JP4646883B2 - Pvdターゲット構造体を製造する方法 - Google Patents

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Description

本発明は物理的気相成長法(PVD)に関するものである。とりわけ、本発明はPVDターゲット構造体を製造する方法に関するものである。
本願は、その開示全部を本明細書に参照として援用した2005年9月26日に出願された米国特許仮出願第60/720,390号と、2005年10月20日に出願された米国特許仮出願第60/728,724号とに対し優先権主張するものである。
物理的気相成長法(PVD)は、基板上に、薄膜材料を堆積する周知の処理法であり、半導体デバイスの製造において、一般的に使用されている。このPVD処理は、基板(例えば、ウェハー)と、当該基板上に堆積される固体源としての材料スラブすなわちPVDターゲットとをチャンバ内に収容して、高真空状態で行われる。PVD処理では、PVDターゲットが物理的に固体から蒸気に転換される。ターゲット材料の蒸気は、PVDターゲットから基板に運ばれ、そこで薄膜として基板上に凝結される。
このPVDを達成するためには、蒸発,電子ビーム蒸発,プラズマ溶射堆積,スパッタリングなどの多くの方法が存在する。現在、PVDを達成するのに最も頻繁に利用される方法は、スパッタリングである。スパッタリング中に、チャンバ内でガスプラズマが生成され、これがPVDターゲットに向けられる。高エネルギーを持ったプラズマの微粒子(イオン)と衝突する結果、このプラズマが、PVDターゲットの反応表面からターゲット材料の蒸気中に原子または分子を除去、もしくは侵食(スパッタ)する。スパッタされたターゲット材料の原子または分子の蒸気は、減圧した領域を通して基板に運搬され、基板上に凝結してターゲット材料の薄膜を形成する。
PVDターゲットは、有限の耐用寿命を有する。PVDターゲットを過剰使用すると、すなわちPVDターゲットの耐用寿命を超えて使用すると、信頼性の問題と安全性の問題とを生じることになる。例えば、PVDターゲットを過剰使用すると、PVDターゲットに穴が開き、システムがアーク放電する可能性がある。この結果、著しい製造上の損失と、PVDシステムまたは工具の損傷と、安全性の問題とが生じる可能性がある。
PVDターゲットの耐用寿命は、現在のところ、PVDシステムまたは処理工具により消費される例えばキロワット・アワー(kw-hrs)数のような累積エネルギーを追跡することで、決定されている。しかしながら、この累積エネルギー法は、習得するのに時間がかかり、この方法の精度は、技術者の実地体験のみに依存している。たとえ習得した場合でも、PVDターゲットの耐用寿命は、(PVDターゲットの種類によって決まるものであるが、)PVDターゲットの約20%から40%が無駄になるので、本来の寿命よりは依然として短いのである。この問題は、原料の消耗スラブを含んだ従来のPVDターゲットの侵食プロファイルを表したグラフである図1に図示されている。図に示すように、累積1769kw-hrs数でのPVD処理システムの運転の後で、PVDターゲットの本来の量の約60パーセント(ターゲット残留物)が残っている。
PVDターゲットの耐用寿命が短縮する結果、PVDターゲットの利用率は低くなり、PVDターゲットの消費コストが上昇する。実際、PVDターゲットの消費コストは、半導体製造において、最も大きなコストの一つである。従って、無駄になった多くのターゲット材料が利用されるならば、PVDターゲットの消費コストは、大幅に低減される。言い換えると、この結果、半導体製造コストは大幅に低減され、収益性が向上する。
また、ターゲットの稼働率が低いと、PVDターゲットの交換頻度がさらに増加し、従って、PVDシステムや工具の点検頻度が増加する。さらに、PVDターゲットを交換する場合、新しいターゲットに対するPVD処理作業を再調整する時間が必要となる。
従って、改善されたPVDターゲットが必要とされている。
ある実施例は、消耗材料からなるPVDターゲット内のベース面に検出器を埋め込み、PVD処理によりPVDターゲットが消耗材料の所定量に接近しているか、または、この所定量にまで減量して、さらに筐体内のフィラメント素子、電極素子、ガス、液体または固体にもPVD処理がされることで、フィラメント素子、電極素子、ガス、液体または固体の状態が変化するPVDターゲット構造体を製造する方法である。この検出器の筐体の形成方法は、バルク材を提供するステップと、バルク材に複数の孔を形成するステップと、各々1つの孔を備える複数の個々のユニットに、バルク材を分離するステップとにより検出器の筐体を形成し、筐体内に、フィラメント素子、電極素子、ガス、液体、または固体を提供するステップにより、消耗材料からなるPVDターゲットの耐用寿命の終点を検出する検出器を形成することを特徴とする。
