JP2010249803A - 熱疲労試験装置、及びプログラム - Google Patents
熱疲労試験装置、及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010249803A JP2010249803A JP2010053138A JP2010053138A JP2010249803A JP 2010249803 A JP2010249803 A JP 2010249803A JP 2010053138 A JP2010053138 A JP 2010053138A JP 2010053138 A JP2010053138 A JP 2010053138A JP 2010249803 A JP2010249803 A JP 2010249803A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- gas
- test body
- target temperature
- specimen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/60—Investigating resistance of materials, e.g. refractory materials, to rapid heat changes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
【解決手段】熱疲労試験装置10を、送風されたガスを所定温度以下に冷却すると共に、外側面に断熱部材16dが設けられたボルテックスチューブ16aと、内部に一端18から他端20にわたってガス流路22が形成され、かつ他端20から第1の中間部分26にわたる外側面に放熱部28が設けられると共に、一端18側でボルテックスチューブ16aに連結され、かつ他端20側に試験体24が配置される環状部材17と、一端18から第2の中間部分30の間にガス流路22内に設けられ、ガス流路22を流通するガスを加熱する発熱体19とを含んで構成する。
【選択図】図2
Description
16 冷熱デバイス
16a ボルテックスチューブ
16b 保冷部
16c エアヒータ
16d 断熱部材
17 環状部材
18 一端
19 発熱体
20 他端
22 ガス流路
24 試験体
26 第1の中間部分
28 放熱部
30 第2の中間部分
32 温度制御ユニット
34 コンピュータ
42 恒温部
Claims (13)
- 送風されたガスを所定温度以下に冷却すると共に、外側面に断熱部材が設けられたガス冷却手段と、
内部に一端から他端にわたってガス流路が形成され、かつ前記他端から第1の中間部分にわたる外側面に放熱部が設けられると共に、前記一端側で前記ガス冷却手段に連結され、かつ前記他端側に試験体が配置される環状部材と、
前記一端から第2の中間部分の間に前記ガス流路内に設けられ、前記ガス流路を流通するガスを加熱する発熱体と、
を含む熱疲労試験装置。 - 送風されたガスを所定温度以下に冷却するガス冷却手段と、
内部に一端から他端にわたって前記一端から前記他端の方向にガスが流れるガス流路が形成され、前記一端側で前記ガス冷却手段に直結され、前記他端側に試験体が配置され、かつ前記ガス流路内に設置され前記ガス流路を流れるガスを加熱する発熱体を備えるとともに、前記発熱体が設置された前記ガス流路の外側面に放熱部を設け、前記放熱部の壁面がガラス管を含んで構成され、かつ前記ガス冷却手段により冷却されたガスを所定温度まで加熱する加熱手段と、
を含む熱疲労試験装置。 - 前記放熱部は、前記発熱体が設置された前記ガス流路の外側面の80%以上に設けられた請求項2記載の熱疲労試験装置。
- 測温データに基づいて、前記発熱体の発熱量を制御する発熱制御手段を更に備えた請求項1〜請求項3の何れか1項記載の熱疲労試験装置。
- 前記他端から送風されるガスを前記試験体の周囲に一時的に閉じ込めるように、熱伝導率が所定値以上の高熱伝導部材によって前記試験体を取り囲むように形成された恒温部を更に含み、
前記試験体を前記高熱伝導部材で覆った請求項1〜請求項4の何れか1項記載の熱疲労試験装置。 - 前記ガス冷却手段で冷却されたガスを保冷する保冷部を更に含み、
前記環状部材は、前記保冷部を介して前記一端側で前記ガス冷却手段に連結された請求項1記載の熱疲労試験装置。 - 前記ガス冷却手段で冷却されたガスを保冷する保冷部を更に含み、
前記加熱手段は、前記保冷部を介して前記一端側で前記ガス冷却手段に連結された請求項2または請求項3記載の熱疲労試験装置。 - 前記ガス冷却手段をボルテックスチューブで構成した請求項1〜請求項7の何れか1項記載の熱疲労試験装置。
- 前記高熱伝導部材をアルミ箔または銅箔で構成した請求項5記載の熱疲労試験装置。
- 内部に一端から他端にわたって、前記一端から送風されたガスを流通させるためのガス流路が形成され、かつ前記他端側に試験体が配置される環状部材と、
前記ガス流路内に設けられ、前記ガス流路を流通するガスを加熱する発熱体と、
前記試験体の温度を検出する試験体温度検出手段と、
前記試験体の温度を予め定められた上下限の間で時系列で変化させるための目標温度の時系列データに基づいて、前記試験体温度検出手段によって検出された前記試験体の上限温度と前記目標温度の時系列データが示す上限温度との偏差及び前記試験体温度検出手段によって検出された前記試験体の下限温度と前記目標温度の時系列データが示す下限温度との偏差の少なくとも一方の偏差を所定周期で演算する偏差演算手段と、
前記目標温度の時系列データ、及び前記偏差演算手段で演算された前記偏差に基づいて、現時点の前記試験体の目標温度を、前記偏差に基づいて定められた第1の補正値で補正する補正手段と、
前記試験体温度検出手段で検出された前記試験体の温度と、前記補正手段で補正された目標温度との偏差に基づいて、前記目標温度を更に補正するための第2の補正値を演算する補正値演算手段と、
前記試験体の温度と前記試験体に送風されたガスの温度との温度差と、前記目標温度の時系列データが示す目標温度の温度勾配との予め求められた関係に基づいて、現時点の前記目標温度の時系列データが示す目標温度の温度勾配に対応する前記試験体の温度と前記試験体に送風されたガスの温度との温度差を導出する導出手段と、
前記補正手段で補正された目標温度、前記第2の補正値、及び前記導出手段で導出された温度差に基づいて、前記試験体に送風されるガスの目標温度を演算する目標温度演算手段と、
前記試験体に送風されたガスの温度と前記発熱体終端部のガスの温度との予め求められた関係、及び前記目標温度演算手段によって演算された目標温度に基づいて、該目標温度に対応する前記発熱体終端部のガスの温度を導出し、導出した温度となるように、前記発熱体の発熱量を制御する発熱体制御手段と
を含む熱疲労試験装置。 - コンピュータを、
内部に一端から他端にわたって、前記一端から送風されたガスを流通させるためのガス流路が形成され、かつ前記他端側に試験体が配置される環状部材の前記他端側に配置された試験体の温度を予め定められた上下限の間で時系列で変化させるための目標温度の時系列データに基づいて、試験体の温度を検出する試験体温度検出手段によって検出された前記試験体の上限温度と前記目標温度の時系列データが示す上限温度との偏差及び前記試験体温度検出手段によって検出された前記試験体の下限温度と前記目標温度の時系列データが示す下限温度との偏差の少なくとも一方の偏差を所定周期で演算する偏差演算手段、
