JP4843193B2 - フラッシュメモリ装置およびその装置のコラム選択トランジスタのストレステスト方法 - Google Patents
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Description
160 コラムデ コーダ
161,162 コラム選択トランジスタ
500 フラッシュメモリ装置
510 コラムプリデコーダ
610 バッファ部
620 デコーダ部
202,204,206,208,212,214,216,218 レベルシフト
Claims (12)
- フラッシュメモリセルと連結される複数本のビットラインのうち所定のビットラインを選択するコラム選択トランジスタを制御するコラムプリデコーダを有するフラッシュメモリ装置において、前記コラムプリデコーダは、
ストレステスト時には活性化され、非テスト時には非活性化される全コラム選択信号を入力するバッファ部と、
前記バッファ部の出力とコラムアドレスとを入力し、前記コラムアドレスをデコーディングするデコーダ部と、
前記デコーダ部の出力に応答して選択された前記コラム選択トランジスタのゲートに高電圧を印加するようにコラム選択信号の電圧レベルを可変させるレベルシフトとを具備し、
前記コラム選択トランジスタの前記ストレステスト時、活性化された前記全コラム選択信号に応答して前記コラム選択信号の全部に高電圧を印加し、
このとき、前記複数本のビットラインは接地電圧レベルに設定されることを特徴とするフラッシュメモリ装置。 - 前記バッファ部は、
前記全コラム選択信号を入力するインバータで構成されることを特徴とする請求項1に記載のフラッシュメモリ装置。 - 前記デコーダ部の各々は、
前記バッファ部の出力と前記コラムアドレスを入力するNANDゲートで構成されることを特徴とする請求項1に記載のフラッシュメモリ装置。 - 前記レベルシフトは、
高電圧にソースが連結され、ゲートが相手ドレインに各々交差連結される第1及び第2PMOSトランジスタと、
前記デコーダ部の出力を入力するインバータと、
前記第1PMOSトランジスタのドレインと接地電圧との間に連結され、前記インバータの出力でゲーティングされる第1NMOSトランジスタと、
前記第2PMOSトランジスタのドレインと前記接地電圧との間に連結され、前記デコーダ部の出力でゲーティングされ、前記第2PMOSトランジスタのドレインと連結されたドレインから前記コラム選択信号を発生する第2NMOSトランジスタとを具備することを特徴とする請求項1に記載のフラッシュメモリ装置。 - 前記フラッシュメモリ装置は、
前記コラム選択トランジスタを所定の段に分けるコラムデコーダをさらに具備し、
前記コラムデコーダは、
一群の前記コラム選択信号に応答して前記ビットラインのうち少なくとも二つ以上のビットラインを選択する第1段のコラム選択トランジスタと、
他の一群の前記コラム選択信号に応答して前記第1段のコラム選択トランジスタにより選択されたビットラインのうち所定のビットラインを選択してデータラインに連結させる第2段のコラム選択トランジスタとを具備することを特徴とする請求項1に記載のフラッシュメモリ装置。 - 前記コラム選択トランジスタは、
NMOSトランジスタであることを特徴とする請求項5に記載のフラッシュメモリ装置。 - 前記コラム選択信号の高電圧は、
外部から直接供給されることを特徴とする請求項1に記載のフラッシュメモリ装置。 - 前記コラム選択信号の高電圧は、
電源電圧以上の電圧レベルであることを特徴とする請求項1に記載のフラッシュメモリ装置。 - フラッシュメモリセルと連結される複数本のビットラインのうち所定のビットラインを選択するコラム選択トランジスタを有するフラッシュメモリ装置の前記コラム選択トランジスタのストレステスト方法において、ストレステスト時には、
全コラム選択信号を活性化させる段階と、
前記全コラム選択信号の活性化に応答して前記コラム選択トランジスタのゲートに印加されるコラム選択信号の全部に高電圧を印加し、前記コラム選択トランジスタの全てをターンオンさせ同時に前記複数本のビットラインを接地電圧レベルに設定する段階とを備え、通常動作時には、
前記全コラム選択信号の非活性化に応答して入力されるコラムアドレスをデコーディングして、前記コラム選択トランジスタを選択的にターンオンさせ選択されたビットラインのみを接地電圧レベルに設定する段階とを具備することを特徴とするフラッシュメモリ装置のコラム選択トランジスタのストレステスト方法。 - 前記コラム選択信号の高電圧は、
外部から直接印加されることを特徴とする請求項9に記載のフラッシュメモリ装置のコラム選択トランジスタのストレステスト方法。 - 前記コラム選択信号の高電圧は、
電源電圧以上の電圧レベルであることを特徴とする請求項10に記載のフラッシュメモリ装置のコラム選択トランジスタのストレステスト方法。 - 前記コラム選択トランジスタは、
NMOSトランジスタであることを特徴とする請求項9に記載のフラッシュメモリ装置のコラム選択トランジスタのストレステスト方法。
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