の製造工程において、外部からの静電気によって、アレイ基板上の走査配線や信号配線が断線や短絡を起こす放電破壊という課題があった。又は、薄膜トランジスタの特性変化(閾値の変化等)が生じる、ゲート絶縁膜が放電破壊するという課題があった。
上述のような課題を解決する方法として、例えば、特許文献1に、アレイ基板を各液晶パネルに切断、分離する切断部領域の近傍に、多数の走査配線又は信号配線の引き出し配線を共通に接続する静電気対策用のショート配線(ショートリング)を設ける構成が開示されている。走査配線又は信号配線を共通に接続することにより、静電気が生じても電荷が分散され、配線間の電位差がなくなるので配線間で放電破壊が起き難くなる効果がある。
特開平11−119246号公報。
一般に、このショート配線の形成領域は、複数枚の表示パネルが、マザー基板から切断、分離される際には廃棄される。
しかし、表示装置の低コスト化の観点から、1枚のマザー基板から、なるべく多数の表示パネルが得られる事が望ましく、この廃棄されるショート配線の形成領域は表示パネルには使用できないので、1枚のマザー基板から得られる表示パネルの枚数が少なくなるという課題があった。
また、走査配線の引き出し配線、又は信号配線の引き出し配線と、ショート配線とを接続する接続配線を、走査配線、又は信号配線の外部接続端子から延在して、走査配線又は信号配線と同一層で形成すると、マザー基板から表示パネルを切断、分離する時の位置は、通常はこの接続配線上になる。この結果、切断面に接続配線を構成する走査配線又は信号配線の層が露出する。
また、一般に、走査配線又は信号配線は低抵抗な金属膜で形成されるが、低抵抗な金属膜は高温多湿下では腐食が発生しやすい。従って、接続配線が低抵抗な金属膜で形成されていると、表示装置の使用環境によっては、切断面に露出した接続配線から腐食が発生し、アレイ基板の外部接続端子、さらには引き出し配線まで徐々に進行して、表示装置が使用中に断線不良を起こす等の信頼性の課題があった。
本発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、1枚のマザー基板から得られる表示パネルの枚数が多くなるような構成のアレイ基板を提供することを目的とする。
また、アレイ基板からの切断、分離後に、組み立てられる表示装置の信頼性の向上を図ることを目的とする。
本発明は、絶縁性基板上に、複数の表示パネルの一部となる複数の表示領域と、この表示領域は、複数の走査配線と複数の信号配線との交差領域に形成された画素電極を有する複数の画素がマトリクス状に配置されて構成され、この表示領域の外に、複数の画素に基準電位を与える共通配線と、表示パネルを駆動する駆動回路に接続される外部接続端子とを有するアレイ基板において、絶縁性基板上の外部接続端子と、この外部接続端子のある側に隣接する表示パネルの共通配線とを共通に接続する接続配線が設けられ、この接続配線は絶縁性基板の切断位置に配置されており、かつ、全ての接続配線は、前記走査配線または前記信号配線を構成する導電層の内、最も耐腐食性に劣る導電層よりも、耐腐食性に優れた方の導電層で形成されているものである。
本発明によれば、切断、分離前の1枚のアレイ基板(マザー基板)から得られる表示パネルの枚数を多くすることができる。
また、表示パネルの切断面に露出する接続配線の腐食を抑制することができ、信頼性の高い表示装置を得ることができる。
以下、本発明のアレイ基板及び表示装置についての実施の形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の実施の形態を説明するための各図面において、同一符号は、同一又は相当部分を示しており、重複する図面、説明は適宜省略する。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1における複数の液晶パネルの配置に対応したアレイ基板の概略構成を示した平面図である。図2は、図1に示した液晶パネルの表示領域を構成するアレイ基板の画素を拡大した平面図である。図3は、図2におけるA−A断面図である。図4は、本発明の実施の形態1における上下に隣接する液晶パネルを切断するアレイ基板の切断領域近傍Sを拡大した平面図である。
実施の形態1は、表示装置が液晶表示装置100の場合である。図1〜3において、複数の画素30がマトリクス状に配置された表示領域40が複数(ここでは12)形成されたアレイ基板110と、これに対向して対向基板(カラーフィルタ基板)120が、樹脂製のスペーサ90によって2〜5μm程度の隙間(ギャップ)を空けて配置され、この隙間に液晶12が注入されて、切断線15の位置で切断、分離することにより、複数枚(ここでは12枚)の液晶パネル50を得ることができる。液晶パネル50は、後工程で、図示していないが、駆動回路(ドライバIC)、外部回路等が実装、接続され、筐体に収められる等によって、組み立てられて液晶表示装置100となる。
