JPH10157081A - 筋状欠陥検査方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 絵柄を含んでいる検査画像から、コントラス
トが低く且つ微細の筋状欠陥をも確実に検出できるよう
にする。 【解決手段】 印刷物を画像入力した検査画像から、印
刷物上に発生している筋状欠陥を検出する筋状欠陥検査
装置であって、印刷物から検査画像を光学的に入力する
画像入力部１０と、検査画像から絵柄部分を除外する絵
柄除外部１２と、絵柄部分が除外処理された画像に存在
する筋部分を強調処理する筋強調部１４と、筋部分が強
調処理された画像に基づいて筋状欠陥を判定する判定部
１６と、判定された筋状欠陥をモニター上に表示する欠
陥表示部１８とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、筋状欠陥検査方法
及び装置、特に、印刷物に発生している微細な筋状の欠
陥を検出する際に適用して好適な、筋状欠陥検査方法及
び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、グラビア輪転印刷機では、回転
する版胴と、これを押え付けるニップロールとの間に原
反を通過させながら、該版胴に付着されたインキをその
原反に転写することにより、連続的な印刷が行われてい
る。

【０００３】このような連続的な印刷を可能とするため
に、回転する版胴の表面にインキを供給するとともに、
その過剰分をドクターブレードによって掻き落すことが
行われている。

【０００４】ところが、何等かの理由でドクターブレー
ドに微少な欠けが生じたりすると、その欠け部分が接触
している版胴には、極めて僅かであるが常時インキが残
ることになるため、原反の印刷面には、いわゆるドクタ
ー筋と呼ばれる、微細ではあるが連続した筋状の印刷欠
陥が発生することになる。

【０００５】従来、印刷物の検査には、ＣＣＤカメラ等
の撮像手段で印刷絵柄を画像入力し、その入力画像を画
像処理することにより印刷欠陥を検出することが行われ
ている。

【０００６】このような印刷欠陥の検出に用いられる画
像処理としては、例えば、入力画像から線分を検出する
ための各種微分オペレータの適用や、ハフ転換、パター
ン認識等の技術が知られている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ような従来の画像処理による線分検出方法では、入力さ
れた絵柄を含む画像から絵柄のエッジと筋状欠陥を識別
して検出することが困難である。その上、ドクター筋等
の同一方向に延びる筋状欠陥は、欠陥部とその周辺との
コントラストが低い場合が多いために線分として検出し
にくく、画像中に雑音がある場合には尚更検出しにくい
という問題があった。

【０００８】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
くなされたもので、絵柄を含んでいる検査画像から、コ
ントラストが低く、しかも、微細な筋状欠陥をも確実に
検出することができる筋状欠陥検査方法及び装置を提供
することを課題とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明は、印刷物を画像
入力した検査画像から、印刷物上に発生している筋状欠
陥を検出する筋状欠陥検査方法であって、検査画像から
絵柄部分を除外処理する絵柄除外ステップと、該除外処
理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋強調ステ
ップと、該強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を判定
する判定ステップと、を有することにより、前記課題を
解決したものである。

【００１０】本発明は、又、印刷物を画像入力した検査
画像から、印刷物上に発生している筋状欠陥を検出する
筋状欠陥検査装置であって、検査画像から絵柄部分を除
外処理する絵柄除外手段と、該除外処理後の画像に存在
する筋部分を強調処理する筋強調手段と、該強調処理後
の画像に基づいて筋状欠陥を判定する判定手段と、を備
えたことにより、同様に前記課題を解決したものであ
る。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態を詳細に説明する。

【００１２】図１、図２は、本発明に係る第１実施形態
の筋状欠陥検査装置の概略構成を示すブロック図であ
る。

【００１３】本実施形態の検査装置は、印刷物を画像入
力した検査画像から、印刷物上に発生している筋状欠陥
を検出するもので、印刷物からＣＣＤカメラ等により検
査画像を光学的に入力する画像入力部１０と、入力され
た検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外部１２
と、絵柄部分が除外された除外処理後の画像に存在する
筋部分を強調処理する筋強調処理部１４と、筋部分が強
調された強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を判定す
る判定部１６と、判定された筋状欠陥をモニタ上に表示
する欠陥表示部１８とを備えている。

【００１４】本実施形態では、図２に詳細を示すよう
に、前記絵柄除外部１２は、マスク画像作成部１２Ａ、
エッジ画像作成部１２Ｂ、マスク済みエッジ画像合成部
１２Ｃを含み、前記筋強調処理部１４は縦加算部１４Ａ
を、又、前記判定部１６は、二値化部１６Ａ、線認識部
１６Ｂをそれぞれ含んで構成されている。

【００１５】以下、上記検査装置を構成する各機能部に
ついて詳述する。なお、この実施形態では、特に断らな
い限り、画像は、それを構成する各画素が０〜２５５の
２５６階調の画素値で表示されるモノクロ画像とする。
従って、カラー画像の場合は、Ｒ、Ｇ、Ｂの３フレーム
のモノクロ画像として同様に取り扱うことができる。

【００１６】前記マスク画像作成部１２Ａは、検査画像
から抽出される絵柄部分のエッジをマスクするためのマ
スク画像を作成する機能を有している。

【００１７】即ち、このマスク画像作成部１２Ａは、画
像入力部１０により入力された検査画像に含まれる筋状
欠陥以外の線分や絵柄のエッジ部を検出処理の対象から
外すためのマスク画像を作成する機能を有する。具体的
には、例えば、図３に画素の配置を概念的に示したよう
に、隣接する画素との画素値の差分を計算し、これを閾
値処理することにより、明確な線や絵柄のエッジのみに
相当する二値のマスク画像を作成する。これを、便宜
上、画素を表わす記号と同一の記号で画素値を記述する
と、次の（１）、（２）式で表わすことができる。

【００１８】（Ｐ_n,m が絵柄のエッジである場合） ｜Ｐ_i,j −Ｐ_n,m ｜≧Ｔ1 …（１） （Ｐ_n,m が絵柄のエッジでない場合） ｜Ｐ_i,j −Ｐ_n,m ｜＜Ｔ1 …（２） 但し、ｉ＝ｎ−１，ｎ，ｎ＋１、ｊ＝ｍ−１，ｍ，ｍ＋
１、Ｐ_i,j ≠Ｐ_n,m Ｔ1 ：閾値

【００１９】上記但し書きでＰ_i,j ≠Ｐ_n,m とあるの
は、同一画素間では計算しないことを意味する。又、閾
値Ｔ1 は固定した値でなく、筋状欠陥のエッジが抽出さ
れない値として実験的に求め、別途設定しておく。

