JP2007304554A - 液晶表示装置及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】減少させたマスク数で製造可能である共に、エッチストッパを利用して、素子の信頼性を向上させた液晶表示装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】液晶表示装置の製造方法は、第1基板及び第2基板を提供する段階と、第1マスク工程により、第1基板にゲート電極、ゲートライン、接続電極、共通電極及び画素電極を形成する段階と、第1基板上に第1絶縁膜を形成する段階と、第2マスク工程により、第1基板上に第1コンタクトホール、第2コンタクトホール、第3コンタクトホール、第1ホール、及び第2ホールが形成された1次絶縁膜パターンを形成する段階と、第3マスク工程により、第1基板上にアクティブパターンを形成し、第2コンタクトホール及び第3コンタクトホールを介してアクティブパターンの所定領域と電気的に接続するソース電極及びドレイン電極を形成する段階と、第1基板と第2基板とを貼り合わせる段階とを含む。
【選択図】図1

Description

本発明は液晶表示装置及びその製造方法に関し、より詳細には、マスク数を減少させて製造工程を単純化して素子の信頼性を向上させた液晶表示装置及びその製造方法に関する。
近年、情報ディスプレイへの関心が高まり、携帯可能な情報媒体の利用への要求が高まるにつれて、既存の表示装置であるブラウン管(CRT)を代替する軽量、薄型のフラットパネルディスプレイ(FPD)に関する研究及び商業化が重点的に行われている。特に、このようなフラットパネルディスプレイのうち、液晶表示装置(LCD)は、液晶の光学的異方性を利用して画像を表現する装置であって、解像度、カラー表示、及び画質などに優れており、ノートブックパソコンやデスクトップパソコンのモニタなどに多用されている。
前記液晶表示装置は、第1基板であるカラーフィルタ基板と、第2基板であるアレイ基板と、前記カラーフィルタ基板と前記アレイ基板との間に形成された液晶層とを含む。
一般に、前記液晶表示装置のスイッチング素子としては薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor;TFT)を使用し、前記薄膜トランジスタのチャネル層としては非晶質シリコン薄膜を使用する。
前記液晶表示装置の製造工程においては、基本的に、薄膜トランジスタを含むアレイ基板の製造に複数のマスク工程(すなわち、フォトリソグラフィ工程)が必要であるため、生産性の面で前記マスク工程の数を減らすことが要求されている。
以下、一般的な液晶表示装置の構造について図7を参照して説明する。
図7は一般的な液晶表示装置を概略的に示す分解斜視図である。
図7に示すように、一般的な液晶表示装置は、カラーフィルタ基板5と、アレイ基板10と、カラーフィルタ基板5とアレイ基板10との間に形成された液晶層30とを含む。
カラーフィルタ基板5は、赤(R)、緑(G)、及び青(B)のカラーを実現する複数のサブカラーフィルタ7で構成されたカラーフィルタCと、サブカラーフィルタ7を区分して液晶層30を透過する光を遮断するブラックマトリクス6と、液晶層30に電圧を印加する透明な共通電極8とからなる。
また、アレイ基板10は、縦横に配列されて複数の画素領域Pを定義する複数のゲートライン16及びデータライン17と、ゲートライン16とデータライン17との交差領域に形成されたスイッチング素子である薄膜トランジスタTと、各画素領域Pに形成された画素電極18とからなる。
このように構成されたカラーフィルタ基板5とアレイ基板10とは、画像表示領域の外郭に形成されたシーラント(図示せず)により対向して貼り合わせられて液晶表示パネルを構成し、このようなカラーフィルタ基板5とアレイ基板10との貼り合わせは、カラーフィルタ基板5又はアレイ基板10に形成された貼り合わせキー(図示せず)を用いて行う。
ここで、前述した液晶表示装置は、ネマチック相の液晶分子を基板に対して垂直な方向に駆動させるツイストネマチック(Twisted Nematic;TN)方式の液晶表示装置を示し、前記ツイストネマチック方式の液晶表示装置は視野角が約90°で狭いという欠点がある。これは、液晶分子の屈折率異方性に起因するもので、液晶表示パネルに電圧が印加されると、基板に対して水平に配向された液晶分子が前記基板に対してほぼ垂直な方向に配向されるためである。
そこで、液晶分子を基板に対して水平な方向に駆動させて視野角を170°以上に向上させた横電界(In Plane Switching;IPS)方式の液晶表示装置が開発されており、以下、一般的な横電界方式の液晶表示装置について図8を参照して説明する。
図8は一般的な横電界方式の液晶表示装置のアレイ基板の一部を示す平面図であり、実際の液晶表示装置においては、N個のゲートラインとM個のデータラインとが交差してN×M個の画素が存在するが、説明を簡単にするために図には1つの画素を示す。
図8に示すように、透明なガラスからなるアレイ基板10上には、縦横に配列されて画素領域を定義するゲートライン16とデータライン17が形成されており、ゲートライン16とデータライン17との交差領域には、スイッチング素子である薄膜トランジスタが形成されている。
ここで、前記薄膜トランジスタは、ゲートライン16に接続されたゲート電極21と、データライン17に接続されたソース電極22と、画素電極ライン181を介して画素電極18に接続されたドレイン電極23とを含む。また、前記薄膜トランジスタは、ゲート電極21とソース/ドレイン電極22、23の絶縁のための第1絶縁膜(図示せず)と、ゲート電極21に供給されるゲート電圧によりソース電極22とドレイン電極23との間に伝導チャネルを形成するアクティブパターン(図示せず)とをさらに含む。
前記画素領域内には、横電界を発生させるために、複数の共通電極8と画素電極18とがデータライン17と平行な方向に交互に配置されている。ここで、画素電極18は、第1コンタクトホール40aを介して画素電極ライン181と接続されてドレイン電極23と電気的に接続され、共通電極8は、ゲートライン16と平行に配置された共通電極ライン81と第2コンタクトホール40bを介して電気的に接続される。
図9A〜図9Eは図8に示すアレイ基板の製造工程を順次示す、図8のII−II′線断面図である。
まず、図9Aに示すように、フォトリソグラフィ工程(第1マスク工程)により、アレイ基板10上に導電性金属からなるゲート電極21、ゲートライン(図示せず)、及び共通ライン(図示せず)を形成する。
次に、図9Bに示すように、ゲート電極21、前記ゲートライン、及び前記共通ラインが形成されたアレイ基板10の全面に、第1絶縁膜15a、非晶質シリコン薄膜、及びn+非晶質シリコン薄膜を順次蒸着した後、フォトリソグラフィ工程(第2マスク工程)で前記非晶質シリコン薄膜と前記n+非晶質シリコン薄膜を選択的にパターニングすることにより、ゲート電極21の上部に非晶質シリコン薄膜からなるアクティブパターン24を形成する。
ここで、アクティブパターン24上には、アクティブパターン24と同一の形状にパターニングされたn+非晶質シリコン薄膜パターン25が形成される。
