JPH1148457A - 筋状欠陥検査方法及び装置 - Google Patents

筋状欠陥検査方法及び装置

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JPH1148457A
JPH1148457A JP9213212A JP21321297A JPH1148457A JP H1148457 A JPH1148457 A JP H1148457A JP 9213212 A JP9213212 A JP 9213212A JP 21321297 A JP21321297 A JP 21321297A JP H1148457 A JPH1148457 A JP H1148457A
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streak
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JP9213212A
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Hiroshi Sato
博 佐藤
Hideto Sakata
英人 坂田
Masahiko Soeda
添田  正彦
Kenta Hayashi
林  謙太
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 カラー入力された検査画像をR、G、Bの各
モノクロ画像として処理する際、低感度の筋状欠陥をも
高精度に検出できるようにする。 【解決手段】 印刷物をカラーで画像入力した検査画像
から、印刷物上に発生している筋状欠陥を検出する筋状
欠陥検査装置であって、検査画像を入力すると共に、
R、G、Bの各モノクロ画像に分離する画像入力部10
と、各モノクロ画像に対して、検査画像から絵柄部分を
除外する絵柄除外部12と、絵柄除外後の画像に存在す
る筋部分を強調処理する筋強調部14と、強調処理後の
各モノクロ画像を合成して合成画像を作成するRGB合
成部20と、該合成画像に基づいて筋状欠陥の有無を判
定する判定部16とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、筋状欠陥検査方法
及び装置、特に、印刷物に発生している微細な筋状の欠
陥を検出する際に適用して好適な、筋状欠陥検査方法及
び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、グラビア輪転印刷機では、回転
する版胴と、これを押え付けるニップロールとの間に原
反を通過させながら、該版胴に付着されたインキをその
原反に転写することにより、連続的な印刷が行われてい
る。
【0003】このような連続的な印刷を可能とするため
に、回転する版胴の表面にインキを供給するとともに、
その過剰分をドクターブレードによって掻き落すことが
行われている。
【0004】ところが、何等かの理由でドクターブレー
ドに微少な欠けが生じたりすると、その欠け部分が接触
している版胴には、極めて僅かであるが常時インキが残
ることになるため、原反の印刷面には、いわゆるドクタ
ー筋と呼ばれる、微細ではあるが連続した筋状の印刷欠
陥が発生することになる。
【0005】従来、印刷物の検査には、CCDカメラ等
の撮像手段で印刷絵柄を画像入力し、その入力画像を画
像処理することにより印刷欠陥を検出することが行われ
ている。
【0006】このような印刷欠陥の検出に用いられる画
像処理としては、例えば、入力画像から線分を検出する
ための各種微分オペレータの適用や、ハフ転換、パター
ン認識等の技術が知られている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ような従来の画像処理による線分検出方法では、入力さ
れた絵柄を含む画像から絵柄のエッジと筋状欠陥を識別
して検出することが困難である。その上、ドクター筋等
の同一方向に延びる筋状欠陥は、欠陥部とその周辺との
コントラストが低い場合が多いために線分として検出し
にくく、画像中に雑音がある場合には尚更検出しにくい
という問題があった。
