JP4569765B2 - 電気・電子部品保護用室温硬化型シリコーンゴム組成物、並びに実装回路板、銀電極及び銀チップ抵抗器 - Google Patents

電気・電子部品保護用室温硬化型シリコーンゴム組成物、並びに実装回路板、銀電極及び銀チップ抵抗器 Download PDF

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Description

本発明は、電気・電子部品の保護を目的として使用される室温硬化型シリコーンゴム組成物に関するものであり、特には硫黄含有ガスによる電気・電子部品、特に銀電極や銀チップ抵抗器等の銀含有精密電子部品の腐食を防止、遅延することを目的とした電気・電子部品保護用シリコーンゴム組成物、並びに実装回路板、銀電極及び銀チップ抵抗器に関するものである。
従来、電気・電子部品の封止・シールに使用されるシリコーンゴム組成物は、封止される電気・電子部品の腐食・劣化防止/遅延を目的としているが、電気・電子部品が硫黄含有ガス(硫黄ガス・亜硫酸ガス等)に曝された場合、従来のシリコーンゴムでは硫黄含有ガスの電気・電子部品への到達を防止/遅延させることができず、特に金属部品の腐食防止/遅延効果を得ることができなかった。
また、近年の精密電子部品の各デバイスは、小型化・小電力化し、電極やチップ抵抗器の素材は銅から銀へ、また電極の厚みは薄くなる方向へ、電極間のギャップは狭くなる方向へと進んでおり、より一層硫黄含有ガスによる腐食が起きやすくなっている。
特開2003−096301号公報(特許文献1)、特開2005−113115号公報(特許文献2)では、それぞれシリコーンゴム組成物中に硫黄含有ガスによって硫化されやすい金属粉を0.5〜90質量%添加、0.01〜0.5質量%添加した電気・電子部品封止又はシール用シリコーンゴム組成物が、硫黄含有ガスの電気・電子部品への到達を防止もしくは遅延させることができることを提案しているが、上記のようにシリコーンゴム組成物中に金属粉を高充填した場合、部分的に金属粉が凝集してしまうおそれがあり、これにより、電極間の短絡、絶縁抵抗値が低下するおそれがある。また、金属粉の添加量が少ない場合には効果が持続しないという欠点がある。更に、シリコーンゴム組成物と金属粉の密度の違いから、長期保管した場合に金属粉が沈降してしまうという問題があり、低粘度のコーティング用シリコーンゴム組成物は開発できなかった。また、特開2004−149611号公報(特許文献3)ではシリコーンゴム組成物中にベンゾトリアゾール又はその誘導体を添加することで硫黄含有化合物による電気・電子部品の腐食、マイグレーションによる電蝕を抑制することができると提案しているが、芳香族アミノ基含有化合物のアミノ基は活性が低く、硫黄含有化合物による電気・電子部品の腐食、マイグレーションによる電蝕を抑制する効果は小さい。
特開2003−096301号公報 特開2005−113115号公報 特開2004−149611号公報
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、シリコーンゴムによって封止又はシールされた電気・電子部品において、硫黄含有ガスによる電気・電子部品の腐食を防止もしくは遅延することができ、電極間の短絡や絶縁抵抗値の低下のない電気・電子部品保護(封止・シール)用室温硬化型シリコーンゴム組成物、並びに実装回路板、銀電極及び銀チップ抵抗器を提供することを目的とする。
本発明者は、上記目的を達成するため鋭意検討した結果、室温硬化型シリコーンゴム組成物に、非芳香族アミノ基含有化合物、好ましくは1分子中に少なくとも2個のアミノ基を含有する非芳香族アミノ基含有化合物、更に好ましくは1分子中に少なくとも1個の1級アミノ基と少なくとも1個の多級アミノ基を含有する非芳香族アミノ基含有化合物を添加したものの硬化物で電気・電子部品、特に銀電極や銀チップ抵抗器を封止もしくはシールした場合、硬化物中の該アミン化合物が電気・電子部品の腐食を防止又は遅延に特異的に作用し、更には電極間の短絡や絶縁抵抗値の低下のない電気・電子部品が得られることを見出し、本発明をなすに至った。
従って、本発明は、
(A)下記一般式(1)
Figure 0004569765
(式中、R1は水素原子、又は非置換の一価炭化水素基を示し、R2ハロゲン置換もしくはシアノ置換又は非置換の一価炭化水素基、Zは酸素原子又は二価の炭化水素基、aは0,1又は2、nは10以上の整数である。)
で示されるオルガノポリシロキサン 100質量部、
(B)R3 bSiX4-b
(式中、R3 は非置換の一価炭化水素基、Xは加水分解性基、bは0,1又は2である。)
で表される有機ケイ素化合物又はその部分加水分解縮合物 1〜50質量部、
(C)N’−{3−(トリメトキシシリル)−プロピル}ジエチレントリアミン及びトリス(2−アミノエチル)アミンから選択される非芳香族アミノ基含有化合物