次に、図9Cに示すように、アレイ基板10の全面に導電性金属を蒸着した後、フォトリソグラフィ工程(第3マスク工程)で選択的にパターニングすることにより、アクティブパターン24の上部にソース電極22とドレイン電極23を形成する。ここで、アクティブパターン24上に形成されたn+非晶質シリコン薄膜パターン25は、前記第3マスク工程により所定領域が除去されて、アクティブパターン24とソース/ドレイン電極22、23間をオーミックコンタクトするオーミックコンタクト層25nを形成する。
ここで、ソース電極22の一部は一方向に延びてデータライン17を構成し、ドレイン電極23の一部は画素領域に延びて画素電極ライン181を構成する。
次に、図9Dに示すように、ソース電極22とドレイン電極23が形成されたアレイ基板10の全面に第2絶縁膜15bを蒸着した後、フォトリソグラフィ工程(第4マスク工程)により第2絶縁膜15bの一部領域を除去して、画素電極ライン181の一部を露出させる第1コンタクトホール40aを形成する。また、前記第4マスク工程で、第2絶縁膜15bの他の一部領域を除去して、前記共通ラインの一部を露出させる第2コンタクトホール(図示せず)を形成する。
最後に、図9Eに示すように、アレイ基板10の全面に透明な導電性金属を蒸着した後、フォトリソグラフィ工程(第5マスク工程)で選択的にパターニングすることにより、第1コンタクトホール40を介して画素電極ライン181と電気的に接続する画素電極18を形成し、前記第2コンタクトホールを介して前記共通ラインと電気的に接続する共通電極8を形成する。
このような薄膜トランジスタを含むアレイ基板の製造においては、前述したように、ゲート電極、アクティブパターン、ソース/ドレイン電極、コンタクトホール、及び画素電極などのパターニングに最小限5回のフォトリソグラフィ工程を必要とする。
前記フォトリソグラフィ工程は、マスクに描かれたパターンを薄膜が蒸着された基板上に転写して所望のパターンを形成する一連の工程であって、感光液塗布、露光、及び現像工程など複数の工程からなる。その結果、複数のフォトリソグラフィ工程は生産収率を低下させ、形成された薄膜トランジスタに欠陥が発生する確率を上げるなど多くの問題があった。
特に、パターンを形成するためのマスクが非常に高価であり、工程に適用されるマスク数が増加すると液晶表示装置の製造コストがこれに比例して上昇するという問題があった。
また、前述した薄膜トランジスタは、アクティブパターンのチャネル上部が露出するバックチャネルエッチ(back channel etch)タイプの薄膜トランジスタであって、n+非晶質シリコン薄膜をエッチングする過程で前記薄膜トランジスタのバックチャネルが損傷することがあり、これにより、素子の信頼性が低下するという問題があった。
これを解決するためにチャネル上部に絶縁物質からなるエッチストッパ(etch stopper)を形成したエッチストッパタイプの薄膜トランジスタは、前記エッチストッパを形成するための1つのマスク工程が追加されるという欠点があった。
本発明は、このような問題を解決するためになされたもので、薄膜トランジスタの製造に使用されるマスク数を減少させた液晶表示装置及びその製造方法を提供することを目的とする。
本発明の他の目的は、マスク工程を追加することなくエッチストッパを形成して素子の信頼性を向上させた液晶表示装置及びその製造方法を提供することにある。
上記の目的を達成するために、本発明による液晶表示装置の製造方法は、第1基板及び第2基板を提供する段階と、第1マスク工程により、前記第1基板にゲート電極、ゲートライン、接続電極、共通電極及び画素電極を形成する段階と、前記第1基板上に第1絶縁膜を形成する段階と、第2マスク工程により、前記第1基板上に第1コンタクトホール、第2コンタクトホール、第3コンタクトホール、第1ホール、及び第2ホールが形成された1次絶縁膜パターンを形成する段階と、第3マスク工程により、前記第1基板上にアクティブパターンを形成し、前記第2コンタクトホール及び前記第3コンタクトホールを介して前記アクティブパターンの所定領域と電気的に接続するソース電極及びドレイン電極を形成する段階と、前記第1基板と前記第2基板とを貼り合わせる段階とを含む。
また、本発明による液晶表示装置は、第1基板に形成され、第1導電膜からなる共通電極及び画素電極、第2導電膜からなるゲート電極、ゲートライン、及び接続電極と、前記第1基板上に形成された第1絶縁膜と、前記第1基板上に形成され、第1コンタクトホール、第2コンタクトホール、第3コンタクトホール、及び第1ホールがパターニングされたエッチストッパと、前記第1基板上に形成されたアクティブパターンと、前記第2コンタクトホール及び前記第3コンタクトホールを介して前記アクティブパターンの所定領域と電気的に接続する第3導電膜からなるソース電極及びドレイン電極と、前記第1基板と対向して貼り合わせられる第2基板とを含む。
本発明による液晶表示装置及びその製造方法は、回折マスク又はハーフトーンマスクを利用して、ゲート電極、共通電極、及び画素電極を共に形成し、アクティブパターン及びソース/ドレイン電極を共に形成することにより、薄膜トランジスタの製造に使用されるマスク数を減少させて製造工程及びコストを低減できるという効果がある。
また、本発明による液晶表示装置及びその製造方法は、データラインの下部に形成された非晶質シリコン薄膜が前記データラインと同一の形状にパターニングされて、ノイズによる画質不良を解決できるという効果がある。
以下、添付図面を参照して本発明による液晶表示装置及びその製造方法の好ましい実施形態を説明する。
図1は本発明の一実施形態による液晶表示装置のアレイ基板の一部を概略的に示す平面図であり、実際のアレイ基板には、N個のゲートラインとM個のデータラインとが交差してN×M個の画素が存在するが、説明を簡単にするために図には1つの画素を示す。
図1に示すように、本発明の一実施形態による液晶表示装置のアレイ基板110上には、縦横に配列されて画素領域を定義するゲートライン116とデータライン117が形成されており、ゲートライン116とデータライン117との交差領域には、スイッチング素子である薄膜トランジスタが形成されている。
前記薄膜トランジスタは、ゲートライン116に接続されたゲート電極121と、データライン117に接続されたソース電極122と、画素電極ライン1181を介して画素電極118に接続されたドレイン電極123とを含む。また、前記薄膜トランジスタは、ゲート電極121とソース/ドレイン電極122、123の絶縁のための第1絶縁膜(図示せず)と、ゲート電極121に供給されるゲート電圧によりソース電極122とドレイン電極123との間に伝導チャネルを形成するアクティブパターン(図示せず)とをさらにを含む。
ここで、ソース電極122の一部は一方向に延びてデータライン117に接続され、ドレイン電極123の一部は前記画素領域に延びて画素電極ライン1181を構成する。
前記画素領域内には、横電界を発生させるために、複数の共通電極108と画素電極118とが交互に配置されている。図1においては、共通電極108と画素電極118とがデータライン117と実質的に平行な方向に配列された場合を示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、共通電極108と画素電極118とはゲートライン116と実質的に平行な方向に配列することもできる。
また、画素電極118は、第1コンタクトホール(図示せず)を介して画素電極ライン1181と電気的に接続され、共通電極108は、ゲートライン116と実質的に平行に配列された共通ライン1081と接続される。共通ライン1081は、前記画素領域の左右側縁部で、データライン117と実質的に平行に配列された第1接続ライン108a、108a′に接続され、前記左右側の第1接続ライン108a、108a′は、ゲートライン116と実質的に平行に配列された第2接続ライン108bを介して互いに接続される。