ある実施例は、消耗材料からなるPVDターゲット内のベース面に検出器を埋め込み、PVD処理によりPVDターゲットが消耗材料の所定量に接近しているか、または、この所定量にまで減量して、さらに筐体内のフィラメント素子、電極素子、ガス、液体または固体にもPVD処理がされることで、フィラメント素子、電極素子、ガス、液体または固体の状態が変化するPVDターゲット構造体を製造する方法である。この検出器の筐体の形成方法は、バルク材を提供するステップと、バルク材に複数の孔を形成するステップと、各々1つの孔を備える複数の個々のユニットに、バルク材を分離するステップとにより検出器の筐体を形成し、筐体内に、フィラメント素子、電極素子、ガス、液体、または固体を提供するステップにより、消耗材料からなるPVDターゲットの耐用寿命の終点を検出する検出器を形成することを特徴とする。
さらに別の実施例では、この検出器の筐体の形成方法は、所定形状の外面を備えた第1成型部材を提供するステップと、第1成型部材の外面上に材料シートを形成するステップと、このシートの対向する各端部を互いに結合するステップとにより形成され、筐体内に、フィラメント素子、電極素子、ガス、液体、または固体を提供するステップにより、消耗材料からなるPVDターゲットの耐用寿命の終点を検出する検出器を形成し、PVDターゲット内のベース面に検出器を埋め込むことを含む。
ある実施例は、耐用寿命の終点を検出する検出器を有した物理的気相成長法(PVD)用ターゲット構造体である。図2Aは本発明のPVDターゲット構造体の典型的な実施例を示した平面図であり、このターゲット構造体は符号100で示される。図2Bは図2Aの線2B−2Bに沿った断面図である。PVDターゲット構造体100は、所望の原料からなる消耗スラブ110(PVDターゲット)と、このPVDターゲット110のベース面114に埋め込まれたフィラメント検出器120と、を含む。
PVDターゲット110は、反応面112と、反応面112とは反対側のベース面114と、反応面112とベース面114との間に延伸した側壁面116とから構成される。このターゲット110は、例えば、円形,正方形,長方形,楕円形,三角形,不規則形を含む好適で適切なあらゆる形状に形成することができる。このターゲット110は、あらゆる周知のPVDターゲット形成方法を用いて形成することができる。例えば、「銅含有スパッタリングターゲットおよび銅含有スパッタリングの形成方法」との名称の米国特許第6,858,102号を参照されたい。
ある実施例において、ターゲット110は、18インチ(1インチ=2.54cm)の直径(円形ターゲットの場合)と、0.250インチの厚さと、を有する。別の実施例において、ターゲット110は、他の好適で適切な寸法に形成してもよい。ターゲット110は、例えば、ニッケル(Ni)、ニッケル・プラチナ(NiPt)合金、ニッケル・チタン(NiTi)合金、コバルト(Co)、アルミニウム(Al),銅(Cu),チタン(Ti),タンタル(Ta),タングステン(W)、インジウムスズ酸化物(ITO)、硫化亜鉛酸化ケイ素(ZnS−SiO)、金(Au)、および銀(Ag)を含む好適で適切なあらゆる原料で構成してもよい。
フィラメント検出器120は、封止部126a,126bによって閉鎖された、対向する開口端部122a,122bを有した管122によって形成された筐体を含む。封止部126a,126bは、管122の内部122cを気密封止し、管122の内部122cにフィラメント124を吊り下げる。ある実施例において、管122の内部122cの空気を、この内部を真空にするためにこの内部から排気してもよい。代替的な実施例では、管122の内部122cを不活性ガスで充填してもよい。
フィラメント124は、封止部126a,126b内に延びた湾曲周縁端部124a,124bを含む。封止部126a,126bは、管122とPVDターゲット110とからフィラメント124の湾曲周縁端部124a,124bを電気的に絶縁する。フィラメント124の湾曲周縁端部124a,124bは、フィラメント端末すなわちリード線125a,125bをなすように外部で端末処理されている。フィラメントリード線125a,125bは、以下に詳述するように、フィラメント124を監視装置に接続することを可能にする。
ある典型的な実施例においては、管122は、PVDターゲット110と同じ材料で構成してもよい。ターゲット110の材料の殆ど全てが消耗されるまでは管が貫通することがないように、管122の直径は十分に小さくかつその位置はベース面114に十分接近させるべきである。例えば、ある典型的な実施例において、管122は、約0.5mmの直径を有する。
フィラメント124は、通常、PVDターゲット110と同じ材料で構成してもよい。ある代替的な実施例においては、フィラメント124を、ターゲット110の材料と異なりかつPVD処理結果に影響を与えない材料で構成してもよい。ある典型的な実施例において、フィラメントは約0.2mmの直径を有してもよい。
封止部126a,126bは、電気絶縁材料またはこれらの組み合わせから作られる。ある典型的な実施例では、封止部126a,126bは、アルミナ(Al2O3)等のセラミックから成るものでもよい。
