JP2011196719A - ジッタ試験装置及びジッタ試験方法 - Google Patents

Abstract

【課題】本発明は、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことのできるジッタ試験装置及びジッタ試験方法の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明のジッタ試験装置１０１は、入力信号Ｓのジッタ量を検出するジッタ量検出部１３と、ジッタ量検出部１３で検出されたジッタ量Ｊの特性を、演算する時間領域が重なるように所定時間Ｔ_Ｓずつ異なる開始時刻で演算する演算部１４と、を備える。演算部１４は、ジッタ量検出部１３で検出されたジッタ量Ｊのピークツーピーク値ＰＰを、開始時刻ごとに演算するジッタ量演算回路２１と、ジッタ量演算回路２１の演算するピークツーピーク値ＰＰが予め定められた一定値を超えた回数を検出し、検出した回数が予め定められた一定回数を超えたか否かを判定する比較回路２２と、を備える
【選択図】図１

Description

本発明は、通信ネットワークにおけるジッタを測定するジッタ試験装置及びジッタ試験方法に関し、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うためのジッタ試験装置及びジッタ試験方法に関する。

通信ネットワークにおけるジッタを測定するジッタ試験装置が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。特許文献１のジッタ試験装置は、直交信号生成部と、瞬時位相算出部と、差分値検出部と、差分値補正部と、オフセット成分除去部と、積算部と、ジッタ量検出部と、を備え、以下のように動作する。

直交信号生成部、瞬時位相算出部、差分値検出部は、被測定信号が直交変換された直交２信号から瞬時位相を所定範囲内で求める。差分値補正部、オフセット成分除去部及び積算部は、瞬時位相の差分値を検出し、この瞬時位相の差分値が所定範囲を超えた場合に、差分値からオフセット成分を除去し、このオフセット成分が除去された差分値を積算する。ジッタ量検出部は、積算部からの被測定信号のジッタ成分を求める。これにより、特許文献１のジッタ試験装置は、高い分解能と長時間測定とを両立させ、実質的に、最長測定時間を制限することなく、ジッタ測定を高精度に行うことを可能にしている。

一方で、ＳＤＨ（Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ Ｄｉｇｉｔａｌ Ｈｉｅｒａｒｃｈｙ）／ＳＯＮＥＴ（Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ Ｏｐｔｉｃａｌ ＮＥＴｗｏｒｋ）網のジッタ量の最大値を規定しているＩＴＵ−Ｔ勧告Ｇ．８２５において、ジッタ量は、６０秒以上の測定時間において観測されるピークツーピーク値（単位：ＵＩ_ｐｐ）で規定されている。一般に、ジッタ量は、ランダム雑音成分を含んでいるため、測定時間が長くなるほど、確率的に大きなピークのジッタが発生して、そのピークツーピーク値が大きくなる傾向にある。したがって、上記勧告のように、ジッタ量を評価する際には、測定条件を同一とするために、規定されている測定時間（例えば６０秒）で測定することが非常に重要になる。

ＷＯ２００５／０５０２３０

たとえ測定対象が同じで、測定時間が同じであっても、ジッタは回路内部で発生するランダム性雑音に起因している成分を含んでいるため、測定されるジッタ量の平均値や実効値は一定値に収束するものの、ピークツーピーク値は測定毎にばらついてしまう。特に、ピークツーピーク値のバラツキが、ジッタ量の合否判定値付近に分布している場合には、測定毎に合否判定値結果が異なってしまう問題がある。

この問題を解決するため、規定されている測定時間の測定を複数回行い、その全てで合格していれば、１回の測定に比べてより信頼性の高い試験結果が得られる。しかし、Ｎ回行うと、総測定時間はＮ倍になる問題がある。

そこで、本発明は、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことのできるジッタ試験装置及びジッタ試験方法の提供を目的とする。

上記目的を達成するために、本願発明のジッタ試験装置及びジッタ試験方法は、測定時間Ｔ_Ｍの測定をＮ回行うにあたり、測定時間Ｔ_Ｍをオーバーラップさせて行うことを特徴とする。