ここで、ゲート電極121、ゲートライン116、共通ライン1081、第1接続ライン108a、108a′、及び第2接続ライン108bは、透明な導電物質からなる下部層と不透明な導電物質からなる上部層の二重層で構成され、前記画素領域内に露出する共通電極108及び画素電極118は、前記透明な導電物質からなる単一層で構成される。
共通電極108は、その側面、上部面、又は下部面の一部が共通ライン1081、第1接続ライン108a、108a′、又は第2接続ライン108bの下部に延びて、共通ライン1081、第1接続ライン108a、108a′、又は第2接続ライン108bに接続される。
また、共通ライン1081は、その一部が第1絶縁膜を介してその上部の画素電極ライン1181の一部と重なってストレージキャパシタCstを形成する。ストレージキャパシタCstは、液晶キャパシタに印加された電圧を次の信号が入るまで一定に維持する役割を果たす。
このようなストレージキャパシタCstは、信号の維持以外にも、階調表示の安定、並びにフリッカ及び残像の減少などの効果を有する。
図中、符号115″は絶縁物質からなるエッチストッパを示し、前記アクティブパターンのチャネル領域の上部に位置するエッチストッパは、n+非晶質シリコン薄膜のエッチング時に前記薄膜トランジスタのバックチャネルが損傷することを防止する。
このように構成された本発明の一実施形態による液晶表示装置のアレイ基板は、回折マスク又はハーフトーンマスクを利用して、ゲート電極、共通電極、及び画素電極を共に形成し、アクティブパターン及びソース/ドレイン電極を共に形成することにより、合計3回のマスク工程により製造できる。
以下、このような本発明の一実施形態による液晶表示装置のアレイ基板の製造工程をより詳細に説明する。
図2A〜図2Cは、図1に示すアレイ基板の製造工程を順次示す、図1のIV−IV′線断面図であり、図3A〜図3Eは、図1に示すアレイ基板の製造工程を順次示す平面図である。
図2A及び図3Aに示すように、ガラスなどの透明な絶縁物質からなるアレイ基板110上に、ゲート電極121、ゲートライン116、共通ライン1081、第1接続ライン108a、108a′、第2接続ライン108b、共通電極108、及び画素電極118を形成する。
ここで、ゲート電極121、ゲートライン116、共通ライン1081、第1接続ライン108a、108a′、第2接続ライン108b、共通電極108、及び画素電極118は、アレイ基板110の全面に第1導電膜と第2導電膜を蒸着した後、フォトリソグラフィ工程(第1マスク工程)によりパターニングして形成する。
ここで、前記第1導電膜としては、ITO(Indium Tin Oxide)又はIZO(Indium Zinc Oxide)などの透過率に優れた透明導電物質を使用でき、前記第2導電膜としては、アルミニウム(Al)、アルミニウム合金、タングステン(W)、銅(Cu)、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)などの低抵抗の不透明導電物質を使用できる。
ここで、前記第2導電膜からなるゲート電極121、ゲートライン116、及び共通ライン1081の下部には、前記第1導電膜からなり、それぞれゲート電極121、ゲートライン116、及び共通ライン1081の形状にパターニングされた、ゲート電極パターン120′、ゲートラインパターン(図示せず)、及び共通ラインパターン120″が形成されている。
また、前記第1導電膜からなる共通電極108は、その側面、上部面、又は下部面の一部が共通ライン1081、第1接続ライン108a、108a′、又は第2接続ライン108bの下部面に延びており、前記第1導電膜からなる画素電極118は、その下部面の一部が前記第2導電膜からなる接続電極130′′′の下部面に延びている。
このように、前記第2導電膜からなるゲート電極121、ゲートライン116、共通ライン1081、第1接続ライン108a、108a′、及び第2接続ライン108bは、回折露光を利用することにより、前記第1導電膜からなる共通電極108及び画素電極118と同時に形成できるが、これについて図を参照して詳細に説明する。
図4A〜図4Eは図2A及び図3Aに示す第1マスク工程を具体的に示す断面図である。
図4Aに示すように、ガラスなどの透明な絶縁物質からなるアレイ基板110の全面に第1導電膜120と第2導電膜130を順次蒸着する。
ここで、第1導電膜120としては、ITO又はIZOなどの透明導電物質を使用でき、第2導電膜130としては、アルミニウム、アルミニウム合金、タングステン、銅、クロム、モリブデン、モリブデン合金などの低抵抗の不透明導電物質を使用できる。
その後、アレイ基板110の全面にフォトレジストなどの感光性物質からなる感光膜170を形成した後、本実施形態の回折マスク180(又は、ハーフトーンマスク)を利用して感光膜170に選択的に光を照射する。
ここで、本実施形態に使用した回折マスク180には、照射された光を全て透過させる透過領域I、スリットパターンが適用されて光の一部だけ透過させて一部は遮断するスリット領域II、及び照射された光を全て遮断する遮断領域IIIが設けられており、回折マスク180を透過した光だけ感光膜170に照射される。
次に、回折マスク180を利用して露光された感光膜170を現像すると、図4Bに示すように、遮断領域IIIにより光が全て遮断された領域と、スリット領域IIにより光の一部だけ遮断された領域には、所定厚さの第1感光膜パターン170a〜第6感光膜パターン170fが残り、光が全て透過する透過領域Iに該当する領域には、感光膜が完全に除去されて第2導電膜130の表面が露出する。
ここで、遮断領域IIIに形成された第1感光膜パターン170a〜第4感光膜パターン170dは、スリット領域IIに形成された第5感光膜パターン170eと第6感光膜パターン170fより厚く形成される。また、透過領域Iにより光が全て透過した領域は感光膜が完全に除去されるが、これはポジ型フォトレジストを使用したためであり、本発明はこれに限定されるものではなく、ネガ型フォトレジストを使用してもよい。
次に、このように形成された第1感光膜パターン170a〜第6感光膜パターン170fをマスクにして、その下部に形成された第1導電膜120と第2導電膜130をパターニングすると、図4Cに示すように、アレイ基板110上に、第2導電膜130からなるゲート電極121、ゲートライン(図示せず)、及び共通ライン1081が形成され、第1導電膜120からなる共通電極108及び画素電極118が形成される。
ここで、第2導電膜130からなるゲート電極121、ゲートライン、及び共通ライン1081の下には、それぞれ第1導電膜120があり、ゲート電極121、ゲートライン、及び共通ライン1081と同一の形状にパターニングされた、ゲート電極パターン120′、ゲートラインパターン、及び共通ラインパターン120″が形成される。
また、第1導電膜120からなる共通電極108及び画素電極118の上には、それぞれ第2導電膜130があり、共通電極108及び画素電極118と同一の形状にパターニングされた、接続電極用導電膜パターン130′及び接続ライン用導電膜パターン130″が形成される。