【0008】本出願人は、前記従来の問題点を解決する
べく、絵柄を含んでいる検査画像から、コントラストが
低く、しかも、微細な筋状欠陥をも確実に検出すること
ができる技術として、特開平8−319230により、
印刷物を画像入力した検査画像から、印刷物上に発生し
ている筋状欠陥を検出する筋状欠陥検査装置であって、
検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外手段と、
該除外処理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋
強調手段と、該強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を
判定する判定手段と、を備えたものを、既に提案してい
る。
【0009】以下、この筋状欠陥検査装置の具体例を、
図面を参照して詳細に説明する。図1、図2は、上記筋
状欠陥検査装置の概略構成を示すブロック図である。
【0010】この検査装置は、印刷物を画像入力した検
査画像から、印刷物上に発生している筋状欠陥を検出す
るもので、印刷物からCCDカメラ等により検査画像を
光学的に入力する画像入力部10と、入力された検査画
像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外部12と、絵柄
部分が除外された除外処理後の画像に存在する筋部分を
強調処理する筋強調処理部14と、筋部分が強調された
強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を判定する判定部
16と、判定された筋状欠陥をモニタ上に表示する欠陥
表示部18とを備えている。
【0011】ここでは、図2に詳細を示すように、前記
絵柄除外部12は、マスク画像作成部12A、エッジ画
像作成部12B、マスク済みエッジ画像合成部12Cを
含み、前記筋強調処理部14は縦加算部14Aを、又、
前記判定部16は、二値化部16A、線認識部16Bを
それぞれ含んで構成されている。
【0012】以下、上記検査装置を構成する各機能部に
ついて詳述する。なお、この実施形態では、特に断らな
い限り、画像は、それを構成する各画素が0〜255の
256階調の画素値で表示されるモノクロ画像とする。
従って、カラー画像の場合は、R、G、Bの3フレーム
のモノクロ画像として同様に取り扱うことができる。
【0013】前記マスク画像作成部12Aは、検査画像
から抽出される絵柄部分のエッジをマスクするためのマ
スク画像を作成する機能を有している。
【0014】即ち、このマスク画像作成部12Aは、画
像入力部10により入力された検査画像に含まれる筋状
欠陥以外の線分や絵柄のエッジ部を検出処理の対象から
外すためのマスク画像を作成する機能を有する。具体的
には、例えば、図3に画素の配置を概念的に示したよう
に、隣接する画素との画素値の差分を計算し、これを閾
値処理することにより、明確な線や絵柄のエッジのみに
相当する二値のマスク画像を作成する。これを、便宜
上、画素を表わす記号と同一の記号で画素値を記述する
と、次の(1)、(2)式で表わすことができる。
【0015】(Pn,m が絵柄のエッジである場合) |Pi,j −Pn,m |≧T1 …(1) (Pn,m が絵柄のエッジでない場合) |Pi,j −Pn,m |<T1 …(2) 但し、i=n−1,n,n+1、j=m−1,m,m+
1、 Pi,j ≠Pn,m T1 :閾値
【0016】上記但し書きでPi,j ≠Pn,m とあるの
は、同一画素間では計算しないことを意味する。又、閾
値T1 は固定した値でなく、筋状欠陥のエッジが抽出さ
れない値として実験的に求め、別途設定しておく。
【0017】上記(1)、(2)式による計算処理の結
果、閾値T1 以上の濃度差をもった、即ち明確な線や絵
柄のエッジのみが抽出された二値画像が作成される。こ
の二値画像を、検査画像が絵柄Pと筋状欠陥(ドクター
筋)Dとを模式的に示した図4である場合を例に示す
と、図5のようになる。即ち、濃淡がはっきりしている
絵柄Pのみのエッジが抽出され、ドクター筋D等のコン
