JP2006020171A - 差動型コンパレータ、アナログ・デジタル変換装置、撮像装置 - Google Patents
差動型コンパレータ、アナログ・デジタル変換装置、撮像装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006020171A JP2006020171A JP2004197329A JP2004197329A JP2006020171A JP 2006020171 A JP2006020171 A JP 2006020171A JP 2004197329 A JP2004197329 A JP 2004197329A JP 2004197329 A JP2004197329 A JP 2004197329A JP 2006020171 A JP2006020171 A JP 2006020171A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- analog
- input
- differential comparator
- offset
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/06—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
- H03M1/0602—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of deviations from the desired transfer characteristic
- H03M1/0604—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of deviations from the desired transfer characteristic at one point, i.e. by adjusting a single reference value, e.g. bias or gain error
- H03M1/0607—Offset or drift compensation
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/75—Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
Abstract
【解決手段】 コラムADC回路60において、光電変換信号等のアナログ信号(ADC−in)とランプ波形信号RampVを比較する差動型コンパレータ61および62を多段に設け、差動型コンパレータ62の出力にてインバータ69を介してカウンタ71のラッチ回路70を制御することで、アナログ信号のカウンタ値のデジタル信号に変換するとともに、個々の差動型コンパレータ61,62には、入力側および出力側と出力側を短絡するスイッチS1、短絡時のオフセット電圧を保持する容量素子C1,C2からなるオフセットキャンセル機能を設け、C1,C2にオフセットがキャンセルされたADC−inの電圧を保持してランプ波形信号RampVとの比較精度を向上させ、正確なデジタル変換を行う。
【選択図】図1
Description
本発明の他の目的は、より少ない消費電流で、高精度のアナログ・デジタル変換を実現することが可能なアナログ・デジタル変換装置を提供することにある。
前記第1または第2入力端子の前記差動型コンパレータ側に設けられたオフセット容量素子と、前記オフセット容量素子を含む閉ループを形成するように前記第1および第2入力端子を短絡する第1スイッチと、前記オフセット容量素子と差動型コンパレータの接続点と前記出力端子とを短絡する第2スイッチとを含むオフセットキャンセル機能を備えた差動型コンパレータを提供する。
前記差動型コンパレータは、前記第1入力端子の前記差動型コンパレータ側に設けられたオフセット容量素子と、前記オフセット容量素子を含む閉ループを形成するように前記第1および第2入力端子を短絡する第1スイッチと、前記オフセット容量素子と差動型コンパレータの接続点と前記出力端子とを短絡する第2スイッチとを含むオフセットキャンセル機能を備えたアナログ・デジタル変換装置を提供する。
前記アナログ・デジタル変換器は、
第1および第2入力端子の各々に入力される前記光電変換信号および基準信号の信号レベルの一致/不一致に応じて出力端子に正および/または負の論理信号を出力する差動型コンパレータと、
前記第1入力端子に設けられたオフセット容量素子と、前記オフセット容量素子を含む閉ループを形成するように前記第1および第2入力端子を短絡する第1スイッチと、前記出力端子と前記オフセット容量素子が設けられた前記第1入力端子とを短絡する第2スイッチとを含むオフセットキャンセル機能と、
を備えた撮像装置を提供する。
また、より少ない消費電流で、高精度のアナログ・デジタル変換を実現することが可能なアナログ・デジタル変換装置を提供することができる。
図1は、本発明の一実施の形態である差動型コンパレータを含むアナログ・デジタル変換装置の構成の一例を示すブロック図であり、図2は、その内部構成をより詳細に例示した回路図、図3は、本実施の形態のアナログ・デジタル変換装置を含む撮像装置の全体構成の一例を示すブロック図である。
図3に例示されるように、本実施の形態の撮像装置10は、複数のピクセル部23が行21および列22に沿って二次元的に配列されたピクセルアレイ20と、垂直走査回路31および水平走査回路32を備えている。
コラムCDS回路40は、相関二重サンプリング技術にて、ピクセル部23における光電変換素子のリセット時等に発生するノイズを光電変換信号から除去する処理が行われる。
コラムADC回路60は、ランプ波形発生回路51から得られるランプ波形信号RampVを用いて、後述のように、光電変換信号のデジタル化処理を行う。
このように、本実施の形態によれば、スイッチS1xを閉じて光電変換信号23aを入力する際に、スイッチS1を閉じて、差動型コンパレータ61を構成するトランジスタの閾値電圧を基準とする光電変換信号23aの電圧を容量素子C1,C2および信号用容量素子C3に蓄積することで、差動型コンパレータ61の閾値電圧や寄生容量等がキャンセルされるので、A点の電位が固定となり、スイッチS1およびスイッチS1xを開き、スイッチS2を閉じて比較のためのランプ波形信号RampVを入力する際に、容量素子C1の電荷変動に起因するB点の電位変動がなくなり、光電変換信号23aとランプ波形信号RampVの比較を精密に行うことが可能となる。
