JP2009014617A - 基板外観検査装置 - Google Patents
基板外観検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009014617A JP2009014617A JP2007178772A JP2007178772A JP2009014617A JP 2009014617 A JP2009014617 A JP 2009014617A JP 2007178772 A JP2007178772 A JP 2007178772A JP 2007178772 A JP2007178772 A JP 2007178772A JP 2009014617 A JP2009014617 A JP 2009014617A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- inspection apparatus
- illumination
- line
- rail
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N2021/1765—Method using an image detector and processing of image signal
- G01N2021/177—Detector of the video camera type
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
【解決手段】基板外観検査装置1は、製造ライン52上を搬送されてくる基板50の表面に照射する照明光を発生する照明装置11と、照明装置11から発せられ基板50の表面において反射した反射光を撮影するカメラ13と、これら照明装置11およびカメラ13を、製造ライン52上の基板50の搬送方向に交差する方向に一体的に移動させる移動機構とを備え、カメラ13が、照明装置11からの照明光の、基板50の表面における正反射光の光束の範囲外に配置されている。
【選択図】図1
Description
本発明は、ライン上を搬送されてくる基板の表面に照射する照明光を発生する照明部と、該照明部から発せられ前記基板の表面において反射した反射光を撮影する撮影部と、これら照明部および撮影部を、前記ライン上の前記基板の搬送方向に交差する方向に一体的に移動させる移動機構とを備え、前記撮影部が、前記照明部からの照明光の、前記基板の表面における正反射光の光束の範囲外に配置されている基板外観検査装置を提供する。
このように構成することで、第2の移動機構の作動により、ライン上に基板が停止している場合においても、照明部および撮影部を基板の搬送方向に一体的に移動させて、基板の全体にわたる詳細な観察を行うことができる。
このように構成することで、回転機構の作動により、撮影部が照明部から照射される照射光の照射範囲の中心位置回りに回転させられる。したがって、撮影部の視点を変えながら基板検査を行うことができる。これにより、直接的な目視観察に近い観察を行うことができる。
以下、本発明の第1の実施形態に係る基板外観検査装置について、図面を参照して説明する。
本実施形態に係る基板外観検査装置1は、主に、基板の製造ライン(ライン)に設けられ、コンベア等によって搬送されてくる基板の表面を検査するための装置である。
基板外観検査装置1は、図1および図2に示すように、製造ライン52上を搬送されてくる基板50の表面の外観を観察する検査装置ユニット3と、該検査装置ユニット3により撮像された画像を表示するモニタ5と、検査装置ユニット3を基板50の搬送方向に交差する方向に移動させる第1の移動機構(移動機構)7と、検査装置ユニット3を基板50の搬送方向に移動させる第2の移動機構9とを備えている。
モニタ5は、図2に示すように、カメラ13と接続され、カメラ13によって得られた基板50の表面の画像が表示されるようになっている。
第2のスライダ23は、上記第1のレール15間の幅と同程度の長さの板状部材であり、第1のレール15の長手方向の両端部がそれぞれ第2のスライダ23に取り付けられている。
本実施形態に係る基板外観検査装置1により、製造ライン52上を搬送される基板50を検査するには、まず、基板外観検査装置1を製造ライン52の任意の位置に設置する。
次に、本発明の第2の実施形態に係る基板外観検査装置31について、図5および図6を参照して説明する。
本実施形態に係る基板外観検査装置31は、検査装置ユニット3が、ガイド(回転機構)33をさらに備える点で、第1の実施形態と異なる。
以下、第1の実施形態に係る基板外観検査装置1と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
図6および図7に示すように、カメラ13を照明光の照射範囲の中心位置を回転支点にして左右方向と前後方向に回転させることで、基板50に対する多方向から視点を変えたカメラ13による撮像が可能となり、目視による基板50上の欠陥検出の精度を高めることができる。
例えば、上記各実施形態に係る基板搬送装置1,31のベース19を製造ライン52の幅方向に架け渡す形状に形成することとしてもよい。このようにすることで、例えば、図4の設置位置のように製造ライン52のコーナー66,68に基板搬送装置1,31を設置することもできる。したがって、従来ではデッドスペースとなる製造ライン52のコーナー部分に基板外観検査装置1,31を設置することが可能になり、製造ライン52の形状に左右されずに基板外観検査装置1,31を構築することができ、更なる製造ライン52上方の図ペースを有効に活用し、製造設備のコンパクト化を図ることができる。
11 照明装置(照明部)
13 カメラ(撮影部)
50 基板
52 製造ライン(ライン)
Claims (5)
- ライン上を搬送されてくる基板の表面に照射する照明光を発生する照明部と、
該照明部から発せられ前記基板の表面において反射した反射光を撮影する撮影部と、
これら照明部および撮影部を、前記ライン上の前記基板の搬送方向に交差する方向に一体的に移動させる移動機構とを備え、
