JP2019189939A - 処理体収納装置と、処理体収納方法、及びこれを用いた蒸着方法 - Google Patents

処理体収納装置と、処理体収納方法、及びこれを用いた蒸着方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2019189939A
JP2019189939A JP2018221568A JP2018221568A JP2019189939A JP 2019189939 A JP2019189939 A JP 2019189939A JP 2018221568 A JP2018221568 A JP 2018221568A JP 2018221568 A JP2018221568 A JP 2018221568A JP 2019189939 A JP2019189939 A JP 2019189939A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
storage cassette
processing body
body storage
mask
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018221568A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6811760B2 (ja
Inventor
功康 佐藤
Kosuke Sato
功康 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Tokki Corp
Original Assignee
Canon Tokki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Tokki Corp filed Critical Canon Tokki Corp
Publication of JP2019189939A publication Critical patent/JP2019189939A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6811760B2 publication Critical patent/JP6811760B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67766Mechanical parts of transfer devices
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/24Vacuum evaporation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • C23C14/042Coating on selected surface areas, e.g. using masks using masks
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735Closed carriers
    • H01L21/67359Closed carriers specially adapted for containing masks, reticles or pellicles
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67742Mechanical parts of transfer devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67745Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber characterized by movements or sequence of movements of transfer devices
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/164Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using vacuum deposition
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/166Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using selective deposition, e.g. using a mask

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

【課題】収納装置内に収納されている処理前の処理体の汚染を防止することができ、あるいは、処理体の搬入・搬出をより容易に行うことができ、あるいは、処理体の収納可能枚数を増やす。【解決手段】本発明は、処理がなされる複数の処理体を収納する処理体収納方法であって、前記複数の処理体をそれぞれ多段式に複数収納可能な第1の処理体収納カセットと第2の処理体収納カセットを、前記第1の処理体収納カセットは上部に、前記第2の処理体収納カセットは前記第1の処理体収納カセットより下部に、それぞれ上下配置して設置し、前記第1の処理体収納カセットには、前記複数の処理体のうちの前記処理前の前記処理体を収納し、前記第2の処理体収納カセットには、前記複数の処理体のうちの前記処理後の前記処理体を収納することを特徴とする。【選択図】図3