0.1〜20質量部
を含有してなる室温硬化型シリコーンゴム組成物を提供する。
また、本発明は、この組成物の硬化物で封止された電気・電子部品を搭載した実装回路板(サーキットボード)、銀電極及び銀チップ抵抗器を提供する。
本発明の室温硬化型シリコーンゴム組成物によれば、その硬化物で銀電極や銀チップ抵抗器等の表面の少なくとも一部に銅、銀、その他の金属部分を有する電気・電子部品を封止した場合、硫黄含有ガスによる電気・電子部品の腐食を防止することができる。
(A)成分
本発明の室温硬化型シリコーンゴム組成物を構成する主剤としての(A)成分は、下記一般式(1)で示されるものである。
Figure 0004569765
(式中、R1は水素原子、又は非置換の一価炭化水素基を示し、R2ハロゲン置換もしくはシアノ置換又は非置換の一価炭化水素基、Zは酸素原子又は二価の炭化水素基、aは0,1又は2、nは10以上の整数である。)
ここで、R1は水素原子や、炭素数1〜6、特に1〜4の置換もしくは非置換の一価炭化水素基、例えばメチル基、エチル基、プロピル基などのアルキル基、2−シアノエチル基、3−シアノプロピル基、2−シアノブチル基などのシアノ化炭化水素基、アリル基、イソプロペニル基などが例示される。aが0,1の場合は一価炭化水素基が好ましく、特にメチル基、エチル基が好ましい。aが2の場合は水素原子が好ましい。
また、R2は、炭素数1〜15、特に1〜10のものが好ましく、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、2−エチルブチル基、オクチル基などのアルキル基、シクロヘキシル基、シクロペンチル基などのシクロアルキル基、ビニル基、アリル基などのアルケニル基、フェニル基、トリル基、キシリル基、ナフチル基、ビフェニリル基、フェナントリル基などのアリール基、ベンジル基、フェニルエチル基などのアラルキル基、更にはクロロメチル基、トリクロロプロピル基、トリフロロプロピル基、ブロモフェニル基、クロロシクロヘキシル基などのハロゲン化炭化水素基、2−シアノエチル基、3−シアノプロピル基、2−シアノブチル基などのシアノ化炭化水素基が例示され、メチル基、ビニル基、フェニル基、トリフロロプロピル基が好ましく、メチル基が特に好ましい。
Zは、例えば酸素原子、メチレン基、エチレン基、プロピレン基などの炭素数1〜12、特に1〜10のアルキレン基が例示され、中でも酸素原子、エチレン基が好ましい。
更に、上記式(1)中のnは、10以上の整数であり、このオルガノポリシロキサンの23℃における粘度を25mPa・s以上、好ましくは100〜1,000,000mPa・s、より好ましくは500〜200,000mPa・sの範囲とする数である。
(B)成分
本発明において、硬化剤としては、R3 bSiX4-b(R3 は非置換の好ましくは炭素数1〜10、特に1〜8のアルキル基、アルケニル基、アリール基等の一価炭化水素基であり、好ましくはメチル基、エチル基、プロピル基、ビニル基、フェニル基である。Xは加水分解性基であり、bは0,1又は2である。)で表される加水分解性の基を1分子中に2個以上有するシランあるいはその加水分解縮合物が使用される。この場合、その加水分解性の基(X)としては、メトキシ基、エトキシ基、ブトキシ基などのアルコキシ基、ジメチルケトオキシム基、メチルエチルケトオキシム基などのケトオキシム基、アセトキシ基などのアシルオキシ基、イソプロペニルオキシ基、イソブテニルオキシ基などのアルケニルオキシ基、N−ブチルアミノ基、N,N−ジエチルアミノ基などのアミノ基、N−メチルアセトアミド基などのアミド基などが挙げられる。
なお、この硬化剤の配合量は、上記両末端水酸基(又はオルガノオキシ基)封鎖オルガノポリシロキサン((A)成分)100質量部に対し、1〜50質量部である。1質量部未満では十分な架橋が得られず、目的とするゴム弾性を有する組成物とならず、50質量部を超えると硬化時の収縮率が大きくなるほか、機械特性に劣るものになる。好ましくは3〜20質量部の範囲で添加されることが望ましい。
(C)成分
非芳香族アミノ基含有化合物としては、プロパンジアミン、1,2−ジアミノシクロヘキサン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−2(アミノエチル)3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N’−{3−(トリメトキシシリル)−プロピル}ジエチレントリアミン、トリス(2−アミノエチル)アミン等から選択される非芳香族アミノ基含有化合物の少なくとも1種であり、各種化合物を組み合わせて用いることができる。好ましくは1分子中に少なくとも2個のアミノ基を含有する非芳香族アミノ基含有化合物、更に好ましくは1分子中に少なくとも1個の1級アミノ基と少なくとも1個の多級アミノ基を含有する非芳香族アミノ基含有化合物、例えばN−2(アミノエチル)3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N’−{3−(トリメトキシシリル)−プロピル}ジエチレントリアミン、トリス(2−アミノエチル)アミン等である。