具体的には、本願発明のジッタ試験装置は、入力信号のジッタ量を検出するジッタ量検出部（１３）と、前記ジッタ量検出部で検出されたジッタ量の特性を、演算する時間領域が重なるように所定時間ずつ異なる開始時刻で演算する演算部（１４）と、を備える。

ジッタ量検出部及び演算部を備えるため、検出したジッタ量を用いて、測定時間Ｔ_Ｍにおけるジッタ量の特性の演算することができる。ここで、演算する時間領域が重なるため、Ｎ回のジッタ量の特性の演算を測定時間Ｔ_Ｍ×Ｎの時間よりも短い時間で行うことができるとともに、一定時間内に行えるジッタ量の特性の演算回数を増やすことができる。したがって、本願発明のジッタ試験装置は、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことができる。

本願発明のジッタ試験装置では、前記演算部は、前記ジッタ量検出部で検出されたジッタ量のピークツーピーク値を、前記開始時刻ごとに演算するジッタ量演算回路（２１）と、前記ジッタ量演算回路の演算するピークツーピーク値が予め定められた一定値を超えた回数を検出し、検出した回数が予め定められた一定回数を超えたか否かを判定する比較回路（２２）と、を備えていてもよい。
演算部は、ジッタ量演算回路を備えるため、各測定時間Ｔ_Ｍにおけるピークツーピーク値を算出することができる。演算部は、比較回路を備えるため、規格に適合しているか否かを判定することができる。したがって、本願発明のジッタ試験装置は、規格に適合しているか否かを、短時間かつ高い信頼性で判定することができる。

本願発明のジッタ試験装置では、前記比較回路が前記一定回数を超えたと判定した場合は不合格である旨を表示し、前記比較回路が前記一定回数以下であると判定した場合は合格である旨を表示する表示部（１５）をさらに備えてもよい。
表示部を備えるため、規格に適合してない場合には不合格である旨を表示し、規格に適合している場合には合格である旨を表示することができる。これにより、本願発明のジッタ試験装置は、規格に適合しているか否かの認識を容易にすることができる。

本願発明のジッタ試験装置では、前記比較回路は、前記ジッタ量演算回路の演算する複数のピークツーピーク値を用いて、ピークツーピーク値の最大値、最小値又は最大値と最小値の差を演算してもよい。
本発明により、演算部は、ピークツーピーク値のバラツキの幅を含めたより詳細なジッタ特性を演算することができる。

本願発明のジッタ試験装置では、前記ジッタ量演算回路は、前記ジッタ量検出部で検出されたジッタ量のピークツーピーク値を演算するピークツーピーク演算回路（３１−１〜３１−Ｎ）を、前記開始時刻ごとに備えてもよい。
本発明により、ジッタ量の特性をオーバーラップした測定時間で算出することができる。

本願発明のジッタ試験装置では、前記ジッタ量演算回路は、前記ジッタ量検出部で検出されたジッタ量のピーク値を前記所定時間ごとに検出して記憶回路（３３）に記録するピーク値検出回路（３２）と、前記記憶回路に記憶されているピーク値を用いて、前記開始時刻ごとのピークツーピーク値を演算するピーク値演算回路（３４）と、を備えてもよい。
本発明により、ジッタ量の特性を、オーバーラップした測定時間で算出することができる。また、１つのピーク値検出回路及びピーク値演算回路を用いてＮ回のジッタ量の特性を演算することができるため、ジッタ量演算回路の構成を簡単にすることができる。

具体的には、本願発明のジッタ試験方法は、入力信号のジッタ量を検出するジッタ量検出手順（Ｓ１０１）と、前記ジッタ量検出手順で検出したジッタ量の特性を、演算する時間領域が重なるように所定時間ずつ異なる開始時刻で演算する演算手順（Ｓ１０２）と、を順に有する。

ジッタ量検出手順及び演算手順を順に有するため、検出したジッタ量を用いて、測定時間Ｔ_Ｍにおけるジッタ量の特性の演算することができる。ここで、演算する時間領域が重なるため、Ｎ回のジッタ量の特性の演算を測定時間Ｔ_Ｍ×Ｎの時間よりも短い時間で行うことができるとともに、一定時間内に行えるジッタ量の特性の演算回数を増やすことができる。したがって、本願発明のジッタ試験方法は、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことができる。

本願発明のジッタ試験方法では、前記演算手順は、前記ジッタ量検出手順で検出したジッタ量のピークツーピーク値を、前記開始時刻ごとに演算するジッタ量演算手順（Ｓ２０１）と、前記ジッタ量演算手順で演算したピークツーピーク値が予め定められた一定値を超えた回数を検出し、検出した回数が予め定められた一定回数を超えたか否かを判定する比較手順（Ｓ２０２）と、を順に有する。
ジッタ量演算手順を有するため、各測定時間Ｔ_Ｍにおけるピークツーピーク値を算出することができる。比較手順を有するため、規格に適合しているか否かを判定することができる。したがって、本願発明のジッタ試験方法は、規格に適合しているか否かを、短時間かつ高い信頼性で判定することができる。

本願発明のジッタ試験方法では、前記比較手順において前記一定回数を超えたと判定した場合は不合格である旨を表示し、前記比較手順において前記一定回数以下であると判定した場合は合格である旨を表示する表示手順（Ｓ１０３）を、前記演算手順の後にさらに有してもよい。
表示手順を有するため、規格に適合してない場合には不合格である旨を表示し、規格に適合している場合には合格である旨を表示することができる。これにより、本願発明のジッタ試験方法は、規格に適合しているか否かの認識を容易にすることができる。

本願発明のジッタ試験方法では、前記比較手順において、前記ジッタ量演算手順で演算した複数のピークツーピーク値を用いて、ピークツーピーク値の最大値、最小値又は最大値と最小値の差を演算してもよい。
本発明により、演算手順において、ピークツーピーク値のバラツキの幅を含めたより詳細なジッタ特性を演算することができる。

本願発明のジッタ試験方法では、前記ジッタ量演算手順において、前記ジッタ量検出手順で検出したジッタ量を前記開始時刻ごとに分離し、分離したジッタ量のピークツーピーク値を、前記所定時間ずつ異なる前記開始時刻で演算してもよい。
本発明により、ジッタ量の特性を、オーバーラップした測定時間で算出することができる。

本願発明のジッタ試験方法では、前記ジッタ量演算手順において、前記ジッタ量検出手順で検出したジッタ量のピーク値を前記所定時間ごとに検出して記憶し、記録したピーク値を用いて、前記開始時刻ごとのピークツーピーク値を演算してもよい。
本発明により、ジッタ量の特性を、オーバーラップした測定時間で算出することができる。また、Ｎ回のジッタ量の特性の演算を共通の回路で演算することができるため、回路の構成を簡単にすることができる。

なお、上記各発明は、可能な限り組み合わせることができる。

本発明によれば、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことのできるジッタ試験装置及びジッタ試験方法を提供することができる。

本実施形態に係るジッタ試験装置の一例を示す。 本実施形態に係るジッタ試験方法の一例を示す。 ジッタ量の説明図であり、（ａ）は基準クロック信号Ｃｏを示し、（ｂ）は再生クロック信号Ｃｍを示し、（ｃ）はジッタ量Ｊを示す。 ジッタ量Ｊの特性の演算例を示す。 演算部１４の第１例を示す。 演算部１４の第２例を示す。 メモリ空間の一例を示す。

添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。

図１に、本実施形態に係るジッタ試験装置の一例を示す。ジッタ試験装置１０１は、光電変換部１１と、クロック再生部１２と、ジッタ量検出部１３と、演算部１４と、表示部１５と、を備え、入力信号Ｓのジッタを試験する。本実施形態では、一例として、入力信号Ｓが光信号である場合について説明する。

ジッタ試験装置１０１は、本実施形態に係るジッタ試験方法を実行する。図２に、本実施形態に係るジッタ試験方法の一例を示す。本実施形態に係るジッタ試験方法は、ジッタ量検出手順Ｓ１０１と、演算手順Ｓ１０２と、表示手順Ｓ１０３と、を順に有する。演算手順Ｓ１０２は、ジッタ量演算手順Ｓ２０１と、比較手順Ｓ２０２と、を順に有する。