Description

本発明は、マスクなどの処理体を収納する処理体収納装置と、同収納装置から処理体を搬出・搬入するための方法及びこれを用いた蒸着方法に関する。
最近、フラットパネル表示装置として有機EL表示装置が脚光を浴びている。有機EL表示装置は自発光ディスプレイであり、応答速度、視野角、薄型化などの特性が液晶パネルディスプレイより優れており、モニタ、テレビ、スマートフォンに代表される各種携帯端末などで既存の液晶パネルディスプレイを速いスピードで代替している。また、自動車用ディスプレイ等にも、その応用分野を広げている。
有機EL表示装置の素子は、2つの向かい合う電極(カソード電極、アノード電極)の間に発光を起こす有機物層が形成された基本構造を持つ。有機ELディスプレイ素子の有機物層と電極金属層は、真空チャンバー内で、画素パターンが形成されたマスクを介して基板に蒸着物質を蒸着することで製造される。
基板に対する蒸着(成膜)工程が繰り返し行われることにつれ、マスク上には蒸着材料の残留物が次第に付着されるので、所定枚数の基板の蒸着が終わったら、マスクを新しいマスクに交換する必要がある。このマスクの交換のため、通常、成膜室の隣には、蒸着処理に使用される前の新しいマスクと使用済みのマスクを収納する収納装置としてのマスクストック装置が設けられている。マスクストック装置へのマスクの搬入及び搬出は、搬送ロボットによって行われる。
本発明は、このようなマスクなどの処理体を多段式に収納する処理体収納装置の構造と、同収納装置から処理体を搬出・搬入するための方法を改善することによって、収納装置内での処理体の汚染を防止し、あるいは、処理体の搬出及び搬入をより容易に行い、あるいは処理体の収納可能枚数を増やすことができるようにすることを目的とする。
本発明の一態様による処理体収納方法は、処理がなされる複数の処理体を収納する処理体収納方法であって、前記複数の処理体をそれぞれ多段式に複数収納可能な第1の処理体収納カセットと第2の処理体収納カセットを、前記第1の処理体収納カセットは上部に、前記第2の処理体収納カセットは前記第1の処理体収納カセットより下部に、それぞれ配置し、前記第1の処理体収納カセットに、前記複数の処理体のうちの前記処理前の前記処理体を収納し、前記第2の処理体収納カセットに、前記複数の処理体のうちの前記処理後の前記処理体を収納することを特徴とする。
本発明の他の一態様による処理体搬出方法は、処理前の複数の処理体が多段式に収納可能な処理体収納カセットから、複数の処理体を搬出する処理体搬出方法であって、前記複数の処理体を、前記処理体収納カセットの最下段から上段に向かう順で搬出することを特徴とする。
本発明の他の一態様による処理体搬入方法は、処理後の複数の処理体が多段式に収納可能な処理体収納カセットに、複数の処理体を搬入する処理体搬入方法であって、前記複数の処理体を、前記処理体収納カセットの最上段から下段に向かう順で搬入することを特徴
とする。
本発明の他の一態様による処理体搬出入方法は、処理前の処理体が多段式に複数収納されている第1の処理体収納カセットから前記処理前の処理体を搬出し、処理後の処理体を多段式に収納可能な複数の収納部が備えられた第2の処理体収納カセットに前記処理後の処理体を搬入する、処理体搬出入方法であって、前記第1の処理体収納カセットに収納された前記処理前の処理体を、前記第1の処理体収納カセットの最下段に収納されている処理体から順次搬出し、前記処理後の処理体を、前記第2の処理体収納カセットの最上段から下段に向かう順で前記第2の処理体収納カセットへ順次搬入することを特徴とする。
本発明の他の一態様による蒸着方法は、処理室で基板の表面に蒸発源からの蒸着材料をマスクを介し堆積させて成膜を行う蒸着方法であって、前記処理体搬出入方法における前記処理体を前記マスクとし、前記処理体を用いて前記基板に対する前記蒸発源による蒸着を行うことを特徴とする。
本発明の他の一態様による処理体収納カセットは、処理体を多段式に複数収納可能な処理体収納カセットであって、前記処理体収納カセットの両側壁に対向して多段に設置され、前記処理体をそれぞれ支持する複数の支持部を含み、前記処理体収納カセットの底面から前記複数の支持部のうち最下段の支持部までの距離は、前記各支持部間の距離よりも大きいことを特徴とする。
本発明の他の一態様による処理体収納装置は、前記処理体収納カセットが上下に二つ配置され、前記上下に配置された二つの処理体収納カセットを載置するステージと、前記ステージを昇降させる昇降機構を含み、
前記二つの処理体収納カセットのうち、上部に配置される第1の処理体収納カセットには処理前の処理体が収納され、前記二つの処理体収納カセットのうち下部に配置される第2の処理体収納カセットには処理後の処理体が収納されることを特徴とする。
本発明に係る処理体収納装置及び同収納装置からの処理体搬出・搬入方法によれば、収納装置内に収納されている処理前の処理体の汚染を防止することができ、あるいは、処理体の搬入・搬出をより容易に行うことができ、あるいは、処理体の収納可能枚数を増やすことができる。
図1は、有機EL表示装置の製造ラインの一部の模式図である。 図2は、成膜室の構成を概略的に示す図である。 図3は、本発明に係る処理体収納装置(マスクストック装置)を示した正面図である。 図4は、本発明に係る処理体収納装置(マスクストック装置)を示した側断面図である。 図5は、本発明に係る処理体(マスク)搬出方法を説明するための図である。 図6は、本発明に係る処理体(マスク)搬入方法を説明するための図である。
以下、図面を参照して、本発明の好ましい実施形態及び実施例を説明する。ただし、以下の実施形態及び実施例は、本発明の好ましい構成を例示的に表すものであり、本発明の範囲は、これらの構成に限定されない。また、以下の説明において、装置のハードウェア
