JP3216137B2 - Sawデバイス - Google Patents
SawデバイスInfo
- Publication number
- JP3216137B2 JP3216137B2 JP51158896A JP51158896A JP3216137B2 JP 3216137 B2 JP3216137 B2 JP 3216137B2 JP 51158896 A JP51158896 A JP 51158896A JP 51158896 A JP51158896 A JP 51158896A JP 3216137 B2 JP3216137 B2 JP 3216137B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- angle
- degrees
- interdigital
- range
- interdigital electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/25—Constructional features of resonators using surface acoustic waves
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02543—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02543—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles
- H03H9/02551—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles of quartz substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02818—Means for compensation or elimination of undesirable effects
- H03H9/02834—Means for compensation or elimination of undesirable effects of temperature influence
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02818—Means for compensation or elimination of undesirable effects
- H03H9/02858—Means for compensation or elimination of undesirable effects of wave front distortion
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/125—Driving means, e.g. electrodes, coils
- H03H9/145—Driving means, e.g. electrodes, coils for networks using surface acoustic waves
- H03H9/14544—Transducers of particular shape or position
- H03H9/14547—Fan shaped; Tilted; Shifted; Slanted; Tapered; Arched; Stepped finger transducers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/125—Driving means, e.g. electrodes, coils
- H03H9/145—Driving means, e.g. electrodes, coils for networks using surface acoustic waves
- H03H9/14544—Transducers of particular shape or position
- H03H9/14594—Plan-rotated or plan-tilted transducers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Description
coustic Wave)と呼ぶ)を用いたデバイスに関し、特
に、高周波領域を安定して発振可能なSAW共振子に関す
るものである。
おいてIDT(Interdigital transducer)と呼ぶ)と、こ
のIDTの両端に位置する反射器とを設けたSAW共振子の構
造については、例えば、米国特許471616号公報、米国特
許3886504号公報、あるいは特開昭61−281612号公報な
どに開示されている。
ットを用いてそのX軸を弾性波の伝搬方向とした、いわ
ゆるSTカットSAW共振子が知られている。このSTカットS
AW共振子は零温度係数すなわち、周波数温度特性の1次
係数αが0となるので周波数安定性に優れている。
AWフィルターとして用いられていたため、それほど高い
Q値は要求されていなかった。しかしながら、近年、そ
の用途として広がっている発振器を構成するSAW共振子
においては、フィルターよりさらに安定した共振周波数
を得ることが重要であり、良好な温度特性を有すると共
にQ値の高い共振子を提供することが必要となってい
る。また、STカットSAW共振子は、1次温度係数αはほ
とんど0であるが、2次温度係数βは−3.4×10-8/℃2
と比較的大きい。従って、SAW共振子の動作温度範囲で
ある−20℃から80℃の温度範囲で約100ppmの周波数変化
が発生することとなる。このため、移動体通信などの用
途において、高周波数を精度良く発振するためには、さ
らに温度特性の安定したSAW共振子を提供する必要があ
る。
て、その優れた周波数温度特性を劣化させることなくQ
値の高いSAW共振子を提供することを目的としている。
そのために、本発明のSAW共振子は、IDTおよびその両側
に位置した反射器を弾性表面波のエネルギーを閉じ込め
るように構成している。さらに、IDTおよび反射器を圧
電体上の弾性表面波の位相の進行方向と共にエネルギー
の進行方向もカバーするように配置し、弾性表面波のエ
ネルギーの閉じ込めをさらに効率良く行えるようにして
いる。
することも本発明の目的としている。そのために、1次
係数αが零となる範囲で2次係数βを削減できる切断方
位を見いだし、この切断方位を有する水晶片を用いて弾
性表面波のエネルギーを効率良く閉じ込め、Q値が高く
動作温度範囲内での周波数のずれの少ないSAW共振子を
提供可能としている。
ontrol Symposium,1994年6月)および日本の電気学会
電子回路研究会(The Institute of Electrical Engine
