JP2006108133A - 基板搬送装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 被処理基板をアーム部材に載置し、基板処理部に対して基板の搬入出を行う基板搬送装置において、大型の被処理基板であっても、アーム部材上に設けた吸着パッドにより確実に基板面を吸着し、基板をがたつかせることなく確実に保持することのできる基板搬送装置を提供する。
【解決手段】 複数の吸着パッド56を有するアーム部材51を備え、前記吸着パッド56上に被処理基板Gを載置し、基板処理部に対して被処理基板Gの搬入出を行う基板搬送装置41において、前記吸着パッド56を振動させる振動手段と、前記振動手段を駆動する振動駆動手段57と、前記振動駆動手段57の動作制御を行う制御手段58とを備え、前記制御手段58は、前記吸着パッド56上に被処理基板Gを載置する際、前記振動駆動手段57により前記振動手段を作動させ、吸着パッド56を振動させる。
【選択図】 図4

Description

本発明は、アーム部材上に被処理基板を載置し、基板処理部に対して被処理基板の搬入出を行う基板搬送装置に関する。
例えばLCDの製造においては、被処理基板であるLCD基板に所定の膜を成膜した後、フォトレジスト液を塗布してレジスト膜を形成し、回路パターンに対応してレジスト膜を露光し、これを現像処理するという、いわゆるフォトリソグラフィ技術により回路パターンを形成する。このフォトリソグラフィ技術では、被処理基板であるLCD基板は、主な工程として、洗浄処理→脱水ベーク→アドヒージョン(疎水化)処理→レジスト塗布→プリベーク→露光→現像→ポストベークという一連の処理を経てレジスト層に所定の回路パターンを形成する。
このような処理は、基板処理を行う各処理ユニットを搬送路の両側にプロセスフローを意識した形態で配置し、搬送路を走行可能な基板搬送装置により各処理ユニットへの被処理基板の搬入出を行うプロセスブロックを一または複数配置してなる処理システムにより行われている。このような処理システムは、基本的にランダムアクセスであるから処理の自由度が極めて高い。
前記基板搬送装置においては通常、被処理基板を載置するためのアーム部材を備えている。このアーム部材は、各処理ユニットへの被処理基板の搬入出を行うため、XYZ方向に移動すると共に、水平方向に旋回自在に設けられる。
ところで、前記アーム部材上に被処理基板を載置し、各処理ユニットへ基板を搬入する際、アーム部材と基板との間に隙間、あるいはがたつきが生じると、基板が傾斜して基板搬入ミスが生じ、歩留まりが低下するおそれがある。そこで、アーム部材の上面に、基板を吸着保持するための複数の吸着パッドを設け、基板とアーム部材との間の吸着性を向上しようとする基板搬送装置が提案されている。
そのような基板搬送装置については例えば特許文献1(特開平10−316242号公報)に開示されている。
特開平10−316242号公報(第3頁右欄段落16乃至第4頁右欄段落21、第2図)
ところで近年においては、大型ディスプレイ等の需要増大に伴い、LCD基板等の被処理基板が大型化している。前記したような吸着パッドを有するアーム部材によれば、自重による湾曲が生じないような小さな被処理基板には十分対応することができるが、大型の被処理基板に対しては、その自重により、基板に反りやうねりが生じやすく、その影響により、すべての吸着パッドで基板面を同時に吸着することができないという問題があった。
すなわち、基板に反り等が生じた際、吸着パッドがその反りに沿って適正に傾斜等しないために基板を適切に吸着することができなかった。その結果、さらに基板が傾斜し、がたつきが生じ、基板が損傷することがあった。
本発明は、前記したような事情の下になされたものであり、被処理基板をアーム部材に載置し、基板処理部に対して基板の搬入出を行う基板搬送装置において、大型の被処理基板であっても、アーム部材上に設けた吸着パッドにより確実に基板面を吸着し、基板をがたつかせることなく確実に保持することのできる基板搬送装置を提供することを目的とする。
前記した課題を解決するために、本発明に係る基板搬送装置は、複数の吸着パッドを有するアーム部材を備え、前記吸着パッド上に被処理基板を載置し、基板処理部に対して被処理基板の搬入出を行う基板搬送装置において、前記吸着パッドを振動させる振動手段と、前記振動手段を駆動する振動駆動手段と、前記振動駆動手段の動作制御を行う制御手段とを備え、前記制御手段は、前記吸着パッド上に被処理基板を載置する際、前記振動駆動手段により前記振動手段を作動させ、吸着パッドを振動させることが望ましい。
このように構成すれば、アーム部材上に基板が載置された際、振動手段、すなわち磁石及びコイルにより吸着パッドを振動させることができる。これにより、大型の基板を載置した際、従来、載置しただけでは適正に傾斜しなかった吸着パッドと基板面とを接触させることができ、また、接触させることによって、基板面を吸着パッドに吸着させることができる。
