JP2006004108A - 半導体集積回路とその省電力制御方法 - Google Patents

半導体集積回路とその省電力制御方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 DRAMが接続される半導体集積回路の低消費電力化を図る。
【解決手段】 CPU11から省電力モード設定コマンドが与えられると、電源制御回路30は出力固定回路20に対してパワーダウン信号PDを出力する。これにより、出力固定回路20からSDRAM40にセルフリフレッシュ動作を指定する制御信号が出力される。その後、電源制御回路30は、電源制御信号POWによって電源制御対象ブロック10全体への電源供給を停止する。再起動信号WKUPが与えられると、電源制御回路30は電源制御対象ブロック10への電源供給を開始する。その後、CPU11から電源制御回路30に省電力モード解除コマンドが出力され、パワーダウン信号PDが停止される。これにより、出力固定回路20は、DRAM制御回路15から出力される制御信号をそのままSDRAM40へ与える。
【選択図】 図1

Description

本発明は、DRAM(Dynamic Random Access Memory)を有する半導体集積回路とその省電力制御方法に関するものである。
特開2001−357672号公報 特開2003−131935号公報
一般にシステムLSI(Large Scale Integration)は、プログラムに基づいて全体の制御及び演算処理を行うCPU(Central Processing Unit)、プログラム等の固定情報が記憶されたROM(Read Only Memory)、OS(Operating System)のスタック領域等で高速に読み書きを行うための小容量のRAM(Random Access Memory)、アプリケーション・プログラムや処理途中のデータを格納するための大容量のDRAM、及び各種のI/O(入出力装置)を備えている。この内、CPU、ROM、RAM及びI/Oはシステムバスに接続され、DRAMはDRAM制御回路を介してシステムバスに接続された構成となっている。
システムLSIの大規模化及び高速化に伴ってその消費電力も増加するため、従来、さまざまな消費電力低減のための提案がなされてきた。従来の消費電力低減方法としては、OSやアプリケーション・プログラムにおいて、不要回路部分のクロックを停止する方法や、プログラムの処理負荷に応じてCPUの動作周波数をダイナミックに最適化する方法が主流となっている。
しかしながら、近年の半導体集積回路の微細化や動作周波数の向上に伴い、CPU等を構成するトランジスタのオフリーク電流が無視できなくなり、全体の消費電流中で静止時消費電流の占める割合が大きくなってきている。このため、従来のクロック停止や動作周波数の最適化等による動作時消費電流の低減だけでは十分に消費電力を下げることができないという課題があった。
本発明は、特にDRAMを有する半導体集積回路の徹底した低消費電力化を目的とするものである。
本発明の半導体集積回路は、制御信号によってセルフリフレッシュ動作の指定が可能なDRAMと、CPU及び前記DRAMを制御するメモリ制御回路を含む電源制御対象ブロックと、前記CPUから省電力モード設定の指示が与えられたときに、パワーダウン信号を出力すると共に前記電源制御対象ブロックに対する電源の供給を停止し、該パワーダウン信号の出力中に外部から再起動信号が与えられたときには、該電源制御対象ブロックに対する電源の供給を開始すると共に、該CPUの指示に従って該パワーダウン信号の出力を停止する電源制御回路と、前記メモリ制御回路と前記DRAMの間に接続され、前記パワーダウン信号が出力されていないときは該メモリ制御回路から出力される前記制御信号を該DRAMにそのまま与え、該パワーダウン信号が出力されているときは該制御信号に拘らず該DRAMにセルフリフレッシュ動作を指定する制御信号を与える出力固定回路とを備えたことを特徴としている。
また、本発明の半導体集積回路の省電力制御方法は、電源制御回路のリセット状態が解除されたときに、電源制御対象ブロックへの電源供給を開始すると共に電源制御対象ブロックのリセット状態を解除して動作を開始させる起動処理と、電源制御対象ブロックにおいて電源供給が開始されたときにパワーダウン信号の状態を判定し、パワーダウン信号が出力されていなければアプリケーション・プログラムを起動し、パワーダウン信号が出力されていればメモリ制御回路に対してDRAMのセルフリフレッシュ開始コマンドを与える判定処理と、判定処理におけるセルフリフレッシュ開始コマンドの出力に続いて、電源制御回路に対してパワーダウン信号の出力を停止させ、更にメモリ制御回路に対してDRAMのセルフリフレッシュ動作を解除するコマンドを与えてアプリケーション・プログラムを再開させる再開処理と、アプリケーション・プログラムの処理が中断したときに、メモリ制御回路に対してDRAMのセルフリフレッシュ開始コマンドを与えると共に、電源制御回路に対して電源制御対象ブロックへの電源供給の停止を指示する停止処理と、電源制御対象ブロックへの電源供給が停止されているときに、外部から与えられる再起動信号に従って電源制御対象ブロックへの電源供給を再開すると共に電源制御対象ブロックのリセット状態を解除して動作を開始させる再起動処理とを行うことを特徴としている。
