JP2966771B2 - 固定数のピクセルを有するディスプレイに連続して得られたデータを表示する方法 - Google Patents

固定数のピクセルを有するディスプレイに連続して得られたデータを表示する方法

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JP2966771B2 JP7229316A JP22931695A JP2966771B2 JP 2966771 B2 JP2966771 B2 JP 2966771B2 JP 7229316 A JP7229316 A JP 7229316A JP 22931695 A JP22931695 A JP 22931695A JP 2966771 B2 JP2966771 B2 JP 2966771B2
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22—Circuits therefor
    • G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
    • G01R13/345—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies for displaying sampled signals by using digital processors by intermediate A.D. and D.A. convertors (control circuits for CRT indicators)

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の背景】本発明は一般にデータをグラフィック表
示する方法に関し、特定的には一定の数のグラフィック
表示素子を有するディスプレイを用いて連続的に得られ
た測定データの流れをグラフィック表示するための方法
に関する。
【０００２】経時的な電気信号のグラフィックな表現
は、解析およびトラブルシューティングには特に重要な
手段である。電気信号は、温度、圧力、加速度または物
理的位置等の物理的現象を測定するセンサの出力ならび
に交流電力線電圧等の単純な電圧および電流を含み得
る。測定された信号のグラフィック的な履歴は、長期的
な傾向と短期的な一時的事象との両方を観察することに
よって経時的な電気信号の動向についての貴重な洞察力
をユーザに与える。たとえば、電力線電圧を２４時間の
期間にわたってモニタして、短期的なサージおよびドロ
ップアウトを検出しながらその長期的な安定性を観察す
ることができる。
【０００３】電気信号を測定し測定値をグラフィックな
形態で表示するための種々の手段が開発されている。よ
り長い時間にわたって電気信号をモニタするために、ス
トリップチャート記録計が長年にわたって用いられてき
た。利用できるチャート紙の供給量および記録計のスピ
ードの選択によって、電気信号をモニタできる時間の長
さが決定され、一方、ダルソンバルメータの動きおよび
チャート記録計増幅器のアナログバンド幅が、検出され
得る最短の一時的な事象を決定した。一方、アナログオ
シロスコープは、陰極線管に比較的速く反復的な波形を
表示するように設計されているが、そのトレースを記録
し永久的な記録を与える能力がオシロスコープのスクリ
ーンの写真を連続的に撮影すること、または信号データ
を手で反復的に記録することに制限されるために、長期
的な傾向をモニタするには一般に効果的でない。
【０００４】ストリップチャート記録計は主にデータ捕
捉システムにとって代わられ、これらは電気信号をデジ
タル化し、測定情報をデジタルデータとしてコンピュー
タのメモリに記憶するものである。アナログ−デジタル
コンバータ（ＡＤＣ）を用いて意図された時間の信号電
圧をデジタル測定データによって表わされるような個々
の測定値に変換することによって信号が「サンプリン
グ」される。データ捕捉システムはしばしば、パーソナ
ルコンピュータ（ＰＣ）に測定データを送る特殊データ
捕捉ボードを含む。データ捕捉ボードは入力信号をデジ
タル化し、ＰＣはデータ収集、記憶および表示のタスク
を扱う。ＰＣで利用できるデータ記憶量が基本的に制限
されるために、ＰＣベースのデータ捕捉システムは、元
のストリップチャート記録計と同じである多くの時間的