したがって、アーム部材上のすべての吸着パッドにより基板面を吸着し、基板を確実に保持することができるため、基板搬送の際の基板の傾斜、がたつき等を抑制することができる。
なお、前記振動手段は、前記吸着パッドに設けられたリード弁を有し、前記振動駆動手段は、前記リード弁に対し、空気の導出または空気の吸引を行うことによりリード弁を振動させ、吸着パッドを振動させるようにしてもよい。
あるいは、前記振動手段は、前記吸着パッドに設けられた風受け部材を有し、前記振動駆動手段は、前記風受け部材に対し、空気を導出することにより風受け部材を振動させ、吸着パッドを振動させるようにしてもよい。
あるいは、前記振動手段は、前記アーム部材を振動させることにより、前記吸着パッドを振動させるようにしてもよい。
また、あるいは、前記吸着パッドの吸着面には空気の導出または空気の吸引を行う開口部が形成され、前記振動駆動手段は、前記開口部を介して導出動作または吸引動作を行うことにより、前記吸着パッドを振動させるようにしてもよい。
その際、前記開口部を介して導出動作または吸引動作を行う制御は、前記制御手段により、複数の吸着パッドのそれぞれについて個別に行われることが好ましい。
また、前記制御手段は、前記導出動作を行う際、空気の導出と停止とが周期的に繰り返されるよう前記振動駆動手段を制御することが望ましく、前記吸引動作を行う際、空気の吸引と停止とが周期的に繰り返されるよう前記振動駆動手段を制御することが望ましい。
前記いずれの振動手段によっても、吸着パッドを効果的に振動させることができる。したがって、大型の基板を載置した際、従来、載置しただけでは適正に傾斜しなかった吸着パッドと基板面とを接触させることができ、また、接触させることによって、基板面を吸着パッドに吸着させることができる。
本発明によれば、被処理基板をアーム部材に載置し、基板処理部に対して基板の搬入出を行う基板搬送装置において、大型の被処理基板であっても、アーム部材上に設けたすべての吸着パッドにより確実に基板面を吸着し、基板をがたつかせることなく確実に保持することのできる基板搬送装置を得ることができる。
以下、本発明にかかる第一の実施の形態につき、図に基づいて説明する。図1は、本発明に係る基板搬送装置を備えるレジスト塗布現像処理装置の全体構成を示す平面図である。
このレジスト塗布現像処理装置100は、被処理基板である複数のLCD基板G(以下、基板Gと呼ぶ)を収容する複数のカセットCを載置するカセットステーション1と、基板Gに処理液であるレジスト液の塗布および現像を含む一連の処理を施すための複数の処理ユニットを備えた処理ステーション2と、露光装置4との間で基板Gの受け渡しを行うためのインタフェイスステーション3とを備えている。
また、前記処理ステーション2の両端に、前記カセットステーション1およびインタフェイスステーション3が夫々配置されている。また、図1において、レジスト塗布現像処理装置100の長手方向をX方向、平面上においてX方向と直交する方向をY方向とする。
カセットステーション1は、カセットCと処理ステーション2との間で基板Gの搬入出を行うために、本発明にかかる基板搬送装置11を備えている。この基板搬送装置11は後述するアーム部材を有し、カセットCの配列方向であるY方向に沿って設けられた搬送路10上を移動可能であり、前記アーム部材によってカセットCと処理ステーション2との間で基板Gの搬入出が行われる。
なお、本発明にかかる基板搬送装置は、基板搬送装置11のみならず、レジスト塗布現像処理装置100においてアーム部材により基板搬送を行うすべての基板搬送装置に適用される。
処理ステーション2は、X方向に伸びる基板G搬送用の平行な2列の搬送ラインA、Bを有しており、搬送ラインAに沿ってカセットステーション1側からインタフェイスステーション3に向けてスクラブ洗浄処理ユニット(SCR)21、第1の熱処理ユニットセクション26、レジスト処理ユニット23および第2の熱処理ユニットセクション27の一部が配列されている。
なお、スクラブ洗浄処理ユニット(SCR)21の上の一部にはエキシマUV照射ユニット(e−UV)22が設けられている。
また、搬送ラインBに沿ってインタフェイスステーション3側からカセットステーション1に向けて第2の熱処理ユニットセクション27の一部、現像処理ユニット(DEV)24、i線UV照射ユニット(i−UV)25および第3の熱処理ユニット28が配列されている。
また、処理ステーション2では、前記2列の搬送ラインA,Bを構成するように、且つ基本的に処理の順になるように各処理ユニットおよび基板搬送装置が配置されており、これら搬送ラインA、Bの間には、空間部40が設けられている。そして、この空間部40を往復移動可能に基板搬送装置としてのシャトル41が設けられている。このシャトル41はアーム部材により基板Gを保持可能に構成されており、搬送ラインA、Bとの間で基板Gが受け渡し可能となっている。