図２に示すジッタ量検出手順Ｓ１０１では、入力信号Ｓのジッタ量を検出する。例えば、光電変換部１１は、入力信号Ｓを光電変換してデータ信号Ｄを出力する。クロック再生部１２は、データ信号Ｄからクロックを再生して再生クロック信号Ｃｍを出力する。ジッタ量検出部１３は、再生クロック信号Ｃｍのジッタ量Ｊを検出する。例えば、予め定められた一定周期の基準クロック信号Ｃｏが入力され、再生クロック信号Ｃｍと基準クロック信号Ｃｏのずれを検出する。これにより、ジッタ量検出部１３は、入力信号Ｓのジッタ量を検出する。

図３は、ジッタ量の説明図であり、（ａ）は基準クロック信号Ｃｏを示し、（ｂ）は再生クロック信号Ｃｍを示し、（ｃ）はジッタ量Ｊを示す。ジッタ量検出部１３は、基準クロック信号Ｃｏと再生クロック信号Ｃｍとの立ち上がり及び立ち下がりにおけるずれ量をジッタ量Ｊ_１，Ｊ_２，Ｊ_３，Ｊ_４，Ｊ_５，Ｊ_６として検出する。例えば、時刻ｔ_１において基準クロック信号Ｃｏと再生クロック信号Ｃｍとの立ち上がりが一致している場合、時刻ｔ_１におけるジッタ量Ｊ_１は０である。時刻ｔ_２において再生クロック信号Ｃｍの立下りは基準クロック信号Ｃｏの立下りよりも遅れている場合、時刻ｔ_２におけるジッタ量Ｊ_２は立下りのずれ量に応じた正の値となる。時刻ｔ_３において再生クロック信号Ｃｍの立ち上がりは基準クロック信号Ｃｏの立ち上がりよりも進んでいる場合、時刻ｔ_３におけるジッタ量Ｊ_３は立ち上がりのずれ量に応じた負の値となる。

図２に示す演算手順Ｓ１０２では、演算部１４は、ジッタ量検出手順Ｓ１０１で検出したジッタ量Ｊの特性を、演算する時間領域が重なるように所定時間ずつ異なる開始時刻で演算する。所定時間は、任意に定めることができるが、例えば規格によって定められている時間である。規格によって定められている時間は、例えば、ＩＴＵ−Ｔ勧告Ｇ．８２５における６０秒以上の測定時間がある。

演算部１４は、ジッタ量演算回路２１と、比較回路２２と、を備える。ジッタ量演算回路２１がジッタ量演算手順Ｓ２０１を実行し、比較回路２２が比較手順Ｓ２０２を実行する。図４に、ジッタ量Ｊの特性の演算例を示す。

ジッタ量演算手順Ｓ２０１では、ジッタ量演算回路２１は、ジッタ量検出部１３で検出されたジッタ量Ｊのピークツーピーク値ＰＰを、所定時間Ｔ_Ｓずつ異なる開始時刻ごとに演算する。開始時刻は、例えば、開始時刻Ｔ_１と、開始時刻Ｔ_１から所定時間Ｔ_Ｓ後の開始時刻Ｔ_２と、開始時刻Ｔ_２から所定時間Ｔ_Ｓ後の開始時刻Ｔ_３である。所定時間Ｔ_Ｓは、測定時間Ｔ_Ｍよりも短い時間であるが、全ての開始時刻の時間間隔が必ずしも測定時間Ｔ_Ｍよりも短くなくてもよい。

測定時間Ｔ_Ｍの演算を、所定時間Ｔ_Ｓずつ異なる開始時刻でＮ回行うにあたり、測定時間Ｔ_Ｍをオーバーラップさせて行うため、総測定時間はＴ_Ｓ×Ｎ＋Ｔ_Ｏとなる。ここで、Ｔ_Ｏはオーバーラップする時間であり、Ｔ_Ｏ＝Ｔ_Ｍ−Ｔ_Ｓの関係を持ち、Ｔ_Ｏ＝０であれば総測定時間はＴ_Ｍ×Ｎとなる。Ｔ_Ｍ＝６０秒、Ｔ_Ｏ＝３０秒、Ｎ＝１０の場合、総測定時間は３３０秒となるため、オーバーラップさせない場合の約半分の測定時間でよい。

これは換言すれば、同じ総測定時間ならば、オーバーラップする時間Ｔ_Ｏが大きい方が、演算回数Ｎが大きくなり、測定の信頼性を増すことができる。例えば、ピークＰ_Ａのジッタ量が−０．０２であり、ピークＰ_Ｂのジッタ量が０．１であり、ピークＰ_Ｃのジッタ量が０．０５であり、ピークＰ_Ｄのジッタ量が−０．１である場合を考える。この場合、時刻Ｔ_１から時刻Ｔ_３の間のピークツーピーク値は０．１２ＵＩ_ＰＰであり、時刻Ｔ_３から時刻Ｔ_５の間のピークツーピーク値は０．１５ＵＩ_ＰＰである。

一方、測定時間Ｔ_Ｍをオーバーラップさせた場合、時刻Ｔ_２から時刻Ｔ_４の間のピークツーピーク値を求めることができる。これにより、時刻Ｔ_１から時刻Ｔ_５の間に、ピークツーピーク値が０．２ＵＩ_ＰＰとなることを判定することができる。このように、オーバーラップする時間Ｔ_Ｏが大きい方が、同じ総測定時間であっても、演算回数Ｎが増え、測定時間Ｔ_Ｍに起こりうるピークツーピーク値ＰＰを数多く得ることができる。

図２に示す比較手順Ｓ２０２では、比較回路２２は、ジッタ量演算回路２１の演算するピークツーピーク値ＰＰが予め定められた一定値を超えた回数を検出し、検出した回数が予め定められた一定回数を超えたか否かを判定する。例えば、図４に示すジッタ量Ｊの特性において一定値が０．１５ＵＩ_ＰＰである場合、比較回路２２は、０．１５ＵＩ_ＰＰを超えた回数１を検出する。そして、一定回数が２回であれば、比較回路２２は、０．１５ＵＩ_ＰＰを超えた回数１が一定回数２を超えていないと判定する。一定値を超えた回数が一定回数を超えたと比較回路２２が判定することで、入力信号Ｓの信号源が不合格品である旨を判定することができる。

比較回路２２は、ジッタ量演算回路２１の演算するピークツーピーク値ＰＰが予め定められた一定値以下である回数を検出し、検出した回数が予め定められた一定回数を超えたか否かを判定してもよい。例えば、図４に示すジッタ量Ｊの特性において一定値が０．１５ＵＩ_ＰＰである場合、比較回路２２は、０．１５ＵＩ_ＰＰ以下である回数２を検出する。そして、一定回数が２回であれば、比較回路２２は、０．１５ＵＩ_ＰＰ以下である回数２が一定回数２を超えていないと判定する。一定値以下である回数が一定回数を超えたと比較回路２２が判定することで、入力信号Ｓの信号源が合格品である旨を判定することができる。

比較手順Ｓ２０２において、比較回路２２は、ジッタ量演算手順Ｓ２０１で演算したＮ個のピークツーピーク値ＰＰを用いて、ピークツーピーク値ＰＰの最大値、最小値又は最大値と最小値の差を演算してもよい。例えば、図４に示すジッタ量Ｊの特性であれば、比較回路２２は、ピークツーピーク値ＰＰの最大値０．２ＵＩ_ＰＰを求め、ピークツーピーク値ＰＰの最小値０．１２ＵＩ_ＰＰを求め、ピークツーピーク値ＰＰの最大値と最小値の差０．０８を求める。この差は、Ｎ回の演算で得られるピークツーピーク値ＰＰのバラツキの幅を表している。

図２に示す表示手順Ｓ１０３では、表示部１５が、演算部１４の演算結果Ｒを表示する。例えば、比較回路２２がジッタ量演算回路２１の演算するピークツーピーク値ＰＰが予め定められた一定値を超えた回数を検出するとき、比較回路２２が一定回数を超えたと判定した場合は不合格である旨を表示し、比較回路２２が一定回数以下であると判定した場合は合格である旨を表示する。

