JP4176735B2 - 磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、研磨方法及び研磨装置に関し、特に磁気記録媒体用ガラス基板等の内周端面
等の研磨に好適に使用できる研磨方法及び研磨装置等に関する。
磁気ディスク等の磁気記録媒体用基板としては、アルミニウム基板が広く用いられてき
たが、磁気ディスクの小型・薄板化と、高密度記録化に伴い、アルミニウム基板に比べ基
板表面の平坦性及び基板強度に優れたガラス基板に徐々に置き換わりつつある。この磁気
記録媒体用ガラス基板には、一般に基板強度を上げるため、化学強化されたガラス基板や
、結晶化によって基板強度を上げた結晶化ガラス基板が用いられている。
また、磁気ヘッドの方も高密度記録化に伴って、薄膜ヘッドから、磁気抵抗型ヘッド(
MRヘッド)、大型磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)へと推移してきている。したがっ
て、ガラス基板を用いた磁気記録媒体を磁気抵抗型ヘッドで再生することが、これからの
大きな潮流となることが予想されている。
このように磁気ディスクは高密度記録化のため種々の改良が加えられており、このよう
な磁気ディスクの進歩に伴って、磁気記録媒体用ガラス基板にも次々に新しい課題が発生
してきている。その一つにガラス基板表面の高清浄化がある。これは、ガラス基板表面に
異物が付着していると、ガラス基板表面上に形成する薄膜の膜欠陥の原因となったり、薄
膜表面の凸部となって、適正なグライド・ハイトが得られないといった問題を引き起こす
。また、ガラス基板を用いた磁気記録媒体を磁気抵抗型ヘッドで再生する際、記録密度の
向上を求めてヘッドのフライングハイト(浮上高さ)を下げると、再生の誤動作、あるい
は、再生が不可能になる現象に遭遇することがあり、問題となっている。この原因は、磁
気ディスク表面にガラス基板上のパーティクルによって形成された凸部が、サーマル・ア
スペリティ(Thermal Asperity)となって、磁気抵抗型ヘッドに熱が発
生し、ヘッドの抵抗値を変動させ、電磁変換に悪影響を与えていることがその原因である
上述したような磁気記録媒体用ガラス基板表面の異物の原因は、ガラス基板の端面の表
面状態が平滑でないため、この端面が樹脂製ケースの壁面と擦過し、この擦過によって発
生する樹脂やガラスのパーティクルや、ガラス基板の内周端面及び外周端面部に捕捉され
るその他のパーティクルが、表面に付着することが大きな要因となっている。特に、ガラ
ス基板の内周端面は外周端面に比べ表面状態が粗いのでパーティクルを捕捉しやすく、ガ
ラス基板表面の高清浄化の障害になっていることを本発明者らは突き止めた。
なお、ガラス基板の端面部に発生するクラックを化学的エッチングで除去して基板強度
の向上を図る技術が提案されているが(特許文献1)、この場合、クラックの深さは減少
するがクラックがエッチングで広がり窪みとなってパーティクルを捕捉しやすくなり、か
えってガラス基板表面の高清浄化の障害になるという問題がある。また、化学的エッチン
グによるものなので端面部の表面精度を高いレベルでコントロールすることが困難である
という問題もある。さらに、クラックを完全に除去することが困難であり抗折強度が十分
でないという問題がある。
特開平7−230621号公報 本発明は上述した背景の下になされたものであり、ガラス基板等の端面の表面状態を低コストで効率よく高いレベルで平滑にでき、特に研磨が困難なガラス基板等の内周端面の表面状態を低コストで効率よく高いレベルで平滑にでき、したがって基板表面の高清浄化を高いレベルで達成しうる研磨方法及び研磨装置等の提供を第一の目的とする。また、ガラス基板表面の高清浄化を高いレベルで達成した磁気記録媒体用ガラス基板の提供を第二の目的とする。さらに、基板表面の異物に起因するトラブルを極力抑えた磁気記録媒体の提供を第三の目的とする。
上記目的を達成するために本発明は以下の構成としてある。
(構成1)中心部に円孔を有する円板状体の内周端面及び/又は外周端面を、遊離砥粒
を含有した研磨液を用いて研磨することを特徴とする研磨方法。
(構成2)中心部に円孔を有する円板状のガラス基板を遊離砥粒を含有した研磨液に浸
漬し、前記ガラス基板の内周端面及び/又は外周端面を、遊離砥粒を含有した研磨液を用
いて研磨することを特徴とする研磨方法。
(構成3)中心部に円孔を有する円板状のガラス基板を遊離砥粒を含有した研磨液に浸
漬し、前記ガラス基板の内周端面及び/又は外周端面を、遊離砥粒を含有した研磨液を用
いて研磨ブラシ又は研磨パッドと回転接触させて研磨することを特徴とする研磨方法。
(構成4)遊離砥粒を含有した研磨液の粘度が、1.5〜25cpsであることを特徴
とする構成1乃至3記載の研磨方法。
(構成5)構成1乃至4記載の研磨方法によりガラス基板の内周端面及び/又は外周端
面を研磨する工程を有することを特徴とする磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
(構成6)磁気記録媒体用ガラス基板において、内周端面及び/又は外周端面の面取部
及び/又は側壁部の表面粗さRaが0.001〜0.04μmであることを特徴とする磁
気記録媒体用ガラス基板。
(構成7)構成6記載の磁気記録媒体用ガラス基板上に、少なくとも磁性層を形成した
ことを特徴とする磁気記録媒体。
(構成8)磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)又は大型磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド
)対応の磁気記録媒体であることを特徴とする構成7記載の磁気記録媒体。
(構成9)磁性層が、CoPt系の磁性層であることを特徴とする構成7又は8記載の
磁気記録媒体。
(構成10)研磨液を収容する研磨液収容部と、該研磨液収容部の底部に設けられた回
転保持台と、該回転保持台上に着脱自在に装着されかつ中心部に円孔を有する多数の円板
状体を収容する基板ケースと、円板状体の円孔部分に挿入される回転ブラシとを備えたこ
とを特徴とする研磨装置。
(構成11)前記回転ブラシの回転軸を回転ブラシの両端から突出させ、回転軸の一方
を回転駆動装置に取り付けるとともに、少なくとも他方の回転軸に軸受を設けたことを特
徴とする構成10記載の研磨装置。
なお、本発明でいう内周端面及び外周端面には、面取りした面取り部と、側壁部とをそ
れぞれ含む。
(作用)
構成1によれば、遊離砥粒を含有した研磨液を用いて研磨することで、ダイヤモンド砥
石(固定砥粒)を用いた研磨や、化学エッチングを利用した研磨に比べ、ガラス基板等の
内周端面及び外周端面の表面状態を低コストで効率よく高いレベルで平滑にできる。特に
高精度の研磨が困難なガラス基板等の内周端面の表面状態を低コストで効率よく高いレベ
ルで平滑にできる。ダイヤモンド砥石を用いた場合、被研磨表面の高い部分(突起の頂部
)だけが削られるので平滑性が悪い。化学的エッチングによる場合、クラックがエッチン
グで広がり窪みとなってパーティクルを捕捉しやすくなりガラス基板表面の高清浄化の障
害になるとともに、ガラス基板端面の表面の平坦性が悪く摩過等による異物発生の原因と
なり、さらにクラックを完全に除去することが困難であるので抗折強度に劣る。
構成2によれば、遊離砥粒を含有した研磨液に浸漬して研磨を行うことで、内周端面及