また、インタフェイスステーション3は、処理ステーション2と露光装置4との間で基板Gの搬入出を行う基板搬送装置42と、バッファカセットを配置するバッファステージ(BUF)43と、冷却機能を備えた基板受け渡し部であるエクステンション・クーリングステージ(EXT・COL)44とを有しており、タイトラ(TITLER)と周辺露光装置(EE)とが上下に積層された外部装置ブロック45が基板搬送装置42に隣接して設けられている。なお、基板搬送装置42はアーム部材42aを備え、このアーム部材42aにより処理ステーション2と露光装置4との間で基板Gの搬入出が行われる。
このように構成されたレジスト塗布現像装置100においては、まず、カセットステーション1に配置されたカセットC内の基板Gが、基板搬送装置11により処理ステーション2に搬入された後、先ず、エキシマUV照射ユニット(e―UV)22によるスクラブ前処理、スクラブ洗浄処理ユニット(SCR)21によるスクラブ洗浄処理が行なわれる。
次いで、基板Gは、第1の熱処理ユニットセクション26に属する熱処理ユニットブロック(TB)31、32に搬入され、一連の熱処理(脱水ベーク処理、疎水化処理等)が行われる。なお、第1の熱処理ユニットセクション26内における基板搬送はアーム部材を有する基板搬送装置33により行われる。
その後、基板Gはレジスト塗布処理ユニット23に搬入され、レジスト液の膜形成処理が施される。このレジスト塗布処理ユニット23では、先ずレジスト塗布装置(CT)23aにおいて基板Gにレジスト液が塗布され、次いで減圧乾燥ユニット(VD)23bにおいて減圧乾燥処理がなされる。
レジスト塗布処理ユニット23でのレジスト成膜処理後、基板Gは、第2の熱処理ユニットセクション27に属する熱処理ユニットブロック(TB)34、35に搬入され、一連の熱処理(プリベーク処理等)が行われる。なお、第2の熱処理ユニットセクション27内における基板搬送はアーム部材を有する基板搬送装置36により行われる。
次いで、基板Gは基板搬送装置36によりインタフェイスステーション3のエクステンション・クーリングステージ(EXT・COL)44へ搬送され、基板搬送装置42により外部装置ブロック45の周辺露光装置(EE)に搬送される。そこで基板Gに対し、周辺レジスト除去のための露光が行われ、次いで基板搬送装置42により露光装置4に搬送され、基板G上のレジスト膜が露光されて所定のパターンが形成される。なお、場合によってはバッファステージ(BUF)43上のバッファカセットに基板Gを収容してから露光装置4に搬送される。
露光終了後、基板Gはインタフェイスステーション3の基板搬送装置42により外部装置ブロック45の上段のタイトラ(TITLER)に搬送されて基板Gに所定の情報が記される。その後、基板Gはエクステンション・クーリングステージ(EXT・COL)44に載置され、そこから再び処理ステーション2に搬送される。そして例えばコロ搬送機構により基板Gが現像処理ユニット(DEV)24へ搬送され、そこで現像処理が施される。
現像処理終了後、基板Gは現像処理ユニット(DEV)24からi線UV照射ユニット(i−UV)25に搬入され、基板Gに対して脱色処理が施される。その後、基板Gは第3の熱処理ユニットセクション28に搬入され、熱処理ユニットブロック(TB)37、38において一連の熱処理(ポストベーク処理等)が施される。なお、第3の熱処理ユニットセクション28内における基板搬送はアーム部材を有する基板搬送装置39によって行われる。
そして基板Gは、第3の熱処理ユニットセクション28において所定温度に冷却された後、カセットステーション1の基板搬送装置11によって所定のカセットCに収容される。
続いて、本発明にかかる基板搬送装置について説明する。前記したように、本発明にかかる基板搬送装置は、レジスト塗布現像処理装置100においてアーム部材により基板搬送を行うすべての基板搬送装置、すなわち、基板搬送装置11、33、36、39、42、シャトル41のそれぞれに適用される。
以下においては、本発明にかかる基板搬送装置としての前記基板搬送装置11、33、36、39、42、シャトル41のうち、基板搬送装置11を例に挙げ、説明を行う。
図2は、基板搬送装置11の全体構成を示す斜視図である。基板搬送装置11は、ベース50の前面に取り付けられた2本のアーム部材51を備える。
ベース50は、図2において、ベース50を水平方向に移動させてアーム部材51を前進及び後退させる進退機構52に支持される。進退機構52は、その下面を回転自在かつ昇降自在に構成された回転昇降機構53によって支持されている。さらに、回転昇降機構53は、空間部40に敷設されたレール54に沿ってX軸方向に移動する横移動機構55上に設けられている。
このような構成により、ベース50は、XY方向に移動し、かつ、垂直方向(Z方向)に昇降すると共に、垂直軸を中心に水平方向に旋回するようになされている。
次にアーム部材51について、図3及び図4に基づき詳細に説明する。図3は、図2のシャトルの平面図、図4は、図3に示すアーム部材のD−D断面図である。