制限に直面している。チャート速度の代わりに、ユーザ
は測定サンプル速度を選択しなくてはならない。サンプ
ル速度が速くなると時間分解能のより高い測定値をもた
らすが、より速くメモリを消費してしまう。たとえば、
２４０，０００の読取を記憶する容量を有するデータ捕
捉システムを用いて２４時間にわたって電力線信号をユ
ーザが測定しようとすると、１秒につき２．８までの読
取のサンプル速度を使用し得る。サンプル間に起こる一
時的な事象は完全に逸してしまう。逆に、サンプル速度
を増大して速い一時的な事象を得ようとすると、全体の
測定時間がより短くなってしまい、長期的な傾向を得る
能力を低下させてしまう。
【０００５】次にアナログオシロスコープに代わりデジ
タル記憶オシロスコープ（ＤＳＯ）が用いられるように
なり、これらは典型的なデータ捕捉システムよりもかな
り速く信号をサンプリングするように最適化される。こ
のように速度を上昇させることは、波形メモリの深さを
より制限し、電圧分解能のビットを少なくするという犠
牲を伴う。対象となる速い一時的信号の振幅を捕捉する
のに十分に速い速度で信号をサンプリングすると、波形
メモリをすぐに消費してしまうおそれがある。ダゴスチ
ノ（Dagostino ）らに付与され、テクトロニクス社（Te
ktronix, Inc.）に譲受された米国特許番号第４，２７
１，４８６号「波形記憶システム」（Waveform Storage
System ）は、装置のＡＤＣのサンプリング速度が掃引
速度に依存せず、選択された測定周期の間に起こる入力
信号の最大および最小振幅を捕捉するのに必要なだけ速
くＡＤＣがサンプリングするのを可能にするシステムを
開示している。いずれかの極値から外れない限り測定値
は記憶されないので、測定期間はメモリの利用可能性に
よって制約されない。これは、ＡＤＣによってもたらさ
れた各測定値が、維持されている現在の最小および最大
値と即座に比較され、測定値を後で処理する必要がない
ためである。その後測定値が排棄される。各最大および
最小値は、表示される波形の「ピクセル」と呼ばれるグ
ラフィック表示素子に対応するそれぞれの波形メモリア
ドレスに記憶される。ピクセル、すなわち波形メモリ内
のメモリ素子にはピクセル速度でピクセル情報が満たさ
れ、全測定期間はピクセルの総数をピクセル速度で割っ
たものとなる。したがって、測定を始める前に全測定期
間を決定しなくてはならず、測定値の平均を保持するた
めのものは何も設けられない。
【０００６】したがって、最後のピクセルに達すると集
められたピクセル情報が全ディスプレイの一部に圧縮さ
れ、オペレータの介入を必要とすることなく表示すべき
新しいピクセル情報のための余地を永久に与えるように
時間スケールを自動的に設定することを可能にする、一
定の数のピクセルを有するディスプレイに連続して得ら
れた測定値を表示するための方法を提供することが望ま
しい。ピクセルは、サンプル速度に依存しない掃引速度
でプロットされる。さらに、最小値および最大値ととも
に平均値がピクセル情報に含まれ、最小、最大および平
均値が有効なままである態様で圧縮動作が行なわれるこ
とが望ましい。
【０００７】
【発明の概要】本発明に従えば、一定の数のピクセルで
連続して得られたデータを表示するための方法が提供さ
れる。測定装置において、データは、ＡＤＣによってサ
ンプル速度で得られた測定値を表わす。サンプル速度に
依存することなく、サンプル速度に等しいか、またはそ
れを下回るピクセル速度で入力ピクセルが計算される。
各ピクセルは時間順に表示された時間的要素を表わし、
波形メモリ内の対応するメモリ位置に記憶されたデータ
のグラフィック的な表現である。サンプル速度とピクセ
ル速度とは独立しており、測定値の事後処理が必要でな
いために、後の解析のために個々に記憶する必要はな
い。ＡＤＣの最大サンプリング速度およびマイクロプロ
セッサの処理速度に制限されるものの、測定値は失われ
る時間期間を有することなく対象の波形特性を得るのに
必要なだけ速く処理され得る。各測定値が収集される際
に、マイクロプロセッサは測定値をそのピクセルの現在
の最小および最大値と比較し、その値が新しい最小また
は最大値であれば、マイクロプロセッサはその値をそれ
ぞれ新しい最小または最大値として記憶する。集められ
た測定値の数とともに集められた間の測定値の合計を保