(付記1)
第1および第2入力端子の各々に入力される第1および第2入力信号レベルの一致/不一致に応じて出力端子に正および/または負の論理信号を出力する差動型コンパレータであって、
前記第1または第2入力端子の前記差動型コンパレータ側に設けられたオフセット容量素子と、前記オフセット容量素子を含む閉ループを形成するように前記第1および第2入力端子を短絡する第1スイッチと、前記オフセット容量素子と差動型コンパレータの接続点と前記出力端子とを短絡する第2スイッチとを含むオフセットキャンセル機能を備えたことを特徴とする差動型コンパレータ。
付記1記載の差動型コンパレータにおいて、前段の前記差動型コンパレータから出力される正および負の前記論理信号を次段の前記差動型コンパレータの前記第1および第2入力端子に入力することで、前記差動型コンパレータを多段に接続したことを特徴とする差動型コンパレータ。
付記1記載の差動型コンパレータにおいて、前記オフセット容量素子が設けられた前記第1または第2入力端子にはアナログ・デジタル変換対象のアナログ信号が入力され、他の前記第2または第1入力端子にはランプ波形信号が入力され、前記アナログ信号の入力契機から前記アナログ信号と前記ランプ波形信号のレベルが一致するまでの時間を計数するカウンタのオン/オフを前記出力端子の前記論理信号にて制御することで、前記アナログ信号を前記カウンタのカウンタ値としてデジタル変換するアナログ・デジタル変換器として機能することを特徴とする差動型コンパレータ。
第1および第2入力端子の各々に入力されるアナログ信号および基準信号の信号レベルの一致/不一致に応じて出力端子に正および/または負の論理信号を出力する差動型コンパレータと、前記論理信号にて起動および停止が制御されるカウンタとを含み、前記アナログ信号の入力契機から当該アナログ信号と前記基準信号とが一致するまでの間に前記カウンタにて計数されたカウンタ値を前記アナログ信号のデジタル変換値として出力するアナログ・デジタル変換装置であって、
前記差動型コンパレータは、前記第1入力端子の前記差動型コンパレータ側に設けられたオフセット容量素子と、前記オフセット容量素子を含む閉ループを形成するように前記第1および第2入力端子を短絡する第1スイッチと、前記オフセット容量素子と差動型コンパレータの接続点と前記出力端子とを短絡する第2スイッチとを含むオフセットキャンセル機能を備えたことを特徴とするアナログ・デジタル変換装置。
付記4記載のアナログ・デジタル変換装置において、前段の前記差動型コンパレータから出力される正および負の前記論理信号を次段の前記差動型コンパレータの前記第1および第2入力端子に入力することで、前記差動型コンパレータを多段に接続したことを特徴とするアナログ・デジタル変換装置。
付記4記載のアナログ・デジタル変換装置において、前記アナログ信号が入力される前記第1入力端子に接続され、当該アナログ信号を保持する信号用容量素子をさらに備えたことを特徴とするアナログ・デジタル変換装置。
付記4記載のアナログ・デジタル変換装置において、前記基準信号はランプ波形信号であることを特徴とするアナログ・デジタル変換装置。
各々が光電変換素子を含む複数のピクセル部が行および列方向に二次元的に配列されたピクセルアレイと、個々の前記ピクセル部から出力される光電変換信号をデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換器を含む読み出し回路を備えた撮像装置であって、
前記アナログ・デジタル変換器は、
第1および第2入力端子の各々に入力される前記光電変換信号および基準信号の信号レベルの一致/不一致に応じて出力端子に正および/または負の論理信号を出力する差動型コンパレータと、
前記第1入力端子に設けられたオフセット容量素子と、前記オフセット容量素子を含む閉ループを形成するように前記第1および第2入力端子を短絡する第1スイッチと、前記出力端子と前記オフセット容量素子が設けられた前記第1入力端子とを短絡する第2スイッチとを含むオフセットキャンセル機能と、
を備えたことを特徴とする撮像装置。
付記8記載の撮像装置において、前記アナログ・デジタル変換器は、前記論理信号にて起動および停止が制御されることで前記アナログ信号の入力契機から当該アナログ信号と前記基準信号とが一致するまでの間に前記カウンタにて計数されたカウンタ値を前記アナログ信号のデジタル変換値として出力するカウンタをさらに含むことを特徴とする撮像装置。
付記8記載の撮像装置において、前記アナログ・デジタル変換器には、前段の前記差動型コンパレータから出力される正および負の前記論理信号を次段の前記差動型コンパレータの前記第1および第2入力端子に入力することで、前記差動型コンパレータが多段に設けられていることを特徴とする撮像装置。
付記8記載の撮像装置において、前記読み出し回路は、前記アナログ・デジタル変換器の前段に配置され、相関二重サンプリングにて前記光電変換信号に含まれるノイズを除去するノイズ除去回路をさらに含むことを特徴とする撮像装置。
付記8記載の撮像装置において、前記読み出し回路は、前記ピクセル部の前記行または列単位に設けられていることを特徴とする撮像装置。
付記8記載の撮像装置において、前記基準信号は、ランプ波形信号であることを特徴とする撮像装置。
付記8記載の撮像装置において、前記撮像装置はCMOSイメージセンサであることを特徴とする撮像装置。
20 ピクセルアレイ
21 行
22 列
23 ピクセル部
23a 光電変換信号(ADC−in)
31 垂直走査回路
32 水平走査回路
40 コラムCDS回路
50 コラムAMP回路
51 ランプ波形発生回路
60 コラムADC回路(アナログ・デジタル変換装置)
61 差動型コンパレータ
61a 基準信号入力端子
61b アナログ信号入力端子
61c 出力端子
61d 出力端子
62 差動型コンパレータ
62a 入力端子
62b 入力端子
63 信号用容量素子(C3)
64 スイッチ(S1)(第1スイッチ)
64a スイッチ(S1)(第1スイッチ)
65 スイッチ(S1)(第2スイッチ)
65a スイッチ(S1)(第2スイッチ)
66 容量素子(C1)(オフセット容量素子)
66a 容量素子(C2)(オフセット容量素子)
67 スイッチ(S1x)
68 スイッチ(S2)
69 インバータ
70 ラッチ回路
71 カウンタ
80 カラープロセッサ
Q1 pMOSトランジスタ
Q2 nMOSトランジスタ
Q3 pMOSトランジスタ
Q4 nMOSトランジスタ
Q5 nMOSトランジスタ
RampV ランプ波形信号
Claims (10)