前記撮影部が、前記照明部からの照明光の、前記基板の表面における正反射光の光束の範囲外に配置されている基板外観検査装置。 - 前記照明部および前記撮影部を、前記ライン上の前記基板の搬送方向に一体的に移動させる第2の移動機構を備える請求項1に記載の基板外観検査装置。
- 前記第2の移動機構が、前記ラインの搬送方向に沿って配置される第2のレールと、
前記照明部および前記撮影部を搭載して、前記第2のレール上に移動可能に支持された第2のスライダと、
該第2のスライダを前記第2のレールに沿って駆動する第2の駆動装置と
を備える請求項2に記載の基板外観検査装置。 - 前記移動機構が、前記ラインの幅方向に架け渡されるレールと、
前記照明部および前記撮影部を搭載して、前記レール上に移動可能に支持されたスライダと、
該スライダを前記レールに沿って駆動する駆動装置と
を備える請求項1から請求項3のいずれかに記載の基板外観検査装置。 - 前記照明部から照射する照射光の照射範囲の中心位置回りに前記撮影部を回転させる回転機構を備える請求項1から請求項4のいずれかに記載の基板外観検査装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007178772A JP2009014617A (ja) | 2007-07-06 | 2007-07-06 | 基板外観検査装置 |
TW097122167A TW200909798A (en) | 2007-07-06 | 2008-06-13 | Appearance inspecting device for substrate |
KR1020080063316A KR20090004636A (ko) | 2007-07-06 | 2008-07-01 | 기판 외관 검사 장치 |
CNA2008101281276A CN101339143A (zh) | 2007-07-06 | 2008-07-03 | 基板外观检查装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007178772A JP2009014617A (ja) | 2007-07-06 | 2007-07-06 | 基板外観検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009014617A true JP2009014617A (ja) | 2009-01-22 |
JP2009014617A5 JP2009014617A5 (ja) | 2010-07-08 |
Family
ID=40213265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007178772A Pending JP2009014617A (ja) | 2007-07-06 | 2007-07-06 | 基板外観検査装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009014617A (ja) |
KR (1) | KR20090004636A (ja) |
CN (1) | CN101339143A (ja) |
TW (1) | TW200909798A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101080216B1 (ko) * | 2009-02-17 | 2011-11-09 | (주)글로벌 텍 | 글라스 에지 검사장치 및 그를 이용한 글라스 에지 검사방법 |
US20200072758A1 (en) * | 2017-05-24 | 2020-03-05 | Framatome | Device for detecting a defect on a surface using multidirectional lighting |
CN110892256A (zh) * | 2017-09-25 | 2020-03-17 | 株式会社斯库林集团 | 检查装置及检查方法 |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5274389B2 (ja) * | 2009-06-18 | 2013-08-28 | 株式会社アルバック | メンテナンス装置及び吐出装置 |
TW201118027A (en) * | 2009-11-30 | 2011-06-01 | Schmid Yaya Technology Co Ltd | Chip transporting machine table |
US8432540B2 (en) * | 2010-03-31 | 2013-04-30 | Cooper S.K. Kuo | Support mechanism for inspection systems |
CN102680495B (zh) * | 2011-03-15 | 2016-09-07 | 上海赫立电子科技有限公司 | 自动光学检测装置及方法 |
CN103534582A (zh) * | 2011-05-10 | 2014-01-22 | 旭硝子株式会社 | 透光性板状体的微小缺陷的检查方法和透光性板状体的微小缺陷的检查装置 |
US20130248692A1 (en) * | 2012-03-21 | 2013-09-26 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. | Detecting apparatus and method for substrate |
CN102621149B (zh) * | 2012-03-21 | 2015-07-22 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 基板的检测装置及方法 |
CN102636498B (zh) * | 2012-03-22 | 2014-04-16 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 玻璃基板的检测装置及检测方法 |