持し、その和を単に測定値の数で割ることによって、任
意の時間に平均値を計算することができる。このよう
に、各ピクセルについて集められ得る測定データ点の数
に対して、データ記憶装置の利用可能性によって課せら
れる実際の制限がない。
【０００８】各ピクセルがプロットされる際に、利用可
能な縦方向のピクセルの最大数でディスプレイにすべて
のピクセル情報をフルに表示するようにグラフィック的
プロットの縦方向のスケールが必要であれば調整され
る。自動的な縦方向のスケーリングによって、ピクセル
情報がディスプレイに同じスケールで表示され、かつ縦
方向のスケールを調整するためにマニュアルで介入する
ことなく常にオペレータがそれを見ることができること
が確実となる。
【０００９】完全な掃引が終わる際にトレースの最後の
ピクセルに達すると、時間スケールが前の掃引の２倍に
される。まず、前に集められ、波形メモリに記憶された
ピクセル情報が、利用可能な波形メモリ全体の前半に圧
縮される。各メモリ位置は、特定のピクセルにマッピン
グする情報を含む。次に、波形メモリの後半の新たに空
けられたメモリ位置を、新しいピクセル情報を表示する
のに利用できるが、前に得られてこの時点では圧縮され
ているピクセルの有効ピクセル速度に一致するように、
ピクセル速度はここで半分にされる。したがって、所与
の掃引において、それが現在得られたものであろうと、
圧縮されたものであろうと、ピクセルを計算するのに用
いられる測定データ点の数は一定のままであり、これに
よって連続して得られた測定データが、増大する一方の
測定時間にわたって自動的に適合され、一方で各ピクセ
ルについての同じ時間スケールを維持してオペレータに
とって有用である収集された測定値の時間的に連続した
表示を与えることができる。
【００１０】圧縮プロセスにおいていかなる情報も失わ
れず、測定値から集められた最小、最大および平均値情
報を各ピクセルが含む。２つの隣接するピクセルが１つ
に圧縮されるため、２つの最小値のうちの最小値と２つ
の最大値のうちの最大値とが新しいピクセルの組合され
た最小値および最大値となる。同様に、２つのピクセル
の平均値の平均がとられ、これが組合された平均値とな
る。このようにピクセル情報を圧縮することによって、
個々のピクセルの最小値、最大値および平均値を計算す
る前にまず２つのピクセルを組合せた場合に測定データ
から計算されるのと全く同じ最小値、最大値および平均
値をもたらす。認められるように、圧縮されたピクセル
に含まれる情報は、計算の際に表わされる測定値の数お
よび情報の処理結果の両方の点で現在得られたピクセル
のそれと等しい。
【００１１】本発明のある目的は、無限の長さの測定期
間に適応する自動時間スケーリングを有する、連続的に
得られた測定データを表示するための方法を提供するこ
とである。
【００１２】本発明の別の目的は、圧縮されたピクセル
と新しく得られたピクセルとの間の一定の時間スケール
を維持しながら、前に得られたピクセルを圧縮して新し
く得られた測定データのためにピクセルを空ける、連続
的に得られた測定データを表示するための方法を提供す
ることである。
【００１３】本発明のさらに別の目的は、情報の有効性
を保持し、ディスプレイにおける各ピクセルについての
一定の数の測定値を維持する態様で、前に得られたピク
セル情報を圧縮する、連続的に得られた測定データを表
示するための方法を提供することである。
【００１４】他の特徴、効果および利点は、添付の図面
に関連して以下の説明を読むことによって当業者には明
らかになるであろう。
【００１５】
【実施例の詳細な説明】ここで図１を参照して、入力信
号情報を測定し、収集し、かつ表示するように適合され
た測定装置５の簡略化されたブロック図が示される。入
力信号は入力端子１０に結合され、これがアナログ−デ
ジタルコンバータ（ＡＤＣ）１２に結合され、ＡＤＣ１
２は、そのサンプルクロック入力に結合されるサンプル
クロック１４に応答して入力信号の電圧レベルをデジタ
ル測定値に変換する。一般には電圧信号である入力信号
は、圧力、温度、速度、加速度、または長期的な傾向お
よび短期的な安定性に関して分析される必要のある他の
種々の物理的現象の何らかのものから導出され得る。周
波数カウンタ装置からの時間または周波数データ等の他
の測定データ源も、本発明には同様に適切である。ＡＤ