【００２０】上記（１）、（２）式による計算処理の結
果、閾値Ｔ1 以上の濃度差をもった、即ち明確な線や絵
柄のエッジのみが抽出された二値画像が作成される。こ
の二値画像を、検査画像が絵柄Ｐと筋状欠陥（ドクター
筋）Ｄとを模式的に示した図４である場合を例に示す
と、図５のようになる。即ち、濃淡がはっきりしている
絵柄Ｐのみのエッジが抽出され、ドクター筋Ｄ等のコン
トラストの低い線状（筋状）部分のエッジは抽出されな
い二値化画像が得られる。そして、この図５の画像のエ
ッジに基づいて、該エッジをマスクするに十分な幅の、
図６に示すようなマスク部分Ｍが生成されたマスク画像
が作成できる。

【００２１】なお、その際、実際の検査画像では、ノイ
ズ等に起因して連続した明瞭なエッジが抽出されないこ
ともあるので、エッジの膨張処理を行うことにより、エ
ッジの明瞭化を図るようにしてもよい。又、上記
（１）、（２）式を用いる抽出処理によっては任意の方
向のエッジを検出できるが、必ずしも全方向の計算をす
る必要はなく、例えば水平方向のみであってもよい。

【００２２】前記エッジ画像作成部１２Ｂは、同一の検
査画像から抽出される任意のエッジを含むエッジ画像を
作成する機能を有している。即ち、このエッジ画像作成
部１２Ｂでは、前記検査画像から、縦方法の筋状欠陥を
検出するために水平方向のエッジを全て抽出する。

【００２３】具体的には、縦方向の筋状欠陥を検出した
い場合、水平方向で画素間の画素値の差分を計算するこ
とにより全てのエッジを求める。その際、例えば、図７
に模式的に示した水平方向の画素の配列に対応する、次
の（３）式で記述される微分オペレータを各画素に適用
することにより、コントラストが低い線部分を含む全て
のエッジを抽出することができるため、濃度差に応じた
任意のエッジを含むエッジ画像が作成される。なお、こ
の（３）式でＤは、別途設定しおく１以上の定数（Ｄ≧
１）であり、因にこの実施形態ではＤ＝２としている。

【００２４】 Ｐ_n,m ＝（２Ｐ_n −Ｐ_n+D −Ｐ_n-D ） …（３）

【００２５】又、このエッジ画像作成部１２Ｂでは、上
記（３）式のオペレータによる演算結果について正規化
を行うようになっている。この正規化は、対象画像の画
素値が０〜２５５階調であることから、上記（３）式の
単純な計算値は、完全な平坦部の場合を０として、マイ
ナスとプラスの値（最小値−５１０、最大値＋５１０）
を持つことになり、このままでは０〜２５５階調で表示
ができないことになるので、この表示ができるようにす
るための処理である。

【００２６】正規化の具体的処理は、上記（３）式を次
の（４）式のように第１項と第２項に分けて、“正規化
前の減算”を行った後、その結果について“正規化後の
加算”を行い、結果として次の（５）式による計算を行
うことに当る。但し、式中Ｍは正規化後の原点に当る階
調値であり、ここでは１２８（＝２５６÷２）としてい
る。

【００２７】 Ｐ_n,m ＝（Ｐ_n −Ｐ_n+D ）＋（Ｐ_n −Ｐ_n-D ） …（４） Ｐ_n,m ＝（２Ｐ_n −Ｐ_n+D −Ｐ_n-D ＋４Ｍ）／４ …（５）

【００２８】即ち、この（５）式により上記（３）式の
計算結果を正規化することは、該（３）式の計算結果
が、例えば−５１０、０、＋５１０であれば、これらを
それぞれを４で割った後、全体的に１２８分シフトさせ
た値である１、１２８、２５５の画素値に変換すること
を意味する。従って、この正規化により、（３）式の計
算結果を、階調値１２８を原点（中間値）として、＋−
それぞれの方向に変化する画素値として表示することが
可能となる。

【００２９】ここで行われる正規化は、一般的な画像処
理装置で行われる、いわゆるフレーム間演算の加算や減
算の結果に対して、その画素値がマイナスになる場合
に、０〜２５５階調の表示ができるようにするものと実
質的に同一の処理である。具体例を挙げると、いずれも
０〜２５５階調表示の画像Ａ、Ｂについて、（画像Ａ−
画像Ｂ）の減算結果を画像Ｃとする場合、この画像Ｃは
−２５５〜＋２５５となり、０〜２５５内に収まらない
ので、Ｍ＝１２８とし、画像Ｃ＝（画像Ａ−画像Ｂ）／
２＋Ｍにより正規化し、１〜２５５にする。

【００３０】図８は、上記微分オペレータを前記図４の
検査画像に適用して得られたエッジ画像を模式的に示し
たものであり、前記絵柄Ｐに基づく強いエッジＰＥとド
クター筋Ｄに基づく弱いエッジＤＥとが、抽出されてい
る。尚、このエッジ画像の作成には、上記微分オペレー
タに限らず、その他のエッジ抽出処理の方法を適用して
もよいことは言うまでもない。

【００３１】前記マスク済みエッジ画像合成部１２Ｃ
は、作成されたエッジ画像とマスク画像を合成する機能
を有している。即ち、マスク済みエッジ画像合成部１２
Ｃは、前述した画像処理により作成したエッジ画像とマ
スク画像を合成して、検査対象外の画素を決定し、これ
以降の処理からその画素を除外する働きをする。

【００３２】具体的には、作成したエッジ画像とマスク
画像を図９に概念的に示したように、エッジ画像上の画
素Ｐ_n と、これに対応するマスク画像上の画素Ｍ_n とを
比較し、画素Ｍ_n がエッジ部（マスク部分）でない場合
は、画素Ｐ_n はそのままにし、逆に、画素Ｍ_n がエッジ
部である場合は、画素Ｐ_n をマスクする（検査対象外と
する）。即ち、この合成処理は、画素Ｍ_n がエッジ部で
ない場合は、合成画像の対応する画素に対して画素Ｐ_n
の画素値をそのまま設定し、逆にエッジ部である場合
は、正規化後の原点に対応する階調値１２８を設定し、
エッジ画像中の強いエッジＰＥをマスクする処理を行っ
ていることに当る。

【００３３】従って、ここで行うマスク処理とは、マス
ク画像のエッジ部に当る合成画像の画素に、前記（５）
式で正規化の原点の画素値として設定した階調値１２８
を設定することであり、これにより、合成して得られる
マスク済画像についても１２８に正規化すると同時に、
上記エッジＰＥをマスクして検査対象外とした上で、前
記（３）式によるマイナスの計算結果をも０〜１２７の
階調値により画像表示できるようにしている。

【００３４】図１０は、前記図６のマスク画像と、前記
図８のエッジ画像とについて、上述した合成処理を行う
ことにより作成したマスク済み画像を模式的に示したも
のであり、この画像には、上記のように強いエッジＰＥ
が除外され、ドクター筋Ｄに基づく弱いエッジＤＥが残
存していることが示されている。