トラストの低い線状(筋状)部分のエッジは抽出されな
い二値化画像が得られる。そして、この図5の画像のエ
ッジに基づいて、該エッジをマスクするに十分な幅の、
図6に示すようなマスク部分Mが生成されたマスク画像
が作成できる。
【0018】なお、その際、実際の検査画像では、ノイ
ズ等に起因して連続した明瞭なエッジが抽出されないこ
ともあるので、エッジの膨張処理を行うことにより、エ
ッジの明瞭化を図るようにしてもよい。又、上記
(1)、(2)式を用いる抽出処理によっては任意の方
向のエッジを検出できるが、必ずしも全方向の計算をす
る必要はなく、例えば水平方向のみであってもよい。
【0019】前記エッジ画像作成部12Bは、同一の検
査画像から抽出される任意のエッジを含むエッジ画像を
作成する機能を有している。即ち、このエッジ画像作成
部12Bでは、前記検査画像から、縦方法の筋状欠陥を
検出するために水平方向のエッジを全て抽出する。
【0020】具体的には、縦方向の筋状欠陥を検出した
い場合、水平方向で画素間の画素値の差分を計算するこ
とにより全てのエッジを求める。その際、例えば、図7
に模式的に示した水平方向の画素の配列に対応する、次
の(3)式で記述される微分オペレータを各画素に適用
することにより、コントラストが低い線部分を含む全て
のエッジを抽出することができるため、濃度差に応じた
任意のエッジを含むエッジ画像が作成される。なお、こ
の(3)式でDは、別途設定しおく1以上の定数(D≧
1)であり、因にこの実施形態ではD=2としている。
【0021】 Pn,m =(2Pn −Pn+D −Pn-D ) …(3)
【0022】又、このエッジ画像作成部12Bでは、上
記(3)式のオペレータによる演算結果について正規化
を行うようになっている。この正規化は、対象画像の画
素値が0〜255階調であることから、上記(3)式の
単純な計算値は、完全な平坦部の場合を0として、マイ
ナスとプラスの値(最小値−510、最大値+510)
を持つことになり、このままでは0〜255階調で表示
ができないことになるので、この表示ができるようにす
るための処理である。
【0023】正規化の具体的処理は、上記(3)式を次
の(4)式のように第1項と第2項に分けて、“正規化
前の減算”を行った後、その結果について“正規化後の
加算”を行い、結果として次の(5)式による計算を行
うことに当る。但し、式中Mは正規化後の原点に当る階
調値であり、ここでは128(=256÷2)としてい
る。
【0024】 Pn,m =(Pn −Pn+D )+(Pn −Pn-D ) …(4) Pn,m =(2Pn −Pn+D −Pn-D +4M)/4 …(5)
【0025】即ち、この(5)式により上記(3)式の
計算結果を正規化することは、該(3)式の計算結果
が、例えば−510、0、+510であれば、これらを
それぞれを4で割った後、全体的に128分シフトさせ
た値である1、128、255の画素値に変換すること
を意味する。従って、この正規化により、(3)式の計
算結果を、階調値128を原点(中間値)として、+−
それぞれの方向に変化する画素値として表示することが
可能となる。
【0026】ここで行われる正規化は、一般的な画像処
理装置で行われる、いわゆるフレーム間演算の加算や減
算の結果に対して、その画素値がマイナスになる場合
に、0〜255階調の表示ができるようにするものと実
質的に同一の処理である。具体例を挙げると、いずれも
0〜255階調表示の画像A、Bについて、(画像A−
画像B)の減算結果を画像Cとする場合、この画像Cは
−255〜+255となり、0〜255内に収まらない
ので、M=128とし、画像C=(画像A−画像B)/
2+Mにより正規化し、1〜255にする。
【0027】図8は、上記微分オペレータを前記図4の
検査画像に適用して得られたエッジ画像を模式的に示し
たものであり、前記絵柄Pに基づく強いエッジPEとド
クター筋Dに基づく弱いエッジDEとが、抽出されてい
る。尚、このエッジ画像の作成には、上記微分オペレー
タに限らず、その他のエッジ抽出処理の方法を適用して
もよいことは言うまでもない。
【0028】前記マスク済みエッジ画像合成部12C
