JP2000187087A - 測定装置 - Google Patents
測定装置Info
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- JP2000187087A JP2000187087A JP10366452A JP36645298A JP2000187087A JP 2000187087 A JP2000187087 A JP 2000187087A JP 10366452 A JP10366452 A JP 10366452A JP 36645298 A JP36645298 A JP 36645298A JP 2000187087 A JP2000187087 A JP 2000187087A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 長いデータ観測において、統計値の変化を解
析できる測定装置を実現することを目的にする。 【解決手段】 本発明は、入力信号を入力し、入力信号
の時間測定を行う時間測定部と、ブロック数と、ブロッ
クのサンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔の
休止時間または休止イベント数とを設定するブロック設
定部と、このブロック設定部の設定に基づいて、時間測
定部の時間測定データを格納するメモリと、このメモリ
から時間測定データを入力し、ブロック毎の統計演算を
行う統計値演算部と、この統計演算部の演算結果を表示
する表示部とを有することを特徴とするものである。
析できる測定装置を実現することを目的にする。 【解決手段】 本発明は、入力信号を入力し、入力信号
の時間測定を行う時間測定部と、ブロック数と、ブロッ
クのサンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔の
休止時間または休止イベント数とを設定するブロック設
定部と、このブロック設定部の設定に基づいて、時間測
定部の時間測定データを格納するメモリと、このメモリ
から時間測定データを入力し、ブロック毎の統計演算を
行う統計値演算部と、この統計演算部の演算結果を表示
する表示部とを有することを特徴とするものである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、タイムイ
ンターバルアナライザ等の測定装置に関し、特に、長い
データ観測において、統計値の変化を解析できる測定装
置に関するものである。
ンターバルアナライザ等の測定装置に関し、特に、長い
データ観測において、統計値の変化を解析できる測定装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】タイムインターバルアナライザ等の測定
装置は、入力信号の時間測定を行っている。このような
装置を図５に示し、説明する。
装置は、入力信号の時間測定を行っている。このような
装置を図５に示し、説明する。
【０００３】図において、時間測定部１は、入力信号を
入力し時間測定を行う。この時間測定は、入力信号のパ
ルス幅の測定や、２入力信号の間隔の測定等を行う。ア
クイジションメモリ２は、時間測定部１からの時間測定
データを格納する。時間測定データは、Ｘ軸が測定開始
から測定時までの経過時間であるタイムスタンプデータ
と、Ｙ軸が入力信号のパルス幅または２入力信号の間隔
の時間データとからなる。演算条件設定部３は、例え
ば、キー等で、サンプルの全点と指定範囲の選択を行
う。統計演算部４は、演算条件設定部３の設定により、
統計値、例えば、平均値、最大値、最小値、ピーク−ピ
ーク、標準偏差、標準偏差／平均値等の演算を行う。表
示部５は、統計演算部４の演算結果を表示する。
入力し時間測定を行う。この時間測定は、入力信号のパ
ルス幅の測定や、２入力信号の間隔の測定等を行う。ア
クイジションメモリ２は、時間測定部１からの時間測定
データを格納する。時間測定データは、Ｘ軸が測定開始
から測定時までの経過時間であるタイムスタンプデータ
と、Ｙ軸が入力信号のパルス幅または２入力信号の間隔
の時間データとからなる。演算条件設定部３は、例え
ば、キー等で、サンプルの全点と指定範囲の選択を行
う。統計演算部４は、演算条件設定部３の設定により、
統計値、例えば、平均値、最大値、最小値、ピーク−ピ
ーク、標準偏差、標準偏差／平均値等の演算を行う。表
示部５は、統計演算部４の演算結果を表示する。
【０００４】このような装置の動作を以下に説明する。
図６は図５に示す装置の動作を示したフローチャートで
ある。図７は図５に示す装置の動作を説明する図であ
る。
図６は図５に示す装置の動作を示したフローチャートで