図3に示すように、アーム部材51の上面には、複数の吸着パッド56が設けられる。それら複数の吸着パッド56には、後述する振動手段が設けられており、その振動手段は振動駆動手段57によって作動するように構成されている。また、振動駆動手段57は、制御手段58によって、その動作が制御される。
この構成において、アーム部材51の吸着パッド56上に基板Gを載置した際、制御手段58が振動駆動手段57に駆動命令を発行し、振動駆動手段57が吸着パッド56に設けられた振動手段を作動させるようになされている。
ここで、吸着パッド56および前記振動手段について図4に基づき説明する。図4の断面図に示すように、各吸着パッド56は、アーム部材51上に形成された円形状の凹部51aに設けられる。凹部51aには、その中央が開口したベース部材80が設けられ、その開口部分にパッド本体60を支持するパッド支持部材61が設置されている。
樹脂部材等により形成されたパッド支持部材61は、略円筒形状であって、その周囲には電気導線が巻きつけられることによりコイル62が設けられている。さらに、コイル62が設けられた部位の上方には、蛇腹形状等による伸縮部61aが形成され、支持するパッド本体60が振動し易くなされている。
また、アーム部材51の下部には、前記振動駆動手段57に接続された電気的配線63が設けられている。電気的配線63からは、配線63a、63bが引き出され、それら2本の配線はそれぞれコイル62の端部に接続されている。
また、ベース部材80上であって、パッド支持部材61の周りには、ドーナツ形状の磁石64が固定設置される。
すなわち、電気的配線63を介しコイル62に電流を流すことによって磁界を発生させ、固定された磁石64により発生する磁界と反発させることによってパッド本体60を振動させるように構成されている。このように、磁石64及びコイル62により振動手段が構成される。
また、アーム部材51の凹部51aの底面には開口部51bが形成され、パッド本体60には開口部60aが形成されている。すなわち、開口部51bから開口部60aまでが連通状態となっている。開口部51bの側面には連通孔(図示せず)が形成されており、その連通孔に接続された吸引手段(図示せず)による空気の吸引動作により、パッド本体60上の基板Gが吸着し易くなされている。
このような構成において、吸着パッド56上に基板Gが載置されると、前記したように振動駆動手段57が振動手段を振動させる。すなわち、振動駆動手段57は、電気的配線63に電流を供給し、コイル62を振動させる。その結果、パッド支持部材61に支持されたパッド本体60が振動する。
従来であれば、アーム部材51に大型の基板Gが載置されると、すべての吸着パッド56に基板面が吸着せず、一部の吸着パッド56と基板面との間に隙間が生じるおそれがあった。しかしながら、前記構成によれば、吸着パッド56が振動することによって、載置しただけでは適正に傾斜しなかった吸着パッドと、基板面とを接触させることができ、また、接触させることによって、基板面を吸着パッド56に吸着させることができる。
以上説明した第一の実施の形態によれば、アーム部材51上のすべての吸着パッド56により基板面が吸着され、基板Gを確実に保持することができるため、基板搬送の際の基板の傾斜、がたつき等を抑制することができる。その結果、歩留まり、及び生産性を向上することができる。
続いて、本発明にかかる基板搬送装置の第二の実施の形態について説明する。なお、第二の実施の形態においては、前記第一の実施形態とは、吸着パッド56の構成、及び振動駆動手段57の動作内容のみが異なるため、その他の共通部分については、同じ符号で示し、その詳細な説明は省略する。また、以下の説明においては、第一の実施の形態の説明に用いた図1乃至図3を適用するものとする。
図5は、図3のアーム51におけるD−D断面図であり、第二の実施形態における吸着パッド56の断面を示している。
図5において、アーム部材51上に形成された凹部51aには、その中央が開口したベース部材81、82が設けられ、ベース部材81、82により、パッド本体60を支持するパッド支持部材65が固定されている。
弾性体、例えばゴム部材等により形成されたパッド支持部材65は、略円筒形状であって、その開口した上面には、リード弁66の一端66aが取り付けられている。このリード弁66の多端66bは開放されており、リード弁66の下面に対し空気の導出あるいは空気の吸引を行うことにより、リード弁66が振動するように構成されている。
また、リード弁66の下方には、リード弁66の下面に対し空気の導出あるいは空気の吸引を行うための通風管67が設けられ、この通風管67は振動駆動手段57に接続されている。なお、第二の実施の形態においては、リード弁66、通風管67により、振動手段が構成されている。
このような構成において、吸着パッド56上に基板Gが載置されると、前記したように振動駆動手段57が振動手段を振動させる。すなわち、振動駆動手段57は、通風管66に対し空気の導出あるいは吸引動作を行い、リード弁66を振動させる。その結果、パッド支持部材61に支持されたパッド本体60が振動する。