ers of Japan,1994年9月8日)において、STカットよ
り周波数短期安定性能が1から2桁優れた水晶Kカット
についての発表があった。この水晶Kカットとしては直
交座標系におけるオイラー角表示で、(φ,μ,ν)=
(0.,96.51,33.79)(度)近傍の角度が提唱されてい
る。しかし、このカット角は耐熱衝撃特性に優れている
と言われているが、周波数温度特性が動作温度範囲内で
使用できるか否か確認されていない。そこで、本発明に
おいては、このカット角の近傍で、温度特性に優れたカ
ット角を見いだし、Q値の高いSAW共振子を実現するこ
とを目的としている。
る。
す平面図である。
の構成を示す平面図である。
すグラフである。
と、共振振幅との関係を示すグラフである。
反射器の反射特性の中心周波数との関係を示す図であ
る。
ストリップの配置間隔およびIDTと反射器の隙間を示す
断面図である。
示すグラフである。
ときの角度δとQ値との関係の一実施例を示すグラフで
ある。
のときの周波数温度特性を示すグラフである。
温度Θmaxと、2次係数βの変化を示すグラフである。
を示す図である。
αが零を示す角度θとψとの組み合わせを示すグラフで
ある。
の2次係数βと、パワーフロー角PFAの変化を示すグラ
フである。
33度のときの周波数温度特性の角度ψに対する変化を示
すグラフである。
降下特性を示すグラフである。
αが零を示す角度θとψとの組み合わせ、およびΔF=
0の軌跡を示すグラフである。
の2次係数βと、頂点温度Θmaxの変化を示すグラフで
ある。
る。
の周波数温度特性の一例を示すグラフである。
降下特性を示すグラフである。
の関係を示すグラフである。
水晶片を圧電体平板として採用したSAW共振子を例にと
って本発明を詳しく説明する。左水晶の場合には、左手
直交座標系に従い、以下の議論は同一である。図1に、
本発明で用いる水晶片5の母材となるウェハ1の方位を
示してある。ウェハ1は、水晶の機械軸であるY軸に垂
直な、いわゆるY板2を水晶の電気軸Xの回りに反時計
方向に角度θ度(ディグリー)回転させた面を備えてお
り、この回転した面に対し水晶の機械軸Yおよび光軸Z
のθ度回転したY′軸およびZ′軸が規定される。さら
に、SAW共振子を構成するIDT20および反射器30は、水晶
の電気軸XをY′軸の回りに反時計方向を正として±ψ
度回転させたX′軸に沿って配置される。SAW共振子10
を構成する水晶片5は、ウェハ1からZ′軸を±ψ度回
転させたZ″軸およびX′軸で規定される主面6を有す
るようにカットされる。
θ+90゜,ψ)となる。また、角度の符号は反時計方向
を正(+)とする。さらに、角度ψの値については、+
方向に回転した場合と−方向に回転した場合とでは、そ
の示す特性は同一である。すなわち、+方向と−方向は
対称であり、以下において示す角度ψの値はいずれの方
向であっても良い。
T)20および反射器30の配置を示してある。IDT20は、向
かい合った一対の電極21aおよび21bを備えており、それ
ぞれの電極21aおよび21bからM対の交差指電極22aおよ
び22bが櫛状に延びている。これらの交差指電極22aおよ
び22bは、前述のX′軸と直交するようにピッチPtで並
列に配置されている。このIDT20のX′軸に沿った両側
には、隙間gを開けて一対の反射器30aおよび30bが配置
されている。それぞれの反射器30aおよび30bは、X′軸
と直交するようにピッチPrで並列に配置された複数の導
体ストリップ31によって構成されている。電極22および
導体ストリップ31は、水晶の平板5の上にAl、Auあるい
はCu等の導体金属膜を蒸着あるいはスパッタ等の手段に
よって薄膜状に形成し、フォトリソグラフィ技術を用い
てパターン形成することにより微細なパターンを有する
ものでも容易に製造することができる。
30aおよび30bの配置にエネルギー閉じ込め型を採用し、
さらに、IDT20に直交する方向、すなわち弾性表面波の
位相の進行方向であるX′軸(角度ψ)に対しエネルギ
ーの伝搬する方向であるパワーフローの方向をカバーす
るように電極22および導体ストリップ31を配置してあ
る。
ITUTE OF ELECTRONICS,INFORMATION AND COMMUNICATION
ENGINEERS TECHNICAL REPORT IEICE,JAPAN)US87−36
(pp9−16(1987年9月発行))の「エネルギー閉じ込
め弾性表面波共振子」などに紹介されているが、本例の
SAW共振子10においては、IDT20のトータル反射係数Γを
次の通り定義し、この値の範囲をほぼ0.8〜10の範囲に
設定している。
の1本当たりの弾性表面波の反射係数、Hは電極22を構
成する導体の膜厚、さらに、λは弾性表面波の波長であ
る。STカット水晶板を圧電体の平板5として採用しアル
ミニウム(Al)で電極22を構成した場合において、aが
0.255、H/λが0.03およびMが80とすると150〜170MHzの
共振周波数を持った1ポートSAW共振子を構成でき、こ
のときΓは2.448程度となる。
にしてトータル反射係数Γを制御し、そのときのSAW共
振子の共振振幅の変化の様子を示してある。なお、反射
器の導体スリップの本数は2M本に設定してある。本図か
ら、Γが0.8程度から振幅が立ち上がる様子が見られ、
共振子として使用可能であることが判る。一方、トータ
ル反射係数Γを大きくするために電極膜厚に対する弾性
表面波の波長の比H/λを大きくすると、電極膜に粘性ロ
スが存在するために共振振幅は最大値を持ち、その後徐
々に減少する。本図では、Γが10程度から減少する様子
が現れ、このときMは約160である。従って、Γが0.8か
ら10程度の範囲であれば、IDTの交差指電極によるエネ
ルギー閉じ込め効果が得られるので特性の安定した共振
子が得られる。
数を150に固定し、その範囲内で対数Mを変えたときの
電極膜厚と、共振レベル(ピーク間のレベルApp)の最
大値との関係を測定した結果を示してある。本図で判る
ように、H/λが0.02から0.05と大きくなるにつれて共振
レベルの最大値は増加する。しかしながら、上述したよ
うに電極膜厚と周波数の比H/λが0.06に近づくと、表面
波の音速が低下し粘性も現れるため共振レベルが低下す
る。従って、H/λは0.02から0.06の範囲が望ましい。ま
た、対数Mが増加すると上述したトータル反射係数Γが
増加してしまうので、対数Mが300程度までをカバーす
るためには、H/λは0.02から0.04程度であることがさら
に望ましい。また、電極パターンの加工性を考慮しても
この範囲H/λを選択することが望ましい。
ップの本数Nrとの比Nr/Mが1.5〜2.0とした場合に最良の
共振振幅が得られることも判る。
心周波数と、反射器の反射中心周波数をほぼ一致させる
ことにより、IDT自体におけるエネルギー閉じ込め効果
に加え、反射器によるエネルギーを閉じ込める効果を向
上している。この結果、SAW共振子の共振先鋭度を高め