ある。図７は図５に示す装置の動作を説明する図であ
る。
【０００５】演算条件設定部３は、測定サンプル全点ま
たは指定範囲サンプル点を設定する。そして、時間測定
部１は、入力信号を入力し、時間測定データをアクイジ
ションメモリ２に格納する。統計演算部４は、演算条件
設定部３の設定により、サンプル全点または指定範囲サ
ンプル点の統計値を演算する。この演算結果を、表示部
５は表示する。
たは指定範囲サンプル点を設定する。そして、時間測定
部１は、入力信号を入力し、時間測定データをアクイジ
ションメモリ２に格納する。統計演算部４は、演算条件
設定部３の設定により、サンプル全点または指定範囲サ
ンプル点の統計値を演算する。この演算結果を、表示部
５は表示する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】このような装置では、
すべてのサンプリング点からの統計値か、その一部のみ
の統計値しか得られなかったため、長いデータ観測にお
いて、統計値の変化を解析することができなかった。
すべてのサンプリング点からの統計値か、その一部のみ
の統計値しか得られなかったため、長いデータ観測にお
いて、統計値の変化を解析することができなかった。
【０００７】そこで、本発明の目的は、長いデータ観測
において、統計値の変化を解析できる測定装置を実現す
ることにある。
において、統計値の変化を解析できる測定装置を実現す
ることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、入力信号を入
力し、入力信号の時間測定を行う時間測定部と、ブロッ
ク数と、ブロックのサンプル数またはサンプル時間と、
ブロック間隔の休止時間または休止イベント数とを設定
するブロック設定部と、このブロック設定部の設定に基
づいて、前記時間測定部の時間測定データを格納するメ
モリと、このメモリから時間測定データを入力し、ブロ
ック毎の統計演算を行う統計値演算部と、この統計演算
部の演算結果を表示する表示部とを有することを特徴と
するものである。
力し、入力信号の時間測定を行う時間測定部と、ブロッ
ク数と、ブロックのサンプル数またはサンプル時間と、
ブロック間隔の休止時間または休止イベント数とを設定
するブロック設定部と、このブロック設定部の設定に基
づいて、前記時間測定部の時間測定データを格納するメ
モリと、このメモリから時間測定データを入力し、ブロ
ック毎の統計演算を行う統計値演算部と、この統計演算
部の演算結果を表示する表示部とを有することを特徴と
するものである。
【０００９】このような本発明では、ブロック設定部
で、ブロック数と、ブロックのサンプル数またはサンプ
ル時間と、ブロック間隔の休止時間または休止イベント
を設定する。この設定により、時間測定部が測定する時
間測定データをメモリに格納する。このメモリから時間
測定データを入力し、統計演算部は、ブロック毎の統計
値を演算する。この演算結果を表示部は表示する。
で、ブロック数と、ブロックのサンプル数またはサンプ
ル時間と、ブロック間隔の休止時間または休止イベント
を設定する。この設定により、時間測定部が測定する時
間測定データをメモリに格納する。このメモリから時間
測定データを入力し、統計演算部は、ブロック毎の統計
値を演算する。この演算結果を表示部は表示する。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を説明す
る。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。図
において、ブロック設定部２１はキー等で、ブロック数
と、ブロックのサンプル数またはサンプル時間と、ブロ
ック間隔の休止時間または休止イベント数とを設定す
る。時間測定部２２は、ブロック設定部２１の設定、ま
たは、任意のサンプル数またはサンプル時間のブロック
を規定する外部信号に基づいて、入力信号を入力し、入
力信号の時間測定を行う。アクイジションメモリ２３
は、時間測定部２２からの時間測定データを格納する。
る。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。図
において、ブロック設定部２１はキー等で、ブロック数
と、ブロックのサンプル数またはサンプル時間と、ブロ
ック間隔の休止時間または休止イベント数とを設定す
る。時間測定部２２は、ブロック設定部２１の設定、ま
たは、任意のサンプル数またはサンプル時間のブロック
を規定する外部信号に基づいて、入力信号を入力し、入
力信号の時間測定を行う。アクイジションメモリ２３
は、時間測定部２２からの時間測定データを格納する。
【００１１】演算条件設定部２４はキー等で、所望範囲