なお、この(C)成分の添加量は、上記(A)成分100質量部に対して0.1〜20質量部、特に0.1〜10質量部が好ましい。添加量が少なすぎる場合には十分な効果が得られず、また、添加量が多すぎる場合にはシリコーン組成物が硬化不良となってしまう。
硬化触媒成分
本発明のシリコーンゴム組成物は縮合硬化型であり、この縮合硬化型シリコーンゴム組成物には、通常、硬化触媒が使用される。これには、ジブチル錫ジアセテート、ジブチル錫ジラウレート、ジブチル錫ジオクトエート等のアルキル錫エステル化合物、テトライソプロポキシチタン、テトラ−n−ブトキシチタン、テトラキス(2−エチルヘキソキシ)チタン、ジプロポキシビス(アセチルアセトナ)チタン、チタニウムイソプロポキシオクチレングリコール等のチタン酸エステル又はチタンキレート化合物、ナフテン酸亜鉛、ステアリン酸亜鉛、亜鉛−2−エチルオクトエート、鉄−2−エチルヘキソエート、コバルト−2−エチルヘキソエート、マンガン−2−エチルヘキソエート、ナフテン酸コバルト、アルコキシアルミニウム化合物等の有機金属化合物、ベンジルトリエチルアンモニウムアセテート等の第4級アンモニウム塩、酢酸カリウム、酢酸ナトリウム、蓚酸リチウム等のアルカリ金属の低級脂肪酸塩、テトラメチルグアニジルプロピルトリメトキシシラン、テトラメチルグアニジルプロピルメチルジメトキシシラン、テトラメチルグアニジルプロピルトリス(トリメチルシロキシ)シラン等のグアニジル基を含有するシラン又はシロキサン等が例示されるが、これらはその1種に限定されず、2種もしくはそれ以上の混合物として使用してもよい。なお、これら硬化触媒の配合量は、上記(A)成分100質量部に対して0〜10質量部、特に0.01〜5質量部が好ましい。
充填剤成分
本発明の室温硬化型シリコーンゴム組成物には、必要に応じて各種の充填剤を配合してもよい。この充填剤としては微粉末シリカ、シリカエアロゲル、沈降シリカ、珪藻土、酸化鉄、酸化チタン、酸化アルミニウムなどの金属酸化物、窒化ホウ素、窒化アルミニウム等の金属窒化物、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、炭酸亜鉛などの金属炭酸塩、アスベスト、ガラスウール、カーボンブラック、微粉マイカ、溶融シリカ粉末、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル、ポリプロピレンなどの合成樹脂粉末が例示される。これらの充填剤の配合量は本発明の目的を損なわない限り任意とされ、またこれらは使用にあたり予め乾燥処理をして水分を除去しておくことが好ましい。
添加剤、接着助剤成分
更に添加剤として、チクソ性向上剤としてのポリエーテル、防かび剤、抗菌剤、接着助剤としてγ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシランなどのエポキシシラン類などを添加してもよい。なお、本発明の室温硬化型シリコーンゴム組成物に、更に顔料、染料、老化防止剤、酸化防止剤、帯電防止剤、酸化アンチモン、塩化パラフィンなどの難燃剤などを添加することは任意である。
組成物の調製等
本発明の室温硬化型シリコーンゴム組成物は、上記(A)〜(C)成分、更にはこれに硬化触媒、充填剤及び上記各種添加剤を乾燥雰囲気中において均一に混合することにより得られる。
本発明の室温硬化型シリコーンゴム組成物は、密封下では安定であるが、空気中に曝したときにはその湿気によって速やかに硬化する。また、必要に応じてトルエン、石油エーテルなどの炭化水素系溶剤、ケトン、エステルなどを希釈剤として添加して使用してもよい。
なお、本発明のシリコーンゴム組成物は、希釈剤を使用しない場合、23℃における粘度が好ましくは300Pa・s以下、より好ましくは200Pa・s以下、特に好ましくは100Pa・s以下である。
本発明のシリコーンゴム組成物は、電気・電子部品保護用として使用され、電気・電子部品を常法に従って封止、シール、コート等することにより用いられる。この場合、電気・電子部品としては、少なくとも表面の一部に金属、とりわけ銀、銅等にて形成された部分を有するものが好ましく、例えば電気・電子部品(この場合の電気・電子部品は表面に金属部分がなくてもよい)を塔載した実装回路板(サーキットボード)、銀電極、銀チップ抵抗器等が挙げられる。
以下、本発明を実施例、比較例で具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、組成物の粘度は、回転粘度計による23℃の値である。
参考例1、実施例1,2、比較例1〜4]
