JP5085105B2 - シグナル・アナライザ - Google Patents
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Description
KDF2=KDF1*FS1/FS2
第2周波数スパンFS2は、第1周波数スパンFS1に比べて狭いため、第2信号パスのデータ生成レートは第1信号パスと比較して低くなる。即ち、第2信号パスの間引き率KDF2は、第1信号パスのKDF1より高くなる。このとき、一般に間引き率が高いほど、間引きフィルタでの間引き処理に時間がかかるので、第2間引きフィルタ202が出力するデータは、時間的に対応する第1間引きフィルタ201の出力データに対して遅延する。そこで、第1信号パスに第1FIFO211が設けられ、これが第1及び第2間引きフィルタ間での間引き処理時間の差を補い、第1及び第2信号パス間の時間的に対応するデータが並行して夫々第1及び第2データ・メモリ221及び222に送られる。また、第2信号パスは、データ生成レートが低くなる分だけ長時間のデータを取得でき、結果として、周波数分解能を高くできる。なお、好適な実施例では、後述の如く、第2信号パスにも第2FIFO212が設けられる。
KDF2=KDF1*TS2/TS1
ここで、TS1及びTS2は、夫々第1及び第2時間解析範囲の第1及び第2時間スパンである。
14 アナログ・ダウン・コンバータ
16 アナログ・デジタル変換回路
181 第1デジタル・ダウン・コンバータ
182 第2デジタル・ダウン・コンバータ
201 第1間引きフィルタ
202 第2間引きフィルタ
211 第1FIFO
212 第2FIFO
30 パソコン・ブロック
32 CPU
34 操作パネル
36 表示装置
38 バス・ブリッジ
40 バス
42 メモリ(RAM)
44 ハード・ディスク・ドライブ
46 I/Oポート
48 マウス
49 外部キーボード
70 第2周波数解析範囲設定用カーソル
72 第2周波数解析範囲設定用カーソル
74 第2時間解析範囲設定用カーソル
76 第2時間解析範囲設定用カーソル
Claims (2)
- 被測定信号を周波数変換し、中間周波数信号を生成する周波数変換手段と、
上記中間周波数信号のデジタル・データである中間周波数デジタル・データを生成するアナログ・デジタル変換手段と、
第1周波数解析範囲及び該第1周波数解析範囲より狭い任意の範囲に設定可能な第2周波数解析範囲を設定するための解析範囲設定手段と、
上記第1周波数解析範囲に応じて上記中間周波数デジタル・データをデジタル的に周波数変換する第1デジタル周波数変換手段と、上記第1周波数解析範囲に応じた第1間引き率に従って上記第1デジタル周波数変換手段が出力する時間領域データを間引きすることにより第1時間領域データを生成する第1間引き手段とを有する第1信号パスと、
上記第2周波数解析範囲に応じて上記中間周波数デジタル・データをデジタル的に周波数変換する第2デジタル周波数変換手段と、上記第1周波数解析範囲と上記第2周波数解析範囲の比率に応じて上記第1間引き率より高く設定される第2間引き率に従って上記第2デジタル周波数変換手段が出力する時間領域データを間引きすることにより第2時間領域データを生成する第2間引き手段とを有する第2信号パスと、
上記第1時間領域データを遅延することにより、上記第1及び第2信号パス間における処理時間の差を補う遅延手段と、
上記第1及び第2時間領域データを並行して受けて、演算により第1及び第2周波数領域データを生成する演算手段と
を具えるシグナル・アナライザ。 - 上記解析範囲指定手段が、第1時間解析範囲及び該第1時間解析範囲より狭い任意の範囲を有する第2時間解析範囲を設定し、
上記第1及び第2デジタル周波数変換手段それぞれの第1及び第2局部発信周波数を同一に設定し、
上記第1信号パスが、設定された上記第1時間解析範囲に応じて設定される上記第1間引き率に従って被測定信号の第1時間領域データを生成し、
上記第2信号パスが、上記第2時間解析範囲に応じて設定される上記第1間引き率よりも低い上記第2間引き率に従って上記被測定信号の第2時間領域データを生成し、
上記遅延手段が、上記第2時間領域データを遅延することにより、上記第1及び第2信号パス間における処理時間の差を補うことを特徴とする請求項1記載シグナル・アナライザ。
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CN103901274A (zh) * | 2012-12-31 | 2014-07-02 | 特克特朗尼克公司 | 具有缩放显示的实时谱分析仪 |
US9553601B2 (en) * | 2013-08-21 | 2017-01-24 | Keysight Technologies, Inc. | Conversion of analog signal into multiple time-domain data streams corresponding to different portions of frequency spectrum and recombination of those streams into single-time domain stream |
CN103631582B (zh) * | 2013-11-06 | 2017-05-17 | 西安理邦科学仪器有限公司 | 基于wpf技术的绘制图形的方法及系统 |
