JP2011118887A5 - 半導体装置及び表示装置 - Google Patents

半導体装置及び表示装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2011118887A5
JP2011118887A5 JP2010247036A JP2010247036A JP2011118887A5 JP 2011118887 A5 JP2011118887 A5 JP 2011118887A5 JP 2010247036 A JP2010247036 A JP 2010247036A JP 2010247036 A JP2010247036 A JP 2010247036A JP 2011118887 A5 JP2011118887 A5 JP 2011118887A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
electrically connected
photodiode
wiring
drain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010247036A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5719565B2 (ja
JP2011118887A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2010247036A priority Critical patent/JP5719565B2/ja
Priority claimed from JP2010247036A external-priority patent/JP5719565B2/ja
Publication of JP2011118887A publication Critical patent/JP2011118887A/ja
Publication of JP2011118887A5 publication Critical patent/JP2011118887A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5719565B2 publication Critical patent/JP5719565B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (5)

  1. フォトセンサを有し、
    前記フォトセンサは、第1のトランジスタと、第2のトランジスタと、フォトダイオードとを有し、
    前記第1のトランジスタは、酸化物半導体を含み、
    前記第2のトランジスタは、酸化物半導体を含み、
    前記フォトダイオードは、前記第1のトランジスタ及び前記第2のトランジスタとは異なる半導体を含み、
    前記フォトダイオードの一方の電極は、第1の配線に電気的に接続され、
    前記フォトダイオードの他方の電極は、前記第1のトランジスタのゲートに電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタのソース又はドレインの一方は、第2の配線に電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第2のトランジスタのソース又はドレインの一方に電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタのソース又はドレインの他方は、第3の配線に電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタのゲートは、第4の配線に電気的に接続されることを特徴とする半導体装置。
  2. 複数のフォトセンサと、回路とを有し、
    前記複数のフォトセンサの各々は、第1のトランジスタと、第2のトランジスタと、フォトダイオードとを有し、
    前記第1のトランジスタは、酸化物半導体を含み、
    前記第2のトランジスタは、酸化物半導体を含み、
    前記フォトダイオードは、前記第1のトランジスタ及び前記第2のトランジスタとは異なる半導体を含み、
    前記フォトダイオードの一方の電極は、第1の配線に電気的に接続され、
    前記フォトダイオードの他方の電極は、前記第1のトランジスタのゲートに電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタのソース又はドレインの一方は、第2の配線に電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第2のトランジスタのソース又はドレインの一方に電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタのソース又はドレインの他方は、第3の配線に電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタのゲートは、第4の配線に電気的に接続され、
    前記回路は、前記複数のフォトセンサの一においてリセット動作が行われる期間に、前記複数のフォトセンサの他の一において読み出し動作を行うことができる機能を有することを特徴とする半導体装置。
  3. 請求項1又は請求項2において
    前記フォトダイオードは、前記半導体としてp型の導電型を有する半導体を含むことを特徴とする半導体装置。
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
    前記フォトダイオードは、前記第1のトランジスタの上方に位置することを特徴とする半導体装置。
  5. 請求項1乃至請求項4のいずれか一に記載の半導体装置と、表示素子とを含むことを特徴とする表示装置。
JP2010247036A 2009-11-06 2010-11-04 半導体装置及び表示装置 Active JP5719565B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010247036A JP5719565B2 (ja) 2009-11-06 2010-11-04 半導体装置及び表示装置

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009255461 2009-11-06
JP2009255461 2009-11-06
JP2010247036A JP5719565B2 (ja) 2009-11-06 2010-11-04 半導体装置及び表示装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014239902A Division JP6022526B2 (ja) 2009-11-06 2014-11-27 半導体装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011118887A JP2011118887A (ja) 2011-06-16
JP2011118887A5 true JP2011118887A5 (ja) 2013-12-12
JP5719565B2 JP5719565B2 (ja) 2015-05-20

Family

ID=43969877

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010247036A Active JP5719565B2 (ja) 2009-11-06 2010-11-04 半導体装置及び表示装置
JP2014239902A Expired - Fee Related JP6022526B2 (ja) 2009-11-06 2014-11-27 半導体装置
JP2016196975A Withdrawn JP2017054517A (ja) 2009-11-06 2016-10-05 半導体装置

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014239902A Expired - Fee Related JP6022526B2 (ja) 2009-11-06 2014-11-27 半導体装置
JP2016196975A Withdrawn JP2017054517A (ja) 2009-11-06 2016-10-05 半導体装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20110109591A1 (ja)
EP (1) EP2497011A4 (ja)
JP (3) JP5719565B2 (ja)
KR (1) KR20120116403A (ja)
CN (1) CN102597930B (ja)
TW (1) TWI506509B (ja)
WO (1) WO2011055637A1 (ja)