- 第1および第2入力端子の各々に入力される第1および第2入力信号レベルの一致/不一致に応じて出力端子に正および/または負の論理信号を出力する差動型コンパレータであって、
前記第1または第2入力端子の前記差動型コンパレータ側に設けられたオフセット容量素子と、前記オフセット容量素子を含む閉ループを形成するように前記第1および第2入力端子を短絡する第1スイッチと、前記オフセット容量素子と差動型コンパレータの接続点と前記出力端子とを短絡する第2スイッチとを含むオフセットキャンセル機能を備えたことを特徴とする差動型コンパレータ。 - 請求項1記載の差動型コンパレータにおいて、前段の前記差動型コンパレータから出力される正および負の前記論理信号を次段の前記差動型コンパレータの前記第1および第2入力端子に入力することで、前記差動型コンパレータを多段に接続したことを特徴とする差動型コンパレータ。
- 請求項1記載の差動型コンパレータにおいて、前記オフセット容量素子が設けられた前記第1または第2入力端子にはアナログ・デジタル変換対象のアナログ信号が入力され、他の前記第2または第1入力端子にはランプ波形信号が入力され、前記アナログ信号の入力契機から前記アナログ信号と前記ランプ波形信号のレベルが一致するまでの時間を計数するカウンタのオン/オフを前記出力端子の前記論理信号にて制御することで、前記アナログ信号を前記カウンタのカウンタ値としてデジタル変換するアナログ・デジタル変換器として機能することを特徴とする差動型コンパレータ。
- 第1および第2入力端子の各々に入力されるアナログ信号および基準信号の信号レベルの一致/不一致に応じて出力端子に正および/または負の論理信号を出力する差動型コンパレータと、前記論理信号にて起動および停止が制御されるカウンタとを含み、前記アナログ信号の入力契機から当該アナログ信号と前記基準信号とが一致するまでの間に前記カウンタにて計数されたカウンタ値を前記アナログ信号のデジタル変換値として出力するアナログ・デジタル変換装置であって、
前記差動型コンパレータは、前記第1入力端子の前記差動型コンパレータ側に設けられたオフセット容量素子と、前記オフセット容量素子を含む閉ループを形成するように前記第1および第2入力端子を短絡する第1スイッチと、前記オフセット容量素子と前記差動型コンパレータの接続点と前記出力端子とを短絡する第2スイッチとを含むオフセットキャンセル機能を備えたことを特徴とするアナログ・デジタル変換装置。 - 請求項4記載のアナログ・デジタル変換装置において、前段の前記差動型コンパレータから出力される正および負の前記論理信号を次段の前記差動型コンパレータの前記第1および第2入力端子に入力することで、前記差動型コンパレータを多段に接続したことを特徴とするアナログ・デジタル変換装置。
- 請求項4記載のアナログ・デジタル変換装置において、前記アナログ信号が入力される前記第1入力端子に接続され、当該アナログ信号を保持する信号用容量素子をさらに備えたことを特徴とするアナログ・デジタル変換装置。
- 請求項4記載のアナログ・デジタル変換装置において、前記基準信号はランプ波形信号であることを特徴とするアナログ・デジタル変換装置。
- 各々が光電変換素子を含む複数のピクセル部が行および列方向に二次元的に配列されたピクセルアレイと、個々の前記ピクセル部から出力される光電変換信号をデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換器を含む読み出し回路を備えた撮像装置であって、
前記アナログ・デジタル変換器は、
第1および第2入力端子の各々に入力される前記光電変換信号および基準信号の信号レベルの一致/不一致に応じて出力端子に正および/または負の論理信号を出力する差動型コンパレータと、
前記第1入力端子に設けられたオフセット容量素子と、前記オフセット容量素子を含む閉ループを形成するように前記第1および第2入力端子を短絡する第1スイッチと、前記出力端子と前記オフセット容量素子が設けられた前記第1入力端子とを短絡する第2スイッチとを含むオフセットキャンセル機能と、
を備えたことを特徴とする撮像装置。 - 請求項8記載の撮像装置において、前記アナログ・デジタル変換器は、前記論理信号にて起動および停止が制御されることで前記アナログ信号の入力契機から当該アナログ信号と前記基準信号とが一致するまでの間に前記カウンタにて計数されたカウンタ値を前記アナログ信号のデジタル変換値として出力するカウンタをさらに含むことを特徴とする撮像装置。
- 請求項8記載の撮像装置において、前記アナログ・デジタル変換器には、前段の前記差動型コンパレータから出力される正および負の前記論理信号を次段の前記差動型コンパレータの前記第1および第2入力端子に入力することで、前記差動型コンパレータが多段に設けられていることを特徴とする撮像装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004197329A JP2006020171A (ja) | 2004-07-02 | 2004-07-02 | 差動型コンパレータ、アナログ・デジタル変換装置、撮像装置 |
US11/008,292 US7145494B2 (en) | 2004-07-02 | 2004-12-10 | Differential comparator, analog/digital conversion apparatus and imaging apparatus |
KR1020040115075A KR100649066B1 (ko) | 2004-07-02 | 2004-12-29 | 차동형 비교기, 아날로그 ·디지털 변환 장치 및 촬상 장치 |
CN2005100016392A CN1716773B (zh) | 2004-07-02 | 2005-02-03 | 差分比较器、模数转换装置和成像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004197329A JP2006020171A (ja) | 2004-07-02 | 2004-07-02 | 差動型コンパレータ、アナログ・デジタル変換装置、撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006020171A true JP2006020171A (ja) | 2006-01-19 |
Family
ID=35513428