CN102866167A (zh) * | 2012-10-19 | 2013-01-09 | 深圳市劲拓自动化设备股份有限公司 | 一种电路板离线检测系统和方法 |
CN104568973A (zh) * | 2015-02-09 | 2015-04-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种基板检测装置及方法 |
CN105115979A (zh) * | 2015-09-09 | 2015-12-02 | 苏州威盛视信息科技有限公司 | 基于图像拼接技术的pcb工作片aoi检测方法 |
JP6587211B2 (ja) * | 2015-12-17 | 2019-10-09 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス板の製造方法 |
KR101751801B1 (ko) * | 2016-05-18 | 2017-06-29 | 한국기계연구원 | 기판 결함 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법 |
CN107884318B (zh) * | 2016-09-30 | 2020-04-10 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 一种平板颗粒度检测方法 |
CN106862097A (zh) * | 2017-03-27 | 2017-06-20 | 江苏凯伦铝业有限公司 | 光伏组件铝边框全自动检测装置 |
CN107843991A (zh) * | 2017-09-05 | 2018-03-27 | 努比亚技术有限公司 | 屏幕漏光的检测方法、系统、终端及计算机可读存储介质 |
CN107526196A (zh) * | 2017-09-27 | 2017-12-29 | 武汉华星光电技术有限公司 | 玻璃基板承载装置及检测设备 |
CN107907549A (zh) * | 2017-11-13 | 2018-04-13 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 基板检查设备及基板检查方法 |
JP2019158500A (ja) * | 2018-03-12 | 2019-09-19 | オムロン株式会社 | 外観検査システム、画像処理装置、撮像装置および検査方法 |
KR102374037B1 (ko) * | 2018-06-29 | 2022-03-11 | 캐논 톡키 가부시키가이샤 | 기판 검사 시스템, 전자 디바이스 제조 시스템, 기판 검사 방법, 및 전자 디바이스 제조 방법 |
CN110783223B (zh) * | 2018-07-24 | 2024-04-16 | 泰克元有限公司 | 电子部件处理设备用拍摄装置 |
CN113945491A (zh) * | 2021-09-01 | 2022-01-18 | 郑州旭飞光电科技有限公司 | 玻璃基板表面颗粒检测系统 |
CN114994062B (zh) * | 2022-08-05 | 2023-03-14 | 深圳市倍捷锐生物医学科技有限公司 | 材料表面质量检测方法、系统及存储介质 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10300446A (ja) * | 1997-04-30 | 1998-11-13 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
JP2000039564A (ja) * | 1998-07-24 | 2000-02-08 | Sony Corp | 拡大観察装置 |
JP2001266125A (ja) * | 2000-03-15 | 2001-09-28 | Olympus Optical Co Ltd | 基板検査装置 |
JP2003075294A (ja) * | 2001-09-05 | 2003-03-12 | Toray Ind Inc | 基板の検査方法 |
WO2003027652A1 (fr) * | 2001-09-21 | 2003-04-03 | Olympus Corporation | Dispositif d'inspection de defauts |
JP2003262593A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 欠陥検出装置及び欠陥検出方法 |
JP2004279162A (ja) * | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Hitachi High-Tech Electronics Engineering Co Ltd | 透明基板の表面検査方法及び検査装置 |
-
2007
- 2007-07-06 JP JP2007178772A patent/JP2009014617A/ja active Pending
-
2008
- 2008-06-13 TW TW097122167A patent/TW200909798A/zh unknown
- 2008-07-01 KR KR1020080063316A patent/KR20090004636A/ko not_active Application Discontinuation
- 2008-07-03 CN CNA2008101281276A patent/CN101339143A/zh active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10300446A (ja) * | 1997-04-30 | 1998-11-13 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