フィラメント検出器120は、PVDターゲット110がターゲット構造体100の耐用寿命の終点に相当する材料の量にまで消耗しているときを知らせるセンサとして機能する。この量を超えたPVDターゲット構造体100のあらゆる使用(PVDターゲットの過剰使用)は、ターゲット110に穴が開いて、システムがアーク放電する結果を生じる可能性があり、ひいては、製造上の損失、PVDシステムまたは工具の損傷、及び安全上の問題につながる可能性がある。PVDターゲット構造体100のフィラメント検出器120を使用することにより、ターゲット110の耐用寿命が最大になり、上述したターゲット関連の問題を回避するようにPVDターゲット構造体100を交換すべき時期について、高精度の自動検出が可能になる。
フィラメント検出器120は、このフィラメント検出器120のフィラメント124に接続された監視装置330(図5)によって現場監視され得る特徴すなわち特性を表示するように構成される。ある実施例においては、監視されるべきフィラメント124の特徴すなわち特性はフィラメント124の電気抵抗すなわちインピーダンスであってもよく、監視装置330はオーム計であってもよい。この特徴すなわち特性がフィラメント124の電気抵抗すなわちインピーダンスである実施例を使用すると、PVD処理チャンバのPVDターゲット耐用寿命期間の初めには、監視装置330によって監視される電気抵抗すなわちインピーダンスはある初期値となるであろう。PVD処理の間にPVDターゲット110が侵食されると、管122が破壊されて管122内に吊持されたフィラメント124をPVD処理に暴露し、従って、(スパッタリングの場合は)プラズマがフィラメント124に接触しこれを侵食するまで、この電気抵抗すなわちインピーダンスは前記初期値を維持する。この侵食が生ずると、この電気抵抗すなわちインピーダンスは前記初期値から変化し、従って、PVDターゲット構造体100が耐用寿命の終点に近づいていることを指示する。この時点では、残存しているターゲット110の量は、ターゲット110の当初量の所定の(予め定められた)割合であろう。例えば、ある実施例では、フィラメント124が初めて暴露されるときに残存しているターゲット110の量は、ターゲット110の当初量の約0.5%である。このターゲットがPVD処理チャンバ内でさらに使用されると、フィラメント124が破壊するまでターゲット110及びフィラメント124は侵食され続ける。この破壊が生ずると、フィラメント124が開回路となるので、前記電気抵抗すなわちインピーダンスが再度変化し、従って、PVDターゲット構造体100が耐用寿命の終点に到達したことを指示する。先の実施例を使用すれば、フィラメント124の破壊時に残存しているターゲット110の量は、ターゲット110の当初量の約0.2〜0.1パーセントであろう。電気抵抗すなわちインピーダンスの第2変化に応答して、PVD処理システムもしくはその工具の動作が技術者によって手動で停止され、または、監視装置330からPVD処理システムやその工具(もしくはその工具を操作する制御装置)へ送られる信号によって自動的に停止してもよい。
ここで図3を参照すると、符号100’によって示されたPVDターゲット構造体の別の典型的な実施例を示した断面図である。このPVDターゲット構造体100’は、先に説明した消耗ターゲット110(所望の原料からなる)と、ターゲット110のベース面114に埋め込まれた電極検出器120’と、を含む。この電極検出器120’は、フィラメント124が、対向した2つの別々の電極124a’,124b’に置き換えられている点を除いては、先の実施例のフィラメント検出器120と同様である。この電極124a’,124b’は、封止部126a,126bを貫通する湾曲周縁端部124aa,124bbを含む。湾曲フィラメント部(湾曲周縁端部)124aa,124bbは、フィラメントリード線125a’,125b’を形成するように外部で端末処理されている。フィラメントリード線125a’,125b’は、先述した監視装置330(図5)に電極124a’,125b’を取り付けることを可能にする。
動作中には、電極検出器120’の電極124a’,124b’は、この検出器120’の管122が破壊されるときに、管122に進入するプラズマ内のイオンによって発生された電流を検出する。この実施例では、電極124a’,124b’に接続された監視装置つまり計器は、電流計測装置すなわち計器であってもよい。
図4は、符号200によって示されたPVDターゲット構造体の別の実施例に示した断面図である。このPVDターゲット構造体200は、先の実施例のように、所望の原料からなるPVDターゲット210と、このターゲット210のベース面214に埋め込まれた不活性ガス検出器220と、を含む。