次に、第1感光膜パターン170a〜第6感光膜パターン170fの一部を除去するアッシング工程を行うと、接続電極用導電膜パターン130′及び接続ライン用導電膜パターン130″の上部、すなわち、回折露光が適用されたスリット領域IIの第5感光膜パターン170e及び第6感光膜パターン170fが完全に除去されて、図4Dに示すように、接続電極用導電膜パターン130′及び接続ライン用導電膜パターン130″の表面が露出する。
また、第1感光膜パターン170a〜第4感光膜パターン170dは、第5感光膜パターン170e及び第6感光膜パターン170fの厚さだけ除去された第7感光膜パターン170a′〜第10感光膜パターン170f′となり、遮断領域IIIに対応する所定領域にのみ残る。
次に、図4Eに示すように、残っている第7感光膜パターン170a′〜第10感光膜パターン170f′をマスクにして、それぞれ接続電極用導電膜パターン130′及び接続ライン用導電膜パターン130″を選択的に除去すると、画素電極118上に、画素電極118の一部と電気的に接続する接続電極130′′′が形成されると共に、共通電極108上に、共通電極108の一部と電気的に接続する第1接続ライン108a及び第2接続ライン(図示せず)が形成される。
そして、図2B及び図3Bに示すように、ゲート電極121、ゲートライン116、共通ライン1081、第1接続ライン108a、108a′、第2接続ライン108b、共通電極108、及び画素電極118が形成されたアレイ基板110の全面に、第1絶縁膜115a、非晶質シリコン薄膜124、及び第2絶縁膜を順次蒸着した後、フォトリソグラフィ工程(第2マスク工程)で第1絶縁膜115a、非晶質シリコン薄膜124、及び前記第2絶縁膜を選択的にパターニングすることにより、第1コンタクトホール140a、第2コンタクトホール140b、第3コンタクトホール140c、第1ホールHa、及び第2ホールHbを形成すると共に、前記第2絶縁膜からなる所定形状のエッチストッパ115′を形成する。
ここで、第1コンタクトホール140aは接続電極130′′′の一部を露出させ、第2コンタクトホール140b及び第3コンタクトホール140cはゲート電極121左右側上部の非晶質シリコン薄膜124の一部を露出させる。第2コンタクトホール140bと第3コンタクトホール140bとの間にパターニングされて残っている一部のエッチストッパ115′は、後でn+非晶質シリコン薄膜のパターニング時にアクティブパターンのバックチャネルにエッチング液又はエッチングガスが浸透するのを防止する役割を果たす。
本実施形態においては、前記第2マスク工程に回折露光を利用するが、以下、前記第2マスク工程について図を参照して詳細に説明する。
図5A〜図5Eは図2B及び図3Bに示す第2マスク工程を具体的に示す断面図である。
図5Aに示すように、ゲート電極121、ゲートライン116、共通ライン1081、第1接続ライン108a、108a′、第2接続ライン108b、共通電極108、及び画素電極118が形成されたアレイ基板110の全面に、第1絶縁膜115a、非晶質シリコン薄膜124、及び第2絶縁膜115を順次蒸着する。
次に、アレイ基板110の全面にフォトレジストなどの感光性物質からなる感光膜270を形成した後、本実施形態の回折マスク280(又は、ハーフトーンマスク)を利用して感光膜270に選択的に光を照射する。
また、本実施形態に使用した回折マスク280には、照射された光を全て透過させる透過領域I、スリットパターンが適用されて光の一部だけ透過させて一部は遮断するスリット領域II、及び照射された光を全て遮断する遮断領域IIIが設けられており、回折マスク280を透過した光だけ感光膜270に照射される。
次に、回折マスク280を利用して露光された感光膜270を現像すると、図5Bに示すように、遮断領域IIIにより光が全て遮断された領域と、スリット領域IIにより光の一部だけ遮断された領域には、所定厚さの第1感光膜パターン270a〜第5感光膜パターン270eが残り、光が全て透過する透過領域Iに該当する領域には、感光膜が完全に除去されて第2絶縁膜115の表面が露出する。
ここで、遮断領域IIIに形成された第1感光膜パターン270aは、スリット領域IIに形成された第2感光膜パターン270b〜第5感光膜パターン270eより厚く形成される。また、透過領域Iにより光が全て透過した領域は感光膜が完全に除去されるが、これはポジ型フォトレジストを使用したためであり、本発明はこれに限定されるものではなく、ネガ型フォトレジストを使用してもよい。
次に、このように形成された第1感光膜パターン270a〜第5感光膜パターン270eをマスクにして、その下部に形成された第1絶縁膜115a、非晶質シリコン薄膜124、及び第2絶縁膜115をパターニングすると、図5Cに示すように、接続電極130′′′の一部を露出させる第1コンタクトホール140aが形成される。
次に、第1感光膜パターン270a〜第5感光膜パターン270eの一部を除去するアッシング工程を行うと、回折露光が適用されたスリット領域IIの第2感光膜パターン270b〜第5感光膜パターン270eが完全に除去されて、図5Dに示すように、第2絶縁膜115の表面が露出する。
また、第1感光膜パターン270aは、第2感光膜パターン270b〜第5感光膜パターン270eの厚さだけ除去された第6感光膜パターン270a′となり、遮断領域IIIに対応する所定領域にのみ残る。
次に、図5Eに示すように、残っている第6感光膜パターン270a′をマスクにして第2絶縁膜115の一部領域を除去すると、ゲート電極121左右側上部の非晶質シリコン薄膜124の一部を露出させる第2コンタクトホール140b及び第3コンタクトホール140cが形成されると共に、共通ライン1081上部の非晶質シリコン薄膜124の一部を露出させる第1ホールHa、及びデータラインが形成される領域の非晶質シリコン薄膜124の一部を露出させる第2ホールHbが形成される。
ここで、第1コンタクトホール140a、第2コンタクトホール140b、第3コンタクトホール140c、第1ホールHa、及び第2ホールHbがパターニングされた第2絶縁膜115は、1次絶縁膜パターン115′を形成する。
次に、図2C及び図3C〜図3Eに示すように、1回のフォトリソグラフィ工程(第3マスク工程)で、アクティブパターン124′を形成すると共に、第2コンタクトホール140b及び第3コンタクトホール140cを介してアクティブパターン124′の所定領域と電気的に接続するソース電極122及びドレイン電極123を形成する。
ここで、ソース電極122の一部は一方向に延びてゲートライン116と実質的に垂直な方向に形成されたデータライン117に接続され、ドレイン電極123の一部は画素領域に延びて、第1ホールHaを介して接続電極130′′′及びその下部の画素電極118と電気的に接続する画素電極ライン1181を形成する。
ここで、第2絶縁膜115からなる1次絶縁膜パターン115′は、前記第3マスク工程により所定形状にパターニングされてエッチストッパ115″を形成し、アクティブパターン124′のチャネル領域の上部に位置するエッチストッパ115″は、n+非晶質シリコン薄膜のエッチング時に薄膜トランジスタのバックチャネルが損傷することを防止するが、これを次の第3マスク工程で詳細に説明する。
図6A〜図6Fは図2C及び図3C〜図3Eに示す第3マスク工程を具体的に示す断面図である。