本発明では、CPUから省電力モード設定の指示が与えられたときに、パワーダウン信号を出力した後、このCPUを含む電源制御対象ブロックへの電源供給を停止する電源制御回路と、パワーダウン信号が与えられたときにDRAMに対する制御信号を、セルフリフレッシュ動作を指定するレベルに固定して出力する出力固定回路を有している。これにより、省電力モード時に、電源制御回路と出力固定回路とDRAMとを除いて、CPUやDRAN制御回路等を含む広範囲な電源制御対象ブロックに対する電源を停止することが可能になり、徹底した低消費電力化ができるという効果がある。
セルフリフレッシュ動作の可能なDRAMと電源制御回路と出力固定回路を主電源で動作するようにし、CPU及びDRAM制御回路を含むその他の回路を電源制御対象ブロックとして区分する。
このような半導体集積回路で、電源制御回路のリセット状態が解除されたときに、電源制御対象ブロックへの電源供給を開始すると共にこの電源制御対象ブロックのリセット状態を解除して動作を開始させる。CPUでは電源供給が開始されたときに電源制御回路から出力されるパワーダウン信号の状態を判定し、このパワーダウン信号が出力されていなければアプリケーション・プログラムを起動する。
パワーダウン信号が出力されている場合は、メモリ制御回路に対してDRAMのセルフリフレッシュ開始コマンドを与え、電源制御回路に対してパワーダウン信号の出力を停止させ、更にメモリ制御回路に対してDRAMのセルフリフレッシュ動作を解除するコマンドを与えてアプリケーション・プログラムを再開させる。
アプリケーション・プログラムの処理が中断したときには、メモリ制御回路に対してDRAMのセルフリフレッシュ開始コマンドを与えると共に電源制御回路に対して電源制御対象ブロックへの電源供給の停止を指示する。電源制御対象ブロックへの電源供給が停止されているときに、外部から再起動信号与えられると、この電源制御対象ブロックへの電源供給を再開すると共にリセット状態を解除して動作を開始させる。
この発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は、次の好ましい実施例の説明を添付図面と照らし合わせて読むと、より完全に明らかになるであろう。但し、図面は、もっぱら解説のためのものであって、この発明の範囲を限定するものではない。
図1(a),(b)は、本発明の実施例を示す半導体集積回路の構成図であり、同図(a)はシステム構成を示すブロック図、同図(b)は同図(a)中の出力固定回路の回路図である。
この半導体集積回路は、図1(a)に示すように、省電力モードで電源オフの対象となる電源制御対象ブロック10と、電源オフの対象とならない出力固定回路20、電源制御回路30及びSDRAM(Synchronous DRAM)40を有しており、この出力固定回路20にSDRAM40が接続されている。SDRAM40は、電源が切断されると記憶内容が消滅してしまうため、電源オフの対象とはならないが、読み書きのアクセスを必要としないときにはセルフリフレッシュ動作を指定することにより、低電力で記憶内容を保持する機能を有している。
電源制御対象ブロック10には、全体の制御と演算処理を行うCPU11、システム起動時にCPU11で実行されるOS等のプログラムが記憶されたROM12、高速に読み書きを行うための小容量のRAM13、各種のI/O14、及びSDRAM40を制御するためのDRAM制御回路15が含まれており、これらがシステムバス16を介して接続されている。
電源制御対象ブロック10に供給される電源は、電源制御回路30から与えられる電源制御信号POWによってオン・オフされるようになっている。即ち、電源制御信号POWがレベル“H”の時は、電源制御対象ブロック10内の各要素に所定の電源電圧が供給され、電源制御信号POWがレベル“L”の時には、この電源電圧が遮断されて供給が完全に停止されるようになっている。更に、電源制御回路30から電源制御対象ブロック10に対して、各要素を初期状態に戻すためのリセット信号/RST1(但し、「/」は反転論理を意味する)が与えられるようになっている。
出力固定回路20は、DRAM制御回路15とSDRAM40の間に挿入され、電源制御回路30から与えられるパワーダウン信号PDによって省電力モードが設定されたときに、SDRAM40に対してセルフリフレッシュ動作を指定するような制御信号を出力するものである。なお、DRAM制御回路15から出力されるアドレス信号A12〜0は、出力固定回路20を介さずにSDRAM40に直接与えられるようになっている。
出力固定回路20は、例えば図1(b)に示すように、DRAM制御回路15側のデータバス上の書込データDII31〜0と読出データDOI31〜0を、SDRAM40側の双方向バスにデータD31〜0として接続するバッファ21a,21bを有している。なお、バッファ21aは3ステートバッファとなっており、データ出力制御信号D0EIによって、書込データDII31〜0のSDRAM40側への出力が制御されるようになっている。
