JP2017173000A - 検査装置、検査方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】スジ状欠陥の検出精度を向上させることができる検査装置、検査方法及びプログラムを提供する。
【解決手段】スジ状欠陥検出対象画像を構成する各画素について、第１の方向で所定の画素数離れた画素との画素値の差分値を算出し、算出した各差分値を画素値として構成される第２の差分画像を生成する第２の差分画像生成部２１４と、第２の差分画像内のスジ状欠陥検出対象領域を構成し、第１の方向と直交する第２の方向の複数の画素列それぞれについて、当該画素列を構成する複数の画素のうち、画素値が第１の閾値よりも大きい画素の第１の画素数と、画素値が第１の閾値よりも小さい画素の第２の画素数と、を算出する算出部２１５と、画素列毎の第１の画素数と第２の画素数との比率に基づいて、スジ状欠陥検出対象領域内において、１以上の画素列により構成されるスジ状欠陥が存在するか否かを判定する判定部２１６と、を備える。
【選択図】図３

Description

本発明は、検査装置、検査方法及びプログラムに関する。

プロダクションプリンティングなど高品質が要求される印刷では、印刷物に対する品質検査が要求されている。例えば、印刷物を電気的に読み取ることで生成した読取画像に基づいて印刷物上に存在する欠陥を検出し、検出した欠陥に基づいて印刷物の品質を検査する検査装置が知られている。

印刷物上に存在する欠陥としては、ポチ、スジ、及びムラなどが挙げられるが、スジ状欠陥は、プリンタなどの印刷装置やスキャナなどの読取装置が備えるドラムやローラなどのキズや汚れが原因であり、継続して発生することが多いため、検出要求が高い。

例えば特許文献１には、このようなスジ状欠陥をフィルタ処理等で検出する技術が開示されている。

ところで、スジ状欠陥は大域に渡って発生する欠陥であるため、濃度の薄いものについても検出することが要求される。

しかしながら、上述したような従来技術で濃度の薄いスジ状欠陥を検出しようとすると、印刷や読み取り過程で生じた強いノイズと濃度の薄いスジ状欠陥とを判別できず、ノイズをスジ状欠陥として誤検出してしまうおそれがある。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、スジ状欠陥の検出精度を向上させることができる検査装置、検査方法及びプログラムを提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の一態様にかかる検査装置は、印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得部と、前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得部と、前記基準画像と前記読取画像との差分を示す第１の差分画像を生成する第１の差分画像生成部と、前記基準画像、前記読取画像、及び前記第１の差分画像の少なくともいずれかであるスジ状欠陥検出対象画像を構成する各画素について、第１の方向で所定の画素数離れた画素との画素値の差分値を算出し、算出した各差分値を画素値として構成される第２の差分画像を生成する第２の差分画像生成部と、前記第２の差分画像内のスジ状欠陥検出対象領域を構成し、前記第１の方向と直交する第２の方向の複数の画素列それぞれについて、当該画素列を構成する複数の画素のうち、画素値が第１の閾値よりも大きい画素の画素数である第１の画素数と、画素値が前記第１の閾値よりも小さい画素の画素数である第２の画素数と、を算出する算出部と、前記画素列毎の前記第１の画素数と前記第２の画素数との比率に基づいて、前記スジ状欠陥検出対象領域内において、１以上の前記画素列により構成されるスジ状欠陥が存在するか否かを判定する判定部と、を備える。

本発明によれば、スジ状欠陥の検出精度を向上させることができるという効果を奏する。

図１は、本実施形態の印刷物検査システムの一例を示す模式図である。 図２は、本実施形態の印刷物検査装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。 図３は、本実施形態の印刷装置及び印刷物検査装置の構成の一例を示すブロック図である。 図４は、本実施形態のノイズの一例を示す説明図である。 図５は、本実施形態のスジ状欠陥の一例を示す説明図である。 図６は、本実施形態の第１の差分画像の一例を示す説明図である。 図７は、本実施形態の第２の差分画像の一例を示す説明図である。 図８は、図７に示す第２の差分画像の画素列毎の第１の画素数と第２の画素数との算出結果を示す図である。 図９は、本実施形態の印刷物検査システムで行われる基準画像生成処理の手順の流れの一例を示すフローチャートである。 図１０は、本実施形態の印刷物検査システムで行われる検査処理の手順の流れの一例を示すフローチャートである。 図１１は、図１０に示すフローチャートのステップＳ２１７で行われる欠陥判定処理の手順の流れの一例を示すフローチャートである。 図１２は、図１１に示すフローチャートのステップＳ３０１で行われるスジ状欠陥判定の手順の流れの一例を示すフローチャートである。 図１３は、変形例１の説明図である。 図１４は、変形例２の説明図である。 図１５は、変形例２の説明図である。 図１６は、変形例４の検出強度（レベル）設定画面の一例を示す図である。

以下、添付図面を参照しながら、本発明にかかる検査装置、検査方法及びプログラムの実施形態を詳細に説明する。

図１は、本実施形態の印刷物検査システム１の一例を示す模式図である。図１に示すように、印刷物検査システム１は、印刷装置１００と、印刷物検査装置２００（検査装置の一例）と、スタッカ３００と、を備える。

印刷装置１００は、オペレーションパネル１０１と、感光体ドラム１０３Ｙ、１０３Ｍ、１０３Ｃ、１０３Ｋと、転写ベルト１０５と、二次転写ローラ１０７と、給紙部１０９と、搬送ローラ対１１１と、定着ローラ１１３と、反転パス１１５と、を備える。

オペレーションパネル１０１は、印刷装置１００に対して各種操作入力を行ったり、各種画面を表示したりする操作表示部である。

感光体ドラム１０３Ｙ、１０３Ｍ、１０３Ｃ、１０３Ｋは、それぞれ、作像プロセス（帯電工程、露光工程、現像工程、転写工程、及びクリーニング工程）が行われることによりトナー像が形成され、形成されたトナー像を転写ベルト１０５に転写する。本実施形態では、感光体ドラム１０３Ｙ上にイエロートナー像が形成され、感光体ドラム１０３Ｍ上にマゼンダトナー像が形成され、感光体ドラム１０３Ｃ上にシアントナー像が形成され、感光体ドラム１０３Ｋ上にブラックトナー像が形成されるものとするが、これに限定されるものではない。

転写ベルト１０５は、感光体ドラム１０３Ｙ、１０３Ｍ、１０３Ｃ、及び１０３Ｋから重畳して転写されたトナー像（フルカラーのトナー画像）を二次転写ローラ１０７の二次転写位置に搬送する。本実施形態では、転写ベルト１０５には、まず、イエロートナー像が転写され、続いて、マゼンダトナー像、シアントナー像、ブラックトナー像が順次重畳して転写されるものとするが、これに限定されるものではない。

給紙部１０９は、複数の用紙が重ね合わせて収容されており、用紙を給紙する。

搬送ローラ対１１１は、給紙部１０９により給紙された用紙を搬送路ａ上で矢印ｓ方向に搬送する。

二次転写ローラ１０７は、転写ベルト１０５により搬送されたフルカラーのトナー画像を、搬送ローラ対１１１により搬送された用紙上に二次転写位置で一括転写する。

定着ローラ１１３は、フルカラーのトナー画像が転写された用紙を加熱及び加圧することにより、フルカラーのトナー画像を用紙に定着する。

印刷装置１００は、片面印刷の場合、フルカラーのトナー画像が定着された用紙である印刷物を印刷物検査装置２００へ送る。一方、印刷装置１００は、両面印刷の場合、フルカラーのトナー画像が定着された用紙を反転パス１１５へ送る。