この不活性ガス検出器220は、対向する開放端部222a,222bを有した管222を含む。この管222は図2A及び図2Bに示された実施例に記載された管と同様もしくは同等であってもよい。管222の開放端部222a,222bは閉鎖され、管222と同様の材料またはあらゆる適切な材料から作られるプラグ等、の閉鎖部226によって気密封止される。管222は、PVD処理結果に影響を与えない、ヘリウム(He)等の不活性ガス224で充填される。PVD処理の間、ターゲット200は、ガス検出装置430(図6)によって不活性ガス224の放出について現場監視される。PVDターゲット210がPVD処理の間に侵食されると、スパッタリングプラズマ等のPVD処理力によって管222が破壊されるまで、不活性ガス224は管222内に分散されずに留まっている。一旦前記破壊が生ずると、管222を充填している不活性ガス224は放出され、ガス検出装置430によって検出可能になる。ガス検出装置430は、発光分光法(OES)、残留ガス分析法(RGA)、または他の適切な検出方法によるものであってもよい。ある典型的な実施例では、不活性ガス検出器220は、PVDターゲット構造体200のターゲット210が当初量の0.5パーセント未満の量にまで減少することを許容する。
従って、不活性ガス検出器220は、ターゲット構造体200のターゲット210がターゲット構造体200の耐用寿命の終点に相当する量にまで減少しているときを知らせるセンサとして動作する。
別の典型的な実施例では、ガス検出器220の管222を充填する不活性ガスは、PVD処理結果に影響を与えない別の物質に置き換えられてもよい。この物質は、PVD処理に晒されると蒸発可能になり、その後、当該物質の検出を可能にするものであれば、固体でも液体でもよい。この固体物質は、図16に示した表の「被覆材料」の欄に挙げられた材料によって作られ、図16の表の当該欄は、この表の「ターゲット材料」の欄に挙げられた典型的な各ターゲット材料のPVD処理結果に影響を与えない幾つかの典型的な材料を列挙している。前記液体物質は、管内に噴射され得る液状の不活性ガス(例えば、ヘリウム)であってもよい。この管が液体物質で充填されるときは、管は0.03mm程度の小さな直径を有してもよい。
上述のPVDターゲット構造体100,100’,200は、単一管状の検出器120,120’,220を含む。他の典型的な実施例では、ターゲット構造体は、PVDターゲットに全体に亘って、好ましくは当該ターゲットのより侵食した領域(例えば、図7A)に、配設された多管状の検出器を含んでもよい。ターゲット全体に多管状の検出器を割り当てることは、検出の均一性を向上し、局所的に起こるターゲットの侵食を検出することを可能にする。図7A及び図7Bは、PVDターゲット510,510’のベース面514,514’の全体に亘って配設されかつ当該面に埋め込まれた、二乃至複数の管状検出器520,520’(各々は、例えば4cm以下の長さ)を備えたPVDターゲット構造体500,500’の2つの典型的な実施例を示す。図7Aに示すように、この管状検出器520は、ターゲットスラブ510の半径方向に亘って配設され、互いに分離している。図7Bに示すように、管状検出器520’は、ターゲット510’の中心位置で収束するようにターゲット510’の半径方向に亘って配設されてもよい。
幾つかの典型的な実施例では、管状検出器620がPVDターゲット610のベース面614に埋め込まれてもよく、これにより、管622は、図8Aに示すようにターゲット610のベース面614と同一平面上に配置されても、多少凹んだ場所に配置されてもよい(加えて、ターゲットベース板650が、Cu−Znまたはあらゆる適当な材料等の銅(Cu)合金からなってもよい)。これは、所望の原料(例えば、タンタル)からなる原料部材610.1、および接合材料(例えば、チタン)からなる接合材610.2、としてPVDターゲット610を形成することによって、図8Cに示すような一実施例において実現可能となる。原料部材610.1と接合部材610.2との当接面には、管622の一部を収容するような寸法と形状を備えた、対応する管収容溝611.1,611.2が設けられる。管622は、管収容溝611.1,611.2、原料部材610.1、及び接合部材610.2の中に配置され、管622とターゲットベース板650とは、原料部材610.1、及び接合部材610.2を生じさせるのに十分な圧力と温度との下で行われるホットプレス接合法を用いて互いに接合され、管622とターゲットベース板650とは互いに物理的に接合されることになる。具体的には、前記の圧力と温度とは、前記ベース板の材料、ターゲットの原料、及び接合時間に依存する。上述の実施例(例えば、銅製ベース板とタンタル製原料)では、使用上の温度と圧力は、それぞれ、約400℃(1083℃である融点の約1/3よりも若干高い)と約13,000psi(1psi=6895Pa)である。幾つかの実施例では、原料からなる薄膜610.3は、接合部材610.2の収容溝611.2に設けられてもよい。この膜610.3は、図8Dにこの膜自体が示されているように、接合部材610.2の原子が管622と原料610.1との溝611.2の領域に移動するのを防ぐためのバリヤ層として使用可能である。他の実施例では、管状検出器620’は、ターゲット610’のベース面614’に少なくとも部分的に埋め込み可能であり、これにより、管622’の上部は、図8Bに示すようにターゲット610のベース面614’より若干上にくる。この実施例のターゲットベース板650’は、ターゲット610’のベース面614’から突き出た管622の一部を収容する凹部660(リセス)を含んでもよく、これにより、ターゲット610のベース面614’はターゲットベース板650’と同一平面上に位置する。