図6Aに示すように、アレイ基板110の全面に、n+非晶質シリコン薄膜125及び第3導電膜150を蒸着した後、フォトレジストなどの感光性物質からなる感光膜370を形成し、本実施形態の回折マスク380(又は、ハーフトーンマスク)を利用して感光膜370に選択的に光を照射する。
また、本実施形態に使用した回折マスク380には、照射された光を全て透過させる透過領域I、スリットパターンが適用されて光の一部だけ透過させて一部は遮断するスリット領域II、及び照射された光を全て遮断する遮断領域IIIが設けられており、回折マスク380を透過した光だけ感光膜370に照射される。
次に、回折マスク380を利用して露光された感光膜370を現像すると、図6Bに示すように、遮断領域IIIにより光が全て遮断された領域と、スリット領域IIにより光の一部だけ遮断された領域には、所定厚さの第1感光膜パターン370a〜第4感光膜パターン370dが残り、光が全て透過する透過領域Iに該当する領域には、感光膜が完全に除去されて第3導電膜150の表面が露出する。
ここで、遮断領域IIIに形成された第1感光膜パターン370a〜第3感光膜パターン370cは、スリット領域IIに形成された第4感光膜パターン370dより厚く形成される。また、透過領域Iにより光が全て透過した領域は感光膜が完全に除去されるが、これはポジ型フォトレジストを使用したためであり、本発明はこれに限定されるものではなく、ネガ型フォトレジストを使用してもよい。
次に、このように形成された第1感光膜パターン370a〜第4感光膜パターン370dをマスクにして、その下部に形成された第3導電膜150をパターニングすると、図6Cに示すように、第1感光膜パターン370a、第2感光膜パターン370b、及び第4感光膜パターン370dの下に、第3導電膜150が残り、第1感光膜パターン370a、第2感光膜パターン370b、及び第4感光膜パターン370dより幅の狭い第3導電膜パターン150′が形成され、第3感光膜パターン370cの下に、第3導電膜150が残り、第3感光膜パターン370cより幅の狭いデータライン117が形成される。
次に、第1感光膜パターン370a〜第4感光膜パターン370dをマスクにし続けて、その下のn+非晶質シリコン薄膜125と1次絶縁膜パターン115′を選択的にパターニングすると、図6Dに示すように、第1感光膜パターン370a、第2感光膜パターン370b、及び第4感光膜パターン370dの下に、n+非晶質シリコン薄膜125からなる第1n+非晶質シリコン薄膜パターン125′と第2絶縁膜115からなるエッチストッパ115″が形成され、第3感光膜パターン370cの下に、n+非晶質シリコン薄膜125からなる第2n+非晶質シリコン薄膜パターン125″が形成される。
次に、第1感光膜パターン370a〜第4感光膜パターン370dの一部を除去するアッシング工程を行うと、回折露光が適用されたスリット領域IIの第4感光膜パターン370dが完全に除去されて、図6Eに示すように、第3導電膜パターン150′の表面が露出する。
また、第1感光膜パターン370a〜第3感光膜パターン370cは、第4感光膜パターン370dの厚さだけ除去された第5感光膜パターン370a′〜第7感光膜パターン370c′となり、遮断領域IIIに対応する所定領域にのみ残る。
ここで、前記アッシング工程により第5感光膜パターン370a′〜第7感光膜パターン370c′の幅を狭くすることができ、このとき、前記アッシング工程の工程条件を制御することにより、第5感光膜パターン370a′〜第7感光膜パターン370c′が、その下部の第3導電膜パターン150′及びデータライン117の幅と同一の幅を有するようにすることができる。
次に、図6Fに示すように、残っている第5感光膜パターン370a′〜第7感光膜パターン370c′をマスクにして第3導電膜パターン150′の一部領域を除去すると、第5感光膜パターン370a′の下に、第3導電膜150からなるソース電極122が形成されると共に、第6感光膜パターン370b′の下に、第3導電膜150からなるドレイン電極123及び画素電極ライン1181が形成される。
その後、第5感光膜パターン370a′〜第7感光膜パターン370c′をマスクにして、第1n+非晶質シリコン薄膜パターン125′、第2n+非晶質シリコン薄膜パターン125″、及び非晶質シリコン薄膜124を選択的に除去すると、非晶質シリコン薄膜124からなり、エッチストッパ115″の縁部側面の形状にパターニングされたアクティブパターン124′が形成される。
ここで、エッチストッパ115″は、アクティブパターン124′のパターニングにおいてマスクとして作用し、アクティブパターン124′の上には、n+非晶質シリコン薄膜125からなり、アクティブパターン124′の所定領域とソース122/ドレイン電極123間をオーミックコンタクトするオーミックコンタクト層125nが形成される。
ここで、画素電極ライン1181は、オーミックコンタクト層125nを介してその下の接続電極130′′′と電気的に接続し、データライン117の下には、n+非晶質シリコン薄膜125からなる第3n+非晶質シリコン薄膜パターン125′′′、及び非晶質シリコン薄膜124からなる非晶質シリコン薄膜パターン124″が形成される。
前記第2ホールが形成された領域の非晶質シリコン薄膜パターン124″は、その上部のデータライン117と同一の形状にパターニングされる。このように、本実施形態は、回折露光を利用してアクティブパターン124′、ソース/ドレイン電極122、123、及びデータライン117を1回のマスク工程で形成する際、データライン117の下に形成される非晶質シリコン薄膜パターン124″に突出部が形成されないため、非晶質シリコン薄膜パターン124″の突出部によるノイズ問題を解決できる。
このように構成されたアレイ基板110は、画像表示領域の外郭に形成されたシーラント(図示せず)によりカラーフィルタ基板(図示せず)と対向して貼り合わせられて液晶表示パネルを構成し、このようなアレイ基板110とカラーフィルタ基板との貼り合わせは、アレイ基板110又はカラーフィルタ基板に形成された貼り合わせキー(図示せず)を用いて行う。
前述した実施形態においてはチャネル層として非晶質シリコン薄膜を利用した非晶質シリコン薄膜トランジスタを例に説明しているが、本発明は、これに限定されるものではなく、チャネル層として多結晶シリコン薄膜を利用した多結晶シリコン薄膜トランジスタにも適用される。
また、本発明は、液晶表示装置だけでなく、薄膜トランジスタを利用して製造する他の表示装置、例えば、駆動トランジスタに有機発光ダイオード(Organic Light Emitting Diodes;OLED)が接続された有機ELディスプレイ装置にも利用される。
以上、多くの事項を具体的に記載したが、これは本発明の範囲を限定するものではなく、好ましい実施形態の例示として解釈されるべきである。従って、本発明の範囲は、前述した実施形態によって定められるのではなく、特許請求の範囲とその均等物によって定められるべきである。