び/又は外周端面に常に十分な研磨液が存在することになるので、液切れによる研磨不足
や研磨不良を来すことがない。
構成3によれば、遊離砥粒を含有した研磨液への浸漬とブラシ研磨等とを組み合わせる
ことで、特に高精度の研磨が困難なガラス基板の内周端面等の表面状態をより低コストで
効率よく高いレベルで平滑にできる。また、ガラス基板の内周端面及び外周端面における
面取り部に加え側壁部も同時に低コストで効率よく高いレベルで平滑にできる。面取り部
と側壁部の両方が平滑であれば本発明の効果はより大きい。なお、穴径の小さい内周端面
を回転ブラシで研磨しようとする場合、回転ブラシに研磨液を連続的に供給する態様では
、高速回転する回転ブラシによって研磨液が飛散してしまったり、回転ブラシの周囲が真
空状態となって研磨剤が入らなかったりして被研磨面に研磨液が十分に行き渡らないとい
った問題があるが、遊離砥粒を含有した研磨液に浸漬することで液切れによる研磨不足や
研磨不良を来すことがない。また、回転ブラシのブラシ毛として腰の強いものを用いた場
合であっても、研磨液の粘性抵抗等により研磨液に浸漬されたブラシ毛の弾性力が緩和さ
れてブラシ毛が被研磨面に必要以上に激しく衝突することがないので、被研磨面にスクラ
ッチ等の傷をつける恐れを著しく軽減できる。さらに、例えば、ブラシ毛をその回転軸上
に螺旋状に植毛することで、研磨液の流動を促し被研磨面に常に新鮮な研磨液を循環供給
することができ、研磨効率、再現性及び精度を高めることができる。
構成4によれば、遊離砥粒を含有した研磨液の粘度を1.5〜25cps(20℃)の
範囲とすることで、研磨効率、再現性及び研磨精度を高めることができるとともに、被研
磨面にスクラッチ等の傷をつける恐れを著しく軽減できる。同様の観点から、遊離砥粒を
含有した研磨液の粘度は1.8〜5cps(20℃)の範囲とすることがより好ましい。
構成5によれば、ガラス基板表面の高清浄化を高いレベルで達成しうるとともに、抗折
強度に優れた磁気記録媒体用ガラス基板を製造できる。
構成6によれば、磁気記録媒体用ガラス基板における内周端面及び/又は外周端面の面
取部及び/又は側壁部の表面粗さを規定することで、ガラス基板表面の高清浄化を高いレ
ベルで達成しうるとともに、抗折強度に優れた磁気記録媒体用ガラス基板を確実に得られ
る。同様の観点から、磁気記録媒体用ガラス基板における内周端面及び/又は外周端面の
面取部及び/又は側壁部の表面粗さは、Ra:0.001〜0.03μm以下、Rmax
:0.5μm以下とすることがより好ましい。
構成7によれば、磁気記録媒体用ガラス基板表面の高清浄化及び抗折強度の向上を図っ
ているので、磁気記録媒体とした場合、ガラス基板表面に端面に起因する異物が付着する
ことがないのでガラス基板表面上に形成する薄膜の膜欠陥がなく、また、グライド・ハイ
トを低くできる。
構成8によれば、 構成7と同様の効果に加え、ヘッドのフライングハイトを下げても
、サーマル・アスペリティに起因する再生の誤動作や、再生が不可能になることがなく、
したがって、磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)又は大型磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド
)対応の磁気記録媒体が得られる。
構成9によれば、上記構成の効果に加え、磁気特性に優れた磁気記録媒体が得られる。
構成10によれば、回転保持台の回転運動と、回転ブラシの回転運動により、内周端面
等を極めて効率よく擦ることを可能にし、被研磨面に傷をつけることなく、高精度で高効
率な研磨を行うことができる。また、回転ブラシの回転運動により研磨液を槽内で循環で
き研磨剤の沈降を防止できる。なお、回転ブラシに加え研磨液の循環手段をさらに設けて
もよい。
構成11によれば、少なくとも回転駆動装置側とは反対側の回転軸に軸受を設けること
により、端面の研磨時においても、回転軸がずれることがなく端面を研磨することができ
るので、表面粗さ、サイズにばらつきがない高精度な研磨を行うことができる。軸受とし
ては、べアリング、ボ−ル軸受、ころ軸受、すべり軸受など公知の軸受を使用することが
できる。なお、軸受は、回転ブラシを挿入する際のガイド部材としての役割も果たす。こ
の場合、軸受の入口の内径を広くすることができ、これにより回転ブラシの回転軸を軸受
に挿入し易くなるので好ましい。また、軸受は、複数設けることができ、回転駆動装置側
の回転軸にも設けることができる。
(実施例)以下、実施例にもとづき本発明をさらに具体的に説明する。
実施例1
図1は本発明の一実施例に係る研磨装置の断面図、図2は磁気ディスク用ガラス基板を
切断して見たときの斜視図である。以下、これらの図面を参照して本発明の研磨方法及び
研磨装置を磁気ディスク用ガラス基板の内周端面の研磨に適用した場合の一例について説
明する。
まず、本発明の研磨装置の一例について説明する。図1において、1は研磨対象である
磁気ディスク用ガラス基板(以下MD基板という)、2は多数のMD基板1を研磨液中に
浸漬させつつ収納する基板ケース、3は基板ケース2を回動自在に固定保持する回転保持
台、4は多数積層されたMD基板1の内周穴部に挿入された回転ブラシ、5は研磨液を収
容する研磨液収容部である。
基板ケース2は、軸方向上部からカラー21を介して締め付けカバー22を締め込むこ
とで、各MD基板1どうしの主表面間の摩擦係数により、基板ケース2や回転ブラシ4の
回転に影響されることなくMD基板1を保持する機構を有する。なお、この基板ケース2
には、ケース内外部の研磨液が流通できるように適当な部位に研磨液流通孔23が設けて
ある。
回転保持台3は、研磨液収容部5の底板51の中心部に気密的に取り付けられた回転軸
部31の回転軸32に結合され、その回転軸32を正逆の双方向に回転駆動する回転駆動
装置34によって回転できるようになっている。なお、この回転駆動装置34はその回転
数を可変できるようになっており、研磨目的に応じた適切な回転数を選定できるようにな
っている。また、回転軸部31における回転軸カバー33に設けられたエアー供給口35
からエアー供給路36を通じてエアーを供給することにより、エアーシール層37を形成
して、研磨液が回転軸32に流入するのを防ぐ。研磨液収容部5は、円板状の底板51の
外周部に筒状の側壁52が気密的に取り付けられたもので、研磨液50を収容する。
回転ブラシ4は、回転駆動装置41の回転軸42に接続されており、正逆の双方向に回
転可能に構成されている。回転ブラシ4は、初期状態においては回転ブラシ4の回転中心
の位置が、基板ケース2の回転中心と一致するように設定されている。また、回転ブラシ
4は、ブラシ毛43のMD基板1への接触長さを加減するため、エアシリンダ等を利用し
た機構(図示せず)によって、MD基板1の内周端面への押しつけ、つまりブラシの回転
軸方向に対し垂直方向への押しつけ量が調整可能に構成されている。回転ブラシ4は、カ
ム機構(図示せず)によって、上記内周端面への押しつけと同時にブラシの回転軸方向に
沿って往復しつつ揺動運動ができるように構成されている。
なお、回転ブラシ4は、図5(a)及び(b)に示すように、回転駆動装置側の回転軸
44とは反対側の回転軸45に回転軸を固定する軸受46を設け、この軸受に回転軸を挿
入することにより、端面の研磨時においても回転軸がずれることがなく研磨することがで
きるので好ましい。
回転ブラシ4のブラシ毛43としては、蛇行形にカールさせたナイロン繊維(直径0.