管状検出器の管は、適切で好適なあらゆる形状に構成されてもよい。この管は、断面形状が同一または異なった外面と内面とを有してもよい。図9A〜図9Fは、前記管の幾つかの典型的な実施例を示す斜視図である。図9Aは管700aを示し、この管700aは、円形の断面形状を備えた、外面710aと内面720aとを有する。図9Bは管700bを示し、この管700bは、菱形の断面形状を備えた、外面710bと内面720bとを有する。図9Cは管700cを示し、この管700cは、正方形の断面形状を備えた外面710cと、円形の断面形状を備えた内面720cとを有する。図9Dは管700dを示し、この管700dは、円形の断面形状を備えた外面710dと、三角形の断面形状を備えた内面720dとを有する。図9Eは管700eを示し、この管700eは、円形の断面形状を備えた外面710eと、正方形の断面形状を備えた内面720eとを有する。図9Fは管700fを示し、この管700fは、正方形の断面形状を備えた、外面710fと内面720fとを有する。管の内面と外面とは、2,3例を挙げれば、正方形や楕円形を含んだ他の断面形状を有するものであってもよい。
ここで図14を参照すると、符号800で示されたPVDターゲット構造体の更に別の典型的な実施例を図示した斜視図が示されている。このPVDターゲット構造体800は、上述の消耗PVDターゲット810(所望の原料からなる)と、このターゲット810のベース面814近くに設けられた検出器層820と、を含む。図14の実施例では、検出器層820は、PVDターゲット構造体800をベース板850へ接続可能である。
図15は、符号800’で示されたPVDターゲット構造体の更に別の典型的な実施例を図示した斜視図を示す。このPVDターゲット構造体800は、この構造800’が検出器層820の上にターゲット材料層830を更に含んでいる点を除けば、図14に具現化されたPVDターゲット構造体に類似している。図15の実施例では、ターゲット材料層830は、PVDターゲット構造体800’をベース板850へ接続可能である。
図14及び図15の実施例において、検出器層820は、PVDターゲット材料とは異なりかつPVD処理結果に影響を与えない、材料からなる。図16は、典型的な各ターゲット材料との使用に適した幾つかの典型的な検出器層材料を列挙した表である。
PVD処理中にプラズマがPVDターゲット構造体800またはPVDターゲット構造体800’の検出器層820に衝突すると、検出器層はこの蒸気を放出する。この蒸気はOES法、RGA法または他の同様な方法によって現場監視および検出可能である。
PVDターゲット構造体800,800’の終点検出分解能は、異なる材料からなる二乃至複数の検出器層を用いることによって向上することができる。従って、プラズマが前記検出器層の第1層に衝突するときは、第1層の検出がなされて、残存しているターゲット材料の第1残存量が指示され、プラズマが前記検出器層の次の層である第2層に衝突するときは、第2層の検出がなされて、残存しているターゲット材料の第2残存量が指示される。なお、第2残存量は前記第1残存量未満である。必要に応じて、他の材料からなる付加的な層が、材料の付加的な残存量の指示がなされるように追加されてもよい。
PVDターゲット構造体は、ターゲットベースが付いた形で、またはターゲットベースが無い形で構成および適用されてもよい。PVD処理システムやその工具は、大幅なハードウェアの改良および/または変更を伴わずに、前記PVDターゲット構造体を使用することができる。更に、PVDターゲット構造体は、2〜3例を挙げると、マグネトロンシステム、容量結合プラズマ(CCP)システム、及び誘導結合プラズマ(ICP)システム等を含んだ種々の磁気PVDシステムに使用可能である。また、本発明に係るPVDターゲットは、直流電源システム、交流電源システム、及び高周波電源システム(これらに限定されない)を含んだ全ての種類のPVD電源システムに使用可能である。