（すべての範囲も含む）かブロックかの設定を行う。統
計演算部２５は、演算条件設定部２４の設定に基づい
て、アクイジションメモリ２３から時間測定データを入
力し、統計値の演算を行う。
（すべての範囲も含む）かブロックかの設定を行う。統
計演算部２５は、演算条件設定部２４の設定に基づい
て、アクイジションメモリ２３から時間測定データを入
力し、統計値の演算を行う。
【００１２】表示条件設定部２６はキー等で、演算条件
がブロック統計値の場合、表示するブロック統計値のブ
ロック番号を設定する。リードマーカ設定部２７はキー
等で、リードマーカを設定する。表示部２８は、表示条
件設定部２６のブロック番号により、統計演算部２５の
ブロック統計値を表示、または、所望範囲の統計値を表
示する。そして、表示部２８は、アクイジションメモリ
２３からの時間測定データを波形表示し、リードマーカ
設定部２７が設定するリードマーカの波形のブロック番
号を全測定時間データを解析して表示し、リードマーカ
の測定時間データを表示する。
がブロック統計値の場合、表示するブロック統計値のブ
ロック番号を設定する。リードマーカ設定部２７はキー
等で、リードマーカを設定する。表示部２８は、表示条
件設定部２６のブロック番号により、統計演算部２５の
ブロック統計値を表示、または、所望範囲の統計値を表
示する。そして、表示部２８は、アクイジションメモリ
２３からの時間測定データを波形表示し、リードマーカ
設定部２７が設定するリードマーカの波形のブロック番
号を全測定時間データを解析して表示し、リードマーカ
の測定時間データを表示する。
【００１３】このような装置の動作を以下で説明する。
図２は図１に示す装置の動作を示したフローチャートで
ある。図３は図１に示す装置の動作を説明する図であ
る。図４は図１に示す装置の表示例を示した図である。
図２は図１に示す装置の動作を示したフローチャートで
ある。図３は図１に示す装置の動作を説明する図であ
る。図４は図１に示す装置の表示例を示した図である。
【００１４】ブロック設定部２１は、ブロック数”５”
とブロックのサンプル数”６”とブロック間隔の休止時
間”１０ｕｓ”とを設定する。演算条件設定部２４は、
ブロック統計に設定する。そして、表示条件設定部２６
は、ブロック番号”２”を設定する。
とブロックのサンプル数”６”とブロック間隔の休止時
間”１０ｕｓ”とを設定する。演算条件設定部２４は、
ブロック統計に設定する。そして、表示条件設定部２６
は、ブロック番号”２”を設定する。
【００１５】時間測定部２２は、ブロック設定部２１の
設定により、入力信号を、サンプル数”６”だけサンプ
リングして、アクイジションメモリ２３に格納後、１０
ｕｓ休止し、再び、サンプル数”６”だけサンプリング
し、アクイジションメモリ２３に格納する。これを５ブ
ロック分繰返す。
設定により、入力信号を、サンプル数”６”だけサンプ
リングして、アクイジションメモリ２３に格納後、１０
ｕｓ休止し、再び、サンプル数”６”だけサンプリング
し、アクイジションメモリ２３に格納する。これを５ブ
ロック分繰返す。
【００１６】そして、統計演算部２５は、演算条件設定
部２４の設定により、アクイジションメモリ２３から時
間測定データを入力し、ブロック毎の統計値演算を行
う。
部２４の設定により、アクイジションメモリ２３から時
間測定データを入力し、ブロック毎の統計値演算を行
う。
【００１７】この統計値を、表示部２８は、条件設定部
２６により、ブロック番号”２”の統計値を表示すると
共に、アクイジションメモリ２３から時間測定データを
読み出し、波形表示する。
２６により、ブロック番号”２”の統計値を表示すると
共に、アクイジションメモリ２３から時間測定データを
読み出し、波形表示する。
【００１８】リードマーカ設定部２７が、リードマーカ
ａ，ｂを動かす。表示部２８は、リードマーカａ，ｂの
対応する波形のブロック番号”２”，”３”を、全時間
測定データを解析して表示し、リードマーカａ，ｂの時
間測定データ”×××××”，”×××××”とを表示
する。
ａ，ｂを動かす。表示部２８は、リードマーカａ，ｂの
対応する波形のブロック番号”２”，”３”を、全時間
測定データを解析して表示し、リードマーカａ，ｂの時
間測定データ”×××××”，”×××××”とを表示
する。
【００１９】また、演算条件部２４が、所望範囲、例え
ば、ブロック番号”２”，”３”で設定する。これによ
り、統計演算部２５は、ブロック番号”２”，”３”を
合わせた時間測定データで、統計値を演算する。この統
計値を表示部２８は、ブロック番号”２”，”３”と共
に表示する。
ば、ブロック番号”２”，”３”で設定する。これによ
り、統計演算部２５は、ブロック番号”２”，”３”を