ここで、液晶パネル50の片方の基板であるアレイ基板110上の外部接続端子60が、切断線15の位置で切断、分離される前は、隣接する液晶パネル50の共通配線80に、接続配線70で共通に接続されている点が特徴である。図1では外部接続端子60が、下側に隣接する液晶パネル50の共通配線80に接続されている。切断、分離される前のアレイ基板110の最外周近傍には共通配線80に接続されたショートリング82が配置されている。さらに、図1では、左右の隣接する液晶パネル50の共通配線80の間を接続する補助接続配線72も設けられている。
以下に、実施の形態1のアレイ基板110及び液晶表示装置100の製造方法と構成を簡単に説明する。ここでは、最も一般的な、アモルファスSi薄膜トランジスタ方式の5枚マスク製造工程と構成を説明する。まず、マザー基板であるガラス、プラスチック等からなる絶縁性基板1上に、スパッタリング等を用いて、Al、Cu、Cr、Mo、Ta、Ti、W等の金属、又はこれらの合金からなる第一の金属薄膜を成膜して、走査配線2、および補助容量を形成する共通電極3等を所定のパターンに形成する。
次に、プラズマCVD等によりSiNx、SiOx等からなるゲート絶縁膜4、半導体能動膜5、オーミックコンタクト膜5aを連続で成膜して、半導体能動膜5、オーミックコンタクト膜5aを所定のパターンに形成する。ここでは矩形の島状に形成している。
続いて、スパッタリング等を用いて、Al、Cu、Cr、Mo、Ta、Ti、W等の金属、又はこれらの合金からなる第二の金属薄膜を成膜して、信号配線6、ソース電極7、ドレイン電極8、及び共通配線80等を所定のパターンに形成する。ここで、共通配線80は、共通電極3を共通に接続するもので、液晶パネル50の液晶12を交流駆動する基準電位(中心電位)が印加される。
次に、プラズマCVD等によりSiNx、SiOx等からなる保護膜9を成膜して、ドレイン電極8上にコンタクトホール10を形成する。この時、後述するが、走査配線2、信号配線6、共通配線80等の外部接続端子60や、その他の変換部、接続部にもコンタクトホールを形成する。
次に、保護膜9上にスパッタリング等を用いて画素電極11を成膜する。画素電極11は保護膜9に設けられたコンタクトホール10を介してドレイン電極8と接続される。透過型の液晶表示装置100では、画素電極11はITO(Indium Tin Oxide)等の透明性酸化導電膜で形成される。ここで、共通電極3と画素電極11とが重なった部分は保持容量を構成する。
反射型の液晶表示装置では、画素電極11は反射率の高いAl、Ag等からなる金属膜で形成される。半透過型の液晶表示装置では、画素電極11が1つの材料、領域でなく、透明性酸化導電膜で形成された透過領域と、反射率の高い金属膜で形成された反射領域の2つの領域で構成される。
次に、複数の表示領域40の形成されたアレイ基板110と対向させて、ガラス基板20上に、赤、青、緑等のカラーフィルタ21、ITO等の透明性酸化導電膜からなる対向電極22が形成された対向基板120とを、樹脂製のスペーサ90によって2〜5μm程度の隙間(ギャップ)を空けて、表示領域40の周囲をシール材で接着して、この隙間に液晶12を注入する。マザー基板を切断、分離することで複数(図1では12枚)の液晶パネル50が形成される。
なお、対向基板120も、アレイ基板110とほぼ同じ大きさのマザー基板であるガラス基板20上に形成される場合が多い。そして、アレイ基板110と対向基板120が貼り合わされた状態から、切断線15の位置で、複数の液晶パネル50に切断、分離される。
また、対向基板120は、アレイ基板110との液晶12が注入される隙間(ギャップ)の均一性を向上するためや、半透過型の液晶表示装置では、反射領域の隙間(ギャップ)の調整用に透明樹脂からなる平坦化膜が、カラーフィルタ21と対向電極22との間に形成される場合もある。なお、IPS(In Plane Switching)方式では、対向電極22はアレイ基板110上に形成される。
また、液晶パネル50は、駆動回路(ドライバIC)や外部回路と接続するために、アレイ基板110上の表示領域40の外にある外部接続端子60領域等と対向する対向基板120の部分は切断除去される。
また、図3において、図示していないが、アレイ基板110及び対向基板120の液晶12側の界面には配向膜が塗布されており、液晶12の分子配向を制御している。また、液晶パネル50の表面、裏面には偏光板13、23が貼付される。さらに、図示していないが、液晶パネル50を駆動する駆動回路や外部回路が実装、接続される。また、透過型ではアレイ基板110の下側(背面)にバックライトを配置する。最後に、液晶パネル50は筐体に収められる等によって、組み立てられて液晶表示装置100が完成する。