【００３５】前記筋強調処理部１４に含まれる縦加算部
１４Ａは、絵柄部分が除外された除外処理後の画像、即
ち上記図１０に示したようなマスク済み画像について、
注目画素の画素値を、該注目画素を含み、且つ、同一方
向に並ぶ所定数の画素の各画素値を加算した値に置き換
える機能を有している。これを、マスク済みエッジ画像
の画素値を縦方向に加算することにより、縦の筋を強調
し、ノイズ成分を抑制する場合について以下に説明す
る。

【００３６】前記画像合成部１２Ｃで作成したマスク済
みエッジ画像は、階調値１２８を原点（基準値）とし
て、上下両方向にそれぞれエッジの強さに応じて変化す
る階調値の画素で構成されているが、その変化量は小さ
いため、画素値の差（濃度差）に閾値を設定して抽出す
る方法を採用することはできない。

【００３７】ところが、上記マスク済みエッジ画像は、
階調値１２８を原点（＝０）とした場合に、平坦部分で
は±両方向にほぼ均等に画素値が分布しているのに対
し、筋状欠陥部分の画素値は＋又は−のいずれかの方向
に偏った画素値の分布をしている。

【００３８】従って、上記画像に対して縦方向に所定範
囲にある画素の画素値を、階調値１２８を原点として加
算することにより、平坦部分では相殺されるために大き
な変化はないが、筋状部分では＋又は−のいずれかの方
向に画素値が増大するため、画素値を強調することが可
能となる。

【００３９】図１１は、この強調計算の原理を模式的に
示したもので、（Ｂ）のマスク済みエッジ画像で、画素
Ｐ_n,m から垂直方向にＲ画素まで各画素値を加算し、そ
の加算後の画素値を（Ａ）に示した加算画像の画素Ｐ
_n,m の画素値に設定する。即ち、加算画像の画素値を次
の（６）式で計算する。但し、この加算処理を行う際の
各画素値は、前記（５）式により正規化した値を、上述
した如く、原点に当る階調値１２８を実際に０にし、こ
の１２８を超えている画素値を＋、１２８未満の画素値
を−とした値を使用する。なお、Ｒは実験的に決定する
定数である。

【００４０】 Ｐ_n,m ＝Ｐ_n,m+1 ＋Ｐ_n,m+2 ＋．．．＋Ｐ_n,m+R …（６）

【００４１】同様の加算処理を、Ｐ_n,m+1 、
Ｐ_n,m+2 ．．．について順次実行することにより、前述
した如く、平坦部分の画素では、＋−の値が相殺される
ため階調値０から大きく変化することはないが、筋状欠
陥部分の画素は＋又は−のいずれか一方に画素値が強調
された加算画像が作成される。即ち、前記図１０の筋状
欠陥に基づく弱いエッジＤＥが強調され、＋又は−の明
確な画素値を有する画像が得られる。

【００４２】なお、筋強調処理のための加算方法は、上
記（６）式のように、先頭の画素についてそれより下の
画素の画素値を加算する方法に限らず、同方向に所定画
素分の画素値を加算する方法であれば任意であるが、例
えば、つぎの（６′）式のように、中間の画素値につい
て計算してもよい。

【００４３】 Ｐ_n,m ＝Ｐ_n,m-R/2 ＋．．．＋Ｐ_n,m ＋．．．＋Ｐ_n,m+R/2 …（６′）

【００４４】前記判定部１６に含まれる二値化部１６Ａ
は、前記縦加算部１４Ａにより作成された縦の筋部分が
強調された加算画像に対して、閾値を設定して二値化処
理することにより、二値化画像を作成する機能を有して
いる。

【００４５】具体的には、前記のように縦の筋部分の画
素値を加算して＋又は−の方向に強調した画素値を有す
る前記強調処理後の画像について、筋状の点（画素）と
それ以外の部分に分別するために、例えば、閾値Ｔ2
（実験的に決定する）を設定し、各画素値の絶対値が該
閾値Ｔ2 以上の値をもつ画素は筋の一部である可能性が
高いので、｜Ｐ_n,m ｜≧Ｔ2 なら、その画素を筋状の点
の候補とするためにＯｎにし、逆に｜Ｐ_n,m ｜＜Ｔ2 の
場合は、筋状の点ではないとしてＯｆｆにする。なお、
ここで実行する二値化処理は、上記方法に限られず、例
えば、移動平均法や判別分析法等を利用してもよい。

【００４６】前記判定部１６に含まれる線認識部１６Ｂ
は、強調処理した後に二値化して作成した上記二値化画
像に対して、Ｏｎの画素が縦方向（実質的に同一方向）
に所定数以上存在するか否かにより、その画素が縦方向
の線（筋）状の欠陥を構成しているか否かを判定する機
能を有している。

【００４７】具体的には、例えば、以下のように判定す
る。検出すべき筋状欠陥が非常に薄く且つ細い場合、二
値化画像上では１本の線として繋がっていない可能性が
あるため、該二値化画像に対して、図１２に概念的に示
すように、画素を単位とする縦方向１ライン中にＯｎの
画素が閾値Ｔ3 個以上あれば検出すべき筋状欠陥と判定
とする。この閾値Ｔ3 は実験的に予め決定しておく。

【００４８】なお、上記判定は必ずしも１ライン中の画
素に対して行うものに限らない。画像入力された筋状欠
陥が隣接する２ライン以上に渡っている可能性もあるの
で、２ライン以上でＯｎの画素の数を計算するようにし
てもよい。又、必要に応じて、判定の前に、Ｏｎ分の画
素を縦方向に複数画素分縮小させ、次いで同画素数分膨
張させる処理を行うことにより、予め孤立点を除去する
処理等を行ってもよい。

【００４９】以上詳述した如く、本実施形態において
は、検査画像を入力し、その検査画像からマスク画像を
作成するとともに、エッジ画像を作成し、次いでこれら
両画像を合成することにより、マスク済みエッジ画像を
作成し、該画像に対して、画素値を強調するために縦加
算画像を作成しその強調画像から二値化画像を作成し、
更に、その二値化画像ついて線認識を行う。

【００５０】即ち、検査画像が絵柄を含む場合であって
も、コントラストの高いエッジ部を処理対象から除外す
るためのマスク処理を行い、更に縦方向に加算処理を行
うことでコントラストの低い筋状欠陥を強調して検出す
る。

【００５１】従って、本実施形態によれば、検査画像が
絵柄を含んでいる場合でも、絵柄のエッジ部を検出する
ことなく、該画像中からコントラストの低い筋状欠陥の
検出が可能となる。その結果、従来の印刷物の検査で
は、目視による検査でしか検出不可能であった、コント
ラストが低く且つ微細な、いわゆるドクター筋と呼ばれ
る筋状欠陥をも自動的に検出することが可能となる。

