JP2012015553A - 酸素バリアコーティングを有する電気デバイス - Google Patents

酸素バリアコーティングを有する電気デバイス Download PDF

Info

Publication number
JP2012015553A
JP2012015553A JP2011226116A JP2011226116A JP2012015553A JP 2012015553 A JP2012015553 A JP 2012015553A JP 2011226116 A JP2011226116 A JP 2011226116A JP 2011226116 A JP2011226116 A JP 2011226116A JP 2012015553 A JP2012015553 A JP 2012015553A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
oxygen barrier
polyamine
conductive
barrier material
electrical device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2011226116A
Other languages
English (en)
Inventor
P Galla Matthew
マシュー・ピー・ガラ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TE Connectivity Corp
Original Assignee
Tyco Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tyco Electronics Corp filed Critical Tyco Electronics Corp
Publication of JP2012015553A publication Critical patent/JP2012015553A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/22Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/228Terminals
    • H01G4/252Terminals the terminals being coated on the capacitive element
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C1/00Details
    • H01C1/02Housing; Enclosing; Embedding; Filling the housing or enclosure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C1/00Details
    • H01C1/02Housing; Enclosing; Embedding; Filling the housing or enclosure
    • H01C1/034Housing; Enclosing; Embedding; Filling the housing or enclosure the housing or enclosure being formed as coating or mould without outer sheath
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/02Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for manufacturing resistors with envelope or housing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/02Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having positive temperature coefficient
    • H01C7/027Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having positive temperature coefficient consisting of conducting or semi-conducting material dispersed in a non-conductive organic material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/228Terminals
    • H01G4/232Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/228Terminals
    • H01G4/248Terminals the terminals embracing or surrounding the capacitive element, e.g. caps
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/29Coated or structually defined flake, particle, cell, strand, strand portion, rod, filament, macroscopic fiber or mass thereof
    • Y10T428/2982Particulate matter [e.g., sphere, flake, etc.]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/31504Composite [nonstructural laminate]
    • Y10T428/31511Of epoxy ether
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/31504Composite [nonstructural laminate]
    • Y10T428/31511Of epoxy ether
    • Y10T428/31515As intermediate layer
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/31504Composite [nonstructural laminate]
    • Y10T428/31511Of epoxy ether
    • Y10T428/31529Next to metal
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/31504Composite [nonstructural laminate]
    • Y10T428/31678Of metal

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Thermistors And Varistors (AREA)
  • Coating Of Shaped Articles Made Of Macromolecular Substances (AREA)
  • Epoxy Resins (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)

Abstract

【解決手段】電気デバイス(1)は2つの電極(7、9)と、電極を隔て、ポリマーおよび導電性フィラーの混合物を含んで成る導電性ポリマー層(5)とを含む。熱硬化性ポリマー成分を含む酸素バリア材料が、層状電極と接触してない導電性ポリマー層の露出面に存在する。酸素バリア材料はポリアミン−ポリエポキシド材料であってよい。
【効果】酸素バリア材料により、許容可能なバリア特性を広範な湿度レベルに亘って提供し得る。
【選択図】なし