構成及びソフトウェア構成、処理の流れ、製造条件、大きさ、材質、形状等は、特に特定的な記載がない限り、本発明の範囲をこれに限定しようとする趣旨ではない。
<電子デバイス製造ライン>
図1は、電子デバイスの製造ラインの構成の一部を模式的に図示した平面図である。
図1の製造ラインは、例えば、スマートフォン用の有機EL表示装置の表示パネルの製造に用いられる。スマートフォン用の表示パネルの場合、例えば、フルサイズ(約1500mm×約1850mm)又はハーフカットサイズ(約1500mm×約925mm)の基板に有機ELの成膜を行った後、該基板を切り抜いて複数の小さなサイズのパネルを製作する。
有機EL表示装置の製造ラインの成膜クラスタ1は、一般的に図1に示すように、基板Sに対する処理(例えば、成膜)が行われる複数の成膜室11と、使用前後のマスクMが収納される複数のマスクストック装置12と、その中央に配置される搬送室13を具備する。
搬送室13内には、複数の成膜室11の間に基板Sを搬送し、成膜室11とマスクストック装置12との間でマスクMを搬送する搬送ロボット14が設置される。搬送ロボット14は、例えば、多関節アームに、基板S又はマスクMを保持するロボットハンドが取り付けられた構造を有するロボットである。
成膜クラスタ1には、基板Sの流れ方向において上流側からの基板Sを成膜クラスタ1に搬送するパス室15と、該成膜クラスタ1で成膜処理が完了した基板Sを下流側の他の成膜クラスタに搬送するためのバッファ室16が連結される。搬送室13の搬送ロボット14は、上流側のパス室15から基板Sを受け取って、当該成膜クラスタ1内の成膜室11の一つ(例えば、成膜室11a)に搬送する。また、搬送ロボット14は、当該成膜クラスタ1での成膜処理が完了した基板Sを複数の成膜室11の一つ(例えば、成膜室11b)から受け取って、下流側に連結されたバッファ室16に搬送する。バッファ室16とパス室15との間には、基板Sの方向を変える旋回室17が設けられる。これにより、上流側成膜クラスタと下流側成膜クラスタで基板の方向が同一になって、基板処理が容易になる。バッファ室16、旋回室17、パス室15は、成膜クラスタ間を連結する、いわゆる中継装置であり、成膜クラスタの上流側及び/又は下流側に設置される中継装置は、バッファ室、旋回室、パス室のうち少なくとも1つを含む。成膜室11や、マスクストック装置12、搬送室13、バッファ室16、旋回室17などの各チャンバーは、有機EL表示パネルの製造過程で、高真空状態に維持される。
図2を参照して、成膜室11の構成と成膜室11で行われる蒸着工程について説明する。図2(a)に示したように、成膜室11は、基板Sに対して蒸着物質を蒸発させて放出する蒸発源ユニット100を含む。蒸発源ユニット100は、蒸着物質を収容する収容部と、蒸着物質を加熱して蒸発させるための加熱部などで構成された蒸発源110を含む。蒸発源110は、基板Sの蒸着面に向かって蒸着材料を放出する放出孔或いはノズルを複数備える構造を持つが、これに限らず、基板S、マスクMのパターン、蒸着物質の種類等に合わせて、適宜選定すればよく、例えば、点(point)蒸発源や、線形(linear)蒸発源、小型の蒸着物質収容部に蒸着材料を放出する複数の放出孔を持つ拡散室を接続した構造の蒸発源などを用いてもよい。また、成膜室11は、図2(b)に示されたように、膜厚モニタ114、膜厚計113、電源116、基板ホルダー111、マスクホルダー112などの他の構成部品を更に含むことができる。膜厚モニタ114は、蒸発源110から放出された蒸着材料の蒸発レート(rate)をモニタする。膜厚計113は、膜厚モニタ114からの入力信号を受けて膜厚を計測する。電源116は、蒸発源110に設けられた加熱装置を制御する。基板ホルダー111は、基板Sを保持し、基板Sを
マスクMや蒸発源に対して相対的に移動させることができる。マスクホルダー112は、マスクMを保持し、マスクMを基板Sや蒸発源110に対して相対的に移動させることができる。図示した成膜室11は、一つのチャンバー内に2つの基板Sが搬入され、その中の一つの基板Sに対して蒸着が行われる間(例えば、A側ステージ)に、他の基板Sに対しては(例えば、B側ステージ)、マスクMと基板S間の整列(アライメント)が行われる、いわゆる「デュアルステージ」構成の成膜室であるが、成膜室は、一つの基板が搬入され、アライメント・蒸着後、搬出される「シングルステージ」構成であっても良い。
成膜室11内での蒸着工程は以下のような過程を介して行われる。蒸着対象である基板Sと蒸着パターンが形成されているマスクMをそれぞれ前述の搬送ロボット14によって成膜室11内に搬入して、基板ホルダー111及びマスクホルダー112上にそれぞれ配置する。続いて、マスクMに形成されたアライメントマークと基板Sに形成されたアライメントマークを利用し、マスクMと基板Sとのアライメントを行う。マスクMと基板Sとのアライメントは、基板ホルダー111を移動制御し基板を移動させて行ってもよいし、マスクホルダー112を移動制御しマスクを移動させて行ってもよい。アライメント終了後、蒸発源110のシャッターを開けて、蒸発源110に接続された回転移動部115を動かしながら、マスクMのパターンに沿って基板Sに成膜材料を蒸着する。この時、水晶振動子などの膜厚モニタ114は、蒸発レートを計測し、膜厚計113で膜厚に換算する。膜厚計113で換算された膜厚が目標膜厚になるまで蒸着を続ける。膜厚計113で換算した膜厚が目標膜厚に達すると、蒸発源110のシャッターを閉じ蒸着を終了する。
<処理体収納装置と同収納装置への処理体搬出入方法>