従来であれば、アーム部材51に大型の基板Gが載置されると、すべての吸着パッド56に基板面が吸着せず、一部の吸着パッド56と基板面との間に隙間が生じるおそれがあった。しかしながら、前記構成によれば、吸着パッド56が振動することによって、載置しただけでは適正に傾斜しなかった吸着パッドと、基板面とを接触させることができ、また、接触させることによって、基板面を吸着パッド56に吸着させることができる。
以上説明した第二の実施の形態によれば、第一の実施の形態と同様に、アーム部材51上のすべての吸着パッド56により基板面を吸着し、基板Gを確実に保持することができるため、基板搬送の際の基板の傾斜、がたつき等を抑制することができる。その結果、歩留まり、及び生産性を向上することができる。
続いて、本発明にかかる基板搬送装置の第三の実施の形態について説明する。なお、第三の実施の形態においては、前記第一の実施形態とは、吸着パッド56の構成、及び振動駆動手段57の動作内容のみが異なるため、その他の共通部分については、同じ符号で示し、その詳細な説明は省略する。また、以下の説明においては、第一の実施の形態の説明に用いた図1乃至図3を適用するものとする。
図6は、図3のアーム51におけるD−D断面図であり、第三の実施形態における吸着パッド56の断面を示している。
図6において、アーム部材51上に形成された凹部51aには、その中央が開口したベース部材83、82が設けられ、ベース部材83、82により、パッド本体60を支持するパッド支持部材68が固定されている。
前記パッド本体60の周縁部には、その下方から導出されるエアを受け止めるための風受け部60bが形成されている。そして、前記ベース部材83を貫通して、エア導出路69が設けられ、前記風受け部60bに対し例えば周期的に空気の導出と停止を繰り返し、パッド本体60を振動させるようになされている。
また、前記エア導出路69は、振動駆動手段57に接続され、振動駆動手段57がエア導出路69に空気を供給するように構成されている。なお、第三の実施の形態においては、風受け部60b、エア導出路69により、振動手段が構成されている。
このような構成において、吸着パッド56上に基板Gが載置されると、前記したように振動駆動手段57が振動手段を振動させる。すなわち、振動駆動手段57は、エア導出路69から空気の導出を行い、パッド本体60を振動させる。
このように、前記構成によれば、吸着パッド56が振動することによって、載置しただけでは適正に傾斜しなかった吸着パッドと、基板面とを接触させることができ、また、接触させることによって、基板面を吸着パッド56に吸着させることができる。
以上説明した第三の実施の形態によっても、アーム部材51上のすべての吸着パッド56により基板面を吸着し、基板Gを確実に保持することができるため、基板搬送の際の基板の傾斜、がたつき等を抑制することができる。その結果、歩留まり、及び生産性を向上することができる。
続いて、本発明にかかる基板搬送装置の第四の実施の形態について説明する。なお、第四の実施の形態においては、前記第一の実施形態とは、吸着パッド56の構成、及び振動駆動手段57の動作内容のみが異なるため、その他の共通部分については、同じ符号で示し、その詳細な説明は省略する。また、以下の説明においては、第一の実施の形態の説明に用いた図1乃至図3を適用するものとする。
図7は、図3のアーム51におけるD−D断面図であり、第四の実施形態における吸着パッド56の断面を示している。
図7において、アーム部材51上に形成された凹部51aには、その中央が開口したベース部材81、82が設けられ、ベース部材81、82により、パッド本体60を支持する略円筒形のパッド支持部材70が固定されている。
また、アーム部材51の凹部51aの底面には開口部51bが形成され、パッド本体60には開口部60aが形成されている。すなわち、開口部51bから開口部60aまでが連通状態となっている。
開口部51bには、エア吸引路及びエア導出路(図示せず)を介して振動駆動手段57に接続されており、パッド本体60の開口部60aから空気の吸引または空気の導出を行うように構成されている。そして、振動駆動手段57は、周期的(脈動的)に、パッド本体60の開口部60aから空気の吸引と停止、あるいは空気の導出と停止を繰り返すことにより、パッド本体60を振動させるようになされている。なお、第四の実施の形態においては、パッド本体60が振動手段として機能する。
このような構成において、吸着パッド56上に基板Gが載置されると、前記したように振動駆動手段57が振動手段を振動させる。すなわち、振動駆動手段57は、エア吸引路及びエア導出路(図示せず)を介して空気の吸引と停止、あるいは空気の導出と停止を周期的に繰り返し、パッド本体60を振動させる。
