|
JP5339975B2
(ja)
*
|
2008-03-13 |
2013-11-13 |
キヤノン株式会社 |
Ｘ線位相イメージングに用いられる位相格子、該位相格子を用いたｘ線位相コントラスト像の撮像装置、ｘ線コンピューター断層撮影システム
|
|
DE112009002606B4
(de)
*
|
2008-10-29 |
2024-02-01 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Röntgenstrahlabbildungsgerät und Röntgenstrahlabbildungsverfahren
|
|
CN101943668B
(zh)
*
|
2009-07-07 |
2013-03-27 |
清华大学 |
X射线暗场成像系统和方法
|
|
JP5586899B2
(ja)
*
|
2009-08-26 |
2014-09-10 |
キヤノン株式会社 |
Ｘ線用位相格子及びその製造方法
|
|
US8532252B2
(en)
*
|
2010-01-27 |
2013-09-10 |
Canon Kabushiki Kaisha |
X-ray shield grating, manufacturing method therefor, and X-ray imaging apparatus
|
|
JP5631013B2
(ja)
*
|
2010-01-28 |
2014-11-26 |
キヤノン株式会社 |
Ｘ線撮像装置
|
|
JP5725870B2
(ja)
*
|
2010-02-22 |
2015-05-27 |
キヤノン株式会社 |
Ｘ線撮像装置およびｘ線撮像方法
|
|
JP5796976B2
(ja)
*
|
2010-05-27 |
2015-10-21 |
キヤノン株式会社 |
Ｘ線撮像装置
|
|
JP5731214B2
(ja)
|
2010-08-19 |
2015-06-10 |
富士フイルム株式会社 |
放射線撮影システム及びその画像処理方法
|
|
EP2612299B1
(en)
*
|
2010-09-03 |
2015-11-18 |
Koninklijke Philips N.V. |
Regularized phase retrieval in differential phase-contrast imaging
|
|
WO2012038857A1
(en)
*
|
2010-09-20 |
2012-03-29 |
Koninklijke Philips Electronics N.V. |
Phase gradient unwrapping in differential phase contrast imaging
|
|
WO2012042924A1
(ja)
*
|
2010-09-29 |
2012-04-05 |
コニカミノルタエムジー株式会社 |
医用画像表示方法及び医用画像表示システム
|
|
JP2012103237A
(ja)
*
|
2010-10-14 |
2012-05-31 |
Canon Inc |
撮像装置
|
|
RU2572644C2
(ru)
*
|
2010-10-19 |
2016-01-20 |
Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. |
Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений
|
|
RU2573114C2
(ru)
*
|
2010-10-19 |
2016-01-20 |
Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. |
Формирование изображений методом дифференциального фазового контраста
|
|
JP5875280B2
(ja)
*
|
2010-10-20 |
2016-03-02 |
キヤノン株式会社 |
トールボット干渉を用いた撮像装置および撮像装置の調整方法
|
|
EP2633813B1
(en)
*
|
2010-10-29 |
2015-02-25 |
FUJIFILM Corporation |
Phase contrast radiation imaging device
|
|
JP2012095865A
(ja)
*
|
2010-11-02 |
2012-05-24 |
Fujifilm Corp |
放射線撮影装置、放射線撮影システム
|
|
JP2012143553A
(ja)
*
|
2010-12-24 |
2012-08-02 |
Fujifilm Corp |
放射線画像撮影装置および放射線画像検出器
|
|
JP5777360B2
(ja)
*
|
2011-03-14 |
2015-09-09 |
キヤノン株式会社 |
Ｘ線撮像装置
|
|
WO2012128335A1
(ja)
*
|
2011-03-23 |
2012-09-27 |
コニカミノルタエムジー株式会社 |
医用画像表示システム
|
|
JP2012200567A
(ja)
*
|
2011-03-28 |
2012-10-22 |
Fujifilm Corp |
放射線撮影システム及び放射線撮影方法
|
|
JP2014113168A
(ja)
*
|
2011-03-29 |
2014-06-26 |
Fujifilm Corp |
放射線撮影システム及び放射線撮影方法
|
|
WO2012144317A1
(ja)
|
2011-04-20 |
2012-10-26 |
富士フイルム株式会社 |
放射線撮影装置及び画像処理方法
|
|
JP2014132913A
(ja)
*
|
2011-04-25 |
2014-07-24 |
Fujifilm Corp |
放射線撮影システム及び放射線撮影方法
|
|
JP2012236005A
(ja)
*
|
2011-04-26 |
2012-12-06 |
Fujifilm Corp |
放射線撮影装置
|
|
JP5787597B2
(ja)
*
|
2011-04-26 |
2015-09-30 |
キヤノン株式会社 |
撮像装置
|
|
JP2014155508A
(ja)
*
|
2011-06-08 |
2014-08-28 |
Fujifilm Corp |
放射線撮影システム
|
|
JP2014155509A
(ja)
*
|
2011-06-10 |
2014-08-28 |
Fujifilm Corp |
放射線撮影システム
|
|
JP5885405B2
(ja)
*
|
2011-06-13 |
2016-03-15 |
キヤノン株式会社 |
撮像装置、干渉縞解析プログラム及び干渉縞解析方法
|
|
JP2013024731A
(ja)
|
2011-07-21 |
2013-02-04 |
Canon Inc |
放射線検出装置
|
|
JP2013050441A
(ja)
*
|
2011-08-03 |
2013-03-14 |
Canon Inc |
波面測定装置、波面測定方法、及びプログラム並びにｘ線撮像装置
|
|
JP2014217397A
(ja)
*
|
2011-08-22 |
2014-11-20 |
富士フイルム株式会社 |
放射線撮影装置及びアンラップ処理方法
|
|
JP2014223091A
(ja)
*
|
2011-09-12 |
2014-12-04 |
富士フイルム株式会社 |
放射線撮影装置及び画像処理方法
|
|
JP2014238265A
(ja)
*
|
2011-09-30 |
2014-12-18 |
富士フイルム株式会社 |
放射線画像検出器及びその製造方法、並びに放射線画像検出器を用いた放射線撮影システム
|
|
JP5475737B2
(ja)
|
2011-10-04 |
2014-04-16 |
富士フイルム株式会社 |
放射線撮影装置及び画像処理方法
|
|
EP2586373B1
(en)
*
|
2011-10-28 |
2014-12-03 |
CSEM Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique SA |
X-ray interferometer
|
|
US20150117599A1
(en)
|
2013-10-31 |
2015-04-30 |
Sigray, Inc. |
X-ray interferometric imaging system
|
|
JP5868132B2
(ja)
*
|
2011-11-14 |
2016-02-24 |
キヤノン株式会社 |
撮像装置および画像処理方法
|
|
JP6265914B2
(ja)
*
|
2012-01-24 |
2018-01-24 |
コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． |
多方向位相コントラストｘ線撮像
|
|
WO2013151342A1
(ko)
*
|
2012-04-05 |
2013-10-10 |
단국대학교 산학협력단 |
방사선 위상차 영상 장치
|
|
JP2014006247A
(ja)
*
|
2012-05-28 |
2014-01-16 |
Canon Inc |
被検体情報取得装置、被検体情報取得方法及びプログラム
|
|
AU2012258412A1
(en)
*
|
2012-11-30 |
2014-06-19 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Combining differential images by inverse Riesz transformation
|
|
JP6116222B2
(ja)
*
|
2012-12-13 |
2017-04-19 |
キヤノン株式会社 |
演算装置、プログラム及び撮像システム
|
|
JP6079204B2
(ja)
*
|
2012-12-18 |
2017-02-15 |
コニカミノルタ株式会社 |
医用画像システム
|
|
US10578563B2
(en)
|
2012-12-21 |
2020-03-03 |
Carestream Health, Inc. |
Phase contrast imaging computed tomography scanner
|
|
US9357975B2
(en)
|
2013-12-30 |
2016-06-07 |
Carestream Health, Inc. |
Large FOV phase contrast imaging based on detuned configuration including acquisition and reconstruction techniques
|
|
US10096098B2
(en)
|
2013-12-30 |
2018-10-09 |
Carestream Health, Inc. |
Phase retrieval from differential phase contrast imaging
|
|
AU2012268876A1