反転パス１１５は、送られた用紙をスイッチバックすることにより用紙の表面・裏面を反転して矢印ｔ方向に搬送する。反転パス１１５により搬送された用紙は、搬送ローラ対１１１により再搬送され、二次転写ローラ１０７により前回と逆側の面にフルカラーのトナー画像が転写され、定着ローラ１１３により定着され、印刷物として、印刷物検査装置２００へ送られる。

印刷物検査装置２００は、読取部２０１Ａ、２０１Ｂと、オペレーションパネル２４０と、を備える。

オペレーションパネル２４０は、印刷物検査装置２００に対して各種操作入力を行ったり、各種画面を表示したりする操作表示部である。なお、オペレーションパネル２４０を省略してもよい。この場合、オペレーションパネル１０１がオペレーションパネル２４０を兼ねるようにしてもよいし、外部接続されたＰＣ（Personal Computer）がオペレーションパネル２４０を兼ねるようにしてもよい。

読取部２０１Ａは、印刷装置１００から送られた印刷物の一方の面を電気的に読み取り、読取部２０１Ｂは、当該印刷物の他方の面を電気的に読み取る。読取部２０１Ａ、２０１Ｂは、例えば、ラインスキャナ等により実現できる。そして印刷物検査装置２００は、読み取りが完了した印刷物をスタッカ３００へ排紙する。

スタッカ３００は、トレイ３０１を備える。スタッカ３００は、印刷物検査装置２００により排紙された印刷物をトレイ３０１にスタックする。

図２は、本実施形態の印刷物検査装置２００のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。図２に示すように、印刷物検査装置２００は、コントローラ９１０とエンジン部（Engine）９６０とをＰＣＩバスで接続した構成となる。コントローラ９１０は、印刷物検査装置２００の全体の制御、描画、通信、及び操作表示部９２０からの入力を制御するコントローラである。エンジン部９６０は、ＰＣＩバスに接続可能なエンジンであり、例えば、スキャナ等のスキャナエンジンなどである。エンジン部９６０には、エンジン部分に加えて、誤差拡散やガンマ変換などの画像処理部分も含まれる。

コントローラ９１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）９１１と、ノースブリッジ（ＮＢ）９１３と、システムメモリ（ＭＥＭ−Ｐ）９１２と、サウスブリッジ（ＳＢ）９１４と、ローカルメモリ（ＭＥＭ−Ｃ）９１７と、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）９１６と、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）９１８とを有し、ノースブリッジ（ＮＢ）９１３とＡＳＩＣ９１６との間をＡＧＰ（Accelerated Graphics Port）バス９１５で接続した構成となる。また、ＭＥＭ−Ｐ９１２は、ＲＯＭ９１２ａと、ＲＡＭ９１２ｂとをさらに有する。

ＣＰＵ９１１は、印刷物検査装置２００の全体制御を行うものであり、ＮＢ９１３、ＭＥＭ−Ｐ９１２およびＳＢ９１４からなるチップセットを有し、このチップセットを介して他の機器と接続される。

ＮＢ９１３は、ＣＰＵ９１１とＭＥＭ−Ｐ９１２、ＳＢ９１４、ＡＧＰバス９１５とを接続するためのブリッジであり、ＭＥＭ−Ｐ９１２に対する読み書きなどを制御するメモリコントローラと、ＰＣＩマスタおよびＡＧＰターゲットとを有する。

ＭＥＭ−Ｐ９１２は、プログラムやデータの格納用メモリ、プログラムやデータの展開用メモリ、プリンタの描画用メモリなどとして用いるシステムメモリであり、ＲＯＭ９１２ａとＲＡＭ９１２ｂとからなる。ＲＯＭ９１２ａは、プログラムやデータの格納用メモリとして用いる読み出し専用のメモリであり、ＲＡＭ９１２ｂは、プログラムやデータの展開用メモリ、プリンタの描画用メモリなどとして用いる書き込みおよび読み出し可能なメモリである。

ＳＢ９１４は、ＮＢ９１３とＰＣＩデバイス、周辺デバイスとを接続するためのブリッジである。このＳＢ９１４は、ＰＣＩバスを介してＮＢ９１３と接続されており、このＰＣＩバスには、ネットワークインタフェース（Ｉ／Ｆ）部なども接続される。

ＡＳＩＣ９１６は、画像処理用のハードウェア要素を有する画像処理用途向けのＩＣ（Integrated Circuit）であり、ＡＧＰバス９１５、ＰＣＩバス、ＨＤＤ９１８およびＭＥＭ−Ｃ９１７をそれぞれ接続するブリッジの役割を有する。このＡＳＩＣ９１６は、ＰＣＩターゲットおよびＡＧＰマスタと、ＡＳＩＣ９１６の中核をなすアービタ（ＡＲＢ）と、ＭＥＭ−Ｃ９１７を制御するメモリコントローラと、ハードウェアロジックなどにより画像データの回転などをおこなう複数のＤＭＡＣ（Direct Memory Access Controller）と、エンジン部９６０との間でＰＣＩバスを介したデータ転送をおこなうＰＣＩユニットとからなる。このＡＳＩＣ９１６には、ＰＣＩバスを介してＵＳＢ９４０、ＩＥＥＥ１３９４（the Institute of Electrical and Electronics Engineers 1394）インタフェース（Ｉ／Ｆ）９５０が接続される。操作表示部９２０はＡＳＩＣ９１６に直接接続されている。

ＭＥＭ−Ｃ９１７は、コピー用画像バッファ、符号バッファとして用いるローカルメモリであり、ＨＤＤ９１８は、画像データの蓄積、プログラムの蓄積、フォントデータの蓄積、フォームの蓄積を行うためのストレージである。

ＡＧＰバス９１５は、グラフィック処理を高速化するために提案されたグラフィックスアクセラレーターカード用のバスインターフェースであり、ＭＥＭ−Ｐ９１２に高スループットで直接アクセスすることにより、グラフィックスアクセラレーターカードを高速にするものである。

図３は、本実施形態の印刷装置１００及び印刷物検査装置２００の構成の一例を示すブロック図である。図３に示すように、印刷装置１００は、ＲＩＰ（Raster Image Processor）部１２１と、印刷制御部１２３と、印刷部１２５と、を備える。印刷物検査装置２００は、読取部２０１と、基準画像登録部２０３と、記憶部２０５と、読取画像取得部２０７と、基準画像取得部２０９と、検査部２１０と、出力部２１９と、を備える。検査部２１０は、位置合わせ部２１１と、特定部２１２と、第１の差分画像生成部２１３と、第２の差分画像生成部２１４と、算出部２１５と、判定部２１６と、を含む。

なお本実施形態では、印刷装置１００が、ＲＩＰ部１２１を備える場合を例に取り説明するが、これに限定されず、ＤＦＥ（Digital Front End）など印刷装置１００とは異なる装置がＲＩＰ部１２１を備えるようにしてもよい。

また本実施形態では、印刷装置１００と印刷物検査装置２００とは、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）やＰＣＩｅ（Peripheral Component Interconnect Express）等のローカルなインタフェースによって接続されていることを想定しているが、印刷装置１００と印刷物検査装置２００との接続形態は、これに限定されるものではない。

ＲＩＰ部１２１及び印刷制御部１２３は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などの処理装置にプログラムを実行させること、即ち、ソフトウェアにより実現してもよいし、ＩＣやＡＳＩＣなどのハードウェアにより実現してもよいし、ソフトウェア及びハードウェアを併用して実現してもよい。印刷部１２５は、例えば、感光体ドラム１０３Ｙ、１０３Ｍ、１０３Ｃ、１０３Ｋ、転写ベルト１０５、二次転写ローラ１０７、及び定着ローラ１１３などにより実現されるが、これに限定されるものではない。このように本実施形態では、電子写真方式で画像を印刷するが、これに限定されず、インクジェット方式で画像を印刷するようにしてもよい。