以下、このような有機EL表示装置の製造ラインで使用できる、本発明に係る処理体収納装置の構造及び同収納装置への処理体搬出入方法を、マスクストック装置12を例に挙げて説明する。
図3は、本発明に係るマスクストック装置12を示す正面図で、図4は、マスクストック装置12の側断面図である。マスクストック装置12は、基板Sに対し蒸着工程を行う際に使われるマスクMを収納する装置である。
マスクMには、所定の蒸着パターンが形成されており、蒸発源から蒸発された蒸着材料は、このマスクMの蒸着パターンを介して被蒸着体である基板S上に蒸着される。蒸着(成膜)工程が繰り返し行われることにつれ、マスクM上には蒸着材料の残留物が徐々に付着されるが、この蒸着残留物はマスク上の蒸着パターンの精度を落とす原因となり得る。このため、所定枚数の基板Sに対する蒸着が行われたら、マスクMを新しいマスクに交換する必要がある。
マスクストック装置12は、このマスクMの交換のために、蒸着処理に使われる前の新しいマスクと使用済みのマスクを収納する収納装置としての役割をする。つまり、使用済みのマスクは、前述した搬送室13の搬送ロボット14により成膜室11からマスクストック装置12内に搬送されて収納され、新しいマスクがマスクストック装置12から搬出され成膜室11内のマスクホルダーに載置される。
図3に示すように、本発明に係るマスクストック装置12は、マスクMを収納するカセット210、211と、カセット210、211を載置するステージ212と、ステージ212を昇降させるための昇降機構を含んで構成されている。
カセットは、蒸着処理に使われる前の新しいマスクを収納するための上段カセット210と、成膜室11から搬出された使用済みのマスクを収納するための下段カセット211を含む。上段及び下段カセット210、211は、それぞれ複数のマスクMが収納可能な
複数の段(図示した例では、4段)構造となっている。つまり、上段及び下段カセット210、211は、カセットの両側壁にマスクMの両端を支持できる支持部213が上下に複数段設置されており、これら支持部213の段の間の空間に前述した搬送ロボット14のロボットハンドが進入し、カセットへのマスクMの搬入(または、カセットからのマスクMの搬出)を行うようになっている。
図3(b)は、上段及び下段カセット210、211の複数の段構造を拡大して示しており、図示したように、上段及び下段カセット210、211において、最下段の高さ(カセット底面から最下段支持部までの高さ:h1)が、その他の段の高さ(各支持部間の高さ:h2)よりも高く形成されている。この段高さの差は、本発明に係るマスク搬入・搬出方法の一つの特徴を反映する構成であって、その技術的意味の詳細については後述する。
上段及び下段カセット210、211は、ステージ212上に載置され、ステージ212は、それに接続された昇降機構によりマスクストック装置12の略中央高さの位置に設けられたマスク搬送口(図4参照)に向かって昇降される。マスク搬送口は、マスクストック装置12の筺体をなす容器に設けられている。
昇降機構は、マスクストック装置12の両側に設置されたガイドレール214と、ステージ212の両端にそれぞれ連結されガイドレール214に沿って上下移動するガイドブロック215と、ガイドレール214に沿う上下移動の駆動力を提供するボールネジ及びモータ(不図示)とを含む。つまり、モータ駆動によってボールネジが回転すると、その回転方向に相応してボールネジに連結されたガイドレール214に沿ってカセット210、211を載置したステージ212がマスクストック装置12内で昇降する構造となっている。
このカセット210、211を載置したステージ212の昇降に連動した本発明に係るマスクMの搬入及び搬出方法の詳細について、図5及び図6を参照して、説明する。
図5は、本発明に係るマスク搬出方法、すなわち、蒸着処理に使われる前の新しいマスクMをマスクストック装置12から搬出する方法を説明するための図である。
前述のように、蒸着処理に使われる前の新しいマスクは上段カセット210に、蒸着処理に使われた後のマスクは下段カセット211にそれぞれ収納されるが、図5(a)は、下段カセット211が空いている状態で、上段カセット210から新しいマスクMを最初に搬出する際の様子を示している。図示したように、新しいマスクの最初搬出の際には、上段カセット210に収納されている複数の新しいマスクのうち最下段のマスクから搬出する。つまり、ステージ212を下降させ、マスクストック装置12の略中央高さ位置にあるマスク搬送口に上段カセット210の最下段のマスクMがくるように位置させた状態で、搬送ロボット14のロボットハンドを進入させ、最下段のマスクを受け取り、搬出する。
続いて、マスク交換の際、すなわち、成膜室11から蒸着処理に使われた後のマスクをマスクストック装置12の下段カセット211に搬入した後、(蒸着処理に使われた後のマスクの搬入過程については後述する)、上段カセット210から蒸着処理に使われる前の新しいマスクを再び搬出する際には、図5(a)に示した状態よりも一段分上段カセット210がさらに下降した状態(つまり、上段カセット210の最下段から2段目に収納されたマスクがマスク搬送口に位置する状態)となるようにステージ212を下降させてから、ロボットハンドを進入させマスクを搬出する。これにより、上段カセット210の最下段から2段目のマスクが搬出される。