は、作成されたエッジ画像とマスク画像を合成する機能
を有している。即ち、マスク済みエッジ画像合成部12
Cは、前述した画像処理により作成したエッジ画像とマ
スク画像を合成して、検査対象外の画素を決定し、これ
以降の処理からその画素を除外する働きをする。
【0029】具体的には、作成したエッジ画像とマスク
画像を図9に概念的に示したように、エッジ画像上の画
素Pn と、これに対応するマスク画像上の画素Mn とを
比較し、画素Mn がエッジ部(マスク部分)でない場合
は、画素Pn はそのままにし、逆に、画素Mn がエッジ
部である場合は、画素Pn をマスクする(検査対象外と
する)。即ち、この合成処理は、画素Mn がエッジ部で
ない場合は、合成画像の対応する画素に対して画素Pn
の画素値をそのまま設定し、逆にエッジ部である場合
は、正規化後の原点に対応する階調値128を設定し、
エッジ画像中の強いエッジPEをマスクする処理を行っ
ていることに当る。
【0030】従って、ここで行うマスク処理とは、マス
ク画像のエッジ部に当る合成画像の画素に、前記(5)
式で正規化の原点の画素値として設定した階調値128
を設定することであり、これにより、合成して得られる
マスク済画像についても128に正規化すると同時に、
上記エッジPEをマスクして検査対象外とした上で、前
記(3)式によるマイナスの計算結果をも0〜127の
階調値により画像表示できるようにしている。
【0031】図10は、前記図6のマスク画像と、前記
図8のエッジ画像とについて、上述した合成処理を行う
ことにより作成したマスク済み画像を模式的に示したも
のであり、この画像には、上記のように強いエッジPE
が除外され、ドクター筋Dに基づく弱いエッジDEが残
存していることが示されている。
【0032】前記筋強調処理部14に含まれる縦加算部
14Aは、絵柄部分が除外された除外処理後の画像、即
ち上記図10に示したようなマスク済み画像について、
注目画素の画素値を、該注目画素を含み、且つ、同一方
向に並ぶ所定数の画素の各画素値を加算した値に置き換
える機能を有している。これを、マスク済みエッジ画像
の画素値を縦方向に加算することにより、縦の筋を強調
し、ノイズ成分を抑制する場合について以下に説明す
る。
【0033】前記画像合成部12Cで作成したマスク済
みエッジ画像は、階調値128を原点(基準値)とし
て、上下両方向にそれぞれエッジの強さに応じて変化す
る階調値の画素で構成されているが、その変化量は小さ
いため、画素値の差(濃度差)に閾値を設定して抽出す
る方法を採用することはできない。
【0034】ところが、上記マスク済みエッジ画像は、
階調値128を原点(=0)とした場合に、平坦部分で
は±両方向にほぼ均等に画素値が分布しているのに対
し、筋状欠陥部分の画素値は+又は−のいずれかの方向
に偏った画素値の分布をしている。
【0035】従って、上記画像に対して縦方向に所定範
囲にある画素の画素値を、階調値128を原点として加
算することにより、平坦部分では相殺されるために大き
な変化はないが、筋状部分では+又は−のいずれかの方
向に画素値が増大するため、画素値を強調することが可
能となる。
【0036】図11は、この強調計算の原理を模式的に
示したもので、(B)のマスク済みエッジ画像で、画素
n,m から垂直方向にR画素まで各画素値を加算し、そ
の加算後の画素値を(A)に示した加算画像の画素P
n,m の画素値に設定する。即ち、加算画像の画素値を次
の(6)式で計算する。但し、この加算処理を行う際の
各画素値は、前記(5)式により正規化した値を、上述
した如く、原点に当る階調値128を実際に0にし、こ
の128を超えている画素値を+、128未満の画素値
を−とした値を使用する。なお、Rは実験的に決定する
定数である。
【0037】 Pn,m =Pn,m+1 +Pn,m+2 +...+Pn,m+R …(6)
【0038】同様の加算処理を、Pn,m+1
n,m+2 ...について順次実行することにより、前述
した如く、平坦部分の画素では、+−の値が相殺される
ため階調値0から大きく変化することはないが、筋状欠
陥部分の画素は+又は−のいずれか一方に画素値が強調
された加算画像が作成される。即ち、前記図10の筋状
欠陥に基づく弱いエッジDEが強調され、+又は−の明
確な画素値を有する画像が得られる。
【0039】なお、筋強調処理のための加算方法は、上
記(6)式のように、先頭の画素についてそれより下の
画素の画素値を加算する方法に限らず、同方向に所定画
素分の画素値を加算する方法であれば任意であるが、例
えば、つぎの(6′)式のように、中間の画素値につい
て計算してもよい。
【0040】 Pn,m =Pn,m-R/2 +...+Pn,m +...+Pn,m+R/2 …(6′)
【0041】前記判定部16に含まれる二値化部16A
は、前記縦加算部14Aにより作成された縦の筋部分が
強調された加算画像に対して、閾値を設定して二値化処
理することにより、二値化画像を作成する機能を有して
いる。
【0042】具体的には、前記のように縦の筋部分の画
素値を加算して+又は−の方向に強調した画素値を有す
る前記強調処理後の画像について、筋状の点(画素)と
それ以外の部分に分別するために、例えば、閾値T2
(実験的に決定する)を設定し、各画素値の絶対値が該
閾値T2 以上の値をもつ画素は筋の一部である可能性が
高いので、|Pn,m |≧T2 なら、その画素を筋状の点
の候補とするためにOnにし、逆に|Pn,m |<T2 の
場合は、筋状の点ではないとしてOffにする。なお、
ここで実行する二値化処理は、上記方法に限られず、例
えば、移動平均法や判別分析法等を利用してもよい。
【0043】前記判定部16に含まれる線認識部16B
は、強調処理した後に二値化して作成した上記二値化画
像に対して、Onの画素が縦方向(実質的に同一方向)
に所定数以上存在するか否かにより、その画素が縦方向
の線(筋)状の欠陥を構成しているか否かを判定する機
能を有している。
【0044】具体的には、例えば、以下のように判定す
る。検出すべき筋状欠陥が非常に薄く且つ細い場合、二
値化画像上では1本の線として繋がっていない可能性が
あるため、該二値化画像に対して、図12に概念的に示
すように、画素を単位とする縦方向1ライン中にOnの
画素が閾値T3 個以上あれば検出すべき筋状欠陥と判定
とする。この閾値T3 は実験的に予め決定しておく。
【0045】なお、上記判定は必ずしも1ライン中の画
素に対して行うものに限らない。画像入力された筋状欠
陥が隣接する2ライン以上に渡っている可能性もあるの
で、2ライン以上でOnの画素の数を計算するようにし
てもよい。又、必要に応じて、判定の前に、On分の画
素を縦方向に複数画素分縮小させ、次いで同画素数分膨
張させる処理を行うことにより、予め孤立点を除去する
処理等を行ってもよい。
【0046】以上詳述した如く、前記出願により提案し
ている筋状欠陥検査装置においては、検査画像を入力
し、その検査画像からマスク画像を作成するとともに、
エッジ画像を作成し、次いでこれら両画像を合成するこ
とにより、マスク済みエッジ画像を作成し、該画像に対
して、画素値を強調するために縦加算画像を作成し、そ
の強調画像から二値化画像を作成し、更に、その二値化
画像ついて線認識を行う。
【0047】即ち、検査画像が絵柄を含む場合であって
も、コントラストの高いエッジ部を処理対象から除外す
るためのマスク処理を行い、更に縦方向に加算処理を行
うことでコントラストの低い筋状欠陥を強調して検出す
る。
【0048】従って、前記検査装置によれば、検査画像
が絵柄を含んでいる場合でも、絵柄のエッジ部を検出す
ることなく、該画像中からコントラストの低い筋状欠陥
の検出が可能となる。その結果、従来の印刷物の検査で
は、目視による検査でしか検出不可能であった、コント
ラストが低く且つ微細な、いわゆるドクター筋と呼ばれ
る筋状欠陥をも自動的に検出することが可能となる。
【0049】本発明者等は、以上詳述した筋状欠陥検査
技術について更に詳細に検討した結果、前記図1又は2
に示した検査装置をカラー画像に適用する場合、即ち検
査画像として画像入力部10からカラー画像を入力する
際、図13に示したように、R、G、Bの3フレームを
モノクロ画像として、それぞれ個別に設置された絵柄除
外部12、筋強調処理部14、判定部16により、前述