以上説明した第四の実施の形態によれば、アーム部材51上に基板Gが載置された際、振動手段としてのパッド本体60を周期的(脈動的)な空気の吸引、あるいは空気の導出動作により振動させる。これにより、大型の基板Gを載置した際、従来、載置しただけでは適正に傾斜しなかった吸着パッドと、基板面とを接触させることができ、また、接触させることによって、基板面を吸着パッド56に吸着させることができる。
したがって、アーム部材51上のすべての吸着パッド56により基板面を吸着し、基板Gを確実に保持することができるため、基板搬送の際の基板の傾斜、がたつき等を抑制することができる。その結果、歩留まり、及び生産性を向上することができる。
なお、前記第四の実施の形態において、アーム部材51上に設けられた複数の吸着パッド56について、そのパッド本体60の開口部60aからの空気の吸引動作と空気の導出動作は、各吸着パッド56で別個に制御するようにしてもよい。すなわち、一方の吸着パッドでは、空気の吸引動作を行い、他方の吸着パッドでは空気の導出動作を行うようにしてもよい。
また、前記第一乃至第四の実施の形態においては、各吸着パッド56が振動手段を有する構成を示したが、それに本発明にかかる基板搬送装置にあっては、それに限定されるものではない。例えば、図2に示した進退機構52や回転昇降機構53を振動手段とし、それらを駆動してアーム部材51を振動させ、その結果として各吸着パッド56を振動させるように構成してもよい。
また、前記第一乃至第四の実施の形態においては、基板搬送装置11のアーム部材56を例に説明したが、第一乃至第四の実施の形態で説明したアーム部材56の構成は、その他のアーム部材を備える基板搬送装置、すなわち、基板搬送装置33、36、39、42、シャトル41のそれぞれにも適用することができる。
なお、前記した実施の形態においては、本発明にかかる基板搬送装置を具備する基板処理装置としてLCD基板にレジスト膜を塗布形成する装置を例としたが、これに限らず任意の基板処理装置に適用可能である。また、本発明における被処理基板は、LCD基板に限らず、半導体ウエハ、CD基板、ガラス基板、フォトマスク、プリント基板等も可能である。
本発明は、LCD基板や半導体ウエハ等をアーム部材により搬送する任意の基板搬送装置に適用でき、半導体製造業界、電子デバイス製造業界等において好適に用いることができる。
図1は、本発明に係る基板搬送装置を備えるレジスト塗布現像処理装置の全体構成を示す平面図である。 図2は、基板搬送装置としてのシャトルの全体構成を示す斜視図である。 図3は、図2のシャトルの平面図である。 図4は、第一の実施の形態において、図3に示すアーム部材のD−D断面図である。 図5は、第二の実施の形態において、図3に示すアーム部材のD−D断面図である。 図6は、第三の実施の形態において、図3に示すアーム部材のD−D断面図である。 図7は、第四の実施の形態において、図3に示すアーム部材のD−D断面図である。
符号の説明
50 ベース
51 アーム部材
52 進退機構
53 回転昇降機構
54 レール
55 横移動機構
56 吸着パッド
57 振動駆動手段
58 制御手段
60 パッド本体
61 パッド支持部材
62 コイル(振動手段)
63 電気的配線
64 磁石(振動手段)
65 パッド支持部材
66 リード弁(振動手段)
67 通風管
68 パッド支持部材
69 エア導出路
70 パッド支持部材
100 レジスト塗布現像処理装置
G LCD基板(被処理基板)
R レジスト液(処理液)

Claims (9)

  1. 複数の吸着パッドを有するアーム部材を備え、前記吸着パッド上に被処理基板を載置し、基板処理部に対して被処理基板の搬入出を行う基板搬送装置において、
    前記吸着パッドを振動させる振動手段と、前記振動手段を駆動する振動駆動手段と、前記振動駆動手段の動作制御を行う制御手段とを備え、
    前記制御手段は、前記吸着パッド上に被処理基板を載置する際、前記振動駆動手段により前記振動手段を作動させ、吸着パッドを振動させることを特徴とする基板搬送装置。
  2. 前記振動手段は、前記吸着パッドに設けられた磁石とコイルとを有し、前記振動駆動手段は、前記コイルに電流を供給して磁界を発生させ、磁石の磁界との反発力により、吸着パッドを振動させることを特徴とする請求項1に記載された基板搬送装置。
  3. 前記振動手段は、前記吸着パッドに設けられたリード弁を有し、前記振動駆動手段は、前記リード弁に対し、空気の導出または空気の吸引を行うことによりリード弁を振動させ、吸着パッドを振動させることを特徴とする請求項1に記載された基板搬送装置。
  4. 前記振動手段は、前記吸着パッドに設けられた風受け部材を有し、前記振動駆動手段は、前記風受け部材に対し、空気を導出することにより風受け部材を振動させ、吸着パッドを振動させることを特徴とする請求項1に記載された基板搬送装置。
  5. 前記振動手段は、前記アーム部材を振動させることにより、前記吸着パッドを振動させることを特徴とする請求項1に記載された基板搬送装置。