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107195328B (zh) 2009-10-09 2020-11-10 株式会社半导体能源研究所 移位寄存器和显示装置以及其驱动方法
WO2011055638A1 (en) 2009-11-06 2011-05-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US8803063B2 (en) * 2010-02-19 2014-08-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Photodetector circuit
KR101906151B1 (ko) * 2010-02-19 2018-10-11 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 트랜지스터 및 이를 이용한 표시 장치
WO2011102183A1 (en) * 2010-02-19 2011-08-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US8836906B2 (en) 2010-04-23 2014-09-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device with light receiving element under transparent spacer and manufacturing method therefor
US8803164B2 (en) 2010-08-06 2014-08-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Solid-state image sensing device and semiconductor display device
TWI575494B (zh) 2011-08-19 2017-03-21 半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置的驅動方法
TWI456451B (zh) * 2011-11-23 2014-10-11 Hsiung Kuang Tsai 顯示裝置及其觸控感測方法
JP5360270B2 (ja) 2011-12-07 2013-12-04 凸版印刷株式会社 液晶表示装置
WO2013099537A1 (en) 2011-12-26 2013-07-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Motion recognition device
CN104160295B (zh) 2012-03-09 2017-09-15 株式会社半导体能源研究所 半导体装置的驱动方法
US8907871B2 (en) 2012-03-15 2014-12-09 Corning Incorporated Touch screen assemblies for electronic devices
US9541386B2 (en) 2012-03-21 2017-01-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Distance measurement device and distance measurement system
KR101931676B1 (ko) 2012-03-23 2018-12-24 삼성디스플레이 주식회사 광 센서, 이를 포함하는 표시 장치 및 그 구동 방법
TWI480788B (zh) * 2012-12-07 2015-04-11 Tera Xtal Technology Corp Touch sensing device and method
CN104871257B (zh) * 2012-12-17 2017-03-01 住友化学株式会社 氧化锌系透明导电膜
US10222911B2 (en) 2013-04-12 2019-03-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and driving method of the same
US9817520B2 (en) 2013-05-20 2017-11-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging panel and imaging device
US9927840B2 (en) * 2013-06-21 2018-03-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Information processor for processing and displaying image data on a bendable display unit
KR102090713B1 (ko) 2013-06-25 2020-03-19 삼성디스플레이 주식회사 가요성 표시 패널 및 상기 가요성 표시 패널의 제조 방법
KR20210070393A (ko) 2013-07-12 2021-06-14 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광 장치
TWI509471B (zh) * 2013-07-15 2015-11-21 Au Optronics Corp 觸控顯示系統以及具有觸控功能之顯示面板
TWI667644B (zh) 2013-07-19 2019-08-01 日商半導體能源研究所股份有限公司 資料處理裝置
KR102432511B1 (ko) * 2013-08-02 2022-08-12 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치
KR102132208B1 (ko) * 2013-08-30 2020-07-10 삼성전자주식회사 터치 패널의 제조 방법, 터치 패널 및 전자 장치
KR101872987B1 (ko) * 2013-12-10 2018-07-31 엘지디스플레이 주식회사 분할 패널을 포함하는 표시장치 및 그 구동방법
KR102174487B1 (ko) 2013-12-27 2020-11-04 엘지디스플레이 주식회사 터치시스템, 터치패널 및 표시장치
KR102182297B1 (ko) * 2014-01-13 2020-11-24 삼성전자 주식회사 지문을 인식하는 방법 및 이를 제공하는 휴대 단말기
US9881954B2 (en) 2014-06-11 2018-01-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device
US9455281B2 (en) * 2014-06-19 2016-09-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Touch sensor, touch panel, touch panel module, and display device
US9729809B2 (en) 2014-07-11 2017-08-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and driving method of semiconductor device or electronic device
KR20210068638A (ko) 2014-10-28 2021-06-09 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광 장치
CN105373772A (zh) 2015-10-09 2016-03-02 京东方科技集团股份有限公司 光学指纹/掌纹识别器件、触控显示面板和显示装置
JP2017076187A (ja) * 2015-10-13 2017-04-20 大日本印刷株式会社 金属パターン基板の製造方法、金属パターン基板、及び、タッチ位置検出機能付き表示装置
CN105956584A (zh) * 2016-06-30 2016-09-21 京东方科技集团股份有限公司 指纹识别模组及其制作方法和驱动方法、显示装置
CN107644611B (zh) * 2016-07-22 2020-04-03 京东方科技集团股份有限公司 Oled显示装置及其压力触控驱动方法
CN108573983B (zh) * 2017-03-13 2021-08-17 京东方科技集团股份有限公司 光学探测器及其制备方法、指纹识别传感器、显示装置
KR101832831B1 (ko) * 2017-06-14 2018-02-28 주식회사 에이코닉 표시 장치
CN107479760B (zh) * 2017-09-22 2021-09-24 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制作方法、显示面板和显示系统
CN107505794B (zh) * 2017-09-28 2020-07-21 京东方科技集团股份有限公司 一种显示装置及背光源
CN109581711A (zh) * 2017-09-29 2019-04-05 南京瀚宇彩欣科技有限责任公司 内嵌式触控显示面板
KR102375850B1 (ko) * 2017-10-26 2022-03-16 엘지디스플레이 주식회사 터치 스크린 일체형 표시 장치
US10967463B2 (en) * 2018-04-11 2021-04-06 The University Of Toledo Sn whisker growth mitigation using NiO sublayers
CN112840639A (zh) 2018-10-11 2021-05-25 株式会社半导体能源研究所 摄像装置及电子设备
KR20200043792A (ko) * 2018-10-18 2020-04-28 엘지디스플레이 주식회사 고해상도 디지털 엑스레이 검출기용 박막 트랜지스터 어레이 기판 및 이를 포함하는 고해상도 디지털 엑스레이 검출기
KR102554262B1 (ko) * 2018-12-28 2023-07-11 엘지디스플레이 주식회사 구동 회로, 디스플레이 패널 및 디스플레이 장치
US20220032582A1 (en) * 2019-01-07 2022-02-03 Sony Group Corporation Structure and exterior housing
CN109710112A (zh) * 2019-01-16 2019-05-03 北京集创北方科技股份有限公司 触控信号采集方法、装置及屏幕信号采集系统
US11301708B2 (en) * 2019-10-01 2022-04-12 Novatek Microelectronics Corp. Image sensing circuit and method