読取部２０１は、読取部２０１Ａ、２０１Ｂで構成され、例えば、エンジン部９６０などにより実現できる。基準画像登録部２０３、読取画像取得部２０７、基準画像取得部２０９、検査部２１０（位置合わせ部２１１、特定部２１２、第１の差分画像生成部２１３、第２の差分画像生成部２１４、算出部２１５、及び判定部２１６）、及び出力部２１９は、例えば、ＣＰＵ９１１、システムメモリ９１２、ＡＳＩＣ９１６、操作表示部９２０、及びエンジン部９６０などにより実現できる。記憶部２０５は、例えば、システムメモリ９１２などにより実現できる。

以下では、印刷装置１００及び印刷物検査装置２００の動作について、最初に、印刷物の検査基準となる基準画像（マスター画像）の生成動作について説明し、その後に、生成した基準画像を用いて当該印刷物の品質を検査する検査動作について説明する。

まず、基準画像の生成動作について説明する。

ＲＩＰ部１２１は、ホスト装置などの外部装置から印刷データを受け取り、受け取った印刷データをＲＩＰ処理し、ＲＩＰ画像を生成する。本実施形態では、印刷データは、PostScript（登録商標）などのページ記述言語（ＰＤＬ：Page Description Language）で記述されたジョブ情報やＴＩＦＦ（Tagged Image File Format）形式の画像データなどを含んで構成されるが、これに限定されるものではない。また本実施形態では、ＲＩＰ画像は、ＣＭＹＫのＲＩＰ画像データであるものとするが、これに限定されるものではない。

印刷制御部１２３は、ＲＩＰ部１２１により生成されたＲＩＰ画像を印刷部１２５へ送信する。

印刷部１２５は、作像プロセスなどの印刷処理プロセスを実行し、ＲＩＰ画像に基づく印刷画像を用紙に印刷し、印刷物を生成する。

読取部２０１は、印刷部１２５により生成された印刷物を読み取って読取画像を生成する。具体的には、読取部２０１は、ＲＩＰ画像に基づく印刷画像が印刷された印刷物を読み取って読取画像を生成する。本実施形態では、読取画像は、ＲＧＢの画像データであるものとするが、これに限定されるものではない。

基準画像登録部２０３は、読取部２０１から読取画像を取得し、取得した読取画像を基準画像として、記憶部２０５に登録する。具体的には、基準画像登録部２０３は、取得した読取画像のうち登録を指示された読取画像を基準画像として、記憶部２０５に登録する。

例えば、基準画像登録部２０３は、取得した読取画像に関する情報をオペレーションパネル２４０に表示する。読取画像に関する情報は、読取画像を識別可能な情報であればよく、画像であっても、画像を識別するＩＤなどの情報であってもよい。そして、検査者が、読取画像の生成に用いられた印刷物の印刷面を目視などにより確認し、オペレーションパネル２４０から、良品と判定した読取画像を基準画像として登録することを指示する操作入力を行う。これにより、基準画像登録部２０３は、指示された読取画像を基準画像として記憶部２０５に登録する。

このように、本実施形態では、良品の読取画像を基準画像とする例について説明したが、基準画像の生成手法は、これに限定されず、例えば、ＲＩＰ画像から基準画像を生成するようにしてもよい。

なお本実施形態では、印刷物検査装置２００に基準画像登録モードが設定されている場合に、読取部２０１から基準画像登録部２０３に読取画像が出力され、基準画像登録部２０３は、上述の動作を行う。印刷物検査装置２００に対するモードの設定は、例えば、検査者がオペレーションパネル２４０から行い、設定されたモードを示すモード情報は、例えば、システムメモリ９１２に記憶されている。

次に、検査動作について説明する。

ＲＩＰ部１２１の動作は、基準画像の生成動作時の動作と同様である。但し、ＲＩＰ部１２１が生成するＲＩＰ画像は、基準画像の生成動作時に生成したＲＩＰ画像と同様の画像であるため、新たにＲＩＰ画像を生成せずに、基準画像の生成動作時に生成したＲＩＰ画像を用いてもよい。

印刷制御部１２３は、ＲＩＰ部１２１により生成されたＲＩＰ画像を印刷部１２５へ送信するとともに、ＲＩＰ部１２１により受信された印刷データに含まれるジョブ情報を印刷物検査装置２００へ送信する。

また印刷制御部１２３は、印刷物検査装置２００から送信される（フィードバックされる）検査結果を用いて、例えば、スタッカ３００に対して品質検査に合格しなかった印刷物の排紙先の指定や品質検査に合格しなかった印刷物へのマーキングを行ったり、印刷部１２５に対して差し替え印刷を指示したりする。

印刷部１２５の動作は、基準画像の生成動作時の動作と同様であり、読取部２０１の動作も、基準画像の生成動作時の動作と同様である。

読取画像取得部２０７は、読取部２０１から読取画像を取得し、取得した読取画像を検査部２１０へ出力する。なお本実施形態では、印刷物検査装置２００に検査モードが設定されている場合に、読取部２０１から読取画像取得部２０７に読取画像が出力され、読取画像取得部２０７は、上述の動作を行う。

基準画像取得部２０９は、印刷物の検査基準となる基準画像を取得する。具体的には、基準画像取得部２０９は、読取画像取得部２０７により読取画像が取得されると、記憶部２０５から基準画像を取得し、取得した基準画像を検査部２１０へ出力する。

検査部２１０は、読取画像取得部２０７から出力された読取画像と基準画像取得部２０９から出力された基準画像とを比較して、印刷装置１００により生成された印刷物の品質を検査する。

位置合わせ部２１１は、読取画像取得部２０７から出力された読取画像と基準画像取得部２０９から出力された基準画像との位置合わせを行う。

特定部２１２は、位置合わせ部２１１による位置合わせ後の基準画像から、当該基準画像を構成する各領域の種別を特定する。

本実施形態では、特定部２１２は、基準画像に対し、標準偏差計算などを行うことで、当該基準画像を構成する各画素の種別が、エッジ領域を構成する画素か、平坦領域を構成する画素であるか、又は絵柄領域を構成する画素であるかを特定することで、当該基準画像を構成する各領域の種別が、エッジ領域か、平坦領域か、又は絵柄領域かを特定する。そして特定部２１２は、基準画像を構成する各領域の種別を特定可能な領域種画像を生成する。なお、平坦領域は、画素の濃度変動が予め定められ範囲内に収まる（濃度が均一な）領域であり、絵柄領域は、エッジが存在し、かつ画素の濃度変動が予め定められ範囲内に収まる領域である。

なお、基準画像を構成する各画素に対する標準偏差計算は、例えば、数式（１）及び（２）を用いて行えばよい。

ここで、Ｎは、ｎ×ｎ画素で構成される領域種判定窓（ｎ×ｎ）を表す。

具体的には、特定部２１２は、基準画像を構成する画素毎に、当該画素を中心画素とする領域種判定窓（ｎ×ｎ）を設定し、設定された領域種判定窓（ｎ×ｎ）によって指定された領域の標準偏差σを、数式（１）及び（２）を用いて算出する。

そして特定部２１２は、基準画像を構成する画素毎に、求められた複数の標準偏差σのうち値が最大のものを当該画素の標準偏差に確定し、基準画像を構成する各画素の標準偏差を閾値判定することで、基準画像を構成する各領域の種別を特定する。