マスク交換の度に、処理前のマスクの上段カセット210からの搬出過程と、処理後のマスクの下段カセット211への搬入過程が、交互に行われてもよい。このような搬出および搬入の交互の処理は、上段カセット210の最下段に収納されている処理前のマスクの搬出から、下段カセット211の最下段への処理後のマスクの搬入に至るまで行われる。このような過程が順次行われ、図5(b)は、上段カセット210に収納されている新しいマスクのうち、最後に最上段のマスクMを搬出する際の様子を示している。図示したように、この時には、ステージ212がマスクストック装置12の底面近くまで下降し、上段カセット210の最上段に収納されたマスクMがマスク搬送口に位置するようにした状態で、ロボットハンドが進入し該当マスクを搬出する。
以上のように、本発明においては、蒸着処理に使われる前の新しいマスクと蒸着処理に使われた後のマスクをそれぞれマスクストック装置12内の別途のカセットに、より具体的には、新しいマスクは上段カセット210に、蒸着処理に使われた後のカセットは下段カセット211に、それぞれ収納することを特徴の一つとしている。こうすることによって、蒸着処理に使われた後のマスクに付着した蒸着残留物がマスクから落下しても、この落下物による蒸着処理に使われる前の新しいマスクの汚染を防止することができる。
また、本発明においては、上段及び下段カセット210、211それぞれに対し、マスクを収納するための最下段の高さ(カセット底面から最下段支持部までの高さ:h1)を他の段の高さ(各支持部間の高さ:h2)よりも高く形成するとともに、上段カセット210から蒸着処理に使われる前のマスクを搬出する際には、昇降機構の順次昇降を通じて最下段に収納されたマスクから順次に搬出するようにしている。こうすることで、蒸着処理に使われる前のマスクを最初に搬出する際には、マスクを受け取るロボットハンドが、進入スペースが十分確保されている最下段から進入することになるので、ロボットハンドの進入時、ロボットハンドとマスクとの衝突干渉を最大限回避することができる。よって、ロボットハンドとマスク間の衝突時に発生し得るパーティクルなどによるマスクの汚染も防止することができる。
一方、2番目のマスク搬出時からは、それより下に収納されていたマスクが既に搬出された後に搬出動作が行われるので、そのマスクの空き空間の分、ロボットハンドの進入空間をより広く確保することができ、ロボットハンド進入時の衝突干渉をより効果的に防止することができる。さらに、このように2番目のマスク搬出時からは、ロボットハンドの進入空間が効果的に確保可能なので、カセット最下段より上に位置する各段の高さh2は、最下段の高さh1よりも低く形成しても、マスク搬出に障害を与えない。よって、その分、カセット内に収納可能なマスク枚数も増やすことができる。
図6は、本発明に係るマスク搬入方法、すなわち、蒸着処理に使われた後のマスクMをマスクストック装置12内に搬入する方法を説明するための図である。
前述したように、蒸着処理に使われた後のマスクは、下段カセット211に収納される。図6(a)は、下段カセット211に蒸着処理に使われた後のマスクMを最初に搬入する際の様子を示す図で、図6(b)は、下段カセット211に蒸着処理に使われた後のマスクを最後に搬入する際の様子を示す図である。
下段カセット211へのマスク搬入は、前述した上段カセット210からのマスク搬出とは逆順で行われる。つまり、蒸着処理に使われた後のマスクの最初の搬入の際には、マスクストック装置12の略中央高さのマスク搬送口の位置に下段カセット211の最上段のマスク収納空間がくるようにステージ212を上昇させ、下段カセット211の最上段の収納空間から収納されるようにマスクを搬入する(図6(a))。
続いて、蒸着処理に使われた後のマスクを追加で搬入するたびに、ステージ212を最初マスクの搬入時より一段ずつ上昇させながら、下段カセット211の最下段に向かって順次に搬入していき、最終的に、最後のマスクの搬入時には、ステージ212を最大限上昇させ、下段カセット211の最下段の位置にマスクを搬入する(図6(b))。
このように、本発明によれば、下段カセット211に蒸着処理に使われた後のマスクを搬入する際に、最上段から下方に順次搬入・収納していくので、前述したマスク搬出と同様に、マスク搬入時にもロボットハンドの進入空間が十分確保された状態で搬入動作を行うことができ、ロボットハンドとマスク間の衝突干渉を最大限回避することができる。また、このロボットハンド進入空間は、下段カセット211の最下段位置へのマスク搬入時の干渉を防止できる空間さえ確保すれば十分なので、下段カセット211の最下段よりも上に位置する各段の高さh2は、最下段の高さh1より低く形成しても、マスク搬入に障害を与えない。よって、その分、カセット内に収納可能なマスクの枚数を増やすことができる。
以上、本発明を実施するための形態を具体的に説明したが、本発明の趣旨は、これらの記載に限定されることはなく、特許請求の範囲の記載に基づいて広く解釈されるべきである。また、これらの記載に基づいた、多様な変更、改変なども、本発明の趣旨に含まれることは言うまでもない。
例えば、以上の説明では、マスクストック装置12に本発明を適用した例について主に説明したが、処理前の処理体と処理後の処理体(例えば、成膜前の基板と成膜終了後の基板など)を一緒に多段式に収納する任意の処理体収納装置に対して、本発明に係る収納装置の構造及び搬出入方法を適用することができる。
1:成膜クラスタ
11:成膜室
12:マスクストック装置
13:搬送室
14:搬送ロボット
15:パス室
16:バッファ室
17:旋回室
100:蒸発源ユニット
110:蒸発源
S:基板
111:基板ホルダー
M:マスク
112:マスクホルダー
116:電源
113:膜厚計
114:膜厚モニタ
115:回転移動部
210:上段カセット
211:下段カセット
212:ステージ
213:支持部
214:ガイドレール
215:ガイドブロック