【００５２】次に、本発明に係る第２実施形態の筋状欠
陥検査装置について説明する。この第２実施形態は、前
記第１実施形態で作成したマスク画像を、請求項３及び
４で示した方法で作成するようにしたものである。

【００５３】本実施形態の検査装置は、前記図２におい
て、マスク画像作成部１２Ａが、後述する方法で抽出す
るエッジ領域をマスク部分とするマスク画像を作成する
機能を有するエッジ領域抽出装置で構成されている以外
は、前記第１実施形態の検査装置と実質的に同一であ
る。

【００５４】本実施形態に適用されるエッジ領域抽出装
置は、図１３にその概略構成を示すように、ＣＣＤカメ
ラ等からなる前記画像入力部１０により、印刷物からの
絵柄等を入力した検査画像を記憶する入力画像記憶部２
０と、該記憶部２０から読み出される入力画像（検査画
像）に対して、以下に詳述する各処理を実行可能とする
ためのパラメータ記憶部２２、エッジ領域抽出部２４、
膨張・収縮回数算出部２８、エッジ膨張部３０、エッジ
収縮部３４と共に、エッジ抽出部２４、エッジ膨張部３
０、エッジ収縮部３４で処理した結果をそれぞれ記憶す
るエッジ領域記憶部２６、エッジ膨張記憶部３２、出力
画像記憶部３６とを備えている。

【００５５】上記パラメータ記憶部２２は、入力画像記
憶部２０から読み出される入力画像から、エッジ領域を
抽出する際に画素値を比較する位置を規定するための画
素数Ｌ及び判定に使用する閾値Ｔと、エッジをエッジ領
域から除外する平坦部の最大幅を規定するためのエッジ
間画素数Ｗとをパラメータとして設定する手段であり、
これらパラメータの値は、例えばキーボード等により予
め入力しておく。但し、これらパラメータには次の制約
があり、ドクター筋の場合は、例えば、Ｗ＝１０画素と
することができる。

【００５６】 Ｗ≧１ Ｌ≧Ｗ ０≦Ｔ≦最大画素値

【００５７】前記エッジ領域抽出部２４は、垂直方向の
エッジ領域を抽出する場合を、図１４に模式的に示すよ
うに、上記パラメータ記憶部２２から読み込んだパラメ
ータＬとＴを用い、●の注目画素Ｐ_n,m を中心としてそ
れぞれ反対方向にＬ画素離れた位置にある、同じく●で
示した、Ｐ_n-L,m とＰ_n+L,m の画素値を比較し、その差
が閾値Ｔを超えている場合の該注目画素をエッジ領域と
して判定し、抽出する手段である。このエッジ領域抽出
部２４で抽出されたエッジ領域は、一旦その記憶部２６
に記憶される。なお、水平方向、水平・垂直両方向のエ
ッジ領域の場合も、同様の計算原理に基づいて抽出でき
る。

【００５８】前記膨張・収縮回数算出部２８は、前記パ
ラメータ記憶部２２からパラメータＷを入力すると共
に、エッジ間画素数がＷの平坦部について抽出された一
対のエッジ領域の幅をそれぞれ画素単位で膨張させた場
合に該両エッジ領域が接しない（繋らない）膨張画素数
Ｎを膨張回数として計算し、且つ、膨張後のエッジ領域
を収縮させる収縮画素数Ｐを収縮回数として計算する手
段である。

【００５９】図１５は、上記算出部２８で算出される膨
張回数Ｎの意味を概念的に示したものであり、この図に
示されるように、回数Ｎ＝Ｎ_A ＋Ｎ_B であり、Ｎ_A ＝Ｌ
−Ｗ、Ｎ_B ＝（Ｗ−１）／２である。

【００６０】上記Ｎ_A は、上記図１５（Ｂ）に示すよう
に、エッジから、上記方法で抽出したエッジ領域までの
平坦部の長さ（画素数）であり、図中左右いずれのエッ
ジ領域についても同一であるが、ここでは便宜上左のエ
ッジ領域のみについて図示したように、該エッジ領域の
右端から平坦部の右端までの画素数は、上記図５に示し
た抽出原理からＬであるため、Ｌ−Ｗで与えられる。

【００６１】上記Ｎ_B は、左右両エッジ領域から画素数
Ｎだけ膨張させた場合に、該両エッジ領域が接しないよ
うにするために、図１５（Ａ）に示すように、中心に一
画素残すことができる画素数にする必要があることか
ら、（Ｗ−１）／２とする。但し、中心に残す画素数は
１に限らず例えば２としてもよく、その場合は、Ｎ_B ＝
（Ｗ−２）／２とする。なお、このＮ_B に端数が出た場
合は切り捨てる。

【００６２】このように、回数Ｎを設定することによ
り、エッジ間の幅が画素数Ｗ以下の筋状の場合は、左右
のエッジ領域に対してＮ画素の膨張を行っても、絶対に
両エッジ領域が繋ることがないのに対し、Ｗを超える幅
の場合は繋ってしまう。

【００６３】又、上記算出部２８では、上記Ｎ画素分を
膨張させた後のエッジ領域を収縮させる収縮画素数Ｐ1
の計算も行う。この実施形態では、次式のようにＰ1 ＝
Ｎとする。

【００６４】 Ｐ1 ＝Ｎ＝Ｌ−Ｗ＋（Ｗ−１）／２ …（７）

【００６５】前記エッジ膨張部３０では、前記エッジ領
域記憶部２６から読み込んだエッジ領域抽出画像に対し
て、上記算出部２８で求められた膨張回数Ｎの画素数だ
け幅を拡げる膨張処理を行う。この膨張処理を、エッジ
領域を水平方向に一画素だけ膨張させる（回数Ｎ＝１）
場合を、１次元的な信号について図１６に模式的に示し
た。

【００６６】この図１６に示されるように、●がエッジ
領域であり、一回の膨張は、該エッジ領域を水平方向の
両側にそれぞれ一画素だけ幅を拡張することを意味す
る。

【００６７】上記エッジ膨張記憶部３２で膨張処理され
た画像データは、エッジ膨張記憶部３２に記憶された
後、エッジ収縮部３４に読み出され、エッジ膨張部３０
で膨張したと同数の画素分だけ縮める収縮処理が行われ
る。

【００６８】図１７には、上記図１６で膨張処理したエ
ッジ領域に対する収縮処理を概念的に示した。この図に
示されるように、収縮処理は、膨張したと同数の画素を
膨張後のエッジ領域の両側から減らすことを意味し、膨
張した結果、両側のエッジ領域が繋ってしまった場合を
除き、膨張前のエッジ領域に戻すことになる。この収縮
後のエッジ領域画像は出力画像記憶部３６に記憶され
る。

【００６９】次に、本実施形態の作用を説明する。

【００７０】本実施形態においては、パラメータＬ、Ｗ
及びＴとして所定の数値を入力すると共に、入力画像に
対して、前述した原理に従ってエッジ領域の抽出、膨
張、収縮の各処理を行うことにより、エッジ間画素数が
Ｗ以下の平坦部（微小筋に当る）の場合は、エッジを含
まない位置にエッジ領域を抽出でき、逆にＷを超えてい
るときはエッジを含む領域にエッジ領域を抽出できる。

【００７１】これを、Ｗ＝３、Ｌ＝５で膨張回数Ｎ及び
収縮回数Ｐ1 が共に、前記（７）式から、Ｌ−Ｗ＋（Ｗ
−１）／２＝５−３＋（３−１）／２＝３の場合につい
て、図１８〜２０を参照しながら具体的に説明する。

【００７２】図１８は、幅（エッジ間画素数）２の線の
エッジはエッジ領域とされない場合の例に当る。１次元
の入力画像信号が、図１８（Ａ）に●に示すように、幅
が２画素の場合、前記図１４に示した原理に従って、注
目画素から左右にそれぞれ５画素離れた位置の画素値を
比較し、その値が閾値Ｔよりも大きい場合の該注目画素
をエッジ領域とする処理を行うと、２つの●の両側にそ
れぞれ網掛の丸で示した２つの画素からなるエッジ領域
が抽出された図１８（Ｂ）に示す画像が得られる。

【００７３】次いで、上記２つのエッジ領域それぞれに
対して、左右の幅方向にそれぞれ３画素（Ｎ＝３）分拡
げる膨張処理を行って図１８（Ｃ）の状態にし、その
後、同じく３画素分減らす収縮を行い、最終的なエッジ
領域抽出画像として同図（Ｄ）を得る。

【００７４】この例では、上記図１８（Ｃ）から判るよ
うに、網掛の二重丸で示した膨張処理後のエッジ領域
が、互い繋っていないため、各エッジ領域とも両側で収
縮処理が行われる。その結果、最終的に、図１８（Ｄ）
に示すように、筋の両側のエッジに当る●から離れた位
置にエッジ領域が抽出される。

【００７５】これに対して、Ｗ＝３より大きい幅４の線
の場合の処理結果は、上記図１８に対応する図１９に示
すように、同図（Ｃ）に示される膨張処理後の状態が、
２つのエッジ領域が繋って１つの大きなエッジ領域とな
っている。

【００７６】このように、２つのエッジ領域が１つに繋
がった場合には、その部分では収縮処理が行われないよ
うになっているため、収縮後のエッジ領域は図１０
（Ｄ）のように、同図（Ｂ）で抽出された左側エッジ領
域の左端から右側エッジ領域の右端まで連続したものに
なり、この収縮後のエッジ領域の内側に入力画像の同図
（Ａ）に示される線に相当する４つの●の画素が完全に
潰されて含まれているため、エッジも当然含まれている
ことになる。

【００７７】又、前記図１８（Ａ）の入力画像の線に比
べ十分に広い、幅が１７画素の場合は、前記図１８、図
１９より簡略化した図２０に示すように、同図（Ｂ）の
段階でエッジをほぼ中心とする２Ｌ（５×２＝１０）の
幅のエッジ領域が抽出され、このエッジ領域に対して、
Ｎ＝３の膨張処理を行っても、同図（Ｃ）に示すように
左右両エッジ領域は内側で繋がることがないため、次の
収縮処理では各エッジ領域とも両側でＮ＝３で収縮さ
れ、同図（Ｄ）に示すように、上記（Ｂ）の場合と同一
のエッジ領域に戻る。この場合は、左右のエッジがそれ
ぞれ対応する左右のエッジ領域（網掛範囲）に完全に含
まれることになる。

【００７８】本実施形態によるエッジ領域抽出方法を、
図２１に示した（Ａ）の検査画像に適用する場合を例に
更に詳述する。この検査画像は、絵柄を模式的に示した
もので、幅がａ〜ｄの４種類の矩形の絵柄等がそれぞれ
ｅの間隔をおいて並んだ画像に相当し、１番細いｄの幅
の線がドクター筋に相当する。又、図２１の（Ｂ）は、
同図（Ａ）の水平方向の各画素の階調値を概念的に示し
たものである。

【００７９】図２２〜２４に、エッジ領域抽出、膨張、
収縮の各処理結果（Ｃ）〜（Ｅ）をそれぞれ前の処理結
果と併せて示したように、パラメータＷ以下の細い線に
当るｄの幅の場合のみ、線（筋）から離れた位置にその
線の幅に応じた幅のエッジ領域が抽出される。その結
果、上記図２４から判るように、前記幅ｄの線の場合の
み、そのエッジが収縮後のエッジ領域に含まれず、それ
以外の幅の広いものは、全てエッジがエッジ領域に含ま
れることになる。

【００８０】従って、本実施形態によれば、画像中の垂
直方向のエッジに基づいてエッジ領域を抽出できるが、
エッジに挾まれた平端部の幅が一定（＝Ｗ）以下のとき
は、そのエッジをエッジ領域として抽出しないようにで
きることから、細い線を除き、それを超える太さの線や
通常の絵柄のエッジ部分を含むエッジ領域を抽出するこ
とができる。

【００８１】即ち、以上のように抽出されたエッジ領域
をマスク部分とするマスク画像を作成することにより、
平坦部及び細い筋状の欠陥を残したまま、絵柄のエッジ
のみを除外することが可能となる。

【００８２】これを、印刷絵柄を画像入力して得られた
原画像（検査画像）が、図２５に示すように、通常の絵
柄Ｐ1 （リング形状）、Ｐ2 （色模様）と共に、微細な
ドクター筋Ｄを含んでいる場合に、本実施形態の方法で
抽出したエッジ領域をマスク部分とするマスク画像は、
図２６に示すイメージのようになる。即ち、前記図２４
の場合と同様に、通常の絵柄部分では、エッジを中心と
するその近傍がエッジ領域（斜線部で示す）として抽出
されるが、ドクター筋Ｄの部分はエッジ領域に含まれな
いことになる。

【００８３】従って、上記図２６に示すように、絵柄Ｐ
1 、Ｐ2 についてはＥＲ1 、ＥＲ2で示すマスク部分
（エッジ領域）が、ドクター筋についてはその両側にＥ
Ｒd で示す２本のマスク部分が生成されたマスク画像が
作成されることになる。このマスク画像と図２５の原画
像との関係を概念的に示すと図２７のようになる。一
方、上記図２５の検査画像から前記エッジ画像作成部１
２Ｂによりエッジ画像を作成すると、図２８に示すよう
に、全てのエッジＰＥ1 、ＰＥ2 、ＤＥが抽出された画
像が得られる。

