JP5037166B2 - 表面疵検査システム、表面疵検査方法、及びコンピュータプログラム - Google Patents
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Description
特許文献1には、鋼板を撮像したときに得られる信号を所定の閾値で2値化処理して、鋼板の表面に発生している疵を抽出する技術が開示されている。
このような疵検査対象物の疵検査の分野において、近年は、疵検査対象物の表面に形成されている微細な疵を検出するために、高精細な画像(高分解能の画像)を撮像する傾向にある。
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであり、微細な疵と大きな疵との双方を従来よりも精度良く検出できるようにすることを目的とする。
図1は、本実施形態における表面疵検査システムの概略構成の一例を示した図である。尚、本実施形態では、図1に示すように、疵検査を行う疵検査対象物として、鉄鋼業の圧延鋼板製造ラインで製造された鋼板1を例に挙げて説明する。
このような圧延鋼板製造ラインに設置される表面疵検査システムは、鋼板1を照明するための照明装置4と、照明装置4により鋼板1を照明することによって得られる反射光に基づく画像信号を撮像する撮像装置5と、撮像装置5で撮像された画像信号を処理して、鋼板1の表面に発生している疵を検出するためのPC(Personal Computer)6とを有している。
ディスプレイ6bは、コンピュータ本体6aで実行された疵検査の結果を示す画像を表示するためのものであり、所謂コンピュータディスプレイ(例えばLCD(Liquid Crystal Display)である。
このような緩和された閾値による前記第3の2値化部24と同じ2値化方法を第1の2値化部26に用いた場合、疵部以外の地合部分などが若干紛れて「1」となる可能性があるのは前記の通りであるが、疵検出性能の観点からは、このような現象は当然望ましくないことがある。よって本実施形態では、前記の第1の2値化部26の2値化方法として、輝度値に関する閾値に加え、画素数の閾値を併せて考慮することのできる2値化手段を用いる。特開2005−69887号公報にはこの2値化方法に関する技術が開示されているが、その概要を以下で図4を参照しながら説明する。
図4において、まず、A×B(A、Bは画像信号の画素数に対応する自然数)画素の画像信号に対して、C×D(C、Dは2以上の自然数、図4では3×3)画素の第1の検出領域42aを設定する。そして、予め設定した輝度閾値以上の輝度値を有する画素の数が、第1の検出領域42aに、予め設定した画素数閾値以上あるか否かを判定する。
一方、輝度閾値以上の輝度値を有する画素の数が、第1の検出領域42aに、画素数閾値以上ない場合、第1の検出領域42aの各画素に対してOFF(「0」)を設定する。
本実施形態では、以上のようにして2値化を行うことにより、シェーディング補正が行われた画像信号に含まれるノイズを可及的に拾わずに、そのシェーディング補正が行われた画像信号を2値化することができると共に、1つの疵領域を可及的に確実に1つの領域として検出すること可能になる。
以上のように、第1の2値化部26及び膨張部27の処理によって、鋼板1の表面に形成されている疵のうち、相対的に小さな疵領域を可及的に1つの疵領域として検出することができる。
そして、特徴量計算部35は、以上のようにして求めた特徴量に基づいて、疵の種類や、疵のグレードを求める。
まず、ステップS1において、撮像制御部22は、搬送状況検出部21から受信した搬送状況検出信号に基づいて、鋼板1を検出するまで待機する。そして、鋼板1を検出すると、ステップS2に進み、撮像制御部22は、照明装置4を制御して、照明装置4に設けられている発光部(例えばハロゲンランプ)を発光させるとともに、撮像装置5を制御して撮像装置5を作動させる。
次に、ステップS4において、撮像装置5は、生産ライン方向(図1のY方向)に搬送されている鋼板1を撮像する。
次に、ステップS5において、シェーディング補正部23は、撮像装置5から画像信号が入力されるまで待機する。
次に、ステップS8において、孤立点除去部25は、ステップS7で2値化された画像信号において、「1」が設定されている画素が孤立している場合、その「1」が設定されている画素の設定値を「1」から「0」に変更し、孤立している画素を除去する。そして、孤立点除去部25は、孤立している画素を除去した画像信号を、例えばRAMに一時的に記憶する。
次に、ステップS10において、膨張部27は、ステップS9で2値化された画像信号に対して膨張処理を行う。そして、膨張部27は、膨張処理を行った画像信号を、例えばRAMに一時的に記憶する。
次に、ステップS12において、第2の2値化部29は、ステップS11で画素が低分解能化された画像信号を、輝度閾値と画素数閾値とを用いて2値化する。このステップS12の処理の詳細については、図6を用いて後述する。
次に、ステップS13において、膨張部30は、ステップS12で2値化された画像信号に対して膨張処理を行う。
次に、ステップS15において、領域合成部32は、ステップS10で膨張処理が行われた画像信号(相対的に小さな疵領域に「1」が設定されている2値化画像信号)と、ステップS14で伸張された画像信号(相対的に大きな疵領域に「1」が設定されている2値化画像信号)との互いに対応する画素の値について論理和(OR)を演算し、相対的に大きな疵領域と、相対的に小さな疵領域との双方に「1」が設定された画像信号を生成する。
次に、ステップS17において、ラベル画像調整部34は、ステップS16で生成されたラベル画像信号と、ステップS8で孤立している画素が除去された画像信号との互いに対応する画素の値について論理積(AND)を演算し、ステップS7で2値化された画像信号で「0」が設定されている画素に対応するラベル画像信号の画素の設定を無効化する。
次に、ステップS19において、画像生成部36は、ステップS18で求められた特徴量、疵の種類、及び疵のグレードを示す疵検出画像データを生成し、ディスプレイ6bに表示させる。
一方、疵検査が完了していない場合は、ステップS5に戻り、疵検査が完了するまでステップS5からステップS20までの処理を繰り返す。
まず、ステップS31において、第1及び第2の2値化部26、29は、変数nを1に設定する。