した各処理を行う場合には、以下の新たな問題があるこ
とが明らかになった。
【0050】図14(A)〜(C)は、R、G、Bの各
モノクロ画像を、前記図11に示した方法により、それ
ぞれ個別に筋強調処理して得られた縦加算画像を概念的
に示したものである。これらR、G、Bの各縦加算画像
において、筋部分の各輝度値(階調値)がそれぞれ背景
に対して少ししか変化していない筋状欠陥については、
感度が低下して検出できない。
【0051】即ち、上記図14(A)〜(C)の各画像
において、同一のスキャンラインL上で、検出された輝
度値の分布プロファイルを、同図(D)〜(F)にそれ
ぞれ示したように、いずれのモノクロ画像でも、2値化
処理のために設定してある閾値T2 を越えないため、O
K(筋状欠陥がない)の判定が下され、印刷物上では筋
状欠陥が発生しているにも拘らず、最終的にOKと判定
されることが起こり得る。
【0052】本発明は、新たに見出された上記問題点を
解決するべくなされたもので、カラー画像として入力さ
れる検査画像を、R、G、Bの各フレームのモノクロ画
像として処理する際、各モノクロ画像では検出感度の低
い筋状欠陥をも高精度に検出することができる筋状欠陥
検査方法及び装置を提供することを課題とする。
【0053】
【課題を解決するための手段】本発明は、印刷物をカラ
ーで画像入力した検査画像から、印刷物上に発生してい
る筋状欠陥を検出する筋状欠陥検査方法であって、入力
した検査画像を、R、G、Bの各フレームのモノクロ画
像に分離するステップと、各モノクロ画像に対して、そ
れぞれ所定の画像処理を行うステップと、画像処理後の
各モノクロ画像を合成して合成画像を作成するステップ
と、該合成画像に基づいて筋状欠陥の有無を判定するス
テップとを有することにより、前記課題を解決したもの
である。
【0054】本発明は又、印刷物をカラーで画像入力し
た検査画像から、印刷物上に発生している筋状欠陥を検
出する筋状欠陥検査装置であって、入力した検査画像
を、R、G、Bの各フレームのモノクロ画像に分離する
手段と、各モノクロ画像に対して、それぞれ所定の画像
処理を行う手段と、画像処理後の各モノクロ画像を合成
して合成画像を作成する手段と、該合成画像に基づいて
筋状欠陥の有無を判定する手段と、を備えたことによ
り、同様に前記課題を解決したものである。
【0055】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
【0056】図15は、本発明に係る一実施形態の筋状
欠陥検出装置の要部構成を示すブロック図である。
【0057】本実施形態の筋状欠陥検査装置は、前記図
1又は2に示したものと同様の画像入力部10により検
査画像がカラー画像として入力されると、該検査画像は
R、G、Bの各フレームのモノクロ画像に分離された
後、それぞれに対応して設置された絵柄除外部12及び
筋強調処理部14に順次入力され、前述したと同様の処
理が各モノクロ画像に実行されるようにすると共に、判
定部16の前段に設置したRGB合成部20により、上
記、筋強調処理部14で処理された各モノクロ画像の縦
加算画像を合成できるようにし、且つ該合成部20に対
して合成時に使用する重み係数等がパラメータ記憶部2
2から入力されるようにした以外は、各構成部の機能を
含めて前記図1又は2に示した筋状欠陥検査装置と実質
上同一である。
【0058】本実施形態においては、前記RGB合成部
20において、R、G、Bの各縦加算画像を合成する
際、それぞれを図16(A)〜(C)に概念的に示した
ように、各画像の同一座標位置(n,m)の画素の階調
値(輝度値)R(n,m)、G(n,m)、B(n,
m)を、次の(1)式によりそれぞれ加算することによ
り、合成画像の階調値RGB(n,m)が算出される。
【0059】 RGB(n,m)=Ar×R(n,m)+Ag×G(n,m) +Ab×B(n.m) …(7) 但し、Ar:Rの重み係数 Ag:Gの重み係数 Ab:Bの重み係数
【0060】上記重み係数としては、通常は全て同一の
係数、例えば1.0とすればよい。しかし、印刷物で、
例えば白紙上の黄色の筋の場合であれば、Ar=1.