別の実施例は、管状検出器の管の製造方法である。図17Aは、この管の製造方法の典型的な第1実施例に係るステップを示したフローチャートを提示する。ステップ901では、同軸上に配置された外側ダイス部材951と内側ダイス部材952とを含んだ型/押し出しダイスの装置950(図18A)が提供される。外側ダイス部材951と内側ダイス部材952とは、金属、合金、及び/または金属材料を、押し出し及び/または鋳造するのに適切な剛性材料からそれぞれ作られる。適切なダイス部材は、セラミック材料、高分子材料、金属材料、及びこれらの組み合わせ(これらに限定されない)を含んでもよい。前記装置950の外側部材951の内面951aは、管の外面を形成するように構成され、この装置950の内側部材952の外面952aは、管の内面を形成するように構成されている。図18Aの実施例では、装置950の外側部材951が、円形の断面形状が付いた形で構成され、装置950の内側部材952が円形の断面形状が付いた形で構成されている。このような成型/押し出しダイスの装置は、図9Aに示すような管を製造するために使用してもよい。しかしながら、装置950の外側部材951及び内側部材952は、例えば図9B〜図9Fに示した管を含んだ、あらゆる所望の形状をなした管状検出器の管を製造するように構成されてもよい。
図17Aのフローチャートを再度参照すると、この方法のステップ902は、成型/押し出しダイスの装置950の外側部材951と内側部材952との間に確定された空間953から所望の管材料を押し出すことを含む。押し出しは、低温押し出し法や高温押し出し法を用いて実行されてもよい。別の代替例では、前記方法のステップ902は、成型/押し出しダイスの装置950の外側部材951と内側部材952との間に確定された空間953に所望の管材料を鋳造することを含む。所望の管材料を溶融し、成型/押し出しダイスの装置950の外側部材951と内側部材952との間に確定された空間953に、この溶融した管材料を注入または噴射させることによって、鋳造を行ってもよい。もしこの管材料がステップ902の鋳造によって形成されると、次いでステップ903が実行されて、溶融した管材料が冷却して凝固した後で、装置950から管が取り除かれる。
図17Bは、本発明の管の製造方法の典型的な第2実施例に係るステップを示す。ステップ911では、マンドレル状の成型部材961を含んだ成型装置960(図18B)が提供される。この成型部材961は、PVDまたは電気化学めっきを用いて、金属、合金、及び/または金属材料の層をこの部材上に形成するのに適した剛性材料からなる。成型部材の適切な材料は、セラミック材料、高分子材料、金属材料、及びこれらの組み合わせ(これらに限定されない)を含んでもよい。装置960の成型部材961は、ほぼ同様な形状の内面と外面とを備えた管を形成するように構成された外面961aを有する。図18Bに示された実施例では、成型部材961の外面961aは、円形の断面形状でもって形成されている。このような成型装置は図9Aに示す管を製造するために使用されてもよい。しかしながら、例えば、図9B乃至図9Fに示した管、を含んだ他の所望形状を備えた管状検出器の管を製造するように、製造装置960の成型部材961を構成してもよい。
図17Bのフローチャートを再度参照すると、前記方法のステップ912が、所望の膜厚さ(管の壁厚さ)が得られるまで、成型部材961の外側面962上に所望の管材料を堆積することを含む。この堆積ステップは、例えば、電気化学めっき(ECP)及び/または他のPVD方法を用いて実行されてもよい。ステップ913では、マンドレル状成型部材961と管とが互いに分離される。ある典型的な実施例では、この分離ステップは、図10に示すように管からマンドレル状成型部材を物理的に引き抜くことによって実行されてもよい。別の代替例では、この分離ステップは、エッチング液を用いた成型部材によって化学的に実行されてもよい。
図19は、管の製造方法の典型的な第3実施例に係るステップを示したフローチャートを提示する。この管の製造方法の典型的な第3実施例では、バルク製造プロセス(多量一括製造プロセス)で作られる。ステップ921では、図11Aに示すように、あるバルク量の所望の管材料940に多数の孔941が形成される。この多数の孔941は、複数の管の内面を画定する。ステップ922では、前記バルク量の材料が、図11Bに示すように複数の別個の管942に切断または薄切りにされ、管942の各々は孔941の1つを含んだものとなる。孔941は、従来式レーザ法、高圧ウォータ法、ウェットエッチング法、及びドライエッチング法を用いて形成されてもよい。バルク材料940は、従来式レーザ法、高圧ウォータ法、及び機械的切断法を用いて、複数の別個の管に切断され、または薄切りにされてもよい。
図20は、管の製造方法の典型的な第4実施例に係るステップを示したフローチャートである。図12A及び図13Aに示すように、ステップ931では、所望の管材料の可鍛性シート980,980’が供給され、ステップ932では、前記シート980が所望形状の管981,981’に形成される。ステップ932において、シート980,980’は、対応した形状をなしたマンドレル(図18Bに示すものと同様のマンドレル)の周りに当該シートを形成することによって所望の管形状に形成されてもよい。ステップ933では、次いで、管981,981’の合致する対向する各端部982,982’が、図12B及び図13Bに示すように互いに結合されて管981,981’を完成する。この結合は、溶接等のあらゆる適切で好適な結合方法を用いて達成されてもよい。