次に、図4の本発明の主要部であるアレイ基板の切断領域近傍Sを拡大した平面図について説明する。図4において、一列に配列された外部接続端子(フレキシブル基板用接続端子)60(60a、60b、60c)は、走査配線引き出し配線2a、信号配線引き出し配線6b、及び共通配線80にそれぞれ接続されている。さらに外部接続端子60からは、接続配線70が延在して、隣接する(ここでは下側)液晶パネル50の共通配線80に接続されている。
なお、ここでは、走査引き出し配線2aは、走査配線2の偶数、奇数番で表示領域40の左右から交互に引き出される構成となっている。
接続配線70が、隣接する液晶パネル50の共通配線80に接続されることにより、走査配線2及び信号配線6が、共通配線80により共通に接続されることになり、隣接する液晶パネル50の共通配線80がショートリング(ショート配線)の機能を有することになる。これによって、従来のように、隣接する液晶パネル50の間に、別途、ショートリングの形成領域を設ける必要がないので、マザー基板(ここではアレイ基板110と対向基板120が貼り合わされた状態)を切断線15の位置で切断、分離しても、廃棄される領域が少なくなり、1枚のマザー基板から得られる液晶パネル50の枚数が多くできる。
次に、走査配線2の外部接続端子60aについて説明する。図5は、走査配線2の外部接続端子領域Lを拡大した平面図である。図6は、図5のB−B断面図である。
走査配線2、走査配線引き出し配線2aの外部接続端子60aは、2層構成であり、下層膜は走査配線2及び走査配線引き出し配線2aと同一層からなる。上層膜の外部接続端子表面材16は、金属膜よりも耐腐食性に優れたITO等の透明性酸化導電膜からなる画素電極11と同一層からなる。外部接続端子表面材16は、ゲート絶縁膜4と保護膜9に設けられたコンタクトホール62aを介して下層膜と接続されている。また、隣接する液晶パネル50の共通配線80に接続される接続配線70は、信号配線6及び信号配線引き出し配線6bと同一層からなる。そして、変換部65aにおいて、保護膜9に設けられたコンタクトホール64aを介して、外部接続端子表面材16が延在して、接続配線70は走査配線2の外部接続端子60aと接続されている。
接続配線70は延在して、隣接する液晶パネル50の共通配線80にそのまま接続されている。ここで共通配線80は、信号配線6及び信号配線引き出し配線6bと同一層からなる。また、接続配線70の部分に切断線15が位置しており、切断、分離により複数の液晶パネル50になる。
次に本願発明の作用、効果について説明する。本構成で重要な点は、接続配線70を構成する導電膜は、走査配線2を構成する導電膜よりも耐腐食性が優れていることである。換言すれば、実施の形態1では、信号配線6を構成する導電膜は、走査配線2を構成する導電膜よりも耐腐食性が優れていることである。例えば、走査配線2がAl、Ag、Cu等で、信号配線6が、これよりも耐腐食性に優れたCr、Mo、Ti、Ta、W等の構成の場合である。
また、本構成により、マザー基板から液晶パネル50を切断、分離する切断線15の位置を接続配線70上とすることで、切断面に耐腐食性に優れた方の接続配線70の層(この場合は信号配線6の層)が露出するので、走査配線2の層が露出する場合よりも腐食が起きにくく、表示装置100の信頼性が向上する。
また、本構成では、接続配線70は、保護膜9で覆われているので、切断、分離時の接続配線70の膜剥離も起き難い。また、接続配線70に、剥離や腐食が生じたとしても、変換部65aが存在するので、外部接続端子60aまで、接続配線70の剥離や腐食の影響が及ぶことが抑制できるので、さらに表示装置100の信頼性が向上する。
次に、信号配線6、共通配線80の外部接続端子60b、60cについて説明する。図7は、信号配線6、共通配線80の外部接続端子領域M、Nを拡大した平面図である。図8は、図7のC−C断面図である。
信号配線6、信号配線引き出し配線6bの外部接続端子60b、及び共通配線80の外部接続端子60cは、外部接続端子60aと同様に2層構成であるが、下層膜は信号配線6、信号配線引き出し配線6b、共通配線80と同一層からなる。上層膜の外部接続端子表面材16は、ITO等の透明性導酸化導電膜からなる画素電極11と同一層からなる。外部接続端子表面材16は、保護膜9に設けられたコンタクトホール62b、62cを介して接続されている。また、上下に隣接する液晶パネル50の共通配線80に接続される接続配線70は、信号配線6、信号配線引き出し配線6b、共通配線80と同一層からなる。そして、接続配線70は、変換部65b、65cにおいて、保護膜9に設けられたコンタクトホール64b、64cを介して、外部接続端子表面材16と接続されている。また、外部接続端子60b、60cの下層膜と接続配線70は同一層ではあるが分離している。