前記目標温度の時系列データ、及び前記偏差演算手段で演算された前記偏差に基づいて、現時点の前記試験体の目標温度を、前記偏差に基づいて定められた第1の補正値で補正する補正手段、
前記試験体温度検出手段で検出された前記試験体の温度と、前記補正手段で補正された目標温度との偏差に基づいて、前記目標温度を更に補正するための第2の補正値を演算する補正値演算手段、
前記試験体の温度と前記試験体に送風されたガスの温度との温度差と、前記目標温度の時系列データが示す目標温度の温度勾配との予め求められた関係に基づいて、現時点の前記目標温度の時系列データが示す目標温度の温度勾配に対応する前記試験体の温度と前記試験体に送風されたガスの温度との温度差を導出する導出手段、
前記補正手段で補正された目標温度、前記第2の補正値、及び前記導出手段で導出された温度差に基づいて、前記試験体に送風されるガスの目標温度を演算する目標温度演算手段、及び
前記試験体に送風されたガスの温度と前記ガス流路内に設けられ前記ガス流路を流通するガスを加熱する発熱体終端部のガスの温度との予め求められた関係、及び前記目標温度演算手段によって演算された目標温度に基づいて、該目標温度に対応する前記発熱体終端部のガスの温度を導出し、導出した温度となるように、前記発熱体の発熱量を制御する発熱体制御手段
として機能させるためのプログラム。 - 内部に一端から他端にわたって、前記一端から送風されたガスを流通させるためのガス流路が形成され、かつ前記他端側に試験体が配置されるガス供給手段と、
前記他端から送風されるガスを前記試験体の周囲に一時的に閉じ込めるように、熱伝導率が所定値以上の高熱伝導部材によって前記試験体を取り囲むように形成された恒温部と、
を含む熱疲労試験装置。 - 内部に一端から他端にわたって、前記一端から送風されたガスを流通させるためのガス流路が形成され、かつ前記他端側に試験体が配置されるガス供給手段を含み、
前記試験体を熱伝導率が所定値以上の高熱伝導部材で覆った熱疲労試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010053138A JP5212407B2 (ja) | 2009-03-24 | 2010-03-10 | 熱疲労試験装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009071584 | 2009-03-24 | ||
JP2009071584 | 2009-03-24 | ||
JP2010053138A JP5212407B2 (ja) | 2009-03-24 | 2010-03-10 | 熱疲労試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010249803A true JP2010249803A (ja) | 2010-11-04 |
JP5212407B2 JP5212407B2 (ja) | 2013-06-19 |
Family
ID=42784195
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010053138A Expired - Fee Related JP5212407B2 (ja) | 2009-03-24 | 2010-03-10 | 熱疲労試験装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8360632B2 (ja) |
JP (1) | JP5212407B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014145668A (ja) * | 2013-01-29 | 2014-08-14 | Toyota Central R&D Labs Inc | 冷熱装置及び冷熱装置の温度制御方法 |
JP2019120599A (ja) * | 2018-01-09 | 2019-07-22 | 株式会社Ihi | 測温装置、熱サイクル試験用の供試体保持具、及び、熱サイクル試験装置 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012175086A (ja) * | 2011-02-24 | 2012-09-10 | Fujitsu Ltd | 結露検知装置、電子機器冷却システム、及び結露検出方法 |
DE102013226735A1 (de) * | 2013-12-19 | 2015-06-25 | Robert Bosch Gmbh | Prüfstand und Verfahren zur Bestimmung eines thermischen Verhaltens einer Zündkerze |
CN104634808A (zh) * | 2015-01-20 | 2015-05-20 | 浙江大学宁波理工学院 | 用于制作压铸模具的金属材料的热疲劳试验设备和试验方法 |
AU2017357453B2 (en) | 2016-11-08 | 2021-01-28 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Apparatus and method for encoding or decoding a multichannel signal using a side gain and a residual gain |
CN108240901B (zh) * | 2016-12-26 | 2020-02-18 | 有研工程技术研究院有限公司 | 太阳能高温真空集热管疲劳寿命测试装置与方法 |
CN110454930B (zh) * | 2018-05-08 | 2020-10-30 | 中国科学院理化技术研究所 | 人体最佳热舒适度估算方法、设备及空调控制方法和装置 |
CN109738322B (zh) * | 2019-01-23 | 2021-06-22 | 重庆理工大学 | 电烙铁加热式快速热疲劳实验装置及实验方法 |
CN114062182B (zh) * | 2021-11-23 | 2022-12-20 | 德州晶华药用玻璃有限公司 | 一种中硼硅玻璃耐冷热检测装置 |
CN218675151U (zh) * | 2022-07-25 | 2023-03-21 | 海拓仪器(江苏)有限公司 | 一种用于冷热冲击设备的测试头及冷热冲击设备 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60249035A (ja) * | 1984-05-25 | 1985-12-09 | Hitachi Ltd | 流動床熱疲労試験用試験片 |
JPH0378244U (ja) * | 1989-11-30 | 1991-08-07 | ||
JPH0599983A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-04-23 | Graphtec Corp | 試験装置 |