  6. 前記吸着パッドの吸着面には空気の導出または空気の吸引を行う開口部が形成され、前記振動駆動手段は、前記開口部を介して導出動作または吸引動作を行うことにより、前記吸着パッドを振動させることを特徴とする請求項1に記載された基板搬送装置。
  7. 前記開口部を介して導出動作または吸引動作を行う制御は、前記制御手段により、複数の吸着パッドのそれぞれについて個別に行われることを特徴とする請求項6に記載された基板搬送装置。
  8. 前記制御手段は、前記導出動作を行う際、空気の導出と停止とが周期的に繰り返されるよう前記振動駆動手段を制御することを特徴とする請求項6または請求項7に記載された基板搬送装置。
  9. 前記制御手段は、前記吸引動作を行う際、空気の吸引と停止とが周期的に繰り返されるよう前記振動駆動手段を制御することを特徴とする請求項6乃至請求項8のいずれかに記載された基板搬送装置。
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008073788A (ja) * 2006-09-20 2008-04-03 Yaskawa Electric Corp 基板吸着装置およびそれを用いた基板搬送ロボット
JP2008282870A (ja) * 2007-05-08 2008-11-20 Mitsubishi Cable Ind Ltd 搬送アーム用パッド
JP2010240805A (ja) * 2009-04-09 2010-10-28 Ihi Corp ロボットハンド及び移送ロボット
CN102795502A (zh) * 2012-09-06 2012-11-28 东莞市五株电子科技有限公司 基板输送取放方法
JP2015153970A (ja) * 2014-02-18 2015-08-24 キヤノン株式会社 基板保持機構、基板搬送装置および基板搬送方法
CN105072820A (zh) * 2015-08-31 2015-11-18 广州超音速自动化科技股份有限公司 自动上下料装置
WO2018120244A1 (zh) * 2016-12-31 2018-07-05 深圳市配天机器人技术有限公司 一种柔性电路板的喷砂流水线系统及下料设备
CN112750745A (zh) * 2019-10-29 2021-05-04 佳能特机株式会社 基板剥离装置、基板处理装置以及基板剥离方法
CN112750744A (zh) * 2019-10-29 2021-05-04 佳能特机株式会社 基板保持构件、基板保持装置以及基板保持方法
JP2021072321A (ja) * 2019-10-29 2021-05-06 キヤノントッキ株式会社 基板保持装置、基板処理装置、基板保持方法、成膜方法、及び電子デバイスの製造方法
JP2021536032A (ja) * 2018-08-23 2021-12-23 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 基板サポート、リソグラフィ装置、基板検査装置、デバイス製造方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101259920B (zh) * 2007-03-05 2011-11-09 京元电子股份有限公司 具弹性垫的芯片吸嘴结构及其制造方法
CN109205305B (zh) * 2018-08-07 2020-05-12 河北盛世天昕电子科技有限公司 一种吸物机械手的控制方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1168312A (en) * 1967-03-31 1969-10-22 Elektromat Veb Method and apparatus for Removing Small Laminar Objects capable of being Stacked
JP3099254B2 (ja) * 1994-02-28 2000-10-16 安藤電気株式会社 浮動機構つき吸着ハンドおよび搬送接触機構
JP3400929B2 (ja) * 1997-07-01 2003-04-28 アルプス電気株式会社 チップ部品装着装置
DE10108369A1 (de) * 2001-02-21 2002-08-29 B L E Lab Equipment Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Ablösen eines Halbleiterwafers von einem Träger
TW550651B (en) * 2001-08-08 2003-09-01 Tokyo Electron Ltd Substrate conveying apparatus, substrate processing system, and substrate conveying method