1〜0.3mm、長さ5〜10mm)が使用されているが、ナイロン繊維の代わりに塩化
ビニル繊維、豚毛、ピアノ線、ステンレス製繊維などを用いてもよい。硬度が低い繊維、
あるいは柔軟性の高い繊維を利用すれば、ブラシ毛の弾性変形によって擦る力が過大にな
ることを防止でき、スクラッチなどの傷の発生をより良好に防止できる。また、カールさ
せた繊維は、窪み等に対する接触性がよく、例えば、図2に示すMD基板1の面取り部1
bをより効率よく研磨することが可能になるが、面取り部1bの研磨の効率をそれ程考慮
しなければカールのない直線状の繊維を利用してもよい。なお、ブラシ毛43として、樹
脂に研磨剤を混入しこれを成形してブラシ毛に研磨剤を含有したものを用いれば、研磨速
度をさらに高めることができる。研磨剤としては、酸化セリウムが使用されているが、他
にも酸化鉄、酸化マグネシウム、酸化ジルコニウム、酸化マンガン等の研磨剤を用いるこ
ともできる。好ましくは、被研磨物の材料(MD基板)に近い硬さのものが望ましく、ガ
ラス基板の場合、酸化セリウムが望ましい。研磨剤が硬すぎるとガラス基板端面に傷を与
えることになってしまい好ましくなく、又研磨剤が軟らかすぎるとガラス基板端面を鏡面
にすることができなくなるので好ましくない。また、研磨剤の平均粒径としては、1〜5
μmが好ましい。1μm未満の場合、研磨剤がガラス基板を研削する力が弱く、回転ブラ
シの先端が直接ガラス基板端面に接触した状態で研磨されることが多くなるので、MD基
板の面取り形状を制御することが難しく、端面(側壁面)と面取り部の間の箇所が、だれ
てしまうので好ましくなく、5μmを超える場合、研磨剤の粒径が大きいので鏡面粗さが
大きくなるとともに、研磨液収容部の底に研磨剤が沈殿しやすくなるので、研磨中に回転
ブラシとガラス基板との間に研磨剤が介在されることなく研磨される場合が発生してしま
うこともあり、望ましい表面粗さが得られないので好ましくない。研磨パッドとしては、
例えば、スウェード、ベロアを素材とする軟質ポリシャや、硬質ベロア、ウレタン発砲、
ピッチ含浸スウェード等の硬質ポリシャなどが挙げられる。
次に上記研磨装置を用いた研磨方法の一例について説明する。まず、回転ブラシ4を基
板ケース2の上から適当量退避させておき、基板ケース2に多数のMD基板1を、カラー
21を上下に配置して締め付けカバー22を締め込むことによりクランプする。このとき
、MD基板1の内周穴部の芯ずれは、基板ケース2の内周部とMD基板1の外周部との寸
法差によるクリアランスで決定される。このクリアランスについては、作業性、基板ケー
ス内周部の真円度により調整が必要だが、JIS B 0401(1986)における、は
めあいのすきまばめから中間ばめの範囲が適正である。
上記MD基板1を多数セットした基板ケース2を、回転保持台3にセットする。ここで
、セットするMD基板1は既に内外周の面取り加工等が済んだものである。
次いで、基板ケース2の回転中心と同一線上にある回転ブラシ4を図1のようにMD基
板1の内周部に挿入する。回転ブラシ4の停止位置はセットされたMD基板1の最下部1
’から最上部1”までの範囲が回転ブラシ4のブラシ毛43の植毛範囲内に収まる位置と
する。
続いて、研磨液収容部5に研磨液50を適当量だけ満たす。ここで、適当量とは、MD
基板1の締め付けカバー22の上端面が僅かに液面下に位置するようになる量である。こ
の量は研磨目的に応じて適宜決定される。研磨液を満たす時期は、回転ブラシ4をMD基
板1の内周穴部に挿入する前、あるいは挿入と同時期でもよい。次に、回転ブラシ4のブ
ラシ毛43がMD基板1の内周端面に当接するように、回転ブラシ4の押し付け量を調整
する。この調整は、ブラシ毛43がカールしたナイロン繊維の場合にあっては、ブラシ毛
43の先端位置がMD基板1の被研磨面に1〜5mm程度押しつけられた位置とする。な
お、エアシリンダ等を利用した機構によって、MD基板1の内周端面への押しつけによる
ブラシの接触圧を調整することが好ましい。具体的には、例えば、強いブラシ毛ではエア
シリンダの空気圧を0.05〜0.1MPaの範囲とすることが好ましく、弱いブラシ毛
ではエアシリンダの空気圧を0.05〜1MPaの範囲とすることが好ましい。
次に、回転保持台3と回転ブラシ4とを互いに逆方向に回転させた状態で、研磨を行う
。この場合、好ましい回転ブラシの回転数は空転時で1000〜20000rpmである
。本実施例では、回転保持台3の回転数は60rpmとし、回転ブラシ4の研磨液中での
回転数は4000rpm(空転時は10000rpm)とし、研磨時間は約10分とした
。そして、所定量の研磨が終了したら、装置を止め、研磨液50を基板ケース2が取り外
せる量まで抜き取り、基板ケース2を取り出す。なお、この基板ケース2の取り外しの際
は、回転ブラシ4を基板ケース2の脱着に干渉しない位置へ移動させておく必要がある。
最後に、取り出した基板ケース2からMD基板1をセットしたときと逆の順番で取り出す
評価
上記で得られたガラス基板の内周端面(面取部1b及び/側壁部1a)の表面粗さは、
Rmax:0.5μm、Ra:0.03μmであった。
実施例2
以下の工程を経て磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気記録媒体を製造した。
(1)第1砂掛け工程
まず、ダウンドロー法で形成したシートガラスから、研削砥石で直径66mmφ、厚さ
1.1mm、及び直径96mmφ、厚さ1.4mmの円盤状に切り出したアルミノシリケ
イトガラスからなるガラス基板を、比較的粗いダイヤモンド砥石で研削加工して、直径9
5mm(3.5インチ)φ、厚さ0.8mm及び直径65mm(2.5インチ)φ、厚さ
0.6mmに成形した。この場合、ダウンドロー法の代わりに、溶融ガラスを、上型、下
型、胴型を用いてダイレクト・プレスして、円盤状のガラス体を得てもよい。
なお、アルミノシリケイトガラスとしては、モル%表示で、SiO2を57〜74%、
ZnO2を0〜2.8%、Al23を3〜15%、LiO2を7〜16%、Na2Oを4〜14%、を主成分として含有する化学強化用ガラスを使用した。
次いで、ガラス基板に砂掛け加工を施した。この砂掛け工程は、寸法精度及び形状精度
の向上を目的としている。砂掛け加工は、ラッピング装置を用いて行い、砥粒の粒度を#
400として行った。
詳しくは、粒度#400のアルミナ砥粒を用い、荷重Lを100kg程度に設定して、
内転ギアと外転ギアを回転させることによって、キャリア内に収納したガラス基板の両面
を面精度0〜1μm、表面粗さ(Rmax)(JIS B 0601で測定)6μm程度に
ラッピングした。
次に、円筒状の砥石を用いてガラス基板の中心部に円孔(直径20mmφ)を開けると
ともに、外周端面及び内周端面に所定の面取り加工を施した。このときのガラス基板の内
外周端面の表面粗さは、Rmaxで14μm程度であった。
(2)端面研磨工程
次いで、実施例1に示す研磨装置及び研磨方法を用いてガラス基板の内周端面を研磨し
た。なお、この端面研磨工程は、ガラス基板を重ね合わせて端面研磨する際にガラス基板
の主表面にキズ等が付くことをより以上に避けるため、後述する第一研磨工程の前、ある
いは、第二研磨工程の前後に行うことが好ましい。
上記端面研磨を終えたガラス基板を水洗浄した。
(3)第2砂掛け工程
次に、ラッピング装置を用い、粒度#1000のアルミナ砥粒を使用し、荷重Lを10
0kg程度に設定して、内転ギアと外転ギアを回転させることによって、ラッピングを行
い、ガラス基板の両面の表面粗さ(Rmax)を2μm程度とした。
上記砂掛け加工を終えたガラス基板を、中性洗剤、水の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄
した。
(4)第一研磨工程
次に、第一研磨工程を施した。この第一研磨工程は、上述した砂掛け工程で残留したキ
ズや歪みの除去を目的とするもので、研磨装置を用いて行った。
詳しくは、ポリシャ(研磨布)として硬質ポリシャ(セリウムパッドMHC15:スピ
ードファム社製)を用い、以下の研磨条件で第一研磨工程を実施した。
研磨液:酸化セリウム+水
荷重:300g/cm2(L=238kg)
研磨時間:15分
除去量:30μm
下定盤回転数:40 rpm
上定盤回転数:35 rpm
内ギア回転数:14 rpm
外ギア回転数:29 rpm
上記第一研磨工程を終えたガラス基板を、中性洗剤、純水、純水、IPA(イソプロピ
ルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。
(5)第二研磨工程