Family Cites Families (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5204661A (en) * 1990-12-13 1993-04-20 Xerox Corporation Input/output pixel circuit and array of such circuits
EP0915367B1 (en) * 1997-04-22 2007-06-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Liquid crystal display with image reading function, image reading method and manufacturing method
JP3031332B2 (ja) * 1998-05-06 2000-04-10 日本電気株式会社 イメージセンサ
JP3276930B2 (ja) * 1998-11-17 2002-04-22 科学技術振興事業団 トランジスタ及び半導体装置
JP3722352B2 (ja) * 1999-04-09 2005-11-30 カシオ計算機株式会社 フォトセンサシステム及びそのフォトセンサシステムにおけるフォトセンサの駆動制御方法
US6747638B2 (en) * 2000-01-31 2004-06-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Adhesion type area sensor and display device having adhesion type area sensor
JP2001298663A (ja) * 2000-04-12 2001-10-26 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその駆動方法
JP4703815B2 (ja) * 2000-05-26 2011-06-15 株式会社半導体エネルギー研究所 Mos型センサの駆動方法、及び撮像方法
JP2002287900A (ja) * 2000-12-12 2002-10-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 情報装置
US6747290B2 (en) * 2000-12-12 2004-06-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Information device
JP4831892B2 (ja) * 2001-07-30 2011-12-07 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US7006080B2 (en) * 2002-02-19 2006-02-28 Palm, Inc. Display system
JP2003256820A (ja) * 2002-03-05 2003-09-12 Casio Comput Co Ltd 画像読取装置及びその感度設定方法
US7067843B2 (en) * 2002-10-11 2006-06-27 E. I. Du Pont De Nemours And Company Transparent oxide semiconductor thin film transistors
JP4108633B2 (ja) * 2003-06-20 2008-06-25 シャープ株式会社 薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに電子デバイス
JP4521176B2 (ja) * 2003-10-31 2010-08-11 東芝モバイルディスプレイ株式会社 表示装置
US20050219229A1 (en) * 2004-04-01 2005-10-06 Sony Corporation Image display device and method of driving image display device
US7453065B2 (en) * 2004-11-10 2008-11-18 Canon Kabushiki Kaisha Sensor and image pickup device
JP5254530B2 (ja) * 2005-01-26 2013-08-07 株式会社ジャパンディスプレイセントラル 平面表示装置
US20060262055A1 (en) * 2005-01-26 2006-11-23 Toshiba Matsushita Display Technology Plane display device
US7608531B2 (en) * 2005-01-28 2009-10-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, electronic device, and method of manufacturing semiconductor device
JP2006244218A (ja) * 2005-03-04 2006-09-14 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd センサ内蔵表示装置
US7544967B2 (en) * 2005-03-28 2009-06-09 Massachusetts Institute Of Technology Low voltage flexible organic/transparent transistor for selective gas sensing, photodetecting and CMOS device applications
JP2007060350A (ja) * 2005-08-25 2007-03-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd イメージセンサ
JP4560502B2 (ja) * 2005-09-06 2010-10-13 キヤノン株式会社 電界効果型トランジスタ
CN101258607B (zh) * 2005-09-06 2011-01-05 佳能株式会社 使用非晶氧化物膜作为沟道层的场效应晶体管、使用非晶氧化物膜作为沟道层的场效应晶体管的制造方法、以及非晶氧化物膜的制造方法
US7591795B2 (en) * 2005-09-28 2009-09-22 Alterg, Inc. System, method and apparatus for applying air pressure on a portion of the body of an individual