ることができ、Q値の高いSAW共振子を提供することが
できる。
の反射特性の概略を示してある。実線で示したように、
IDTの交差指電極のピッチPtと、反射器の導体のピッチP
rとが同じときには、IDTの励振可能な弾性表面波の周波
数のうち振幅がピーク値となる放射コンダクタンスの中
心周波数が、反射器の反射中心周波数より若干低くな
る。このため、本例ではIDTのピッチPtと反射器のピッ
チPrの比Pr/Ptを若干高く設定し、これらの中心周波数
の値をほぼ一致させるようにしている。この結果、IDT
における弾性表面波の励振が効率良く行われるようにな
り、共振子の振動変位の最大がIDTの中央に位置するよ
うになるので、Q値の高いエネルギー閉じ込め型の共振
子を実現できる。本例のSAW共振子では、図5に示した
ように、Pr/Ptが1.004〜1.008程度に設定し、エネルギ
ーの閉じ込め効果の向上を図っている。
モードのスプリアス振動の発生を抑制するように、IDT
のピッチPtの隙間Lbに合わせて設定してある。図7に、
反射器30がIDT20に隣接して配置されている部分の断面
を拡大して示してある。反射器30は、ピッチPrで導体ス
トリップ31が配置され、導体ストリップ31の幅Lcとスト
リップ同士の隙間Ldは高い反射率が得られるようにほぼ
同じに設定してある。IDT20は、交差指電極22aおよび22
bが交互にピッチPtで配置され、これらも電極の幅Laと
電極同士の隙間Lbとはほぼ同じか、Laがやや大きくなる
ように設定してある。さらに、IDT20の反射器30側の電
極と、反射器30のIDT20側の導体ストリップとの隙間g
は、電極同士の隙間Lbと同じに設定して、反射器30のID
T20側の導体ストリップをピッチPrで並べてある。
示してある。本図では、隙間gをIDTの最も反射器より
の電極からのピッチPgで表し、Pg/Ptの比を変えて共振
レベルを測定している。本図から判るように、IDTと反
射器との隙間のピッチは同一に保つことが好ましく、こ
のピッチをずらすとスプリアス振動を誘発し、共振レベ
ルが低下してしまう。
晶片上に配置することによって、共振先鋭度を示すQ値
の大きなSAW共振子を得ることができる。さらに、本例
のSAW共振子10は、交差指電極22および反射器の導体ス
トリップ31をパワーフローの方向をカバーできるように
配置してある。
搬方向であるX′軸に対するエネルギーの伝搬方向であ
るパワーフロー角PFAは、異方性の圧電性結晶から切り
だされるほとんどの圧電体平板においては零ではない。
このことは、レーリー波に限らずリーキー波においても
言えることである。SAWフィルターに関しては、パワー
フローの方向と弾性表面波の位相の伝搬方向とを一致さ
せる、すなわち、PFAを零とすることによって特性が改
善されることが知られている。しかしながら、パワーフ
ロー角PFAを零とする方向にカットした圧電体平板が温
度特性や周波数安定性などの特性からみてSAW共振子と
して十分であるものが得られるとは限らない。このた
め、SAW共振子としてはパワーフロー角PFAと位相が伝搬
する方向とを一致させることは現状では難しい。そこ
で、本例では、図2に示したように、弾性表面波の位相
の伝搬方向に対し直交する方向に平行に延びた電極22お
よび導体ストリップ31をZ″軸に対し平行移動させて、
これらの配列した方向がX′軸から角度δだけ傾斜し、
パワーフロー角PFAの方向に向かって配置されるように
している。あるいは、図3に示すように、パワーフロー
角PFAの方向もカバーできるように幅を広げてある。こ
のように、パワーフローの方向を電極22および反射器の
導体ストリップ31でカバーすることによって、IDTの励
振エネルギーの閉じ込めをさらに効率良く行うことがで
きるので、いっそう高いQ値を持ったSAW共振子を提供
することが可能となる。
弾性表面波の位相の伝搬方向とを一致させなくともパワ
ーフローの方向に沿ったエネルギーの閉じ込め効果がえ
られることを説明する。弾性表面波のパワーフローベク
トルPi(i=1,2,3)の基本的特性として、特定の方向
に前進して伝搬するベクトルをPiとすれば、後退して伝
搬するベクトルを−Piで表すことができる。これは次の
通り証明される。
ベクトル、ξi+jηiは減衰率(jは虚数単位)、C
ijおよびθijは振幅定数、ωは角周波数、Aは任意の振
幅定数、Cijklは弾性定数(i,j,k,l=1,2,3をとる)、
さらに、kは波数である。
から−liすなわち、前進から後退にかわると、1972年電
子通信学会信越支部大会(Sinetu Section of IECE Jap
an)で発明者により開示されたようにξi+jηiがξ
i−jηiに、また、θijは−θijになることが証明さ
れている。このため、弾性表面波の伝搬方向が反対方向
に変わると、パワーフローベクトルは−Piとなる。
極22aおよび22bを、弾性表面波の位相の伝搬方向である
X′軸に直交する方向に平行に並べ、これらの電極の配
列の方向をX′軸に対し角度δ傾斜し、パワーフロー角
PFAに沿って配置してある。また、IDT20の両側に位置す
る反射器30aおよび30bも、IDT20に対し角度δだけ傾斜
して配置し、パワーフロー角PFAに沿って並べてある。
さらに、それぞれの反射器30aおよび30bを構成する導体
ストリップ31も、弾性表面波の位相の伝搬方向である
X′軸に直交する方向に平行に並べ、これらストリップ
の配列の方向をX′軸に対し角度δ傾斜し、パワーフロ
ー角PFAに沿って配置してある。このため、上記の式
(2)に基づき示したように、パワーフロー角PFAに沿
って伝搬する弾性表面波のエネルギーはIDT20、反射器3
0aおよび30bの間を両側に漏れることなくパワーフロー
角PFAに沿って往復し、共振現象が生ずる。その結果、
振動エネルギーの損失が極めて少なくなり、SAW共振子
のQ値を大きくすることができる。本例のSAW共振子に
おいて、反射器30aおよび30bのPFA軸と直交する方向の
幅Wrを、IDT20のPFA軸と直交する方向の幅Wtと同じある
いは広くして反射器からのエネルギーの漏れを少なくす
ることが望ましい。
る電極22および導体ストリップ31を図2に示したように
パワーフロー角PFAに沿って配置することが最も望まし
い。しかし、これらの配置を位相の伝搬方向に対し多少
でも、すなわち零でない角度δだけパワーフロー角PFA
の方向に傾けることによって、X′軸方向にIDTや反射
器を配置したSAW共振子と比較し振動エネルギーを効率
良く閉じ込めることができる。従って、これらの配置を
変えることによってSAW共振子のQ値の改善を図れる。
波の位相の伝搬方向X′軸に沿って配置し、反射器30a
および30bのX′軸に直交する幅wrを広げることによっ
て、パワーフロー角PFAに沿って伝搬するエネルギーを
閉じ込めるタイプのSAW共振子の例を示してある。本例
のSAW共振子10は、IDT20のX′軸に直交する方向の幅wt