JP6398699B2 (ja) * | 2014-12-24 | 2018-10-03 | アイコム株式会社 | スペクトラムアナライザおよびその表示制御方法 |
DE102016000254B3 (de) * | 2016-01-12 | 2017-01-12 | Oliver Bartels | Empfänger für Spektrumanalysatoren mit erhöhter Echtzeit-Bandbreite |
US10608916B2 (en) * | 2017-03-23 | 2020-03-31 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measuring device and method for dynamically selecting a channel bandwidth |
US10502764B2 (en) | 2018-01-05 | 2019-12-10 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Signal analyzing circuit and method for auto setting an oscilloscope |
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JP6541286B1 (ja) * | 2018-07-18 | 2019-07-10 | 八重洲無線株式会社 | 無線受信装置 |
CN109683018B (zh) * | 2018-12-24 | 2020-12-01 | 电子科技大学 | 一种实时多帧频域数据的并行处理方法 |
KR102240440B1 (ko) * | 2019-05-28 | 2021-04-15 | 주식회사 이노와이어리스 | 스펙트럼 분석기 및 그 제어 방법 |
JP2024041477A (ja) * | 2022-09-14 | 2024-03-27 | 株式会社荏原製作所 | データ処理装置、物理量計測装置、データ処理システム、及び、データ処理方法 |
CN117368571B (zh) * | 2023-12-08 | 2024-03-01 | 深圳市鼎阳科技股份有限公司 | 一种实时频谱分析仪及其数据处理方法 |
Family Cites Families (18)
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US5684507A (en) * | 1994-09-07 | 1997-11-04 | Fluke Corporation | Method of displaying continuously acquired data on a fixed length display |
JPH0980078A (ja) * | 1995-09-11 | 1997-03-28 | Yokogawa Electric Corp | ディジタルオシロスコープ |
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US6356067B1 (en) * | 1998-08-10 | 2002-03-12 | Sony/Tektronix Corporation | Wide band signal analyzer with wide band and narrow band signal processors |
JP3431544B2 (ja) * | 1998-08-10 | 2003-07-28 | テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー | 広帯域信号アナライザ |
KR20010006990A (ko) * | 1999-04-20 | 2001-01-26 | 윈켈만 존 디. | 디지털 오실로스코프용 연속 응답 및 예상 자동 셋업 기능 |
JP3773024B2 (ja) | 2000-03-23 | 2006-05-10 | 横河電機株式会社 | デジタルオシロスコープ |
JP2001272425A (ja) * | 2000-03-24 | 2001-10-05 | Advantest Corp | スペクトラムアナライザ |
US6947043B1 (en) * | 2000-03-27 | 2005-09-20 | Tektronix, Inc. | Method of operating an oscilloscope |
JP3433724B2 (ja) * | 2000-04-27 | 2003-08-04 | テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー | 信号アナライザ |
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JP2003215179A (ja) * | 2001-12-25 | 2003-07-30 | Tektronix Internatl Sales Gmbh | 周波数変換処理方法及び回路 |
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