JP2007512712A5 - - Google Patents
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- ショットキ障壁、すなわち、光学導波管でシリコン・オン・インシュレータ(SOI)プラットフォームと一体化したシリコンベースの赤外線光検出器を具えるモノリシック構成において、前記モノリシック構成が、
平面SOI表面層を有するSOI構造であって、前記平面SOI表面層が、1ミクロン未満の厚さであり、光学信号の送信をサポートするために前記光学導波管の少なくとも一部を形成するSOI構造と;
前記光学導波管内部の伝播の方向に沿って、前記平面SOI表面層の一部の上に配置された金属ストリップであって、前記金属ストリップが、前記光学導波管でショットキ障壁を形成する金属ストリップと;
第1のコンタクト領域において前記平面SOI表面層に構成した第1の抵抗オーム接点と;
第2のコンタクト領域において前記金属ストリップに構成した第2の抵抗オーム接点と;を具え、前記第1及び第2抵抗オーム接点の間のバイアス電圧の印加が、前記光学信号が前記光学導波管に沿って伝播するときに、前記金属ストリップにあたる前記光学信号の一部の機能として前記金属ストリップから光電流出力を発生し、前記第1及び第2の抵抗オーム接点が、前記第1及び第2のコンタクト領域内で前記光学信号の吸収が最小になるように配置されていることを特徴とするモノリシック構成。 - 請求項1に記載のモノリシック構成において、前記平面SOI層がドープされていることを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項2に記載のモノリシック構成において、前記平面SOI層内のドーピングが段階的であり、結果として得られた電場が前記平面SOI層内に前記ショットキ障壁を越えて注入されたキャリアの集束及び伝送を改善することを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項1に記載のモノリシック構成において、前記金属ストリップがシリサイドストリップを具えることを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項4に記載のモノリシック構成において、前記シリサイドが単結晶シリサイドを具えることを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項4に記載のモノリシック構成において、前記シリサイドが多結晶シリサイドを具えることを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項1に記載のモノシリック構成において、前記金属ストリップがテーパ付き入力領域を具え、伝達光信号が前記金属ストリップの下にある前記光導波管の一部に入射するときに前記伝達信号によって経験する実行屈折率を段階的に修正し、前記テーパ付き入力領域がそれに沿った光の反射を低減することを特徴とするモノシリック構成。
- 請求項1に記載のモノリシック構成において、前記金属ストリップが前記SOI層のいずれのコーナ又はエッジとも重複せず、前記非重複構成が、関連する暗電流を減少し、室温での動作を提供することを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項1に記載のモノリシック構成において、前記金属ストリップは、丸くなったコーナ及びエッジを示すように形成され、関連する暗電流を減少し、室温での動作を提供することを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項1に記載のモノリシック構成において、前記SOI層内の光導波管が、光タップ構造を具え、当該光タップオフ構造のタップのない導波管部分の上に前記金属ストリップを配置した光タップ構造を具えることを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項1に記載のモノリシック構成において、第1及び第2抵抗オーム接点が、前記伝播光信号の一部が前記光検出器によって未吸収のままであるように前記光導波管に対して配置されて、進行波光検出器を形成することを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項11に記載のモノシリック構成において、前記SOI層が、前記光導波管の対向する側に第1及び第2のエクステンション領域を具え、前記第1のエクステンション領域の上に第1の抵抗オーム接点を配置し、前記第2のエクステンション領域の上に第2の抵抗オーム接点を配置したことを特徴とするモノシリック構成。
- 請求項1に記載のモノリシック構成において、前記構成が更に、前記SOI層内に形成したガードリング構造を具え、当該ガードリング構造が前記重複金属ストリップのエッジ部の下に直接配置され、前記SOI層が第1導電型を示し、前記ガードリング構造が第1の導電型と反対の第2導電型を示すことを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項1に記載のモノリシック構成において、前記構成が、
前記上に横たわる金属ストリップから離れた領域で、前記SOI層内に形成した第1の接触領域であって、前記SOI層と同じ導電型を示す前記第1の接触領域と;
前記第1接触領域に物理的に接触するように配置された第1の金属導電体と;
前記上に横たわるシリサイド層の下部で前記SOI層内に形成された第2の接触領域であって、前記SOI層と逆の導電型を示す前記第2の接触領域と;
前記第2の接触領域の上の前記金属ストリップのエッジに物理的に接触するように配置された第2金属導電体と;
を更に具えることを特徴とするモノリシック構成。 - 請求項1に記載のモノリシック構成において、前記光導波管が、伝播光信号が、前記金属ストリップの下部を一度以上通過するように形成され、マルチパス光検出器を形成することを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項1に記載のモノリシック構成において、前記第1及び第2抵抗オーム接点がそれぞれ、シリサイド材料を具えることを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項16に記載のモノリシック構成において、第1及び第2シリサイド抵抗オーム接点が、前記金属ストリップと同じシリサイド材料を具えることを特徴とするモノリシック構成。
- 請求項16に記載のモノリシック構成において、前記第1及び第2シリサイド抵抗オーム接点が、前記金属ストリップを形成するように使用されている材料と異なるシリサイド材料を具えることを特徴とするモノリシック構成。
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US7672558B2 (en) * | 2004-01-12 | 2010-03-02 | Honeywell International, Inc. | Silicon optical device |
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US7217584B2 (en) * | 2004-03-18 | 2007-05-15 | Honeywell International Inc. | Bonded thin-film structures for optical modulators and methods of manufacture |
US7177489B2 (en) * | 2004-03-18 | 2007-02-13 | Honeywell International, Inc. | Silicon-insulator-silicon thin-film structures for optical modulators and methods of manufacture |