次に、第一研磨工程で使用した研磨装置を用い、ポリシャを硬質ポリシャから軟質ポリ
シャ(ポリラックス:スピードファム社製)に替えて、第二研磨工程を実施した。研磨条
件は、荷重を100g/cm2、研磨時間を5分、除去量を5μmとしたこと以外は、第
一研磨工程と同様とした。
上記第二研磨工程を終えたガラス基板を、中性洗剤、中性洗剤、純水、純水、IPA(
イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。
なお、各洗浄槽には超音波を印加した。
(6)化学強化工程
次に、上記研削、研磨工程を終えたガラス基板に化学強化を施した。化学強化は、硝酸
カリウム(60%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化溶液を用意し、この
化学強化溶液を400℃に加熱し、300℃に予熱された洗浄済みのガラス基板を約3時
間浸漬して行った。この浸漬の際に、ガラス基板の表面全体が化学強化されるようにする
ため、複数のガラス基板が端面で保持されるようにホルダーに収納した状態で行った。
このように、化学強化溶液に浸漬処理することによって、ガラス基板表層のリチウムイ
オン、ナトリウムイオンは、化学強化溶液中のナトリウムイオン、カリウムイオンにそれ
ぞれ置換されガラス基板は強化される。
ガラス基板の表層に形成された圧縮応力層の厚さは、約100〜200μmであった。
上記化学強化を終えたガラス基板を、20℃の水槽に浸漬して急冷し約10分間維持し
た。
上記急冷を終えたガラス基板を、約40℃に加熱した濃硫酸に浸漬して洗浄を行った。
さらに上記硫酸洗浄を終えたガラス基板を、純水、純水、IPA(イソプロピルアルコー
ル)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。なお、各洗浄槽には超
音波を印加した。
評価
上記の工程を経て得られた磁気記録媒体用ガラス基板の内周端面の表面粗さRaは図2
に示す面取部1bで0.028μm、側壁部1aで0.030μmであった。また、ガラ
ス基板の主表面の表面粗さRaは0.3〜0.7nm(AFMで測定)であった。電子顕
微鏡(4000倍)で端面表面を観察したところ鏡面状態であった。また、磁気記録媒体
用ガラス基板の内周端面に異物やクラックは認められず、ガラス表面についても異物やサ
ーマル・アスペリティの原因となるパーティクルは認められなかった。さらに、図3に示
す抗折強度試験機(島津オートグラフDDS−2000)を用い、抗折強度を測定したと
ころ、12〜20kgであった。なお、化学強化レベルを変化させて同様に抗折強度を測
定したところ、約10〜25kgであった。
(7)磁気ディスク製造工程
上述した工程を経て得られた磁気ディスク用ガラス基板の両面に、インライン式のスパ
ッタリング装置を用いて、AlNのスパッタによるテクスチャー層、Cr下地層、CrM
o下地層、CoPtCrTa磁性層、C保護層を順次成膜してMRヘッド用磁気ディスク
を得た。
得られた磁気ディスクについて異物により磁性層等の膜に欠陥が発生していないことを
確認した。また、グライドテストを実施したところ、ヒット(ヘッドが磁気ディスク表面
の突起にかすること)やクラッシュ(ヘッドが磁気ディスク表面の突起に衝突すること)
は認められなかった。さらに、磁気抵抗型ヘッドで再生試験を行ったところ、サーマル・
アスペリティによる再生の誤動作は認められなかった。
実施例3
内周端面の研磨前に、図4に示すように、直径230mmφの回転ブラシ4(毛足10
〜30mm)を700〜1000rpmで回転させ、積層したMD基板1を60rpmで
回転させて、30分間基板外周端面の研磨(研磨液は吹き付け、又は浸漬)を行ったこと
以外は、実施例2と同様にして磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気記録媒体を得た。その
結果、外周端面の表面粗さはRmax0.6μm、Ra0.04μm、内周端面の表面粗
さはRmax0.5μm、Ra0.03μmであった。また、図3に示す抗折強度試験機
(島津オートグラフDDS−2000)を用い、抗折強度を測定したところ、約18〜2
2.5kgであった。なお、化学強化レベルを変化させて同様に抗折強度を測定したとこ
ろ、約10〜25kgであった。また、内外周端面の研磨を行わない場合について同様に
抗折強度を測定したところ抗折強度は約5kg以下であり、外周端面のみを研磨した場合
場合について同様に抗折強度を測定したところ抗折強度は約5〜9kg以下であった。な
お、内外周端面の研磨を行った場合と内周端面の研磨のみを行った場合とで、抗折強度が
同程度の値となることから、内周端面の状態が抗折強度に強く影響を及ぼすと考えること
ができる。また、抗折強度の値は、化学強化レベルによって調整できることが判る。
実施例4
回転ブラシの代わりに研磨パッドを用いて内外周端面の研磨を行ったこと以外は実施例
2と同様にして磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気記録媒体を得た。その結果、外周端面
における表面粗さRaは面取部で0.03μm、側壁部で0.01μmであり、また、内
周端面における表面粗さRaは面取部で0.03μm、側壁部で0.01μmであった。
比較例1
回転ブラシの代わりにダイヤモンド砥石を用いて内周端面の研磨を行ったこと以外は実
施例2と同様にして磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気記録媒体を得た。その結果、実施
例2における面取り加工直後の内外周端面の表面粗さと同程度であった。また、電子顕微
鏡(4000倍)で端面表面を観察したところ荒削りした状態であり平滑性が極めて悪か
った。
比較例2
回転ブラシの代わりに化学的エッチングによって内外周端面のエッチング処理を行った
こと以外は実施例2と同様にして磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気記録媒体を得た。そ
の結果、エッチング処理前と比べ、Raで0.1μm程度、Rmaxで0.7μm程度悪
化した。また、電子顕微鏡(4000倍)で端面表面を観察したところ、クラックがエッ
チングで広がり窪みとなってパーティクルを捕捉しやすい状態となっており、平坦性が悪
く、クラックの残りが認められた。
実施例5〜6
アルミノシリケートガラスの代わりにソーダライムガラス(実施例5)、ソーダアルミ
ノケイ酸ガラス(実施例6)を用いたこと以外は実施例2と同様にして、磁気ディスク用
ガラス基板及び磁気ディスクを得た。
その結果、ソーダライムガラスの場合、ガラス基板の外周端面と内周端面の表面粗さは
、アルミノシリケートガラスに比べやや粗面ではあったが、実用上問題はなかった。
実施例7
実施例2で得られた磁気ディスク用ガラス基板の両面に、Al(膜厚50オングストロ
ーム)/Cr(1000オングストローム)/CrMo(100オングストローム)から
なる下地層、CoPtCr(120オングストローム)/CrMo(50オングストロー
ム)/CoPtCr(120オングストローム)からなる磁性層、Cr(50オングスト
ローム)保護層をインライン型スパッタ装置で形成した。
上記基板を、シリカ微粒子(粒経100オングストローム)を分散した有機ケイ素化合
物溶液(水とIPAとテトラエトキシシランとの混合液)に浸し、焼成することによって
SiO2からなるテクスチャー機能を持った保護層を形成し、さらに、この保護層上をパ
ーフロロポリエーテルからなる潤滑剤でディップ処理して潤滑層を形成して、MRヘッド
用磁気ディスクを得た。
上記磁気ディスクについて実施例2と同様のことが確認された。
実施例8
下地層をAl/Cr/Crとし、磁性層をCoNiCrTaとしたこと以外は実施例7
と同様にして薄膜ヘッド用磁気ディスクを得た。
上記磁気ディスクについて実施例7と同様のことが確認された。
実施例9〜12、及び比較例3〜4
次に、遊離砥粒の種類等を適宜選択し、上述の端面研磨工程時に使用する遊離砥粒を含
有した研磨液の粘度を、1.3cps(比較例3)、1.5cps(実施例9)、5.0
cps(実施例10)、10.0cps(実施例11)、25.0cps(実施例12)
、27.0cps(比較例4)と変えたこと以外は、実施例1と同様にしてガラス基板を
作製した。その結果を表1に示す。表面状態は、顕微鏡による表面観察で、スクラッチ等
の傷がなかったものを「○」、スクラッチ等の傷があったものを「×」とした。
Figure 0004176735
表1に示すように、研磨液の粘度が1.3cps、27.0cpsのものには、端面に
スクラッチ状の傷があることが確認された。これは、粘度が1.5cps未満の場合、研
磨時にブラシとガラス基板との間に砥粒が介在されていない箇所が発生し、ブラシが直接
ガラス基板に接触することによってできた傷と考えられる。また、25.0cpsを超え
る場合は、粘度が大きいために、回転ブラシを回転させる回転駆動装置に加わる負荷が大
きくなるとともに、研磨剤が凝集しやすくなり、研磨液収容部等に固着した研磨剤が研磨
時に、再びブラシとガラス基板との間に介在され研磨されることによってできた傷と考え
られる。
以上好ましい実施例を挙げて本発明を説明したが、本発明は必ずしも上記実施例に限定
されるものではない。
例えば、ガラス基板の種類や磁性層の種類は実施例のものに限定されない。
ガラス基板の材質としては、例えば、アルミノシリケートガラス、ソーダライムガラス
、ソーダアルミノケイ酸ガラス、アルミノボロシリケートガラス、ボロシリケートガラス
、石英ガラス、チェーンシリケートガラス、又は、結晶化ガラス等のガラスセラミックな
どが挙げられる。
アルミノシリケートガラスとしては、SiO2:62〜75重量%、Al23:5〜1
5重量%、Li2O:4〜10重量%、Na2O:4〜12重量%、ZrO2:5.5〜15重量%を主成分として含有するとともに、Na2O/ZrO2の重量比が0.5〜2.0、Al23/ZrO2の重量比が0.4〜2.5である化学強化用ガラス等が好ましい。また、ZrO2の未溶解物が原因で生じるガラス基板表面の突起をなくすためには、モル%表示で、SiO2を57〜74%、ZnO2を0〜2.8%、Al23を3〜15%、LiO2を7〜16%、Na2Oを4〜14%含有する化学強化用ガラス等を使用することが好ましい。このような組成のアルミノシリケートガラス等は、化学強化することによって、抗折強度が増加し、圧縮応力層の深さも深く、ヌープ硬度にも優れる。
磁性層としては、例えば、Coを主成分とするCoPt、CoCr、CoNi、CoN
iCr、CoCrTa、CoPtCr、CoNiPtや、CoNiCrPt、CoNiC
rTa、CoCrTaPt、CoCrPtSiOなどの磁性薄膜が挙げられる。磁性層は
、磁性膜を非磁性膜(例えば、Cr、CrMo、CrVなど)で分割してノイズの低減を
図った多層構成(例えば、CoPtCr/CrMo/CoPtCr、CoCrTaPt/
CrMo/CoCrTaPtなど)としてもよい。
磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)又は大型磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)対応の磁
性層としては、Co系合金に、Y、Si、希土類元素、Hf、Ge、Sn、Znから選択
される不純物元素、又はこれらの不純物元素の酸化物を含有させたものなども含まれる。
また、磁性層としては、上記の他、フェライト系、鉄−希土類系や、SiO2、BNな
どからなる非磁性膜中にFe、Co、FeCo、CoNiPt等の磁性粒子が分散された
構造のグラニュラーなどであってもよい。また、磁性層は、内面型、垂直型のいずれの記
録形式であってもよい。
本発明の磁気記録媒体用ガラス基板は、ガラス基板端面から発生する微細なパーティク
ルを嫌う光磁気ディスク用のガラス基板や、光ディスクなどの電子光学用ディスク基板と
しても利用できる。また、本発明の研磨方法及び研磨装置は、ガラス状カーボン、結晶材
料(単結晶材料を含む)、セラミック材料などの脆性材料や、金属材料等の研磨方法及び
研磨装置としても利用できる。
(発明の効果)
以上説明したように本発明の研磨方法及び研磨装置によれば、ガラス基板等の内周端面
及び/又は外周端面の表面状態を低コストで効率よく高いレベルで平滑にできる。したが
って、基板表面の高清浄度化とともに、抗折強度の向上を図ることができる。
特に、遊離砥粒を含有した研磨液に浸漬して研磨を行うことで、内周端面及び/又は外
周端面に常に十分な研磨液が存在することになるので、液切れによる研磨不足や研磨不良
を来すことがない。また、回転ブラシのブラシ毛として腰の強いものを用いた場合であっ
ても、研磨液の粘性抵抗等により研磨液に浸漬されたブラシ毛の弾性力が緩和されてブラ
シ毛が被研磨面に必要以上に激しく衝突することがないので、被研磨面にスクラッチ等の
傷をつける恐れを著しく軽減できる。さらに、例えば、ブラシ毛をその回転軸上に螺旋状
に植毛することで、被研磨面に常に新鮮な研磨液を循環供給することができ、研磨効率、
再現性及び精度を高めることができる。
また、本発明の研磨装置によれば、回転保持台の回転運動と、回転ブラシの回転運動に
より、内周端面等を極めて効率よく擦ることを可能にし、被研磨面に傷をつけることなく
、高精度で高効率な研磨を行うことができる。
さらに本発明の磁気記録媒体によれば、ガラス基板表面の異物による問題を回避でき、
特に、磁気抵抗型ヘッド又は大型磁気抵抗型ヘッド対応の磁気記録媒体として好適な磁気
記録媒体が得られる。
本発明の一実施例に係る研磨装置を示す断面図である。 磁気ディスク用ガラス基板を切断して見たときの斜視図である。 抗折強度試験機を示す断面図である。 外周端面の研磨の様子を示す平面図である。 本発明の研磨装置における回転ブラシの回転軸に軸受を設けた様子を示す図であり、(a)は要部の断面図、(b)は(a)のA−A線方向の断面図である。
符号の説明
1 MD基板
1a 側壁部
1b 面取部
2 基板ケース
3 回転保持台
4 回転ブラシ
5 研磨液収容部
31 回転軸部
50 研磨液
61 基板ホルダー
62 鋼球
63 ロードセル

Claims (16)

  1. 中心部に円孔を有する円板状ガラス基板の端面を研磨する工程を含む、磁気記録媒体用
    ガラス基板の製造方法であって、前記端面を研磨する際、
    遊離砥粒を含有した研磨液に前記ガラス基板を浸漬させた状態で、
    前記ガラス基板の内周端面及び/又は外周端面と、研磨ブラシ又は研磨パッドと互いに回転状態で接触させて研磨することによって、
    前記ガラス基板の内周端面及び/又は外周端面の面取部及び/又は側壁部の表面粗さRaが0.001〜0.04μmとなる磁気記録媒体用ガラス基板を得る
    ことを特徴とする、
    磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)又は大型磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)対応の磁
    気記録媒体に用いられる磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
  2. 回転軸に対して螺旋状にブラシ毛が植毛された研磨ブラシにより、前記ガラス基板の内
    周端面を研磨することを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方
    法。
  3. 重ね合わされた多数のガラス基板の端面を研磨することを特徴とする請求項1又は2に
    記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
  4. 遊離砥粒を含有した研磨液の粘度が、1.5〜25cpsであることを特徴とする請求
    項1乃至3のいずれか1項に記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
  5. 研磨剤の平均粒径が、1〜5μmであることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1
    項に記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
  6. 研磨ブラシを700〜1000rpmで回転させて、前記ガラス基板の外周端面の研磨
    を行うことを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
  7. 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法によって、前記ガラス基板の内周端面及び/又は外周端面の面取部及び/又は側壁部の研磨を行った後、化学強化を行うことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法。
  8. 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法によって