本発明の一実施形態による液晶表示装置のアレイ基板の一部を概略的に示す平面図である。 図1に示すアレイ基板の製造工程を順次示す、図1のIV−IV′線断面図である。 図1に示すアレイ基板の製造工程を順次示す、図1のIV−IV′線断面図である。 図1に示すアレイ基板の製造工程を順次示す、図1のIV−IV′線断面図である。 図1に示すアレイ基板の製造工程を順次示す平面図である。 図1に示すアレイ基板の製造工程を順次示す平面図である。 図1に示すアレイ基板の製造工程を順次示す平面図である。 図1に示すアレイ基板の製造工程を順次示す平面図である。 図1に示すアレイ基板の製造工程を順次示す平面図である。 図2A及び図3Aに示す第1マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2A及び図3Aに示す第1マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2A及び図3Aに示す第1マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2A及び図3Aに示す第1マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2A及び図3Aに示す第1マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2B及び図3Bに示す第2マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2B及び図3Bに示す第2マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2B及び図3Bに示す第2マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2B及び図3Bに示す第2マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2B及び図3Bに示す第2マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2C及び図3C〜図3Eに示す第3マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2C及び図3C〜図3Eに示す第3マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2C及び図3C〜図3Eに示す第3マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2C及び図3C〜図3Eに示す第3マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2C及び図3C〜図3Eに示す第3マスク工程を具体的に示す断面図である。 図2C及び図3C〜図3Eに示す第3マスク工程を具体的に示す断面図である。 一般的な液晶表示装置を概略的に示す分解斜視図である。 一般的な横電界方式の液晶表示装置のアレイ基板の一部を示す平面図である。 図8に示すアレイ基板の製造工程を順次示す、図8のII−II′線断面図である。 図8に示すアレイ基板の製造工程を順次示す、図8のII−II′線断面図である。 図8に示すアレイ基板の製造工程を順次示す、図8のII−II′線断面図である。 図8に示すアレイ基板の製造工程を順次示す、図8のII−II′線断面図である。 図8に示すアレイ基板の製造工程を順次示す、図8のII−II′線断面図である。

Claims (62)

  1. 第1基板及び第2基板を提供する段階と、
    第1マスク工程により、前記第1基板にゲート電極、ゲートライン、接続電極、共通電極及び画素電極を形成する段階と、
    前記第1基板上に第1絶縁膜を形成する段階と、
    第2マスク工程により、前記第1基板上に第1コンタクトホール、第2コンタクトホール、第3コンタクトホール、第1ホール、及び第2ホールが形成された1次絶縁膜パターンを形成する段階と、
    第3マスク工程により、前記第1基板上にアクティブパターンを形成し、前記第2コンタクトホール及び前記第3コンタクトホールを介して前記アクティブパターンの所定領域と電気的に接続するソース電極及びドレイン電極を形成する段階と、
    前記第1基板と前記第2基板とを貼り合わせる段階と、
    を含むことを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
  2. 前記第1マスク工程により、前記第1基板に共通ラインを形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置の製造方法。
  3. 前記共通ラインが、前記ゲートラインと実質的に平行に配列されることを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置の製造方法。
  4. 前記共通電極が、前記共通ラインと接続されることを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置の製造方法。
  5. 前記第1マスク工程により、前記第1基板に第1接続ラインを形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置の製造方法。
  6. 前記第3マスク工程により、前記ゲートラインと実質的に交差して画素領域を定義するデータラインを形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項5に記載の液晶表示装置の製造方法。
  7. 前記第1接続ラインが、前記画素領域の左右側縁部に形成されて前記共通ラインと接続されることを特徴とする請求項6に記載の液晶表示装置の製造方法。
  8. 前記第1接続ラインが、前記データラインと実質的に平行に配列されることを特徴とする請求項6に記載の液晶表示装置の製造方法。
  9. 前記第1マスク工程により、前記第1基板に第2接続ラインを形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項5に記載の液晶表示装置の製造方法。
  10. 前記左右側の第1接続ラインが、前記第2接続ラインと接続されることを特徴とする請求項9に記載の液晶表示装置の製造方法。
  11. 前記第2接続ラインが、前記ゲートラインと実質的に平行に配列されることを特徴とする請求項9に記載の液晶表示装置の製造方法。
  12. 前記第1マスク工程は、
    前記第1基板上に第1導電膜及び第2導電膜を形成する段階と、
    前記第1基板上に、第1厚さの第1感光膜パターン乃至第4感光膜パターンを形成し、第2厚さの第5感光膜パターン及び第6感光膜パターンを形成する段階と、
    前記第1感光膜パターン乃至前記第6感光膜パターンをマスクにして、前記第1導電膜及び前記第2導電膜を選択的に除去することにより、前記第1基板上に、前記第2導電膜からなるゲート電極及びゲートライン、並びに前記第1導電膜からなる共通電極及び画素電極を形成する段階と、
    前記第1導電膜からなる共通電極及び画素電極の上に、それぞれ前記第2導電膜からなり、前記共通電極及び前記画素電極と同一の形状にパターニングされた接続電極用導電膜パターン及び接続ライン用導電膜パターンを形成する段階と、
    前記第5感光膜パターン及び前記第6感光膜パターンを除去すると共に、前記第1感光膜パターン乃至前記第4感光膜パターンの一部を除去して、第3厚さの第7感光膜パターン乃至第10感光膜パターンを形成する段階と、
    前記第7感光膜パターン乃至前記第10感光膜パターンをマスクにして、前記接続電極用導電膜パターン及び前記接続ライン用導電膜パターンを選択的に除去することにより、前記画素電極上に前記画素電極の一部と電気的に接続する接続電極を形成し、前記共通電極上に前記共通電極の一部と電気的に接続する第1接続ライン及び第2接続ラインを形成する段階と、