に対し、幅wrの広い反射器30aおよび30bをIDT20の両側
に配置してある。反射器の幅wrは、パワーフロー角PFA
に沿ってパワーフロー角PFAに直交する方向の幅Wtが確
保できるように選定されており、IDT20からパワーフロ
ー角PFAの方向に伝搬する弾性表面波のエネルギーのほ
とんどを反射器30aおよび30bによって反射し、上記のSA
W共振子と同様にエネルギーの共振状態を生じさせるこ
とができるようになっている。本例のSAW共振子は、従
来と同様に位相の伝搬方向にIDTおよび反射器が配置さ
れ、これらを構成する電極22および導体ストリップ31は
位相の伝搬方向に配列されているが、反射器の幅を広げ
ることによってエネルギーの閉じ込め効果を向上させ、
高いQ値を得ることができる。
た方向に上述した図2あるいは図3のようにIDTおよび
反射器を配置したSAW共振子において測定されたQ値を
示してある。これらのSAW共振子は、圧電体として水晶S
Tカットを用いた共振周波数が150MHzから170MHzの共振
子である。本図にて判るように、角度δを大きくすると
Q値は大幅に向上し、パワーフローの方向とほぼ等しい
角度δが5度近傍において2.5×104と非常に高いQ値を
持つSAW共振子が得られた。
と、(−72.5,30)のX′軸方向に位相の伝搬するSAW共
振子を作成し、その温度特性を測定した。この測定によ
って得られたそれぞれの共振子の周波数温度特性を図10
に示してある。また、角度θは同じに設定し、角度ψを
25度近傍で変えたSAW共振子における周波数温度特性の
変化を計算し、その結果を図11に示してある。この計算
においては、エネルギーの伝搬方向の傾き、すなわち、
パワーフロー角PFAは考慮していない。図11には、各共
振子の周波数温度特性カーブの頂点で温度Θmaxと、20
℃における周波数2次温度係数β20の角度ψに対する変
化を示してある。
度ψが25度のSTカットSAW共振子の周波数温度特性は、
頂点の温度Θmaxが100℃であり、計算結果によると角度
ψが20度のときに対応する。また、実測した角度ψが30
度の周波数温度特性は、頂点の温度Θmaxが20℃であ
り、計算による角度ψが25度のときに対応する。このよ
うに、周波数温度特性の実測結果に対して計算結果は、
角度ψの絶対値が約5度小さくなる方向にずれていると
思われる。一方、計算によると水晶片のパワーフロー角
とX′軸とのなす角度は、絶対値で角度ψよりも−4.75
度小さくなる方向にずれていることが判っており、周波
数温度特性のずれとほぼ一致することが判る。以上の結
果から、周波数温度特性もパワーフロー角PFAだけずれ
て実現されるようである。従って、面内の回転角ψをパ
ワーフロー角度分だけ補正して設定すれば、零温度係数
を示す弾性表面波の伝搬方向とエネルギーの伝搬方向を
一致させることが可能になると考えられる。そして、主
な動作温度領域で良好な周波数温度特性を備え、発振も
非常に安定したSAW共振子を実現できると考えられる。
なIDTの配置を示してある。まず、水晶片上の弾性表面
波の伝搬方向をX″軸に設定する。このX″軸は、水晶
の電気軸+X軸を角度ψ′回転させた軸であり、角度
ψ′は以下の式で表される。
が配列された電極形成領域40を−PFAの方向に回転さ
せ、零温度係数を示す方向にPFAの方向41を一致させれ
ば良い。図中の42、43および44は、SAW共振子の振動振
幅の変位を示している。
ず、他の応力感度特性、短期安定性などにかかわる方位
についても言えると推定される。
ーの伝搬方向をカバーするように配置することによっ
て、共振先鋭度が高くQ値の大きなSAW共振子を得るこ
とができる。移動体通信などに用いられる共振子として
は、さらに、温度に対して非常に安定した特性が要求さ
れる。STカット水晶片を用いたSAW共振子は、周波数温
度特性の1次温度係数αが零になることから安定した発
振源として着目されている。しかし、先に説明したよう
に2次温度係数βが比較的大きく、広い動作温度範囲、
例えば−20℃から80℃の範囲で使用するにはさらに温度
特性を改善することが望ましい。このような要望に対
し、発明者は、前述のSAW共振子の構造方法において、
新たに、先に図1に示した座標系を用いて角度θがほぼ
25度から45度の範囲で、角度ψがほぼ40度から47度の範
囲を組み合わせることによって周波数温度特性のさらに
優れたSAW共振子を提供できることを見いだした。
0)となる回転角θおよびψの組み合わせの範囲を示し
てある。αは、以下の式に示したように周波数温度特性
カーブを常温の20℃でテイラー展開して得られる温度T
に対する1次の係数を示している。
0)3 ……(4) ここで、Δf/fは20℃におけるSAW共振子の周波数を基
準とした、他の温度における周波数の変化率である。ア
ルミニウム電極を用いたSAW共振子においては、周波数
温度特性はアルミニウム電極の膜厚Hに依存する。この
ため、図13は、先に説明したようにH/λとして望ましい
0.02から0.04の範囲のSAW共振子を前提として表してあ
る。
転角ψを変えて温度の2次係数βを測定した。図14に、
その測定結果と、パワーフロー角PFAを示してある。本
図にて判るように、角度ψがほぼ40度から47度の範囲に
おいて、2次係数βが−2.5×10-8/℃2以下となる。こ
れは、従来のSTカットSAW共振子の2次係数βが−3.4×
10-8/℃2であるのに対し、その2/3以下と低い値であ
り、周波数温度特性を大幅に改善できることが判る。ま
た、この角度ψの範囲では、パワーフロー角PFAも0度
に近く、先に説明したようにエネルギーの閉じ込めを効
率良く行える。従って、角度θがほぼ25度から45の範囲
で、角度ψがほぼ40度から47度の範囲の切断方位を持っ
た水晶片を用いることによって、良好な周波数温度特性
と共に高いQ値を備えたSAW共振子を実現することが判
る。
である約−1.4×10-8/℃2と、従来のSTカットSAW共振
子の約半分以下と非常に低い値を示す。また、パワーフ
ロー角PFAは角度ψが40度に近いほど低い値を示す。従
って、上記の角度範囲において、角度ψがほぼ40度から
44度で、これに対応した角度θがほぼ25度から37度の範
囲の切断方位を持った水晶片を用いることが望ましい。
特に、角度θが33±1度で、角度ψが42.75±1度の切
断方位の水晶片においては、その表面に結晶配向性に優
れたアルミニウム単結晶膜が得られるので、経時変化が
非常に少ないSAW共振子を提供することができる。した
がって、この角度範囲を含んだ角度θがほぼ32度から37
度で角度ψがほぼ40度から44度の範囲の切断方位を持っ
た水晶片を用いることがさらに望ましい。これらの角度
θおよびψの切断方位の水晶片を用いることにより、2
次係数βも−1.6×10-8/℃2と従来のSTカットSAW共振
子の半分程度になるので、周波数温度特性は非常に改善
される。なお、上記の角度範囲において周波数温度特性