例えば、特定部２１２は、エッジ判定閾値ＳＥと絵柄判定閾値ＳＩ（ＳＥ＞ＳＩ）との２種類の閾値を用いた閾値判定を行い、判定対象画素の標準偏差がエッジ判定閾値ＳＥより大きければエッジ領域を構成する画素、判定対象画素の標準偏差がエッジ判定閾値ＳＥ以下かつ絵柄判定閾値ＳＩより大きければ絵柄領域を構成する画素、判定対象画素の標準偏差が絵柄判定閾値ＳＩ以下であれば平坦領域を構成する画素とする。

そして特定部２１２は、基準画像に対応する対応画像を用意し、基準画像上のエッジ領域を構成する画素に対応する対応画像上の画素には、エッジ領域を構成することを示す画素値、基準画像上の絵柄領域を構成する画素に対応する対応画像上の画素には、絵柄領域を構成することを示す画素値、基準画像上の平坦領域を構成する画素に対応する対応画像上の画素には、平坦領域を構成することを示す画素値を配置して、領域種画像を生成する。

第１の差分画像生成部２１３は、位置合わせ部２１１による位置合わせ後の基準画像と読取画像とを画素単位で比較して画素値の差分値で構成される第１の差分画像を生成する。

検査部２１０は、第１の差分画像に基づいて、各種欠陥判定を行い、欠陥判定毎に欠陥判定情報を生成する。欠陥判定情報としては、例えば、基準画像上の欠陥部分に着色するなどして作成した欠陥判定画像や欠陥の位置などが挙げられる。そして検査部２１０は、各種欠陥判定で生成された各種欠陥判定情報を、例えば論理和を取ることにより統合し、統合された欠陥判定情報を用いて最終的な欠陥判定を行う。例えば、差分値の大きい箇所（画素群）や差分のある面積が広い箇所（画素群）が最終的な欠陥となる。

各種欠陥判定としては、スジ状欠陥か否かを判定するスジ状欠陥判定、ポチ状欠陥か否かを判定するポチ状欠陥判定、及びムラ状欠陥か否かを判定するムラ状欠陥判定などが挙げられる。但し、本実施形態の要旨はスジ状欠陥判定であるため、本実施形態では、スジ状欠陥判定に特化して説明し、ポチ状欠陥判定やムラ状欠陥判定などの他の欠陥判定については説明を省略する。

スジ状欠陥判定は、一般的には、スジの発生方向に長いフィルタを用いて移動平均を計算することが一般的である。しかしながら、この方法では、スジの発生方向に強いノイズが発生している場合、当該ノイズをスジとして誤検出してしまうおそれがある。

ここで、人間は、隣接する画素の濃淡の関係がある程度の長さにおいて同一の状態で連続しているものをスジ状欠陥と認識する傾向が強い。例えば、図４及び図５に示す画像は、いずれも中央３列の画素値の平均値は同じだが、図５に示す画像では、中央３列の画素の配置を並べ替え、中央１列の画素値（濃度）が隣接する画素列の隣接画素よりも暗い状態を連続させている。

このため、図４及び図５に示す例の場合、図４に示す画像についてはスジ状欠陥が発生していない（ノイズである）と判定され、図５に示す画像についてはスジ状欠陥が発生していると判定されることが望ましいが、上述したようなフィルタを用いた方法では、いずれもスジ状欠陥が発生していると判定されるか、いずれもスジ状欠陥が発生していないと判定されてしまう。

従って本実施形態では、スジの発生方向に発生した強いノイズをスジ状欠陥として誤検出してしまうことを回避できるスジ状欠陥判定を説明する。

第２の差分画像生成部２１４は、位置合わせ部２１１による位置合わせ後の基準画像、読取画像、及び第１の差分画像生成部２１３により生成された第１の差分画像の少なくともいずれかであるスジ状欠陥検出対象画像を構成する各画素について、第１の方向で所定の画素数離れた画素との画素値の差分値を算出し、算出した各差分値を画素値として構成される第２の差分画像を生成する。

本実施形態では、スジ状欠陥検出対象画像が第１の差分画像である場合を例に取り説明するが、これに限定されるものではない。また本実施形態では、第１の方向が横方向である場合を例に取り説明するが、これに限定されるものではない。また本実施形態では、所定の画素数が１であり、所定の画素数離れた画素が隣接画素である場合を例に取り説明するが、これに限定されるものではない。また本実施形態では、差分値が０を略中心とする符号付き差分値である場合を例に取り説明するが、これに限定されるものではない。

例えば、図６に示す第１の差分画像がスジ状欠陥検出対象画像である場合、第２の差分画像生成部２１４は、スジ状欠陥検出対象画像を構成する各画素について、横方向（右方向）で隣接する隣接画素との差分値を算出し、図７に示す第２の差分画像を生成する。

なお、図６に示す第１の差分画像上の数値は画素値を示し、図６に示す第１の差分画像上には、枠４０１内に縦方向の薄い白スジ（スジ状欠陥）が発生しているものとする。また、図７に示す第２の差分画像上の数値は、算出された差分値である画素値を示し、画素値が正の値の画素を白、画素値が負の値の画素を黒、画素値が０の画素をグレーで表している。

算出部２１５は、第２の差分画像生成部２１４により生成された第２の差分画像内のスジ状欠陥検出対象領域を構成し、第１の方向と直交する第２の方向の複数の画素列それぞれについて、当該画素列を構成する複数の画素のうち、画素値が第１の閾値よりも大きい画素の画素数である第１の画素数と、画素値が第１の閾値よりも小さい画素の画素数である第２の画素数と、を算出する。

本実施形態では、第２の差分画像の全領域がスジ状欠陥検出対象領域である場合を例に取り説明するが、これに限定されるものではない。例えば、第２の差分画像を構成する画素毎に、当該画素を中心画素とする所定範囲の領域をスジ状欠陥検出対象領域としてもよい。また本実施形態では、前述の通り、第１の方向が横方向であるため第２の方向が縦方向である場合を例に取り説明するが、これに限定されるものではない。また本実施形態では、スジ状欠陥検出対象領域を構成する各画素列が、幅１ピクセルかつ長さ２４ピクセルの画素列である場合を例に取り説明するが、これに限定されるものではない。特に、長さ（スジ状欠陥検出対象領域の縦方向の長さ）は、第２の差分画像の解像度にも依るが、少なくとも１０ピクセル以上であればよい。また本実施形態では、第１の閾値が０である場合を例に取り説明するが、これに限定されるものではない。

図８は、図７に示す第２の差分画像（スジ状欠陥検出対象領域）の画素列毎の第１の画素数と第２の画素数との算出結果を示す図である。図８に示す例では、第１の画素数が正（正の画素数）、第２の画素数が負（負の画素数）として表されている。

判定部２１６は、算出部２１５により算出された画素列毎の第１の画素数と第２の画素数との比率に基づいて、スジ状欠陥検出対象領域内において、１以上の画素列により構成されるスジ状欠陥が存在するか否かを判定する。

具体的には、判定部２１６は、画素列における第１の画素数に対する第２の画素数の比率が第１の値以上の場合、又は画素列における第２の画素数に対する第１の画素数の比率が第１の値以上の場合、画素列により構成されるスジ状欠陥が存在すると判定する。なお、以下では、第１の値を変数Ｘで表す。

本実施形態では、判定部２１６は、まず、画素列において第１の画素数と第２の画素数のいずれの方が大きいかを判定し、第２の画素数の方が大きい場合、第２の画素数が第１の画素数のＸ倍以上であるかを判定し、第１の画素数の方が大きい場合、第１の画素数が第２の画素数のＸ倍以上であるかを判定する。

つまり、判定部２１６は、第２の画素数の方が大きい場合、第２の画素数が第１の画素数のＸ倍以上であるかを判定することで、第１の画素数に対する第２の画素数の比率がＸ以上であるか否かを判定し、第１の画素数の方が大きい場合、第１の画素数が第２の画素数のＸ倍以上であるかを判定することで、第２の画素数に対する第１の画素数の比率がＸ以上であるか否かを判定する。