    を含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置の製造方法。
  13. 前記第2導電膜からなるゲート電極及びゲートラインの下に、それぞれ前記第1導電膜からなり、前記ゲート電極及び前記ゲートラインと同一の形状にパターニングされたゲート電極パターン及びゲートラインパターンを形成することを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置の製造方法。
  14. 前記第1導電膜が、ITO又はIZOなどの透明な導電物質で形成されることを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置の製造方法。
  15. 前記第2導電膜が、アルミニウム、アルミニウム合金、タングステン、銅、クロム、又はモリブデンなどの不透明導電物質で形成されることを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置の製造方法。
  16. 前記第1感光膜パターン乃至前記第4感光膜パターンが、アッシング工程により、実質的に前記第5感光膜パターン又は前記第6感光膜パターンの厚さだけ減少した第3厚さの第7感光膜パターン乃至第10感光膜パターンにパターニングされることを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置の製造方法。
  17. 前記第1厚さが前記第2厚さより厚いことを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置の製造方法。
  18. 前記1次絶縁膜パターンがシリコン窒化膜で形成されることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置の製造方法。
  19. 前記第1コンタクトホールが、前記接続電極の一部を露出させることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置の製造方法。
  20. 前記第2コンタクトホール及び前記第3コンタクトホールが、前記ゲート電極の左右側上部の非晶質シリコン薄膜の一部を露出させることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置の製造方法。
  21. 前記第2コンタクトホールと前記第3コンタクトホールとの間にパターニングされている一部の1次絶縁膜パターンが、n+非晶質シリコン薄膜のパターニング時に前記アクティブパターンのバックチャネルにエッチング液又はエッチングガスが浸透するのを防止することを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置の製造方法。
  22. 前記第2マスク工程は、
    前記第1基板上に非晶質シリコン薄膜及び第2絶縁膜を形成する段階と、
    前記第1基板に第1厚さの第1感光膜パターン、及び第2厚さの第2感光膜パターン乃至第5感光膜パターンを形成する段階と、
    前記第1感光膜パターン乃至前記第5感光膜パターンをマスクにして、前記第1絶縁膜、前記非晶質シリコン薄膜、及び前記第2絶縁膜を選択的に除去することにより、前記接続電極の一部を露出させる第1コンタクトホールを形成する段階と、
    前記第2感光膜パターン乃至前記第5感光膜パターンを除去すると共に、前記第1感光膜パターンの一部を除去して、第3厚さの第6感光膜パターンを形成する段階と、
    前記第6感光膜パターンをマスクにして前記第2絶縁膜の一部を除去することにより、前記ゲート電極の左右側上部の非晶質シリコン薄膜の一部を露出させる第2コンタクトホール及び第3コンタクトホールを形成する段階と、
    を含むことを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置の製造方法。
  23. 前記共通ライン上部の非晶質シリコン薄膜の一部を露出させる第1ホール、及びデータラインが形成される領域の非晶質シリコン薄膜の一部を露出させる第2ホールを形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項22に記載の液晶表示装置の製造方法。
  24. 前記第2絶縁膜に前記第1コンタクトホール、前記第2コンタクトホール、前記第3コンタクトホール、前記第1ホール、及び前記第2ホールがパターニングされて、1次絶縁膜パターンを形成することを特徴とする請求項22に記載の液晶表示装置の製造方法。
  25. 前記第1感光膜パターンが、アッシング工程により、実質的に前記第2感光膜パターン乃至前記第5感光膜パターンの厚さだけ減少した第3厚さの第6感光膜パターンにパターニングされることを特徴とする請求項22に記載の液晶表示装置の製造方法。
  26. 前記第1厚さが前記第2厚さより厚いことを特徴とする請求項22に記載の液晶表示装置の製造方法。
  27. 前記ドレイン電極の一部が前記画素領域に延びて、前記第1ホールを介して前記接続電極及び前記画素電極と電気的に接続する画素電極ラインを形成することを特徴とする請求項6に記載の液晶表示装置の製造方法。
  28. 前記第3マスク工程は、
    前記第1基板上に非晶質シリコン薄膜、n+非晶質シリコン薄膜及び第3導電膜を形成する段階と、
    前記第1基板上に第1厚さの第1感光膜パターン乃至第3感光膜パターン、及び第2厚さの第4感光膜パターンを形成する段階と、
    前記第1感光膜パターン乃至前記第4感光膜パターンをマスクにして前記第3導電膜を選択的に除去することにより、前記第3導電膜からなる第3導電膜パターン及びデータラインを形成する段階と、
    前記第1感光膜パターン乃至前記第4感光膜パターンをマスクにして、前記n+非晶質シリコン薄膜及び前記1次絶縁膜パターンを選択的に除去することにより、第1n+非晶質シリコン薄膜パターン、第2n+非晶質シリコン薄膜パターン、及び2次絶縁膜パターンを形成する段階と、
    前記第4感光膜パターンを除去すると共に、前記第1感光膜パターン乃至前記第3感光膜パターンの一部を除去して、第3厚さの第5感光膜パターン乃至第7感光膜パターンを形成する段階と、
    前記第5感光膜パターン乃至前記第7感光膜パターンをマスクにして、前記第3導電膜パターンの一部を除去することにより、前記第3導電膜からなるソース電極及びドレイン電極を形成する段階と、
    前記第5感光膜パターン乃至前記第7感光膜パターンをマスクにして、前記第1n+非晶質シリコン薄膜パターン、前記第2n+非晶質シリコン薄膜パターン、及び前記非晶質シリコン薄膜を選択的に除去することにより、前記非晶質シリコン薄膜からなるアクティブパターンを形成する段階と、
    を含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置の製造方法。