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008073788A (ja) * 2006-09-20 2008-04-03 Yaskawa Electric Corp 基板吸着装置およびそれを用いた基板搬送ロボット
JP2008282870A (ja) * 2007-05-08 2008-11-20 Mitsubishi Cable Ind Ltd 搬送アーム用パッド
JP2010240805A (ja) * 2009-04-09 2010-10-28 Ihi Corp ロボットハンド及び移送ロボット
CN102795502A (zh) * 2012-09-06 2012-11-28 东莞市五株电子科技有限公司 基板输送取放方法
CN102795502B (zh) * 2012-09-06 2016-01-20 东莞市威力固电路板设备有限公司 基板输送取放方法
JP2015153970A (ja) * 2014-02-18 2015-08-24 キヤノン株式会社 基板保持機構、基板搬送装置および基板搬送方法
CN105072820A (zh) * 2015-08-31 2015-11-18 广州超音速自动化科技股份有限公司 自动上下料装置
WO2018120244A1 (zh) * 2016-12-31 2018-07-05 深圳市配天机器人技术有限公司 一种柔性电路板的喷砂流水线系统及下料设备
JP7203194B2 (ja) 2018-08-23 2023-01-12 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 基板サポート、リソグラフィ装置、基板検査装置、デバイス製造方法
JP2021536032A (ja) * 2018-08-23 2021-12-23 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 基板サポート、リソグラフィ装置、基板検査装置、デバイス製造方法
JP2021072323A (ja) * 2019-10-29 2021-05-06 キヤノントッキ株式会社 基板剥離装置、基板処理装置、及び基板剥離方法
JP7057335B2 (ja) 2019-10-29 2022-04-19 キヤノントッキ株式会社 基板保持装置、基板処理装置、基板保持方法、成膜方法、及び電子デバイスの製造方法
JP2021072322A (ja) * 2019-10-29 2021-05-06 キヤノントッキ株式会社 基板保持部材、基板保持装置、基板処理装置、基板保持方法、成膜方法、及び電子デバイスの製造方法
KR20210052265A (ko) * 2019-10-29 2021-05-10 캐논 톡키 가부시키가이샤 기판 박리 장치, 기판 처리 장치, 및 기판 박리 방법
KR20210052264A (ko) * 2019-10-29 2021-05-10 캐논 톡키 가부시키가이샤 기판 보유지지 부재, 기판 보유지지 장치, 기판 처리 장치, 기판 보유지지 방법, 성막 방법, 및 전자 디바이스의 제조 방법
CN112750744A (zh) * 2019-10-29 2021-05-04 佳能特机株式会社 基板保持构件、基板保持装置以及基板保持方法
JP7057336B2 (ja) 2019-10-29 2022-04-19 キヤノントッキ株式会社 基板保持部材、基板保持装置、基板処理装置、基板保持方法、成膜方法、及び電子デバイスの製造方法
JP2021072321A (ja) * 2019-10-29 2021-05-06 キヤノントッキ株式会社 基板保持装置、基板処理装置、基板保持方法、成膜方法、及び電子デバイスの製造方法
JP7057337B2 (ja) 2019-10-29 2022-04-19 キヤノントッキ株式会社 基板剥離装置、基板処理装置、及び基板剥離方法
CN112750745A (zh) * 2019-10-29 2021-05-04 佳能特机株式会社 基板剥离装置、基板处理装置以及基板剥离方法
KR102498153B1 (ko) * 2019-10-29 2023-02-08 캐논 톡키 가부시키가이샤 기판 보유지지 부재, 기판 보유지지 장치, 기판 처리 장치, 기판 보유지지 방법, 성막 방법, 및 전자 디바이스의 제조 방법
KR102501606B1 (ko) * 2019-10-29 2023-02-17 캐논 톡키 가부시키가이샤 기판 박리 장치, 기판 처리 장치, 및 기판 박리 방법
CN112750744B (zh) * 2019-10-29 2023-06-27 佳能特机株式会社 基板保持装置以及基板保持方法
CN112750745B (zh) * 2019-10-29 2023-07-25 佳能特机株式会社 基板剥离装置、基板处理装置以及基板剥离方法

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