    製造されたガラス基板上に、少なくとも磁性層を形成したことを特徴とする磁気記録媒体
  9. 磁性層が、CoPt系の磁性層であることを特徴とする請求項8に記載の磁気記録媒体
  10. 中心部に円孔を有する円板状ガラス基板の端面を研磨する研磨装置であって、
    研磨液を収容するための研磨液収容部と、
    該研磨液収容部の底部に設けられ、回転可能な保持台と、
    該保持台上に着脱自在に装着され、多数のガラス基板を収容可能な基板ケースと、
    ガラス基板の円孔部分に挿入され、回転可能に構成された研磨ブラシ又は研磨パッドと
    を備え、
    研磨液に浸漬されたガラス基板の端面を前記研磨ブラシ又は研磨パッドで研磨すべく構
    成したことを特徴とする、
    磁気記録媒体用ガラス基板の研磨装置。
  11. 前記研磨ブラシの回転軸を研磨ブラシの両端から突出させ、回転軸の一方を回転駆動装
    置に取り付けるとともに、少なくとも他方の回転軸に軸受を設けたことを特徴とする請求
    項10記載の磁気記録媒体用ガラス基板の研磨装置。
  12. 前記保持台に結合され、該保持台を回転可能とする回転軸を有する研磨装置であって、
    前記回転軸の周囲にエアーシールを有することを特徴とする請求項10又は11に記載
    の磁気記録媒体用ガラス基板の研磨装置。
  13. 請求項10乃至12のいずれか1項に記載の研磨装置であって、
    前記基板ケースは、研磨液を流通可能とする研磨液流通孔を有することを特徴とする磁
    気記録媒体用ガラス基板の研磨装置。
  14. 請求項10乃至13のいずれか1項に記載の研磨装置であって、
    前記研磨ブラシは、回転軸に対して螺旋状にブラシ毛が植毛された研磨ブラシであるこ
    とを特徴とする磁気記録媒体用ガラス基板の研磨装置。
  15. 請求項10乃至14のいずれか1項に記載の研磨装置であって、
    重ね合わされた多数のガラス基板の端面を研磨すべく構成されたことを特徴とする磁気
    記録媒体用ガラス基板の研磨装置。
  16. 請求項10乃至15のいずれか1項に記載の研磨装置であって、
    磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)又は大型磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)対応の磁
    気記録媒体に用いられる磁気記録媒体用ガラス基板の端面を研磨するための磁気記録媒体
    用ガラス基板の研磨装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11221742A (ja) * 1997-09-30 1999-08-17 Hoya Corp 研磨方法及び研磨装置並びに磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気記録媒体
JP3766802B2 (ja) 1999-07-22 2006-04-19 コーニング インコーポレイテッド 遠紫外軟x線投影リソグラフィー法システムおよびリソグラフィーエレメント
AU5932500A (en) * 1999-07-22 2001-02-13 Corning Incorporated Extreme ultraviolet soft x-ray projection lithographic method and mask devices
US6615613B1 (en) * 1999-09-30 2003-09-09 Hoya Corporation Method of grinding a substrate and method of manufacturing a glass substrate and a magnetic recording medium by the use of the glass substrate
JP3119358B1 (ja) * 1999-10-18 2000-12-18 株式会社石井表記 半導体ウエハーのエッジ研磨装置
GB0002251D0 (en) * 2000-02-02 2000-03-22 Unova Uk Ltd Improvements in and relating to grinding machines
US6821653B2 (en) * 2000-09-12 2004-11-23 Showa Denko Kabushiki Kaisha Magnetic recording medium, process for producing the same, and magnetic recording and reproducing apparatus
US6776006B2 (en) * 2000-10-13 2004-08-17 Corning Incorporated Method to avoid striae in EUV lithography mirrors
JP2002326156A (ja) * 2001-04-27 2002-11-12 Nippon Sheet Glass Co Ltd ガラス基板研磨用キャリア及びガラス基板研磨装置
JP3933432B2 (ja) * 2001-09-10 2007-06-20 Hoya株式会社 ガラス基板のクランプ治具、ガラス基板の加工方法およびガラス基板
JP2004018294A (ja) * 2002-06-13 2004-01-22 Ohara Inc ガラス部材の製造方法
BRPI0410848B1 (pt) * 2003-05-30 2015-07-21 Rem Technologies Caixa de transmissão planetária, engrenagem de transmissão planetária de estágio de entrada e método para a redução de resíduo de lubrificante em uma caixa de transmissão planetária de estágio de entrada para um gerador de turbina de vento grande
US20070270084A1 (en) * 2004-08-17 2007-11-22 Showa Denko K.K. Method of Manufacturing Silicon Substrates for Magnetic Recording Medium, Silicon Substrate for Magnetic Recording Medium, Magnetic Recording Medium, and Magnetic Recording Apparatus
CN101010166A (zh) * 2004-08-26 2007-08-01 昭和电工株式会社 使用刷子抛光用于记录介质的基底的内边缘端面的方法
JP2006088321A (ja) * 2004-08-26 2006-04-06 Showa Denko Kk 記録媒体用基板の内周端面のブラシ研磨方法
CN100537141C (zh) 2004-08-26 2009-09-09 昭和电工株式会社 利用刷子对用于记录介质的基底的内缘端面进行抛光的方法
US7654884B2 (en) 2004-08-31 2010-02-02 Showa Denko K.K. Method of polishing end surfaces of a substrate for a recording medium by a grain flow processing method
JP2006114198A (ja) * 2004-09-17 2006-04-27 Showa Denko Kk 磁気記録媒体用シリコン基板及び磁気記録媒体
US7618895B2 (en) * 2004-12-06 2009-11-17 Asahi Glass Company, Limited Method for etching doughnut-type glass substrates
JP4852852B2 (ja) * 2005-02-17 2012-01-11 ウシオ電機株式会社 加熱ユニット
JP2006263879A (ja) * 2005-03-24 2006-10-05 Hoya Corp 磁気ディスク用基板の製造方法、磁気ディスク用基板の製造装置及び磁気ディスクの製造方法
GB2425499A (en) * 2005-04-25 2006-11-01 Zeiss Carl Smt Ag Working a surface in a fluid bath