JP5099740B2 (ja) * 2005-12-19 2012-12-19 財団法人高知県産業振興センター 薄膜トランジスタ
US7977169B2 (en) * 2006-02-15 2011-07-12 Kochi Industrial Promotion Center Semiconductor device including active layer made of zinc oxide with controlled orientations and manufacturing method thereof
GB2439118A (en) * 2006-06-12 2007-12-19 Sharp Kk Image sensor and display
JP4834482B2 (ja) * 2006-07-24 2011-12-14 東芝モバイルディスプレイ株式会社 表示装置
TWI355631B (en) * 2006-08-31 2012-01-01 Au Optronics Corp Liquid crystal display with a liquid crystal touch
TWI344127B (en) * 2006-12-05 2011-06-21 Hannstar Display Corp Liquid crystal display panel having a touch panel function
JP5196870B2 (ja) * 2007-05-23 2013-05-15 キヤノン株式会社 酸化物半導体を用いた電子素子及びその製造方法
JP4867766B2 (ja) * 2007-04-05 2012-02-01 セイコーエプソン株式会社 液晶装置、イメージセンサ、及び電子機器
US8416225B2 (en) * 2007-04-09 2013-04-09 Sharp Kabushiki Kaisha Display device
WO2008126768A1 (ja) * 2007-04-09 2008-10-23 Sharp Kabushiki Kaisha 表示装置
US8089476B2 (en) * 2007-08-01 2012-01-03 Sony Corporation Liquid crystal device
TWI327708B (en) * 2007-10-03 2010-07-21 Au Optronics Corp Method for photo signal detection for a touchable display and display device
US7940252B2 (en) * 2007-10-18 2011-05-10 Himax Technologies Limited Optical sensor with photo TFT
JP2009099867A (ja) * 2007-10-18 2009-05-07 Fujifilm Corp 光電変換素子及び撮像素子
JP2009135188A (ja) * 2007-11-29 2009-06-18 Sony Corp 光センサーおよび表示装置
JP5068149B2 (ja) * 2007-11-29 2012-11-07 株式会社ジャパンディスプレイウェスト 光センサ素子、光センサ素子の駆動方法、表示装置、および表示装置の駆動方法
US20090141004A1 (en) * 2007-12-03 2009-06-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method for manufacturing the same
JP2009146100A (ja) * 2007-12-13 2009-07-02 Sony Corp 表示装置および光センサ素子
JP5014971B2 (ja) * 2007-12-19 2012-08-29 ソニーモバイルディスプレイ株式会社 ディスプレイ装置
CN201134084Y (zh) * 2007-12-25 2008-10-15 深圳市泽源科技有限公司 光电传感装置
JP5498711B2 (ja) * 2008-03-01 2014-05-21 株式会社半導体エネルギー研究所 薄膜トランジスタ
JP5467728B2 (ja) * 2008-03-14 2014-04-09 富士フイルム株式会社 薄膜電界効果型トランジスタおよびその製造方法
KR20100038046A (ko) * 2008-10-02 2010-04-12 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 터치 패널 및 터치 패널의 구동방법
TWI585955B (zh) * 2008-11-28 2017-06-01 半導體能源研究所股份有限公司 光感測器及顯示裝置
WO2011055638A1 (en) * 2009-11-06 2011-05-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2011118887A5 (ja) 半導体装置及び表示装置
JP2011211182A5 (ja)
JP2013020640A5 (ja)
JP2011211171A5 (ja) 半導体装置及び電子機器
JP2013033998A5 (ja)
JP2011210241A5 (ja)
JP2015195378A5 (ja)
JP2012039059A5 (ja)
JP2012190034A5 (ja) 半導体装置、表示装置及び電子機器
JP2013042482A5 (ja) イメージセンサ
JP2011147121A5 (ja) 半導体装置
JP2013009300A5 (ja) 記憶装置
JP2013257863A5 (ja) タッチパネル
JP2012134520A5 (ja) 表示装置
JP2016092824A5 (ja) 半導体装置
JP2012064930A5 (ja) 半導体メモリ装置
JP2012004556A5 (ja) 半導体装置
JP2014112720A5 (ja)
JP2012252329A5 (ja) 表示装置
JP2014074713A5 (ja)
JP2012256859A5 (ja)
JP2011129896A5 (ja) 半導体装置
JP2011170340A5 (ja) 電子機器
JP2013137509A5 (ja) 半導体装置及び表示装置
JP2010113346A5 (ja)