この構成でも重要な点は、走査配線2の外部接続端子60aと同様に、接続配線70を構成する導電膜は、走査配線2を構成する導電膜よりも耐腐食性の優れた信号配線6、信号配線引き出し配線6b、共通配線80と同一層であることである。
このような構成により、マザー基板から液晶パネル50を切断、分離する切断線15の位置を接続配線70上とすることで、全ての接続配線70が、切断面に耐腐食性に優れた方の配線の層(この場合は信号配線6の層)が露出するので、走査配線2の層が露出する場合よりも腐食が起きにくく、表示装置100の信頼性が向上する。
また、本構成では、全ての接続配線70は、保護膜9で覆われているので、切断時の剥離も起き難い。また、接続配線70に、剥離や腐食が多少生じたとしても、外部接続端子60の下層膜とは分離しており、変換部65が存在するので、外部接続端子60まで、接続配線70の剥離や腐食の影響が及ぶことが抑制できるので、さらに表示装置100の信頼性が向上する。
なお、信号配線6の外部接続端子60bの下層膜が、走査配線2と同一層で構成されている場合は、上述の図5、6のような、走査配線2の外部接続端子60aと同一構成とすればよい。
また、共通配線80の外部接続端子60cの下層膜が、走査配線2と同一層で構成されている場合も、上述の図5、6のような、走査配線2の外部接続端子60aと同一構成とすればよい。
実施の形態2.
図9は、本発明の実施の形態2における走査配線の外部接続端子領域Lを拡大した平面図である。図10は、図9のD−D断面を示す断面図である。図11は、本発明の実施の形態2における信号配線、共通配線の外部接続端子領域M、Nを拡大した平面図である。図12は、図11のE−E断面を示す断面図である。
実施の形態1では、信号配線6を構成する導電膜は、走査配線2を構成する導電膜よりも耐腐食性が優れる場合であった。実施の形態2では、この関係が逆で、走査配線2を構成する導電膜の方が、信号配線6を構成する導電膜よりも耐腐食性が優れている場合である。例えば、信号配線6がAl、Ag、Cu、及びその合金等で、走査配線2が、これよりも耐腐食性に優れたCr、Mo、Ti、Ta、W、及びその合金等の構成の場合である。
まず、走査配線2の外部接続端子60a近傍Lについて説明する。図9に外部接続端子60aの拡大平面図と、図10に図9のD−D断面図を示す。
走査配線2、走査配線引き出し配線2aの外部接続端子60aは、実施の形態1と同様に2層構成であり、下層膜は走査配線2及び走査配線引き出し配線2aと同一層からなる。上層膜の外部接続端子表面材16は、金属膜よりも耐腐食性に優れたITO等の透明性酸化導電膜からなる画素電極11と同一層からなる。外部接続端子表面材16は、ゲート絶縁膜4と保護膜9に設けられたコンタクトホール62aを介して接続されている。また、隣接する液晶パネル50の共通配線80に接続される接続配線70は、走査配線2及び走査配線引き出し配線2aと同一層からなる。そして、変換部65aにおいて、保護膜9に設けられたコンタクトホール64aを介して、外部接続端子表面材16が延在して、接続配線70と接続されている。
接続配線70は延在して、隣接する液晶パネル50の共通配線80に変換部68aを介して接続されている。ここで、共通配線80は、信号配線6及び信号配線引き出し配線6bと同一層からなる。
変換部68aは、接続配線70上のゲート絶縁膜4と保護膜9に設けられたコンタクトホール66aと、共通配線80上の保護膜9に設けられたコンタクトホール67aを介して、画素電極11と同一層からなる変換材17により、接続配線70と隣接する液晶パネル50の共通配線80とが接続されている。
この構成で重要な点は、接続配線70を構成する導電膜は、上述したように、信号配線6を構成する導電膜よりも耐腐食性が優れていることである。換言すれば、実施の形態2では、走査配線2を構成する導電膜は、信号配線6を構成する導電膜よりも耐腐食性が優れていることである。例えば、信号配線6がAl、Ag、Cu、及びその合金等で、走査配線2が、これよりも耐腐食性に優れたCr、Mo、Ti、Ta、W、及びその合金等の構成の場合である。
また、本構成により、マザー基板から複数枚の液晶パネル50を切断、分離する切断線15の位置を接続配線70上とすることで、切断面に耐腐食性に優れた方の接続配線70の層(この場合は走査配線2の層)が露出するので、信号配線6の層が露出する場合よりも腐食が起きにくく、表示装置100の信頼性が向上する。