(A)成分として、粘度700mPa・s(23℃)の分子鎖両末端が水酸基で封鎖されたジメチルポリシロキサン100質量部と、粘度300mPa・s(23℃)の分子鎖両末端がメチル基で封鎖されたジメチルポリシロキサン20質量部を品川式撹拌機にて室温で20分間混合した後、(B)成分として、フェニルトリ(イソプロペニルオキシ)シラン8質量部、硬化触媒成分として1,1,3,3−テトラメチル−2−[3−(トリメトキシシリル)プロピル]グアニジン1質量部、及び(C)成分又は比較成分として表1のアミノ基含有化合物を所定の質量部又は銅粉1質量部を無水の状態で混合し、次いで20分間脱泡混合を行って、組成物を調製した。
Figure 0004569765
参考例2、実施例3,4、比較例5,6]
(A)成分として粘度700mPa・s(23℃)の分子鎖両末端が水酸基で封鎖されたジメチルポリシロキサン100質量部と、結晶性シリカ60質量部を品川式撹拌機にて室温で20分間混合した後、(B)成分としてフェニルトリ(イソプロペニルオキシ)シラン8質量部、硬化触媒成分として1,1,3,3−テトラメチル−2−[3−(トリメトキシシリル)プロピル]グアニジン1.4質量部、及び(C)成分又は比較成分として表2のアミノ基含有化合物1質量部、又は銅粉1質量部を無水の状態で混合し、次いで20分間脱泡混合を行って、組成物を調製した。
Figure 0004569765
参考例3、比較例7]
(A)成分として、粘度900mPa・s(23℃)の分子鎖両末端がトリメトキシ基で封鎖されたジメチルポリシロキサン100質量部と、粘度300mPa・s(23℃)の分子鎖両末端がメチル基で封鎖されたジメチルポリシロキサン20質量部を品川式攪拌機にて室温で20分間混合した後、(B)成分としてメチルトリメトキシシラン7質量部、硬化触媒成分としてチタンキレート触媒オルガチックスTC−750(商品名、(株)マツモト交商製)2質量部、及び(C)成分又は比較成分として表3のアミノ基含有化合物1質量部を無水の状態で混合し、次いで20分間脱泡混合を行って、組成物を調製した。
Figure 0004569765
[比較例8]
(A)成分として粘度700mPa・s(23℃)の分子鎖両末端が水酸基で封鎖されたジメチルポリシロキサン100質量部と、粘度300mPa・s(23℃)の分子鎖両末端がメチル基で封鎖されたジメチルポリシロキサン20質量部を品川式攪拌機にて室温で20分間混合した後、(B)成分としてフェニルトリ(イソプロペニルオキシ)シラン8質量部、硬化触媒成分として1,1,3,3−テトラメチル−2−[3−(トリメトキシシリル)プロピル]グアニジン1質量部を無水の状態で混合し、次いで20分間脱泡混合を行って、組成物を調製した(表4)。
Figure 0004569765
[硬化性試験]
硬化性試験は上記参考例1〜3、実施例1〜、比較例1〜8にて調製した各組成物を23℃/50%RHの環境条件に曝し、20分後に各組成物の表面が硬化しているか確認した。結果を表5に示す。
○:硬化
×:未硬化
[腐食性試験]
腐食性試験は銀メッキを施した鉄板上に上記参考例1〜3、実施例1〜、比較例1〜8にて調製した各組成物を厚さ2mmになるように塗布し、硬化させ、試験サンプルを作製した。試験サンプルを硫黄粉0.2gと共に100ccガラスビンに入れ、密閉して80℃に加熱放置し、100時間後に硬化した組成物を剥がし、銀メッキの腐食の程度を目視にて観察した。結果を表5に示す。
◎:腐食なし
○:ほとんど腐食なし
×:腐食あり(黒色化)
[保存性試験]
保存安定性は上記参考例1〜3、実施例1〜、比較例1〜8にて調製した各組成物を100ccガラスビンに入れ、23℃で1,000時間静置し、シリコーン組成物の分離あるいは構成成分の沈降・分離を観察した。結果を表5に示す。
○:沈降・分離なし
×:沈降・分離あり
Figure 0004569765
上記の結果より、(C)成分を添加しないシリコーンゴム組成物(比較例1〜3,5,7,8)を用いたものは銀メッキの腐食を防止することはできず、また、銅粉を添加したシリコーンゴム組成物(比較例4,6)を用いたものは保存安定性が低下してしまうことが確認された。
これに対して、(C)成分を添加したシリコーン組成物(参考例1〜3、実施例1〜)を用いたものは、銀メッキの腐食を防止することができ、更に保存安定性のある、優れた効果を有することが確認された。

Claims (4)

  1. (A)下記一般式(1)
    Figure 0004569765
    (式中、R1は水素原子、又は非置換の一価炭化水素基を示し、R2ハロゲン置換もしくはシアノ置換又は非置換の一価炭化水素基、Zは酸素原子又は二価の炭化水素基、aは0,1又は2、nは10以上の整数である。)
    で示されるオルガノポリシロキサン 100質量部、
    (B)R3 bSiX4-b
    (式中、R3 は非置換の一価炭化水素基、Xは加水分解性基、bは0,1又は2である。)