US20050214989A1 (en) * | 2004-03-29 | 2005-09-29 | Honeywell International Inc. | Silicon optoelectronic device |
US20060063679A1 (en) * | 2004-09-17 | 2006-03-23 | Honeywell International Inc. | Semiconductor-insulator-semiconductor structure for high speed applications |
US7327911B2 (en) * | 2004-10-19 | 2008-02-05 | Sioptical, Inc. | Optical detector configuration and utilization as feedback control in monolithic integrated optic and electronic arrangements |
US20070101927A1 (en) * | 2005-11-10 | 2007-05-10 | Honeywell International Inc. | Silicon based optical waveguide structures and methods of manufacture |
US7362443B2 (en) * | 2005-11-17 | 2008-04-22 | Honeywell International Inc. | Optical gyro with free space resonator and method for sensing inertial rotation rate |
US7442589B2 (en) * | 2006-01-17 | 2008-10-28 | Honeywell International Inc. | System and method for uniform multi-plane silicon oxide layer formation for optical applications |
US7514285B2 (en) * | 2006-01-17 | 2009-04-07 | Honeywell International Inc. | Isolation scheme for reducing film stress in a MEMS device |
US20070274655A1 (en) * | 2006-04-26 | 2007-11-29 | Honeywell International Inc. | Low-loss optical device structure |
US7454102B2 (en) * | 2006-04-26 | 2008-11-18 | Honeywell International Inc. | Optical coupling structure |
US20080105940A1 (en) * | 2006-06-15 | 2008-05-08 | Sioptical, Inc. | SOI-based inverse nanotaper optical detector |
US20080024786A1 (en) * | 2006-07-31 | 2008-01-31 | Honeywell International, Inc. | Fiber optic gyroscope having a silicon-based optical chip |
US20080101744A1 (en) * | 2006-10-31 | 2008-05-01 | Honeywell International Inc. | Optical Waveguide Sensor Devices and Methods For Making and Using Them |
JP5082414B2 (ja) | 2006-12-06 | 2012-11-28 | 株式会社日立製作所 | 光半導体装置および光導波路装置 |
JP4925902B2 (ja) * | 2007-04-12 | 2012-05-09 | 信越化学工業株式会社 | 光導波路装置および光導波路装置の製造方法 |
US20110084308A1 (en) * | 2007-08-08 | 2011-04-14 | Ter-Hoe Loh | Semiconductor arrangement and a method for manufacturing the same |
US20090169149A1 (en) * | 2007-12-27 | 2009-07-02 | Bruce Andrew Block | Stabilized ring resonator modulator |
US7880207B2 (en) * | 2008-01-14 | 2011-02-01 | International Business Machines Corporation | Photo detector device |
US8338906B2 (en) * | 2008-01-30 | 2012-12-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Schottky device |
US8224134B2 (en) * | 2009-04-03 | 2012-07-17 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Optoelectronic receiver |
FR2947956A1 (fr) * | 2009-07-13 | 2011-01-14 | Commissariat Energie Atomique | Element photodetecteur |
US8618625B2 (en) * | 2010-03-10 | 2013-12-31 | Cisco Technology, Inc. | Silicon-based schottky barrier detector with improved responsivity |
US8861909B2 (en) | 2011-02-17 | 2014-10-14 | Cornell University | Polysilicon photodetector, methods and applications |
US8410566B2 (en) * | 2011-07-21 | 2013-04-02 | Kotura, Inc. | Application of electrical field power to light-transmitting medium |
RU2485624C1 (ru) * | 2011-10-31 | 2013-06-20 | Учреждение Российской академии наук ИНСТИТУТ ФИЗИКИ МИКРОСТРУКТУР РАН (ИФМ РАН) | Чувствительный элемент с симметричной вольтамперной характеристикой для регистрации сигналов свч-тгц диапазонов |
RU2477903C1 (ru) * | 2011-10-31 | 2013-03-20 | Учреждение Российской академии наук ИНСТИТУТ ФИЗИКИ МИКРОСТРУКТУР РАН (ИФМ РАН) | Чувствительный элемент с симметричной вольтамперной характеристикой для регистрации сигналов свч-тгц диапазонов |