0、Ag=1.0、Ab=0.1とすることにより、該
筋を検出しないようにできる。このように、(7)式を
用いて画像を合成する際、R、G、Bの各画素値に対す
る係数を変えることにより、特定の色に対して感度を調
整することができる。
【0061】上述した本実施形態を、前記図14(A)
〜(C)に示したものとほぼ同一の、図17(A)〜
(C)に示した、R、G、Bの各モノクロ画像の縦加算
画像に適用する場合について説明する。
【0062】図17(D)〜(F)に示したように、各
モノクロ画像について輝度値のピークを閾値T2 と単純
に比較する方法では、前記図14(D)〜(F)の場合
と同様にいずれも筋状欠陥は検出されないが、本実施形
態によれば、このような検出画像に対しても、RGBの
合成画像を用いて判定を行うので、同図(G)に示した
ように、合成画像ではピーク値が閾値T2 を越えている
ことから筋状欠陥があるというNGの判定を行うことが
できる。因みに、この図17のRGB合成では、上記
(1)式の重み係数を、Ar=Ag=Ab=1として計
算した。
【0063】以上詳述した本実施形態によれば、カラー
画像を検査する場合、R、G、Bの各縦加算画像におけ
る輝度値が、それぞれ背景に対して少ししか変化してい
ない筋状欠陥でも、確実に検出することができる。又、
その際、必要に応じてR、G、Bの重み係数を調整する
ことにより、前述した如く特定の色に対する感度を調整
することもできるため、対象に合わせてより高精度の検
査を行うこともできる。
【0064】以上、本発明について具体的に説明した
が、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるも
のでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
ある。
【0065】例えば、前記実施形態では、合成するモノ
クロ画像が、強調処理した縦加算画像である場合を示し
たが、これに限定されず、実質的に同一の筋部分がある
画像であればよい。
【0066】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
カラー画像として入力される検査画像をR、G、Bの各
フレームのモノクロ画像として処理する際、各モノクロ
画像では検出感度の低い筋状欠陥をも高精度に検出する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】提案済の筋状欠陥検査装置の概略構成を示すブ
ロック図
【図2】上記の検査装置の詳細を示すブロック図
【図3】マスク画像作成時のエッジ抽出を示す説明図
【図4】検査画像を模式的に示す説明図
【図5】上記検査画像より絵柄のエッジのみを抽出した
画像を示す説明図
【図6】上記検査画像を基に作成したマスク画像を示す
説明図
【図7】エッジ抽出に用いる微分オペレータを概念的に
示す説明図
【図8】微分オペーレータを適用して作成したエッジ画
像を示す説明図
【図9】マスク画像とエッジ画像の合成原理を概念的に
示す説明図
【図10】合成後のマスク済みエッジ画像を示す説明図
【図11】縦方向の画素値を強調する加算方法を示す説
明図
【図12】筋状欠陥の判定処理を概念的に示す説明図
【図13】検査画像をR、G、Bのモノクロ画像とする
検査装置の構成を示すブロック図
【図14】上記モノクロ画像を用いる場合の問題点を示
す線図
【図15】本発明に係る一実施形態の筋状欠陥検査装置
の概略構成を示すブロック図
【図16】R、G、Bのモノクロ画像の合成方法を示す
線図
【図17】実施形態の効果を示す線図
【符号の説明】
10…画像入力部 12…絵柄除外部 12A…マスク画像作成部 12B…エッジ画像作成部 12C…マスク済みエッジ画像合成部 14…筋強調処理部 14A…縦加算部 16…判定部 16A…二値化部 16B…線認識部 18…欠陥表示部
【手続補正書】
【提出日】平成9年11月7日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0008
【補正方法】変更
【補正内容】
【0008】本出願人は、前記従来の問題点を解決する
べく、絵柄を含んでいる検査画像から、コントラストが
低く、しかも、微細な筋状欠陥をも確実に検出すること
ができる技術として、特平8−319230により、
印刷物を画像入力した検査画像から、印刷物上に発生し
ている筋状欠陥を検出する筋状欠陥検査装置であって、
検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外手段と、
該除外処理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋
強調手段と、該強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を
判定する判定手段と、を備えたものを、既に提案してい
る。
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図2
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図15
【補正方法】変更
【補正内容】
【図15】
フロントページの続き (72)発明者 林 謙太 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】印刷物をカラーで画像入力した検査画像か
    ら、印刷物上に発生している筋状欠陥を検出する筋状欠
    陥検査方法であって、 入力した検査画像を、R、G、Bの各フレームのモノク
    ロ画像に分離するステップと、 各モノクロ画像に対して、それぞれ所定の画像処理を行
    うステップと、 画像処理後の各モノクロ画像を合成して合成画像を作成
    するステップと、 該合成画像に基づいて筋状欠陥の有無を判定するステッ
    プと、を有することを特徴とする筋状欠陥検査方法。
  2. 【請求項2】請求項1において、 前記所定の画像処理を行うステップが、 検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外ステップ
    と、 該除外処理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋
    強調ステップと、を含むことを特徴とする筋状欠陥検査
    方法。
  3. 【請求項3】請求項2において、 前記絵柄除外ステップが、 検査画像から抽出される絵柄部分のエッジをマスクする
    ためのマスク部分を有するマスク画像を作成するステッ
    プと、 検査画像から抽出される任意のエッジを含むエッジ画像
    を作成するステップと、 作成されたエッジ画像とマスク画像を合成するステップ
    と、を含むことを特徴とする筋状欠陥検査方法。
  4. 【請求項4】請求項1において、 前記合成画像を作成するステップで各モノクロ画像を合
    成する際、R、G、Bの各画像における同一座標位置
    (n,m)の画素の階調値を、R(n,m)、G(n,
    m)、B(n,m)とした場合、合成画像の階調値RG
    B(n,m)を、 RGB(n,m)=Ar×R(n,m)+Ag×G
    (n,m)+Ab×B(n,m) (Ar:Rの重み係数、Ag:Gの重み係数、Ab:B
    の重み係数)により算出することを特徴とする筋状欠陥
    検査方法。
  5. 【請求項5】印刷物をカラーで画像入力した検査画像か
    ら、印刷物上に発生している筋状欠陥を検出する筋状欠
    陥検査装置であって、 入力した検査画像を、R、G、Bの各フレームのモノク
    ロ画像に分離する手段と、 各モノクロ画像に対して、それぞれ所定の画像処理を行
    う手段と、 画像処理後の各モノクロ画像を合成して合成画像を作成
    する手段と、 該合成画像に基づいて筋状欠陥の有無を判定する手段
    と、を備えていることを特徴とする筋状欠陥検査装置。
  6. 【請求項6】請求項5において、 前記所定の画像処理を行う手段が、 検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外手段と、 該除外処理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋
    強調手段と、を含むことを特徴とする筋状欠陥検査装
    置。
  7. 【請求項7】請求項6において、 前記絵柄除外手段が、 検査画像から抽出される絵柄部分のエッジをマスクする
    ためのマスク部分を有するマスク画像を作成する手段
    と、 検査画像から抽出される任意のエッジを含むエッジ画像
    を作成する手段と、 作成されたエッジ画像とマスク画像を合成する手段と、
    を含むことを特徴とする筋状欠陥検査装置。
  8. 【請求項8】請求項5において、 前記合成画像を作成する手段により各モノクロ画像を合
    成する際、R、G、Bの各画像における同一座標位置
    (n,m)の画素の階調値を、R(n,m)、G(n,
    m)、B(n,m)とした場合、合成画像の階調値RG
    B(n,m)を、 RGB(n,m)=Ar×R(n,m)+Ag×G
    (n,m)+Ab×B(n,m) (Ar:Rの重み係数、Ag:Gの重み係数、Ab:B
    の重み係数)により算出することを特徴とする筋状欠陥
    検査装置。
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