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004197329A Pending JP2006020171A (ja) | 2004-07-02 | 2004-07-02 | 差動型コンパレータ、アナログ・デジタル変換装置、撮像装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7145494B2 (ja) |
JP (1) | JP2006020171A (ja) |
KR (1) | KR100649066B1 (ja) |
CN (1) | CN1716773B (ja) |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006340044A (ja) * | 2005-06-02 | 2006-12-14 | Sony Corp | 固体撮像装置、固体撮像装置におけるアナログ−デジタル変換方法および撮像装置 |
WO2007052872A1 (en) * | 2005-11-07 | 2007-05-10 | Planet82 Inc. | Image sensor having current mirror and driving method thereof |
WO2007052873A1 (en) * | 2005-11-07 | 2007-05-10 | Planet82 Inc. | Image sensor with high frame |
US7554478B2 (en) | 2007-01-29 | 2009-06-30 | Samsung Electronics Co., Ltd | Single slope analog to digital converter using hysteresis property and analog to digital converting method |
KR100911228B1 (ko) | 2005-09-07 | 2009-08-06 | 후지쯔 마이크로일렉트로닉스 가부시키가이샤 | Cmos 센서 |
WO2010109815A1 (ja) * | 2009-03-24 | 2010-09-30 | コニカミノルタオプト株式会社 | 固体撮像装置 |
JP2012004989A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-01-05 | Canon Inc | Ad変換器及びそれを複数用いた固体撮像装置 |
US8111309B2 (en) | 2007-05-31 | 2012-02-07 | Fujitsu Semiconductor Limited | Solid-state image pickup device and signal processing method using solid-state image pickup device |
KR101136808B1 (ko) * | 2010-06-25 | 2012-04-13 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센서 |
US8179467B2 (en) | 2008-09-10 | 2012-05-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Analog-signal processing circuit for improving accuracy of arithmetic mean of signals |
US8957994B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-02-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | CDS circuit and analog-digital converter using dithering, and image sensor having same |
KR20180108915A (ko) * | 2011-10-21 | 2018-10-04 | 소니 주식회사 | 반도체 장치, 고체 촬상 장치, 및 카메라 시스템 |
EP3570438A1 (en) | 2018-05-11 | 2019-11-20 | OMRON Corporation | Signal processing circuit |
WO2021261229A1 (ja) * | 2020-06-23 | 2021-12-30 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光検出装置、および電子機器 |
Families Citing this family (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100809680B1 (ko) * | 2004-02-04 | 2008-03-06 | 삼성전자주식회사 | Cmos 이미지 센서의 클램프 회로 |
US20060186315A1 (en) * | 2005-02-22 | 2006-08-24 | Kany-Bok Lee | Active pixel image sensors |
US7630464B1 (en) * | 2005-04-19 | 2009-12-08 | Lattice Semiconductor Corporation | Analog-to-digital systems and methods |
KR100746197B1 (ko) * | 2005-12-08 | 2007-08-06 | 삼성전자주식회사 | 공급 전원 및 스위칭 노이즈를 제거할 수 있는 이미지센서의 기준 전압 발생기, 칼럼 아날로그-디지털 변환장치, 이미지 센서, 및 칼럼 아날로그-디지털 변환방법 |
JP4615472B2 (ja) * | 2006-04-03 | 2011-01-19 | ソニー株式会社 | 物理量分布検出装置および撮像装置 |
WO2007135153A1 (en) * | 2006-05-23 | 2007-11-29 | Thomson Licensing | Image sensor circuit |
TWI349260B (en) * | 2006-08-11 | 2011-09-21 | Realtek Semiconductor Corp | Pseudo-differential analog front end circuit and image processing device |