  29. 前記第3導電膜パターンが、前記第1感光膜パターン、前記第2感光膜パターン、及び前記第4感光膜パターンの下に、前記第1感光膜パターン、前記第2感光膜パターン、及び前記第4感光膜パターンより幅が狭く形成されることを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  30. 前記データラインが、前記第3感光膜パターンの下に、前記第3感光膜パターンより幅が狭く形成されることを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  31. 前記第1n+非晶質シリコン薄膜パターンが、前記n+非晶質シリコン薄膜からなり、前記第1感光膜パターン、前記第2感光膜パターン、及び前記第4感光膜パターンの下に形成されることを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  32. 前記2次絶縁膜パターンが、前記第2絶縁膜からなり、前記第1感光膜パターン、前記第2感光膜パターン、及び前記第4感光膜パターンの下に形成されることを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  33. 前記第2n+非晶質シリコン薄膜パターンが、前記n+非晶質シリコン薄膜からなり、前記第3感光膜パターンの下に形成されることを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  34. 前記第5感光膜パターン乃至前記第7感光膜パターンが、前記第3導電膜パターン及び前記データラインの幅と同一の幅を有することを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  35. 前記ソース電極が、前記第5感光膜パターンの一部の下部に形成されることを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  36. 前記ドレイン電極及び前記画素電極ラインが、前記第6感光膜パターンの下部に形成されることを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  37. 前記アクティブパターンの上部に、前記n+非晶質シリコン薄膜からなり、前記アクティブパターンの所定領域と前記ソース/ドレイン電極間をオーミックコンタクトするオーミックコンタクト層を形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  38. 前記画素電極ラインが、前記オーミックコンタクト層を介して前記接続電極と電気的に接続されることを特徴とする請求項37に記載の液晶表示装置の製造方法。
  39. 前記データラインの下部に、前記n+非晶質シリコン薄膜からなる第3n+非晶質シリコン薄膜パターン、及び前記非晶質シリコン薄膜からなる非晶質シリコン薄膜パターンを形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  40. 前記第2ホールが形成された領域の非晶質シリコン薄膜が、その上部のデータラインと同一の幅を有するようにパターニングされることを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  41. 前記第3導電膜が、アルミニウム、アルミニウム合金、タングステン、銅、クロム、又はモリブデンなどの不透明導電物質で形成されることを特徴とする請求項28に記載の液晶表示装置の製造方法。
  42. 第1基板に形成され、第1導電膜からなる共通電極及び画素電極、第2導電膜からなるゲート電極、ゲートライン、及び接続電極と、
    前記第1基板上に形成された第1絶縁膜と、
    前記第1基板上に形成され、第1コンタクトホール、第2コンタクトホール、第3コンタクトホール、及び第1ホールがパターニングされたエッチストッパと、
    前記第1基板上に形成されたアクティブパターンと、前記第2コンタクトホール及び前記第3コンタクトホールを介して前記アクティブパターンの所定領域と電気的に接続する第3導電膜からなるソース電極及びドレイン電極と、
    前記第1基板と対向して貼り合わせられる第2基板と、
    を含むことを特徴とする液晶表示装置。
  43. 前記第2導電膜からなる共通ラインをさらに含むことを特徴とする請求項42に記載の液晶表示装置。
  44. 前記共通ラインが、前記ゲートラインと実質的に平行に配列されることを特徴とする請求項43に記載の液晶表示装置。
  45. 前記共通電極が、前記共通ラインと接続されることを特徴とする請求項43に記載の液晶表示装置。
  46. 前記第1導電膜からなる第1接続ラインをさらに含むことを特徴とする請求項43に記載の液晶表示装置。
  47. 前記第3導電膜からなり、前記ゲートラインと実質的に交差して画素領域を定義するデータラインをさらに含むことを特徴とする請求項46に記載の液晶表示装置。
  48. 前記第1接続ラインが、前記画素領域の左右側縁部に形成されて前記共通ラインと接続されることを特徴とする請求項47に記載の液晶表示装置。
  49. 前記第1接続ラインが、前記データラインと実質的に平行に配列されることを特徴とする請求項47に記載の液晶表示装置。
  50. 前記第1導電膜からなる第2接続ラインをさらに含むことを特徴とする請求項47に記載の液晶表示装置。
  51. 前記左右側の第1接続ラインが、前記第2接続ラインと接続されることを特徴とする請求項50に記載の液晶表示装置。
  52. 前記第2接続ラインが、前記ゲートラインと実質的に平行に配列されることを特徴とする請求項50に記載の液晶表示装置。
  53. 前記第1導電膜が、ITO又はIZOなどの透明な導電物質からなることを特徴とする請求項42に記載の液晶表示装置。
  54. 前記第2導電膜又は前記第3導電膜が、アルミニウム、アルミニウム合金、タングステン、銅、クロム、又はモリブデンなどの不透明導電物質からなることを特徴とする請求項42に記載の液晶表示装置。
  55. 前記エッチストッパが絶縁膜からなることを特徴とする請求項42に記載の液晶表示装置。
  56. 前記第1コンタクトホールが、前記接続電極の一部を露出させることを特徴とする請求項42に記載の液晶表示装置。
  57. 前記第2コンタクトホール及び前記第3コンタクトホールが、前記ゲート電極の左右側上部の非晶質シリコン薄膜の一部を露出させることを特徴とする請求項42に記載の液晶表示装置。
  58. 前記第2コンタクトホールと前記第3コンタクトホールとの間にパターニングされている一部のエッチストッパが、n+非晶質シリコン薄膜のパターニング時に前記アクティブパターンのバックチャネルにエッチング液又はエッチングガスが浸透するのを防止することを特徴とする請求項42に記載の液晶表示装置。
  59. 前記ドレイン電極の一部が前記画素領域に延びて、前記第1ホールを介して前記接続電極及び前記画素電極と電気的に接続する画素電極ラインをさらに含むことを特徴とする請求項47に記載の液晶表示装置。
  60. 前記アクティブパターンの上部に、n+非晶質シリコン薄膜からなり、前記アクティブパターンの所定領域と前記ソース/ドレイン電極間をオーミックコンタクトするオーミックコンタクト層をさらに含むことを特徴とする請求項59に記載の液晶表示装置。
  61. 前記画素電極ラインが、前記オーミックコンタクト層を介して前記接続電極と電気的に接続されることを特徴とする請求項60に記載の液晶表示装置。
  62. 前記画素電極ラインの一部が、前記第1絶縁膜を介して前記共通ラインの一部と重なって、ストレージキャパシタを構成することを特徴とする請求項59に記載の液晶表示装置。
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