ここで、画素列において、第２の画素数が第１の画素数のＸ倍以上である場合や、第１の画素数が第２の画素数のＸ倍以上である場合、隣接画素間の濃淡関係がこの画素列内でほぼ同一であると判断できるため（図５参照）、判定部２１６は、この画素列をスジ状欠陥と判定する。

例えば、図８に示す算出結果において、Ｘ＝３．５とした場合、図８に示すように、枠４０２内の画素列、即ち、図７に示す第２の差分画像（スジ状欠陥検出対象領域）の中央４列の画素列がスジ状欠陥と判定され、図６に示す第１の差分画像上の枠４０１内に発生している縦方向の薄い白スジが、スジ状欠陥と正しく判定される。

このようなスジ状欠陥判定の結果は、上述したように、検査部２１０において、他の欠陥判定の結果と統合され、最終的な欠陥判定が行われ、最終的な欠陥判定の結果が出力部２１９により印刷装置１００に出力されたり、システムメモリ９１２に記憶されたりする。

図９は、本実施形態の印刷物検査システム１で行われる基準画像生成処理の手順の流れの一例を示すフローチャートである。

まず、印刷装置１００は、印刷処理を行い、印刷物を生成する（ステップＳ１０１）。

続いて、印刷物検査装置２００の読取部２０１は、印刷装置１００により生成された印刷物の読取画像を生成する（ステップＳ１０３）。

続いて、基準画像登録部２０３は、読取部２０１から読取画像を取得し、オペレーションパネル２４０からの検査者の登録指示に基づいて、取得した読取画像を基準画像として記憶部２０５に登録する（ステップＳ１０５）。

図１０は、本実施形態の印刷物検査システム１で行われる検査処理の手順の流れの一例を示すフローチャートである。

まず、ステップＳ２０１〜Ｓ２０３までの処理は、図９に示すフローチャートのステップＳ１０１〜Ｓ１０３までの処理と同様である。

続いて、読取画像取得部２０７は、読取部２０１から読取画像を取得し、取得した読取画像を検査部２１０へ出力する（ステップＳ２０５）。

続いて、基準画像取得部２０９は、読取画像取得部２０７により読取画像が取得されると、記憶部２０５から基準画像を取得し、取得した基準画像を検査部２１０へ出力する（ステップＳ２０７）。

続いて、位置合わせ部２１１は、読取画像取得部２０７から出力された読取画像と基準画像取得部２０９から出力された基準画像との位置合わせを行う（ステップＳ２１１）。

続いて、特定部２１２は、位置合わせ部２１１による位置合わせ後の基準画像に基づいて、当該基準画像を構成する各領域の種別を特定可能な領域種画像を生成する（ステップＳ２１３）。

続いて、第１の差分画像生成部２１３は、位置合わせ部２１１による位置合わせ後の基準画像と読取画像とを画素単位で比較して画素値の差分値で構成される第１の差分画像を生成する（ステップＳ２１５）。

続いて、検査部２１０は、第１の差分画像生成部２１３により生成された第１の差分画像に基づいて、欠陥判定処理を行う（ステップＳ２１７）。

続いて、出力部２１９は、欠陥判定処理結果に基づく検査部２１０の最終的な欠陥判定の結果を印刷装置１００に出力する（ステップＳ２１９）。

図１１は、図１０に示すフローチャートのステップＳ２１７で行われる欠陥判定処理の手順の流れの一例を示すフローチャートである。

まず、検査部２１０は、第１の差分画像生成部２１３により生成された第１の差分画像に基づいて、スジ状欠陥判定（検出）を行う（ステップＳ３０１）。

続いて、検査部２１０は、第１の差分画像生成部２１３により生成された第１の差分画像に基づいて、その他の欠陥判定（検出）を行う（ステップＳ３０３）。その他の欠陥判定とは、ポチ状欠陥判定やムラ状欠陥判定などであり、検査部２１０は、例えば、閾値処理などにより、ポチ状欠陥判定やムラ状欠陥判定をまとめて行う。なお、検査部２１０は、ポチ状欠陥判定やムラ状欠陥判定を個別に行ってもよい。また、ステップＳ３０１とステップＳ３０３との処理順序はこれに限定されず、例えば、処理順序を逆にしてもよいし、並列して行ってもよい。

続いて、検査部２１０は、スジ状欠陥判定の結果とその他の欠陥判定の結果とを統合（合成）し（ステップＳ３０５）、統合した欠陥判定の結果を用いて最終的な欠陥判定を行う（ステップＳ３０７）。

図１２は、図１１に示すフローチャートのステップＳ３０１で行われるスジ状欠陥判定の手順の流れの一例を示すフローチャートである。

まず、第２の差分画像生成部２１４は、第１の差分画像生成部２１３により生成された第１の差分画像であるスジ状欠陥検出対象画像を構成する各画素について、横方向で隣接画素との画素値の符号付き差分値を算出し、算出した各符号付き差分値を画素値として構成される第２の差分画像を生成する（ステップＳ４０１）。

続いて、算出部２１５は、第２の差分画像生成部２１４により生成された第２の差分画像内のスジ状欠陥検出対象領域において、当該スジ状欠陥検出対象領域を構成する縦方向の複数の画素列のうち未処理の画素列がある場合（ステップＳ４０５でＹｅｓ）、当該画素列を構成する複数の画素のうち、画素値が０よりも大きい画素の画素数である第１の画素数（正の画素の個数）と、画素値が０よりも小さい画素の画素数である第２の画素数（負の画素の個数）と、を算出する（ステップＳ４０７）。

続いて、判定部２１６は、第１の画素数（正の画素の個数）＞第２の画素数（負の画素の個数）の場合（ステップＳ４０９でＹｅｓ）、第１の画素数（正の画素の個数）＞第２の画素数（負の画素の個数）×Ｘであれば（ステップＳ４１１でＹｅｓ）、当該画素列をスジ状欠陥と判定し（ステップＳ４１３）、第１の画素数（正の画素の個数）＞第２の画素数（負の画素の個数）×Ｘでなければ（ステップＳ４１１でＮｏ）、当該画素列をスジ状欠陥でない判定する（ステップＳ４１５）。

同様に、判定部２１６は、第１の画素数（正の画素の個数）＞第２の画素数（負の画素の個数）でない場合（ステップＳ４０９でＮｏ）、第２の画素数（負の画素の個数）＞第１の画素数（正の画素の個数）×Ｘであれば（ステップＳ４１７でＹｅｓ）、当該画素列をスジ状欠陥と判定し（ステップＳ４１３）、第２の画素数（負の画素の個数）＞第１の画素数（正の画素の個数）×Ｘでなければ（ステップＳ４１７でＮｏ）、当該画素列をスジ状欠陥でないと判定する（ステップＳ４１５）。

そして未処理の画素列がなくなるまで、ステップＳ４０５〜ステップＳ４１７の処理が繰り返され、未処理の画素列がなくなると（ステップＳ４０５でＮｏ）、処理は終了となる。

なお、スジ状欠陥検出対象領域が複数存在する場合、各スジ状欠陥検出対象領域に対し、ステップＳ４０５〜ステップＳ４１７の処理が行われる。

以上のように本実施形態によれば、印刷や読み取り過程で生じた強いノイズをスジ状欠陥として誤検出してしまうことを回避できるため、スジ状欠陥の検出精度を向上させることができる。