比較回路２２がジッタ量演算回路２１の演算するピークツーピーク値ＰＰが予め定められた一定値以下である回数を検出するとき、比較回路２２が一定回数を超えたと判定した場合は合格である旨を表示してもよい。また、ピークツーピーク値ＰＰの最大値、最小値又は最大値と最小値の差を表示してもよい。

図５に、演算部１４の第１例を示す。演算部１４の第１例は、図１に示すジッタ量演算回路２１は、演算回数Ｎに等しいＮ個のピークツーピーク演算回路３１−１〜３１−Ｎを備える。例えば、図４に示すジッタ量Ｊの特性であれば、Ｎ＝３であることから、ピークツーピーク演算回路３１−１，３１−２，３１−３を備える。

この場合、図２に示すジッタ量演算手順Ｓ２０１では、ジッタ量検出手順Ｓ１０１で検出したジッタ量Ｊを開始時刻ごとに分離し、Ｎ個のピークツーピーク演算回路３１−１〜３１−３は、測定イネーブル信号が所定時間Ｔ_Ｓずつずらして入力され、分離したジッタ量Ｊのピークツーピーク値ＰＰ−１，ＰＰ−２，・・・ＰＰ−Ｎを、所定時間Ｔ_Ｓずつ異なる開始時刻で演算する。

ピークツーピーク演算回路３１−１は、分離したジッタ量Ｊのピークツーピーク値を、時刻Ｔ_１から測定時間Ｔ_Ｍの間測定する。これにより、図４に示すジッタ量Ｊの特性であれば、ピーク値Ｐ_Ａとピーク値Ｐ_Ｂのピークツーピーク値ＰＰ−１が得られる。ピークツーピーク値ＰＰ−１は、例えば、０．１２ＵＩ_ＰＰである。

ピークツーピーク演算回路３１−２は、分離したジッタ量Ｊのピークツーピーク値を、時刻Ｔ_２から測定時間Ｔ_Ｍの間測定する。これにより、図４に示すジッタ量Ｊの特性であれば、ピーク値Ｐ_Ｂとピーク値Ｐ_Ｄのピークツーピーク値ＰＰ−２が得られる。ピークツーピーク値ＰＰ−２は、例えば、０．２ＵＩ_ＰＰである。

ピークツーピーク演算回路３１−Ｎは、分離したジッタ量Ｊのピークツーピーク値を、時刻Ｔ_Ｎから測定時間Ｔ_Ｍの間測定する。これにより、図４に示すジッタ量Ｊの特性であれば、ピーク値Ｐ_Ｃとピーク値Ｐ_Ｄのピークツーピーク値ＰＰ−３が得られる。ピークツーピーク値ＰＰ−３は、例えば、０．１５ＵＩ_ＰＰである。

図６に、演算部１４の第２例を示す。演算部１４の第２例は、図１に示すジッタ量演算回路２１が、ピーク値検出回路３２と、記憶回路３３と、ピーク値演算回路３４と、を備える。この場合、図２に示すジッタ量演算手順Ｓ２０１では、ピーク値検出回路３２は、ジッタ量検出部１３で検出されたジッタ量Ｊのピーク値を所定時間Ｔ_Ｓごとに検出して記憶回路３３に記録する。次に、ピーク値演算回路３４は、記憶回路３３に記憶されているピーク値を用いて、開始時刻ごとのピークツーピーク値ＰＰ−１，ＰＰ−２，・・・ＰＰ−Ｎを演算する。

例えば、総測定時間Ｓが１２０秒、測定時間Ｔ_Ｍが６０秒、オーバーラップ時間Ｔ_Ｏが３０秒の場合、記憶回路３３は、１２０／３０＝４個のメモリ空間を生成する。図７に、メモリ空間の一例を示す。アドレス０には、時刻Ｔ_１から時刻Ｔ_２におけるプラスピーク値ｐ（０）及びマイナスピーク値ｑ（０）が格納される。アドレス１には、時刻Ｔ_２から時刻Ｔ_３におけるプラスピーク値ｐ（１）及びマイナスピーク値ｑ（１）が格納される。アドレス２には、時刻Ｔ_３から時刻Ｔ_４におけるプラスピーク値ｐ（２）及びマイナスピーク値ｑ（２）が格納される。アドレス３には、時刻Ｔ_４から時刻Ｔ_５におけるプラスピーク値ｐ（３）及びマイナスピーク値ｑ（３）が格納される。

この場合、ピーク値検出回路３２は、時刻Ｔ_１から所定時間Ｔ_２の間のプラスピーク値ｐ（０）及びマイナスピーク値ｑ（０）を測定して記憶回路３３のアドレス０に記憶する。ピーク値検出回路３２は、時刻Ｔ_２から所定時間Ｔ_３の間のプラスピーク値ｐ（１）及びマイナスピーク値ｑ（１）を測定して記憶回路３３のアドレス１に記憶する。ピーク値検出回路３２は、時刻Ｔ_３から所定時間Ｔ_４の間のプラスピーク値ｐ（２）及びマイナスピーク値ｑ（２）を測定して記憶回路３３のアドレス２に記憶する。ピーク値検出回路３２は、時刻Ｔ_３から所定時間Ｔ_４の間のプラスピーク値ｐ（３）及びマイナスピーク値ｑ（３）を測定して記憶回路３３のアドレス３に記憶する。

ピーク値演算回路３４は、記憶回路３３のアドレス０からプラスピーク値ｐ（０）及びマイナスピーク値ｑ（０）を読み出し、記憶回路３３のアドレス１からプラスピーク値ｐ（１）及びマイナスピーク値ｑ（１）を読み出して、時刻Ｔ_１から測定時間Ｔ_Ｍの間のピークツーピーク値ＰＰ−１を演算する。すなわち、プラスピーク値ｐ（０）とプラスピーク値ｐ（１）を比較してより大きいプラスピーク値を求め、マイナスピーク値ｑ（０）とマイナスピーク値ｑ（１）を比較してより大きいマイナスピーク値ｑを求めることで、ピークツーピーク値ＰＰ−１が得られる。これにより、図４に示すピーク値Ｐ_Ａとピーク値Ｐ_Ｂのピークツーピーク値である０．１２ＵＩ_ＰＰを得ることができる。

ピーク値演算回路３４は、記憶回路３３のアドレス１からプラスピーク値ｐ（１）及びマイナスピーク値ｑ（１）を読み出し、記憶回路３３のアドレス２からプラスピーク値ｐ（２）及びマイナスピーク値ｑ（２）を読み出して、時刻Ｔ_２から測定時間Ｔ_Ｍの間のピークツーピーク値ＰＰ−２を演算する。これにより、図４に示すピーク値Ｐ_Ｂとピーク値Ｐ_Ｄのピークツーピーク値である０．２ＵＩ_ＰＰを得ることができる。

ピーク値演算回路３４は、記憶回路３３のアドレス２からプラスピーク値ｐ（２）及びマイナスピーク値ｑ（２）を読み出し、記憶回路３３のアドレス３からプラスピーク値ｐ（３）及びマイナスピーク値ｑ（３）を読み出して、時刻Ｔ_３から測定時間Ｔ_Ｍの間のピークツーピーク値ＰＰ−３を演算する。これにより、図４に示すピーク値Ｐ_Ａとピーク値Ｐ_Ｂのピークツーピーク値である０．１５ＵＩ_ＰＰを得ることができる。

このように、演算部１４の第２例は、測定時間Ｔ_Ｍを区切ってプラスピーク値及びマイナスピーク値を記憶することで、各測定時間Ｔ_Ｍに共通のピーク値検出回路３２、記憶回路３３及びピーク値演算回路３４を用いてピークツーピーク値ＰＰ−１，ＰＰ−２，・・・ＰＰ−Ｎを求めることができる。

本発明は情報通信産業に適用することができる。

１１：光電変換部
１２：クロック再生部
１３：ジッタ量検出部
１４：演算部
１５：表示部
２１：ジッタ量演算回路
２２：比較回路
３１−１、３１−２、３１−Ｎ：ピークツーピーク演算回路
３２：ピーク値検出回路
３３：記憶回路
３４：ピーク値演算回路
１０１：ジッタ試験装置