の3次係数であるγは−1×10-10/℃3以下と非常に小
さい。
3.5度範囲にわたって変化させた場合の1次温度係数
α、2次温度係数βおよび周波数温度特性カーブの頂点
の温度Θmaxの計算結果を示してある。計算結果による
と、角度θが33度で角度ψが42.75度のSAW共振子はΘma
xが室温20℃近傍となる。しかしながら、先に図2およ
び図3で示した傾斜角δを設定していない従来のSAW共
振子においては、共振の先鋭度を示すQ値が低い。これ
に対し、傾斜角δを設定し、その値δをパワーフロー角
PFA(1.85度)とほぼ等しくすると、Q値は2倍以上に
向上することが判った。このような顕著な効果を得るた
めには、傾斜角δをパワーフロー角PFAの±1゜程度と
することが好ましい。さらに、IDTおよび反射器をパワ
ーフロー角PFAを考慮して傾斜させたこのSAW共振子の周
波数温度特性は、−20℃から80℃の動作温度範囲におい
て50ppm以下と低い値を示した。
エネルギー閉じ込め型のSAW共振子を実現するには、ま
ず、電極一本当たりの弾性表面波の反射係数aを求める
必要がある。このため、膜厚Hのアルミニウム膜を水晶
片の表面全部に形成したときのX′軸方向に伝搬する弾
性表面波の位相速度を計算した。その結果を図16に、H/
λに対する、H=0の場合の位相速度V0と膜厚Hの時の
位相速度Vhの比D=Vh/V0を用いて表してある。また、
図16には、従来のSTカット水晶片を用いた計算結果161
と、上述した切断方位のうちθが33度でψが42.75度の
水晶片を用いた計算結果160を示してある。
(Ptは、上述したようにIDTの交差指電極のピッチを示
す)とほぼ一致し、図16に示した位相速度の変化率であ
り、速度降下特性と通常呼ばれる特性と反射係数aとの
間には以下の式がなりたつ。
一本当たりの横幅であり、この電極幅Laと電極間の隙間
Lbが等しい場合は、ηが0.5となる。
表示した際の自由表面の音響インピーダンスZfと、膜形
成時の音響インピーダンスZmの比が以下の通り各々の音
速の2乗の比として表せること、 Zm/Zf=D2 ……(6) および、音響インピーダンス不整合による反射係数γ
が、以下の式で表され、 γ=(Zf−Zm)/(2Zm) ……(7) さらに、反射係数aおよびγが次の式で近似できること
から導出される。
導き出す段階で定数bが決定されており、その値(b=
0.8271)を採用している。
数aを求めるために、図16に示した速度比Dのうち、H/
λとして適当な値であるH/λ=0.03に対応する値、D=
0.988を代入する。この結果、本例の水晶片の反射係数
aとして0.1684が得られる。
先に説明したSTカットSAW共振子と同じ程度のトータル
反射係数(Γ=2.448)を得るために必要とされる交差
指電極の対数Mを求める。このため、(1)式に上記に
て求めた反射係数aを代入すると、必要な対数Mとして
121.1が得られる。すなわち、IDTを構成する交差指電極
の対数Mとして120対程度であれば、先にSTカット水晶S
AW共振子において説明したような高いQ値を持ったSAW
共振子を得ることができる。さらに、本例の共振子は、
周波数温度特性の変動の少ない圧電体を用いて構成して
あるので、本発明により周波数特性の優れ、Q値の大き
なSAW共振子を実現することができる。
pF以下で使用される。SAW共振子の容量値C0は、以下の
式で求められる。
(水晶はほぼ4.43〜4.63)である。また、Wcは、位相の
伝搬する方向に直交する方向のIDTの幅寸法であり、横
方向のスプリアス振動の励起を考慮するとWc/λをほぼ3
5〜40の範囲に収めることが望ましい。この結果、対数
Mの最大値は300程度となることが判る。また、容量C0
および電極パターンの加工性を考慮すると、上述したよ
うにH/λの範囲はほぼ0.02から0.04が望ましい。
切断方位として提唱されているKカット近傍の切断方位
を有する水晶を用いたSAW共振子についても、その周波
数温度特性を確認した。そして、Q値が高く、周波数の
短期安定性にも優れたSAW共振子を実用に供する諸条件
を見いだした。
うち、Kカットの近傍、すなわち、角度θが2ないし9
の範囲において周波数温度特性の1次係数αが0となる
組み合わせを示してある。また、図17には、SAW共振子
にレーザーを照射した際の瞬時的な周波数シフト量ΔF
が零を示す角度θおよびψの組み合わせも示してある。
本図にて判るように1次係数αが零(α=0)となる組
み合わせを示す曲線と、周波数シフト量ΔFが零(ΔF
=0)となる組み合わせを示す曲線は、角度θが5.4度
および角度ψが32.1度である点Pにおいて交差する。従
って、この角度を切断方位とした水晶片は零温度係数で
周波数シフト量が零となることが判る。この点Pの近
傍、すなわち、角度θが4度から7度および角度ψが31
度から33度の範囲において、1次係数αが零となる角度
θおよびψの組み合わせを実験的に求めた。それらの組
み合わせは次の式で近似できる。
角度θを6.5とし、角度ψを32.5度近傍に設定した水晶
片において、その周波数温度特性カーブの頂点を示す温
度Θmaxと、周波数温度特性の2次係数βの変化を示し
てある。本図から、周波数温度特性カーブの頂点を示す
温度Θmaxの動作温度範囲のうち通常の使用条件である2
0±20℃に入るようにするには、角度ψの許容値を±30
分に設定すれば良いことが判る。また、周波数温度特性
の2次係数βは、本図に示したように−2.4×10-8/℃2
から−2.7×10-8/℃2の範囲であり、従来のSTカットの
2次係数β(−3.4×10-8/℃2)の2/3程度の低い値を
示す。特に、方位(θ,ψ)が(6.5,32.5)および(5.
4,32.1)の場合は、2次係数βは−2.5×10-8/℃2であ
る。
係を持った水晶片の2次係数βの変化を示してある。本
図で判るように、角度θがほぼ4度から7度の範囲で、
周波数温度特性の2次係数βは、おおむね−2.5×10-8/
℃2以下の良好な値をとる。従って、角度θおよびψが
(10)式の関係を持ち、角度θがほぼ4度ないし7度の
範囲であれば、温度特性が改善され、さらに短期安定性
の非常に高いSAW共振子を構成できることが判る。この
範囲内であれば、2次係数βの変動は非常に少なく安定
しているので、角度θの許容値としては±度程度で良
い。
SAW共振子の周波数温度特性の実測値の一例を示してあ
る。本図にて判るように、動作温度範囲である−20℃か
ら80℃にわたって、周波数変化率は68ppmと少ない値を
示し、周波数温度特性の改善されたSAW共振子が得られ
る。
定めるべく、上記と同様の方法でまずIDTの交差指電極
一本当たりの弾性表面波の反射係数aを求める。図21
に、本例の切断方位を持つ水晶片のX′軸方向に伝搬す
る弾性表面波の位相速度の計算結果を速度比Dを用いて
示してある。この図には、本例の切断方位のうち、カッ
ト角の組み合わせとして角度θが6.5および角度ψが32.