JPH0720031A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-01-24 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 熱疲労試験方法および熱疲労試験装置 |
JPH07270303A (ja) * | 1994-04-01 | 1995-10-20 | Katoo:Kk | 環境試験装置 |
JPH09178639A (ja) * | 1995-10-24 | 1997-07-11 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 熱疲労試験装置および熱疲労試験方法 |
JPH1099756A (ja) * | 1996-10-01 | 1998-04-21 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 接着剤ディスペンサ |
JP2000041998A (ja) * | 1998-07-30 | 2000-02-15 | Norisumi Asami | 治療装置 |
JP2007175643A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Tokyo Electron Ltd | 乾燥空気生成装置、基板処理システムおよび乾燥空気生成方法 |
JP2007278779A (ja) * | 2006-04-05 | 2007-10-25 | Shimadzu Corp | 熱疲労用試験方法および熱疲労試験用試験片並びに熱疲労試験の試験片装着用継手 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62297744A (ja) * | 1986-06-17 | 1987-12-24 | Dainippon Plastics Co Ltd | 耐候性試験機 |
US4787752A (en) * | 1986-10-24 | 1988-11-29 | Fts Systems, Inc. | Live component temperature conditioning device providing fast temperature variations |
US4793716A (en) * | 1987-11-18 | 1988-12-27 | Gte Laboratories Incorporated | Thermal shock test apparatus and the method of testing |
US5039228A (en) * | 1989-11-02 | 1991-08-13 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Fixtureless environmental stress screening apparatus |
JP2995207B2 (ja) * | 1990-11-02 | 1999-12-27 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 熱分析装置 |
US5980103A (en) * | 1995-10-24 | 1999-11-09 | Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho | Apparatus and method for testing thermal fatigue resistance |
US5707147A (en) * | 1996-07-03 | 1998-01-13 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Hot gas flow thermocouple test system |
US5967660A (en) * | 1997-06-06 | 1999-10-19 | Ford Global Technologies, Inc. | Accelerated thermal fatigue testing of engine combustion chambers |
CN1978060A (zh) * | 2005-12-02 | 2007-06-13 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 环测实验装置 |
US7559251B2 (en) * | 2006-06-26 | 2009-07-14 | Bo-Young Lee | Apparatus for forming thermal fatigue cracks |
US7690839B2 (en) * | 2007-08-21 | 2010-04-06 | Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd. | Thermal testing apparatus |
FI120850B (fi) * | 2008-02-11 | 2010-03-31 | Outotec Oyj | Menetelmä ja järjestely metallurgisen uunin jäähdytyselementin yksittäisessä jäähdytyselementtikierrossa virtaavan jäähdytysfluidin ainakin yhden fysikaalisen suureen kuten lämpötilan, virtauksen tai paineen mittaamiseksi |
US8201994B2 (en) * | 2008-08-22 | 2012-06-19 | The Boeing Company | Flexible thermal cycle test equipment for concentrator solar cells |
-
2010
- 2010-03-10 JP JP2010053138A patent/JP5212407B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2010-03-22 US US12/728,686 patent/US8360632B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60249035A (ja) * | 1984-05-25 | 1985-12-09 | Hitachi Ltd | 流動床熱疲労試験用試験片 |
JPH0378244U (ja) * | 1989-11-30 | 1991-08-07 | ||
JPH0599983A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-04-23 | Graphtec Corp | 試験装置 |