また、本構成では、接続配線70は、ゲート絶縁膜4と保護膜9で覆われているので、切断、分離時の接続配線70の膜剥離が、実施の形態1よりも起き難い。また、接続配線70に、剥離や腐食が生じたとしても、変換部65aが存在するので、外部接続端子60aまで、接続配線70の剥離や腐食の影響が及ぶことが抑制できるので、さらに表示装置100の信頼性が向上する。
また、隣接する液晶パネル50の共通配線80についても、接続配線70に、剥離や腐食が生じたとしても、変換部68aが存在するので、共通配線80まで、接続配線70の剥離や腐食の影響が及ぶことが抑制できるので、さらに表示装置100の信頼性が向上する。
次に、信号配線6、共通配線80の外部接続端子60b、60c近傍M、Nについて説明する。図11は、実施の形態2における外部接続端子領域M、Nを拡大した平面図である。図12は、図11のE−E断面図である。
信号配線6、信号配線引き出し配線6aの外部接続端子60b、及び共通配線80の外部接続端子60cは、実施の形態1と同様に2層構成であり、下層膜は信号配線6、信号配線引き出し配線6b、共通配線80と同一層からなる。上層膜の外部接続端子表面材16は、ITO等の透明性酸化導電膜からなる画素電極11と同一層からなる。外部接続端子表面材16は、保護膜9に設けられたコンタクトホール62b、62cを介して下層膜と接続されている。また、上下に隣接する液晶パネル50の共通配線80に接続される接続配線70は、走査配線2、走査配線引き出し配線2aと同一層からなる。そして、接続配線70は、変換部65b、65cにおいて、ゲート絶縁膜4と保護膜9に設けられたコンタクトホール64b、64cを介して、外部接続端子表面材16と接続されている。
このように、信号配線6の外部接続端子60b、及び共通配線80の外部接続端子60cにおいても、外部接続端子60b、60cの下層膜の膜構成が異なるだけである。全ての接続配線70は、走査配線2の外部接続端子60aの接続配線70と同様な効果があり、また、表示装置100の信頼性が向上する。
なお、信号配線6の外部接続端子60bの下層膜が走査配線2と同一層で構成されている場合は、上述の図9、10のような、走査配線2の外部接続端子60aと同一構成とすればよい。
また、共通配線80の外部接続端子60cの下層膜が、走査配線2と同一層で構成されている場合も、上述の図9、10のような、走査配線2の外部接続端子60aと同一構成とすればよい。
実施の形態3.
実施の形態1、2では、共通配線80が、信号配線6と同一層で形成される場合を示したが、実施の形態3では、共通配線80が、走査配線2と同一層で形成される場合を示す。外部接続端子60や接続配線70の構成は、基本的に実施の形態1、2と同様である。
図13は、走査配線と同一層からなる接続配線と共通配線との変換部(接続部)を拡大した断面図である。図14は、走査配線と同一層からなる接続配線と共通配線との変換部を拡大した断面図である。
図13では、走査配線2と同一層からなる接続配線70と、隣接する液晶パネル50の共通配線80は、変換部(接続部)68で、そのまま連続して接続されている。
図14では、走査配線2と同一層からなる接続配線70と共通配線80は、変換部68において、接続配線70上のコンタクトホール66と、共通配線80上のコンタクトホール67が設けられ、画素電極11と同一層からなる変換材17を介して、接続されている。
図13の構成は、接続配線70と共通配線80との接続抵抗の点では、図14の構成よりも優れている。一方、図14の構成は、接続配線70と共通配線80との接続抵抗の点では、変換部68に変換材17があるので図13の構成よりも劣る。しかし、接続配線70に、剥離や腐食が生じたとしても、変換部68に変換材17が存在するので、共通配線80まで、接続配線70の剥離や腐食の影響が及ぶことが、図13の構成よりも抑制できる。
図15は、信号配線6と同一層からなる接続配線70と、共通配線80との変換部68を拡大した断面図である。図13、14は、接続配線70が、走査配線2と同一層からなる場合であったが、図15は、接続配線70が、信号配線6と同一層の場合である。
信号配線6と同一層からなる接続配線70と、走査配線2と同一層からなる共通配線80は、変換部68において、接続配線70上にコンタクトホール66と、共通配線80上にコンタクトホール67が設けられ、画素電極11と同一層からなる変換材17を介して、接続されている。
この場合も、接続配線70に、剥離や腐食が生じたとしても、変換部68に変換材17が存在するので、共通配線80まで、接続配線70の剥離や腐食の影響が及ぶことが、図14の構成と同様に抑制できる。
実施の形態3においても、実施の形態1、2と共通配線80の層構成は異なるが、全ての接続配線70は、実施の形態1、2と同様な効果があり、また、表示装置100の信頼性が向上する。
実施の形態4.