合わせた時間測定データで、統計値を演算する。この統
計値を表示部２８は、ブロック番号”２”，”３”と共
に表示する。
【００２０】そして、ブロック設定部２１の代わりに、
外部信号を時間測定部２２に入力し、外部信号がハイレ
ベルのときに、時間測定部２２は、入力信号の時間測定
を行い、アクイジションメモリ２３に格納し、外部信号
がロウレベルのときに、測定を行わない。このような動
作を行い、図３に示されるようなブロックごとの時間測
定データをアクイジションメモリ２３に格納する。他の
動作は、ブロック設定部２１のときと同様の動作を行
う。
外部信号を時間測定部２２に入力し、外部信号がハイレ
ベルのときに、時間測定部２２は、入力信号の時間測定
を行い、アクイジションメモリ２３に格納し、外部信号
がロウレベルのときに、測定を行わない。このような動
作を行い、図３に示されるようなブロックごとの時間測
定データをアクイジションメモリ２３に格納する。他の
動作は、ブロック設定部２１のときと同様の動作を行
う。
【００２１】このように、ブロック設定部２１で、ブロ
ック数と、サンプル数またはサンプル時間と、ブロック
間隔の休止時間または休止イベント数とを設定し、時間
測定部２２で入力信号の時間測定を行い、統計演算部２
５でブロック毎の統計値を演算したので、長い時間のデ
ータ観測を行い、最初のブロック、途中のブロック、最
後のブロックというように、短周期の統計値変化の解析
ができる。これにより、例えば、ポリゴンスキャンミラ
ーを備えたモータの起動時の回転むらやジッタなどの統
計値の変化を知ることができる。また、休止時間または
休止イベント数を設定しているので、自由なブロック間
隔でブロックごとの時間測定を行い、統計値を求めるこ
とができる。
ック数と、サンプル数またはサンプル時間と、ブロック
間隔の休止時間または休止イベント数とを設定し、時間
測定部２２で入力信号の時間測定を行い、統計演算部２
５でブロック毎の統計値を演算したので、長い時間のデ
ータ観測を行い、最初のブロック、途中のブロック、最
後のブロックというように、短周期の統計値変化の解析
ができる。これにより、例えば、ポリゴンスキャンミラ
ーを備えたモータの起動時の回転むらやジッタなどの統
計値の変化を知ることができる。また、休止時間または
休止イベント数を設定しているので、自由なブロック間
隔でブロックごとの時間測定を行い、統計値を求めるこ
とができる。
【００２２】また、統計演算部２５が所定範囲の統計値
を演算するので、ブロックの統計値で、短周期ジッタを
解析し、所定範囲の統計値で長周期実態を解析できる。
を演算するので、ブロックの統計値で、短周期ジッタを
解析し、所定範囲の統計値で長周期実態を解析できる。
【００２３】そして、リードマーカ設定部２７により、
表示部に表示するリードマーカ２８を設定し、表示部２
８が時間測定データの波形表示と共に、リードマーカ
ａ，ｂに対応するブロックのブロック番号と測定時間デ
ータを表示するので、指定したブロックの生データの解
析を容易に行うことができる。
表示部に表示するリードマーカ２８を設定し、表示部２
８が時間測定データの波形表示と共に、リードマーカ
ａ，ｂに対応するブロックのブロック番号と測定時間デ
ータを表示するので、指定したブロックの生データの解
析を容易に行うことができる。
【００２４】さらに、外部信号に基づいて、時間測定デ
ータをアクイジションメモリ２３に格納したので、外部
装置に依存したブロック測定ができ、ブロック解析を行
うことができる。
ータをアクイジションメモリ２３に格納したので、外部
装置に依存したブロック測定ができ、ブロック解析を行
うことができる。
【００２５】なお、本発明はこれに限定されるものでは
なく以下のようなものでもよい。時間測定部２２が、ブ
ロック設定部２１からの設定により、アクイジションメ
モリ２３に格納する構成を示したが、アクイジションメ
モリ２３がブロック設定部２１からの設定により、時間
測定データを格納する構成でもよい。
なく以下のようなものでもよい。時間測定部２２が、ブ
ロック設定部２１からの設定により、アクイジションメ
モリ２３に格納する構成を示したが、アクイジションメ
モリ２３がブロック設定部２１からの設定により、時間
測定データを格納する構成でもよい。
【００２６】また、サンプル数と休止時間がブロック毎
で同じの構成を示したが、任意の構成でもよい。例え
ば、モータの起動時に、エンコーダからの信号を入力信
号とし、サンプル数を多く、休止時間を短くし、定常時
には、サンプル数を短く、休止時間を長くする。これに
より、過渡特性と、回転むらを同時に測定することがで
きる。このように、各種必要に応じた異なるブロックの
測定を行うことができる。
