JP2009302517A5 - 半導体装置 - Google Patents
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- 第1の衝撃拡散層上に第1の耐衝撃層と、
前記第1の耐衝撃層上に、半導体集積回路と、
前記半導体集積回路上に、第2の衝撃拡散層と、
前記第2の衝撃拡散層上に、第2の耐衝撃層と、
前記第1の衝撃拡散層の前記半導体集積回路と反対側の面、前記第1の衝撃拡散層と前記第1の耐衝撃層との間の面、前記第2の耐衝撃層の前記半導体集積回路と反対側の面または前記第2の衝撃拡散層と前記第2の耐衝撃層との間の面、のいずれか一方には前記半導体集積回路と重なる導電層と、を有し、
前記導電層は、前記半導体集積回路と電気的に接続せず、
前記第1の衝撃拡散層及び前記第2の衝撃拡散層は前記第1の耐衝撃層及び前記第2の耐衝撃層より弾性率が低く、かつ破断強度が高いことを特徴とする半導体装置。 - 請求項1において、
前記半導体集積回路と前記第2の衝撃拡散層との間に接着層とを有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項1又は請求項2において、
前記第1の衝撃拡散層及び前記第2の衝撃拡散層はゴム弾性を有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至3のいずれか一項において、
前記第1の衝撃拡散層及び前記第2の衝撃拡散層はアラミド樹脂フィルムであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至4のいずれか一項において、
前記第1の衝撃拡散層及び前記第2の衝撃拡散層の厚さは5μm以上20μm以下であることを特徴とする半導体装置。 - 第1の耐衝撃層上に、半導体集積回路と、
前記半導体集積回路上に、衝撃拡散層と、
前記衝撃拡散層上に、第2の耐衝撃層と、
前記第1の耐衝撃層の前記半導体集積回路と反対側の面、前記第2の耐衝撃層の前記半導体集積回路と反対側の面または前記衝撃拡散層と前記第2の耐衝撃層との間の面、のいずれか一方には前記半導体集積回路と重なる導電層と、を有し、
前記導電層は、前記半導体集積回路と電気的に接続せず、
前記衝撃拡散層は前記第1の耐衝撃層及び前記第2の耐衝撃層より弾性率が低く、かつ破断強度が高いことを特徴とする半導体装置。 - 請求項6において、
前記半導体集積回路と前記衝撃拡散層との間に接着層とを有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項6又は請求項7において、
前記衝撃拡散層はゴム弾性を有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項6乃至8のいずれか一項において、
前記衝撃拡散層はアラミド樹脂フィルムであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項6乃至9のいずれか一項において、
前記衝撃拡散層の厚さは5μm以上20μm以下であることを特徴とする半導体装置。 - 第1の耐衝撃層上に、半導体集積回路と、
前記半導体集積回路上に、第2の耐衝撃層と、
前記第1の耐衝撃層の前記半導体集積回路と反対側の面または前記第2の耐衝撃層の前記半導体集積回路と反対側の面、のいずれか一方には前記半導体集積回路と重なる導電層と、を有し、
前記導電層は、前記半導体集積回路と電気的に接続しないことを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至11のいずれか一項において、
前記半導体集積回路は、前記導電層と反対側の表面にアンテナを有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至12のいずれか一項において、
前記導電層は金属膜、金属窒化膜、金属酸化膜のいずれか一、またはそれらの積層であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至13のいずれか一項において、
前記第1の耐衝撃層及び前記第2の耐衝撃層は繊維体に有機樹脂が含浸された構造体であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項14において、
前記繊維体は織布または不織布であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項14又は請求項15において、
前記繊維体は、ポリビニルアルコール系繊維、ポリエステル系繊維、ポリアミド系繊維、ポリエチレン系繊維、アラミド系繊維、ポリパラフェニレンベンゾビスオキサゾール繊維、ガラス繊維、または炭素繊維で形成されることを特徴とする半導体装置。 - 請求項14乃至16のいずれか一項において、
前記有機樹脂は、熱硬化性樹脂、または熱可塑性樹脂を含むことを特徴とする半導体装置。 - 請求項17において、
前記熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、またはシアネート樹脂であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項17において、
前記熱可塑性樹脂は、ポリフェニレンオキシド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、またはフッ素樹脂であることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009111743A JP5443821B2 (ja) | 2008-05-12 | 2009-05-01 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008124992 | 2008-05-12 | ||
JP2008124992 | 2008-05-12 | ||
JP2008124985 | 2008-05-12 | ||
JP2008124985 | 2008-05-12 | ||
JP2009111743A JP5443821B2 (ja) | 2008-05-12 | 2009-05-01 | 半導体装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013264048A Division JP2014123375A (ja) | 2008-05-12 | 2013-12-20 | 半導体装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009302517A JP2009302517A (ja) | 2009-12-24 |
JP2009302517A5 true JP2009302517A5 (ja) | 2012-05-24 |
JP5443821B2 JP5443821B2 (ja) | 2014-03-19 |
Family
ID=41266202
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009111743A Expired - Fee Related JP5443821B2 (ja) | 2008-05-12 | 2009-05-01 | 半導体装置 |
JP2013264048A Withdrawn JP2014123375A (ja) | 2008-05-12 | 2013-12-20 | 半導体装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013264048A Withdrawn JP2014123375A (ja) | 2008-05-12 | 2013-12-20 | 半導体装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8384209B2 (ja) |
JP (2) | JP5443821B2 (ja) |
KR (1) | KR101582503B1 (ja) |
TW (2) | TWI541896B (ja) |
WO (1) | WO2009139282A1 (ja) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP1924393A1 (en) * | 2005-08-24 | 2008-05-28 | Fry's Metals Inc. | Reducing joint embrittlement in lead-free soldering processes |
US20090193676A1 (en) * | 2008-01-31 | 2009-08-06 | Guo Shengguang | Shoe Drying Apparatus |
WO2009142310A1 (en) * | 2008-05-23 | 2009-11-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
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US8053253B2 (en) | 2008-06-06 | 2011-11-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
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WO2010038599A1 (en) | 2008-10-01 | 2010-04-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
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-
2009
- 2009-04-17 WO PCT/JP2009/058110 patent/WO2009139282A1/en active Application Filing
- 2009-04-17 KR KR1020107027554A patent/KR101582503B1/ko active IP Right Grant
- 2009-04-24 US US12/429,202 patent/US8384209B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-05-01 JP JP2009111743A patent/JP5443821B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-05-06 TW TW103135194A patent/TWI541896B/zh not_active IP Right Cessation
- 2009-05-06 TW TW98115008A patent/TWI467727B/zh not_active IP Right Cessation
-
2013
- 2013-02-05 US US13/759,251 patent/US9048277B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2013-12-20 JP JP2013264048A patent/JP2014123375A/ja not_active Withdrawn
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