実施の形態1〜3では、接続配線70が走査配線2又は信号配線6と同一層で形成される場合を示したが、実施の形態4では、接続配線70が、画素電極11と同一層で形成される場合を示す。
図16は、本発明の実施の形態4における走査配線の外部接続端子領域Lを拡大した平面図である。図17は、図16のF−F断面を示す断面図である。
図16、17において、走査配線2、走査配線引き出し配線2aの外部接続端子60aは、実施の形態1〜3と同じ2層構成である。実施の形態4では、走査配線2の外部接続端子60aの下層膜は、コンタクトホール62aを介して、ITO等の透明性酸化導電膜からなる画素電極11と同一層からなる外部接続端子表面材16に接続されている。外部接続端子表面材16は、そのまま接続配線70として隣接する液晶パネル50へ延在し、信号配線6と同一層からなる共通配線80と、接続部69でコンタクトホール67を介して接続されている。
一般に、透明、不透明性に関係なく酸化導電膜の方が、走査配線2や信号配線6に使用される金属膜よりも、抵抗は高いが耐腐食性は優れている。したがって、液晶パネル50の切断面に露出する接続配線70の耐腐食性を重視する場合は、全ての接続配線70は、ITO等の酸化導電膜で形成することが望ましい。
なお、実施例の形態4では図示しないが、信号配線6の外部接続端子60b、及び共通配線80の外部接続端子60cについても、酸化導電膜からなる外部接続端子表面材16をそのまま延在させて接続配線70として、隣接する液晶パネル50の共通配線80と、図17と同様に接続部69のコンタクトホール67を介して接続すればよい。
信号配線6の外部接続端子60b、及び共通配線80の外部接続端子60cの下層膜が走査配線2と同一層からなる場合や、共通配線80が走査配線2と同一層からなる場合も、基本的に、酸化導電膜からなる外部接続端子表面材16、又は変換材17のコンタクトホール62b、62c、67の深さが異なるだけで、全ての接続配線70は同一の構成とすることができる。
また、走査配線2の外部接続端子60aの下層膜が信号配線6と同一層からなる場合も、基本的に、酸化導電膜からなる外部接続端子表面材16のコンタクトホール62aの深さが異なるだけで、全ての接続配線70は同一の構成とすることができる。
このように、実施の形態4は、全ての接続配線70が画素電極11と同一層で形成されている。全ての接続配線70が、ITO等の透明性酸化導電膜からなる場合は、走査配線2又は信号配線6の金属膜よりも耐腐食性に優れているので、実施の形態1〜3よりも、表示装置100の信頼性がさらに向上する。
また、画素電極11が、透明性酸化導電膜だけで形成されなくても、走査配線2及び信号配線6の金属膜よりも、耐腐食性に優れた導電層を有すれば、この導電層で接続配線70を構成すれば、実施の形態1〜3よりも耐腐食性が向上するので、表示装置100の信頼性がさらに向上する。
実施の形態5.