Claims (12)

1. 入力信号のジッタ量を検出するジッタ量検出部（１３）と、
   前記ジッタ量検出部で検出されたジッタ量の特性を、演算する時間領域が重なるように所定時間ずつ異なる開始時刻で演算する演算部（１４）と、
   を備えるジッタ試験装置。
2. 前記演算部は、
   前記ジッタ量検出部で検出されたジッタ量のピークツーピーク値を、前記開始時刻ごとに演算するジッタ量演算回路（２１）と、
   前記ジッタ量演算回路の演算するピークツーピーク値が予め定められた一定値を超えた回数を検出し、検出した回数が予め定められた一定回数を超えたか否かを判定する比較回路（２２）と、
   を備えることを特徴とする請求項１に記載のジッタ試験装置。
3. 前記比較回路が前記一定回数を超えたと判定した場合は不合格である旨を表示し、前記比較回路が前記一定回数以下であると判定した場合は合格である旨を表示する表示部（１５）をさらに備える請求項２に記載のジッタ試験装置。
4. 前記比較回路は、前記ジッタ量演算回路の演算する複数のピークツーピーク値を用いて、ピークツーピーク値の最大値、最小値又は最大値と最小値の差を演算することを特徴とする請求項２又は３に記載のジッタ試験装置。
5. 前記ジッタ量演算回路は、前記ジッタ量検出部で検出されたジッタ量のピークツーピーク値を演算するピークツーピーク演算回路（３１−１〜３１−Ｎ）を、前記開始時刻ごとに備えることを特徴とする請求項２から４のいずれかに記載のジッタ試験装置。
6. 前記ジッタ量演算回路は、
   前記ジッタ量検出部で検出されたジッタ量のピーク値を前記所定時間ごとに検出して記憶回路（３３）に記録するピーク値検出回路（３２）と、
   前記記憶回路に記憶されているピーク値を用いて、前記開始時刻ごとのピークツーピーク値を演算するピーク値演算回路（３４）と、
   を備えることを特徴とする請求項２から４のいずれかに記載のジッタ試験装置。
7. 入力信号のジッタ量を検出するジッタ量検出手順（Ｓ１０１）と、
   前記ジッタ量検出手順で検出したジッタ量の特性を、演算する時間領域が重なるように所定時間ずつ異なる開始時刻で演算する演算手順（Ｓ１０２）と、
   を順に有するジッタ試験方法。
8. 前記演算手順は、
   前記ジッタ量検出手順で検出したジッタ量のピークツーピーク値を、前記開始時刻ごとに演算するジッタ量演算手順（Ｓ２０１）と、
   前記ジッタ量演算手順で演算したピークツーピーク値が予め定められた一定値を超えた回数を検出し、検出した回数が予め定められた一定回数を超えたか否かを判定する比較手順（Ｓ２０２）と、
   を順に有することを特徴とする請求項７に記載のジッタ試験方法。
9. 前記比較手順において前記一定回数を超えたと判定した場合は不合格である旨を表示し、前記比較手順において前記一定回数以下であると判定した場合は合格である旨を表示する表示手順（Ｓ１０３）を、前記演算手順の後にさらに有する請求項８に記載のジッタ試験方法。
10. 前記比較手順において、前記ジッタ量演算手順で演算した複数のピークツーピーク値を用いて、ピークツーピーク値の最大値、最小値又は最大値と最小値の差を演算することを特徴とする請求項８又は９に記載のジッタ試験方法。
11. 前記ジッタ量演算手順において、前記ジッタ量検出手順で検出したジッタ量を前記開始時刻ごとに分離し、分離したジッタ量のピークツーピーク値を、前記所定時間ずつ異なる前記開始時刻で演算することを特徴とする請求項８から１０のいずれかに記載のジッタ試験方法。
12. 前記ジッタ量演算手順において、前記ジッタ量検出手順で検出したジッタ量のピーク値を前記所定時間ごとに検出して記憶し、記録したピーク値を用いて、前記開始時刻ごとのピークツーピーク値を演算することを特徴とする請求項８から１０のいずれかに記載のジッタ試験方法。

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