    で表される有機ケイ素化合物又はその部分加水分解縮合物 1〜50質量部、
    (C)N’−{3−(トリメトキシシリル)−プロピル}ジエチレントリアミン及びトリス(2−アミノエチル)アミンから選択される非芳香族アミノ基含有化合物
    0.1〜20質量部
    を含有してなることを特徴とする電気・電子部品保護用室温硬化型シリコーンゴム組成物。
  2. 請求項記載の電気・電子部品保護用室温硬化型シリコーンゴム組成物の硬化物で封止された電気・電子部品を搭載した実装回路板(サーキットボード)。
  3. 請求項記載の電気・電子部品保護用室温硬化型シリコーンゴム組成物の硬化物で封止された銀電極。
  4. 請求項記載の電気・電子部品保護用室温硬化型シリコーンゴム組成物の硬化物で封止された銀チップ抵抗器。
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Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4647321B2 (ja) * 2005-01-31 2011-03-09 モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン合同会社 室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物
JP4530177B2 (ja) * 2006-12-11 2010-08-25 信越化学工業株式会社 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物
US8486533B2 (en) * 2010-01-29 2013-07-16 International Business Machines Corporation Anti-corrosion conformal coating for metal conductors electrically connecting an electronic component
JP5365572B2 (ja) * 2010-04-13 2013-12-11 信越化学工業株式会社 室温湿気増粘型熱伝導性シリコーングリース組成物
CN103201316B (zh) 2010-09-08 2015-08-12 莫门蒂夫性能材料股份有限公司 湿固化的有机聚硅氧烷组合物
US8629688B2 (en) * 2010-09-29 2014-01-14 International Business Machines Corporation Method for sulfur-based corrosion testing
US9333454B2 (en) 2011-01-21 2016-05-10 International Business Machines Corporation Silicone-based chemical filter and silicone-based chemical bath for removing sulfur contaminants
US8900491B2 (en) 2011-05-06 2014-12-02 International Business Machines Corporation Flame retardant filler
US9186641B2 (en) 2011-08-05 2015-11-17 International Business Machines Corporation Microcapsules adapted to rupture in a magnetic field to enable easy removal of one substrate from another for enhanced reworkability
US8741804B2 (en) 2011-10-28 2014-06-03 International Business Machines Corporation Microcapsules adapted to rupture in a magnetic field
EP2776162B1 (en) 2011-11-10 2017-01-04 Momentive Performance Materials Inc. Moisture curable organopolysiloxane composition
EP2791265A4 (en) 2011-12-15 2016-01-13 Momentive Performance Mat Inc HUMIDITY-CURABLE POLYORGANOSILOXANE COMPOSITIONS
WO2013090127A1 (en) 2011-12-15 2013-06-20 Momentive Performance Materials, Inc. Moisture curable organopolysiloxane compositions