TWI349489B (en) * | 2006-09-07 | 2011-09-21 | Realtek Semiconductor Corp | Image processing device and method |
JP5162946B2 (ja) | 2007-04-18 | 2013-03-13 | ソニー株式会社 | データ転送回路、固体撮像素子、およびカメラシステム |
JP4458113B2 (ja) * | 2007-05-02 | 2010-04-28 | ソニー株式会社 | データ転送回路、固体撮像素子、およびカメラシステム |
US7609093B2 (en) * | 2007-08-03 | 2009-10-27 | Tower Semiconductor Ltd. | Comparator with low supply current spike and input offset cancellation |
JP4379504B2 (ja) * | 2007-08-13 | 2009-12-09 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子、およびカメラシステム |
US20090134914A1 (en) * | 2007-11-27 | 2009-05-28 | Himax Technologies Limited | Low offset comparator and offset cancellation method thereof |
US20090167362A1 (en) * | 2007-12-28 | 2009-07-02 | Industrial Technology Research Institute | Comparator |
US8305474B2 (en) * | 2008-03-21 | 2012-11-06 | STMicroelectronics (R&D) Ltd. | Analog-to-digital conversion in image sensors |
JP5407523B2 (ja) * | 2009-04-24 | 2014-02-05 | ソニー株式会社 | 積分型ad変換装置、固体撮像素子、およびカメラシステム |
KR101736330B1 (ko) * | 2010-09-03 | 2017-05-30 | 삼성전자주식회사 | 픽셀, 이미지 센서, 및 이를 포함하는 이미지 처리 장치들 |
WO2013127450A1 (en) * | 2012-02-29 | 2013-09-06 | Sabanci Üniversitesi | Self-reset asynchronous pulse frequency modulated droic with extended counting and having reduced quantization noise |
KR101965632B1 (ko) * | 2012-09-07 | 2019-04-05 | 삼성전자 주식회사 | 아날로그-디지털 변환 회로, 이를 포함하는 이미지 센서, 및 그 동작 방법 |
JP5880478B2 (ja) * | 2013-03-29 | 2016-03-09 | ソニー株式会社 | コンパレータ、固体撮像素子、電子機器、および、駆動方法 |
JP6333523B2 (ja) * | 2013-06-12 | 2018-05-30 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 表示装置 |
KR20150051422A (ko) * | 2013-11-04 | 2015-05-13 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 전류 보상 및 노이즈 제거 기능을 가지는 비교기 및 그를 이용한 아날로그-디지털 변환 장치 |
JP5771673B2 (ja) * | 2013-12-13 | 2015-09-02 | オリンパス株式会社 | 撮像装置 |
KR102245973B1 (ko) | 2014-02-17 | 2021-04-29 | 삼성전자주식회사 | 상관 이중 샘플링 회로 및 이를 포함하는 이미지 센서 |
JP6355387B2 (ja) | 2014-03-31 | 2018-07-11 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム |
CN106093822B (zh) * | 2016-07-11 | 2023-02-03 | 深圳市知用电子有限公司 | 一种差分电压探头自动校零电路 |
WO2018116540A1 (ja) * | 2016-12-21 | 2018-06-28 | オリンパス株式会社 | 逐次比較型a/d変換装置、撮像装置、内視鏡および設定方法 |
CN106921838B (zh) * | 2017-02-09 | 2020-01-17 | 天津大学 | 带有混合cds的cmos图像传感器列级adc |
CN108199700B (zh) * | 2017-12-12 | 2021-07-20 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 一种高精度的比较器电路 |
JP7225127B2 (ja) * | 2018-02-02 | 2023-02-20 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子及び電子機器 |
CN108551344B (zh) * | 2018-03-29 | 2022-04-01 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 双采样模数转化电路 |
TWI638518B (zh) * | 2018-04-02 | 2018-10-11 | 新唐科技股份有限公司 | 電子裝置及零交越失真的補償方法 |
US10852197B2 (en) | 2018-04-09 | 2020-12-01 | Nxp Usa, Inc. | Temperature sensor in an integrated circuit having offset cancellation |
CN109031925B (zh) * | 2018-06-12 | 2020-06-12 | 南京邮电大学 | 一种应用于单光子探测器的紧凑型时间-模拟转换电路 |