（変形例１）
上記実施形態では、スジ状欠陥検出対象領域において、基準画像を構成する各領域の種別を考慮していなかったが、各領域の種別を考慮するようにしてもよい。

例えば、基準画像のエッジ領域を構成する画素に対応するスジ状欠陥検出対象画像（第２の差分画像）上の画素をスジ状欠陥検出対象領域から除外するようにしてもよい。基準画像のエッジ領域を構成する画素に対応するスジ状欠陥検出対象画像（第２の差分画像）上の画素は、第２の差分画像を生成する際の基準画像と読取画像との１ピクセル以下の微小なずれなどの影響により、意図しない差分値が出現する可能性があるためである。

この場合、第２の差分画像生成部２１４は、差分値の算出に用いられたいずれかの画素が基準領域のエッジ領域を構成する画素に対応する場合、差分値の値を第１の閾値（０）とすればよい。なお、差分値の算出に用いられたいずれかの画素が基準領域のエッジ領域を構成する画素に対応するか否かは、特定部２１２により生成された領域種画像を参照すれば判別できる。

また例えば、基準画像の絵柄領域を構成する画素に対応する第１の差分画像上の画素の画素値を緩和するようにしてもよい。この場合、第１の差分画像生成部２１３は、基準領域の絵柄領域を構成する画素に対応する画素の画素値を緩和用の値で緩和すればよい。緩和用の値は、予め定められた定数であってもよいし、特定部２１２が領域種画像を生成する際に算出した標準偏差から算出してもよい。なお、基準領域の絵柄領域を構成する画素に対応する画素であるか否かは、特定部２１２により生成された領域種画像を参照すれば判別できる。

例えば、図１３に示すように、読取画像１４０１と基準画像１４０２とから第１の差分画像１４０３が生成されているとする。なお、第１の差分画像１４０３において、斜線で示された領域１４１１は、基準画像１４０２のエッジ領域に対応する領域であり、他の領域は、基準画像１４０２の絵柄領域に対応する領域であるとする。

この場合、第２の差分画像生成部２１４は、第１の差分画像１４０３から第２の差分画像１４０４を生成する際に、基準画像１４０２のエッジ領域に対応する領域１４１１を構成する画素を用いて算出した差分値は、第１の閾値（０）に修正する。また、第１の差分画像生成部２１３は、基準画像１４０２の絵柄領域に対応する領域を構成する画素の画素値を緩和し、第２の差分画像生成部２１４は、緩和後の画素値の差分を示す差分値を算出する。図１３に示す例では、第１の差分画像１４０３の左から２、３列目の画素列において画素値が緩和されることで、この２列の画素値の差分を示す差分値が０となっている。

（変形例２）
上記実施形態では、色境界におけるフレアなどがスジ状欠陥として検出されてしまう場合があるが、フレアをスジ状欠陥として検出しないようにしてもよい。フレアも欠陥の一種ではあるが、スジ状欠陥ほど高精度な検出は必要とされておらず、フレアをスジ状欠陥として検出することが過剰検知にもつながるためである。

例えば、図１４に示すように、読取画像１５０１と基準画像１５０２とから第１の差分画像１５０３が生成され、第１の差分画像１５０３から第２の差分画像１５０４が生成されているとする。なお、読取画像１５０１には、スジ状欠陥が発生し、基準画像１５０２は、全て平坦領域であるものとする。図１４に示す例では、読取画像１５０１の中央列にスジ状欠陥が発生しているため、第２の差分画像１５０４の中央を境に、右側が負（黒）、左側が正（白）となっている。このように、スジ状欠陥の場合、正連続によるスジ状欠陥と負連続によるスジ状欠陥とが近接する。

一方、図１５に示すように、読取画像１６０１と基準画像１６０２とから第１の差分画像１６０３が生成され、第１の差分画像１６０３から第２の差分画像１６０４が生成されているとする。なお、読取画像１６０１にはフレアが発生し、第１の差分画像１６０３において、斜線で示された領域１６１１は、基準画像６４０２のエッジ領域に対応する領域であるとする。図１５に示す例では、読取画像１６０１の中央左側部分にフレアが発生し、第２の差分画像１６０４の中央左側が正（白）となっている。このように、フレアの場合、正連続によるスジ状欠陥又は負連続によるスジ状欠陥のみが集合する。

このため、判定部２１６は、画素列における第１の画素数に対する第２の画素数の比率が第１の値以上であり、かつ第２の方向で予め定められた距離内に第２の画素数に対する第１の画素数の比率が第１の値以上である他の画素列が存在する場合、又は画素列における第２の画素数に対する第１の画素数の比率が第１の値以上であり、かつ第２の方向で予め定められた距離内に第１の画素数に対する第２の画素数の比率が第１の値以上である他の画素列が存在する場合、画素列により構成されるスジ状欠陥が存在すると判定すれば、フレアをスジ状欠陥として検出することを回避できる。

変形例２では、予め定められた距離が３ピクセルである場合を想定しているが、これに限定されるものではない。

なお、スジ状欠陥の片側でエッジがぼけていたりする場合、第２の差分画像１５０４のように、正連続によるスジ状欠陥と負連続によるスジ状欠陥とが近接しない場合がある。このため、正連続によるスジ状欠陥と近接する負連続によるスジ状欠陥を探索する場合、又は負連続によるスジ状欠陥と近接する正連続によるスジ状欠陥を探索する場合、第１の値（Ｘ）を緩和した第２の値を用いてスジ状欠陥の判定を行うようにしてもよい。

つまり、判定部２１６は、画素列における第１の画素数に対する第２の画素数の比率が第１の値以上であり、かつ第２の方向で予め定められた距離内に第２の画素数に対する第１の画素数の比率が第１の値よりも小さい第２の値以上である他の画素列が存在する場合、又は画素列における第２の画素数に対する第１の画素数の比率が第１の値以上であり、かつ第２の方向で予め定められた距離内に第１の画素数に対する第２の画素数の比率が第２の値以上である他の画素列が存在する場合、画素列により構成されるスジ状欠陥が存在すると判定すればよい。

（変形例３）
上記実施形態では、第１の値（Ｘ）が固定値である場合を例に取り説明したが、第１の値（Ｘ）を調整してもよい。例えば、読取画像上のノイズの発生状況に基づいて、第１の値（Ｘ）を調整してもよい。この場合、判定部２１６は、基準画像の平坦領域に対応する読取画像上の領域におけるノイズの発生状況に基づいて、第１の値を決定すればよい。具体的には、判定部２１６は、基準画像の平坦領域に対応する読取画像上の領域における分散値からノイズの発生状況を求め、ノイズの発生が多い場合、第１の値（Ｘ）を小さくし、ノイズの発生が少ない場合、第１の値（Ｘ）を大きくしてもよい。

（変形例４）
上記実施形態において、スジ状欠陥の検出強度を調整するため、閾値処理を行って、第１の画素数（正の画素の個数）及び第２の画素数（負の画素の個数）を算出するようにしてもよい。

具体的には、第１の画素数を、画素値が第１の閾値よりも大きく、かつ画素値の絶対値が第２の閾値よりも大きい画素の画素数とし、第２の画素数を、画素値が第１の閾値よりも小さく、かつ画素値の絶対値が第２の閾値よりも大きい画素の画素数とすればよい。

なお、第２の閾値の値は、外部入力に基づいて設定されてもよく、例えば、図１６に示すような検出強度（レベル）設定画面上で検査者が設定すればよい。

（変形例５）
上記実施形態において、スジ状欠陥検出対象画像を読取画像とし、算出部２１５は、基準画像の平坦領域に対応する第２の差分画像内の領域をスジ状欠陥検出対象領域としてもよい。

