JP6643301B2 - 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - Google Patents
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- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims description 128
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 64
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 40
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 23
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 15
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 8
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
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Description
また、解像度毎に位相を振った画像を加算した場合、解像度によって位相を振る回数が違うため、そのまま加算すると位相を振る回数の少ない解像度の欠陥の重みが少なくなり、検出できない欠陥が発生することも問題となっている。
検査対象を撮像した撮像画像に基づいて、該撮像画像よりも解像度を下げた低解像度画像を複数作成する解像度変更手段と、
該解像度変更手段で作成した複数の低解像度画像を合成した合成画像を作成して該合成画像から欠陥候補を抽出する欠陥候補抽出手段と、を備え、
前記解像度変更手段は、
撮像画像内での位相をずらしながら前記撮像画像に前記分割領域を設定する分割領域設定手段と、
該分割領域設定手段で前記分割領域を設定したときに前記分割領域内の各画素の輝度の平均値を1つの画素の輝度値とした平均画像を作成する平均画像作成手段と、
該平均画像作成手段で作成した平均画像に輝度値を設定して輝度画像を作成する輝度値設定手段と、
該輝度値設定手段で作成した輝度画像を複数枚合成して前記低解像度画像を作成する位相画像合成手段と、を有するとともに、
前記分割領域設定手段で設定する分割領域のサイズを変化させながら、前記平均画像作成手段と、前記輝度値設定手段と、前記位相画像合成手段とで解像度の異なる複数の前記低解像度画像を作成するように構成され、
前記欠陥候補抽出手段は、前記位相画像合成手段で作成した複数の前記低解像度画像を合成することにより、前記合成画像を作成するように構成される。
前記輝度値設定手段は、
前記平均画像に対して、
着目画素と、該着目画素の両側に隣接する一対の隣接画素とを抽出し、
前記着目画素の輝度値に対して、前記一対の隣接画素のそれぞれが共に明るい又は暗い場合にのみ輝度差に基づいて輝度値を設定し、それ以外の画素は輝度値を0に設定する。
ように構成されていてもよい。
前記位相画像合成手段は、前記輝度画像を合成して正規化し、
前記欠陥候補抽出手段は、前記位相画像合成手段により正規化された複数の前記低解像度画像を合成して前記合成画像を作成する。
検査対象を撮像した撮像画像に基づいて、該撮像画像よりも解像度を下げた低解像度画像を複数作成するステップと、
該低解像度画像を複数作成するステップで作成した複数の前記低解像度画像を合成した合成画像を作成して該合成画像から欠陥候補を抽出するステップと、を備え、
前記低解像度画像を複数作成するステップでは、
撮像画像内での位相をずらしながら前記撮像画像に分割領域を設定し、且つ該分割領域内の各画素の輝度の平均値を1つの画素の輝度値とした平均画像を作成する平均画像作成処理と、該平均画像作成処理で作成した平均画像について、輝度値を設定した輝度画像を作成する輝度値設定処理と、該輝度値設定処理で作成した各輝度画像を合成して前記低解像度画像を作成する位相画像合成処理とを、前記撮像画像に分割領域を設定する際に分割領域のサイズを変化させながら繰り返して実行することによって解像度の異なる複数の前記低解像度画像を作成するように構成され、
前記欠陥候補を抽出するステップでは、複数の前記低解像度画像を合成することにより、前記合成画像を作成するように構成される。
前記輝度値設定処理では、
前記平均画像に対して、着目画素と、該着目画素の両側に隣接する一対の隣接画素とを抽出し、
前記着目画素の画素値に対して、前記一対の隣接画素のそれぞれが共に明るい又は暗い場合にのみ輝度差に基づいて輝度値を設定し、それ以外の場合は輝度値を0に設定するように構成されていてもよい。
前記位相画像合成処理は、前記輝度画像を合成して正規化し、
前記欠陥候補を抽出するステップでは、前記位相画像合成処理により正規化された複数の前記低解像度画像を合成して前記合成画像を作成する。
Claims (6)
- 検査対象を撮像した撮像画像に基づいて、該撮像画像よりも解像度を下げた低解像度画像を複数作成する解像度変更手段と、
該解像度変更手段で作成した複数の低解像度画像を合成した合成画像を作成して該合成画像から欠陥候補を抽出する欠陥候補抽出手段と、を備え、
前記解像度変更手段は、
撮像画像内での位相をずらしながら前記撮像画像に前記分割領域を設定する分割領域設定手段と、
該分割領域設定手段で前記分割領域を設定したときに前記分割領域内の各画素の輝度の平均値を1つの画素の輝度値とした平均画像を作成する平均画像作成手段と、
該平均画像作成手段で作成した平均画像に輝度値を設定して輝度画像を作成する輝度値設定手段と、
該輝度値設定手段で作成した輝度画像を複数枚合成して前記低解像度画像を作成する位相画像合成手段と、を有するとともに、
前記分割領域設定手段で設定する分割領域のサイズを変化させながら、前記平均画像作成手段と、前記輝度値設定手段と、前記位相画像合成手段とで解像度の異なる複数の前記低解像度画像を作成するように構成され、
前記欠陥候補抽出手段は、前記位相画像合成手段で作成した複数の前記低解像度画像を合成した合成画像に対して輝度値に基づいて欠陥の有無を判断するように構成される欠陥検査装置であって、
前記輝度値設定手段は、前記平均画像に対して、一の着目画素と、該着目画素の両側に隣接する一対の隣接画素とを抽出し、前記着目画素の輝度値と前記一対の隣接画素のそれぞれの輝度値との比較に基づいて輝度値を設定するように構成される欠陥検査装置。 - 前記輝度値設定手段は、
前記平均画像に対して、
前記着目画素の輝度値に対して、前記一対の隣接画素のそれぞれが共に明るい又は暗い場合にのみ前記着目画素と前記一対の隣接画素との輝度差に基づいて輝度値を設定し、それ以外の場合は輝度値を0に設定する請求項1に記載の欠陥検査装置。 - 前記位相画像合成手段は、前記輝度画像を合成して正規化し、
前記欠陥候補抽出手段は、前記位相画像合成手段により正規化された複数の前記低解像度画像を合成して前記合成画像を作成する
請求項1又は請求項2に記載の欠陥検査装置。 - 検査対象を撮像した撮像画像に基づいて、該撮像画像よりも解像度を下げた低解像度画像を複数作成するステップと、
該低解像度画像を複数作成するステップで作成した複数の前記低解像度画像を合成した合成画像を作成して該合成画像から欠陥候補を抽出するステップと、を備え、
前記低解像度画像を複数作成するステップでは、
撮像画像内での位相をずらしながら前記撮像画像に分割領域を設定し、且つ該分割領域内の各画素の輝度の平均値を1つの画素の輝度値とした平均画像を作成する平均画像作成処理と、該平均画像作成処理で作成した平均画像について、輝度値を設定した輝度画像を作成する輝度値設定処理と、該輝度値設定処理で作成した各輝度画像を合成して前記低解像度画像を作成する位相画像合成処理とを、前記撮像画像に分割領域を設定する際に分割領域のサイズを変化させながら繰り返して実行することによって解像度の異なる複数の前記低解像度画像を作成するように構成され、
前記欠陥候補を抽出するステップでは、複数の前記低解像度画像を合成した合成画像に対して輝度値に基づいて欠陥の有無を判断するように構成される欠陥検査方法であって、
前記輝度値設定処理では、前記平均画像に対して、一の着目画素と、該着目画素の両側に隣接する一対の隣接画素とを抽出し、前記着目画素の輝度値と前記一対の隣接画素のそれぞれの輝度値との比較に基づいて輝度値を設定する
欠陥検査方法。 - 前記輝度値設定処理では、
前記着目画素の画素値に対して、前記一対の隣接画素のそれぞれが共に明るい又は暗い場合にのみ前記着目画素と前記一対の隣接画素との輝度差に基づいて輝度値を設定し、それ以外の場合は輝度値を0に設定するように構成される
請求項4に記載の欠陥検査方法。 - 前記位相画像合成処理は、前記輝度画像を合成して正規化し、
前記欠陥候補を抽出するステップでは、前記位相画像合成処理により正規化された複数の前記低解像度画像を合成して前記合成画像を作成する
請求項4又は請求項5に記載の欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017234072A JP6643301B2 (ja) | 2017-12-06 | 2017-12-06 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017234072A JP6643301B2 (ja) | 2017-12-06 | 2017-12-06 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019100937A JP2019100937A (ja) | 2019-06-24 |
JP6643301B2 true JP6643301B2 (ja) | 2020-02-12 |
Family
ID=66976738
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017234072A Active JP6643301B2 (ja) | 2017-12-06 | 2017-12-06 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6643301B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111476797B (zh) * | 2020-03-19 | 2023-10-10 | 上海工程技术大学 | 一种喷丸成形中重叠弹坑的图像分割方法 |
KR20210128803A (ko) * | 2020-04-17 | 2021-10-27 | 삼성전자주식회사 | 다중 포토다이오드 센서에 의해 획득된 서브 이미지들의 차이에 기반하여 이미지의 결함을 검출하는 전자 장치 및 이의 동작 방법 |
-
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019100937A (ja) | 2019-06-24 |
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