US20140169737A1 (en) * | 2012-12-17 | 2014-06-19 | Oracle International Corporation | Transceiver with self-registered wavelengths |
US20140254991A1 (en) * | 2013-03-06 | 2014-09-11 | Analog Devices Technology | Isolator |
WO2015050602A1 (en) * | 2013-06-25 | 2015-04-09 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Integrated photonic devices based on waveguides patterned with optical antenna arrays |
US9831374B2 (en) | 2013-12-20 | 2017-11-28 | Intel Corporation | Photodetector with tapered waveguide structure |
US9231131B2 (en) | 2014-01-07 | 2016-01-05 | International Business Machines Corporation | Integrated photodetector waveguide structure with alignment tolerance |
US9360627B2 (en) * | 2014-04-16 | 2016-06-07 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus providing compensation for wavelength drift in photonic structures |
CN107111064B (zh) * | 2015-01-08 | 2020-09-22 | 阿卡西亚通信有限公司 | 与硅波导水平耦合 |
CN104638037A (zh) * | 2015-02-14 | 2015-05-20 | 厦门大学 | 一种镍掺杂的具有pn结结构的单晶硅材料及其制备方法 |
US10163686B2 (en) * | 2015-03-30 | 2018-12-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Thermal sensor arrangement and method of making the same |
EP3096180A1 (de) * | 2015-05-20 | 2016-11-23 | Philipps-Universität Marburg | Verfahren zur verbreiterung des frequenzspektrums einer elektromagnetischen welle und bauelement zu seiner realisierung |
US10214797B2 (en) * | 2015-11-16 | 2019-02-26 | Trustees Of Princeton University | Method for production and identification of Weyl semimetal |
CN105388353B (zh) * | 2015-11-26 | 2018-03-30 | 中国工程物理研究院电子工程研究所 | 一种抗噪声soi晶体管光电流测试系统 |
KR101657652B1 (ko) * | 2015-12-01 | 2016-09-19 | 주식회사 비에스이센서스 | 정전용량형 멤스 마이크로폰 및 그 제조방법 |
US10620371B2 (en) * | 2016-03-05 | 2020-04-14 | Huawei Technologies Canada Co., Ltd. | Waveguide crossing having rib waveguides |
US10297699B2 (en) * | 2016-05-27 | 2019-05-21 | The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy | In-plane resonant-cavity infrared photodetectors with fully-depleted absorbers |
WO2018017976A1 (en) * | 2016-07-21 | 2018-01-25 | Massachusetts Institute Of Technology | Far-infrared detection using weyl semimetals |
US9946025B2 (en) * | 2016-07-21 | 2018-04-17 | Oracle International Corporation | Removable optical tap for in-process characterization |
CN107068785B (zh) * | 2017-05-11 | 2018-12-28 | 山东大学 | 一种光电探测器及其应用 |
CN107121634B (zh) * | 2017-05-23 | 2019-09-10 | 温州大学 | 断路器上双金属片的动态特性测试和温度同步测量系统 |
GB2580260B (en) * | 2017-08-22 | 2023-01-25 | Rockley Photonics Ltd | Schottky photodetector |
JP6702283B2 (ja) * | 2017-08-29 | 2020-06-03 | 株式会社豊田中央研究所 | 受光素子 |
CN109870234B (zh) * | 2017-12-04 | 2020-06-02 | 北京大学 | 基于第二类外尔半金属二碲化钼的光探测器及其探测方法 |
CN110137300A (zh) * | 2019-05-15 | 2019-08-16 | 苏州大学 | 一种超薄膜红外宽带热电子光电探测器 |
US11460634B2 (en) * | 2020-09-04 | 2022-10-04 | Marvell Asia Pte Ltd. | Method for detecting low-power optical signal with high sensitivity |
US12094987B2 (en) | 2020-10-16 | 2024-09-17 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Integrated optical filter and photodetector and methods of fabricating the same |
CN112255726A (zh) * | 2020-11-17 | 2021-01-22 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种对特定方向激光光束敏感的微纳结构 |
WO2022168074A1 (en) * | 2021-02-07 | 2022-08-11 | Newphotonics Ltd. | Device and method for calibration, monitoring and control of the integrated photonic systems |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4857973A (en) * | 1987-05-14 | 1989-08-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Silicon waveguide with monolithically integrated Schottky barrier photodetector |