Ｃ１２からの測定データはマイクロプロセッサ１６に結
合され、これが測定データをピクセル情報に直接変換
し、この情報は、計算されている現在のピクセルに関す
る測定情報を含むピクセルレジスタ１８に記憶される。
そのピクセル期間と関連する既知の時間期間にわたって
連続的に得られた一連の測定値から集められた入力信号
の種々の測定情報を含む個々のメモリ位置とピクセルが
対応する。本発明は、ピクセル情報のすべての測定値の
最小測定値、最大測定値、および平均値を含む。
【００１６】デジタル測定値は、一般にユーザが制御で
きるサンプルクロック１４によって支配されるサンプル
速度でマイクロプロセッサ１６に達する。各測定値がマ
イクロプロセッサ１６によって受取られると、マイクロ
プロセッサ１６は測定値をピクセルレジスタ１８内に記
憶された最小値および最大値と比較する。測定値が記憶
された最小値を下回るか、または記憶された最大値を上
回れば、マイクロプロセッサ１６はそれぞれの記憶され
た値を測定値と代える。好ましい実施例においては、サ
ンプルクロック１４は一般に一定であるが、マイクロプ
ロセッサ１６に対する負荷等の種々のシステムの制約の
ために、サンプル間の時間における小さな変動を受け
る。平均値は以下の式によって計算される。
【００１７】
【数１】
【００１８】ここで経過したピクセル時間は、古い平均
値を計算するのにかかった全時間であり、ｔは前回の測
定から経過した時間である。古い平均値、経過したピク
セル時間および前回の測定からの経過時間はピクセルレ
ジスタ内に保持される。ピクセル情報が波形メモリ２０
に送られるべきである場合には、上の式を用いて新しい
平均値が計算される。この式は、サンプル間の時間ｔに
おける変動を考慮に入れた重みづけ平均関数である。こ
の代わりに、ｔが常に一定である場合には、より単純な
式を用いて新しい平均値を計算してもよい。
【００１９】
【数２】
【００２０】各測定値が到達すると、前に測定された値
のすべてと加えられ、この和がピクセルレジスタ１８に
記憶される。ここまで累積された測定値の数が増分さ
れ、ピクセルレジスタ１８に記憶される。このように、
測定値の平均値がいかなる時点においても測定値の和を
測定値の数で割ることによって計算され得る。各測定値
をすぐに処理することによって、後で分析するために別
個のメモリに各測定値を記憶する負担およびコストがな
くなる。ピクセル速度でピクセルレジスタ１８の内容が
計算され、ピクセル情報に変えられ、次にマイクロプロ
セッサ１６によって波形メモリ２０に転送される。ピク
セルレジスタ１８および波形メモリ２０は同じ物理メモ
リ内にあってもよいが、別のアドレスにある。ディスプ
レイ２２は波形メモリ２０内に記憶された値を読出し、
この値を対応するグラフィック表示に変換する。ディス
プレイ２２はいかなる形態の従来のコンピュータディス
プレイを含んでもよく、メモリに記憶されたデータを表
示するのに当該分野では周知である種々のグラフィング
およびプロッティングルーチンを用いてもよい。ディス
プレイ２２は、その独自のマイクロプロセッサを備えた
自蔵サブシステムを含んでもよく、または単に、当該分
野では周知であるグラフィックアルゴリズムおよびマイ
クロプロセッサ１６に依存する基本的な表示装置であっ
てもよいことが明らかになるであろう。
【００２１】ここで図２を参照して、連続する掃引のピ
クセル速度間の関係を示すタイミング図が図示される。
ピクセル速度は、現在の掃引数を追跡することによって
示されるようにタイミング信号を発生するファームウェ
ア内の内部タイミングルーチンを含むマイクロプロセッ
サ１６によって発生される。サンプルクロックは、所望
であればピクセル速度に依存しない速度で動作できる
が、ピクセル速度とサンプル速度との同期化が望ましい
かもしれない。サンプル速度とピクセル速度とが非同期
的に動作すれば、任意の特定のピクセルに関する測定デ
ータ点の数は、プラスマイナス１の不確実さを有する。
たとえば、第１のピクセルは３０１の集められたデータ
点を用いて計算され、その後のピクセルは２９９の集め
られたデータ点でだけ計算され得る。ピクセル速度を時
間決めするための別個のクロック回路を用いてもよい。
好ましい実施例では、サンプル速度はピクセル速度と同
期して動作するようにされ、プラスマイナス１の不確実