JP5154777B2 (ja) * 2005-09-29 2013-02-27 Hoya株式会社 研磨ブラシ、研磨方法、研磨装置及び磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、並びに磁気ディスクの製造方法
JP4611900B2 (ja) * 2006-01-12 2011-01-12 株式会社ニックス ダスト除去装置
JP4780607B2 (ja) * 2006-01-25 2011-09-28 Hoya株式会社 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスク用ガラス基板、及び磁気ディスクの製造方法。
JP4600931B2 (ja) * 2006-02-10 2010-12-22 Hoya株式会社 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法
CN104591536B (zh) * 2006-06-08 2018-08-28 Hoya株式会社 供信息记录介质用基板使用的玻璃及化学强化玻璃
TWI288687B (en) * 2006-07-06 2007-10-21 Univ Nat Central Device and method for grinding spiral portion
JP2008024528A (ja) * 2006-07-18 2008-02-07 Asahi Glass Co Ltd 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法
US7959492B2 (en) 2006-09-11 2011-06-14 Showa Denko K.K. Disk-shaped substrate inner circumference polishing method
WO2008035666A1 (fr) * 2006-09-20 2008-03-27 Konica Minolta Opto, Inc. Procédé pour traiter un disque en verre
MY157202A (en) 2006-09-29 2016-05-13 Hoya Corp Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk, method of manufacturing magnetic disk, and polishing apparatus of glass substrate for magnetic disk
US7837536B2 (en) 2006-11-22 2010-11-23 Showa Denko K.K. Polishing apparatus, polishing brush and manufacturing method of disk-shaped substrate
JP4224517B2 (ja) * 2007-02-20 2009-02-18 昭和電工株式会社 円盤状基板の研磨方法
JP5367231B2 (ja) * 2007-03-27 2013-12-11 昭和電工株式会社 中心部に円状の開口部を有する円盤状基板の開口径を検査する方法及び装置、並びに円盤状基板の製造方法
JP4246791B2 (ja) * 2007-05-30 2009-04-02 東洋鋼鈑株式会社 磁気ディスク用ガラス基板の表面仕上げ方法
JP5393974B2 (ja) * 2007-09-28 2014-01-22 Hoya株式会社 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法および磁気ディスク
US8119267B2 (en) 2007-09-28 2012-02-21 Hoya Corporation Glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of the same
JP2010102819A (ja) * 2008-09-26 2010-05-06 Hoya Corp 磁気ディスク用基板及び磁気ディスク
JPWO2010097903A1 (ja) * 2009-02-25 2012-08-30 セイコーインスツル株式会社 ガラス基板の研磨方法、パッケージの製造方法、圧電振動子、発振器、電子機器並びに電波時計
JP5407693B2 (ja) * 2009-09-17 2014-02-05 旭硝子株式会社 ガラス基板の製造方法、研磨方法及び研磨装置、並びにガラス基板
CN102656631B (zh) * 2009-12-29 2016-06-22 Hoya株式会社 磁盘用玻璃基板的制造方法以及磁盘用玻璃基板
JP5464497B2 (ja) 2010-08-19 2014-04-09 株式会社サンシン 基板研磨方法及びその装置
JP2012142044A (ja) * 2010-12-28 2012-07-26 Konica Minolta Advanced Layers Inc 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法および情報記録媒体
JP2012234608A (ja) * 2011-05-09 2012-11-29 Furukawa Electric Co Ltd:The 磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験方法および抗折強度試験装置
US20120306139A1 (en) 2011-06-03 2012-12-06 Arthur Keigler Parallel single substrate processing system holder
JP5793014B2 (ja) * 2011-07-21 2015-10-14 株式会社不二製作所 硬質脆性材料基板の側部研磨方法
US8556566B1 (en) 2011-09-30 2013-10-15 WD Media, LLC Disk stacking method and apparatus
WO2013099847A1 (ja) * 2011-12-28 2013-07-04 旭硝子株式会社 センサ一体型カバーガラスの製造方法、およびセンサ一体型カバーガラス
JP2015091610A (ja) * 2012-02-22 2015-05-14 旭硝子株式会社 ガラス板の端面処理方法
JP2013220422A (ja) * 2012-04-17 2013-10-28 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd 塗布装置及び塗布方法
CN107256712B (zh) * 2012-09-28 2020-04-14 Hoya株式会社 磁盘用玻璃基板及其制造方法、磁盘、圆环状的玻璃基板
US11352287B2 (en) 2012-11-28 2022-06-07 Vitro Flat Glass Llc High strain point glass
US8896964B1 (en) 2013-05-16 2014-11-25 Seagate Technology Llc Enlarged substrate for magnetic recording medium
KR20170076667A (ko) * 2014-10-28 2017-07-04 아사히 가라스 가부시키가이샤 유리 및 유리의 제조 방법
CN106425699B (zh) * 2016-09-22 2018-06-19 浙江师范大学 小型零件磁流变抛光机
KR102391872B1 (ko) * 2017-05-26 2022-04-29 삼성디스플레이 주식회사 유리 기판의 제조 방법 및 유리 기판 연마 장치
CN111185840A (zh) * 2017-09-21 2020-05-22 孙丽君 一种用于采矿钻头抛光的高密封性能装置
CN108907867A (zh) * 2018-05-04 2018-11-30 苏州睿鑫莱机电科技有限公司 一种机械零件钻孔用金属丝快速清理装置
CN109702633B (zh) * 2019-01-05 2021-06-25 安徽森米诺农业科技有限公司 一种可调式棒体打磨设备
US11745121B2 (en) 2019-09-05 2023-09-05 Khalifa University of Science and Technology Inline demulsification device