更に、この出力固定回路20は、DRAM制御回路15から出力されるクロック信号SDCLKI、クロック制御信号CKEI、チップ選択信号CSI、行アドレス選択信号RASI及び列アドレス信号CASIが、それぞれ第1入力として与えられるAND(論理積)ゲート22〜26と、書込制御信号WEI及びデータ出力マスク信号DQMI3〜0がそれぞれ第1入力として与えられるOR(論理和)ゲート27,28を有している。
ORゲート27,28の第2入力には電源制御回路30からパワーダウン信号PDが与えられ、ANDゲート22〜26の第2入力には、このパワーダウン信号PDがインバータ29で反転されて与えられるようになっている。そして、ANDゲート22〜26とORゲート27,28の出力側から、SDRAM40に対するクロック信号SDCLK、クロック制御信号CKE、チップ選択信号CS、行アドレス選択信号RAS、列アドレス信号CAS、書込制御信号WE及びデータ出力マスク信号DQM3〜0が、それぞれ出力されるようになっている。
このような構成により、パワーダウン信号PDが“L”、即ち通常動作モードを示すときには、DRAM制御回路15のクロック信号SDCLKI等が、そのままクロック信号SDCLK等としてSDRAM40に与えられる。また、パワーダウン信号PDが“H”で省電力モードを示すときには、DRAM制御回路15の出力に関係なく、SDRAM40に対してセルフリフレッシュ動作を指定する制御信号、即ち、“L”のクロック信号SDCLK、クロック制御信号CKE、チップ選択信号CS、行アドレス選択信号RAS及び列アドレス信号CASと、“H”の書込制御信号WE及びデータ出力マスク信号DQM3〜0が出力されるようになっている。
電源制御回路30は、電源制御対象ブロック10に電源制御信号POWとリセット信号/RST1を与え、出力固定回路20にパワーダウン信号PDを与えるものであり、システムバス16を介してCPU11に接続されると共に、外部端子からリセット信号/RST0と再起動信号WKUPが与えられるようになっている。
電源制御回路30は、リセット信号/RST0または再起動信号WKUPが“L”から“H”に変化したときに、所定のシーケンスで電源制御信号POWとリセット信号/RST1を“L”から“H”に立上げる機能を有している。また、この電源制御回路30は、システムバス16を介して省電力モード設定コマンドが与えられたときにパワーダウン信号PDを“H”、電源制御信号POWとリセット信号/RST1を“L”にする機能と、省電力モード解除コマンドが与えられたときにパワーダウン信号PDを“L”にする機能を有している。なお、パワーダウン信号PDの状態は、システムバス16を介して、CPU11で読取ることができるようになっている。
図2は、図1の半導体集積回路における電源制御方法を示すフローチャートである。この図2では、左側の列に電源制御回路30の動作を、中央と右側の列に電源制御ブロック10のCPU11を中心とするOS及びアプリケーション・プログラムによる動作を示している。図3は、図1の動作を示す信号波形図である。以下、これらの図2と図3を参照しつつ、図1の電源制御動作を説明する。
図2のステップS1の主電源投入、即ち図3の時刻T1において電源制御回路30に主電源VDDの供給が開始されると、ステップS2に示すように、電源制御回路30から出力されるリセット信号/RST1、電源制御信号POW及びパワーダウン信号PDは、すべて“L”にセットされる。
ステップS3でリセット信号/RST0の解除が監視される。時刻T2で、例えば図示しないパワーオンリセット回路の動作により、リセット信号/RST0が“H”になる。
ステップS4において、リセット信号/RST0が“H”になってから、所定の時間を経た時刻T3に、パワーダウン信号PDが“H”にセットされる。これにより、電源制御対象ブロック10に電源の供給が開始され、DRAM制御回路15から出力される制御信号は活性化される。また、このときパワーダウン信号PDは“L”であるので、DRAM制御回路15から出力された制御信号は、そのままSDRAM40へ与えられる。但し、この時点では電源制御対象ブロック10のリセット状態は解除されていないので、正常な動作は行われない。
ステップS5において、時刻T4でリセット信号/RST1が“H”にセットされ、電源制御対象ブロック10はリセット状態が解除されて初期状態からの起動を開始する。更にステップS6において、DRAM制御回路15の初期化が行われ、引続きステップS7において、パワーダウン信号PDのレベル判定が行われ、“L”であればステップS8へ進み、“H”であればステップS15へ進む。
ステップS8において、DRAM制御回路15からSDRAM40に対して、プリチャージやリフレッシュ等の電源オン・イニシャライズ処理が行われ、このSDRAM40は動作可能な状態となる。
ステップS9において、アプリケーション・プログラムがSDRAM40上にロードされ、タスクの実行が開始される。このタスクの実行により、SDRAM40へのアクセスが行われる。CPU11によってアプリケーション・プログラムの処理が続行されている間はこの状態が継続されるが、入力待ち等でCPU11による処理が必要なくなると、タスクの実行は中断されてステップS10以降のパワーダウン処理へ進む。
ステップS10において、CPU11は、RAM13等に存在するタスクの実行情報(コンテキスト)等でタスクの再開に必要な情報をSDRAM40へ退避する。