US10498989B1 (en) * | 2018-11-01 | 2019-12-03 | Himax Imaging Limited | Digital double sampling circuit |
CN111343397B (zh) * | 2018-12-18 | 2022-03-22 | 恒景科技股份有限公司 | 数字双重取样电路 |
CN113228516A (zh) * | 2018-12-21 | 2021-08-06 | ams有限公司 | 用于暗计数消除的传感器装置和方法 |
KR20200085456A (ko) * | 2019-01-07 | 2020-07-15 | 삼성전자주식회사 | 지문 인식 회로 및 이를 포함하는 지문 인식 장치 |
US11842002B2 (en) * | 2019-10-04 | 2023-12-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0219020A (ja) * | 1988-05-04 | 1990-01-23 | Texas Instr Inc <Ti> | 回復時間の速い比較回路 |
JPH06232706A (ja) * | 1993-02-05 | 1994-08-19 | Nec Corp | 比較器 |
JPH0969761A (ja) * | 1995-08-30 | 1997-03-11 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | コンパレータ |
JPH10200385A (ja) * | 1997-01-16 | 1998-07-31 | Denso Corp | 比較器及び多段比較器 |
JP2000031824A (ja) * | 1998-07-13 | 2000-01-28 | Nec Corp | A/dコンバータ用オフセットキャンセルコンパレータ |
JP2000261602A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-09-22 | Hyundai Electronics Ind Co Ltd | Cmosイメージセンサにおけるアナログディジタル変換装置 |
JP2000287137A (ja) * | 1999-03-30 | 2000-10-13 | Toshiba Corp | 固体撮像素子 |
JP2000286706A (ja) * | 1999-03-30 | 2000-10-13 | Toshiba Corp | アナログデジタル変換器 |
JP2002218324A (ja) * | 2000-12-14 | 2002-08-02 | Hynix Semiconductor Inc | 比較装置を有するcmosイメージセンサ及びそのオフセット電圧除去方法 |
JP2004080581A (ja) * | 2002-08-21 | 2004-03-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 電圧比較器、アナログ−デジタル変換器およびアナログ−デジタル変換回路 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3944949A (en) * | 1974-11-18 | 1976-03-16 | Ampex Corporation | Frequency modulator |
US4450368A (en) * | 1981-12-21 | 1984-05-22 | Rockwell International Corporation | AC Coupled chopper stabilized differential comparator |
DE3723919A1 (de) * | 1987-07-18 | 1989-01-26 | Philips Patentverwaltung | Vergleichsschaltung |
US5032744A (en) * | 1989-10-31 | 1991-07-16 | Vlsi Technology, Inc. | High speed comparator with offset cancellation |
US5084704A (en) * | 1990-02-02 | 1992-01-28 | Grumman Aerospace Corporation | Focal plane analog-to-digital converter |
US5332931A (en) * | 1991-06-24 | 1994-07-26 | Harris Corporation | High speed differential comparator |
FR2769773B1 (fr) * | 1997-10-14 | 1999-11-12 | Thomson Multimedia Sa | Dispositif de conversion analogique-numerique |
JP3618689B2 (ja) * | 2001-05-31 | 2005-02-09 | イノテック株式会社 | チョッパ型電圧比較器及びそれを用いたアナログデジタル変換器 |
EP1659694B1 (en) | 2002-05-27 | 2008-07-23 | Fujitsu Ltd. | A/D converter bias current circuit |
-
2004
- 2004-07-02 JP JP2004197329A patent/JP2006020171A/ja active Pending
- 2004-12-10 US US11/008,292 patent/US7145494B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-29 KR KR1020040115075A patent/KR100649066B1/ko active IP Right Grant
-
2005
- 2005-02-03 CN CN2005100016392A patent/CN1716773B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0219020A (ja) * | 1988-05-04 | 1990-01-23 | Texas Instr Inc <Ti> | 回復時間の速い比較回路 |