で同じの構成を示したが、任意の構成でもよい。例え
ば、モータの起動時に、エンコーダからの信号を入力信
号とし、サンプル数を多く、休止時間を短くし、定常時
には、サンプル数を短く、休止時間を長くする。これに
より、過渡特性と、回転むらを同時に測定することがで
きる。このように、各種必要に応じた異なるブロックの
測定を行うことができる。
【００２７】そして、表示部２８は、リードマーカａ，
ｂにより指定された波形のブロック番号とリードマーカ
が示す時間測定データとを表示する構成を示したが、ブ
ロック番号だけでもよい。すなわち、ブロック番号が分
かれば波形により解析が行える。
ｂにより指定された波形のブロック番号とリードマーカ
が示す時間測定データとを表示する構成を示したが、ブ
ロック番号だけでもよい。すなわち、ブロック番号が分
かれば波形により解析が行える。
【００２８】さらに、表示部２８が、リードマーカａ，
ｂが示す波形のブロック番号を、時間測定データから解
析して表示する構成を示したが、時間測定部２２が、ア
クイジションメモリ２３に格納するときに、ブロック番
号を付して時間測定データを格納する構成にし、表示部
２８は、この時間測定データに対応したブロック番号を
読み出して表示する構成にしてもよい。
ｂが示す波形のブロック番号を、時間測定データから解
析して表示する構成を示したが、時間測定部２２が、ア
クイジションメモリ２３に格納するときに、ブロック番
号を付して時間測定データを格納する構成にし、表示部
２８は、この時間測定データに対応したブロック番号を
読み出して表示する構成にしてもよい。
【００２９】
【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果があ
る。請求項１，２によれば、ブロック設定部で、ブロッ
ク数と、サンプル数またはサンプル時間と、ブロック間
隔の休止時間または休止イベント数とを設定し、時間測
定部で入力信号の時間測定を行い、統計演算部でブロッ
ク毎の統計値を演算したので、長い時間のデータ観測を
行い、統計値の変化の解析ができる。また、休止時間ま
たは休止イベント数を設定しているので、自由なブロッ
ク間隔でブロックごとの時間測定を行い、統計値を求め
ることができる。
る。請求項１，２によれば、ブロック設定部で、ブロッ
ク数と、サンプル数またはサンプル時間と、ブロック間
隔の休止時間または休止イベント数とを設定し、時間測
定部で入力信号の時間測定を行い、統計演算部でブロッ
ク毎の統計値を演算したので、長い時間のデータ観測を
行い、統計値の変化の解析ができる。また、休止時間ま
たは休止イベント数を設定しているので、自由なブロッ
ク間隔でブロックごとの時間測定を行い、統計値を求め
ることができる。
【００３０】請求項３によれば、外部信号に基づいて、
時間測定データをメモリに格納したので、外部装置に依
存したブロック測定ができ、ブロック解析を行うことが
できる。
時間測定データをメモリに格納したので、外部装置に依
存したブロック測定ができ、ブロック解析を行うことが
できる。
【００３１】請求項４によれば、統計演算部が所定範囲
の統計値を演算するので、ブロックの統計値で、短周期
ジッタを解析し、所定範囲の統計値で長周期ジッタを解
析できる。
の統計値を演算するので、ブロックの統計値で、短周期
ジッタを解析し、所定範囲の統計値で長周期ジッタを解
析できる。
【００３２】請求項５によれば、リードマーカ設定部に
より、表示部に表示するリードマーカを設定し、表示部
が時間測定データの波形表示と共に、リードマーカに対
応するブロックのブロック番号を表示するので、指定し
たブロックの生データの解析を容易に行うことができ
る。
より、表示部に表示するリードマーカを設定し、表示部
が時間測定データの波形表示と共に、リードマーカに対
応するブロックのブロック番号を表示するので、指定し
たブロックの生データの解析を容易に行うことができ
る。
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１に示す装置の動作を示したフローチャート
である。
である。
【図３】図１に示す装置の動作を説明する図である。
【図４】図１に示す装置の表示例を示した図である。
【図５】従来の測定装置の構成を示した図である。
【図６】図５に示す装置の動作を示したフローチャート
である。
である。
【図７】図５に示す装置の動作を説明する図である。
２１ ブロック設定部 ２２ 時間測定部 ２３ アクイジションメモリ ２５ 統計演算部 ２７ リードマーカ設定部 ２８ 表示部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０１Ｒ 29/02 Ｇ０１Ｒ 29/02 Ｌ