KR20140116885A (ko) 2011-12-29 2014-10-06 모멘티브 퍼포먼스 머티리얼즈 인크. 수분 경화성 오가노폴리실록산 조성물
US8879275B2 (en) 2012-02-21 2014-11-04 International Business Machines Corporation Anti-corrosion conformal coating comprising modified porous silica fillers for metal conductors electrically connecting an electronic component
US9716055B2 (en) 2012-06-13 2017-07-25 International Business Machines Corporation Thermal interface material (TIM) with thermally conductive integrated release layer
US20140000955A1 (en) * 2012-06-28 2014-01-02 International Business Machines Corporation Conformal Coating Capable of Scavenging a Corrosive Agent
US20140191841A1 (en) * 2013-01-04 2014-07-10 International Business Machines Corporation Conformal coating to scavenge elemental sulfur
TW201434882A (zh) 2013-03-13 2014-09-16 Momentive Performance Mat Inc 可濕氣固化之有機聚矽氧烷組成物
EP2994501A2 (en) 2013-05-10 2016-03-16 Momentive Performance Materials Inc. Non-metal catalyzed room temperature moisture curable organopolysiloxane compositions
DE102014200492A1 (de) * 2014-01-14 2015-07-16 Robert Bosch Gmbh Schaltungsträger mit einer Silikonpolymer-Beschichtung
US10479897B2 (en) 2014-01-16 2019-11-19 International Business Machines Corporation Producing an apparatus by covering an electronic component with a conformal coating containing metal nanoparticles
US9809708B2 (en) 2014-04-15 2017-11-07 3M Innovative Properties Company Curable silicone composition
US9336931B2 (en) 2014-06-06 2016-05-10 Yageo Corporation Chip resistor
CN105778506B (zh) * 2014-12-25 2019-04-30 广东生益科技股份有限公司 一种有机硅树脂组合物及使用它的预浸料、层压板、覆铜板以及铝基板
MX2017008872A (es) 2015-01-08 2017-10-11 3M Innovative Properties Co Composicion de silicona curable por humedad.
JP6418115B2 (ja) * 2015-09-14 2018-11-07 信越化学工業株式会社 金属基材の硫化防止方法、硫化防止性評価方法、及び実装回路基板
US10121573B2 (en) 2016-01-06 2018-11-06 International Business Machines Corporation Epoxy-based resin system composition containing a latent functionality for polymer adhesion improvement to prevent sulfur related corrosion
KR102465009B1 (ko) 2016-08-19 2022-11-09 듀폰 도레이 스페셜티 머티리얼즈 가부시키가이샤 전기/전자 부품을 보호하기 위한 실온 경화성 유기폴리실록산 조성물