JPH06232706A (ja) * | 1993-02-05 | 1994-08-19 | Nec Corp | 比較器 |
JPH0969761A (ja) * | 1995-08-30 | 1997-03-11 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | コンパレータ |
JPH10200385A (ja) * | 1997-01-16 | 1998-07-31 | Denso Corp | 比較器及び多段比較器 |
JP2000031824A (ja) * | 1998-07-13 | 2000-01-28 | Nec Corp | A/dコンバータ用オフセットキャンセルコンパレータ |
JP2000261602A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-09-22 | Hyundai Electronics Ind Co Ltd | Cmosイメージセンサにおけるアナログディジタル変換装置 |
JP2000287137A (ja) * | 1999-03-30 | 2000-10-13 | Toshiba Corp | 固体撮像素子 |
JP2000286706A (ja) * | 1999-03-30 | 2000-10-13 | Toshiba Corp | アナログデジタル変換器 |
JP2002218324A (ja) * | 2000-12-14 | 2002-08-02 | Hynix Semiconductor Inc | 比較装置を有するcmosイメージセンサ及びそのオフセット電圧除去方法 |
JP2004080581A (ja) * | 2002-08-21 | 2004-03-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 電圧比較器、アナログ−デジタル変換器およびアナログ−デジタル変換回路 |
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006340044A (ja) * | 2005-06-02 | 2006-12-14 | Sony Corp | 固体撮像装置、固体撮像装置におけるアナログ−デジタル変換方法および撮像装置 |
KR100911228B1 (ko) | 2005-09-07 | 2009-08-06 | 후지쯔 마이크로일렉트로닉스 가부시키가이샤 | Cmos 센서 |
WO2007052872A1 (en) * | 2005-11-07 | 2007-05-10 | Planet82 Inc. | Image sensor having current mirror and driving method thereof |
WO2007052873A1 (en) * | 2005-11-07 | 2007-05-10 | Planet82 Inc. | Image sensor with high frame |
US7554478B2 (en) | 2007-01-29 | 2009-06-30 | Samsung Electronics Co., Ltd | Single slope analog to digital converter using hysteresis property and analog to digital converting method |
US8111309B2 (en) | 2007-05-31 | 2012-02-07 | Fujitsu Semiconductor Limited | Solid-state image pickup device and signal processing method using solid-state image pickup device |
US8179467B2 (en) | 2008-09-10 | 2012-05-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Analog-signal processing circuit for improving accuracy of arithmetic mean of signals |
WO2010109815A1 (ja) * | 2009-03-24 | 2010-09-30 | コニカミノルタオプト株式会社 | 固体撮像装置 |
JP4661996B2 (ja) * | 2009-03-24 | 2011-03-30 | コニカミノルタオプト株式会社 | 固体撮像装置 |
JP2012004989A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-01-05 | Canon Inc | Ad変換器及びそれを複数用いた固体撮像装置 |
US8698062B2 (en) | 2010-06-18 | 2014-04-15 | Canon Kabushiki Kaisha | A/D converter, solid-state image sensor using plurality of A/D converters and driving method of A/D converter for correcting an offset value of the A/D converter based on a held offset value |
KR101494042B1 (ko) | 2010-06-18 | 2015-02-16 | 캐논 가부시끼가이샤 | A/d 변환기, 복수의 a/d 변환기를 사용한 고체 촬상 장치 및 a/d 변환기의 구동 방법 |
KR101136808B1 (ko) * | 2010-06-25 | 2012-04-13 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센서 |
US8587698B2 (en) | 2010-06-25 | 2013-11-19 | SK Hynix Inc. | Image sensor and method for operating the same |
KR102013092B1 (ko) * | 2011-10-21 | 2019-08-21 | 소니 주식회사 | 반도체 장치, 고체 촬상 장치, 및 카메라 시스템 |
KR20180108915A (ko) * | 2011-10-21 | 2018-10-04 | 소니 주식회사 | 반도체 장치, 고체 촬상 장치, 및 카메라 시스템 |