(en)
*
|
2012-12-24 |
2014-07-10 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Non-linear solution for 2D phase shifting
|
|
US9364191B2
(en)
*
|
2013-02-11 |
2016-06-14 |
University Of Rochester |
Method and apparatus of spectral differential phase-contrast cone-beam CT and hybrid cone-beam CT
|
|
JP2014171799A
(ja)
*
|
2013-03-12 |
2014-09-22 |
Canon Inc |
Ｘ線撮像装置及びｘ線撮像システム
|
|
KR20140111818A
(ko)
|
2013-03-12 |
2014-09-22 |
삼성전자주식회사 |
엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법
|
|
JP2014178130A
(ja)
*
|
2013-03-13 |
2014-09-25 |
Canon Inc |
Ｘ線撮像装置及びｘ線撮像システム
|
|
WO2014167901A1
(ja)
|
2013-04-08 |
2014-10-16 |
コニカミノルタ株式会社 |
診断提供用医用画像システム及び一般撮影用の診断提供用医用画像システムにタルボ撮影装置系を導入する方法
|
|
EP2827339A1
(en)
|
2013-07-16 |
2015-01-21 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Source grating, interferometer, and object information acquisition system
|
|
US10295485B2
(en)
|
2013-12-05 |
2019-05-21 |
Sigray, Inc. |
X-ray transmission spectrometer system
|
|
DE102013221818A1
(de)
*
|
2013-10-28 |
2015-04-30 |
Siemens Aktiengesellschaft |
Bildgebendes System und Verfahren zur Bildgebung
|
|
US9726622B2
(en)
*
|
2013-10-31 |
2017-08-08 |
Tohoku University |
Non-destructive inspection device
|
|
USRE48612E1
(en)
|
2013-10-31 |
2021-06-29 |
Sigray, Inc. |
X-ray interferometric imaging system
|
|
CN105828716B
(zh)
|
2013-12-17 |
2019-05-10 |
皇家飞利浦有限公司 |
用于扫描差分相位衬度系统的相位恢复
|
|
AU2013273822A1
(en)
*
|
2013-12-23 |
2015-07-09 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Modulation guided phase unwrapping
|
|
WO2015122542A1
(en)
*
|
2014-02-14 |
2015-08-20 |
Canon Kabushiki Kaisha |
X-ray talbot interferometer and x-ray talbot interferometer system
|
|
JP2015166676A
(ja)
*
|
2014-03-03 |
2015-09-24 |
キヤノン株式会社 |
Ｘ線撮像システム
|
|
JP2015190776A
(ja)
|
2014-03-27 |
2015-11-02 |
キヤノン株式会社 |
画像処理装置および撮像システム
|
|
JP6362914B2
(ja)
*
|
2014-04-30 |
2018-07-25 |
キヤノンメディカルシステムズ株式会社 |
Ｘ線診断装置及び画像処理装置
|
|
US10401309B2
(en)
|
2014-05-15 |
2019-09-03 |
Sigray, Inc. |
X-ray techniques using structured illumination
|
|
CN104111120B
(zh)
*
|
2014-07-25 |
2017-05-31 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
基于朗奇剪切干涉仪的相位提取方法
|
|
JP2016032573A
(ja)
*
|
2014-07-31 |
2016-03-10 |
キヤノン株式会社 |
トールボット干渉計、トールボット干渉システム、及び縞走査法
|
|
MX2017006619A
(es)
*
|
2014-11-24 |
2017-08-10 |
Koninklijke Philips Nv |
Sistema de formacion de imagenes y detector para la formacion de imagenes de tomosintesis de contraste de fase de rayos-x.
|
|
US10117629B2
(en)
|
2014-12-03 |
2018-11-06 |
Board Of Supervisors Of Louisiana State University And Agricultural And Mechanical College |
High energy grating techniques
|
|
KR101636438B1
(ko)
*
|
2015-03-18 |
2016-07-05 |
제이피아이헬스케어 주식회사 |
단일 그리드를 이용한 ｐｃｉ 기반의 엑스선 영상 생성 방법 및 그 장치
|
|
JP6604772B2
(ja)
*
|
2015-08-05 |
2019-11-13 |
キヤノン株式会社 |
Ｘ線トールボット干渉計
|
|
JP6608246B2
(ja)
*
|
2015-10-30 |
2019-11-20 |
キヤノン株式会社 |
Ｘ線回折格子及びｘ線トールボット干渉計
|
|
DE102015226571B4
(de)
*
|
2015-12-22 |
2019-10-24 |
Carl Zeiss Smt Gmbh |
Vorrichtung und Verfahren zur Wellenfrontanalyse
|
|
JP6774188B2
(ja)
|
2016-02-23 |
2020-10-21 |
キヤノン株式会社 |
シンチレータプレート、放射線検出器及び放射線計測システム
|
|
JP6613988B2
(ja)
*
|
2016-03-30 |
2019-12-04 |
コニカミノルタ株式会社 |
放射線撮影システム
|
|
DE102016206559B3
(de)
*
|
2016-04-19 |
2017-06-08 |
Siemens Healthcare Gmbh |
Verfahren zur Korrektur eines Röntgenbilds auf Effekte eines Streustrahlenrasters, Röntgeneinrichtung, Computerprogramm und elektronisch lesbarer Datenträger
|
|
US10247683B2
(en)
|
2016-12-03 |
2019-04-02 |
Sigray, Inc. |
Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams
|
|
WO2018175570A1
(en)
|
2017-03-22 |
2018-09-27 |
Sigray, Inc. |
Method of performing x-ray spectroscopy and x-ray absorption spectrometer system
|
|
CN109087348B
(zh)
*
|
2017-06-14 |
2022-04-29 |
北京航空航天大学 |
一种基于自适应区域投射的单像素成像方法
|
|
JP6838531B2
(ja)
*
|
2017-09-06 |
2021-03-03 |
株式会社島津製作所 |
放射線位相差撮影装置
|
|
WO2019073760A1
(ja)
*
|
2017-10-11 |
2019-04-18 |
株式会社島津製作所 |
Ｘ線位相差撮影システムおよび位相コントラスト画像補正方法
|
|
WO2019111505A1
(ja)
*
|
2017-12-06 |
2019-06-13 |
株式会社島津製作所 |
Ｘ線位相差撮像システム
|
|
JP7020169B2
(ja)
|
2018-02-23 |
2022-02-16 |
コニカミノルタ株式会社 |
Ｘ線撮影システム
|
|
US10578566B2
(en)
|
2018-04-03 |
2020-03-03 |
Sigray, Inc. |
X-ray emission spectrometer system
|
|
WO2019236384A1
(en)
|
2018-06-04 |
2019-12-12 |
Sigray, Inc. |
Wavelength dispersive x-ray spectrometer
|
|
EP3809121A4
(en)
*
|
2018-06-12 |
2022-03-09 |
University of Tsukuba |
METHOD FOR CAPTURE OF PHASE IMAGES AND APPARATUS FOR CAPTURE OF PHASE IMAGES THEREBY
|
|
JP7117452B2
(ja)
|
2018-07-26 |
2022-08-12 |
シグレイ、インコーポレイテッド |
高輝度反射型ｘ線源
|
|
US10656105B2
(en)
|
2018-08-06 |
2020-05-19 |
Sigray, Inc. |
Talbot-lau x-ray source and interferometric system
|
|
US10962491B2
(en)
|
2018-09-04 |
2021-03-30 |
Sigray, Inc. |
System and method for x-ray fluorescence with filtering
|
|
DE112019004478T5
(de)
|
2018-09-07 |
2021-07-08 |
Sigray, Inc. |
System und verfahren zur röntgenanalyse mit wählbarer tiefe
|
|
DE102019111463A1
(de)
*
|
2019-05-03 |
2020-11-05 |
Wipotec Gmbh |
Röntgenstrahlungsdetektorvorrichtung und Vorrichtung zur Röntgeninspektion von Produkten, insbesondere von Lebensmitteln
|
|
CA3134384A1
(en)
*
|
2019-05-30 |
2020-12-03 |
Becton, Dickinson And Company |
Phase-correction of radiofrequency-multiplexed signals
|
|
WO2021046059A1
(en)
|
2019-09-03 |
2021-03-11 |
Sigray, Inc. |
System and method for computed laminography x-ray fluorescence imaging
|
|
CN111089871B
(zh)
*
|
2019-12-12 |
2022-12-09 |
中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 |
X射线光栅相衬图像的相位信息分离方法及系统、储存介质、设备
|
|
US11175243B1
(en)
|
2020-02-06 |
2021-11-16 |
Sigray, Inc. |
X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples
|
|
CN115667896B
(zh)
|
2020-05-18 |
2024-06-21 |
斯格瑞公司 |
使用晶体分析器和多个检测元件的x射线吸收光谱的系统和方法
|
|
US11549895B2
(en)
|
2020-09-17 |
2023-01-10 |
Sigray, Inc. |
System and method using x-rays for depth-resolving metrology and analysis
|
|
WO2022126071A1
(en)
|
2020-12-07 |
2022-06-16 |
Sigray, Inc. |
High throughput 3d x-ray imaging system using a transmission x-ray source
|
|
US12480892B2
(en)
|
2020-12-07 |
2025-11-25 |
Sigray, Inc. |
High throughput 3D x-ray imaging system using a transmission x-ray source
|
|
WO2023168204A1
(en)
|
2022-03-02 |
2023-09-07 |
Sigray, Inc. |
X-ray fluorescence system and x-ray source with electrically insulative target material
|
|
DE112023001408T5
(de)
|
2022-03-15 |
2025-02-13 |
Sigray, Inc. |
System und verfahren für die kompakte laminographie unter verwendung einer mikrofokus-transmissionsröntgenquelle und eines röntgendetektors mit variabler vergrösserung
|
|
CN115265524B
(zh)
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2022-03-24 |
2024-10-25 |
北京控制工程研究所 |
一种临近空间x射线角秒级星跟踪器
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CN119173759A
(zh)
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2022-05-02 |
2024-12-20 |
斯格瑞公司 |
X射线顺序阵列波长色散光谱仪
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DE112024000873T5
(de)
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2023-02-16 |
2026-01-15 |
Sigray, Inc. |
Röntgen-detektorsystem mit mindestens zwei gestapelten flachen bragg-diffraktoren
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US12181423B1
(en)
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2023-09-07 |
2024-12-31 |
Sigray, Inc. |
Secondary image removal using high resolution x-ray transmission sources
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WO2025101530A1
(en)
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2023-11-07 |
2025-05-15 |
Sigray, Inc. |
System and method for x-ray absorption spectroscopy using spectral information from two orthogonal planes
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CN117475172B
(zh)
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2023-12-28 |
2024-03-26 |
湖北工业大学 |
一种基于深度学习的高噪声环境相位图解包裹方法和系统
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US12429436B2
(en)
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2024-01-08 |
2025-09-30 |
Sigray, Inc. |
X-ray analysis system with focused x-ray beam and non-x-ray microscope
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WO2025155719A1
(en)
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2024-01-18 |
2025-07-24 |
Sigray, Inc. |
Sequential array of x-ray imaging detectors
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WO2025174966A1
(en)
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2024-02-15 |
2025-08-21 |
Sigray, Inc. |
System and method for generating a focused x‑ray beam
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