ステップS11において、CPU11はDRAM制御回路15にセルフリフレッシュ開始コマンドを発行する。DRAM制御回路15は、時刻T5において、与えられたセルフリフレッシュ開始コマンドに基づいて、“L”のクロック信号SDCLKI、クロック制御信号CKEI、チップ選択信号CSI、行アドレス選択信号RASI及び列アドレス信号CASIと、“H”の書込制御信号WEI及びデータ出力マスク信号DQMI3〜0を出力する。これらの信号は、出力固定回路20を介してそのままSDRAM40に出力され、このSDRAM40はセルフリフレッシュ状態になる。
ステップS12において、CPU11は電源制御回路30に省電力モード設定コマンドを出力する。
ステップS13において、電源制御回路30は、与えられた省電力モード設定コマンドに基づいて、省電力モードの設定を行う。まず、時刻T6において、パワーダウン信号PDを“H”にする。これにより、出力固定回路20からSDRAM40へ出力される制御信号は、DRAM制御回路15の制御信号に拘らず、セルフリフレッシュを指定するレベルに固定される。次に、時刻T7において、電源制御信号POWとリセット信号/RST1を“L”にする。これにより、電源制御対象ブロック10への電源供給は完全に遮断され、省電力モードとなる。なお、出力固定回路20、電源制御回路30及びSDRAM40の電源は切断されないので、このSDRAM40は低消費電力でのセルフリフレッシュ動作となり、その記憶内容が保持される。
この後、ステップS14へ移行し、電源制御回路30によって再起動信号WKUPが監視される。この再起動信号WKUPが“L”の間は省電力モードの状態が維持される。時刻T8において、再起動信号WKUPが“H”になると、ステップS4へ進み、前述のような電源の投入による起動が開始される。
ステップS4では、時刻T9で電源制御信号POWが“H”にされる。ステップS5では、時刻T10でリセット信号/RST1が“H”にされる。ステップS6では、DRAM制御回路15の初期化が行われる。ステップS7では、パワーダウン信号PDのレベル判定が行われる。この場合は再起動であるので、パワーダウン信号PDは“H”となっており、ステップS15へ進む。
ステップS15において、CPU11はDRAM制御回路15にセルフリフレッシュ開始コマンドを発行する。DRAM制御回路15は、時刻T11において、与えられたセルフリフレッシュ開始コマンドに基づいて、“L”のクロック信号SDCLKI、クロック制御信号CKEI、チップ選択信号CSI、行アドレス選択信号RASI及び列アドレス信号CASIと、“H”の書込制御信号WEI及びデータ出力マスク信号DQMI3〜0を出力する。
ステップS16において、CPU11は電源制御回路30に省電力モード解除コマンドを出力する。これにより、時刻T12において、電源制御回路30から出力されるパワーダウン信号PDは“L”となり、出力固定回路20は固定の制御信号に代えてDRAM制御回路15から与えられる制御信号をSDRAM40に出力する。しかし、この時、DRAM制御回路15から与えられる制御信号は、セルフリフレッシュを指定するレベルとなっているので、SDRAM40のセルフリフレッシュ動作は継続される。
ステップS17において、CPU11はDRAM制御回路15にセルフリフレッシュ解除コマンドを発行する。DRAM制御回路15は、時刻T13において、与えられたセルフリフレッシュ解除コマンドに基づいて、“L”のクロック制御信号CKEIと、“H”のチップ選択信号CSI、行アドレス選択信号RASI、列アドレス信号CASI、書込制御信号WEI及びデータ出力マスク信号DQMI3〜0を出力する。これにより、SDRAM40のセルフリフレッシュ状態が解除される。
ステップS18において、CPU11は、SDRAM40に退避していたタスク退避情報をRAM13等へ復帰させる。これにより、中断していたアプリケーション・プログラムが再開される。
このように、本実施例の半導体集積回路は、パワーダウン信号PDが出力されたときに、SDRAM40に対する制御信号をセルフリフレッシュを指定するレベルに固定して出力する出力固定回路20を有しているので、省電力モード時にCPU11やDRAM制御回路15を含む広範囲な電源制御対象ブロック10の電源を完全に停止させることができる。これにより、静止時消費電力を大幅に削減することができる。
また、省電力モード中にもSDRAM40の内容が保持され、中断したときのタスクの状態がこのSDRAM40にそのまま保存されているので、CPU11等の電源を停止しても、電源の再投入によってそのままアプリケーション・プログラムの再開ができる。
更に、省電力モードへの移行/復帰時に、SRAM13等にあるタスクの状態をSDRAM40に高速に退避/復帰することができるので、フラッシュメモリやハードディスク等の2次記憶手段を使う場合に比べ、低コストで、高速に省電力モードへの移行/復帰を行うことができる。
なお、本発明は、上記実施例に限定されず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例えば次のようなものがある。