さがないようにしている。これは第１の掃引がピクセル
あたり２つの測定値しか伴わないためである。第１の掃
引が終わると、ピクセル速度は新しいピクセル速度をも
たらすように第２の掃引に関するものとなり、ピクセル
情報をもたらすように処理されている測定値が２倍にな
る。ピクセルあたりの測定値の数は連続する掃引の各々
について２倍になり続け、したがって有効時間スケール
も各掃引ごとに２倍になる。好ましい実施例のサンプリ
ング速度は１秒あたり４測定である。ピクセル速度は、
第１の掃引では総時間１２０秒において１秒あたり２ピ
クセルである。第２の掃引は合計２４０秒であり、第３
の掃引は合計４８０秒となり、以下同様である。第１の
掃引では各ピクセルについて２つの測定値が用いられ、
第２の掃引では４つの測定値、第３の掃引では８つの測
定値が用いられ、以下同様である。
【００２２】ここで図３を参照して、波形メモリ２０の
内容に応答してディスプレイ２２に現れるようなシミュ
レーションされた波形ディスプレイが示され、これは本
発明を４つの連続する掃引にわたる動作で示したもので
ある。簡単にするために平均値等のピクセル情報のタイ
プを１つだけプロットした単一のトレースが示される
が、最大値および最小値等の複数のトレースも含まれ得
る。第１の掃引は測定時間０ないしＴまで続けられる。
測定がＴから２Ｔまで続けられる際に、ディスプレイ
は、より長い時間に適合するように０ないし２Ｔの水平
時間スケールに調整される。このために、まず、第１の
期間Ｔにわたって集められたピクセル情報をディスプレ
イの前半のピクセルに圧縮する。次に、ピクセル速度が
半分にされ、ピクセル情報が蓄積され続け、ディスプレ
イの中間点から開始する自由ピクセルにプロットされ
る。測定が２Ｔから４Ｔまで続けられるにあたって、デ
ィスプレイが再び、同様の態様で０ないし４Ｔ水平時間
スケールに調整される。第１および第２の掃引で得られ
たピクセル情報はこのように保存されるが、時間分解能
の損失がこれに付随する。測定が４Ｔから８Ｔにまで続
けられるにあたって、ディスプレイには前回と同様に再
び調整される。このように、本発明に従う、連続して得
られた測定値を表示する方法は、無限の測定時間期間に
わたって動作できる。
【００２３】ここで図４を参照して、図１に示される波
形メモリ２０に記憶されるピクセル情報に関連する圧縮
プロセスの簡略化された流れ図が示される。波形メモリ
２０の各位置は、ディスプレイ２２にプロットされるピ
クセルに対応する。圧縮率は、古いピクセルの数対新し
く圧縮されたピクセルの数の割合である。２対１の圧縮
率とは、ある数のピクセルで表示されるピクセル情報が
半分の数のピクセルに圧縮され、残りの半分は新しく得
られたピクセル情報を表示するために用いられ得る空け
られたピクセルとなることを意味している。ピクセルの
圧縮は、波形メモリ２０に記憶されたピクセル情報に関
連する数学的な動作である。ピクセルをディスプレイの
前半に圧縮するには、ピクセル１および２、３および
４、５および６等の隣接するピクセルに含まれるピクセ
ル情報を「圧縮」と示される動作２２で組合せることを
伴う。もとのｎのピクセル情報がｎ／２のピクセルに圧
縮されるまで、動作２２は複数回行なわれる。動作２２
はマイクロプロセッサ１６によって行なわれ、新しく圧
縮されたピクセル情報を記憶するのに同じメモリ２０が
用いられ得る。圧縮された情報の有効性を維持しながら
圧縮を行なうという動作２２の性質は、圧縮されている
ピクセル情報のタイプに依存する。好ましい実施例で
は、マイクロプロセッサ１６は各ピクセルについて波形
メモリ２０に記憶された最大値を比較し、その最も大き
なものを選択して、これが第１のピクセルのメモリ位置
に記憶される。同様に、マイクロプロセッサ１６は、各
ピクセルについて波形メモリ２０に記憶された最小値を
比較し、その最小のものを選択して、これを第１のピク
セルのメモリ位置に記憶する。最後に、マイクロプロセ
ッサ１６は、各ピクセルについて波形メモリ２０内に記
憶された２つの平均値の平均をとり、組合された平均値
を第１のピクセルのメモリ位置に記憶する。動作２２は
情報が計算される態様に影響を及ぼすものではないの
で、圧縮された情報は有効なままである。たとえば、２
つの最大値のうちの最大値をとることは、介在する圧縮
動作の数にかかわらず、所与の組の測定値に関して同じ