Claims (22)

  1. 処理がなされる複数の処理体を収納する処理体収納方法であって、
    前記複数の処理体をそれぞれ多段式に複数収納可能な第1の処理体収納カセットと第2の処理体収納カセットを、前記第1の処理体収納カセットは上部に、前記第2の処理体収納カセットは前記第1の処理体収納カセットより下部に、それぞれ配置し、
    前記第1の処理体収納カセットに、前記複数の処理体のうち前記処理前の前記処理体を収納し、
    前記第2の処理体収納カセットに、前記複数の処理体のうち前記処理後の前記処理体を収納する
    ことを特徴とする処理体収納方法。
  2. 前記複数の処理体は、真空蒸着に使用されるマスクであることを特徴とする請求項1に記載の処理体収納方法。
  3. 前記複数の処理体は、真空蒸着により成膜される基板であることを特徴とする請求項1に記載の処理体収納方法。
  4. 処理前の複数の処理体が多段式に収納可能な処理体収納カセットから、複数の処理体を搬出する処理体搬出方法であって、
    前記複数の処理体を、前記処理体収納カセットの最下段から上段に向かう順で搬出することを特徴とする処理体搬出方法。
  5. 前記処理体収納カセットは処理体収納装置内に備えられ、前記処理体収納装置は、前記処理体収納カセットを昇降させる昇降機構と、前記処理体収納カセットから前記処理前の処理体を搬出する搬送口とを有する容器とを含み、
    前記処理前の処理体の搬出では、前記最下段に収納されている前記処理前の処理体から順に前記各処理前の処理体が前記搬送口の位置に来るように、前記昇降機構により前記処理体収納カセットを順次下降させて、前記複数の処理体のうちの前記搬送口の位置に来た処理体を順次搬出する
    ことを特徴とする請求項4に記載の処理体搬出方法。
  6. 前記複数の処理体は、真空蒸着に使用されるマスクであることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の処理体搬出方法。
  7. 前記複数の処理体は、真空蒸着により成膜される基板であることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の処理体搬出方法。
  8. 処理後の複数の処理体が多段式に収納可能な処理体収納カセットに、複数の処理体を搬入する処理体搬入方法であって、
    前記複数の処理体を、前記処理体収納カセットの最上段から下段に向かう順で搬入することを特徴とする処理体搬入方法。
  9. 前記処理体収納カセットは処理体収納装置内に備えられ、前記処理体収納装置は、前記処理体収納カセットを昇降させる昇降機構と、前記処理体収納カセットに前記処理後の処理体を搬入する搬送口を有する容器とを含み、
    前記処理後の処理体の搬入では、前記処理体収納カセットの前記最上段から下段にかけて前記処理後の処理体を順に収納するように、前記昇降機構により前記処理体収納カセットを順次上昇させて、前記処理後の処理体を順次搬入する
    ことを特徴とする請求項8に記載の処理体搬入方法。
  10. 前記複数の処理体は、真空蒸着に使用されるマスクであることを特徴とする請求項8又は請求項9に記載の処理体搬入方法。
  11. 前記複数の処理体は、真空蒸着により成膜される基板であることを特徴とする請求項8又は請求項9に記載の処理体搬入方法。
  12. 処理前の処理体が多段式に複数収納されている第1の処理体収納カセットから前記処理前の処理体を搬出し、処理後の処理体を多段式に収納可能な複数の収納部が備えられた第2の処理体収納カセットに前記処理後の処理体を搬入する、処理体搬出入方法であって、
    前記第1の処理体収納カセットに収納された前記処理前の処理体を、前記第1の処理体収納カセットの最下段に収納されている処理体から順次搬出し、
    前記処理後の処理体を、前記第2の処理体収納カセットの最上段から下段に向かう順で前記第2の処理体収納カセットへ搬入することを特徴とする処理体搬出入方法。
  13. 前記第1及び第2の処理体収納カセットは、処理体収納装置内に、前記第2の処理体収納カセットの上部に前記第1の処理体収納カセットが配置されるように設置され、前記処理体収納装置は、前記上下に配置された第1及び第2の処理体収納カセットを載置するステージと、前記ステージを昇降させる昇降機構と、前記第1の処理体収納カセットからの前記処理前の処理体の搬出及び前記第2の処理体収納カセットへの前記処理後の処理体の搬入のための搬送口を有する容器とを含み、
    前記処理前の処理体の搬出では、前記第1の処理体収納カセットの前記最下段に収納されている前記処理前の処理体から順に前記各処理前の処理体が前記搬送口の位置に来るように、前記昇降機構により前記第1の処理体収納カセットを順次下降させて、前記搬送口の位置に来た処理前の処理体を順次搬出し、
    前記処理後の処理体の搬入では、前記第2の処理体収納カセットの前記最上段から下段にかけて前記処理後の処理体を順に収納するように、前記昇降機構により前記第2の処理体収納カセットを順次昇降させて、前記処理後の処理体を順次搬入する
    ことを特徴とする請求項12に記載の処理体搬出入方法。
  14. 前記第1の処理体収納カセットの前記最下段に収納されている前記処理前の処理体の搬出から、前記第2の処理体収納カセットの最下段の前記収納部への前記処理後の処理体の搬入に至るまで、各処理体単位毎に、前記第1の処理体収納カセットからの前記処理前の処理体の搬出と、前記第2の処理体収納カセットへの前記処理後の処理体の搬入が、交互に行われることを特徴とする請求項13に記載の処理体搬出入方法。
  15. 前記複数の処理体は、真空蒸着に使用されるマスクであることを特徴とする請求項12から請求項14のいずれか一項に記載の処理体搬出入方法。
  16. 前記複数の処理体は、真空蒸着により成膜される基板であることを特徴とする請求項12から請求項14のいずれか一項に記載の処理体搬出入方法。
  17. 処理室で基板の表面に蒸発源からの蒸着材料をマスクを介し堆積させて成膜を行う蒸着方法であって、
    請求項12から請求項14のいずれか一項に記載の処理体搬出入方法における前記処理体を前記マスクとし、
    前記処理体を用いて、前記基板に対する前記蒸発源による蒸着を行う
    ことを特徴とする蒸着方法。
  18. 基板に形成された有機膜及び金属膜の少なくとも一方の膜を有する電子デバイスの製造
    方法であって、
    請求項17に記載の蒸着方法により、前記少なくとも一方の膜が形成される
    ことを特徴とする電子デバイスの製造方法。
  19. 前記電子デバイスは、表示パネルであることを特徴とする請求項18に記載の電子デバイスの製造方法。
  20. 表示パネルの製造方法であって、
    請求項12から請求項16のいずれか一項に記載の処理体搬出入方法を用いて前記処理体を搬送する、表示パネルの製造方法。
  21. 処理体を多段式に複数収納可能な処理体収納カセットであって、
    前記処理体収納カセットの両側壁に対向して多段に設置され、前記処理体をそれぞれ支持する複数の支持部を含み、
    前記処理体収納カセットの底面から前記複数の支持部のうち最下段の支持部までの距離は、前記各支持部間の距離よりも大きいことを特徴とする処理体収納カセット。
  22. 処理体収納装置であって、
    請求項21に記載の処理体収納カセットが上下に二つ配置され、前記上下に配置された二つの処理体収納カセットを載置するステージと、前記ステージを昇降させる昇降機構を含み、
    前記二つの処理体収納カセットのうち、上部に配置される第1の処理体収納カセットには処理前の処理体が収納され、前記二つの処理体収納カセットのうち下部に配置される第2の処理体収納カセットには処理後の処理体が収納される
    ことを特徴とする処理体収納装置。
JP2018221568A 2018-04-18 2018-11-27 成膜装置及び成膜方法 Active JP6811760B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180044968A KR101941404B1 (ko) 2018-04-18 2018-04-18 처리체 수납 장치와, 처리체 수납 방법 및 이를 사용한 증착 방법
KR10-2018-0044968 2018-04-18