CN110267704B (zh) * 2016-11-07 2023-10-27 微导股份有限公司 具有一体主体的多电极阵列
US11027122B2 (en) 2017-01-19 2021-06-08 Micro-Leads, Inc. Spinal cord stimulation method to treat lateral neural tissues
CN107778868B (zh) * 2017-11-17 2021-02-12 东莞兆舜有机硅科技股份有限公司 一种硅橡胶材料及其制备方法和用途
WO2020026731A1 (ja) * 2018-08-03 2020-02-06 信越化学工業株式会社 室温硬化性ポリブタジエン樹脂組成物、その製造方法及び実装回路基板
US11395924B2 (en) 2019-01-07 2022-07-26 Micro-Leads, Inc. Implantable devices with welded multi-contact electrodes and continuous conductive elements
WO2021168585A1 (en) 2020-02-26 2021-09-02 10551554 Canada Inc. D/B/A Armada Surge Protection Power surge protector
CN113072880A (zh) * 2021-04-06 2021-07-06 湖北隆胜四海新材料股份有限公司 一种有机硅树脂组合物及其制备方法和应用
DE102021207675A1 (de) 2021-07-19 2023-01-19 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Drucksensor mit antistatischer Oberfläche sowie ein Verfahren zur Herstellung

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5695923A (en) * 1979-11-30 1981-08-03 Shin Etsu Chem Co Ltd Cold curing organopolysloxane composition
US4514529A (en) * 1984-03-27 1985-04-30 Loctite Corporation Oil resistant low modulus silicone sealant composition
JP2565333B2 (ja) * 1987-04-28 1996-12-18 東レ・ダウコーニング・シリコーン株式会社 電気・電子機器用室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物
JPH02102263A (ja) * 1988-10-11 1990-04-13 Shin Etsu Chem Co Ltd 導電性シリコーンゴム組成物
JP2811134B2 (ja) * 1992-03-30 1998-10-15 信越化学工業株式会社 室温速硬化性オルガノポリシロキサン組成物及びその硬化方法
JP2841155B2 (ja) * 1993-09-13 1998-12-24 信越化学工業株式会社 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物
US5705586A (en) * 1994-06-23 1998-01-06 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Organic fluorine compounds and curable compositions
EP0745604A3 (en) * 1995-05-29 1998-07-29 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Room temperature curable fluoropolymer composition; and fluorine-containing organosilicon compounds, a method of producing the same, and room temperature curable silicone composition containing the same
JP4015722B2 (ja) * 1997-06-20 2007-11-28 東レ・ダウコーニング株式会社 熱伝導性ポリマー組成物
US6008284A (en) * 1997-12-23 1999-12-28 Dow Corning Corporation Fast curing alkoxy-functional RTV compositions