5度の速度比Dと、水晶STカットの速度比を合わせて示
してある。なお、角度θおよびψが6.5度および32.5度
の電極膜厚Hが0の場合の位相速度V0は、3308.2m/sで
あった。
時の位相速度の変化率D=0.9798を用い、(5)式から
本例の水晶片を用いた場合の反射係数を計算し、反射係
数aとして0.2871が得られる。さらに、水晶STカットSA
W共振子と同じ程度のエネルギー閉じ込めが得られる程
度のトータル反射係数(Γ=2.448)として交差指電極
の対数Mを計算すると対数Mは71となる。これにより、
本例の水晶片を用いて交差指電極の対数Mが71対以上の
IDTを設ければ、高いQ値を持ち、周波数温度特性が優
れ、さらに、短期安定性にも優れたSAW共振子を実現で
きることがわかる。また、SAW共振子の並列容量値C0は
上記と同様に6pF以下であるので、対数Mの最大値は300
対程度となる。
計条件を見いだせたので、図2あるいは図3に基づき説
明したパワーフロー角を考慮してIDTおよび反射器を配
置することにより高いQ値を持ったSAW共振子を提供す
ることが可能となる。本例の切断方位を用いた場合のパ
ワーフロー角の影響を図22に示した。図22は、従来のSA
W共振子のようにパワーフロー角を考慮しないでIDTおよ
び反射器を配置した場合に、その電極の配置の方向とパ
ワーフロー角PFAとのずれが大きくなるとQ値の大幅な
低下が測定されることを示している。
の範囲で変化させた場合のパワーフロー角PFAを示して
ある。角度θおよびψが6.5度および32.5度のときのパ
ワーフロー角PFAは3.1度となる。また、これとは別に、
角度θおよびψが5.4度および32.1度の時のパワーフロ
ー角PFAは3.2度である。図22に示したように、それぞれ
の電極の延びた方向に直交する方向、すなわち、位相の
伝搬する方向ψに対し電極の並んだ方向を角度δだけず
らした場合、このずれ角δとパワーフロー角PFAとの差
が±1゜程度以上であれば、ずれ角δがパワーフロー角
PFAと合致した場合と同じ程度の非常に高いQ値が得ら
れる。さらに、ずれ角δとパワーフロー角PFAとの差が
±3゜程度以内であれば、Q値は半分程度に減少する
が、従来の数倍の高いQ値が得られる。このような角度
範囲でなくとも、図から判るように、パワーフロー角PF
Aの方向に多少でもずれ角δを設定することによってQ
値は改善される。
を持った水晶片にパワーフロー角を考慮してIDTおよび
反射器を配置したSAW共振子によって、例えばQ値が共
振周波数152MHzにおいて20000であり、等価直列抵抗が1
5Ω、等価直列容量が3.2pF、容量比が1700程度といった
共振子の等価定数を備えたSAW共振子を作成できる。こ
れらの数値は従来のSTカットSAW共振子と同等以上であ
り、周波数温度特性は上述したようにSTカットSAW共振
子より優れた特性を示す。さらに、本例のSAW共振子は
周波数短期安定度にも優れており、サンプル周期τが2
秒のときのアラン分散の値が約3×10-9とSTカットSAW
共振子(約1.3×10-8)より1桁程度優れた安定性を示
す。
基づき説明しているが、2ポートタイプであってももち
ろん良い。また、パワーフロー角を考慮したIDTおよび
反射器の配置は、水晶を圧電体として採用したSAW共振
子に限らず、LiTaO3、LiNbO3等の他の圧電体素材を採用
したSAW共振子についても適用できることはもちろんで
ある。また、本発明は、SAW共振子に限らず、SAWフィル
ターやその他のSAWデバイスにも適用でき、共振先鋭度
が高く、優れた温度特性を有するSAWデバイスを提供で
きる。さらに、本発明にかかるSAW共振子を収納する保
持器については、円筒形の容器あるいは平型の金属容器
であっても良く、また、セラミックの面実装タイプの容
器であってももちろん良い。
れた温度特性や、周波数特性を備えているので、移動体
通信などに用いられる高周波数領域において高い精度の
要求される発振装置に好適なデバイスである。
Claims (13)
- 【請求項1】平板状の圧電体と、 この圧電体の表面の第1の方向に周期λで並列に形成さ
れた膜厚Hの導体からなるM対の交差指電極を備えた交
差指電極と、 この交差指電極の前記第1の方向の両端に配置され、前
記交差指電極と並列した複数の反射電極を備えた1対の
反射器とを有し、 前記圧電体はα水晶単結晶の機械軸Yに垂直な面を電気
軸Xの回りの反時計方向に角度θが32度ないし37度の範
囲で回転させた平板であり、前記第1の方向と前記X軸
のなす角度ψの絶対値が40度ないし44度の範囲であり、 前記第1の方向と交差する第2の方向に、前記交差指電
極および反射電極の少なくとも一部が配置されており、
前記第1の方向と前記第2の方向とのなす角度は、パワ
ーフロー角にほぼ等しく設定され、 前記交差指電極一本当たりの弾性表面波の反射係数を
a、前記交差指電極の対数をM、前記交差指電極の膜厚
をH、前記交差指電極の周期をλとすると、Γ=4×M
×a×H/λで表される前記交差指電極のトータル反射係
数Γが0.8ないし10の範囲であり、 前記交差指電極はアルミニウム金属膜で形成されてお
り、前記交差指電極の前記膜厚および前記周期の比H/λ
がほぼ0.02ないし0.04の範囲であるSAWデバイスであっ
て、 前記パワーフロー角が1.85±1度であり、さらに、前記
第1の方向と前記第2の方向とのなす角度が、前記パワ
ーフロー角の±1度程度以内であることを特徴とするSA
Wデバイス。 - 【請求項2】請求項1において、前記反射電極の本数Nr
と前記交差指電極の対数Mとの比Nr/Mがほぼ1.5〜2の
範囲であることを特徴とするSAWデバイス。 - 【請求項3】請求項2において、前記交差指電極の対数
Mが、ほぼ120ないし300の範囲であることを特徴とする
SAWデバイス。 - 【請求項4】請求項3において、前記角度θが33±1度
であり、前記角度ψの絶対値が42.7度±1度であること
を特徴とするSAWデバイス。 - 【請求項5】平板状の圧電体と、 この圧電体の表面の第1の方向に周期λで並列に形成さ
れた膜厚Hの導体からなるM対の交差指電極を備えた交
差指電極と、 この交差指電極の前記第1の方向の両端に配置され、前
記交差指電極と並列した複数の反射電極を備えた1対の
反射器とを有し、 前記圧電体はα水晶単結晶の機械軸Yに垂直な面を電気
軸Xの回りの反時計方向に角度θがほぼ4度ないし7度
の範囲で回転させた平板であり、 前記第1の方向と前記X軸のなす角度ψの絶対値が公差
±30分の範囲で前記角度θと、 θ=2.775×(ψ−32.5)+6.5(度) の関係があることを特徴とするSAWデバイス。 - 【請求項6】請求項5において、前記第1の方向と交差
する第2の方向に、前記交差指電極および反射電極の少
なくとも一部が配置されていることを特徴とするSAWデ
バイス。 - 【請求項7】請求項6において、前記第1の方向と前記
第2の方向とのなす角度は、パワーフロー角にほぼ等し
いことを特徴とするSAWデバイス。 - 【請求項8】請求項7において、前記角度θが6.5±1
度であり、前記角度ψの絶対値が32.5±1度であり、前
記パワーフロー角が3.1±1度であり、さらに、前記第
1の方向と前記第2の方向とのなす角度が、前記パワー
フロー角の±1度程度以内であることを特徴とするSAW
デバイス。 - 【請求項9】請求項7において、前記角度θが5.4±1
度であり、前記角度ψの絶対値が32.1±1度であり、前
記パワーフロー角が3.2±1度であり、さらに、前記第
1の方向と前記第2の方向とのなす角度が、前記パワー
フロー角の±1度程度以内であることを特徴とするSAW
デバイス。 - 【請求項10】請求項5において、前記交差指電極一本
当たりの弾性表面波の反射係数をaとすると、Γ=4×
M×a×H/λで表される前記交差指電極のトータル反射
係数Γが0.8ないし10の範囲であり、 前記反射電極のピッチは前記交差指電極のピッチより広
く、前記反射器の反射中心周波数と前記交差指電極の放
射コンダクタンスの最大値を与える周波数とがほぼ一致
し、さらに、 前記反射器の前記交差指電極の側の端は、前記交差指電
極と同じピッチで配置されていることを特徴とするSAW
デバイス。 - 【請求項11】請求項10において、前記反射電極の本数
Nrと前記交差指電極の対数Mとの比Nr/Mがほぼ1.5〜2
の範囲であることを特徴とするSAWデバイス。 - 【請求項12】請求項10において、前記交差指電極はア
ルミニウム金属膜で形成されており、前記交差指電極の
前記膜厚および周期の比H/λがほぼ0.02ないし0.04の範
囲であることを特徴とするSAWデバイス。 - 【請求項13】請求項10において、前記交差指電極の対
数Mが、ほぼ71ないし300の範囲であることを特徴とす
るSAWデバイス。
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23521094 | 1994-09-29 | ||
JP25687194 | 1994-10-21 | ||
JP6-277503 | 1994-11-11 | ||
JP27750394 | 1994-11-11 | ||
JP6-235210 | 1994-11-11 | ||
JP6-256871 | 1994-11-11 | ||
PCT/JP1995/000312 WO1996010293A1 (fr) | 1994-09-29 | 1995-02-28 | Dispositif a ondes acoustiques de surface |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP3216137B2 true JP3216137B2 (ja) | 2001-10-09 |
Family
ID=27332239
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP51158896A Expired - Lifetime JP3216137B2 (ja) | 1994-09-29 | 1995-02-28 | Sawデバイス |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5895996A (ja) |
JP (1) | JP3216137B2 (ja) |
WO (1) | WO1996010293A1 (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6784595B2 (en) | 2001-08-29 | 2004-08-31 | Seiko Epson Corporation | Method for adjusting the temperature-dependent property of a surface acoustic wave device and a surface acoustic device |
US6856218B2 (en) | 2001-12-28 | 2005-02-15 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave device and communications apparatus using the same |
US7012476B2 (en) | 2003-03-20 | 2006-03-14 | Seiko Epson Corporation | Voltage-controlled oscillator, clock converter, and electronic device |
JP2012060421A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置 |