(1) DRAMとしてSDRAMについて説明したが、従来からの非同期のDRAMやEDO−DRAMにも同様に適用することができる。但し、DRAMの種類によって制御信号の種類や数、及びセルフリフレッシュ動作を指定する信号レベルが異なるので、出力固定回路20の構成は、使用するDRAMの仕様に合わせて変更する必要がある。
例えば、EDO−DRAMの場合、制御信号として、行アドレス選択信号RAS、列アドレス選択信号CAS、書込制御信号WE及び出力制御信号OEが使用され、セルフリフレッシュ時には、行アドレス選択信号RASと列アドレス選択信号CASを“L”に、書込制御信号WEと出力制御信号OEを“H”に設定する。
(2) 電源制御対象ブロック10の範囲は一例であり、適用するシステムに合わせて自由に設定することができる。
(3) 電源制御回路30は、CPU11にシステムバス16を介して接続されているが、I/O14を介して接続するようにしても良い。
(4) 電源制御信号POWを電源制御対象ブロック10に与えることによって、この電源制御対象ブロック10への電源供給を制御しているが、図示しない電源回路と電源制御対象ブロック10の間にスイッチを設け、このスイッチを電源制御信号POWでオン/オフするようにしても良い。
本発明の実施例を示す半導体集積回路の構成図である。 図1の半導体集積回路における電源制御方法を示すフローチャートである。 図1の動作を示す信号波形図である。
符号の説明
10 電源制御対象ブロック
11 CPU
12 ROM
13 RAM
14 I/O
15 DRAM制御回路
16 システムバス
20 出力固定回路
30 電源制御回路
40 SDRAM

Claims (2)

  1. 制御信号によってセルフリフレッシュ動作の指定が可能なダイナミック・ランダム・アクセス・メモリと、
    中央処理装置及び前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリを制御するメモリ制御回路を含む電源制御対象ブロックと、
    前記中央処理装置から省電力モード設定の指示が与えられたときに、パワーダウン信号を出力すると共に前記電源制御対象ブロックに対する電源の供給を停止し、該パワーダウン信号の出力中に外部から再起動信号が与えられたときには、該電源制御対象ブロックに対する電源の供給を開始すると共に、該中央処理装置の指示に従って該パワーダウン信号の出力を停止する電源制御回路と、
    前記メモリ制御回路と前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリの間に接続され、前記パワーダウン信号が出力されていないときは該メモリ制御回路から出力される前記制御信号を該ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリにそのまま与え、該パワーダウン信号が出力されているときは該制御信号に拘らず該ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリにセルフリフレッシュ動作を指定する制御信号を与える出力固定回路とを、
    備えたことを特徴とする半導体集積回路。
  2. 制御信号によってセルフリフレッシュ動作の指定が可能なダイナミック・ランダム・アクセス・メモリと、中央処理装置及び前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリを制御するメモリ制御回路を含む電源制御対象ブロックと、前記電源制御対象ブロックに対する電源の供給を制御すると共に該電源制御対象ブロックへの電源を停止したときにはパワーダウン信号を出力し、前記中央処理装置から指示があったときに該パワーダウン信号の出力を停止する電源制御回路と、前記パワーダウン信号が出力されているときに前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリにセルフリフレッシュ動作を指定する制御信号を出力する出力固定回路とを備えた半導体集積回路の省電力制御方法であって、
    前記電源制御回路のリセット状態が解除されたときに、前記電源制御対象ブロックへの電源供給を開始すると共に該電源制御対象ブロックのリセット状態を解除して動作を開始させる起動処理と、
    前記電源制御対象ブロックにおいて電源供給が開始されたときに前記パワーダウン信号の状態を判定して、該パワーダウン信号が出力されていなければアプリケーション・プログラムを起動し、該パワーダウン信号が出力されていれば前記メモリ制御回路に対して前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリのセルフリフレッシュ開始コマンドを与える判定処理と、
    前記判定処理における前記セルフリフレッシュ開始コマンドの出力に続いて、前記電源制御回路に対してパワーダウン信号の出力を停止させ、更に前記メモリ制御回路に対して前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリのセルフリフレッシュ動作を解除するコマンドを与えて前記アプリケーション・プログラムを再開させる再開処理と、
    前記アプリケーション・プログラムの処理が中断したときに、前記メモリ制御回路に対して前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリのセルフリフレッシュ開始コマンドを与えると共に、前記電源制御回路に対して前記電源制御対象ブロックへの電源供給の停止を指示する停止処理と、
    前記電源制御対象ブロックへの電源供給が停止されているときに、外部から与えられる再起動信号に従って該電源制御対象ブロックへの電源供給を再開すると共に該電源制御対象ブロックのリセット状態を解除して動作を開始させる再起動処理とを、
    行うことを特徴とする半導体集積回路の省電力制御方法。
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US11/118,343 US20050283572A1 (en) 2004-06-16 2005-05-02 Semiconductor integrated circuit and power-saving control method thereof
KR1020050041918A KR20060046096A (ko) 2004-06-16 2005-05-19 반도체 집적회로와 그것의 전력절약 제어방법

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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100817317B1 (ko) 2006-02-20 2008-03-31 엠텍비젼 주식회사 하나의 오실레이터를 구비한 메모리 장치 및 리프레쉬 제어방법
JP2008123127A (ja) * 2006-11-09 2008-05-29 Fuji Xerox Co Ltd 情報処理装置
JP2008217948A (ja) * 2007-03-07 2008-09-18 Seiko Epson Corp Sdram制御回路及び情報処理装置
WO2008126418A1 (ja) * 2007-04-11 2008-10-23 Panasonic Corporation データ退避システム及びデータ復帰システム、並びにデータ退避方法及びデータ復帰方法
JPWO2007046481A1 (ja) * 2005-10-20 2009-04-23 パナソニック株式会社 メモリ制御装置
JP2011180770A (ja) * 2010-02-26 2011-09-15 Brother Industries Ltd メモリ制御装置
JP2012221442A (ja) * 2011-04-14 2012-11-12 Seiko Epson Corp 回路、電子機器、及び画像処理装置
JP2014209324A (ja) * 2013-03-28 2014-11-06 パナソニック株式会社 電子機器
JP2016134147A (ja) * 2015-01-22 2016-07-25 富士ゼロックス株式会社 情報処理装置

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10013371B2 (en) 2005-06-24 2018-07-03 Google Llc Configurable memory circuit system and method
US8041881B2 (en) 2006-07-31 2011-10-18 Google Inc. Memory device with emulated characteristics
US8111566B1 (en) 2007-11-16 2012-02-07 Google, Inc. Optimal channel design for memory devices for providing a high-speed memory interface
US8397013B1 (en) 2006-10-05 2013-03-12 Google Inc. Hybrid memory module
US8060774B2 (en) 2005-06-24 2011-11-15 Google Inc. Memory systems and memory modules
US8090897B2 (en) 2006-07-31 2012-01-03 Google Inc. System and method for simulating an aspect of a memory circuit
US8327104B2 (en) 2006-07-31 2012-12-04 Google Inc. Adjusting the timing of signals associated with a memory system
US8359187B2 (en) 2005-06-24 2013-01-22 Google Inc. Simulating a different number of memory circuit devices
US8169233B2 (en) 2009-06-09 2012-05-01 Google Inc. Programming of DIMM termination resistance values
US9507739B2 (en) 2005-06-24 2016-11-29 Google Inc. Configurable memory circuit system and method
US8081474B1 (en) 2007-12-18 2011-12-20 Google Inc. Embossed heat spreader
US8089795B2 (en) 2006-02-09 2012-01-03 Google Inc. Memory module with memory stack and interface with enhanced capabilities
US8438328B2 (en) 2008-02-21 2013-05-07 Google Inc. Emulation of abstracted DIMMs using abstracted DRAMs
US9171585B2 (en) 2005-06-24 2015-10-27 Google Inc. Configurable memory circuit system and method
US20080028136A1 (en) 2006-07-31 2008-01-31 Schakel Keith R Method and apparatus for refresh management of memory modules
US8335894B1 (en) 2008-07-25 2012-12-18 Google Inc. Configurable memory system with interface circuit
US8244971B2 (en) 2006-07-31 2012-08-14 Google Inc. Memory circuit system and method
US8130560B1 (en) 2006-11-13 2012-03-06 Google Inc. Multi-rank partial width memory modules
US8077535B2 (en) 2006-07-31 2011-12-13 Google Inc. Memory refresh apparatus and method
US20080082763A1 (en) 2006-10-02 2008-04-03 Metaram, Inc. Apparatus and method for power management of memory circuits by a system or component thereof
US8386722B1 (en) 2008-06-23 2013-02-26 Google Inc. Stacked DIMM memory interface
US8796830B1 (en) 2006-09-01 2014-08-05 Google Inc. Stackable low-profile lead frame package
US9542352B2 (en) 2006-02-09 2017-01-10 Google Inc. System and method for reducing command scheduling constraints of memory circuits
US8055833B2 (en) 2006-10-05 2011-11-08 Google Inc. System and method for increasing capacity, performance, and flexibility of flash storage
DE112006002300B4 (de) 2005-09-02 2013-12-19 Google, Inc. Vorrichtung zum Stapeln von DRAMs
US9632929B2 (en) 2006-02-09 2017-04-25 Google Inc. Translating an address associated with a command communicated between a system and memory circuits
KR100784869B1 (ko) * 2006-06-26 2007-12-14 삼성전자주식회사 대기 전류를 줄일 수 있는 메모리 시스템
KR100762240B1 (ko) * 2006-06-29 2007-10-01 주식회사 하이닉스반도체 전원 제어회로
US7724589B2 (en) 2006-07-31 2010-05-25 Google Inc. System and method for delaying a signal communicated from a system to at least one of a plurality of memory circuits
US8209479B2 (en) 2007-07-18 2012-06-26 Google Inc. Memory circuit system and method
US8080874B1 (en) 2007-09-14 2011-12-20 Google Inc. Providing additional space between an integrated circuit and a circuit board for positioning a component therebetween
TWI508099B (zh) * 2013-01-28 2015-11-11 Phison Electronics Corp 工作時脈切換方法、記憶體控制器與記憶體儲存裝置
JP6047033B2 (ja) * 2013-02-25 2016-12-21 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Lsiおよび情報処理システム
CN104076900B (zh) * 2013-03-28 2019-09-27 超威半导体(上海)有限公司 Dram控制方法和系统以及计算机节电控制方法和系统
JP6180450B2 (ja) * 2015-02-02 2017-08-16 キヤノン株式会社 制御装置、制御装置の制御方法及びプログラム
KR20200033690A (ko) * 2018-09-20 2020-03-30 에스케이하이닉스 주식회사 파워다운모드를 제공하는 반도체장치 및 이를 사용하여 파워다운모드를 제어하는 방법

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6212599B1 (en) * 1997-11-26 2001-04-03 Intel Corporation Method and apparatus for a memory control system including a secondary controller for DRAM refresh during sleep mode
US7039755B1 (en) * 2000-05-31 2006-05-02 Advanced Micro Devices, Inc. Method and apparatus for powering down the CPU/memory controller complex while preserving the self refresh state of memory in the system
US6411157B1 (en) * 2000-06-29 2002-06-25 International Business Machines Corporation Self-refresh on-chip voltage generator
JP4817510B2 (ja) * 2001-02-23 2011-11-16 キヤノン株式会社 メモリコントローラ及びメモリ制御装置
JP2003131935A (ja) * 2001-10-25 2003-05-09 Nec Microsystems Ltd シンクロナスdramコントローラおよびその制御方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2007046481A1 (ja) * 2005-10-20 2009-04-23 パナソニック株式会社 メモリ制御装置
KR100817317B1 (ko) 2006-02-20 2008-03-31 엠텍비젼 주식회사 하나의 오실레이터를 구비한 메모리 장치 및 리프레쉬 제어방법
JP2008123127A (ja) * 2006-11-09 2008-05-29 Fuji Xerox Co Ltd 情報処理装置
JP2008217948A (ja) * 2007-03-07 2008-09-18 Seiko Epson Corp Sdram制御回路及び情報処理装置
WO2008126418A1 (ja) * 2007-04-11 2008-10-23 Panasonic Corporation データ退避システム及びデータ復帰システム、並びにデータ退避方法及びデータ復帰方法
JP2011180770A (ja) * 2010-02-26 2011-09-15 Brother Industries Ltd メモリ制御装置
JP2012221442A (ja) * 2011-04-14 2012-11-12 Seiko Epson Corp 回路、電子機器、及び画像処理装置
US8909965B2 (en) 2011-04-14 2014-12-09 Seiko Epson Corporation Circuit, electronic device, and image processing device
JP2014209324A (ja) * 2013-03-28 2014-11-06 パナソニック株式会社 電子機器
JP2016134147A (ja) * 2015-01-22 2016-07-25 富士ゼロックス株式会社 情報処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN1710548A (zh) 2005-12-21
US20050283572A1 (en) 2005-12-22
KR20060046096A (ko) 2006-05-17
CN100483363C (zh) 2009-04-29

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