結果をもたらす。
【００２４】ピクセル３および４からの圧縮されたピク
セル情報はピクセル２に対応するメモリ位置に記憶され
るという具合に、ｎのピクセルがｎ／２のピクセルに圧
縮されるまでこれが続けられる。簡単にするために、ｎ
は偶数であると仮定する。波形メモリ２０内に含まれる
圧縮されたピクセル情報はこの時点でディスプレイ２２
にプロットされている。新しく計算されるピクセル情報
は、ディスプレイの中間点から始まり、圧縮動作によっ
てもたらされた自由ピクセルを用いてプロットされ続け
る。新しく得られたピクセルのピクセル速度は、圧縮さ
れたピクセルの対応のピクセル速度に一致するように圧
縮率に従って低減される。圧縮率が２対１の場合には、
ピクセル速度は、圧縮動作の後新しく得られたピクセル
に対してその値の半分に低減される。
【００２５】ここで図５を参照して、最小値、最大値お
よび平均値が同時にプロットされ、ユーザに有用な情報
を与えるような典型的なディスプレイの出力が示され
る。縦軸は、測定情報の性質に依存する単位でピクセル
情報に関する測定値を表わす。横軸は時間の単位であ
り、時間スケールは経過した全測定時間の関数である。
ピクセルは左から右にプロットされ、最も右のピクセル
が最も最近に得られたものである。測定値の長期的な傾
向は、平均値のグラフを目視的に観ることによって表わ
される。任意のピクセル測定期間についての測定値の短
期的な安定性は、所与のピクセルの最大値および最小値
を観ることによって迅速に判断できる。最大値と最小値
とを結ぶ影部すなわちシェーディングは、「エンベロー
プ」を与え、これによってユーザは、所与のピクセルに
ついてエンベロープの幅を目視的に解釈することによっ
てデータの短期的な経時的安定性を素早く理解すること
ができる。振幅スケールは、可能な最大の縦方向のピク
セルの分解能ですべてのピクセル情報をフルに表示する
ように必要に応じて調整される。縦方向の振幅のスケー
リングのこのような技術は当該分野では周知である。好
ましい実施例では、２４０のピクセルからなるドットマ
トリックス液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）および、必要な
グラフィックプロット機能を行なうのに別個のマイクロ
プロセッサを必要とする関連のドライバ回路を含むディ
スプレイ２２を用いる。シェーディングは、全輝度およ
び半輝度文字の両方を与えるＬＣＤディスプレイを用い
て達成される。このようなシェーディングは、異なる色
またはシェーディングパターンの使用を含む、コントラ
スト形成の他の多くの方法によっても可能である。
【００２６】本発明の精神を逸脱することなく、その広
い局面において本発明の上述の好ましい実施例の詳細に
多くの変更が可能であることは当業者には明らかであろ
う。たとえば、２対１ではなく３対１等の他の圧縮率を
必要に応じて用いることができる。ピクセル情報は、ピ
クセル情報が圧縮される回数に関係なく実質的に有効な
ままで圧縮に適合しやすい他のタイプおよび関数を含ん
でもよい。その値のビジュアル表示を必要とするいかな
るタイプの連続的に得られるデータも、それがアナログ
源からであろうとデジタル源からであろうと、また物理
的な現象からのものであろうとなかろうと、この表示方
法から利点を受ける。したがって、本発明の範囲は前掲
の特許請求の範囲によって定められるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】典型的な測定システムの簡略化されたブロック
図である。
【図２】ピクセル速度およびサンプル速度の関係を示す
タイミング図である。
【図３】本発明に従う、連続的に得られた測定データを
表示するための方法を示した図である。
【図４】波形メモリ内で行なわれるような圧縮プロセス
を示した図である。
【図５】最小値、最大値および平均値をＬＣＤディスプ
レイに同時に表示する、本発明の商業的な実施例の図で
ある。
【符号の説明】
５ 測定装置 １０ 入力端子 １２ アナログ−デジタルコンバータ １４ サンプルクロック １６ マイクロプロセッサ １８ ピクセルレジスタ ２０ 波形メモリ ２２ ディスプレイ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−176698（ＪＰ，Ａ) 実開 平５−34517（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 13/20 G09G 5/00