US6235832B1 (en) * 1998-12-21 2001-05-22 Dow Corning Corporation RTV silicone compositions with rapid development of green strength
AU2001259395A1 (en) * 2000-05-02 2001-11-12 Loctite Corporation Hybrid end-capped reactive silicone polymers
JP4554036B2 (ja) * 2000-06-30 2010-09-29 信越化学工業株式会社 室温速硬化型シリコーン組成物
JP3705344B2 (ja) * 2000-08-17 2005-10-12 信越化学工業株式会社 導電性シリコーンゴム組成物
JP3714861B2 (ja) * 2000-09-20 2005-11-09 信越化学工業株式会社 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物
JP3714402B2 (ja) * 2000-10-12 2005-11-09 信越化学工業株式会社 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物
US7038009B2 (en) * 2001-08-31 2006-05-02 Cool Shield, Inc. Thermally conductive elastomeric pad and method of manufacturing same
JP4114037B2 (ja) 2001-09-25 2008-07-09 信越化学工業株式会社 電気・電子部品の硫化防止又は遅延用シリコーンゴム封止・シール材及び硫化防止又は遅延方法
JP2003139593A (ja) * 2001-11-07 2003-05-14 Hitachi Ltd 車載電子機器および熱式流量計
JP3824071B2 (ja) * 2001-12-25 2006-09-20 信越化学工業株式会社 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物
JP4588285B2 (ja) * 2002-01-25 2010-11-24 信越化学工業株式会社 熱伝導性シリコーンゴム組成物
JP3846571B2 (ja) * 2002-04-12 2006-11-15 信越化学工業株式会社 オルガノポリシロキサン組成物
JP4440517B2 (ja) * 2002-05-07 2010-03-24 信越化学工業株式会社 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物及び該組成物を接着剤として用いた部品
JP3900267B2 (ja) * 2002-05-09 2007-04-04 信越化学工業株式会社 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物
JP4088764B2 (ja) * 2002-07-01 2008-05-21 信越化学工業株式会社 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物
JP4777591B2 (ja) * 2002-10-25 2011-09-21 信越化学工業株式会社 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物
JP2004149611A (ja) 2002-10-29 2004-05-27 Dow Corning Toray Silicone Co Ltd 電気・電子機器の金属製導電部の保護方法
JP4646496B2 (ja) * 2003-02-13 2011-03-09 東レ・ダウコーニング株式会社 熱伝導性シリコーン組成物
JP2004352947A (ja) * 2003-05-30 2004-12-16 Shin Etsu Chem Co Ltd 室温硬化型熱伝導性シリコーンゴム組成物
JP4530137B2 (ja) * 2003-09-17 2010-08-25 信越化学工業株式会社 精密電子部品封止・シール用オルガノポリシロキサン組成物、精密電子部品の腐蝕防止又は遅延方法、並びに銀含有精密電子部品
JP2006117777A (ja) * 2004-10-21 2006-05-11 Dow Corning Toray Co Ltd 電気・電子部品封止・シール用シリコーンゴム組成物および電気・電子機器
JP4623282B2 (ja) * 2005-03-10 2011-02-02 信越化学工業株式会社 半導体装置の製造方法

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