【００８４】そして、上記図２６のマスク画像と図２８
のにエッジ画像とを、前記画像合成部１２Ｃで合成する
ことにより、図２９に示すような、前記図１０と実質上
同一のマスク済みエッジ画像を作成することができる。

【００８５】従って、その後は前記第１実施形態と同様
の処理を施すことにより、通常は検出されないような、
印刷のドクター筋等の筋状欠陥を確実に検出することが
できる。

【００８６】以上詳述した本実施形態によれば、検査画
像が絵柄を含んでいる場合でも、コントラストが低く且
つ細い筋状欠陥をも、前記第１実施形態の場合と同様に
自動的に検出することが可能となる。

【００８７】次に、本発明に係る第３実施形態の筋状欠
陥検査装置について説明する。この第３実施形態は、前
記第１実施形態で作成したマスク画像を、請求項３及び
５で示した方法で作成するようにしたものである。

【００８８】本実施形態は、前記図１３の膨張・収縮回
数計算部２８で、収縮回数（画素数）Ｐ2 を、次の
（８）式で計算するようにした以外は、前記第２実施形
態と実質上同一である。

【００８９】 Ｐ2 ＝Ｌ−Ｗ＋（Ｗ−１）／２＋（Ｗ＋１）／２ ＝Ｐ1 ＋（Ｗ＋１）／２ …（８）

【００９０】本実施形態においては、上記（８）式より
明らかなように、前記（７）式で示した第２実施形態の
収縮画素数Ｐ1 （＝Ｎ）よりも（Ｗ＋１）／２画素分だ
け更に収縮させる。これを、図３０、図３１を用いて以
下に説明する。

【００９１】図３０は、幅Ｗ以下の平坦部からなる入力
画像に対して、前記図１８（Ａ）〜（Ｄ）と同様の処理
を施してエッジ領域を抽出した画像を模式的に示したも
のである。即ち、この図３０は、図１８（Ｃ）に相当す
るＮ回膨張した画像から、前記第１実施形態の場合と同
様にＰ1 （＝Ｎ）回収縮した、同図（Ｄ）の状態に相当
する。

【００９２】本実施形態では、第２実施形態によれば上
記図３０に示した幅Ｗ以下の平坦部の左右近傍に抽出さ
れるエッジ領域ＥＲを、更に（Ｗ＋１）／２画素分収縮
させることにより、図３１に示すように消減させるよう
にしている。

【００９３】即ち、第２実施形態の場合よりも多くする
追加収縮回数（Ｗ＋１）／２の計算根拠は、図３０に示
されるエッジ領域ＥＲの最大幅は、前記図１４に示した
抽出原理からＷであることから、これを両側から１画素
ずつ収縮させて消滅させるためにはＷ／２で足りるが、
Ｗが奇数の場合を考慮して（Ｗ＋１）／２としているこ
とにある。但し、この場合、端数は切り捨てる。

【００９４】以上詳述した本実施形態によれば、前記第
２実施形態に比較して、幅がＷ以下の筋状の入力画像に
ついて、その両側に抽出されたエッジ領域を消滅させる
ことができる。

【００９５】従って、本実施形態により抽出したエッジ
領域を用いてマスク画像を作成する場合には、第２実施
形態の作用を示した前記図２４（Ｅ）に相当する図３２
と前記図２７に相当する図３３にそれぞれ示すように、
ドクター筋Ｄの両側には、エッジ領域が抽出されないよ
うにできることから、それだけ被検査画像において検査
の対象となる領域を広く取り、検査の信頼性を高めるこ
とが可能となる。

【００９６】次に、本発明に係る第４実施形態の筋状欠
陥検査装置について説明する。この第４実施形態は、前
記第１実施形態で作成したマスク画像を、請求項３及び
６で示した方法で作成するようにしたものである。

【００９７】本実施形態は、前記図１３の膨張・収縮回
数計算部２８で、収縮回数（画素数）Ｐ3 を、次の
（９）式で計算るすようにした以外は、前記第２実施形
態と実質上同一である。

【００９８】 Ｐ3 ＝Ｌ−Ｗ＋（Ｗ−１）／２＋（Ｌ−１） ＝Ｐ1 ＋（Ｌ−１） …（９）

【００９９】本実施形態においては、上記（９）式より
明らかなように、前記（７）式で示した第２実施形態の
収縮画素数Ｐ1 （＝Ｎ）よりも（Ｌ−１）画素分だけ更
に収縮させる。これを、図３４、図３５を用いて以下に
説明する。

【０１００】図３４（Ａ）は、幅Ｗ以下の平坦部からな
る入力画像に対して、前記図１８（Ａ）〜（Ｄ）と同様
の処理を施してエッジ領域ＥＲを抽出した画像を模式的
に示した、前記図３０と同一である。又、図３４（Ｂ）
は、平坦部の幅がＷより大きい入力画像について、前記
図１９（Ａ）〜（Ｄ）と実質上同一の処理を施した同図
（Ｄ）に相当し、図３４（Ｃ）は、平坦部の幅がＷより
十分に大きい入力画像について前記図２０（Ａ）〜
（Ｄ）と実質上同一の処理を施した同図（Ｄ）に相当す
る。

【０１０１】本実施形態では、前記第２実施形態でＰ1
回の収縮を行った状態に当る図３４（Ａ）〜（Ｃ）のそ
れぞれのエッジ領域ＥＲに対して、前記（９）式で示し
たように、更に（Ｌ−１）画素分の収縮を行うことによ
り、対応する図３５（Ａ）〜（Ｃ）の状態にする。本実
施形態で採用する追加収縮回数（Ｌ−１）は、エッジ領
域を平坦部のエッジに対してぎりぎりまで小さくする収
縮画素数に当る。

【０１０２】本実施形態のように、前記第２実施形態の
Ｐ1 より（Ｌ−１）回だけ余分に収縮させる場合には、
前記第３実施形態の場合と同様に、幅がＷ以下の平坦部
については、Ｗ≦Ｌであることから、図３５（Ａ）のよ
うにエッジ領域ＥＲを消滅させることができる。又、図
３４（Ｂ）のように、平坦部の幅がＷを超えている場
合、図３５（Ｂ）に示すように、膨張処理した結果１つ
に繋ったエッジ領域ＥＲの左右端それぞれをエッジより
１画素目まで収縮させることができるため、エッジ領域
をエッジをカバーできる最小の大きさにすることができ
る。又、図３４（Ｃ）のように、平坦部の幅がＷより十
分に大きい場合は、図３５（Ｃ）に示すように、エッジ
の前後１画素の部分にのみエッジ領域が抽出されるよう
にできる。

【０１０３】一般に、抽出したエッジ領域を用いてマス
ク画像を作成する場合、エッジ領域（マスク部分）は、
被検査画像において検査対象から除外する領域を意味す
るため、検査対象となる領域を広くして検査の信頼性を
高めるためには、エッジ領域は被検査画像中のエッジを
きちんとマスクした上で可能な限り（その面積が）狭い
ことが理想的である。