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 固定数のピクセルを有するディスプレイ
    に、連続して得られた測定データを水平な時間スケール
    に沿って表示する方法であって、 （ａ） サンプル速度で得られる、前記連続して得られ
    た測定データからピクセル情報を計算するステップと、 （ｂ） 前記サンプル速度よりも小さいかまたは等しい
    ピクセル速度で前記水平時間スケールに沿って前記ディ
    スプレイの固定数のピクセルへ前記ピクセル情報をプロ
    ットし、 （ｃ） 前記水平時間スケールに沿う各掃引の終わり
    に、ディスプレイにプロットされているすべてのピクセ
    ル情報を、圧縮率に従って、前記固定数のピクセルの一
    部に圧縮し、これにより前記固定数のピクセルの残りの
    部分は、ピクセル情報がプロットされていない自由ピク
    セルとなりかつ圧縮されたピクセル情報は有効なまま残
    り、 （ｄ） 前記ピクセル速度を前記圧縮率に従って減少さ
    せ、 （ｅ） 前記減少されたピクセル速度で、水平時間スケ
    ールに沿って前記ディスプレイの前記自由ピクセルへ、
    さらに計算された前記ピクセル情報をプロットし、 （ｆ） 前記（ｃ）から（ｅ）のステップを繰返す、 方
    法。
  2. 【請求項２】 前記圧縮率が２対１である、請求項１に
    記載の連続的に得られた測定データを表示する方法。
  3. 【請求項３】 前記ピクセル情報は最小値、最大値、お
    よび平均値を含む、請求項１に記載の連続して得られた
    測定データを表示する方法。
  4. 【請求項４】 前記最小値、前記最大値および前記平均
    値は前記ピクセル情報を圧縮した後も有効なままであ
    る、請求項３に記載の連続して得られた測定データを表
    示する方法。
  5. 【請求項５】 前記最小値、前記最大値および前記平均
    値はグラフィックディスプレイにプロットされる、請求
    項３に記載の連続して得られた測定データを表示する方
    法。
  6. 【請求項６】 固定数のピクセルを有するディスプレイ
    に、連続して得られた測定データを水平な時間スケール
    に沿って表示する方法であって、 （ａ） サンプル速度で得られる、前記連続して得られ
    た測定データからピクセル情報を計算し、 （ｂ） 前記サンプル速度よりも小さいかまたは等しい
    ピクセル速度で前記水平時間スケールに沿って前記ディ
    スプレイの固定数のピクセルへ前記ピクセル情報をプロ
    ットし、 （ｃ） 前記水平時間スケールに沿う各掃引の終わり
    に、ディスプレイにプロットされているすべてのピクセ
    ル情報を、圧縮率に従って前記固定数のピクセルの最初
    の半分に圧縮し、これにより前記固定数のピクセルの後
    半の半分は、ピクセル情報がプロットされていない自由
    ピクセルとなりかつ圧縮されたピクセル情報は有効なま
    ま残り、（ｄ） 前記ピクセル情報を半分だけ減少させ、 （ｅ） 前記半分に減少されたピクセル速度で、水平時
    間スケールに沿って前記ディスプレイの前記自由ピクセ
    ルへさらに計算された前記ピクセル情報をプロットし、 （ｆ） 前記（ｃ）から（ｅ）のステップを繰返す、 方
    法。
  7. 【請求項７】 前記ピクセル情報が最小値、最大値およ
    び平均値を含む、請求項６に記載の連続して得られた測
    定データを表示する方法。
  8. 【請求項８】 前記最小値、前記最大値および前記平均
    値は前記ピクセル情報を圧縮した後も有効なままである
    請求項７に記載の連続して得られた測定データを表示す
    る方法。
  9. 【請求項９】 前記最小値、前記最大値および前記平均
    値はグラフィックディスプレイにプロットされる、請求
    項７に記載の連続して得られた測定データを表示する方
    法。
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