CN110524391B (zh) * 2019-09-12 2021-04-09 绍兴市览海环保科技有限公司 一种抛丸机用抛丸除锈重复利用防污染装置
CN112091740B (zh) * 2020-09-08 2021-06-01 无锡隆昌兴模具钢材有限公司 一种工具钢生产加工工艺
CN113021105B (zh) * 2021-02-25 2022-02-01 深圳市昶东鑫线路板有限公司 一种用于线路板预处理的研磨装置及其研磨方法
CN113084599B (zh) * 2021-04-02 2021-12-21 成都光明光电股份有限公司 玻璃棒的加工方法
CN114558863B (zh) * 2022-04-29 2022-07-29 深圳市赛元微电子有限公司 一种用于芯片表面处理装置
CN115157020B (zh) * 2022-06-29 2023-05-12 大连理工大学 一种多场辅助磨料冲刷抛光方法与装置
CN115771083B (zh) * 2022-12-27 2023-06-30 广东福临门世家智能家居有限公司 一种均匀磨损的玻璃磨边装置
CN116493688B (zh) * 2023-06-27 2023-08-22 常州市武进金城齿轮股份有限公司 一种降噪齿轮的齿面高效研磨机

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2735232A (en) * 1956-02-21 simjian
US1961487A (en) * 1930-10-03 1934-06-05 Libbey Owens Ford Glass Co Glass grinding machine
US2700255A (en) * 1951-02-10 1955-01-25 William A Meier Glassware polishing machine
US2787854A (en) * 1955-11-18 1957-04-09 Reflectone Corp Method of treating an object
US4718202A (en) * 1980-01-31 1988-01-12 Pacific Western Systems, Inc. Method and apparatus for rounding the edges of semiconductive wafers
JPS6062454A (ja) 1983-09-16 1985-04-10 Toshiba Corp バレル研磨用治具
JP2719855B2 (ja) * 1991-05-24 1998-02-25 信越半導体株式会社 ウエーハ外周の鏡面面取り装置
US5274959A (en) * 1991-06-05 1994-01-04 Texas Instruments Incorporated Method for polishing semiconductor wafer edges
US5486134A (en) * 1992-02-27 1996-01-23 Oliver Design, Inc. System and method for texturing magnetic data storage disks
US5465475A (en) * 1992-07-30 1995-11-14 Ricoh Co., Ltd. Method of forming a thin film magnetic head
DE4435221A1 (de) 1994-09-30 1996-04-04 Hoechst Ag Verfahren zum mechanischen Aufrauhen der Oberfläche eines Druckplattenträgers und Bürstenwalze zur Durchführung des Verfahrens
JP2998948B2 (ja) 1995-10-31 2000-01-17 ホーヤ株式会社 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法
SG49584A1 (en) * 1994-12-28 1998-06-15 Hoya Corp Plate glass flattening method method of manufacturing an information recording glass substrate using flattened glass method of manufacturing a magnetic
JPH08257912A (ja) 1995-03-25 1996-10-08 Nikkiso Co Ltd 導電性および弾性を有する砥石並びにそれを使用した電気泳動研磨方法
US6086977A (en) * 1995-06-21 2000-07-11 Ngk Insulators, Ltd. Substrates for magnetic discs, magnetic discs and process for producing magnetic discs
JPH09102120A (ja) 1995-10-03 1997-04-15 Kao Corp 記録媒体用基板
JPH09180183A (ja) 1995-12-28 1997-07-11 Kao Corp 磁気記録媒体用基板の製造方法
JPH09192999A (ja) 1996-01-24 1997-07-29 Fuji Photo Film Co Ltd 光コネクターフェルールの研磨方法
US5861066A (en) * 1996-05-01 1999-01-19 Ontrak Systems, Inc. Method and apparatus for cleaning edges of contaminated substrates
EP0807692A1 (de) * 1996-05-15 1997-11-19 Sms Schloemann-Siemag Aktiengesellschaft Verfahren zum Kühlen von Profilstahl-Trägern
JPH09314458A (ja) 1996-05-27 1997-12-09 Yamamura Glass Co Ltd 結晶化ガラスの精密研磨方法
DE19640945A1 (de) 1996-10-04 1998-04-16 Polygram Manufacturing & Distr Verfahren und Vorrichtung zum mechanischen Entfernen einer Fremdstoffbeschichtung von einem Basismaterial
JPH10237426A (ja) 1997-02-21 1998-09-08 Nippon Oil Co Ltd ラップ加工用油剤組成物
US6036785A (en) * 1997-05-02 2000-03-14 Ferrell; Gary W. Method for removing chemical residues from a surface
JP3111928B2 (ja) * 1997-05-14 2000-11-27 日本電気株式会社 金属膜の研磨方法
JP3355290B2 (ja) 1997-07-11 2002-12-09 光研工業株式会社 ガラスディスク研磨装置
JPH1133886A (ja) 1997-07-24 1999-02-09 Koken Kogyo Kk ガラスディスク内周研磨装置およびガラスディスク内周研磨方法
JPH11221742A (ja) * 1997-09-30 1999-08-17 Hoya Corp 研磨方法及び研磨装置並びに磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気記録媒体
US6055694A (en) * 1998-11-30 2000-05-02 Tsk America, Inc. Wafer scrubbing machine
KR100313828B1 (ko) * 1999-04-27 2001-11-15 윤여생 유리주사관의 내벽에 붙어있는 유리입자를 제거하는 방법
US6406356B1 (en) * 2001-03-12 2002-06-18 Frederick E. Brooks Wheel finishing apparatus and method

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