（変形例６）
上記実施形態において、絵柄領域に対応する領域で発生したスジ状欠陥を検出するため、基準画像及び読取画像それぞれをスジ状欠陥検出対象画像とし、基準画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した第２の差分画像のスジ状欠陥検出対象領域でのスジ状欠陥判定結果、及び読取画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した第２の差分画像のスジ状欠陥検出対象領域でのスジ状欠陥判定結果を比較して、スジ状欠陥を判定するようにしてもよい。両スジ状欠陥検出対象領域で共通のスジ状欠陥があれば、画像の絵柄であり、読取画像に基づくスジ状欠陥検出対象領域のみでスジ状欠陥があれば、スジ状欠陥と判定できる。

この場合、第２の差分画像生成部２１４は、基準画像であるスジ状欠陥検出対象画像、及び読取画像であるスジ状欠陥検出対象画像それぞれに対し、第２の差分画像を生成し、算出部２１５は、基準画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した第２の差分画像のスジ状欠陥検出対象領域、及び読取画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した第２の差分画像のスジ状欠陥検出対象領域、それぞれに対し、画素列毎の第１の画素数と第２の画素数を算出し、判定部２１６は、基準画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した第２の差分画像のスジ状欠陥検出対象領域、及び読取画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した第２の差分画像のスジ状欠陥検出対象領域それぞれにおける、画素列毎の第１の画素数と第２の画素数との比率に基づいて、スジ状欠陥検出対象領域内において、スジ状欠陥が存在するか否かを判定すればよい。

なお、基準画像側のスジ状欠陥判定は、読取画像側のスジ状欠陥判定結果を利用し、スジ状欠陥と判定された領域に絞って行ってもよい。このようにすれば、処理量を削減でき、高速化を図れる。

つまり、算出部２１５は、読取画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した第２の差分画像のスジ状欠陥検出対象領域に対し、画素列毎の第１の画素数と第２の画素数を算出し、判定部２１６は、画素列毎の第１の画素数と第２の画素数との割合に基づいて、スジ状欠陥検出対象領域内において、スジ状欠陥が存在するか否かを判定する第１判定を行う。

そして算出部２１５は、第１判定の結果、スジ状欠陥が存在する場合、基準画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した第２の差分画像のスジ状欠陥検出対象領域に対し、画素列毎の前記第１の画素数と前記第２の画素数を算出し、判定部２１６は、画素列毎の第１の画素数と第２の画素数との割合に基づいて、スジ状欠陥検出対象領域内において、スジ状欠陥が存在するか否かを判定する第２判定を行い、第１判定及び第２判定結果に基づいて、スジ状欠陥検出対象領域内において、スジ状欠陥が存在するか否かを判定すればよい。

（変形例７）
上記実施形態において、スジ状欠陥のエッジがぼけている場合、隣接画素との濃度関係がうまく一定とならずスジ状欠陥が検出できない場合が考えられる。このため、差分値を算出する画素を隣接画素ではなく、第１の方向で所定の画素数離れた画素とし、ぼけたエッジ部を避け、濃淡関係をうまく取得するようにしてもよい。

所定の画素数は、経験的に求めた定数としても良いが、例えば、第１の値（Ｘ）を小さく設定して過剰気味にスジ状欠陥を検出し、検出したスジ状欠陥について、スジの幅方向の分布を調べてエッジのぼけ具合を算出し、エッジ部をスキップできる距離を画素間の距離として設定してスジ状欠陥検出箇所に対して再検査を実施するなどしてもよい。

（プログラム）
上記実施形態及び各変形例の検査装置で実行されるプログラムは、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、メモリカード、ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）、フレキシブルディスク（ＦＤ）等のコンピュータで読み取り可能な記憶媒体に記憶されて提供される。

また、上記実施形態及び各変形例の検査装置で実行されるプログラムを、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するようにしてもよい。また、上記実施形態及び各変形例の検査装置で実行されるプログラムを、インターネット等のネットワーク経由で提供または配布するようにしてもよい。また、上記実施形態及び各変形例の検査装置で実行されるプログラムを、ＲＯＭ等に予め組み込んで提供するようにしてもよい。

上記実施形態及び各変形例の検査装置で実行されるプログラムは、上述した各部をコンピュータ上で実現させるためのモジュール構成となっている。実際のハードウェアとしては、例えば、ＣＰＵがＲＯＭからプログラムをＲＡＭ上に読み出して実行することにより、上記各機能部がコンピュータ上で実現されるようになっている。

なお、上記実施形態及び変形例は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。上記新規な実施の形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、及び少なくとも一部のクラウド化などを行うことができる。これらの実施の形態は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１ 印刷物検査システム
１００ 印刷装置
１０１ オペレーションパネル
１０３Ｙ、１０３Ｍ、１０３Ｃ、１０３Ｋ 感光体ドラム
１０５ 転写ベルト
１０７ 二次転写ローラ
１０９ 給紙部
１１１ 搬送ローラ対
１１３ 定着ローラ
１１５ 反転パス
１２１ ＲＩＰ部
１２３ 印刷制御部
１２５ 印刷部
２００ 印刷物検査装置
２０１、２０１Ａ、２０１Ｂ 読取部
２０３ 基準画像登録部
２０５ 記憶部
２０７ 読取画像取得部
２０９ 基準画像取得部
２１０ 検査部
２１１ 位置合わせ部
２１２ 特定部
２１３ 第１の差分画像生成部
２１４ 第２の差分画像生成部
２１５ 算出部
２１６ 判定部
２１９ 出力部
２４０ オペレーションパネル
３００ スタッカ
３０１ トレイ
９１０ コントローラ
９１１ ＣＰＵ
９１２ システムメモリ
９１２ａ ＲＯＭ
９１２ｂ ＲＡＭ
９１３ ノースブリッジ
９１４ サウスブリッジ
９１５ ＡＧＰバス
９１６ ＡＳＩＣ
９１７ ローカルメモリ
９１８ ハードディスクドライブ
９２０ 操作表示部
９４０ ＵＳＢ
９５０ ＩＥＥＥ１３９４インタフェース
９６０ エンジン部

特開２０１４−７１０４５号公報

Claims (15)