FR2676126B1 (fr) | 1991-04-30 | 1993-07-23 | France Telecom | Dispositif optoelectronique a guide optique et photodetecteur integres. |
US5525828A (en) | 1991-10-31 | 1996-06-11 | International Business Machines Corporation | High speed silicon-based lateral junction photodetectors having recessed electrodes and thick oxide to reduce fringing fields |
JPH06151809A (ja) * | 1992-10-30 | 1994-05-31 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
WO1995008787A1 (en) | 1993-09-21 | 1995-03-30 | Bookham Technology Limited | An electro-optic device |
JP2666889B2 (ja) | 1995-03-27 | 1997-10-22 | 工業技術院長 | 光電変換方法および光電変換素子 |
JP3608858B2 (ja) | 1995-12-18 | 2005-01-12 | 三菱電機株式会社 | 赤外線検出器及びその製造方法 |
US6034404A (en) | 1996-12-05 | 2000-03-07 | California Institute Of Technology | Schottky-barrier semiconductor device |
CA2197400C (en) | 1997-02-12 | 2004-08-24 | Universite De Sherbrooke | Fabrication of sub-micron silicide structures on silicon using resistless electron beam lithography |
US6233070B1 (en) | 1998-05-19 | 2001-05-15 | Bookham Technology Plc | Optical system and method for changing the lengths of optical paths and the phases of light beams |
EP0993053A1 (en) * | 1998-10-09 | 2000-04-12 | STMicroelectronics S.r.l. | Infrared detector integrated with a waveguide and method of manufacturing |
AU2001294892A1 (en) * | 2000-10-10 | 2002-04-22 | Lightcross, Inc | Optical attenuator |
US6815245B2 (en) | 2000-12-26 | 2004-11-09 | National Research Council Of Canada | High speed and high efficiency Si-based photodetectors using waveguides formed with silicides for near IR applications |
US6788837B2 (en) | 2001-03-27 | 2004-09-07 | Intel Corporation | Method and apparatus for interleaving and switching an optical beam in a semiconductor substrate |
JP3959480B2 (ja) | 2001-06-15 | 2007-08-15 | 三菱電機株式会社 | 赤外線検出器 |
US20030109142A1 (en) * | 2001-06-22 | 2003-06-12 | Cable James S. | Integrated photodetector for VCSEL feedback control |
US6756651B2 (en) | 2001-09-26 | 2004-06-29 | International Business Machines Corporation | CMOS-compatible metal-semiconductor-metal photodetector |
AU2002356330A1 (en) * | 2001-12-27 | 2003-07-30 | Bookham Technology Plc | An in-line waveguide photo detector |
GB2387269A (en) * | 2002-04-03 | 2003-10-08 | Bookham Technology Plc | Monlithic photodetector |
US6950577B2 (en) | 2002-07-01 | 2005-09-27 | Intel Corporation | Waveguide-based Bragg gratings with spectral sidelobe suppression and method thereof |
US7245792B2 (en) | 2002-08-16 | 2007-07-17 | Intel Corporation | Silicon-based tunable single passband optical filter |
US6879738B2 (en) | 2003-02-24 | 2005-04-12 | Intel Corporation | Method and apparatus for modulating an optical beam in an optical device |
CA2514256A1 (en) | 2003-03-04 | 2004-09-16 | Spectalis Corp. | Schottky barrier photodetectors |
US6870969B2 (en) | 2003-04-23 | 2005-03-22 | Intel Corporation | Method and apparatus for phase shifting and optical beam in an optical device with reduced contact loss |
US6954568B2 (en) | 2003-04-29 | 2005-10-11 | Intel Corporation | Method and apparatus for splitting or combining optical beams with A Y coupler with reduced loss and electrical isolation |
US7170142B2 (en) * | 2003-10-03 | 2007-01-30 | Applied Materials, Inc. | Planar integrated circuit including a plasmon waveguide-fed Schottky barrier detector and transistors connected therewith |
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