【０１０４】従って、本実施形態で採用した方法は、一
般的なエッジ抽出方法として最もふさわしく、本実施形
態により抽出したエッジ領域を用いることにより、理想
的な検査用のマスク画像を作成することができる。

【０１０５】その結果、本実施形態によれば、前記第３
実施形態の場合の前記図３２及び図３３にそれぞれ相当
する図３６及び図３７に示すように、幅Ｗ以下のドクタ
ー筋Ｄについては、前記第３実施形態と同様にエッジ領
域は抽出されず、幅Ｗ以上の通常の絵柄については、前
記第３実施形態より一段と狭いエッジ領域ＥＲを抽出す
ることが可能となる。

【０１０６】以上、本発明について具体的に説明した
が、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるも
のでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
ある。

【０１０７】例えば、前記実施形態では、縦方向の筋状
欠陥を検出する場合について説明したが、縦方向のみに
限定されるものではなく、例えはば水平方向であって
も、更には計算処理が難しくなるが斜方向等任意の方向
であってもよい。

【０１０８】又、前記実施形態では画素値を２５６階調
（８ビット）で画像表示する装置を用い、前記（３）式
の計算結果を階調値１２８が原点となるように、前記
（５）式により正規化する場合を示したが、これに限ら
れるものでなく、例えば１６ビットで表示できる装置を
用いる場合には、（３）式を単純に計算するだけで、正
規化しなくともよい。

【０１０９】又、前記第２実施形態等では、パラメータ
としてＷ＝３、Ｌ＝５の場合を示したが、これに限定さ
れる場合でなく、対象とする画像毎に適切なパラメータ
を設定することができる。

【０１１０】

【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、絵
柄を含んでいる検査画像からコントラストが低い上に微
細な筋状欠陥をも確実に検出することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る第１実施形態の筋状欠陥検査装置
が概略構成を示すブロック図

【図２】上記の検査装置の詳細を示すブロック図

【図３】マスク画像作成時のエッジ抽出を示す説明図

【図４】検査画像を模式的に示す説明図

【図５】上記検査画像より絵柄のエッジのみを抽出した
画像を示す説明図

【図６】上記検査画像を基に作成したマスク画像を示す
説明図

【図７】エッジ抽出に用いる微分オペレータを概念的に
示す説明図

【図８】微分オペーレータを適用して作成したエッジ画
像を示す説明図

【図９】マスク画像とエッジ画像の合成原理を概念的に
示す説明図

【図１０】合成後のマスク済みエッジ画像を示す説明図

【図１１】縦方向の画素値を強調する加算方法を示す説
明図

【図１２】筋状欠陥の判定処理を概念的に示す説明図

【図１３】第２実施形態に適用されるエッジ領域抽出装
置の概略構成を示すブロック図

【図１４】エッジ領域の抽出原理を模式的に示す説明図

【図１５】膨張・収縮回数の計算方法を示す説明図

【図１６】エッジ領域の膨張処理の原理を示す説明図

【図１７】エッジ領域の収縮処理の原理を示す説明図

【図１８】細線に対するエッジ領域抽出の処理手順を示
す説明図

【図１９】中線に対するエッジ領域抽出の処理手順を示
す説明図

【図２０】太線に対するエッジ領域抽出の処理手順を示
す説明図

【図２１】検査画像を模式的に示す説明図

【図２２】検査画像と、第２実施形態によるエッジ領域
の抽出画像を示す説明図

【図２３】上記抽出画像と、その膨張処理画像を示す説
明図

【図２４】上記膨張処理画像と、その収縮処理画像を示
す説明図

【図２５】印刷絵柄を画像入力して得られた他の検査画
像の一例を模式的に示す説明図

【図２６】上記検査画像から作成されるマスク画像を示
す説明図

【図２７】原画像とマスク画像の関係を概念的に示す説
明図

【図２８】上記検査画像から作成されるエッジ画像を示
す説明図

【図２９】上記マスク画像とエッジ画像を合成したマス
ク済みエッジ画像を示す説明図

【図３０】幅Ｗ以下の平坦部について抽出されたエッジ
領域のＰ1 回収縮後の状態を示す説明図

【図３１】第３実施形態の作用を示す説明図

【図３２】第３実施形態の効果を示す説明図

【図３３】第３実施形態の効果を示す他の説明図

【図３４】幅が異なる平坦部について抽出されたエッジ
領域のＰ1 回収縮後の状態を示す説明図

【図３５】第４実施形態の作用を示す説明図

【図３６】第４実施形態の効果を示す説明図

【図３７】第４実施形態の効果を示す他の説明図

【符号の説明】

１０…画像入力部 １２…絵柄除外部 １２Ａ…マスク画像作成部 １２Ｂ…エッジ画像作成部 １２Ｃ…マスク済みエッジ画像合成部 １４…筋強調処理部 １４Ａ…縦加算部 １６…判定部 １６Ａ…二値化部 １６Ｂ…線認識部 １８…欠陥表示部 ２０…入力画像記憶部 ２２…パラメータ記憶部 ２４…エッジ領域抽出部 ２６…エッジ領域記憶部 ２８…膨張・収縮回数算出部 ３０…エッジ膨張部 ３２…エッジ膨張記憶部 ３４…エッジ収縮部 ３６…出力画像記憶部

【手続補正書】

【提出日】平成９年１１月７日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００６７

【補正方法】変更

【補正内容】

【００６７】上記エッジ膨張部３０で膨張処理された画
像データは、エッジ膨張記憶部３２に記憶された後、エ
ッジ収縮部３４に読み出され、エッジ膨張部３０で膨張
したと同数の画素分だけ縮める収縮処理が行われる。

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００７６

【補正方法】変更

【補正内容】

【００７６】このように、２つのエッジ領域が１つに繋
がった場合には、その部分では収縮処理が行われないよ
うになっているため、収縮後のエッジ領域は図１９
（Ｄ）のように、同図（Ｂ）で抽出された左側エッジ領
域の左端から右側エッジ領域の右端まで連続したものに
なり、この収縮後のエッジ領域の内側に入力画像の同図
（Ａ）に示される線に相当する４つの●の画素が完全に
潰されて含まれているため、エッジも当然含まれている
ことになる。

【手続補正３】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００８４

【補正方法】変更

【補正内容】

【００８４】そして、上記図２６のマスク画像と図２８
のエッジ画像とを、前記画像合成部１２Ｃで合成するこ
とにより、図２９に示すような、前記図１０と実質上同
一のマスク済みエッジ画像を作成することができる。

【手続補正４】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００９７

【補正方法】変更

【補正内容】

【００９７】本実施形態は、前記図１３の膨張・収縮回
数計算部２８で、収縮回数（画素数）Ｐ3 を、次の
（９）式で計算するようにした以外は、前記第２実施形
態と実質上同一である。