Claims (5)
- 【請求項１】 入力信号を入力し、入力信号の時間測定
を行う時間測定部と、 ブロック数と、ブロックのサンプル数またはサンプル時
間と、ブロック間隔の休止時間または休止イベント数と
を設定するブロック設定部と、 このブロック設定部の設定に基づいて、前記時間測定部
の時間測定データを格納するメモリと、 このメモリから時間測定データを入力し、ブロック毎の
統計演算を行う統計値演算部と、 この統計演算部の演算結果を表示する表示部とを有する
ことを特徴とする測定装置。 - 【請求項２】 ブロック設定部は、ブロックごとに、サ
ンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔ごとの休
止時間または休止イベント数とを設定することを特徴と
する請求項１記載の測定装置。 - 【請求項３】 入力信号を入力し、入力信号の時間測定
を行う時間測定部と、 任意のサンプル数またはサンプル時間のブロックを規定
する外部信号に基づいて、前記時間測定部の時間測定デ
ータを格納するメモリと、 このメモリから時間測定データを入力し、ブロック毎の
統計演算を行う統計値演算部と、 この統計演算部の演算結果を表示する表示部とを有する
ことを特徴とする測定装置。 - 【請求項４】 統計演算部は、メモリから所望範囲のサ
ンプリングの時間測定データを入力し、所望範囲の統計
値演算を行うことを特徴とする請求項１〜３記載の測定
装置。 - 【請求項５】 表示部は、メモリからの時間測定データ
を波形表示し、波形のブロック番号を表示することを特
徴とする請求項１〜４記載の測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36645298A JP3671413B2 (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | 測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36645298A JP3671413B2 (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | 測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000187087A true JP2000187087A (ja) | 2000-07-04 |
| JP3671413B2 JP3671413B2 (ja) | 2005-07-13 |
Family
ID=18486821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP36645298A Expired - Fee Related JP3671413B2 (ja) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | 測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3671413B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011196719A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Anritsu Corp | ジッタ試験装置及びジッタ試験方法 |
| JP2022003829A (ja) * | 2014-11-14 | 2022-01-11 | ケースレー・インスツルメンツ・エルエルシーKeithley Instruments, LLC | データ・サンプル生成方法 |
-
1998
- 1998-12-24 JP JP36645298A patent/JP3671413B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011196719A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Anritsu Corp | ジッタ試験装置及びジッタ試験方法 |
| JP2022003829A (ja) * | 2014-11-14 | 2022-01-11 | ケースレー・インスツルメンツ・エルエルシーKeithley Instruments, LLC | データ・サンプル生成方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3671413B2 (ja) | 2005-07-13 |
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