本発明の別の実施例は、PVDターゲット構造体の耐用寿命の終点を検出するシステムである。図5は、このようなシステムの実施例であり、符号300によって示されている。このシステム300は、PVD処理チャンバ310と、図2A、図2Bまたは図3に示すような、この処理チャンバ310に設けられたPVDターゲット構造体320と、このPVDターゲット構造体320のフィラメント検出器アセンブリまたは電極検出器アセンブリ340の特徴や特性を現場監視するために当該PVDターゲット構造体320に接続された監視装置330と、を含む。
図6は、符号400で示された、PVDターゲットの耐用寿命の終点を検出するシステムの別の実施例である。このシステム400は、PVD処理チャンバと、図4、図14または図15に示すような、この処理チャンバ410に設けられたPVDターゲット構造体420と、このPVDターゲット構造体420の不活性ガス検出器または検出器層440を現場監視及び検出するためのガス検出装置430と、を含む。
本発明は、例示の実施例との関連で説明してきたが、これらに限定されない。本発明の範囲と均等の範囲とから逸脱せずに当業者が想到可能な、本発明の他の変更や態様を含むように、添付の請求項は広く解釈すべきである。
原料のスラブを含んだ従来のPVDターゲット構造体の侵食プロファイルを表したグラフである。 PVDターゲット構造体の典型的な実施例を示す底面図である。 図2Aの線2B−2Bに沿った断面図である。 PVDターゲット構造体の別の典型的な実施例を示す断面図である。 PVDターゲット構造体のさらに別の典型的な実施例を示す断面図である。 PVDターゲット構造体の耐用寿命の終点を検出するシステムに係る典型的な実施例である。 PVDターゲット構造体の耐用寿命の終点を検出するシステムに係る別の典型的な実施例である。 複数の管状検出器を備えたPVDターゲットの底面図である。 複数の管状検出器を備えたPVDターゲットの底面図である。 ターゲットのベース面に管を埋め込むことが可能な2つの典型的な位置を示した断面図である。 ターゲットのベース面に管を埋め込むことが可能な2つの典型的な位置を示した断面図である。 図8Aに図示した位置に示された管を埋め込むための典型的な方法を示した断面図である。 図8Cに図示の薄膜を示した立面図である。 管状検出器の管に係る種々の実施例の一例を示した斜視図である。 管状検出器の管に係る種々の実施例の一例を示した斜視図である。 管状検出器の管に係る種々の実施例の一例を示した斜視図である。 管状検出器の管に係る種々の実施例の一例を示した斜視図である。 管状検出器の管に係る種々の実施例の一例を示した斜視図である。 管状検出器の管に係る種々の実施例の一例を示した斜視図である。 管製造中にマンドレル状の成型部材を管から除去することを示した斜視図である。 管状検出器の管をまとめて製造するための典型的な方法を示した斜視図である。 管状検出器の管をまとめて製造するための典型的な方法を示した斜視図である。 典型的なシート形成方法を用いて製造された管状検出器の管を示した斜視図である。 典型的なシート形成方法を用いて製造された管状検出器の管を示した斜視図である。 典型的なシート形成方法を用いて製造された管状検出器の管を示した斜視図である。 典型的なシート形成方法を用いて製造された管状検出器の管を示した斜視図である。 PVDターゲット構造体のさらに別の典型的な実施例を示した斜視図である。 PVDターゲット構造体のさらに別の典型的な実施例を示した斜視図である。 幾つかの典型的なターゲット材料での使用に適した幾つかの典型的な検出器の材料層を列挙した表である。 管製造方法の典型的な第1実施例に係るステップを示したフローチャートである。 管製造方法の典型的な第2実施例に係るステップを示したフローチャートである。 管製造方法に使用可能な、成型/押し出しダイスの装置の典型的な実施例の斜視図である。 管製造方法に使用可能な、成型の装置の典型的な実施例の斜視図である。 管製造方法の典型的な第3実施例に係るステップを示したフローチャートである。 管製造方法の典型的な第4実施例に係るステップを示したフローチャートである。
100 ターゲット構造体
110 PVDターゲット(消耗スラブ)
120 フィラメント検出器
120’ 電極検出器
124 フィラメント
124a’電極
124b’ 電極
220 不活性ガス検出器
224 不活性ガス
440 検出器層
520 多管状検出器
520’ 多管状検出器
620 管状検出器
620’ 管状検出器
820 不活性ガス検出器または検出器層
940 バルク材料
941 孔
942 別個の管
950 成型/押し出しダイスの装置
951 外側部材
951a 外側部材の内面
952 内側部材
952a 内側部材の外面
980 可鍛性シート
980’ 可鍛性シート
981 管
981’ 管
982 対向する各端部
982’ 対向する各端部

Claims (6)

  1. バルク材を提供するステップと、