JP2012060422A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置 |
JP2012060420A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置 |
JP2012060419A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置 |
JP2012060418A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置 |
JP2013090023A (ja) * | 2011-10-14 | 2013-05-13 | Panasonic Corp | 弾性波装置 |
US8928432B2 (en) | 2010-08-26 | 2015-01-06 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave resonator, surface acoustic wave oscillator, and electronic apparatus |
US8933612B2 (en) | 2009-02-27 | 2015-01-13 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave resonator, surface acoustic wave oscillator, and electronic instrument |
US9088263B2 (en) | 2010-06-17 | 2015-07-21 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave resonator, surface acoustic wave oscillator, and electronic apparatus |
US9124240B2 (en) | 2011-04-12 | 2015-09-01 | Skyworks Panasonic Filter Solutions Japan Co., Ltd. | Acoustic wave device and antenna duplexer employing the same |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999004488A1 (en) * | 1997-07-16 | 1999-01-28 | Sawtek Inc. | An optimal cut for saw devices on quartz |
US6501208B1 (en) * | 1997-07-18 | 2002-12-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Compensated surface acoustic wave filter having a longitudinal mode resonator connected with a second resonator |
JPH11205071A (ja) * | 1998-01-13 | 1999-07-30 | Murata Mfg Co Ltd | 弾性表面波装置 |
JP3137064B2 (ja) * | 1998-01-16 | 2001-02-19 | 日本電気株式会社 | 弾性表面波フィルタ |
JP3844414B2 (ja) | 1999-08-31 | 2006-11-15 | パイオニア株式会社 | 表面弾性波素子及びその製造方法 |
JP2002330052A (ja) * | 2001-04-27 | 2002-11-15 | Murata Mfg Co Ltd | 表面波装置及びそれを用いた弾性表面波デバイス |
JP3897229B2 (ja) * | 2001-04-27 | 2007-03-22 | 株式会社村田製作所 | 表面波フィルタ |
JP3675373B2 (ja) * | 2001-07-17 | 2005-07-27 | セイコーエプソン株式会社 | 発振回路の温度特性調整方法 |
JP3724575B2 (ja) * | 2001-08-09 | 2005-12-07 | セイコーエプソン株式会社 | 弾性表面波装置 |
WO2003034013A1 (en) * | 2001-10-16 | 2003-04-24 | Transense Technologies Plc | Temperature stable saw sensor with third-order elastic constants |
JP2004274696A (ja) * | 2002-10-04 | 2004-09-30 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波装置および弾性表面波装置の温度特性調整方法 |
JP4059152B2 (ja) * | 2002-10-16 | 2008-03-12 | セイコーエプソン株式会社 | 弾性表面波共振子 |
US7299528B2 (en) * | 2002-11-05 | 2007-11-27 | Lee David M | Method for forming a multi-frequency surface acoustic wave device |
JP4246604B2 (ja) | 2003-11-18 | 2009-04-02 | 富士通メディアデバイス株式会社 | 弾性表面波デバイス |
JP2005204275A (ja) * | 2003-12-12 | 2005-07-28 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波素子片およびその製造方法並びに弾性表面波装置 |
WO2006137464A1 (ja) * | 2005-06-21 | 2006-12-28 | Epson Toyocom Corporation | 弾性表面波デバイス、モジュール、及び発振器 |
US7777625B1 (en) * | 2005-08-25 | 2010-08-17 | University Of Central Florida Research Foundation, Inc. | Weighted saw reflector gratings for orthogonal frequency coded SAW ID tags and sensors |
US7952482B2 (en) * | 2005-08-25 | 2011-05-31 | University Of Central Florida Research Foundation, Inc. | Surface acoustic wave coding for orthogonal frequency coded devices |
US7569971B2 (en) * | 2007-10-02 | 2009-08-04 | Delaware Capital Formation, Inc. | Compensation of resonators for substrate and transducer asymmetry |
JP2011182220A (ja) * | 2010-03-02 | 2011-09-15 | Panasonic Corp | 弾性波共振器及びこれを用いた縦結合二重モードフィルタ、ラダー型フィルタ |
WO2013002033A1 (ja) * | 2011-06-28 | 2013-01-03 | 京セラ株式会社 | 弾性波素子およびそれを用いた弾性波装置 |
CN105684308B (zh) * | 2013-10-31 | 2019-04-19 | 京瓷株式会社 | 弹性波元件、滤波器元件以及通信装置 |
CN106230400A (zh) * | 2016-08-29 | 2016-12-14 | 浙江晶电子科技有限公司 | 一种高频率柱晶 |
WO2018193933A1 (ja) * | 2017-04-20 | 2018-10-25 | 株式会社村田製作所 | 弾性波装置、帯域通過型フィルタ及びマルチプレクサ |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2483076A1 (fr) * | 1980-05-23 | 1981-11-27 | Quartz & Electronique | Sonde de temperature utilisant une lame de quartz |
JPS575418A (en) * | 1980-06-13 | 1982-01-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Cavity type surface elastic wave resonator |
JPS5711819A (en) * | 1980-06-24 | 1982-01-21 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Preparation of crystalline zeolite |
JPS5711819U (ja) * | 1980-06-25 | 1982-01-21 | ||
JPS5773513A (en) * | 1980-10-27 | 1982-05-08 | Yasutaka Shimizu | Surface acoustic wave device |
JPS59131213A (ja) * | 1982-07-26 | 1984-07-28 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 高周波狭帯域多重モ−ド・フイルタ |
JPS61199926A (ja) * | 1985-03-01 | 1986-09-04 | Meiwa Sangyo Kk | 積層体の製造方法 |
JPS61199926U (ja) * | 1985-06-03 | 1986-12-15 | ||
JPS6354010A (ja) * | 1986-08-25 | 1988-03-08 | Toshiba Corp | 弾性表面波装置 |
JPS63184411A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-07-29 | Toshiba Corp | 弾性表面波装置 |
JPS6382115A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-12 | Toshiba Corp | 弾性表面波装置 |
JPH02244812A (ja) * | 1989-03-16 | 1990-09-28 | Matsushima Kogyo Co Ltd | Saw共振子 |
JP2674833B2 (ja) * | 1989-06-22 | 1997-11-12 | 日本輸送機株式会社 | 電気車における電気制動時のスリップ検出方法および減速度制御方法 |
JPH03261210A (ja) * | 1990-03-12 | 1991-11-21 | Seiko Epson Corp | Saw共振子 |
JP3160918B2 (ja) * | 1991-02-20 | 2001-04-25 | セイコーエプソン株式会社 | 弾性表面波フィルタ |
JPH04289109A (ja) * | 1991-03-16 | 1992-10-14 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 高炉羽口金物の現場加工機と使用方法 |
