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  1. 第1のトランジスタと、第2のトランジスタとを有し、
    前記第1のトランジスタは、
    第1のチャネル形成領域を有する半導体
    記第1のチャネル形成領域と重なるように設けられた第1のゲート電極と、
    前記半導体と電気的に接続される第1の電極及び第2の電極と、を有し
    前記第2のトランジスタは、
    第2のチャネル形成領域と、前記第2のチャネル形成領域と接するオフセット領域と、を有する酸化物半導体層と、
    前記酸化物半導体層と電気的に接続される第3の電極及び第4の電極と、
    前記第2のチャネル形成領域と重なるように設けられた第2のゲート電極と、を有し
    前記第1のゲート電極と、前記第3の電極とは電気的に接続され
    前記オフセット領域は、前記第2のゲート電極、前記第3の電極及び前記第4の電極のいずれとも重ならない領域を有することを特徴とする半導体装置。
  2. 請求項1において、
    前記第1のトランジスタと、前記第2のトランジスタとはなる領域を有することを特徴とする半導体装置。
  3. 請求項1または2において、
    前記第1のチャネル形成領域を有する半導体は、シリコンを有することを特徴とする半導体装置。
  4. 請求項1乃至3のいずれか一において、
    前記第2のトランジスタとして、マルチゲート構造のトランジスタを有することを特徴とする半導体装置。
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