KR101925229B1 (ko) * | 2011-10-21 | 2018-12-04 | 소니 주식회사 | 반도체 장치, 고체 촬상 장치, 및 카메라 시스템 |
US10554912B2 (en) | 2011-10-21 | 2020-02-04 | Sony Corporation | Semiconductor apparatus, solid-state image sensing apparatus, and camera system |
US8957994B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-02-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | CDS circuit and analog-digital converter using dithering, and image sensor having same |
EP3570438A1 (en) | 2018-05-11 | 2019-11-20 | OMRON Corporation | Signal processing circuit |
US10566984B2 (en) | 2018-05-11 | 2020-02-18 | Omron Corporation | Signal processing circuit |
WO2021261229A1 (ja) * | 2020-06-23 | 2021-12-30 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光検出装置、および電子機器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7145494B2 (en) | 2006-12-05 |
US20060001750A1 (en) | 2006-01-05 |
CN1716773B (zh) | 2010-06-02 |
KR100649066B1 (ko) | 2006-11-27 |
KR20060002704A (ko) | 2006-01-09 |
CN1716773A (zh) | 2006-01-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100649066B1 (ko) | 차동형 비교기, 아날로그 ·디지털 변환 장치 및 촬상 장치 | |
US10645326B2 (en) | Image pickup circuit, CMOS sensor, and image pickup device | |
US7321329B2 (en) | Analog-to-digital converter and semiconductor device | |
TW550942B (en) | CMOS image sensor having chopper type comparator to perform analog correlated double sampling | |
JP6041500B2 (ja) | 撮像装置、撮像システム、撮像装置の駆動方法、撮像システムの駆動方法 | |
US9029752B2 (en) | Solid state imaging apparatus including reference signal generator with a slope converting circuit | |
US7315273B2 (en) | Analog-to-digital conversion method, analog-to-digital converter, semiconductor device for detecting distribution of physical quantity, and electronic apparatus | |
US8218049B2 (en) | Solid-state image sensing device, method for reading signal of solid-state image sensing device, and image pickup apparatus | |
US6914227B2 (en) | Image sensing apparatus capable of outputting image by converting resolution by adding and reading out a plurality of pixels, its control method, and image sensing system | |
US20160156868A1 (en) | Solid-state imaging apparatus and imaging system | |
US11445138B2 (en) | Solid-state imaging device | |
WO2009067363A1 (en) | Dual sensitivity image sensor | |
JP2005311487A (ja) | 固体撮像装置および固体撮像装置の駆動方法 | |
JP2003511920A (ja) | 能動画素センサによる時間遅延積分画像形成 | |
JP2011091724A (ja) | 固体撮像素子 | |
JP7092693B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JP2004112438A (ja) | 固体撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070409 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20080730 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090716 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090825 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091005 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100427 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100831 |