図18は、本発明の実施の形態5における上下に隣接する液晶パネルを切断するアレイ基板の切断領域近傍を拡大した平面図である。図19は、図18の保護回路の等価回路である。
実施の形態1〜4では、走査配線2、信号配線6が外部接続端子60を介して駆動回路(ドライバIC)、外部回路と接続される場合であった。実施の形態5では、アレイ基板110上に駆動回路が、直接、COG(Chip On Glass)実装される場合を示す。
図18において、駆動回路(ドライバIC)150は、直接、アレイ基板110上にCOG実装される、図18では駆動回路150の実装箇所を点線で記載している。駆動回路150の出力、入力用バンプ電極に対応した位置に、駆動回路出力端子52及び駆動回路入力端子54が、アレイ基板110上に形成されている。駆動回路出力端子52及び駆動回路入力端子54の構成は、ここでは、基本的に、実施の形態1〜4で示した外部接続端子60と同様な2層構成である。
また、共通配線80から分岐した補助共通配線81が、駆動回路出力端子52と駆動回路入力端子54の間に配置されている。各駆動回路出力端子52は保護回路35を介して、補助共通配線81に共通に接続されている。この保護回路35と補助共通配線81によって、駆動回路150を実装する前の製造工程においても、走査配線2及び信号配線6に接続される駆動回路出力端子52は、保護回路35を介して補助共通配線81に共通に接続され、さらに補助共通配線81は共通配線80に接続されている。駆動回路入力端子54は、駆動回路入力配線74によって外部接続端子60と接続されている。
共通配線80は、実施の形態1〜4と同様に、外部接続端子60cに接続され、さらに接続配線70により、隣接する液晶パネル50の共通配線80と接続されている。
図19は、保護回路35の等価回路を示しており、基本的に薄膜トランジスタのゲート電極Gとソース電極S、又はドレイン電極Dとを接続することで非線形素子であるダイオードを形成し、整流方向が逆のダイオード2個を並列に配置したものである。通常時は、ダイオードの抵抗が高いの電流は殆ど流れないが、静電気により高い電圧がかかると、静電気の正か負の極性により、どちらか一方のダイオードに電流が流れるようになり、走査配線2又は信号配線6に生じた静電気を、保護回路35を経由して補助共通配線81、共通配線80に分散させることができる。
また、保護回路35を設ける代わりに、通常駆動の電圧時は、電流が殆ど流れない半導体膜等からなる高抵抗膜を設けてもよい。
ここで、外部接続端子60、60c及び全ての接続配線70は、実施の形態1〜4と同様な構成とすることができる。特に、共通配線80に接続される外部接続端子60cと接続配線70を、実施の形態1〜4と同様な構成とすることで、実施の形態1〜4と同様な効果を得ることができる。
実施の形態6.
図20は、本発明の実施の形態6における上下に隣接する液晶パネルを切断するアレイ基板の切断領域近傍を拡大した平面図である。
実施の形態6では、補助共通配線81がなく、駆動回路出力端子52と駆動回路入力端子54が、保護回路35が配線途中に設けられた駆動回路入出力端子接続配線76を介して接続されている。この駆動回路入出力端子接続配線76によって、駆動回路150を実装する前の製造工程においても、走査配線2又は信号配線6に接続される駆動回路出力端子52は、駆動回路入出力端子接続配線76を介して駆動回路入力端子54接続されている。
保護回路35が設けられた駆動回路入出力端子接続配線76は、図20では、駆動回路出力端子52と駆動回路入力端子54が1対1で対応しているが、複数の駆動回路出力端子52に対して、1つの駆動回路入力端子54に、保護回路35が設けられた駆動回路入出力端子接続配線76が接続されていても良い。
ここで、保護回路35が設けられた駆動回路入出力端子接続配線76は、駆動回路出力端子52と駆動回路入力端子54の通常駆動時の電位が、なるべく等しいもの同士で接続することが望ましい。この理由は、駆動回路出力端子52と駆動回路入力端子54の通常駆動時の電位が異なると、駆動回路出力端子52と駆動回路入力端子54の間に、微小な漏洩電流が流れ易くなるためである。
なお、駆動回路入力配線74は、駆動回路入力端子54と外部接続端子60とを接続する。そして、外部接続端子60から延在する接続配線70によって、隣接する液晶パネル50の共通配線80に接続されている。
共通配線80は、実施の形態1〜5と同様に、外部接続端子60cに接続され、さらに接続配線70により、隣接する液晶パネル50の共通配線80と接続されている。
ここで、外部接続端子60、60cの全ての接続配線70を、実施の形態1〜5と同様な構成とすることで、実施の形態1〜5と同様な効果を得ることができる。
以上、実施の形態1〜6において、図1に示すような、左右の隣接する液晶パネル50の共通配線80の間を接続する補助接続配線72がある場合、補助接続配線72も切断線15の位置にあり、同様な腐食の課題があるので、接続配線70と同一層で形成することが望ましい。