Description

本発明は導電性ポリマー組成物、そのような組成物を製造する方法およびそのような組成物を含む電気デバイスに関する。
導電性ポリマー組成物およびこれを含む電気デバイスはよく知られている。そのような組成物はポリマーおよびポリマー中に分散した粒状導電性フィラーを含んで成る。ポリマーのタイプに加えて導電性粒子のタイプおよび量も組成物の抵抗率に影響を及ぼす。約1オーム・cmより大きい抵抗率を有する組成物に対しては、カーボンブラックが好ましいフィラーである。より低い抵抗率を有する組成物に対しては、金属粒子が使用される。カーボンブラックを含む組成物は、例えば米国特許第4,237,441号(van Konynenburgら)、同第4,388,607号(Toyら)、同第4,534,889号(van Konynenburgら)、同第4,560,498号(Horsmaら)、同第4,591,700号(Sopory)、同第4,724,417号(Auら)、同第4,774,024号(Deepら)、同第4,935,156号(van Konynenburgら)および同第5,049,850号(Evansら)に記載されている。金属フィラーを含む組成物は、例えば米国特許第4,545,926号(Foutsら)、同第5,250,228号(Baigrieら)および同第5,378,407号(Chandlerら)に記載されている。これら各特許の開示内容は参照することにより本明細書に組み込まれる。
導電性ポリマー組成物の電気特性は経時的に劣化する傾向にある。例えば金属充填された導電性ポリマー組成物では、組成物が周囲雰囲気と接触する場合、金属粒子の表面が酸化され易く、そしてこれにより生じる酸化層により、粒子が互いに接触しているときの粒子の導電性が低下する。組成物が酸素に曝されるのを最小限にすることによって、導電性ポリマー組成物を含むデバイスの電気性能を向上させることができる。1つの方策は、組成物の一部または全部を保護層で覆うことである。
正温度係数(PTC)デバイスのための酸素バリア層は、例えば米国特許第4,315,237号(Middlemanら)に記載されている。バリア層の1つのタイプは物理的バリア材料、例えば常套のエポキシ組成物、シリコーン樹脂、または絶縁性テープを含んで成る。別のタイプのバリア層は酸素バリア材料を含んで成り、酸素バリア材料は物理的バリア材料より少なくとも1桁低い酸素透過率を示す。酸素バリア材料の例にはポリビニルアルコール(PVOH)、ポリ(エチレン−コ−ビニルアルコール)(EVOH)、ポリ(エチレンナフタレート)(PEN)、ポリ(ビニリデンクロライド)(PVDC)およびポリアクリロニトリル(PAN)が含まれる。
酸素バリア材料に共通する1つの難点は、それらが一般的に熱可塑性材料処理技術(thermoplastic processing techniques:ポリマーを溶融させて溶融形態のままで別の基材へ適用するもの)により処理(または加工)されていることにある。これらポリマーを処理するには高温および特別な装置が必要であり、酸素バリアとデバイスにある電極との間に許容可能なシール(または封止)を形成することが困難であるため、これらポリマーをPTCデバイス用コーティングとして使用することが妨げられ得る。これらポリマーの溶液またはエマルションは、極めて高い粘度を有し、および/またはデバイスの1つまたはそれ以上の構成要素を損傷させ得る溶媒または他の添加剤を含む傾向にある。これらどちらの技術でも、これらの常套のバリアポリマーを用いる場合、バリアと電極との間に適切なシールを確実に形成するのは困難であり得る。これら酸素バリアポリマーの一部に関する別の難点は、それらが環境から水分を吸収し易いことである。このことはPVOHおよびEVOHで特に問題であり、これらポリマーの酸素透過率は相対湿度が高い環境下で非常に高くなる。
酸素から確実に保護し、および様々な環境条件下にて保護することのできる電気デバイスを提供することが望ましい。また、デバイスを保護するために使用するあらゆる材料を容易な処理技術により適用できれば望ましい。
本発明の第1の要旨において、第1電極;第2電極;第1および第2電極を隔て、ならびに第1および第2電極と接触していない露出面を有する導電性ポリマー層;および導電性ポリマー層の露出面に接し、熱硬化性ポリマー成分を含む酸素バリア材料を含む電気デバイスが提供される。導電性ポリマー層はポリマーおよび導電性フィラーの混合物を含む。
本発明の第2の要旨において、導電性ポリマー層、第1電極および第2電極の積層体(または層状体)であって、導電性ポリマー層が第1および第2電極の間に露出面を含んで成る積層体を形成すること、および導電性ポリマー層の露出面の少なくとも一部を、熱硬化性ポリマー成分を含む酸素バリア材料で覆うことを含む、電気デバイスの製造方法が提供される。導電性ポリマー層はポリマーおよび導電性フィラーの混合物を含む。
本発明の第3の要旨において、第1電極;第2電極;第1および第2電極を隔て、ならびに第1および第2電極と接触していない露出面を有する導電性ポリマー層;および導電性ポリマー層の露出面の少なくとも90%と接し、ポリマー成分を含む熱硬化ポリアミン−ポリエポキシド酸素バリアを含む電気デバイスが提供される。導電性ポリマー層はポリマーとニッケルを含む導電性フィラーとの混合物を含み得る。酸素バリア材料のポリマー成分の少なくとも65重量%は>N−CH−アリール−CH−N<、>N−アリール−N<、−O−アリール−O−、−O(O=)C−アリール−C(=O)O−、−O(O=)C−CH−アリール−CH−C(=O)O−および−CH−CH(OH)−CH−(式中、−アリール−はフェニレン、ナフチレンおよびアントラセニルからなる群より選択される)からなる群より選択される2つまたはそれ以上の基を含み得る。
本発明を図面により説明し、図1はポリマー正温度係数(PPTC)デバイスの平面図である。 図2は図1のデバイスの2−2線に沿う断面図である。 図3はもう1つのPPTCデバイスの平面図である。 図4はNi含有PPTCデバイスについてのエージングデータのグラフである。 図5はカーボンブラック含有PPTCデバイスについてのエージングデータのグラフである。
電気デバイスは、導電性粒状フィラーを含む導電性ポリマー組成物と、導電性ポリマー組成物をコーティングする(または覆う)酸素バリアとを含む。導電性ポリマー組成物は追加の物質、例えば非導電性フィラーおよび/または追加の導電性フィラーを含んでいてよい。このデバイスは導電性ポリマー組成物の層により離間した2つの層状(または薄層)電極を更に含み、導電性ポリマー組成物の露出面を残す。この露出面は、組成物を雰囲気(または空気)から隔離するために酸素バリアコーティングで覆われている。酸素バリアコーティングは、相対湿度(RH)が高い環境下であっても許容可能なレベルの酸素保護を更に提供し得る。
導電性ポリマー組成物と、導電性ポリマー組成物上の酸素バリアコーティングとを含む電気デバイスは、例えばポリマー正温度係数(PPTC:polymeric positive temperature coefficient)デバイスとして構成することができる。PPTCデバイスは正の温度係数(PTC)挙動(比較的狭い温度範囲において温度に対する急峻な抵抗率増加を特徴とする)を示す。詳細には、用語「PTC」は本明細書にて使用する場合、少なくとも2.5のR14値および/または少なくとも10のR100値を有する組成物またはデバイスとして定義される。好ましくは、PTCデバイスまたは組成物は少なくとも6のR30値を有する。パラメータR14は14℃の範囲の最後と最初における抵抗率の比である。パラメータR30およびR100はそれぞれ30℃の範囲および100℃の範囲の最後と最初における抵抗率の比である。
好ましい導電性ポリマー組成物には、ホストポリマー中で分散した導電性粒状フィラーが含まれる。この組成物は一般的に10オーム・cm未満、好ましくは1オーム・cm未満、より好ましくは0.1オーム・cm未満、およびより好ましくは更に0.05オーム.cm未満の抵抗率を有する。
ポリマーは半結晶性ポリマーとするのが好ましいことがある。半結晶性ポリマーは溶融温度(それより上の温度ではポリマー中の結晶性領域または微結晶(crystallite)が不規則になる温度)を特徴とする。溶融温度(Tm)は示差走査熱量計(DSC)により吸熱的転移が存在する温度範囲のピークとして簡便に測定できる。適切な半結晶性ポリマーにはポリオレフィン、例えばポリプロピレン、ポリエチレン、またはエチレンおよびプロピレンのコポリマーが含まれる。また、適切な半結晶性ポリマーには少なくとも1種のオレフィンおよびこれと共重合可能な少なくとも1種の非オレフィンモノマーのコポリマーも含まれる。このようなコポリマーの例には、ポリ(エチレン−コ−アクリル酸)、ポリ(エチレン−コ−エチルアクリレート)、ポリ(エチレン−コ−ブチルアクリレート)、およびポリ(エチレン−コ−ビニルアセテート)が含まれる。適切な熱成形性フルオロポリマーにはポリビニリデンフルオライド、およびエチレン/テトラフルオロエチレンコポリマーおよびターポリマーが含まれる。
用途によっては、所定の物理的または熱的特性、例えば柔軟性(flexibility:または可撓性)または高温などを得るために2種またはそれ以上のポリマーのブレンドを用いることが望ましい場合がある。ホストポリマーが半結晶性ポリマーである場合、半結晶性ポリマーとブレンドできる二次ポリマーの例にはエラストマー、アモルファス熱可塑性ポリマー、または他の半結晶性ポリマーが含まれる。組成物を回路保護デバイスに使用する用途では、ホストポリマーは半結晶性ポリマー、例えばポリエチレン、特に高密度ポリエチレン、低密度ポリエチレン、または高密度ポリエチレンおよびコポリマーの混合物であることが好ましい。組成物の抵抗率が10オーム・cm未満である回路保護デバイスに使用するのに適切な組成物では、ポリマーは一般的に組成物全体のうち35〜75体積%、好ましくは40〜70体積%を占める。
導電性粒状フィラーには導電性材料でできた粒子が含まれる。導電性粒状フィラーの例にはカーボンブラックおよび完全にまたは部分的に金属から成る粒子が含まれる。本明細書において用語「金属」は合金を含むものとして使用するが、単体金属または単体金属の混合物が好ましい。ある用途に対しては、粒子は完全に金属であってよく、1種のみの金属、例えばタングステン、銅、銀、モリブデンまたはニッケルなどを含み得る。別の用途に対しては、粒子は適当な抵抗率を有するフィラーを提供するように少なくとも部分的に金属でコートされた非導電性材料(例えばガラスまたはセラミック)または導電性材料(例えばカーボンブラック)を含み得る。また、分散性が改良され、アーク放電性(arcing tendencies)が低減され、硬度が改良され、または抵抗率が制御された粒子を提供するため、粒子は導電率の異なる別の材料、例えば金属、金属酸化物またはカーボンでコートされた金属を含んでいてもよい。従って、例えばニッケルは一般に、コンパウンディングの間に過度に凝集するのを防止するニッケル酸化物層でコートされている。
一般に、粒状フィラーは10−3オーム・cm未満、好ましくは10−4オーム・cm未満、特に10−5オーム・cm未満の抵抗率を有する粒子を含む。導電性粒状フィラーは組成物全体のうち一般的に20〜50体積%、好ましくは25〜45体積%、特に30〜45体積%、例えば35〜45体積%の充填量(loading)で組成物中に存在する。導電性粒状フィラーは2種以上の粒子を含んでいてよく、よって、カーボンブラック、グラファイトまたは第2の金属もしくは金属酸化物も含んでいてよい。
ポリマーおよび粒状フィラーは相互貫入ネットワークを形成することが望ましい。このため、特に導電性ポリマーを溶融成形工程に付す場合、粒状フィラーの好ましい粒子寸法および形状は半結晶性ポリマーの性質、および溶融物からポリマーが結晶化するときに粒子を特定の向きまたは配置にさせるポリマーの能力に部分的に依存する。最もよく使用される粒子は一般的に0.1〜50μm、好ましくは0.5〜20μm、特に1.0〜10μm、例えば1.0〜5.0μmの平均粒子寸法を有する。ポリマーがポリエチレンを含む場合、粒子の平均寸法は少なくとも1.0μm、好ましくは少なくとも1.5μm、特に少なくとも2.0μmであることが好ましい。
球形などの粒子は熱および電気試験の間に大きい抵抗増加を示すデバイスを提供する傾向にあり、他方、フレークまたは繊維状などの粒子は電気的不安定性を示すデバイスを提供する傾向にある。最適な電気的および物理的特性を達成するためには、金属粒子は「フィラメント状」としばしば言われる構造であるが、断面が一定の単なるフィラメントではなく、むしろ樹状の形態であるような構造を有することが好ましい。そのようなフィラメント状粒子には、一緒に合わさって溶融して分枝鎖を形成する球状の金属ビーズが一般的に含まれる。そのようなフィラメント状粒子の例はインターナショナル・ニッケル社(International Nickel, Inc.)の製品カタログ「インコ ニッケル粉末、特性および用途(INCO Nickel Powders, Properties and Applications)」(1983年12月)に示されており、その開示内容は参照することにより本明細書に組み込まれる。
適切な金属フィラーは一般的に1.3g/cm未満、好ましくは1.0g/cm未満、特に0.8g/cm未満のバルク密度Dを有する。バルク密度(見かけ密度とも言われる)は粉末の単位体積当たりの重量 g/cmである。本明細書に記載する値はASTM B329の手順に従って測定したものであり、これは体積既知の粉末の重量を既知の条件下にて測定するものである。特に好都合な組成物には、バルク密度が金属の真密度Dのq倍(ここでqは0.15未満)である粒状金属フィラーが含まれる。金属の真密度または元素密度(elemental density)は、g/cmとして表される金属の単位体積当たりの重量、またはフィラーがコートされた金属または金属コートされた非導電性の粒子を含む場合は複合フィラーの密度である。好ましくは、組成物はDのq倍のバルク密度を有する粒状金属フィラーを含み、ここでqは0.10未満、特に0.075未満、とりわけ0.065未満である。金属フィラーとして使用するのに特に好ましいのは、インターナショナル・ニッケル社からインコ(INCO、商標)255の商品名で入手可能なフィラメント状ニッケルであり、これは約0.55g/cmのバルク密度および8.9g/cmの真密度を有する。インコから入手可能な他の適切なフィラメント状ニッケルフィラーはインコ(商標)210、インコ(商標)270、およびインコ(商標)287の商品名で販売されている。
導電性粒状フィラーに加えて、組成物は非導電性フィラーを組成物全体に対して0〜20体積%、好ましくは5〜15体積%、特に8〜12体積%の量で含むことが好ましい。押出機のような標準的なコンパウンディング装置にて溶融処理(または溶融加工)するには材料の粘度が高すぎるようになるのを避けるため、導電性粒状フィラーおよび非導電性フィラーの全体積は一般的に組成物全体の65体積%以下とすべきである。この上限値はホストポリマーの粘度および他のフィラーの存在により影響を受け、また、使用する配合装置のタイプによって異なり得る。適切な非導電性フィラーにはアルミナ三水和物、水酸化マグネシウム、ゼオライト、石英および水酸化カルシウムが含まれる。このようなフィラーは組成物に抵抗安定性および/または難燃性を付与し得る。非導電性フィラーがアルミナ三水和物である場合、これはX−アルミナ(これは活性アルミナとしても知られている)の形態であることが好ましい。
導電性ポリマー組成物は他の物質、例えば酸化防止剤、不活性フィラー、放射線架橋剤(しばしばプロラッド(prorad)と言われる)、安定化剤、分散剤または他の成分なども含んでいてよい。組成物の溶融処理性を改善するため、およびより大きな均質性、抵抗均一性、より高い生産高(yield:または歩留)および改善された電気的寿命を得るためにカップリング剤、例えばチタネートまたはジルコネートカップリング剤を使用してよい。カップリング剤は組成物全体のうち0〜5体積%、好ましくは0.5〜3体積%、特に0.75〜2体積%、例えば0.75〜1.75体積%で存在する。
導電性フィラーおよび他の成分の分散は溶融処理、溶媒混合または他の任意の適切な手段によって実現できる。コンパウンディングの間に金属粒子が機械的に融合して凝集物となるのを防止するため、溶融処理に先立って金属を他の成分で「希釈」または混合することが望ましい。よって、金属は例えばV型混合機または円錐混合機により、非導電性フィラーおよび/またはポリマーと予備混合(または予めブレンド)してよい。ホストポリマーが粉末の形態であること、および全成分を予備混合することが特に好ましい。そのような予備混合により、凝集物(これは押出シートの物理的分裂部位または組成物から作製したデバイスの試験において電気的故障部位となり得る)の形成を最小限にする。
組成物はデバイスを製造するために任意の適切な方法によって溶融成形できる。よって、組成物は溶融押出、射出成形または焼結してよい。多くの用途では、組成物はシート状に押出成形またはカレンダ加工することが必要である。押出成形シートは押出の間に生じ得るメルトフラクチャを除去するためにホットプレスなどで処理してよい。これは、これらクラックおよびボイドがデバイスのアーク放電の候補部位となるためである。ほとんどの材料に対して、半結晶性ポリマーの融点(示差走査熱量計プロファイルで溶融のピークとして測定される)より15〜115℃高い押出温度が必要である。この範囲より低い温度では、組成物の溶融粘度が高すぎるようになり易い。この範囲より高い温度では、ダイでサージングが生じ易い。よって、ポリマーが高密度ポリエチレンである組成物に対しては、150〜240℃の温度範囲が一般的に適当である。溶融成形コンパウンドに内在する機械的応力は熱処理、例えばポリマーの融点よりわずかに高い温度での真空中、2〜48時間の加熱によって除去できる。
ポリマーおよび導電性粒状フィラーを含む組成物を使用して電気デバイス、例えば回路保護デバイス、ヒータ、抵抗器およびサーマルインジケータなどを製造することができる。回路保護デバイスは任意の形状を有してよいが、特に好都合な回路保護デバイスは2つの層状電極(好ましくは金属箔電極)およびそれらの間に挟持された導電性ポリマー組成物を含んで成る。例えば、図1は回路保護デバイス1の平面図であり、図2はこのデバイスの2−2線に沿った断面図である。このデバイスは金属リード11および13が取り付けられたPTC素子(もしくは要素)またはチップ3より構成される。PTC素子3は2つの金属電極7および9の間に挟持された導電性ポリマー組成物5を含んで成る。特に適切な箔電極は米国特許第4,689,475号(Matthiesen)、同第4,800,253号(Kleinerら)および同第6,570,483号(Chandlerら)に開示され、これらの各開示内容は参照することにより本明細書に組み込まれる。
デバイスは通常、例えばはんだ付けまたは溶接により電極に固定されたリードを含んで成る。これらリードはプリント回路基板にインサートするのに、またはプリント回路基板に表面実装するのに適し得る。回路保護デバイスは、例えばバッテリ保護(リードが基板、例えばバッテリターミナルに電気接続されるリボンまたはストラップの形態を有する)などの用途に特に適する。図3はバッテリのターミナルに取り付けるのに適するデバイスを提供するためのリード11および13についての別の構成を示す。デバイスの抵抗は非常に低く、例えば概して0.0005〜0.015オームであるので、リードの抵抗は、低抵抗金属で構成したとしても、全デバイス抵抗のうちかなりの割合(または高い割合)を占め得る。よって、デバイスの熱的特性(デバイスが高抵抗状態へトリップする度合(rate:または速度)を含む)に影響を及ぼし、またはこれを制御するようにリードを選択することができる。
導電性ポリマー組成物を架橋することが好ましいことがある。架橋は化学薬剤によって、あるいは例えば電子線またはCo60γ照射源による照射によって実施できる。組成物の温度は、好ましくはポリマーの融点より少なくとも10℃、好ましくは少なくとも15℃、特に少なくとも20℃、例えば25〜30℃の差で低い状態にとどめる。温度が、例えば高ビーム電流によって上昇してしまうと、架橋が溶融物中で起こり易く、これにより得られる組成物は予想より低い温度でPTC異常を示す。
照射の間、照射プロファイルが組成物全体で均一でないために組成物中に応力が生じ得る。そのような応力は不均一な架橋密度をもたらし、この結果、シートの収縮および変形ならびに箔電極の剥離が起こり得る。このことは、2つの金属箔および箔間の導電性ポリマーシートを各々含む個々のシートまたはラミネートのスタックを照射する場合に一層顕著に起こり得る。不均一照射プロファイルの影響を最小限にするため、スタックをいくつかの工程に分けて照射し、これら工程の間に、照射を均一にするようにシートまたはラミネートを入れ換えることが有用であり得る。ほとんどの組成物について、総線量は少なくとも10Mradであるが、150Mradを超えないことが好ましい。よって、10〜150Mrad、好ましくは25〜125Mrad、特に50〜125Mrad、例えば75〜125Mradの照射レベルが好都合である。導電性ポリマーをシート電極の間に重ねる(またはラミネートする)場合、重ねる前または後のいずれで照射を行ってもよい。
好ましくは、導電性ポリマー組成物を含むデバイスは熱硬化性(thermosetting)ポリマー成分を含む熱硬化(thermoset)酸素バリア材料でコートされる。用語「酸素バリア材料」は本明細書にて使用する場合、1cc・ミル/100インチ・atm・day未満の酸素透過定数を有する物質として定義される。これは透過の標準単位であって、1ミル(0.001インチ(0.025mm))の厚さおよび100平方インチ(0.065m)の面積を有するサンプルを透過する酸素を立方センチメートルとして測定し、透過を1気圧の分圧差にて24時間に亘って測定したものである。コーティングの酸素バリア材料は、好ましくは0.60cc・ミル/100インチ・atm・day未満であり、より好ましくは0.50cc・ミル/100インチ・atm・day未満、更により好ましくは0.30cc・ミル/100インチ・atm・day未満の酸素透過定数を有する。好ましくは、コーティングの酸素バリア材料が相対湿度75%の環境下にあるとき、この材料は0.60cc・ミル/100インチ・atm・day未満、より好ましくは0.50cc・ミル/100インチ・atm・day未満、更により好ましくは0.30cc・ミル/100インチ・atm・day未満の酸素透過定数を有する。
本明細書にて使用する場合、用語「熱硬化(thermoset)」はその最初の形成(original formation)を完了した後は再び溶融および成形することができないポリマー材料を言うものとする。これは、その最初の形成の後、溶融および成形によって加工できるポリマー材料である「熱可塑性(thermoplastic)」とは対照的である。熱硬化材料は典型的にはポリマー鎖が架橋により接続されている不溶解性および不溶融性ネットワークを形成する。このネットワーク形成(「硬化」(または「キュアリング」)とも言われる)は、これに伴う化学反応、および熱硬化材料を形成するために用いた反応性成分の組成に依存して、高温または周囲温度にて起こり得る。ネットワーク形成は、最終形状に固定する前に熱硬化材料の反応性成分を混合し、および対象物に適用できるように十分に遅いことが好ましい。
熱硬化酸素バリア材料のタイプの例は、米国特許第5,300,541号(Nugent)および同第5,637,365号(Carlblom)に開示されるポリアミン−ポリエポキシド材料のファミリーであり、これらは参照することにより本明細書に組み込まれる。熱硬化ポリアミン−ポリエポキシド酸素バリア材料は、ポリアミン成分およびポリエポキシド成分から、PTCデバイスへ適用(または塗布)する直前にこれら2種の成分を混合して形成できる。このような材料は相対湿度(RH)の高い環境を含む様々な環境で酸素バリアコーティングとして使用できる。例えば、これら材料から形成されたコーティングの75%RHにおける酸素透過率は、50%RHにおける透過率の5倍以下、および好ましくは50%RHにおける透過率の3倍以下を示し得る。
ポリアミン成分はモノマーポリアミン(モノマーのポリアミン)、または初期モノマーポリアミンを反応させることによって得られるポリアミン基アダクト(polyamine functional adduct)を含み得る。ポリアミン基アダクトを予備反応によって形成することは、樹脂の直線性を維持しながら分子量を増加させ、これによってゲル化(gellation)を防止するという利点がある。2個以下の一級アミノ基(−NH)を有するポリアミンを使用してアダクトを作製すると、ゲル化を防止するよう作用する。加えて、基材へ適用する前にエポキシおよびアミン反応物の取り込み(ingestion)のために要する一般的な時間は、アダクトを形成する予備反応によって短縮され、または無くされる。初期ポリアミンを予備反応させてアダクトを形成する場合、アダクトを形成する間にポリアミンの約10〜80%、好ましくは20〜50%の活性アミン水素をエポキシ基と反応させ得る。予備反応させる活性アミン水素がより少ないと、予備反応工程の効果が低下し、また、アダクトを形成する利点の1つであるポリマー生成物の直線性が小さくなる。予備反応させる活性アミン水素の割合をより大きくすることは、最終硬化段階での反応に反応部位を提供するため十分な活性アミン水素基を未反応のまま残さなければならないので好ましくない。取込み時間がかかるのを許容できるのであれば、アダクトを形成せずにコーティングを作製してもよい。この場合、硬化に必要な全てのポリエポキシドを初期モノマーポリアミンとブレンドし得る。取込み時間経過後、混合物を基材へ適用し、そしてその場で硬化させることができる。そのようなアダクト無しの方法によって製造したコーティングは、アダクトを用いて製造したものと理論上等価(または均等)なものとみなし得る。
好ましくは、ポリアミン成分はその化学構造中に多くの芳香族分(aromatic content)を有することを特徴とする。より詳細には、少なくとも50%、好ましくは少なくとも70%の炭素原子が芳香族環、例えばフェニレン基、ナフチレン基および/またはアントラセニル基に存在する。これらには、アミン基が芳香族環に直接結合している芳香族アミン、または好ましくはアミノ基が芳香族基にアルキル基を介して結合しているアミノアルキレン化合物が含まれ得る。好ましくは、アルキレン基は小さいアルキレン基、最も好ましくはメチレン基である。後者の場合、芳香族基がフェニレンであるとき、ポリアミンはキシリレンジアミンである。
1つの例では、モノマーポリアミンをエピクロロヒドリンと反応させることによってポリアミンアダクトを形成する。ポリアミンのエピクロロヒドリンとの反応をアルカリの存在下にて実施することによる主な反応生成物は、2−ヒドロキシプロピレン結合部(またはリンケージ)により繋がったポリアミン分子を含む。好ましいポリアミンであるメタキシリレンジアミンのエピクロロヒドリンとの反応が米国特許第4,605,765号(Miyamotoら)に記載されており、この開示内容は参照することにより本明細書に組み込まれる。そして、そのような生成物は三菱ガス化学株式会社から「ガスカミン(GASKAMINE、商標)328」として市販で入手可能である。
好ましくは、ポリエポキシド成分はその化学構造中に多くの芳香族分を有することを特徴とする。好ましくは、ポリエポキシド成分は少なくとも約1.4、およびより好ましくは約2.0以上の平均1,2−エポキシ官能性を有し、例えばポリエポキシドは2〜4の1,2−エポキシ官能性を有する。三官能性および四官能性のポリエポキシドもまた、アミン基を有するものも含めて、本発明に好都合である。アミン含有四官能性ポリエポキシドの例には次のものが含まれる:N,N,N’,N’−テトラキス(オキシラニルメチル)−1,3−ベンゼンジメタンアミン(三菱ガス化学株式会社から「テトラド(TETRAD、商標)X」として入手可能である);N,N,N’,N’−テトラキス(オキシラニルメチル)−1,3−シクロヘキサンジメタンアミン(三菱ガス化学株式会社から「テトラド(TETRAD、商標)C」として入手可能である);およびテトラグリシジル−ビス(パラ−アミノフェニル)メタン(チバ−ガイギー社(Ciba-Geigy)から「MY−720」として入手可能である)。他のアミン含有ポリエポキシドにはジグリシジルアニリンおよびトリグリシジルアミノフェノールが含まれる。
ビスフェノールのジグリシジルエーテル、例えばビスフェノールAのジグリシジルエーテルまたはビスフェノールFのジグリシジルエーテルは好ましくはないが、これらはポリアミンアダクトを作製するためには許容可能であり得る。硬化した分子ネットワークはビスフェノール基の残余を30重量%以下で含んでいてよいが、好ましい態様では含まない。何らかのビスフェノールエポキシドを含むものとするのであれば、酸素透過率を低くするためには、ビスフェノールFのジグリシジルエーテルがビスフェノールAに基づくエポキシドより好ましい。ビスフェノールAにメチル基が存在することは酸素バリア特性に有害な影響を及ぼすと論理付けられる。従って、イソプロピリデン基がビスフェノールAに含まれることは避けるのが好ましい。他の非置換アルキル基、特に2個より長い(または3個以上の)炭素鎖を含有する非置換アルキル基は同様の効果を有するものと考えられ、そのような基を含有する成分(例えば1,4−ブタンジオールのジグリシジルエーテル)は避けるのが好ましい。
ポリアミンのポリエポキシドとの反応により硬化したバリアコーティングを形成する際、ポリアミンの各アミン水素は理論上、1個のエポキシ基と反応でき、よって、1アミン等量であると考えられる。従って、第1級アミン窒素はバリア材料を形成するためのポリエポキシドとの反応において二官能性であると考えられる。硬化した反応生成物は相当な数の未反応アミン水素を含むことが好ましい。ポリアミン反応物質の量を最大にすることは、バリア特性を最大限にするためには一般的に望ましいが、エポキシ基の数が不十分であると強固で耐水性・耐溶媒性のフィルムを得るのに十分な程度に架橋することができない。また、好ましい量より多くのエポキシを使用すると架橋が過剰になり、フィルムが非常に脆くなり得る。アダクト形成段階および硬化段階の双方においてポリエポキシドを用いる場合、これらは同じポリエポキシドであってよく、また、これらは異なるポリエポキシドであってもよい。本明細書において推奨するポリエポキシドまたはポリアミンのいずれかの混合物を純粋化合物の代わりに用いてもよい。
酸素バリアコーティングである硬化したポリマーネットワークはポリアミンおよびポリエポキシド成分の残余を含む。好ましくは、酸素バリアコーティングは高含量のアリールアミンおよび/またはアリールアミノメチル基、および/または高含量のアリールエーテルおよび/またはアリールエステル基を有することを特徴とし、アミン/アミノメチル部分はエーテル/エステル部分に2−ヒドロキシプロピレン基を介して結合することが好ましい。好ましいアリール基はフェニレン、ナフチレンおよびアントラセニル基である。好ましくは、硬化した酸素バリア材料は、硬化したネットワークの少なくとも65重量%、好ましくは少なくとも80重量%、最も好ましくは少なくとも95重量%を次の基の組合せが占めている化学構造を特徴とする:>N−CH−アリール−CH−N<、>N−アリール−N<、−O−アリール−O−、−O(O)C−アリール−C(O)O−、−O(O=)C−CH−アリール−CH−C(=O)O−、−CH−CH(OH)−CH−。これら式中、用語「−アリール−」はフェニレン基、ナフチレン基またはアントラセニル基を意味する。好ましくは、アリール基には、メタ−フェニレンまたは2,6−ナフタレン部分がそれらの置換誘導体も合わせて含まれる。また、ポリアミンモノマーにある非置換アルキレン基が2個以下の炭素原子を含むことも好ましい。
これらの基から本質的に成る酸素バリア材料の例として、メタキシリレンジアミンおよびエピクロロヒドリンのアダクト(ポリアミン成分)とN,N,N’,N’−テトラキス(オキシラニルメチル)−1,3−ベンゼンジメタンアミン(ポリエポキシ成分)との反応によって形成されるネットワークが挙げられる。初期ポリアミン、ポリアミンアダクト、またはポリエポキシド硬化成分によって、所望の分子基を硬化したポリマーネットワークに導入することができる。上記の芳香族メンバーにおける様々な置換基は、反応物質中の同じ分子において、互いに組み合わされて提供されていてよい。
ポリアミン成分およびポリエポキシド成分の混合物をデバイスにそのままの(または希釈しない)形態でまたは溶媒に入れて適用(または塗布)してよい。この適用は、例えば噴霧(またはスプレー)、ローリング(rolling)、浸漬および刷毛塗りなどの常套の方法によって実施してよい。噴霧塗布またはロール塗布が好ましい。例えば硬化性コーティング成分を塗布するために常套の噴霧技術および装置を利用できる。好ましくは、硬化した酸素バリアコーティングは75ミクロン(μm)未満の厚さを有する。より好ましくは、コーティング厚さは1〜60μmであり、更により好ましくは2〜40μmである。導電性ポリマー組成物の露出面積の100%が酸素バリア材料で被覆されていることが好ましい。しかしながら、被覆が完全でないものも好都合なデバイスを提供できる。例えば、酸素バリアコーティングはデバイスのPTC特性を著しく損なうことなく1個またはそれ以上のピンホールを含んでいてよい。好ましくは導電性ポリマー組成物の露出面積の少なくとも90%が被覆され、より好ましくは露出面積の少なくとも99%が被覆される。
溶媒から適用(または塗布)する場合、適用可能な状態のアミン官能性ポリマー樹脂の溶液は、予備反応アダクト法を用いる態様については、約15重量%〜約50重量%、好ましくは約25〜約40重量%の範囲にある樹脂固形分の重量百分率を有する。重量百分率固形分がこれより高いと、特に噴霧の場合に適用が困難になり、他方、重量百分率がこれより低いと熱硬化段階においてより多量の溶媒を除去することが必要になる。ポリアミンとポリエポキシドとの直接反応によりコーティング形成する場合については、50%より高い固形分含量を首尾よく用い得る。
ポリアミン−ポリエポキシドコーティングを適用するのに溶媒を用いる場合、溶媒は被覆すべきPTCデバイスの露出部に対して不活性であることを要する。即ち、溶媒は導電性ポリマー組成物に吸収されないことが好ましく、また、この組成物と化学反応しないことが好ましい。溶媒は、液体組成物をデバイスに適用する間、液体組成物に所望の流動性を付与する能力によって選択してよい。適切な溶媒には酸素含有溶媒(oxygenated solvent)、例えばグリコールエーテル(例えば2−メトキシエタノール、2−エトキシエタノール、2−プロポキシエタノール、2−ブトキシエタノールおよび1−メトキシ−2−プロパノールなど)またはアルコール(例えばメタノール、エタノールおよびプロパノールなど)が含まれる。グリコールエーテル、例えば2−ブトキシエタノールおよび1−メトキシ−2−プロパノールがより好ましく、1−メトキシ−2−プロパノールが最も好ましい。1−メトキシ−2−プロパノールは蒸発速度が速く、硬化したフィルム中における溶媒保持率(または残留率)を最小限にできるので、これを使用することが好ましい。予備反応させたアダクトを用いる態様にて所望の流動特性を得るために、2−ブトキシエタノールを用いることが好ましいことがある。流動特性のために遅蒸発性溶媒を必要としない用途では、本明細書に挙げた溶媒を、例えばトルエンまたはキシレンなどの比較的費用の高くない溶媒で希釈してよい。また、溶媒はハロゲン化炭化水素、例えばメチレンクロライドおよび1,1,1−トリクロロエタンなどの塩素化炭化水素(通常、速蒸発性溶媒とされる)であってもよく、これは硬化したバリアフィルムを得るのに特に好都合であり得る。そのような溶媒の混合物も使用可能である。得られるバリア材料がハロゲンフリーであることが望まれる場合には、非ハロゲン化溶媒が好ましい。また、樹脂は水性媒体中に存在していてもよく、即ち、非ゲル化アミン官能性ポリマー樹脂は水性溶液または分散物であってよい。例えば、コーティングを硬化させるのに使用するポリエポキシドが水溶性ポリエポキシドであるとき、非ゲル化アミン官能性ポリマー樹脂を水性溶液として利用できる。あるいは不水溶性ポリエポキシドでは、非ゲル化アミン官能性ポリマー樹脂は、これを水性媒体中で安定化するのに十分な、有機酸(例えばギ酸、乳酸または酢酸など)または無機酸(例えば塩酸またはリン酸など)で中和されたアミン基を有し得る。
また、酸素バリアコーティング組成物はフィラーを含んでいてもよい。例えば、色素の添加により、得られるバリア材料の気体透過性を更に低下させることができる。気体透過性を低下させるのに好都合な色素には、二酸化チタン、雲母、シリカ色素、タルクおよびアルミニウムまたはガラス粒子、例えばフレーク(または片状物)が含まれ得る。雲母、アルミニウムフレークおよびガラスフレークは、そのような色素がプレート状構造を有するので好ましいであろう。一般的に、コーティング組成物に色素が含まれる場合、色素対バインダーの重量比は約1以下:1、好ましくは約0.3以下:1、およびより好ましくは約0.05:1〜約0.2:1である(バインダー重量はコーティング組成物中のポリアミン−ポリエポキシド樹脂の総固形分重量とする)。ポリアミン−ポリエポキシド酸素バリア材料にフィラーを使用することは、例えば米国特許第5,840,825号(Carlblomら)に開示されており、その開示内容は参照することにより本明細書に組み込まれる。好ましくは、フィラーは板状型(platelet-type)フィラーであることを特徴とする。板状型フィラーは酸素バリア材料中に好ましくは約2〜約40重量%、より好ましくは約5〜約40重量%、および更により好ましくは約5〜約25重量%で存在する。上記のバリアコーティング組成物と適合性である任意の適切な板状型フィラーを使用できる。そのような適切なフィラーの例には雲母、バーミキュライト(または蛭石)、クレイ(または粘度)、タルク、雲母状酸化鉄、シリカ、フレーク状金属、フレーク状グラファイト、フレーク状ガラス、フレーク状フタロシアニンが含まれる。市販で入手し易いことから雲母を使用することが望ましいであろう。
フィラーに加えて、酸素バリアコーティング組成物は他の添加剤を含んでいてよい。例えば、デバイスの成分の表面特性に応じてシリコーンおよび/または界面活性剤を添加してよい。加えて、組成物の硬化および/またはそのデバイスへの結合に作用するように、カップリング剤または触媒が存在していてよい。
熱硬化性酸素バリア材料を導電性ポリマー組成物上に適用する際、コーティング組成物の成分(例えばポリエポキシドおよびポリアミン)をまず十分に混合し、それから噴霧などの適当な手段により適用する。混合後、適用前に、硬化および透明度を改善するためにコーティング組成物を約5分〜約60分の時間(取込み時間と言う)に亘って維持してもよい。この取込み時間は、ポリアミンが予備反応アダクトである場合または溶媒が2−ブトキシエタノールである場合には通常なくすことができる。コーティング組成物を適用した後、数時間から数日間またはそれ以上に亘って徐々に硬化させることにより、周囲温度と同程度に低い温度、即ち約21℃(70°F)にて硬化させることができる。しかしながら、そのような低温硬化は工業的生産ラインにて望まれるものより遅く、また、硬化したコーティングから溶媒を除去するのに十分でない。従って、プラスチック基材を変形させないで可能な限り高く、特定の溶媒をコーティングから効果的に除去するのに十分に高い高温で加熱することによってコーティングを硬化させるのが好ましい。比較的「遅い」溶媒、即ち蒸発速度の比較的小さい溶媒では、約1分〜約60分に対して約54℃(130°F)〜約110℃(230°F)、好ましくは約71℃(160°F)〜約93℃(200°F)の温度が好ましいであろう。比較的「速い」溶媒、即ち蒸発速度の比較的大きい溶媒に対しては、100°F〜71℃(160°F)、好ましくは約49℃(120°F)〜66℃(150°F)の範囲の温度が適切であろう。熱硬化性コーティング組成物は単層として適用および硬化させてよく、あるいは溶媒を除去するための1つまたはそれ以上の加熱段階を用いて多層として適用してもよい。
導電性ポリマー組成物および導電性ポリマー組成物上の酸素バリアコーティングを含む電気デバイスは低い抵抗率を有することができる。例えば金属系導電性フィラーを含むデバイスの抵抗は1オームより小さくできる。好ましくは金属系導電性フィラーを含むデバイスの抵抗は0.50オーム未満であり、およびより好ましくは0.10オーム未満、例えば0.015オームである。
本発明を以下の例により説明する。このうち例1、2、3および6は比較例である。
例1 ニッケル含有PPTCデバイス
43体積%(vol%)Ni粉末(インコ・スペシャル・プロダクツ社(Inco Special Products、ニュージャージー州ワイコフ)製のインコ(INCO、商標)255)、47体積%高密度ポリエチレン(HDPE;エクイスター(Equistar、テキサス州ヒューストン)製のペトロセン(PETROTHENE、商標)LB832)、10体積%MgOH(ロンザ(Lonza、ニュージャージー州フェアローン)製のマグニフィン(MAGNIFIN、商標)H10)、およびポリマー100部当り(php:per hundred polymer)2部のジルコネートカップリング剤(ケンリッチ(Kenrich、ニュージャージー州ベイヨン)製のNZ−33)を混合することによって導電性ポリマー組成物を調製した。この組成物をブラベンダー(Brabender)ミキサーで60rpmにて10分間、180℃の温度で混合した。その後、混合した組成物を0.51mm(0.020インチ)の厚さを有する0.51mm角のプラーク(plaque:基板または板状体)に圧縮成形した。
この導電性ポリマープラークを0.025mm(0.001インチ)厚さの電着ニッケル箔の2枚のシート(フクダ(Fukuda、日本国京都)製)の間に配置し、そしてプラークおよび箔シートを熱および圧力に曝すことによって積層構造体を作製した。組成物を架橋させるため、この積層構造体を100Mradの放射に付した。架橋した積層体から3mm×4mmの寸法を有する個々のチップを裁断した。2.5mm×15.5mmの寸法を有するニッケルストラップリードを個々のニッケル表面に取り付けて図1および2に示すデバイスを形成した。
例2 カーボンブラック含有PPTCデバイス
25体積%カーボンブラック粉末(コロンビアン・ケミカル(Columbian Chemical、ジョージア州マリエッタ)製のレイブン(Raven、商標)430U)、60体積%高密度ポリエチレン(ペトロセン(商標)LB832)、および15体積%MgOH(キスマ(Kisuma、オランダ国フェーンダム)製の5A)を混合することによって導電性ポリマー組成物を調製した。この組成物をバス(Buss)コンパウンダーで混合し、その後、シート形態に押し出した。
その後、押し出したポリマー組成物を、中央のポリマー層が4つの押出シートのスタックを含むようにして約2.0mm(0.080インチ)の導電性ポリマー厚さとしたこと以外は実施例1と同様にして積層および架橋させた。架橋した積層体から140mm(0.217インチ)の寸法を有する個々のチップを裁断した。リードを個々のニッケル表面に取り付けて図1および2に示すデバイスを形成した。リードは22AWGのスズメッキした銅リードを用いてはんだ漬けにより形成した。
例3 エポキシコートしたNi含有デバイス
例1で形成したデバイスをロックタイト(Loctite、商標)3981ハイソール(Hysol、商標)エポキシ(ヘンケル・ロックタイト社(Henkel Loctite Corp.、コネチカット州ロッキーヒル)製)でコートした。デバイスを型内に配置し、そしてエポキシ樹脂を型へデバイスの周囲に注ぎ入れた。その後、硬化させるために型をオーブンに入れて125℃で30分間維持し、硬化後、コートしたデバイスを型から外した。コーティング厚さは約300〜350μmであった。
例4 ポリアミン−ポリエポキシドコートしたNi含有デバイス
例1で形成したデバイスをベアロケード(BAIROCADE、商標)ビアーグレード(BEER GRADE)ポリアミン−ポリエポキシド(ピーピージー(PPG、ペンシルバニア州スプリングデール)製)でコートした。デバイスにポリアミン−ポリエポキシド前駆体の液体混合物を刷毛塗りし、そしてこれをオーブンに入れて125℃で5分間維持した。刷毛塗りおよびオーブン加熱工程を2回繰り返して、第2および第3の層を適用した。コーティング層の合計厚さは25〜30μmであった。
例5 フィラー入りポリアミン−ポリエポキシドコートしたNi含有デバイス
例1で形成したデバイスを、20重量%の板状型フィラーを含むポリアミン−ポリエポキシドでコートした。コーティング組成物は米国特許第5,840,825号(Carlblomら)の例XVIIIに概略従って調製し、12.5重量%(wt%)のガスカミン(商標)328(三菱ガス化学株式会社製)、7.5重量%のテトラッド(TETRAD、商標)X(三菱ガス化学株式会社製)、71.1重量%の1−メトキシ−2−プロパノール(ダウアノール(DOWANOL、商標)PM(ダウ・ケミカル社(Dow Chemical Co.)製))、4.9重量%のアルミニウムシリカクレイ(エンゲルハード社(Engelhard Corp.)製)および4.0重量%のエチルアセテートを含むものとした。デバイスにこの混合物を刷毛塗りし、そしてこれをオーブンに入れて125℃で5分間維持した。刷毛塗りおよびオーブン加熱工程を2回繰り返して、第2および第3の層を適用した。コーティング層の合計厚さは25〜30μmであった。
例6 ポリエステルコートしたカーボンブラック含有デバイス
例2で形成したデバイスをランバー(RANBAR、商標)ポリエステル(ランバー・テクノロジー(Ranbar Technology;ペンシルバニア州マナー)製)でコートした。デバイスをポリエステル樹脂に浸漬し、室温で乾燥させ、そして硬化させるためにオーブンに入れて125℃で30分間維持した。コーティング層の合計厚さは40〜50μmであった。
例7 ポリアミン−ポリエポキシドコートしたカーボンブラック含有デバイス
例2で形成したデバイスをベアロケード(商標)ビアーグレードポリアミン−ポリエポキシドでコートした。デバイスにポリアミン−ポリエポキシド前駆体の液体混合物を刷毛塗りし、そしてこれをオーブンに入れて125℃で5分間維持した。刷毛塗りおよびオーブン加熱工程を2回繰り返して、第2および第3の層を適用した。コーティング層の合計厚さは25〜30μmであった。
例8 ポリアミン−ポリエポキシドおよびポリエステルコートしたカーボンブラック含有デバイス
例2で形成したデバイスをランバー(商標)ポリエステルおよびベアロケード(商標)ビアーグレードポリアミン−ポリエポキシドでコートした。デバイスをランバー樹脂に浸漬し、室温で乾燥させ、そして硬化させるためにオーブンに入れて125℃で30分間維持して、約40〜50μm厚さの層を得た。その後、デバイスにポリアミン−ポリエポキシド前駆体の液体混合物を刷毛塗りし、そしてこれをオーブンに入れて125℃で5分間維持した。刷毛塗りおよびオーブン加熱工程を2回繰り返して、第2および第3の層を適用した。ポリアミン−ポリエポキシドコーティング層の合計厚さは25〜30μmであった。
コートしたデバイスのエージング試験
例1および3〜8のデバイスをエージング試験に付した。この試験では、デバイスが抵抗状態にトリップするのに必要な電圧より高い電圧にデバイスを維持した。その後、抵抗を時間に対して測定した。PPTCデバイスは初期抵抗をできるだけ長く維持することが望ましい。例1、3〜5のNi含有デバイスについては印加電圧を12Vとした。例6〜8のカーボンブラック含有デバイスについては印加電圧を60Vとした。
図4はNi系(またはNiに基づく)デバイスに関するエージング結果のグラフである。熱硬化ポリアミン−ポリエポキシドでコートしたデバイスが最良の結果を示し、その元の抵抗を1,000時間以上維持した。これに比べ、常套のエポキシコーティングでコートしたデバイスは1,000時間で約2桁の抵抗増加を示し、また、コートしていないデバイスは3桁を超える増加を示した。
図5はカーボンブラック系(またはカーボンブラックに基づく)デバイスに関するエージング結果のグラフである。常套のポリエステルコーティングでコートしたデバイスは、熱硬化ポリアミン−ポリエポキシドコーティングを含むものとしたデバイスに比べ、はるかに大きな抵抗増加を経時的に示した。
従って、上記の詳細な説明は本発明を限定するものではなく、むしろこれを例示するものとして解され、本発明の概念および範囲を規定するのは、あらゆる均等物を含む添付の特許請求の範囲であると理解されるよう意図するものである。

Claims (13)

  1. 第1電極;
    第2電極;
    第1および第2電極を隔て、ならびに第1および第2電極と接触していない露出面を有する導電性ポリマー層であって、ポリマーおよび導電性フィラーの混合物を含む導電性ポリマー層;および
    導電性ポリマー層の露出面に接し、熱硬化性ポリマー成分を含む熱硬化酸素バリア材料であって、1cc・ミル/100インチ・atm・day未満の酸素透過定数を有する酸素バリア材料
    を含む電気デバイス。
  2. 酸素バリア材料の酸素透過定数が0.60cc・ミル/100インチ・atm・day未満、好ましくは0.50cc・ミル/100インチ・atm・day未満である、請求項1に記載の電気デバイス。
  3. 酸素バリア材料の酸素透過定数が相対湿度75%の環境下にて1cc・ミル/100インチ・atm・day未満である、請求項1に記載の電気デバイス。
  4. 酸素バリア材料が導電性ポリマー層の露出面の少なくとも90%、好ましくは導電性ポリマー層の露出面の少なくとも99%を覆っている、請求項1に記載の電気デバイス。
  5. デバイスが酸素バリア材料に封入されている、請求項1に記載の電気デバイス。
  6. 酸素バリア材料がポリアミン−ポリエポキシド材料を含む、請求項1に記載の電気デバイス。
  7. 酸素バリア材料のポリマー成分の少なくとも65重量%、好ましくは少なくとも80重量%が>N−CH−アリール−CH−N<、>N−アリール−N<、−O−アリール−O−、−O(O=)C−アリール−C(=O)O−、−O(O=)C−CH−アリール−CH−C(=O)O−および−CH−CH(OH)−CH−(式中、−アリール−はフェニレン、ナフチレンおよびアントラセニルからなる群より選択される)からなる群より選択される2つまたはそれ以上の基を含む、請求項1に記載の電気デバイス。
  8. 式中、−アリール−はメタ−フェニレンおよび2,6−ナフタレンからなる群より選択される、請求項7に記載の電気デバイス。
  9. 酸素バリア材料が2〜40重量%の板状型フィラーを含む、請求項1に記載の電気デバイス。
  10. 導電性フィラーがニッケルを含む、請求項1に記載の電気バイス。
  11. 15ミリオーム未満の抵抗を有する、請求項1に記載の電気デバイス。
  12. 請求項1〜11のいずれかに記載の電気デバイスを製造する方法であって、
    導電性ポリマー層、第1電極および第2電極の積層体であって、導電性ポリマー層がポリマーおよび導電性フィラーの混合物を含み、および積層体が第1および第2電極の間に露出面を有している積層体を形成すること、および
    導電性ポリマー層の露出面の少なくとも一部を、熱硬化性ポリマー成分を含む熱硬化酸素バリア材料で覆うこと
    を含む方法。
  13. 露出面の少なくとも一部を覆うことが、第1および第2電極の間の領域の少なくとも一部をポリアミンおよびポリエポキシドの混合物に接触させること、および熱硬化酸素バリアであるポリアミン−ポリエポキシド材料を形成するように混合物を硬化させることを含み、好ましくは、該領域の少なくとも一部をポリアミンおよびポリエポキシドの混合物に接触させることおよびポリアミン−ポリエポキシド材料を形成するように混合物を硬化させることを繰り返すことを更に含む、請求項12に記載の方法。
JP2011226116A 2004-09-03 2011-10-13 酸素バリアコーティングを有する電気デバイス Pending JP2012015553A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/934,349 US7371459B2 (en) 2004-09-03 2004-09-03 Electrical devices having an oxygen barrier coating
US10/934,349 2004-09-03

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005254692A Division JP4942318B2 (ja) 2004-09-03 2005-09-02 酸素バリアコーティングを有する電気デバイス

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2012015553A true JP2012015553A (ja) 2012-01-19

Family

ID=35115999

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005254692A Active JP4942318B2 (ja) 2004-09-03 2005-09-02 酸素バリアコーティングを有する電気デバイス
JP2011226116A Pending JP2012015553A (ja) 2004-09-03 2011-10-13 酸素バリアコーティングを有する電気デバイス

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005254692A Active JP4942318B2 (ja) 2004-09-03 2005-09-02 酸素バリアコーティングを有する電気デバイス

Country Status (7)

Country Link
US (2) US7371459B2 (ja)
EP (1) EP1632960B1 (ja)
JP (2) JP4942318B2 (ja)
KR (1) KR101215704B1 (ja)
CN (1) CN1744792B (ja)
DE (1) DE602005025573D1 (ja)
TW (1) TWI381942B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014183222A (ja) * 2013-03-19 2014-09-29 Tyco Electronics Japan Kk Ptc組成物
JP2014207421A (ja) * 2013-03-19 2014-10-30 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Ptc組成物

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7268661B2 (en) * 2004-09-27 2007-09-11 Aem, Inc. Composite fuse element and methods of making same
JP4497141B2 (ja) * 2006-08-25 2010-07-07 Tdk株式会社 Ptc素子および電池保護システム
JP4497142B2 (ja) * 2006-08-28 2010-07-07 Tdk株式会社 Ptc素子および電池保護システム
JP4497143B2 (ja) * 2006-09-04 2010-07-07 Tdk株式会社 Ptc素子および電池保護システム
US8519816B2 (en) 2008-04-10 2013-08-27 Uchiya Thermostat Co., Ltd. External operation thermal protector
US8525635B2 (en) * 2009-07-17 2013-09-03 Tyco Electronics Corporation Oxygen-barrier packaged surface mount device
US9136195B2 (en) 2009-07-17 2015-09-15 Tyco Electronics Corporation Oxygen barrier compositions and related methods
CN103238236A (zh) * 2010-05-06 2013-08-07 泰科电子日本合同会社 Ptc装置和配备有ptc装置的二次电池
JP6026276B2 (ja) * 2010-07-02 2016-11-16 Littelfuseジャパン合同会社 Ptcデバイスおよびそれを有する2次電池
JP2012054099A (ja) * 2010-09-01 2012-03-15 Fdk Twicell Co Ltd 電池
JP5579544B2 (ja) * 2010-09-01 2014-08-27 Fdkトワイセル株式会社 アルカリ蓄電池
US20120217233A1 (en) * 2011-02-28 2012-08-30 Tom Richards, Inc. Ptc controlled environment heater
TWI480384B (zh) * 2011-07-19 2015-04-11 Fuzetec Technology Co Ltd 用於製造過電流保護元件的正溫度係數材料組成及正溫度係數過電流保護元件
US20130240019A1 (en) * 2012-03-14 2013-09-19 Ppg Industries Ohio, Inc. Coating-encapsulated photovoltaic modules and methods of making same
WO2013138564A1 (en) * 2012-03-14 2013-09-19 Ppg Industries Ohio, Inc. Protective coating-encapsulated photovoltaic modules and methods of making same
CA2878976C (en) * 2012-07-17 2017-11-21 Her Majesty The Queen In Right Of Canada As Represented By The Ministeof Natural Resources Method and composite for preparing heat exchangers for corrosive environments
CN103340743B (zh) * 2013-07-24 2015-04-08 胡木明 一种温灸足疗罐
CN103971870A (zh) * 2014-02-19 2014-08-06 贵州凯里经济开发区中昊电子有限公司 高分子热敏电阻器芯材及其产品的制备方法
WO2018003350A1 (ja) * 2016-06-27 2018-01-04 株式会社フジクラ コンポジット膜、コンポジット膜の製造方法および電池
US10084308B1 (en) * 2017-06-14 2018-09-25 Fuzetec Technology Co., Ltd. Overcurrent protection device
CN107342360A (zh) * 2017-06-26 2017-11-10 深圳大学 一种基于多金属氧酸盐的阻变式存储器及其制备方法
CN109215905B (zh) * 2017-06-30 2021-07-06 富致科技股份有限公司 过电流保护装置
US10711114B2 (en) * 2017-10-23 2020-07-14 Littelfuse, Inc. PPTC composition and device having thermal degradation resistance

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5598801A (en) * 1978-12-01 1980-07-28 Raychem Corp Electric device
JPH09511537A (ja) * 1994-03-31 1997-11-18 ピーピージー インダストリーズ, インコーポレイテッド エポキシ/アミンバリアコーティング
JPH1187107A (ja) * 1997-09-09 1999-03-30 Mitsubishi Electric Corp 導電性複合素子およびその製造方法
JP2000510192A (ja) * 1996-12-04 2000-08-08 ピーピージー インダストリーズ オハイオ,インコーポレイテッド プレートリット型フィラーを含有するガスバリアコーティング組成物
JP2002175903A (ja) * 2000-12-05 2002-06-21 Murata Mfg Co Ltd 有機正特性サーミスタ素子
JP2003297604A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Tdk Corp チップ型過電流保護素子

Family Cites Families (59)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3683044A (en) * 1969-12-29 1972-08-08 Japan Gas Chemical Co Heat-curable composition comprising polyglycidyl xylylene-diamine and process for preparation of polyglycidyl xylylenediamine
US3611061A (en) 1971-07-07 1971-10-05 Motorola Inc Multiple lead integrated circuit device and frame member for the fabrication thereof
DE2214721B1 (de) 1972-03-25 1973-06-14 Heidelberger Druckmaschinen Ag, 6900 Heidelberg Verfahren und vorrichtung zum selbsttaetigen ausregeln von schwankungen der farb- und feuchtfluessigkeitsfuehrung an offsetmaschinen
US3755698A (en) * 1972-04-25 1973-08-28 Us Navy Free-flooded ring transducer with slow wave guide
US3858144A (en) * 1972-12-29 1974-12-31 Raychem Corp Voltage stress-resistant conductive articles
US4177376A (en) * 1974-09-27 1979-12-04 Raychem Corporation Layered self-regulating heating article
JPS5218758A (en) 1975-08-01 1977-02-12 Albright & Wilson Resin compound
US4560498A (en) * 1975-08-04 1985-12-24 Raychem Corporation Positive temperature coefficient of resistance compositions
US4534889A (en) * 1976-10-15 1985-08-13 Raychem Corporation PTC Compositions and devices comprising them
US4388607A (en) * 1976-12-16 1983-06-14 Raychem Corporation Conductive polymer compositions, and to devices comprising such compositions
US4237441A (en) * 1978-12-01 1980-12-02 Raychem Corporation Low resistivity PTC compositions
US4315237A (en) * 1978-12-01 1982-02-09 Raychem Corporation PTC Devices comprising oxygen barrier layers
US4411719A (en) 1980-02-07 1983-10-25 Westinghouse Electric Corp. Apparatus and method for tape bonding and testing of integrated circuit chips
US5049850A (en) * 1980-04-21 1991-09-17 Raychem Corporation Electrically conductive device having improved properties under electrical stress
US4545926A (en) * 1980-04-21 1985-10-08 Raychem Corporation Conductive polymer compositions and devices
US4591700A (en) * 1980-05-19 1986-05-27 Raychem Corporation PTC compositions
US4935156A (en) * 1981-09-09 1990-06-19 Raychem Corporation Conductive polymer compositions
JPS58152845A (ja) * 1982-03-08 1983-09-10 Mitsubishi Gas Chem Co Inc 新規なポリアミン
US4801561A (en) 1984-07-05 1989-01-31 National Semiconductor Corporation Method for making a pre-testable semiconductor die package
US4724417A (en) * 1985-03-14 1988-02-09 Raychem Corporation Electrical devices comprising cross-linked conductive polymers
US4774024A (en) * 1985-03-14 1988-09-27 Raychem Corporation Conductive polymer compositions
US4689475A (en) * 1985-10-15 1987-08-25 Raychem Corporation Electrical devices containing conductive polymers
US4713611A (en) 1986-06-23 1987-12-15 Vtc Incorporated Burn-in apparatus for integrated circuits mounted on a carrier tape
US4779047A (en) 1986-06-23 1988-10-18 Vtc Incorporated Burn-in apparatus for integrated circuits mounted on a carrier tape
US4855672A (en) 1987-05-18 1989-08-08 Shreeve Robert W Method and process for testing the reliability of integrated circuit (IC) chips and novel IC circuitry for accomplishing same
US5300541A (en) * 1988-02-04 1994-04-05 Ppg Industries, Inc. Polyamine-polyepoxide gas barrier coatings
CA2013353A1 (en) 1989-07-03 1991-01-03 Richard P. Joyce Thermoplastic polyarylate compositions having improved oxygen barrier properties
US5115299A (en) * 1989-07-13 1992-05-19 Gte Products Corporation Hermetically sealed chip carrier with ultra violet transparent cover
US5174924A (en) * 1990-06-04 1992-12-29 Fujikura Ltd. Ptc conductive polymer composition containing carbon black having large particle size and high dbp absorption
JPH07123133B2 (ja) 1990-08-13 1995-12-25 株式会社東芝 フィルムキャリア構造
US5470622A (en) * 1990-11-06 1995-11-28 Raychem Corporation Enclosing a substrate with a heat-recoverable article
JP2746763B2 (ja) 1991-02-18 1998-05-06 シャープ株式会社 バーンイン装置およびこれを用いるバーンイン方法
JPH0521208A (ja) * 1991-05-07 1993-01-29 Daito Tsushinki Kk Ptc素子
US5250228A (en) * 1991-11-06 1993-10-05 Raychem Corporation Conductive polymer composition
US5248075A (en) 1992-04-13 1993-09-28 Micron Technology, Inc. IC pin forming machine with integrated IC testing capability
US5378407A (en) * 1992-06-05 1995-01-03 Raychem Corporation Conductive polymer composition
JP2812627B2 (ja) 1992-10-30 1998-10-22 三菱電機株式会社 テープキャリア、半導体装置試験方法及び装置
KR960011265B1 (ko) 1993-06-25 1996-08-21 삼성전자 주식회사 노운 굳 다이 어레이용 테스트 소켓
US6369148B2 (en) * 1993-07-16 2002-04-09 Ciba Specialty Chemicals Corporation Oxygen-scavenging compositions and articles
CA2192363C (en) * 1994-06-08 2005-10-25 Daniel A. Chandler Electrical devices containing conductive polymers
EP0797608B1 (en) * 1994-12-16 1999-11-24 PPG Industries Ohio, Inc. Epoxy-amine barrier coatings with aryloxy or aryloate groups
US6329711B1 (en) 1995-11-08 2001-12-11 Fujitsu Limited Semiconductor device and mounting structure
US6072239A (en) 1995-11-08 2000-06-06 Fujitsu Limited Device having resin package with projections
US6159770A (en) 1995-11-08 2000-12-12 Fujitsu Limited Method and apparatus for fabricating semiconductor device
US6376921B1 (en) 1995-11-08 2002-04-23 Fujitsu Limited Semiconductor device, method for fabricating the semiconductor device, lead frame and method for producing the lead frame
US5665274A (en) * 1995-12-22 1997-09-09 Hughes Aircraft Company Electrically conductive black silicone paint having spacecraft applications
KR0175268B1 (ko) 1996-05-10 1999-04-01 김광호 수평 하향식 접속 방식의 베어 칩 테스트 장치
US5728439A (en) * 1996-12-04 1998-03-17 Ppg Industries, Inc. Multilayer packaging material for oxygen sensitive food and beverage
JPH10274944A (ja) * 1997-03-31 1998-10-13 Nippon Shokubai Co Ltd 液晶表示デバイス用基板およびその製法
JP3420473B2 (ja) 1997-04-30 2003-06-23 東レ・ダウコーニング・シリコーン株式会社 シリコーン系接着性シート、その製造方法、および半導体装置
US6020808A (en) * 1997-09-03 2000-02-01 Bourns Multifuse (Hong Kong) Ltd. Multilayer conductive polymer positive temperature coefficent device
US6005198A (en) * 1997-10-07 1999-12-21 Dimensional Circuits Corporation Wiring board constructions and methods of making same
US6392427B1 (en) 1998-12-21 2002-05-21 Kaitech Engineering, Inc. Testing electronic devices
US6527976B1 (en) * 2000-11-27 2003-03-04 Chenron Phillips Chemical Company Lp Epoxy-, melamine- and isocyanate cured oxygen scavenging compositions and methods of preparing the same
US20030026053A1 (en) * 2001-08-06 2003-02-06 James Toth Circuit protection device
TWI267530B (en) * 2001-11-15 2006-12-01 Tdk Corp Organic PTC thermistor and making method
US7022258B2 (en) * 2002-02-14 2006-04-04 Chevron Phillips Chemical Company, Lp Oxygen scavenging compositions comprising polymers derived from benzenedimethanol monomers
US7008825B1 (en) 2003-05-27 2006-03-07 Amkor Technology, Inc. Leadframe strip having enhanced testability
US7384523B2 (en) * 2003-07-10 2008-06-10 Radiometer Medical Aps Chloride ion selective membrane and sensor

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5598801A (en) * 1978-12-01 1980-07-28 Raychem Corp Electric device
JPH09511537A (ja) * 1994-03-31 1997-11-18 ピーピージー インダストリーズ, インコーポレイテッド エポキシ/アミンバリアコーティング
JP2000510192A (ja) * 1996-12-04 2000-08-08 ピーピージー インダストリーズ オハイオ,インコーポレイテッド プレートリット型フィラーを含有するガスバリアコーティング組成物
JPH1187107A (ja) * 1997-09-09 1999-03-30 Mitsubishi Electric Corp 導電性複合素子およびその製造方法
JP2002175903A (ja) * 2000-12-05 2002-06-21 Murata Mfg Co Ltd 有機正特性サーミスタ素子
JP2003297604A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Tdk Corp チップ型過電流保護素子

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014183222A (ja) * 2013-03-19 2014-09-29 Tyco Electronics Japan Kk Ptc組成物
JP2014207421A (ja) * 2013-03-19 2014-10-30 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Ptc組成物

Also Published As

Publication number Publication date
TWI381942B (zh) 2013-01-11
JP2006121049A (ja) 2006-05-11
JP4942318B2 (ja) 2012-05-30
US7632373B2 (en) 2009-12-15
TW200624259A (en) 2006-07-16
CN1744792B (zh) 2011-08-31
EP1632960A1 (en) 2006-03-08
KR101215704B1 (ko) 2013-01-18
CN1744792A (zh) 2006-03-08
EP1632960B1 (en) 2010-12-29
US7371459B2 (en) 2008-05-13
US20060051588A1 (en) 2006-03-09
KR20060050958A (ko) 2006-05-19
US20080187649A1 (en) 2008-08-07
DE602005025573D1 (de) 2011-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4942318B2 (ja) 酸素バリアコーティングを有する電気デバイス
JP3785415B2 (ja) 導電性ポリマー組成物
US5250228A (en) Conductive polymer composition
JP3930905B2 (ja) 導電性ポリマー組成物およびデバイス
US4574879A (en) Mounting pad for solid-state devices
JP2006121049A5 (ja)
CN105321640A (zh) 正温度系数元件
US9646746B2 (en) Electrical device
KR20070070092A (ko) Ptc 소자
US20130175485A1 (en) Electroconductive liquid resin composition and an electronic part
JP4247208B2 (ja) 有機高分子抵抗体架橋物、サーミスタ素子並びにサーミスタ素体及びサーミスタ素子の製造方法
EP1585145B1 (en) Organic positive temperature coefficient thermistor
TW200834612A (en) Polymeric positive temperature coefficient thermistor and process for preparing the same
TWI766723B (zh) 表面黏著型過電流保護元件
CN100409375C (zh) 一种热敏电阻器及其制造方法
WO2002073638A1 (en) Ptc conductive polymer compositions
CN212782901U (zh) 高可靠性过流保护元件
CN103554594A (zh) 新型ptc导电复合材料及其制备的ptc热敏元件
JP4261407B2 (ja) 有機質正特性サーミスタ
JP2005294550A (ja) 有機質正特性サーミスタ
JPH0710025B2 (ja) 回路保護機能を有するプリント配線板
JP6607402B2 (ja) 自己温度調整型樹脂抵抗体形成用組成物シートおよび自己温度調整型樹脂抵抗体シート
CN111524667A (zh) 高可靠性过流保护元件
JPH07335378A (ja) Ptc発熱体の製造法
JP2017200965A (ja) 液状導電性樹脂組成物および電子部品

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111013

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121106

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130206

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130212

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130304

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130307

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130405

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130410

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130702