次に、ステップS32において、第1および第2の2値化部26、29は、画像信号に対して、第nの検出領域42を設定する。尚、ステップS9では、ステップS6でシェーディング補正が行われた画像信号に対して、第nの検出領域42を設定する。一方、ステップS12では、ステップS11で画素が低分解能化された画像信号に対して、第nの検出領域42を設定する。
次に、ステップS35において、第1及び第2の2値化部26、29は、画像信号の全ての画素に対して、ON(「1」)又はOFF(「0」)を設定したか否かを判定する。この判定の結果、画像信号の全ての画素に対して、ON(「1」)又はOFF(「0」)を設定した場合には、図5に示したメインフローチャートに戻る。
また、前述した実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、またはその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
2 ロール
3 ロータリーエンコーダ
4 照明装置
5 撮像装置
6 PC
Claims (3)
- 疵検査対象物を照明する照明手段と、
前記照明手段により照明された疵検査対象物を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により得られた画像信号に対してシェーディング補正を行うシェーディング補正手段と、
前記シェーディング補正手段により得られた画像信号を2値化する第1の2値化手段と、
前記シェーディング補正手段により得られた画像信号を低分解能化する低分解能化手段と、
前記低分解能化手段により画素が間引かれた画像信号を2値化する第2の2値化手段と、
前記第1の2値化手段により2値化された画像信号、及び前記第2の2値化手段により2値化された画像信号に対して膨張処理を行う膨張手段と、
前記第2の2値化手段により2値化され前記膨張手段により膨張処理された画像信号を伸張する伸張手段と、
前記シェーディング補正手段により得られた画像信号を2値化する第3の2値化手段と、
前記第3の2値化手段により2値化された画像信号に対して孤立している画素を除去する孤立点除去手段と、
前記第1の2値化手段により2値化され前記膨張手段により膨張処理された画像信号と、前記伸張手段により伸張された画像信号との互いに対応する画素の値について論理和を演算する領域合成手段と、
前記領域合成手段により生成された画像信号に対してラベリング処理を行い、ラベル画像信号を生成するラベル画像生成手段と、
前記孤立点除去手段により孤立している画素が除去された画像信号と、前記ラベル画像生成手段により生成されたラベル画像信号との互いに対応する画素値について論理積を演算するラベル画像調整手段と、
疵の特徴量を求める特徴量導出手段とを有し、
前記特徴量導出手段は、疵の形状に関わる特徴量を、前記ラベル画像生成手段により生成されたラベル画像信号を用いて求め、疵の輝度に関わる特徴量を、前記シェーディング補正手段により得られた画像信号に於いて、前記ラベル画像調整手段により得られた画像信号に基づくブロブに対応する画素の輝度情報を抽出することにより求めることを特徴とする表面疵検査システム。 - 疵検査対象物を照明する照明ステップと、
前記照明ステップにより照明された疵検査対象物を撮像する撮像ステップと、
前記撮像ステップにより得られた画像信号に対してシェーディング補正を行うシェーディング補正ステップと、
前記シェーディング補正ステップにより得られた画像信号を2値化する第1の2値化ステップと、
前記シェーディング補正ステップにより得られた画像信号を低分解能化する低分解能化ステップと、
前記低分解能化ステップにより画素が間引かれた画像信号を2値化する第2の2値化ステップと、
前記第1の2値化ステップにより2値化された画像信号、及び前記第2の2値化ステップにより2値化された画像信号に対して膨張処理を行う膨張ステップと、
前記第2の2値化ステップにより2値化され前記膨張ステップにより膨張処理された画像信号を伸張する伸張ステップと、
前記シェーディング補正ステップにより得られた画像信号を2値化する第3の2値化ステップと、
前記第3の2値化ステップにより2値化された画像信号に対して孤立している画素を除去する孤立点除去ステップと、
前記第1の2値化ステップにより2値化され前記膨張ステップにより膨張処理された画像信号と、前記伸張ステップにより伸張された画像信号との互いに対応する画素の値について論理和を演算する領域合成ステップと、
前記領域合成ステップにより生成された画像信号に対してラベリング処理を行い、ラベル画像信号を生成するラベル画像生成ステップと、
前記孤立点除去ステップにより孤立している画素が除去された画像信号と、前記ラベル画像生成ステップにより生成されたラベル画像信号との互いに対応する画素値について論理積を演算するラベル画像調整ステップと、
疵の特徴量を求める特徴量導出ステップとを有し、
前記特徴量導出ステップは、疵の形状に関わる特徴量を、前記ラベル画像生成ステップにより生成されたラベル画像信号を用いて求め、疵の輝度に関わる特徴量を、前記シェーディング補正ステップにより得られた画像信号に於いて、前記ラベル画像調整ステップにより得られた画像信号に基づくブロブに対応する画素の輝度情報を抽出することにより求めることを特徴とする表面疵検査方法。 - 疵検査対象物を撮像する撮像手段により得られた画像信号に対してシェーディング補正を行うシェーディング補正ステップと、
前記シェーディング補正ステップにより得られた画像信号を2値化する第1の2値化ステップと、
前記シェーディング補正ステップにより得られた画像信号を低分解能化する低分解能化ステップと、
前記低分解能化ステップにより画素が間引かれた画像信号を2値化する第2の2値化ステップと、
前記第1の2値化ステップにより2値化された画像信号、及び前記第2の2値化ステップにより2値化された画像信号に対して膨張処理を行う膨張ステップと、
前記第2の2値化ステップにより2値化され前記膨張ステップにより膨張処理された画像信号を伸張する伸張ステップと、
前記シェーディング補正ステップにより得られた画像信号を2値化する第3の2値化ステップと、
前記第3の2値化ステップにより2値化された画像信号に対して孤立している画素を除去する孤立点除去ステップと、
前記第1の2値化ステップにより2値化され前記膨張ステップにより膨張処理された画像信号と、前記伸張ステップにより伸張された画像信号との互いに対応する画素の値について論理和を演算する領域合成ステップと、
前記領域合成ステップにより生成された画像信号に対してラベリング処理を行い、ラベル画像信号を生成するラベル画像生成ステップと、
前記孤立点除去ステップにより孤立している画素が除去された画像信号と、前記ラベル画像生成ステップにより生成されたラベル画像信号との互いに対応する画素値について論理積を演算するラベル画像調整ステップと、
疵の特徴量を求める特徴量導出ステップとをコンピュータに実行させ、
前記特徴量導出ステップは、疵の形状に関わる特徴量を、前記ラベル画像生成ステップにより生成されたラベル画像信号を用いて求め、疵の輝度に関わる特徴量を、前記シェーディング補正ステップにより得られた画像信号に於いて、前記ラベル画像調整ステップにより得られた画像信号に基づくブロブに対応する画素の輝度情報を抽出することにより求めることを特徴とするコンピュータプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007042461A JP5037166B2 (ja) | 2007-02-22 | 2007-02-22 | 表面疵検査システム、表面疵検査方法、及びコンピュータプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007042461A JP5037166B2 (ja) | 2007-02-22 | 2007-02-22 | 表面疵検査システム、表面疵検査方法、及びコンピュータプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008203198A JP2008203198A (ja) | 2008-09-04 |
JP5037166B2 true JP5037166B2 (ja) | 2012-09-26 |
Family
ID=39780855
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007042461A Active JP5037166B2 (ja) | 2007-02-22 | 2007-02-22 | 表面疵検査システム、表面疵検査方法、及びコンピュータプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5037166B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014167430A (ja) * | 2013-02-28 | 2014-09-11 | Shin Nippon Koki Co Ltd | 欠陥検査システム、欠陥検査プログラムおよび欠陥検査方法 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5488953B2 (ja) * | 2008-09-17 | 2014-05-14 | 新日鐵住金株式会社 | 凹凸疵検査方法及び装置 |
JP5387319B2 (ja) * | 2009-10-15 | 2014-01-15 | 東レ株式会社 | シート状の連続体の検査方法 |
CN102759530B (zh) * | 2012-07-03 | 2016-05-04 | 湖南镭目科技有限公司 | 一种表面质量图像在线检测装置 |
CN111366586B (zh) * | 2020-04-28 | 2022-11-18 | 杭州华纺布艺有限公司 | 一种布料瑕疵检测方法、系统、存储介质及验布机 |
CN113533372B (zh) * | 2021-07-12 | 2024-02-23 | 浙江理工大学 | 一种纸张缺陷检测方法、系统、装置及计算机存储介质 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4012366B2 (ja) * | 2000-12-26 | 2007-11-21 | 新日本製鐵株式会社 | 表面疵検出装置 |
-
2007
- 2007-02-22 JP JP2007042461A patent/JP5037166B2/ja active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014167430A (ja) * | 2013-02-28 | 2014-09-11 | Shin Nippon Koki Co Ltd | 欠陥検査システム、欠陥検査プログラムおよび欠陥検査方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008203198A (ja) | 2008-09-04 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090217 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110426 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110624 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110809 |
|
A521 | Written amendment |
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|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120704 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150713 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5037166 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150713 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150713 Year of fee payment: 3 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150713 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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