また、実施の形態1〜6において、アレイ基板及び表示装置として、液晶表示装置の場合を例に説明したが、アレイ基板及び表示装置は、液晶表示装置に限らず、自発光型のEL、FED等や、微粒子や油滴を用いた反射型の電子ペーパー等のアレイ基板及び表示装置にも適用できる。
本発明の実施の形態1における複数の液晶パネルの配置に対応したアレイ基板の概略構成を示した平面図である。 図1に示した液晶パネルの表示領域を構成するアレイ基板の画素を拡大した平面図である。 図2におけるA−A断面図である。 本発明の実施の形態1における上下に隣接する液晶パネルを切断するアレイ基板の切断領域近傍Sを拡大した平面図である。 本発明の実施の形態1における走査配線の外部接続端子領域Lを拡大した平面図である。 図5のB−B断面を示す断面図である。 本発明の実施の形態1における信号配線、共通配線の外部接続端子領域M、Nを拡大した平面図である 図8のC−C断面を示す断面図である。 本発明の実施の形態2における走査配線の外部接続端子領域Lを拡大した平面図である。 図9のD−D断面を示す断面図である。 本発明の実施の形態2における信号配線、共通配線の外部接続端子領域M、Nを拡大した平面図である 図11のE−E断面を示す断面図である。 本発明の実施の形態3における走査配線と同一層からなる接続配線と共通配線との変換部(接続部)を拡大した断面図である。 本発明の実施の形態3における走査配線と同一層からなる接続配線と共通配線との変換部を拡大した断面図である。 本発明の実施の形態3における信号配線と同一層からなる接続配線と共通配線との変換部を拡大した断面図である。 本発明の実施の形態4における走査配線の外部接続端子領域Lを拡大した平面図である。 図16のF−F断面を示す断面図である。 本発明の実施の形態5における上下に隣接する液晶パネルを切断するアレイ基板の切断領域近傍を拡大した平面図である。 図18の保護回路の等価回路である。 本発明の実施の形態6における上下に隣接する液晶パネルを切断するアレイ基板の切断領域近傍を拡大した平面図である。
符号の説明
1 絶縁性基板
2 走査配線
2a 走査配線引き出し配線
3 補助容量電極
4 ゲート絶縁膜
5 半導体能動膜
5a オーミックコンタクト膜
6 信号配線
6b 信号配線引き出し配線
7 ソース電極
8 ドレイン電極
9 保護膜
10 コンタクトホール
11 画素電極
12 液晶
13 偏光板
14 対向基板切断線
15 切断線
16 外部接続端子表面材
17 変換材
20 ガラス基板
21 カラーフィルタ
22 対向電極
23 偏光板
30 画素
35 保護回路
40 表示領域
50 液晶パネル
52 駆動回路出力端子
54 駆動回路入力端子
60 外部接続端子
62、64 コンタクトホール
65 変換部
66、67 コンタクトホール
68 変換部
69 接続部
70 接続配線
72 補助接続配線
74 駆動回路入力配線
76 駆動回路入出力端子接続配線
80 共通配線
81 補助共通配線
82 ショートリング
90 スペーサ
100 液晶表示装置
110 アレイ基板
120 対向基板
150 駆動回路

Claims (6)

  1. 絶縁性基板上に、複数の表示パネルの一部となる複数の表示領域と、
    該表示領域は、複数の走査配線と複数の信号配線との交差領域に形成された画素電極を有する複数の画素がマトリクス状に配置されて構成され、
    前記表示領域の外に、前記複数の画素に基準電位を与える共通配線と、
    前記表示パネルを駆動する駆動回路に接続される外部接続端子と、
    を有するアレイ基板において、
    前記絶縁性基板上の前記外部接続端子と、該外部接続端子のある側に隣接する前記表示パネルの前記共通配線とを共通に接続する接続配線を有し、
    該接続配線は、前記絶縁性基板の切断位置に配置されており、
    かつ、全ての該接続配線は、前記走査配線または前記信号配線を構成する導電層の内、最も耐腐食性に劣る導電層よりも、耐腐食性に優れた方の導電層で形成されることを特徴とするアレイ基板。
  2. 前記共通配線と接続されて前記アレイ基板の最外周近傍に配置されるショートリングを有し、
    前記外部接続端子のある側に隣接する表示パネルが無い該外部接続端子は、前記ショートリングと接続することを特徴とする請求項1に記載のアレイ基板。
  3. 前記外部接続端子と前記ショートリングとを接続する配線は、前記絶縁性基板の切断位置に配置されていることを特徴とする請求項2に記載のアレイ基板。
  4. 全ての前記接続配線は、前記画素電極の層で形成されることを特徴とする請求項1に記載のアレイ基板。
  5. 全ての前記接続配線は、酸化物導電膜であることを特徴とする請求項1または4に記載のアレイ基板。
  6. 請求項1乃至請求項のいずれか1つに記載の前記アレイ基板を用いて組み立てられたことを特徴とする表示装置。
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