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019189939A true JP2019189939A (ja) 2019-10-31
JP6811760B2 JP6811760B2 (ja) 2021-01-13

Family

ID=65287733

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018221568A Active JP6811760B2 (ja) 2018-04-18 2018-11-27 成膜装置及び成膜方法

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6811760B2 (ja)
KR (1) KR101941404B1 (ja)
CN (2) CN114990492A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113005423A (zh) * 2019-12-19 2021-06-22 佳能特机株式会社 处理体收纳装置及包含处理体收纳装置的成膜装置
JP2021102813A (ja) * 2019-12-24 2021-07-15 キヤノントッキ株式会社 成膜装置、および電子デバイスの製造方法
KR20210122113A (ko) * 2020-03-31 2021-10-08 캐논 톡키 가부시키가이샤 성막 장치, 성막 방법, 및 전자 디바이스의 제조 방법
JP2022184582A (ja) * 2021-06-01 2022-12-13 キヤノントッキ株式会社 成膜装置及び電子デバイスの製造装置
US11538706B2 (en) * 2019-05-24 2022-12-27 Applied Materials, Inc. System and method for aligning a mask with a substrate

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112758669A (zh) * 2020-12-22 2021-05-07 无锡中微掩模电子有限公司 一种掩模制造用新型真空系统及上下料方法

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6425549A (en) * 1987-07-22 1989-01-27 Hitachi Ltd Transfer apparatus
JPH01297836A (ja) * 1988-05-25 1989-11-30 Nec Kyushu Ltd ウェーハ受け渡し装置
JPH0930606A (ja) * 1995-07-13 1997-02-04 Nec Corp ガラス基板移載装置及び移載方法
JPH1064970A (ja) * 1996-08-23 1998-03-06 Rohm Co Ltd ウェハ・サーチ方法およびその装置
JPH115627A (ja) * 1997-06-12 1999-01-12 Dainippon Printing Co Ltd 基板搬送システム
JP2002019959A (ja) * 2000-07-06 2002-01-23 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 基板移載装置
JP2005142443A (ja) * 2003-11-07 2005-06-02 Yaskawa Electric Corp カセット装置および薄型基板移載システム
JP2009007075A (ja) * 2007-06-26 2009-01-15 Dainippon Printing Co Ltd 板状物保管移送装置および板状物保管移送方法
JP2012222289A (ja) * 2011-04-13 2012-11-12 Panasonic Corp プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
JP2013143413A (ja) * 2012-01-10 2013-07-22 Hitachi High-Technologies Corp 真空処理装置
JP2016184664A (ja) * 2015-03-26 2016-10-20 東京エレクトロン株式会社 基板搬送方法及び基板処理装置
JP2017101322A (ja) * 2015-11-25 2017-06-08 キヤノントッキ株式会社 成膜システム、磁性体部及び膜の製造方法
JP2018003151A (ja) * 2016-06-24 2018-01-11 キヤノントッキ株式会社 基板の挟持方法、基板の挟持装置、成膜方法、成膜装置、及び電子デバイスの製造方法、基板載置方法、アライメント方法、基板載置装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4417019B2 (ja) * 2003-03-26 2010-02-17 株式会社アルバック マスク装置及び真空成膜装置
JP2005051171A (ja) * 2003-07-31 2005-02-24 Applied Materials Inc 基板処理装置
TWI408770B (zh) * 2005-07-15 2013-09-11 Nidec Sankyo Corp The substrate moving out of the moving method and the substrate moving out of the system
JP2007311724A (ja) * 2006-05-22 2007-11-29 Sharp Corp 基板搬送方法及び基板処理装置
JP5336885B2 (ja) * 2009-03-03 2013-11-06 東京エレクトロン株式会社 基板搬送装置及び基板搬送方法
JP5347853B2 (ja) * 2009-09-02 2013-11-20 旭硝子株式会社 積層基板分離収容装置及びガラス基板の製造方法
JP2011074423A (ja) * 2009-09-29 2011-04-14 Hitachi High-Technologies Corp 有機elデバイス製造装置及び有機elデバイス製造方法並びに成膜装置及び成膜方法
KR102106414B1 (ko) * 2013-04-26 2020-05-06 삼성디스플레이 주식회사 증착 챔버, 이를 포함하는 증착 시스템 및 유기 발광 표시장치 제조방법
JP2016086100A (ja) * 2014-10-27 2016-05-19 株式会社ニューフレアテクノロジー 気相成長装置および気相成長方法
KR102334409B1 (ko) * 2015-03-03 2021-12-03 삼성디스플레이 주식회사 마스크 스택 및 그 제어방법
CN112011765B (zh) * 2015-06-18 2022-10-21 佳能特机株式会社 蒸镀装置及其控制方法、以及成膜方法