    前記バルク材に複数の孔を形成するステップと、
    各々1つの前記孔を備える複数の個々のユニットに、前記バルク材を分離するステップとによりバルク製造プロセスによる検出器の筐体を形成し、
    前記筐体内に、フィラメント素子、電極素子、不活性ガス、またはPVD処理結果に影響を与えない体または固体を提供するステップにより、消耗材料からなるPVDターゲットの耐用寿命の終点を検出する検出器を形成し、
    前記フィラメント素子、電極素子、不活性ガス、またはPVD処理結果に影響を与えない液体または固体を提供するステップの後に、封止部で前記筐体を気密封止し、
    前記PVDターゲット内のベース面に前記検出器を埋め込み、
    PVD処理により前記PVDターゲットが所定量に接近しているか、もしくは、当該所定量にまで減量して、さらに前記筐体内の前記フィラメント素子、電極素子、不活性ガス、またはPVD処理結果に影響を与えない液体または固体にもPVD処理がされることで、前記フィラメント素子は電気抵抗が変化し前記電極素子は電流を検出し気密封止された前記不活性ガスは前記筺体から放出され気密封止された、PVD処理結果に影響を与えない前記液体または固体は気化され前記筺体から放出されるPVDターゲット構造体を製造することを特徴とする方法。
  2. 前記孔はレーザドリル、高圧ウォータドリル、ウェットエッチングドリル、ドライエッチングドリル、または、これらの組み合わせによって形成され、
    前記バルク材は、レーザ切断、高圧ウォータ切断、機械的切断、または、これらの組み合わせによって分離されることを特徴とする請求項1記載の方法。
  3. 所定形状の外面を備えた第1成型部材を提供するステップと、
    前記第1成型部材の前記外面より上に材料層を形成するステップと、
    前記第1成型部材から前記材料層を分離するステップとにより成型による検出器の筐体を形成し、
    前記筐体内に、フィラメント素子、電極素子、不活性ガス、またはPVD処理結果に影響を与えない体または固体を提供するステップにより、消耗材料からなるPVDターゲットの耐用寿命の終点を検出する検出器を形成し、
    前記フィラメント素子、電極素子、不活性ガス、またはPVD処理結果に影響を与えない液体または固体を提供するステップの後に、封止部で前記筐体を気密封止し、
    前記PVDターゲット内のベース面に前記検出器を埋め込み、
    PVD処理により前記PVDターゲットが所定量に接近しているか、もしくは、当該所定量にまで減量して、さらに前記筐体内の前記フィラメント素子、電極素子、不活性ガス、またはPVD処理結果に影響を与えない液体または固体にもPVD処理がされることで、前記フィラメント素子は電気抵抗が変化し前記電極素子は電流を検出し気密封止された前記不活性ガスは前記筺体から放出され気密封止された、PVD処理結果に影響を与えない前記液体または固体は気化され前記筺体から放出されるPVDターゲット構造体を製造することを特徴とする方法。
  4. 前記材料層が、物理的気相成長法、電気的化学めっき法、鋳造、押し出し、または、これらの組み合わせによって形成されることを特徴とする請求項記載の方法。
  5. 前記第1成型部材を提供し、前記材料層の外面を形成する所定形状の内面を備えた第2成型部材を提供するステップと、
    前記材料層は、前記第1成型部材および第2成型部材から分離され、前記検出器の筐体を前記材料層により形成するステップとにより、成型による前記検出器の筐体を形成したことを特徴とする請求項記載の方法。
  6. 所定形状の外面を備えた成型部材を提供するステップと、
    前記成型部材の外面上に材料シートを形成するステップと、
    前記シートの対向する各端部を互いに結合するステップとにより材料シートによる前記検出器の筐体を形成し、
    前記筐体内に、フィラメント素子、電極素子、不活性ガス、またはPVD処理結果に影響を与えない体または固体を提供するステップにより、消耗材料からなるPVDターゲットの耐用寿命の終点を検出する検出器を形成し、
    前記フィラメント素子、電極素子、不活性ガス、またはPVD処理結果に影響を与えない液体または固体を提供するステップの後に、封止部で前記筐体を気密封止し、
    前記PVDターゲット内のベース面に前記検出器を埋め込み、
    PVD処理により前記PVDターゲットが所定量に接近しているか、もしくは、当該所定量にまで減量して、さらに前記筐体内の前記フィラメント素子、電極素子、不活性ガス、またはPVD処理結果に影響を与えない液体または固体にもPVD処理がされることで、前記フィラメント素子は電気抵抗が変化し前記電極素子は電流を検出し気密封止された前記不活性ガスは前記筺体から放出され気密封止された、PVD処理結果に影響を与えない前記液体または固体は気化され前記筺体から放出されるPVDターゲット構造体を製造することを特徴とする方法。
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