JPH0720031A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-01-24 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 熱疲労試験方法および熱疲労試験装置 |
JPH07270303A (ja) * | 1994-04-01 | 1995-10-20 | Katoo:Kk | 環境試験装置 |
JPH09178639A (ja) * | 1995-10-24 | 1997-07-11 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 熱疲労試験装置および熱疲労試験方法 |
JPH1099756A (ja) * | 1996-10-01 | 1998-04-21 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 接着剤ディスペンサ |
JP2000041998A (ja) * | 1998-07-30 | 2000-02-15 | Norisumi Asami | 治療装置 |
JP2007175643A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Tokyo Electron Ltd | 乾燥空気生成装置、基板処理システムおよび乾燥空気生成方法 |
JP2007278779A (ja) * | 2006-04-05 | 2007-10-25 | Shimadzu Corp | 熱疲労用試験方法および熱疲労試験用試験片並びに熱疲労試験の試験片装着用継手 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014145668A (ja) * | 2013-01-29 | 2014-08-14 | Toyota Central R&D Labs Inc | 冷熱装置及び冷熱装置の温度制御方法 |
JP2019120599A (ja) * | 2018-01-09 | 2019-07-22 | 株式会社Ihi | 測温装置、熱サイクル試験用の供試体保持具、及び、熱サイクル試験装置 |
JP7067063B2 (ja) | 2018-01-09 | 2022-05-16 | 株式会社Ihi | 測温装置、熱サイクル試験用の供試体保持具、及び、熱サイクル試験装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8360632B2 (en) | 2013-01-29 |
JP5212407B2 (ja) | 2013-06-19 |
US20100246632A1 (en) | 2010-09-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5212407B2 (ja) | 熱疲労試験装置 | |
US8721173B2 (en) | Temperature calibration device, a calibrator block, and a method for calibrating a temperature probe | |
JP6059046B2 (ja) | 不具合検知システムおよび不具合検知方法 | |
JP6823973B2 (ja) | 温度測定方法 | |
JP2007198959A (ja) | 示差走査熱量計 | |
US20160209306A1 (en) | Gas-sampling probe and method for operating a gas-sampling probe | |
JP2009517627A (ja) | 機械温度をより正確に調節するための熱流の局部的制御 | |
WO2015119139A1 (ja) | 流速計測方法および流速計測システム | |
JP5897275B2 (ja) | 温度制御ユニット、基板載置台、基板処理装置、温度制御システム、及び基板処理方法 | |
JP2014153168A (ja) | 放射率測定装置及び放射率測定方法 | |
EP2572252B1 (en) | Heating in material testing apparatus | |
JP6650887B2 (ja) | 低減された試料温度勾配のための空気流ダイバータ | |
JP2012172871A (ja) | 熱処理装置および熱処理装置の温度測定方法 | |
Kim et al. | Temperature measurement with radiation correction for very high temperature gas | |
Tan et al. | Heat transfer analysis on wafer annealing process in semiconductor multi-wafer furnace using CFD simulation | |
Kim et al. | Radiation-corrective gas temperature measurement in a circular channel | |
JP2000230670A (ja) | ヒータ付き集積流体制御装置 | |
JPWO2020026415A1 (ja) | 垂直入射音響特性測定のための装置及び方法 | |
JP2002168932A (ja) | 温度可変型nmrプローブ及び温度較正用治具 | |
KR101569561B1 (ko) | 열처리 장치용 열교환기 및 이것을 구비한 열처리 장치 | |
JP4093975B2 (ja) | 熱真空試験装置 | |
JP5812609B2 (ja) | 加熱装置 | |
ITUA20163785A1 (it) | Sensore di temperatura senza contatto per fili in rame in movimento | |
JP2009080613A (ja) | 熱流体解析方法および熱流体解析装置 | |
JP4533732B2 (ja) | 製膜装置及びその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110802 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120731 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120807 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121005 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130129 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130211 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5212407 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160308 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |