JP2004529272A - 可動シャッタを有するリアクタ - Google Patents

可動シャッタを有するリアクタ Download PDF

Info

Publication number
JP2004529272A
JP2004529272A JP2003502873A JP2003502873A JP2004529272A JP 2004529272 A JP2004529272 A JP 2004529272A JP 2003502873 A JP2003502873 A JP 2003502873A JP 2003502873 A JP2003502873 A JP 2003502873A JP 2004529272 A JP2004529272 A JP 2004529272A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reactor
shutter
opening
reaction chamber
cooling fluid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003502873A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004529272A5 (ja
Inventor
ガラリー,アレクサンダー
エルマン,スコット
モイ,ケング
ボグスラフスキー,ヴァディム
Original Assignee
エムコア・コーポレイション
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エムコア・コーポレイション filed Critical エムコア・コーポレイション
Publication of JP2004529272A publication Critical patent/JP2004529272A/ja
Publication of JP2004529272A5 publication Critical patent/JP2004529272A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4411Cooling of the reaction chamber walls
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4401Means for minimising impurities, e.g. dust, moisture or residual gas, in the reaction chamber
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/08Reaction chambers; Selection of materials therefor
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/10Heating of the reaction chamber or the substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67109Apparatus for thermal treatment mainly by convection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67126Apparatus for sealing, encapsulating, glassing, decapsulating or the like
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735Closed carriers
    • H01L21/67373Closed carriers characterised by locking systems
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735Closed carriers
    • H01L21/67379Closed carriers characterised by coupling elements, kinematic members, handles or elements to be externally gripped
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67772Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving removal of lid, door, cover
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67775Docking arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1259Multistep manufacturing methods
    • H01L27/127Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or patterning of the active layer specially adapted to the circuit arrangement
    • H01L27/1274Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or patterning of the active layer specially adapted to the circuit arrangement using crystallisation of amorphous semiconductor or recrystallisation of crystalline semiconductor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1259Multistep manufacturing methods
    • H01L27/127Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or patterning of the active layer specially adapted to the circuit arrangement
    • H01L27/1274Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or patterning of the active layer specially adapted to the circuit arrangement using crystallisation of amorphous semiconductor or recrystallisation of crystalline semiconductor
    • H01L27/1285Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or patterning of the active layer specially adapted to the circuit arrangement using crystallisation of amorphous semiconductor or recrystallisation of crystalline semiconductor using control of the annealing or irradiation parameters, e.g. using different scanning direction or intensity for different transistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1259Multistep manufacturing methods
    • H01L27/1296Multistep manufacturing methods adapted to increase the uniformity of device parameters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66007Multistep manufacturing processes
    • H01L29/66075Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials
    • H01L29/66227Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials the devices being controllable only by the electric current supplied or the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched, e.g. three-terminal devices
    • H01L29/66409Unipolar field-effect transistors
    • H01L29/66477Unipolar field-effect transistors with an insulated gate, i.e. MISFET
    • H01L29/66742Thin film unipolar transistors
    • H01L29/6675Amorphous silicon or polysilicon transistors
    • H01L29/66757Lateral single gate single channel transistors with non-inverted structure, i.e. the channel layer is formed before the gate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66007Multistep manufacturing processes
    • H01L29/66075Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials
    • H01L29/66227Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials the devices being controllable only by the electric current supplied or the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched, e.g. three-terminal devices
    • H01L29/66409Unipolar field-effect transistors
    • H01L29/66477Unipolar field-effect transistors with an insulated gate, i.e. MISFET
    • H01L29/66742Thin film unipolar transistors
    • H01L29/66772Monocristalline silicon transistors on insulating substrates, e.g. quartz substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/78651Silicon transistors
    • H01L29/78654Monocrystalline silicon transistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/78651Silicon transistors
    • H01L29/7866Non-monocrystalline silicon transistors
    • H01L29/78672Polycrystalline or microcrystalline silicon transistor
    • H01L29/78675Polycrystalline or microcrystalline silicon transistor with normal-type structure, e.g. with top gate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1218Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition or structure of the substrate

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

エピタキシャル層を成長させるためのリアクタ120は、反応チャンバ122を備えており、反応チャンバは、ウェーハキャリヤ196をそこに挿入したりそこから取り出したりするための貫通開口144を有している。リアクタはまた、貫通開口144を選択的に閉止するため反応チャンバ122の内部に配置された円筒形シャッタ148を備えている。円筒形シャッタ148は、貫通開口144を閉止する第1位置と該貫通開口を開放する第2位置との間で可動である。円筒形シャッタ148は、冷却流体を受けるのに適合した内部キャビティ150と、冷却流体を該内部キャビティ150に導入するための配管152とを備えている。配管152は、シャッタ148に恒久的に取付けられていると共に、それと同時に移動するようになっている。円筒形のシャッタ148は、ウェーハキャリヤ196の外周を実質的に囲んでおり、それにより反応ガスの温度及び流れの場の不均一性を最小にしている。
【選択図】図3A

Description

【技術分野】
【0001】
本発明は、基板上にエピタキシャル層を成長させるためのリアクタに関し、特に、このリアクタ内の熱及び流れ場の乱れを最小にするよう設計された化学気相蒸着(CVD)に関するものである。
【背景技術】
【0002】
半導体チップのような超小型電子素子は、半導体ウェーハを化学気相蒸着(CVD)リアクタの反応チャンバ内に置いて該ウェーハ上にエピタキシャル層を成長させることによって製造されることが多い。エピタキシャル層は、ガス状態の反応化学物を制御された量及び制御された速度でウェーハ上に流れさせることにより、成長されるのが一般的である。その後、ウェーハは切断されて個々の半導体チップになる。
【0003】
反応化学物は、バブラー(bubbler)として知られている装置内に当該反応化学物を入れると共に、キャリヤガスを当該反応化学物と混合することによって、反応チャンバに一般に搬送されるようになっている。このバブラーは、キャリヤガス中の反応化学物の濃度を変更するため、調節可能の制御部を含むことがある。キャリヤガスは、ガスがバブラーを通過するときに、反応化学物の分子をピックアップするものである。その後、反応ガスは、マスフローコントローラ及びフローフランジ(flow flange)を介してCVDリアクタ内に送り込まれることになる。
【0004】
現在、種々の設計を有する様々なCVDリアクタが存在している。これらには、ウェーハキャリヤがリアクタの内部に回転自在に取付けられると共に、このウェーハキャリヤの上方から反応ガスが導入される水平リアクタや、反応ガスがウェーハキャリヤを横断する遊星歯車式回転の水平リアクタや、バレル式リアクタや、リアクタ内で回転している基板表面上に反応ガスを下向きに注入する垂直ディスク式リアクタがある。上述した種々のCVDリアクタは、半導体、薄膜デバイス、並びにレーザ及びLEDのような多層構造の種々の組合せを含め、多様なエピタキシャル層をウェーハ上に成長させるのに成功裡に使用されてきた。
【0005】
図1は、ウェーハキャリヤ12上に取付けられたウェーハ10を備えていると共に、このウェーハキャリヤ12がサセプタ14上に取付けられている代表的な先行技術のリアクタを示している。サセプタ14は、ウェーハキャリヤを回転させるための回転支持スピンドル16上に取付けられている。サセプタ14、ウェーハキャリヤ12及びウェーハ10は、リアクタ18の内部に配置されているのが一般的である。加熱アセンブリ20は、サセプタ14の下方に配設されており、このサセプタ14と、ウェーハキャリヤ12と、その上に装着されたウェーハ10とを加熱している。エピタキシャル層の堆積中、ウェーハキャリヤ12は、堆積領域全体にわたり温度の均一性を高めることの他に、堆積領域上を流れる反応ガスの流れの均一性を高めるように、回転されている。
【0006】
図2を参照すると、ウェーハキャリヤ12は、同ウェーハキャリヤが回転されているときに複数のウェーハを所定位置に固定するために、その上面に設けられた複数の丸ポケット22を備えているのが典型的である。これらのウェーハキャリヤはまた、通常、ウェーハキャリヤを持ち上げ搬送して反応チャンバに入れたり出したりするのに用いられる環状フランジ24も備えている。堆積プロセス中、ウェーハキャリヤを回転可能なサセプタ14上に同心状に配置しておくと共に、サセプタ14の上面とウェーハキャリヤ12の下面との間に隙間28を形成するため、ウェーハキャリヤの下面は、管状の壁26を備えていることがある。隙間28の存在により、ウェーハキャリヤ12及びサセプタ14間の直接接触により生じうるウェーハキャリヤの局部加熱が排除され、そのためサセプタ14からウェーハキャリヤ12への均一な熱の伝達が向上することになる。
【0007】
上述したように、反応ガスが反応チャンバ内に導入される際の条件もしくはパラメータは、ウェーハ上に成長したエピタキシャル層の品質に大きな影響をもっている。これらのパラメータには、材料粘性率、密度、蒸気圧、反応ガスの流路、化学的活性度及び/又は温度がある。エピタキシャル層の品質を最適化するため、上に特定された諸パラメータはしばしば変更され、かかる変更の効果が検討されている。研究開発活動中にしばしば変更されるパラメータの1つは、反応ガスの流路である。例えば、流れノズルの特定設計、即ち流れノズル(単数又は複数)とウェーハキャリヤとの間の距離が変更されている。
【0008】
リアクタ設計者は、各ウェーハの表面全体にわたり均一な温度及び流れの場を維持しようと努めている。均一な温度を維持する能力は、反復性があり、適確であり、プロセス条件と無関係でなければならない。均一温度標準から2〜3℃に過ぎない偏差でも、ウェーハから製造されたデバイスの品質及び性質に重大な欠陥を生じさせる可能性がある。更に、流れの場の均一性が乱れることは、欠陥のあるエピタキシャル層を成長させる結果にもなり得る。例えば、1つ以上のエピタキシャル層の厚みがウェーハの全面にわたり変動するかも知れない。
【0009】
反応チャンバ内の温度及び流れ条件を制御することに多くの努力が向けられてきた。例えば、パーク(Park)等に対する米国特許第6,039,811号は、冷却ジャケットが取付けられたゲートバルブを有する、エピタキシャル層を成長させるためのリアクタを開示している。このリアクタは、5種の冷却ジャケット、即ち、第1側壁にある第1の冷却ジャケット、第2側壁にある第2の冷却ジャケット、天井壁にある第3の冷却ジャケット、底壁にある第4の冷却ジャケット及びゲートバルブにある第5の冷却ジャケットを有している。リアクタは、カセットチャンバから反応チャンバにウェーハを搬送するためのロボットアームを有する搬送チャンバを含んでいる。このリアクタはまた、製造プロセスの完了後にウェーハを冷却するためのウェーハ冷却チャンバも備えている。第1側壁に形成されたゲートバルブは、ウェーハ搬送チャンバを反応チャンバから分離し、ガス注入開口は、リアクタの天井壁を貫通している。当該冷却ジャケットにおいては、水や、水及びエチレングリコールの混合物のような冷却材が使用されている。
【0010】
ホワイト(White)等に対する米国特許第6,086,362号により開示された化学堆積チャンバは、基板をこのチャンバに搬入及び搬出するための開口を有している。このチャンバは、チャンバ本体を備えており、そこに取り付けられた抵抗素子によって、該チャンバ本体が加熱されるようになっている。また、チャンバは、チャンバ本体に固着された蓋体も備えている。チャンバ本体の側壁にある開口は、基板をチャンバに搬入及び搬出するための通路を提供している。このチャンバはまた、反応ガスをチャンバの内部に配送するためのガス配送管も有している。このチャンバが加熱されるときに、チャンバの外壁と熱的に連絡する冷却水管は、ウェーハ上に成長したエピタキシャル層の均一性に悪影響を与える状態にするチャンバ壁が熱くなり過ぎるのを防止するために、チャンバ壁の温度を所望範囲内に維持している。
【0011】
マエダ(Mayeda)等に対する米国特許第4,497,727号及び第5,942,038号は、上部容器及び下部容器を有すると共に、対向する封止フランジがその周囲を囲んで延びている堆積チャンバのための冷却要素を開示している。冷却アセンブリが封止フランジに取付けられており、水のような冷却媒体はこの冷却アセンブリを通過して、封止フランジと接触している弾性封止部材の一部の温度を低下させ、それにより弾性封止部材の有効寿命を延ばしている。
【0012】
ブリエン(Brien)等に対する米国特許第4,747,368号は、冷却管により囲まれたマニホルドを有する化学気相蒸着チャンバを開示している。この蒸着チャンバは、チャンバ内に支持されていると共に所定の反応温度まで加熱されたウェーハ基板を受けるように適合している。チャンバ内に配置されたマニホルドは、ウェーハ基板の一面に反応ガスを均等に配送して基板上のエピタキシャル層の成長を最適化するため、そこに複数の開口を有している。チャンバは、基板を挿入すると共にリアクタから取り出すためのドアと、このドア及びチャンバ間に気密シールの形成を可能とするシールリングとを備えている。冷却管は、エピタキシャル層を成長させるのに最適な温度にマニホルドを維持するため、該マニホルドを囲んでいる。冷却管はまた、反応ガスがマニホルド内で時期尚早に反応するのを防止している。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0013】
上述した改良にもかかわらず、リアクタの内部における熱及び流れの場の均一性の乱れを最小にし、それによりウェーハ上に適確で、反復性があり、しかも均一なエピタキシャル層の形成という結果になるCVDリアクタに対する必要性が残っている。
【課題を解決するための手段】
【0014】
本発明の一部の好適な実施形態に従って、半導体ウェーハのためにエピタキシャル層を成長させるリアクタは、ステンレス鋼から形成された気密反応チャンバのような反応チャンバを備えている。リアクタは、好ましくは、ウェーハ及び/又はウェーハキャリヤを反応チャンバに挿入したりそこから取り出したりするための貫通開口を備えている。リアクタはまた、この貫通開口を選択的に閉止するために反応チャンバの内部に配置された円筒形シャッタを備えているのが望ましい。この円筒形シャッタは、貫通開口を閉止する第1位置と貫通開口を開放する第2位置との間で可動であるのが望ましい。この円筒形シャッタは、水のような冷却流体を受けるのに適合した内部キャビティを備えているのが望ましい。本発明は、何ら特定の作動原理に限定されないが、ウェーハキャリヤを実質的に囲む円筒形シャッタを利用することは、流れの場の乱れを最小にして、それにより結果として均一なエピタキシャル層になると考えられる。更に、シャッタの内部キャビティに冷却流体を供給することは、ウェーハキャリヤの全域にわたり熱の不連続性を最小にすることになる。一部の実施形態において、冷却流体は、水、オイル、及び約100℃以上の沸騰温度を有するその他任意の液体からなるグループから選択された流体である。
【0015】
リアクタは、冷却流体を内部キャビティに供給するためにシャッタの当該内部キャビティに流体連絡する配管を備えていてもよい。この配管は、冷却流体をシャッタに導入するための少なくとも1つの入口管と、冷却流体をシャッタから取り出すための少なくとも1つの出口管とを備えている。これら入口管及び出口管は、リアクタの作動中、冷却流体をシャッタに循環させるのが望ましい。一部の実施形態において、配管は、冷却流体をシャッタの内部キャビティに導入するための2つ以上の入口管と、冷却流体をシャッタの内部キャビティから取り出すための2つ以上の出口管とを備えている。この配管は、シャッタに接続されるのが望ましく、シャッタがその第1及び第2位置間を移動するときにシャッタと同時に移動するようになっている。
【0016】
リアクタはまた、反応ガスを反応チャンバの内部に導入するために反応チャンバに取り付けられる注入フランジを備えているのが望ましい。ここで用いられている反応ガスという用語は、反応チャンバ内にある諸条件で存在する任意のガス及び蒸気を意味しており、高温及び低圧で反応チャンバ内に導入されるガスを含んでいる。反応ガスは、それと不活性ガスのような別のガスを混合することにより希釈することができる。CVDリアクタは、チャンバの内部領域内に反応ガスを導入するため、1998年9月2日出願の同一出願人による米国特許願第09/146,224号に開示されたインジェクタのような1つ以上の反応ガスインジェクタも備えることができ、その開示内容は参照によりこの明細書に組み込まれる。各ガスインジェクタは、反応ガスをチャンバの外部領域からチャンバの壁にある開口を経由してその内部領域中に通過させるため1つ以上の通路を備えているのが好ましい。
【0017】
CVDリアクタは、反応チャンバの内部領域内に取付けられるウェーハキャリヤを備えていてもよい。このウェーハキャリヤは、1つ以上のウェーハを受けるための成長領域を有する第1表面を備えているのが望ましい。当該ウェーハキャリヤの第1表面は、個々のウェーハを受け入れるための凹部もしくはポケットを有している。基板キャリヤは、反応ガスがチャンバの内部領域中に導入すると共にウェーハの上に導入しながら1つ以上のウェーハを回転させるように、チャンバの内部領域内に回転可能に取付けられているのが好ましい。ある実施形態において、基板キャリヤは、実質的に水平な面内で回転するように取付けられている。他の実施形態において、基板キャリヤは、実質的に垂直な面内で回転する。更に別の実施形態において、基板キャリヤは、水平な面及び垂直な面の間に位置する面内で回転するようになっている。
【0018】
リアクタはまた、反応チャンバ内に取付けられたウェーハ及び/又はウェーハキャリヤを加熱するために反応チャンバと連絡する1つ以上の加熱要素を備えている。この加熱要素は、ウェーハの上面全体にわたり均一な温度をもたらすのが望ましい。ある実施形態において、加熱要素(単数又は複数)は、反応チャンバの内部に設けられている。反応チャンバはまた、加熱要素からの熱をウェーハ及び/又はウェーハキャリヤに向かって方向付けるため、その中に設けられた或いは1つ以上の加熱要素の近くに設けられた1つ以上の熱シールドもまた有することが可能である。
【0019】
本発明の他の好適な実施形態において、ウェーハ及び/又はウェーハキャリヤ上にエピタキシャル層を成長させるためのリアクタは、反応チャンバを備えており、該反応チャンバは、複数のウェーハキャリヤをそこに挿入したりそこから取り出したりするための貫通開口を有しており、また、リアクタは、この貫通開口を選択的に閉止するため反応チャンバの内部に配置された円筒形シャッタを備えている。当該円筒形シャッタは、該貫通開口を閉止する第1位置と当該貫通開口を開放する第2位置との間で可動であるのが望ましい。この円筒形シャッタは、実質的に中空であるのが望ましく、また、冷却流体を受けるのに適合した内部キャビティを備えている。リアクタはまた、冷却流体を内部キャビティに供給するために円筒形シャッタの内部キャビティと流体連絡する配管、及び反応チャンバの内部に配置された上端を有する回転可能のスピンドルとを備えているのが望ましく、少なくとも1つのウェーハキャリヤはこのスピンドルの上端に取付けられている。ウェーハキャリヤがスピンドルの上端に取付けられたときに、円筒形シャッタはウェーハキャリヤの外周を囲んでいることが望ましい。ウェーハキャリヤの一部のみを囲むのとは対照的に、ウェーハキャリヤを完全に囲むことにより、流れの場及び温度の不連続性が避けられることになる。
【0020】
一部の実施形態において、冷却流体の配管は、シャッタに接続される上端と、反応チャンバの外部に配置され、かつ冷却流体のタンクと連絡する下端とを有している。リアクタは、配管が接続される可動板を備えており、シャッタが開位置及び閉位置間を移動しているときに、可動板及び配管が互いに同時に移動するようになっている。作動要素は、可動板、配管及びシャッタを貫通開口を開放する第1位置と貫通開口を閉止する第2位置との間に移動するために可動板に接続されている。配管は、リアクタの底板にある開口を通り滑動することが望ましい。リアクタはまた、配管の長手方向軸線に対して実質的に平行な軸方向に沿って可動板の移動を案内するために、可動板と接触するガイド要素を備えていてもよい。
【0021】
これらの好適な実施形態及びその他の好適な実施形態は、以下にもっと詳しく提示することにする。
【発明を実施するための最良の形態】
【0022】
図3Aを参照すると、本発明の好適な一実施形態に基づいて、化学気相蒸着(CVD)リアクタのようなリアクタ120は、真空等級のステンレス鋼から形成されていることが好ましい。このリアクタは、上端126とそこから遠く離れた下端128とをもつ円筒形壁124を有する反応チャンバ122を好ましくは備えている。リアクタ120は、円筒形壁124の上端126を覆って取付けられたインジェクタもしくは注入フランジ130を備えていることが望ましい。インジェクタフランジ130は、エピタキシャル層を成長させるための反応ガスのような反応物を反応チャンバの内部領域132に導入するのが好ましい。特定の好適な実施形態において、インジェクタフランジ130は、反応物を反応チャンバ122の内部に注入するためにシャワーヘッド式の水冷インジェクタを備えている。水冷要素136は、インジェクタフランジを所定温度範囲内に維持するため、インジェクタフランジ130の下側138と円筒形壁124との間に配置されている。
【0023】
インジェクタフランジ130は、ディスク形に作られているのが好ましく、また、円筒形壁124の頂部にある円形開口の形状に実質的に一致する外周を有しているので、インジェクタフランジ130が反応チャンバ122に取付けられたときに、インジェクタフランジ130及び反応チャンバは気密シールを形成している。CVDリアクタは、円筒形壁124とインジェクタフランジ130との間に気密シールを形成するため封止要素125を含むのが好ましい。インジェクタフランジはまた、当該インジェクタフランジをチャンバに固定するため、ボルト又はねじのような締結具を孔に通して設置し得るように、その外周近くに複数の孔(図示せず)を備えていてもよい。一旦インジェクタフランジが円筒形壁の頂部に固定されると共に、両者間に気密シールが形成されていれば、インジェクタフランジはチャンバに恒久的に取付けられたままにしておいてもよい。その他の好適な実施形態において、インジェクタフランジは、リアクタの内部へのアクセスを取得するため、取外し自在となっている。
【0024】
リアクタ120はまた、反応チャンバ122の内側もしくは内部領域132から排出ガスを除去するため排出管(図示せず)を備えていてもよい。一部の好適な実施形態において、この排出管は、反応チャンバ122の底部から延びることができる。リアクタ120はまた、円筒形壁124の下縁128を覆って取付けられる底板142を備えているのが好ましい。この底板142は、円筒形壁124の下端に取付けられているのが好ましい。このことから、底板142は固定されている。固定された底板142は、均一なエピタキシャル層を成長させるために、当該底板を最適温度に維持すべく冷却流体を受けるためのキャビティを有している。
【0025】
反応チャンバ122は、ウェーハキャリヤを反応チャンバ122の内部領域132に挿入し、かつウェーハキャリヤをそこから取り出すため、円筒形壁124を貫いて延びる貫通開口144を備えていることが好ましい。図3A及び図4を参照すると、この貫通開口144は、ウェーハキャリヤを反応チャンバ122に挿入したりそこから取り出したりするため、ゲートバルブ(図示せず)を介して装填装置に接続可能なフランジ146を備えている。円筒形壁124は、それと熱的に連絡する冷却ジャケット(図示せず)を備えていてもよい。この冷却ジャケットは、均一なエピタキシャル層の成長を最適化するために、円筒形壁124の温度を好適な範囲内に維持するのに役立つ冷却材をその内部に収容していることが好ましい。
【0026】
ここに開示されたCVDリアクタの好適な実施形態は、ウェーハ上に広範囲のエピタキシャル層を成長させるのに使用されている。これらには、GaAs,GaP,GaAs1- xx,Ga1-yAlyAs,Ga1-yInyAs,AlAs,InAs,InP,InGaP,InSb,GaN,InGaN等のようなIII-V族化合物が含まれている。しかし、ここに開示されたCVDリアクタはまた、他の化合物を生成するのにも利用されることができる。これらには、ZnSe,CdTe,HgCdTe,CdZnTe,CdSeTe等のようなII-VI族化合物、SiC,ダイアモンド,SiGeのようなIV-IV族化合物、YBCO,BaTiO,MgO2,ZrO,SiO2,ZnO及びZnSiOのような酸化物、並びにAl,Cu及びWのような金属がある。更に、その結果として生ずる材料は、高輝度発光ダイオード(LED's)、レーザ、太陽電池、光電陰極、高電子移動度トランジスタ(HEMT's)、金属半導体電解効果型トランジスタ(MESFET's)を含め、広範囲の電子的及び光電子的用途に使用されることになる。
【0027】
図3A及び図3Bを参照すると、リアクタは、可動な円筒形シャッタ148を備えている。この円筒形シャッタ148は、貫通開口144を選択的に閉じるために、開位置及び閉位置の間を可動であることが好ましい。図3Aに示すように、貫通開口144は、エピタキシャル層の堆積プロセスの間、実質的に円筒形のシャッタ148により実質的に閉止されている。円筒形シャッタ148は、内部キャビティ150を有していることが好ましい。そして、リアクタ120は、この内部キャビティ150に流体連通する配管152を備えている。冷却流体は、シャッタ148の温度を所望範囲内に維持するため、配管を通過して内部キャビティ150に流入するようになっている。その結果、冷却流体は、シャッタ148について所望の冷却温度を維持するように、内部キャビティ150内で連続的に再循環されている。各配管152は、シャッタ148の底壁156に固定される上端154を備えているのが望ましい。特定の好適な実施形態において、シャッタ148の底壁156は、配管152の上端154を受け取るための開口(図示せず)を備えている。配管152の上端154は、底壁156の開口(図示せず)中に恒久的に固着されているのが好適である。配管152はまた、水タンク(図示せず)のような冷却流体源と流体連通するのが好ましい下端158を備えている。上端154及び下端158の間にある配管152の中間部分160は、固定の底板142の開口162を貫いて延びている。底板142は、冷却流体を受けるための底板凹部164を備えている。配管152の中間部分160は、固定の底板142の開口162を自由に通り滑動可能であるのが好ましい。以下にもっと詳細に説明するように、配管は、配管152の長手方向軸線に対して実質的に平行であるA−Aと表わされた軸方向にシャッタ148を移動させるため、底板142に対して自由に滑動することが特に好ましい。リアクタ120はまた、底板142の裏面168に取付けられたスペーサ板166を備えているのが望ましい。
【0028】
リアクタ120はまた、底板142の下方に可動板170を備えていてもよい。可動板170は、軸線A−Aに沿って、インジェクタフランジ130に対し、そこに向かって及びそこから離れて移動可能である。可動板170は、上面174と、下面176と、それらの間に延在する開口とを有しているのが望ましい。冷却流体を供給するための配管152は、可動板の開口172を貫いて延びているのが好ましいが、配管152は可動板170に固定されている。その結果、配管152及び可動板170は互いに同時に移動することになる。リアクタ120はまた、可動板170の下面176に接合されたアーム180を有する作動要素178を具備している。作動要素178は、A−Aと表わされた軸線に対して実質的に平行な方向で、可動板を底板142に対しそこに向かって及びそこから離れて移動させるように作動させられている。可撓性のベローズ構造182は、底板142の下面168に対して気密シールを維持することが望ましい。ベローズ182はまた、可動板170及び配管152が底板142に対して移動することを可能にするものである。
【0029】
リアクタ120は、可動板170の案内開口186を貫いて延びる線形運動ガイド184を備えている。この線形運動ガイド184は、底板142に向かったりそこから遠ざかったりする軸線A−Aに対して実質的に平行な方向への可動板170の運動を案内している。リアクタ120はまた、作動要素178のベース部材179の頂部に取付けられた底板188を備えている。
【0030】
リアクタ120はまた、反応チャンバ122の内部領域132内に配置された上端190と、反応チャンバ122の外側に配置された下端192と有するスピンドル189を備えている。ある好適な実施形態において、スピンドル189は、冷却流体を受けるように適合した内部キャビティを有している。スピンドル189の上端190は、その上にウェーハキャリヤ196を取付ける大きさ及び形状に作られている。ウェーハキャリヤ196は、エピタキシャル層を上に成長させるのに使用される1つ以上の半導体ウェーハを保持するように適合している。リアクタ120はまた、ウェーハキャリヤの上面及び/又はそこに取付けられた半導体ウェーハ全域にわたり均一な温度を確保するために、放射加熱要素198を備えている。リアクタ120はまた、この放射加熱要素からの熱をウェーハキャリヤ及びその上に収容されたウェーハに向ける熱シールド200を備えていてもよい。図3Aに示された特定の実施形態において、放射加熱要素198及び熱シールド200は、互いに実質的に平行な方向に延びている。反応チャンバ122はまた、第1の熱シールド200を横断する方向に延びる第2の熱シールド202を備えていてもよい。この第2の熱シールド202は、円筒形の形状とすることができると共に、ウェーハキャリヤ196の外周を囲むことができる。リアクタ120は、底板142に取付けられた回転フィードスルー204を備えている。この回転フィードスルー204は、電気モータ(図示せず)を使用して作動される強磁性流体式フィードスルーでもよい。回転フィードスルーは、反応チャンバ122の内部領域132内に真空を維持すべく、回転フィードスルー204及び底板142の間の境界面に気密シールを形成するのが好ましい。
【0031】
シャッタ148は、1つ以上のウェーハキャリヤ196を反応チャンバ122の内部領域132に挿入したり及び/又はそこから取り出したりするのを可能にすべく、貫通開口144を閉止するための第1位置(図3A)と貫通開口144を開放するための第2位置(図3B)との間で可動である。ウェーハキャリヤがスピンドル189の上に置かれた後、シャッタ148が第2開位置から第1閉位置に移動されるに至って、シャッタの上端は水冷要素136の下面に当接するようになり、それにより貫通開口144を閉止している。一旦シャッタ148が閉止されると、反応物(図示せず)は、インジェクタフランジ130のバッフルプレート134を通り導入されることになる。
【0032】
本発明は何ら特定の作動理論に限定されないが、シャッタ148の内部キャビティ150に冷却流体を導入することは、エピタキシャル層を成長させるウェーハ表面の全域にわたる熱的な不連続を最小にすべく、所望温度レベルでのシャッタ148の温度のより敏感な制御を可能にすると考えられる。当業者に知られているように、ウェーハの面における温度の不連続は、欠陥エピタキシャル層の形成という結果になり得る。例えば、温度の不連続は、反応ガスを時期尚早に、余りにも遅く、或いは異なる速度で反応させることになり、これは、エピタキシャル層の特性もしくはエピタキシャル層の特定領域の特性を変えることになるかも知れない。冷却されたシャッタ148はまた、好ましくは、ウェーハキャリヤ196の上面全域にわたり均一な流れの場を提供するものである。
【0033】
また、一部の好適な実施形態における円筒形シャッタの使用は、特に、シャッタがウェーハキャリヤの外周を完全に囲み、これはウェーハキャリヤの周縁の一部のみに接するシャッタよりも好ましいと考えられるので、熱及び流れの場の不連続を最小にすることになる。
【0034】
均一な温度及び流れの場の提供は、ウェーハ上に均一なエピタキシャル層を形成する結果となる。堆積工程が終了したときに、シャッタ148は、作動要素178から可動の配管152を経由してシャッタ148に伝達される力により、下方に移動される。一旦シャッタ148が図3Bに示された第2の開位置に移動されると、ウェーハキャリヤ196は、貫通開口144を通ってリアクタ120から取り出すことができ、別のウェーハキャリヤがスピンドル189の上に取付けられることになる。
【0035】
上記から分かるように、上に論じた諸特徴に関する幾多の変形及び組合せは、特許請求の範囲により更に明確にされているような本発明から逸脱することなく利用可能である。従って、好適な実施形態に関する上述の記載は、本発明の特定の局面を単に説明しているに過ぎず、決して本発明の範囲を限定するものではない。
【産業上の利用可能性】
【0036】
本発明は、半導体産業に利用可能性を有している。
【図面の簡単な説明】
【0037】
【図1】ウェーハキャリヤ、サセプタ及び回転可能なスピンドルを備えた先行技術のリアクタの断面図である。
【図2】図1のウェーハキャリヤ、サセプタ及び回転可能なスピンドルを示す拡大図である。
【図3A】本発明の一部の好適な実施形態に基づいて、シャッタを閉位置にしたリアクタを示す断面図である。
【図3B】シャッタを開位置にした図3Aのリアクタを示す断面図である。
【図4】横断線IV−IVに沿って切り取った図3Aのリアクタを示す平面図である。

Claims (32)

  1. エピタキシャル層を成長させるためのリアクタであって、
    反応チャンバを有し、該反応チャンバは、ウェーハキャリヤをそこに挿入したりそこから取り出したりするための貫通開口を備えており、
    前記貫通開口を選択的に閉止するため前記反応チャンバの内部に配置される円筒形シャッタを有し、該円筒形シャッタは、前記貫通開口を閉止する第1位置と前記貫通開口を開放する第2位置との間で可動であり、該円筒形シャッタは、冷却流体を受けるのに適合した内部キャビティを備えている、リアクタ。
  2. 前記冷却流体を前記内部キャビティに供給するために前記シャッタの前記内部キャビティに接続された配管を更に備えている、請求項1に記載のリアクタ。
  3. 前記配管は、前記冷却流体を前記内部キャビティに導入するための少なくとも1つの入口管と、前記冷却流体を前記内部キャビティから取り出すための少なくとも1つの出口管とを備えている、請求項2に記載のリアクタ。
  4. 前記配管は、前記冷却流体を前記内部キャビティに導入するための2つ以上の入口管と、前記冷却流体を前記内部キャビティから取り出すための2つ以上の出口管とを備えている、請求項2に記載のリアクタ。
  5. 前記配管は、前記第1シャッタ位置及び前記第2シャッタ位置の間で前記シャッタと同時に移動するために前記シャッタに接続されている、請求項2に記載のリアクタ。
  6. ステンレス鋼から構成されている、請求項1に記載のリアクタ。
  7. 反応物を前記反応チャンバの内部に導入するため、前記反応チャンバに取付けられた注入フランジを更に備えている、請求項1に記載のリアクタ。
  8. 前記反応チャンバ内に取付けられたウェーハキャリヤを加熱するために、前記反応チャンバと連絡して設けられた1つ以上の加熱要素を更に備えている、請求項1に記載のリアクタ。
  9. 前記加熱要素は前記反応チャンバの内部に設けられており、前記加熱要素からの熱を前記反応チャンバ内に取付けられた前記ウェーハキャリヤに向かって方向付けるため前記1つ以上の加熱要素の近くに設けられた1つ以上の熱シールドを更に備えている、請求項8に記載のリアクタ。
  10. エピタキシャル層を成長させるためのリアクタであって、
    反応チャンバを有し、該反応チャンバは、複数のウェーハキャリヤをそこに挿入したりそこから取り出したりするための貫通開口を備えており、
    前記貫通開口を選択的に閉止するため前記反応チャンバの内部に配置される円筒形シャッタを有し、該円筒形シャッタは、前記貫通開口を閉止する第1位置と前記貫通開口を開放する第2位置との間で可動である、リアクタ。
  11. 前記円筒形シャッタは、実質的に中空であると共に、冷却流体を受けるのに適合した内部キャビティを備えている、請求項10に記載のリアクタ。
  12. 前記冷却流体を前記内部キャビティに供給するために、前記内部キャビティと流体連絡する配管を更に備えている、請求項11に記載のリアクタ。
  13. 前記反応チャンバの内部に配置された上端を有する回転可能なスピンドルを更に備え、前記複数のウェーハキャリヤの少なくとも1つは前記スピンドルの前記上端に取付け可能となっている、請求項10に記載のリアクタ。
  14. 前記複数のウェーハキャリヤの少なくとも1つは、外周を有しており、前記円筒形シャッタは、前記複数のウェーハキャリヤの少なくとも1つが前記スピンドルに取付けられているときに前記複数のウェーハキャリヤの少なくとも1つの前記外周を囲んでいる、請求項13に記載のリアクタ。
  15. 前記リアクタは、反応物を前記反応チャンバの内部に導入するための注入フランジと、底板とを備えている、請求項12に記載のリアクタ。
  16. 前記底板は、前記配管のための開口を有しており、前記配管は、前記配管用開口を貫いて延びている、請求項15に記載のリアクタ。
  17. 前記配管は、前記シャッタに接続される上端を有している、請求項11に記載のリアクタ。
  18. 前記配管は、前記反応チャンバの外側に配置され、かつ前記冷却流体のタンクと流体連絡する下端を有している、請求項17に記載のリアクタ。
  19. 前記冷却流体は、水、オイル、及び約100℃以上の沸騰温度を有する液体からなるグループから選択された流体である、請求項18に記載のリアクタ。
  20. 前記配管の下端は可動板に接続されている、請求項18に記載のリアクタ。
  21. 前記可動板は、前記貫通開口を開放する前記第1位置と前記貫通開口を閉止する前記第2位置との間に前記シャッタを移動させるのに適合したアクチュエータに接続されている、請求項20に記載のリアクタ。
  22. 前記配管は、前記第1及び第2シャッタ位置の間を前記シャッタと同時に移動するようになっている、請求項21に記載のリアクタ。
  23. 前記第1及び第2シャッタ位置の間の前記可動板の移動を案内するため、前記可動板に連絡するガイドを更に備えている、請求項21に記載のリアクタ。
  24. 前記反応チャンバは実質的に円筒形である、請求項10に記載のリアクタ。
  25. リアクタ用のシャッタアセンブリであって、
    冷却流体を受けるのに適合した内部キャビティを有し、前記リアクタの貫通開口を選択的に閉止するためのシャッタと、
    前記冷却流体を前記内部キャビティに供給するため前記シャッタに接続された配管と、
    前記配管及び前記シャッタを移動させるため前記配管に接続されたアクチュエータとを備え、前記シャッタは、第1の実質的に閉じる位置と第2の実質的に開く位置との間を可動である、シャッタアセンブリ。
  26. 前記配管は、前記シャッタに取付けられる上端と、前記冷却流体の源と流体連絡する下端とを有している、請求項25に記載のシャッタアセンブリ。
  27. 前記シャッタ及び前記アクチュエータの間にある可動板を更に備え、前記配管は前記可動板に恒久的に取り付けられている、請求項25に記載のシャッタアセンブリ。
  28. 前記配管は前記可動板にある開口を貫いて延びている、請求項27に記載のシャッタアセンブリ。
  29. 前記配管の一部を囲む可撓性のベローズを更に備えている、請求項28に記載のシャッタアセンブリ。
  30. 前記シャッタは円筒形である、請求項25に記載のシャッタアセンブリ。
  31. 前記円筒形のシャッタはウェーハキャリヤの外周を実質的に囲んでいる、請求項30に記載のシャッタアセンブリ。
  32. 前記冷却流体は、ガス、水、オイル、及び約100℃以上の沸騰温度を有する液体からなるグループから選択されている、請求項25に記載のシャッタアセンブリ。
JP2003502873A 2001-06-07 2002-06-07 可動シャッタを有するリアクタ Pending JP2004529272A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US29659801P 2001-06-07 2001-06-07
US10/046,426 US6902623B2 (en) 2001-06-07 2002-01-16 Reactor having a movable shutter
PCT/US2002/018440 WO2002099861A1 (en) 2001-06-07 2002-06-07 Rector having a movale shuter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004529272A true JP2004529272A (ja) 2004-09-24
JP2004529272A5 JP2004529272A5 (ja) 2006-01-05

Family

ID=26723902

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003502873A Pending JP2004529272A (ja) 2001-06-07 2002-06-07 可動シャッタを有するリアクタ

Country Status (6)

Country Link
US (2) US6902623B2 (ja)
EP (1) EP1393359A4 (ja)
JP (1) JP2004529272A (ja)
KR (1) KR20030018074A (ja)
CN (1) CN1265432C (ja)
WO (1) WO2002099861A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007012663A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Shibaura Mechatronics Corp 減圧処理装置及び減圧処理方法
JP2009033019A (ja) * 2007-07-30 2009-02-12 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置および半導体装置の製造方法
JP2016029700A (ja) * 2014-07-24 2016-03-03 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置および基板処理方法

Families Citing this family (70)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4908738B2 (ja) * 2002-01-17 2012-04-04 サンデュー・テクノロジーズ・エルエルシー Ald方法
JP3887291B2 (ja) * 2002-09-24 2007-02-28 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
EP1661161A2 (en) * 2003-08-07 2006-05-31 Sundew Technologies, LLC Perimeter partition-valve with protected seals
US20070071896A1 (en) 2003-08-20 2007-03-29 Veeco Instruments Inc. Alkyl push flow for vertical flow rotating disk reactors
JP4420380B2 (ja) * 2003-09-10 2010-02-24 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置
US7780821B2 (en) * 2004-08-02 2010-08-24 Seagate Technology Llc Multi-chamber processing with simultaneous workpiece transport and gas delivery
US20070281106A1 (en) * 2006-05-30 2007-12-06 Applied Materials, Inc. Process chamber for dielectric gapfill
US7841475B2 (en) * 2007-08-15 2010-11-30 Kalustyan Corporation Continuously operating machine having magnets
WO2009049020A2 (en) 2007-10-11 2009-04-16 Valence Process Equipment, Inc. Chemical vapor deposition reactor
US7964040B2 (en) * 2007-11-08 2011-06-21 Applied Materials, Inc. Multi-port pumping system for substrate processing chambers
US20090120368A1 (en) * 2007-11-08 2009-05-14 Applied Materials, Inc. Rotating temperature controlled substrate pedestal for film uniformity
JP5200171B2 (ja) * 2008-08-29 2013-05-15 ビーコ・インストゥルメンツ・インコーポレイテッド ウエハキャリア、化学蒸着装置、および、ウエハを処理する方法
US8895107B2 (en) 2008-11-06 2014-11-25 Veeco Instruments Inc. Chemical vapor deposition with elevated temperature gas injection
CN101994097B (zh) * 2009-08-25 2013-08-21 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 镀膜装置
EP2539920A1 (en) 2010-02-24 2013-01-02 Veeco Instruments Inc. Processing methods and apparatus with temperature distribution control
US8888919B2 (en) 2010-03-03 2014-11-18 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier with sloped edge
CN101876055B (zh) * 2010-03-23 2012-02-15 东莞宏威数码机械有限公司 挡板冷却装置
US8460466B2 (en) 2010-08-02 2013-06-11 Veeco Instruments Inc. Exhaust for CVD reactor
CN102477546A (zh) * 2010-11-25 2012-05-30 绿种子能源科技股份有限公司 具有冷却模块的薄膜沉积装置
US10167554B2 (en) 2010-12-30 2019-01-01 Veeco Instruments Inc. Wafer processing with carrier extension
US8888360B2 (en) 2010-12-30 2014-11-18 Veeco Instruments Inc. Methods and systems for in-situ pyrometer calibration
US20120180954A1 (en) 2011-01-18 2012-07-19 Applied Materials, Inc. Semiconductor processing system and methods using capacitively coupled plasma
WO2012157161A1 (ja) 2011-05-19 2012-11-22 古河機械金属株式会社 半導体製造装置部品の洗浄方法、半導体製造装置部品の洗浄装置および気相成長装置
TWI525744B (zh) 2011-05-31 2016-03-11 維克儀器公司 加熱之晶圓載體輪廓勘測
TWI511223B (zh) 2011-06-03 2015-12-01 Hermes Epitek Corp 半導體設備
US9816184B2 (en) 2012-03-20 2017-11-14 Veeco Instruments Inc. Keyed wafer carrier
CN102618845B (zh) * 2012-04-01 2014-06-11 中微半导体设备(上海)有限公司 具有遮挡板装置的反应器
US10316412B2 (en) 2012-04-18 2019-06-11 Veeco Instruments Inc. Wafter carrier for chemical vapor deposition systems
US9200965B2 (en) 2012-06-26 2015-12-01 Veeco Instruments Inc. Temperature control for GaN based materials
US8889566B2 (en) 2012-09-11 2014-11-18 Applied Materials, Inc. Low cost flowable dielectric films
US20160194753A1 (en) * 2012-12-27 2016-07-07 Showa Denko K.K. SiC-FILM FORMATION DEVICE AND METHOD FOR PRODUCING SiC FILM
WO2014103728A1 (ja) * 2012-12-27 2014-07-03 昭和電工株式会社 成膜装置
US9388493B2 (en) 2013-01-08 2016-07-12 Veeco Instruments Inc. Self-cleaning shutter for CVD reactor
US9018108B2 (en) 2013-01-25 2015-04-28 Applied Materials, Inc. Low shrinkage dielectric films
US9273413B2 (en) 2013-03-14 2016-03-01 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier with temperature distribution control
US10167571B2 (en) 2013-03-15 2019-01-01 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier having provisions for improving heating uniformity in chemical vapor deposition systems
TWI650832B (zh) 2013-12-26 2019-02-11 維克儀器公司 用於化學氣相沉積系統之具有隔熱蓋的晶圓載具
SG11201606084RA (en) 2014-01-27 2016-08-30 Veeco Instr Inc Wafer carrier having retention pockets with compound radii for chemical vapor deposition systems
US9831754B2 (en) 2014-03-13 2017-11-28 The Regents Of The University Of Michigan Miniature mechanical shutter
JP6195803B2 (ja) * 2014-05-02 2017-09-13 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法および記憶媒体
US9412581B2 (en) 2014-07-16 2016-08-09 Applied Materials, Inc. Low-K dielectric gapfill by flowable deposition
CN105463407B (zh) * 2014-09-05 2018-12-07 沈阳拓荆科技有限公司 原子层沉积设备
KR101722915B1 (ko) * 2014-10-13 2017-04-04 주식회사 테스 유기금속화학기상증착장치
US20160225652A1 (en) 2015-02-03 2016-08-04 Applied Materials, Inc. Low temperature chuck for plasma processing systems
USD793972S1 (en) 2015-03-27 2017-08-08 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier with a 31-pocket configuration
USD793971S1 (en) 2015-03-27 2017-08-08 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier with a 14-pocket configuration
USD778247S1 (en) * 2015-04-16 2017-02-07 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier with a multi-pocket configuration
US9627239B2 (en) 2015-05-29 2017-04-18 Veeco Instruments Inc. Wafer surface 3-D topography mapping based on in-situ tilt measurements in chemical vapor deposition systems
CN107735857B (zh) * 2015-06-05 2022-01-11 应用材料公司 基座定位及旋转设备及使用方法
JP6582676B2 (ja) * 2015-07-24 2019-10-02 東京エレクトロン株式会社 ロードロック装置、及び基板処理システム
US9748113B2 (en) 2015-07-30 2017-08-29 Veeco Intruments Inc. Method and apparatus for controlled dopant incorporation and activation in a chemical vapor deposition system
DE202016104588U1 (de) 2015-09-03 2016-11-30 Veeco Instruments Inc. Mehrkammersystem für chemische Gasphasenabscheidung
US10954594B2 (en) * 2015-09-30 2021-03-23 Applied Materials, Inc. High temperature vapor delivery system and method
CN106801222B (zh) * 2015-11-26 2018-06-19 中晟光电设备(上海)股份有限公司 一种晶片托盘及mocvd系统
US10571430B2 (en) 2016-03-14 2020-02-25 Veeco Instruments Inc. Gas concentration sensors and systems
CN105862011B (zh) * 2016-06-14 2018-08-24 武汉工程大学 一种化学气相沉积设备专用挡板装置
KR20190001371U (ko) 2017-11-30 2019-06-10 비코 인스트루먼츠 인코포레이티드 33-포켓 구성을 갖는 웨이퍼 캐리어
USD860146S1 (en) 2017-11-30 2019-09-17 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier with a 33-pocket configuration
USD866491S1 (en) 2018-03-26 2019-11-12 Veeco Instruments Inc. Chemical vapor deposition wafer carrier with thermal cover
USD860147S1 (en) 2018-03-26 2019-09-17 Veeco Instruments Inc. Chemical vapor deposition wafer carrier with thermal cover
USD854506S1 (en) 2018-03-26 2019-07-23 Veeco Instruments Inc. Chemical vapor deposition wafer carrier with thermal cover
USD858469S1 (en) 2018-03-26 2019-09-03 Veeco Instruments Inc. Chemical vapor deposition wafer carrier with thermal cover
USD863239S1 (en) 2018-03-26 2019-10-15 Veeco Instruments Inc. Chemical vapor deposition wafer carrier with thermal cover
JP7066512B2 (ja) * 2018-05-11 2022-05-13 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
JP7374016B2 (ja) * 2019-06-18 2023-11-06 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
CN112251732B (zh) * 2020-08-31 2023-02-17 广东鼎泰机器人科技有限公司 一种涂层机的载料装置
CN112144112B (zh) * 2020-09-22 2022-07-22 北京北方华创微电子装备有限公司 一种半导体工艺设备
JP2022070597A (ja) * 2020-10-27 2022-05-13 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
CN114657643B (zh) * 2020-12-24 2023-10-03 中国科学院微电子研究所 晶片处理设备
KR20230104001A (ko) * 2021-12-30 2023-07-07 주식회사 비아트론 에피택셜 공정용 반도체 제조 장치

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3656454A (en) * 1970-11-23 1972-04-18 Air Reduction Vacuum coating apparatus
JPS5942970B2 (ja) 1979-03-29 1984-10-18 テルサ−ムコ株式会社 半導体熱処理用反応管
DE3020264A1 (de) 1980-05-28 1981-12-03 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Dichter, gekuehlter verschluss fuer prozessrohre, insbesondere in der halbleiterfertigung
US4565157A (en) 1983-03-29 1986-01-21 Genus, Inc. Method and apparatus for deposition of tungsten silicides
US4539933A (en) 1983-08-31 1985-09-10 Anicon, Inc. Chemical vapor deposition apparatus
DE3421538A1 (de) 1984-06-08 1985-12-12 ATOMIKA Technische Physik GmbH, 8000 München Vakuumaufdampfeinrichtung
CA1251100A (en) 1985-05-17 1989-03-14 Richard Cloutier Chemical vapor deposition
US4658513A (en) 1985-09-03 1987-04-21 Dynapert-Htc Corporation Continuous vapor phase processing machine
US5046909A (en) * 1989-06-29 1991-09-10 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for handling semiconductor wafers
JPH04157162A (ja) 1990-10-22 1992-05-29 Shinko Electric Co Ltd 表面処理装置
JP3106172B2 (ja) 1991-02-26 2000-11-06 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置の封止構造
JP2677913B2 (ja) 1991-05-13 1997-11-17 三菱電機株式会社 半導体製造装置のシール機構および半導体装置の製造方法
JPH0770730A (ja) * 1993-09-06 1995-03-14 Hitachi Metals Ltd 耐孔食性ステンレス鋼
JP3292540B2 (ja) * 1993-03-03 2002-06-17 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
JPH06295915A (ja) 1993-04-09 1994-10-21 F T L:Kk 半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造方法
US5497727A (en) 1993-09-07 1996-03-12 Lsi Logic Corporation Cooling element for a semiconductor fabrication chamber
US5855677A (en) 1994-09-30 1999-01-05 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for controlling the temperature of reaction chamber walls
JP3553204B2 (ja) 1995-04-28 2004-08-11 アネルバ株式会社 Cvd装置
JPH09134880A (ja) 1995-11-09 1997-05-20 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造装置
US5854468A (en) 1996-01-25 1998-12-29 Brooks Automation, Inc. Substrate heating apparatus with cantilevered lifting arm
KR100443415B1 (ko) 1996-02-23 2004-11-03 동경 엘렉트론 주식회사 열처리장치
KR100200705B1 (ko) 1996-06-08 1999-06-15 윤종용 반도체 디바이스 제조장치, 제조장치의 공정 조건 조절방법 및 이를 이용한 커패시터 제조방법
US6001183A (en) * 1996-06-10 1999-12-14 Emcore Corporation Wafer carriers for epitaxial growth processes
US5788799A (en) * 1996-06-11 1998-08-04 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for cleaning of semiconductor process chamber surfaces
US6432203B1 (en) * 1997-03-17 2002-08-13 Applied Komatsu Technology, Inc. Heated and cooled vacuum chamber shield
WO1998050916A1 (en) * 1997-05-08 1998-11-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Device and method for manufacturing an optical recording medium
US6086362A (en) 1998-05-20 2000-07-11 Applied Komatsu Technology, Inc. Multi-function chamber for a substrate processing system
US6192827B1 (en) * 1998-07-03 2001-02-27 Applied Materials, Inc. Double slit-valve doors for plasma processing
US20020069970A1 (en) * 2000-03-07 2002-06-13 Applied Materials, Inc. Temperature controlled semiconductor processing chamber liner
US6800173B2 (en) * 2000-12-15 2004-10-05 Novellus Systems, Inc. Variable gas conductance control for a process chamber
US6442950B1 (en) * 2001-05-23 2002-09-03 Macronix International Co., Ltd. Cooling system of chamber with removable liner

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007012663A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Shibaura Mechatronics Corp 減圧処理装置及び減圧処理方法
JP4707139B2 (ja) * 2005-06-28 2011-06-22 芝浦メカトロニクス株式会社 減圧処理装置及び減圧処理方法
JP2009033019A (ja) * 2007-07-30 2009-02-12 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置および半導体装置の製造方法
JP2016029700A (ja) * 2014-07-24 2016-03-03 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置および基板処理方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP1393359A1 (en) 2004-03-03
CN1465094A (zh) 2003-12-31
KR20030018074A (ko) 2003-03-04
US6902623B2 (en) 2005-06-07
WO2002099861A1 (en) 2002-12-12
EP1393359A4 (en) 2006-11-22
US7276124B2 (en) 2007-10-02
CN1265432C (zh) 2006-07-19
US20050217578A1 (en) 2005-10-06
US20020185068A1 (en) 2002-12-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2004529272A (ja) 可動シャッタを有するリアクタ
JP3252960B2 (ja) 原子層エピタキシー工程のための半導体薄膜蒸着装置
EP0972092B1 (en) Multipurpose processing chamber for chemical vapor deposition processes
KR100415475B1 (ko) 기판 상에 박막을 성장시키는 장치
US6214116B1 (en) Horizontal reactor for compound semiconductor growth
KR101855217B1 (ko) 캐리어 연장부를 이용한 웨이퍼 처리
US8092599B2 (en) Movable injectors in rotating disc gas reactors
US20070028838A1 (en) Gas manifold valve cluster
US20110290175A1 (en) Multi-Chamber CVD Processing System
KR20000069146A (ko) 화학 기상 증착 장치
KR20150045012A (ko) 기판 처리장치
CN113604873B (zh) 一种气相外延系统及其维护操作方法
KR100839190B1 (ko) 기판을 처리하는 장치 및 방법
CN113604874B (zh) 一种气相外延系统及其维护操作方法
CN113604875B (zh) 一种气相外延系统及其维护操作方法
KR101135083B1 (ko) 박막 증착 장치 및 방법
KR101464202B1 (ko) 기판 처리 장치
TWI586830B (zh) 在所需位置具有進出閘門之沈積系統及相關製作方法
KR101395222B1 (ko) 기판 처리 장치 및 방법
KR20080062211A (ko) 기판을 처리하는 장치 및 방법
KR20080062339A (ko) 기판처리장치 및 이를 제조하는 방법
KR100350080B1 (ko) 박막 증착 장치
JP2003017544A (ja) 基板搬送装置およびこれを備えた気相成長装置
KR100271831B1 (ko) 화합물 반도체 제조용 수평 반응로
JP2001326219A (ja) 基板処理装置および半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050531

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050531

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080509

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080808

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080815

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080909

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080917

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090106