1. 印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得部と、
   前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得部と、
   前記基準画像と前記読取画像との差分を示す第１の差分画像を生成する第１の差分画像生成部と、
   前記基準画像、前記読取画像、及び前記第１の差分画像の少なくともいずれかであるスジ状欠陥検出対象画像を構成する各画素について、第１の方向で所定の画素数離れた画素との画素値の差分値を算出し、算出した各差分値を画素値として構成される第２の差分画像を生成する第２の差分画像生成部と、
   前記第２の差分画像内のスジ状欠陥検出対象領域を構成し、前記第１の方向と直交する第２の方向の複数の画素列それぞれについて、当該画素列を構成する複数の画素のうち、画素値が第１の閾値よりも大きい画素の画素数である第１の画素数と、画素値が前記第１の閾値よりも小さい画素の画素数である第２の画素数と、を算出する算出部と、
   前記画素列毎の前記第１の画素数と前記第２の画素数との比率に基づいて、前記スジ状欠陥検出対象領域内において、１以上の前記画素列により構成されるスジ状欠陥が存在するか否かを判定する判定部と、
   を備える検査装置。
2. 前記所定の画素数は、１であり、
   前記所定の画素数離れた画素は、隣接画素である請求項１に記載の検査装置。
3. 前記基準画像からエッジ領域を特定する特定部を更に備え、
   前記第２の差分画像生成部は、前記差分値の算出に用いられたいずれかの画素が前記エッジ領域を構成する画素に対応する場合、前記差分値の値を前記第１の閾値とする請求項１又は２に記載の検査装置。
4. 前記判定部は、前記画素列における前記第１の画素数に対する前記第２の画素数の比率が第１の値以上の場合、又は前記画素列における前記第２の画素数に対する前記第１の画素数の比率が前記第１の値以上の場合、前記画素列により構成されるスジ状欠陥が存在すると判定する請求項１〜３のいずれか１つに記載の検査装置。
5. 前記判定部は、前記画素列における前記第１の画素数に対する前記第２の画素数の比率が第１の値以上であり、かつ前記第２の方向で予め定められた距離内に第２の画素数に対する第１の画素数の比率が前記第１の値以上である他の画素列が存在する場合、又は前記画素列における前記第２の画素数に対する前記第１の画素数の比率が前記第１の値以上であり、かつ前記第２の方向で予め定められた距離内に第１の画素数に対する第２の画素数の比率が前記第１の値以上である他の画素列が存在する場合、前記画素列により構成されるスジ状欠陥が存在すると判定する請求項１〜３のいずれか１つに記載の検査装置。
6. 前記判定部は、前記画素列における前記第１の画素数に対する前記第２の画素数の比率が第１の値以上であり、かつ前記第２の方向で予め定められた距離内に第２の画素数に対する第１の画素数の比率が前記第１の値よりも小さい第２の値以上である他の画素列が存在する場合、又は前記画素列における前記第２の画素数に対する前記第１の画素数の比率が前記第１の値以上であり、かつ前記第２の方向で予め定められた距離内に第１の画素数に対する第２の画素数の比率が前記第２の値以上である他の画素列が存在する場合、前記画素列により構成されるスジ状欠陥が存在すると判定する請求項１〜３のいずれか１つに記載の検査装置。
7. 前記基準画像から、画素の濃度変動が予め定められ範囲内に収まる平坦領域を特定する特定部を更に備え、
   前記判定部は、前記平坦領域に対応する前記読取画像上の領域におけるノイズの発生状況に基づいて、前記第１の値を決定する請求項４〜６のいずれか１つに記載の検査装置。
8. 前記差分値は、符号付き差分値であり、
   前記第１の閾値は、０であり、
   前記第１の画素数は、画素値が前記第１の閾値よりも大きく、かつ前記画素値の絶対値が第２の閾値よりも大きい画素の画素数であり、
   前記第２の画素数は、画素値が前記第１の閾値よりも小さく、かつ前記画素値の絶対値が前記第２の閾値よりも大きい画素の画素数である請求項１〜７のいずれか１つに記載の検査装置。
9. 前記第２の閾値の値は、外部入力に基づいて設定される請求項８に記載の検査装置。
10. 前記スジ状欠陥検出対象画像は、前記第１の差分画像である請求項１〜９のいずれか１つに記載の検査装置。
11. 前記スジ状欠陥検出対象画像は、前記読取画像であり、
    前記基準画像から、画素の濃度変動が予め定められ範囲内に収まる平坦領域を特定する特定部を更に備え、
    前記算出部は、前記平坦領域に対応する前記第２の差分画像内の領域を前記スジ状欠陥検出対象領域とする請求項１〜９のいずれか１つに記載の検査装置。
12. 前記基準画像及び前記読取画像それぞれが前記スジ状欠陥検出対象画像であり、
    前記第２の差分画像生成部は、前記基準画像であるスジ状欠陥検出対象画像、及び前記読取画像であるスジ状欠陥検出対象画像それぞれに対し、前記第２の差分画像を生成し、
    前記算出部は、前記基準画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した前記第２の差分画像の前記スジ状欠陥検出対象領域、及び前記読取画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した前記第２の差分画像の前記スジ状欠陥検出対象領域、それぞれに対し、前記画素列毎の前記第１の画素数と前記第２の画素数を算出し、
    前記判定部は、前記基準画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した前記第２の差分画像の前記スジ状欠陥検出対象領域、及び前記読取画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した前記第２の差分画像の前記スジ状欠陥検出対象領域それぞれにおける、前記画素列毎の前記第１の画素数と前記第２の画素数との比率に基づいて、前記スジ状欠陥検出対象領域内において、前記スジ状欠陥が存在するか否かを判定する請求項１〜９のいずれか１つに記載の検査装置。
13. 前記基準画像及び前記読取画像それぞれが前記スジ状欠陥検出対象画像であり、
    前記第２の差分画像生成部は、前記基準画像であるスジ状欠陥検出対象画像、及び前記読取画像であるスジ状欠陥検出対象画像それぞれに対し、前記第２の差分画像を生成し、
    前記算出部は、前記読取画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した前記第２の差分画像の前記スジ状欠陥検出対象領域に対し、前記画素列毎の前記第１の画素数と前記第２の画素数を算出し、
    前記判定部は、前記画素列毎の前記第１の画素数と前記第２の画素数との割合に基づいて、前記スジ状欠陥検出対象領域内において、前記スジ状欠陥が存在するか否かを判定する第１判定を行い
    前記算出部は、前記スジ状欠陥が存在する場合、前記基準画像であるスジ状欠陥検出対象画像から生成した前記第２の差分画像の前記スジ状欠陥検出対象領域に対し、前記画素列毎の前記第１の画素数と前記第２の画素数を算出し、
    前記判定部は、前記画素列毎の前記第１の画素数と前記第２の画素数との割合に基づいて、前記スジ状欠陥検出対象領域内において、前記スジ状欠陥が存在するか否かを判定する第２判定を行い、前記第１判定及び前記第２判定結果に基づいて、前記スジ状欠陥検出対象領域内において、前記スジ状欠陥が存在するか否かを判定する請求項１〜９のいずれか１つに記載の検査装置。
14. 印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得ステップと、
    前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得ステップと、
    前記基準画像と前記読取画像との差分を示す第１の差分画像を生成する第１の差分画像生成ステップと、
    前記基準画像、前記読取画像、及び前記第１の差分画像の少なくともいずれかであるスジ状欠陥検出対象画像を構成する各画素について、第１の方向で所定の画素数離れた画素との画素値の差分値を算出し、算出した各差分値を画素値として構成される第２の差分画像を生成する第２の差分画像生成ステップと、
    前記第２の差分画像内のスジ状欠陥検出対象領域を構成し、前記第１の方向と直交する第２の方向の複数の画素列それぞれについて、当該画素列を構成する複数の画素のうち、画素値が第１の閾値よりも大きい画素の画素数である第１の画素数と、画素値が前記第１の閾値よりも小さい画素の画素数である第２の画素数と、を算出する算出ステップと、
    前記画素列毎の前記第１の画素数と前記第２の画素数との比率に基づいて、前記スジ状欠陥検出対象領域内において、１以上の前記画素列により構成されるスジ状欠陥が存在するか否かを判定する判定ステップと、
    を含む検査方法。
15. 印刷物の検査基準となる基準画像を取得する基準画像取得ステップと、
    前記印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得ステップと、
    前記基準画像と前記読取画像との差分を示す第１の差分画像を生成する第１の差分画像生成ステップと、
    前記基準画像、前記読取画像、及び前記第１の差分画像の少なくともいずれかであるスジ状欠陥検出対象画像を構成する各画素について、第１の方向で所定の画素数離れた画素との画素値の差分値を算出し、算出した各差分値を画素値として構成される第２の差分画像を生成する第２の差分画像生成ステップと、
    前記第２の差分画像内のスジ状欠陥検出対象領域を構成し、前記第１の方向と直交する第２の方向の複数の画素列それぞれについて、当該画素列を構成する複数の画素のうち、画素値が第１の閾値よりも大きい画素の画素数である第１の画素数と、画素値が前記第１の閾値よりも小さい画素の画素数である第２の画素数と、を算出する算出ステップと、
    前記画素列毎の前記第１の画素数と前記第２の画素数との比率に基づいて、前記スジ状欠陥検出対象領域内において、１以上の前記画素列により構成されるスジ状欠陥が存在するか否かを判定する判定ステップと、
    をコンピュータに実行させるためのプログラム。