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6425549A (en) * 1987-07-22 1989-01-27 Hitachi Ltd Transfer apparatus
JPH01297836A (ja) * 1988-05-25 1989-11-30 Nec Kyushu Ltd ウェーハ受け渡し装置
JPH0930606A (ja) * 1995-07-13 1997-02-04 Nec Corp ガラス基板移載装置及び移載方法
JPH1064970A (ja) * 1996-08-23 1998-03-06 Rohm Co Ltd ウェハ・サーチ方法およびその装置
JPH115627A (ja) * 1997-06-12 1999-01-12 Dainippon Printing Co Ltd 基板搬送システム
JP2002019959A (ja) * 2000-07-06 2002-01-23 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 基板移載装置
JP2005142443A (ja) * 2003-11-07 2005-06-02 Yaskawa Electric Corp カセット装置および薄型基板移載システム
JP2009007075A (ja) * 2007-06-26 2009-01-15 Dainippon Printing Co Ltd 板状物保管移送装置および板状物保管移送方法
JP2012222289A (ja) * 2011-04-13 2012-11-12 Panasonic Corp プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
JP2013143413A (ja) * 2012-01-10 2013-07-22 Hitachi High-Technologies Corp 真空処理装置
JP2016184664A (ja) * 2015-03-26 2016-10-20 東京エレクトロン株式会社 基板搬送方法及び基板処理装置
JP2017101322A (ja) * 2015-11-25 2017-06-08 キヤノントッキ株式会社 成膜システム、磁性体部及び膜の製造方法
JP2018003151A (ja) * 2016-06-24 2018-01-11 キヤノントッキ株式会社 基板の挟持方法、基板の挟持装置、成膜方法、成膜装置、及び電子デバイスの製造方法、基板載置方法、アライメント方法、基板載置装置

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11538706B2 (en) * 2019-05-24 2022-12-27 Applied Materials, Inc. System and method for aligning a mask with a substrate
KR102481920B1 (ko) * 2019-12-19 2022-12-26 캐논 톡키 가부시키가이샤 처리체 수납 장치와, 이를 포함하는 성막 장치
KR20210078857A (ko) * 2019-12-19 2021-06-29 캐논 톡키 가부시키가이샤 처리체 수납 장치와, 이를 포함하는 성막 장치
JP2021098888A (ja) * 2019-12-19 2021-07-01 キヤノントッキ株式会社 マスク収納装置と、これを含む成膜装置
CN113005423A (zh) * 2019-12-19 2021-06-22 佳能特机株式会社 处理体收纳装置及包含处理体收纳装置的成膜装置
TWI824208B (zh) * 2019-12-19 2023-12-01 日商佳能特機股份有限公司 遮罩收納裝置及包含其之成膜裝置
JP7058316B2 (ja) 2019-12-19 2022-04-21 キヤノントッキ株式会社 マスク収納装置と、これを含む成膜装置
CN113005423B (zh) * 2019-12-19 2023-05-09 佳能特机株式会社 处理体收纳装置及包含处理体收纳装置的成膜装置
JP2021102813A (ja) * 2019-12-24 2021-07-15 キヤノントッキ株式会社 成膜装置、および電子デバイスの製造方法
JP7148587B2 (ja) 2019-12-24 2022-10-05 キヤノントッキ株式会社 成膜装置、および電子デバイスの製造方法
KR102527120B1 (ko) * 2020-03-31 2023-04-27 캐논 톡키 가부시키가이샤 성막 장치, 성막 방법, 및 전자 디바이스의 제조 방법
KR20210122113A (ko) * 2020-03-31 2021-10-08 캐논 톡키 가부시키가이샤 성막 장치, 성막 방법, 및 전자 디바이스의 제조 방법
JP2022184582A (ja) * 2021-06-01 2022-12-13 キヤノントッキ株式会社 成膜装置及び電子デバイスの製造装置
JP7362693B2 (ja) 2021-06-01 2023-10-17 キヤノントッキ株式会社 成膜装置及び電子デバイスの製造装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN110387526A (zh) 2019-10-29
CN114990492A (zh) 2022-09-02
JP6811760B2 (ja) 2021-01-13
KR101941404B1 (ko) 2019-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2019189939A (ja) 処理体収納装置と、処理体収納方法、及びこれを用いた蒸着方法
JP4614455B2 (ja) 基板搬送処理装置
KR101192751B1 (ko) 평판표시장치 제조 장비 및 이를 이용한 평판표시장치 제조방법
JPH10139159A (ja) カセットチャンバ及びカセット搬入搬出機構
JP7450372B2 (ja) 成膜装置、成膜方法、及び電子デバイスの製造方法
KR101760667B1 (ko) 고생산성 박막증착이 가능한 원자층 증착 시스템
JP5639963B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理方法並びに基板処理プログラムを記録した記録媒体
TW201230233A (en) Vacuum processing apparatus
JP2008266737A (ja) トレイ搬送式インライン成膜装置
JP2021102813A (ja) 成膜装置、および電子デバイスの製造方法
WO2009130790A1 (ja) トレイ搬送式インライン成膜装置
JP7058316B2 (ja) マスク収納装置と、これを含む成膜装置
JP2021042467A (ja) 吸着装置、成膜装置、吸着方法、成膜方法及び電子デバイスの製造方法
JP2010231125A (ja) プロキシミティ露光装置、及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法
JP2020050952A (ja) 静電チャックシステム、成膜装置、被吸着体分離方法、成膜方法及び電子デバイスの製造方法
CN110943004A (zh) 基板处理装置
WO2011142193A1 (ja) 金属膜形成システム、金属膜形成方法及びコンピュータ記憶媒体
KR100978856B1 (ko) 기판 처리 설비 및 방법
WO2011142192A1 (ja) 金属膜形成システム、金属膜形成方法及びコンピュータ記憶媒体
JP5392945B2 (ja) プロキシミティ露光装置、及びプロキシミティ露光装置の負圧室の天板搬送方法
WO2011142194A1 (ja) 金属膜形成システム
JP2022087015A (ja) 成膜装置
KR101658056B1 (ko) 대상물 공급시스템
KR20220103545A (ko) 증착 시스템
JP2009152244A (ja) 熱処理装置及び熱処理方法並びに記憶媒体

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190129

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200204

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20200331

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200604

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20201201

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20201215

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6811760

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250