【手続補正５】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０１０７

【補正方法】変更

【補正内容】

【０１０７】例えば、前記実施形態では、縦方向の筋状
欠陥を検出する場合について説明したが、縦方向のみに
限定されるものではなく、例えば水平方向であっても、
更には計算処理が難しくなるが斜方向等任意の方向であ
ってもよい。

【手続補正６】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】図１

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１】本発明に係る第１実施形態の筋状欠陥検査装置
の概略構成を示すブロック図

【手続補正７】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】図８

【補正方法】変更

【補正内容】

【図８】微分オペレータを適用して作成したエッジ画像
を示す説明図

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 林 謙太 東京都新宿区市谷加賀町一丁目１番１号 大日本印刷株式会社内

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】印刷物を画像入力した検査画像から、印刷
   物上に発生している筋状欠陥を検出する筋状欠陥検査方
   法であって、 検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外ステップ
   と、 該除外処理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋
   強調ステップと、 該強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を判定する判定
   ステップと、を有することを特徴とする筋状欠陥検査方
   法。
2. 【請求項２】請求項１において、 前記絵柄除外ステップが、 検査画像から抽出される絵柄部分のエッジをマスクする
   ためのマスク部分を有するマスク画像を作成するステッ
   プと、 検査画像から抽出される任意のエッジを含むエッジ画像
   を作成するステップと、 作成されたエッジ画像とマスク画像を合成するステップ
   と、を含むことを特徴とする筋状欠陥検査方法。
3. 【請求項３】請求項２において、 前記マスク画像を作成するステップでは、前記マスク部
   分を検査画像から抽出されるエッジ領域で作成するとと
   もに、 該エッジ領域を抽出する際に、パラメータとして、少な
   くとも画素値を比較する位置を規定するための画素数Ｌ
   と、エッジがエッジ領域に含まれないようにする平坦部
   の最大幅を規定するためのエッジ間画素数Ｗとを設定す
   るステップと、 注目画素を中心としてそれぞれ反対方向にＬ画素離れた
   位置の画素値を比較し、その差が、所定の閾値を超えて
   いる場合の該注目画素をエッジ領域として抽出するステ
   ップと、 前記エッジ間画素数Ｗの幅の平坦部について抽出された
   一対のエッジ領域の幅を、それぞれ画素単位で膨張させ
   た場合に、該両エッジ領域が繋ることのない膨張画素数
   Ｎを計算するステップと、 膨張後のエッジ領域を収縮させる収縮画素数Ｐを計算す
   るステップと、 入力画像から抽出された全てのエッジ領域の幅を、その
   両側でＮ画素ずつ膨張させるステップと、 膨張させたエッジ領域の幅を、その両側でＰ画素ずつ収
   縮させるステップと、を含むことを特徴とする筋状欠陥
   検査方法。
4. 【請求項４】請求項３において、 前記収縮画素数Ｐを、前記膨張画素数Ｎと等しくするこ
   とを特徴とする筋状欠陥検査方法。
5. 【請求項５】請求項３において、 前記収縮画素数Ｐを、前記膨張画素数Ｎと（Ｗ＋１）／
   ２の和にすることを特徴とする筋状欠陥検査方法。
6. 【請求項６】請求項３において、 前記収縮画素数Ｐを、前記膨張画素数Ｎと（Ｌ−１）の
   和にすることを特徴とする筋状欠陥検査方法。
7. 【請求項７】請求項１において、 前記筋強調ステップが、 絵柄部分が除外された前記除外処理後の画像について、
   注目画素の画素値を該注目画素を含み、且つ、同一方向
   に並ぶ所定数の画素の各画素値を加算した値に置き換え
   る処理であることを特徴とする筋状欠陥検査方法。
8. 【請求項８】請求項１において、 前記判定ステップが、 筋部分が強調された前記強調処理後の画像において、画
   素値の絶対値が所定値以上の画素が、実質的に同一の方
   向に所定数以上存在するか否かを判定する処理であるこ
   とを特徴とする筋状欠陥検査方法。
9. 【請求項９】印刷物を画像入力した検査画像から、印刷
   物上に発生している筋状欠陥を検出する筋状欠陥検査装
   置であって、 検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外手段と 該除外処理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋
   強調手段と、 該強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を判定する判定
   手段と、を備えていことを特徴とする筋状欠陥検査装
   置。
10. 【請求項１０】請求項９において、 前記絵柄除外手段が、 検査画像から抽出される絵柄部分のエッジをマスクする
    ためのマスク部分を有するマスク画像を作成する手段
    と、 検査画像から抽出される任意のエッジを含むエッジ画像
    を作成する手段と、 作成されたエッジ画像とマスク画像を合成する手段と、
    を含むことを特徴とする筋状欠陥検査装置。
11. 【請求項１１】請求項１０において、 前記マスク画像を作成する手段が、前記マスク部分を検
    査画像から抽出されるエッジ領域で作成する機能を有し
    ているとともに、 該エッジ領域を抽出するために、パラメータとして、少
    なくとも画素値を比較する位置を規定するための画素数
    Ｌと、エッジがエッジ領域に含まれないようにする平坦
    部の最大幅を規定するためのエッジ間画素数Ｗとを設定
    する手段と、 注目画素を中心としてそれぞれ反対方向にＬ画素離れた
    位置の画素値を比較し、その差が、所定の閾値を超えて
    いる場合の該注目画素をエッジ領域として抽出する手段
    と、 前記エッジ間画素数Ｗの幅の平坦部について抽出された
    一対のエッジ領域の幅を、それぞれ画素単位で膨張させ
    た場合に、該両エッジ領域が繋ることのない膨張画素数
    Ｎを計算すると共に、膨張後のエッジ領域を収縮させる
    収縮画素数Ｐを計算する手段と、 入力画像から抽出された全てのエッジ領域の幅を、その
    両側でＮ画素ずつ膨張させる手段と、 膨張させたエッジ領域の幅を、その両側でＰ画素ずつ収
    縮させる手段と、を備えていることを特徴とする筋状欠
    陥検査装置。
12. 【請求項１２】請求項９において、 前記筋強調手段が、 絵柄部分が除外された前記除外処理後の画像について、
    注目画素の画素値を、該注目画素を含み、且つ、同一方
    向に並ぶ所定数の画素の各画素値を加算した値に置き換
    える処理機能を有していることを特徴とする筋状欠陥検
    査装置。
13. 【請求項１３】請求項９において、 前記判定手段が、 筋部分が強調された前記強調処理後の画像において、所
    定画素値以上の画素が、実質的に同一の方向に所定数以
    上存在するか否かを判定する処理機能を有していること
    を特徴とする筋状欠陥検査装置。