JP2000039564A (ja) * | 1998-07-24 | 2000-02-08 | Sony Corp | 拡大観察装置 |
JP2001266125A (ja) * | 2000-03-15 | 2001-09-28 | Olympus Optical Co Ltd | 基板検査装置 |
JP2003075294A (ja) * | 2001-09-05 | 2003-03-12 | Toray Ind Inc | 基板の検査方法 |
WO2003027652A1 (fr) * | 2001-09-21 | 2003-04-03 | Olympus Corporation | Dispositif d'inspection de defauts |
JP2003262593A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 欠陥検出装置及び欠陥検出方法 |
JP2004279162A (ja) * | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Hitachi High-Tech Electronics Engineering Co Ltd | 透明基板の表面検査方法及び検査装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101080216B1 (ko) * | 2009-02-17 | 2011-11-09 | (주)글로벌 텍 | 글라스 에지 검사장치 및 그를 이용한 글라스 에지 검사방법 |
US20200072758A1 (en) * | 2017-05-24 | 2020-03-05 | Framatome | Device for detecting a defect on a surface using multidirectional lighting |
US11262314B2 (en) * | 2017-05-24 | 2022-03-01 | Framatome | Device for detecting a defect on a surface using multidirectional lighting |
CN110892256A (zh) * | 2017-09-25 | 2020-03-17 | 株式会社斯库林集团 | 检查装置及检查方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101339143A (zh) | 2009-01-07 |
KR20090004636A (ko) | 2009-01-12 |
TW200909798A (en) | 2009-03-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009014617A (ja) | 基板外観検査装置 | |
TW449848B (en) | Apparatus and method for inspecting defects on wafer periphery | |
TWI333544B (en) | Substrate inspection apparatus | |
JP2009014617A5 (ja) | ||
JP2007107945A5 (ja) | ||
JP2007248086A5 (ja) | ||
JP2006266722A (ja) | 基板検査システム及び基板検査方法 | |
TW200302345A (en) | Substrate inspection device | |
TW200918989A (en) | Substrate appearance inspection apparatus | |
TW201245701A (en) | Method for inspecting minute defect of translucent board-like body, and apparatus for inspecting minute defect of translucent board-like body | |
JP2009208964A (ja) | 基板搬送装置、及び、基板搬送方法 | |
JP2011099875A (ja) | 外観検査装置 | |
JP2015105930A (ja) | 透光性基板の微小欠陥検査方法および透光性基板の微小欠陥検査装置 | |
JP4704793B2 (ja) | 外観検査装置 | |
JP2008070237A (ja) | 基板検査装置 | |
JP2006258727A (ja) | 基板検査装置 | |
JP2006292404A5 (ja) | ||
JP2008064666A (ja) | 外観検査装置の基板保持機構 | |
JP2009229301A (ja) | 基板検査装置 | |
JP2011141127A (ja) | ガラス板の欠陥部分の目視検査方法及び目視検査装置 | |
JP5954757B2 (ja) | 外観検査装置 | |
JP2008014767A (ja) | 基板検査装置 | |
JP2012127761A (ja) | 基板検査装置 | |
JP2018179789A (ja) | 検査装置、検査方法、および物品製造方法 | |
JP5004530B2 (ja) | 基板検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100518 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100518 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120209 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120228 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120703 |