JP3132109B2 (ja) * | 1991-12-09 | 2001-02-05 | セイコーエプソン株式会社 | 2ポートsaw共振子 |
-
1995
- 1995-02-28 JP JP51158896A patent/JP3216137B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1995-02-28 WO PCT/JP1995/000312 patent/WO1996010293A1/ja active Application Filing
- 1995-02-28 US US08/647,921 patent/US5895996A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6784595B2 (en) | 2001-08-29 | 2004-08-31 | Seiko Epson Corporation | Method for adjusting the temperature-dependent property of a surface acoustic wave device and a surface acoustic device |
US6856218B2 (en) | 2001-12-28 | 2005-02-15 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave device and communications apparatus using the same |
US7012476B2 (en) | 2003-03-20 | 2006-03-14 | Seiko Epson Corporation | Voltage-controlled oscillator, clock converter, and electronic device |
US9762207B2 (en) | 2009-02-27 | 2017-09-12 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave resonator, surface acoustic wave oscillator, and electronic instrument |
US8952596B2 (en) | 2009-02-27 | 2015-02-10 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave resonator, surface acoustic wave oscillator, and electronic instrument |
US8933612B2 (en) | 2009-02-27 | 2015-01-13 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave resonator, surface acoustic wave oscillator, and electronic instrument |
US9537464B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-01-03 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave resonator, surface acoustic wave oscillator, and electronic apparatus |
US9088263B2 (en) | 2010-06-17 | 2015-07-21 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave resonator, surface acoustic wave oscillator, and electronic apparatus |
US8928432B2 (en) | 2010-08-26 | 2015-01-06 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave resonator, surface acoustic wave oscillator, and electronic apparatus |
JP2012060420A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置 |
US8723396B2 (en) | 2010-09-09 | 2014-05-13 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave device, electronic apparatus, and sensor apparatus |
US8723393B2 (en) | 2010-09-09 | 2014-05-13 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave device, electronic apparatus, and sensor apparatus |
US8723394B2 (en) | 2010-09-09 | 2014-05-13 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave device, electronic apparatus, and sensor apparatus |
US8723395B2 (en) | 2010-09-09 | 2014-05-13 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave device, electronic apparatus, and sensor apparatus |
JP2012060418A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置 |
US9048806B2 (en) | 2010-09-09 | 2015-06-02 | Seiko Epson Corporation | Surface acoustic wave device, electronic apparatus, and sensor apparatus |
JP2012060419A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置 |
JP2012060422A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置 |
JP2012060421A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置 |
US9124240B2 (en) | 2011-04-12 | 2015-09-01 | Skyworks Panasonic Filter Solutions Japan Co., Ltd. | Acoustic wave device and antenna duplexer employing the same |
JP2013090023A (ja) * | 2011-10-14 | 2013-05-13 | Panasonic Corp | 弾性波装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1996010293A1 (fr) | 1996-04-04 |
US5895996A (en) | 1999-04-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3216137B2 (ja) | Sawデバイス | |
US8502625B2 (en) | Surface acoustic wave resonator and surface acoustic wave oscillator | |
US8928432B2 (en) | Surface acoustic wave resonator, surface acoustic wave oscillator, and electronic apparatus | |
JP4757860B2 (ja) | 弾性表面波機能素子 | |
JPH10233645A (ja) | 弾性表面波装置 | |
JP4645957B2 (ja) | 弾性表面波素子片および弾性表面波装置 | |
JPH11298290A (ja) | 弾性表面波装置 | |
JP3360541B2 (ja) | 弾性表面波装置及びその設計方法 | |
JP2006295311A (ja) | 弾性表面波素子片および弾性表面波装置 | |
JP4059152B2 (ja) | 弾性表面波共振子 | |
JPS632414A (ja) | 弾性表面波共振子 | |
JP2000286663A (ja) | 弾性表面波素子 | |
US4247835A (en) | Surface acoustic wave devices | |
JP5563378B2 (ja) | 弾性波素子 | |
JP3255502B2 (ja) | 高安定弾性表面波素子 | |
JP2001267880A (ja) | Saw共振子 | |
JP4059147B2 (ja) | 弾性表面波共振子 | |
JP3379383B2 (ja) | 弾性表面波装置 | |
US8471434B2 (en) | Surface acoustic wave device, surface acoustic wave oscillator, and electronic apparatus | |
US6160339A (en) | Two-port saw resonator | |
JP4465464B2 (ja) | ラム波型弾性波素子 | |
WO2012137027A1 (en) | Surface acoustic wave resonator | |
JPH02295212A (ja) | 弾性表面波共振子 | |
WO2010029762A1 (ja) | ラム波型弾性波素子 | |
JPS616919A (ja) | 弾性波素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070803 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080803 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080803 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090803 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090803 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100803 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110803 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120803 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130803 Year of fee payment: 12 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |