JP2004222272A - パワー検出部を具備して漏洩電流経路を遮断するレベルシフト - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 10
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 20
- 102100036285 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Human genes 0.000 description 20
- 101000875403 Homo sapiens 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Proteins 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Abstract
【課題】 パワー検出部を具備して漏洩電流経路を遮断するレベルシフトが開示される。
【解決手段】 本発明のレベルシフトはパワー検出部、入力段及び出力段を含む。パワー検出部は第1電源と第2電源の電圧レベルに応答して制御信号を発生する。入力段は第1電源と接地との間に接続され、入力信号を受信する。出力段は第2電源と接地との間に接続され、制御信号と入力段の出力に応答して出力信号を発生する。したがって、本発明のレベルシフトによると、パワーダウンモード時には、漏洩電流経路を遮断し、正常モード時には、第1電源レベルの入力信号を第2電源レベルの出力信号にレベルシフトさせる。
【選択図】 図2
【解決手段】 本発明のレベルシフトはパワー検出部、入力段及び出力段を含む。パワー検出部は第1電源と第2電源の電圧レベルに応答して制御信号を発生する。入力段は第1電源と接地との間に接続され、入力信号を受信する。出力段は第2電源と接地との間に接続され、制御信号と入力段の出力に応答して出力信号を発生する。したがって、本発明のレベルシフトによると、パワーダウンモード時には、漏洩電流経路を遮断し、正常モード時には、第1電源レベルの入力信号を第2電源レベルの出力信号にレベルシフトさせる。
【選択図】 図2
Description
本発明は半導体集積回路に関するものであり、特に、パワー検出部を具備して漏洩電流経路を遮断するレベルシフトに関するものである。
アナログ回路とデジタル回路とが一チップにエンベデッド(embedded)されている混成集積回路(mixed integrated circuit)やメモリ回路などがある。アナログ回路とデジタル回路との間には互いに異なる二つの信号レベルを相互に変換するためのレベルシフトが設けられている。即ち、通常、アナログ回路の動作電圧レベルはデジタル回路の動作電圧レベルより高く設定される。このため、デジタル回路とアナログ回路との間にインターフェース回路としてレベルシフトが使用される。
図1は従来のレベルシフトを示す図面である。これを参照すると、レベルシフト100は入力段110と出力段120で構成される。入力段110には第1電源VDD1と接地VSSが供給され、出力段120には第2電源VDD2と接地VSSが供給される。第1電源VDD1の電圧は第2電源VDD2の電圧より低いと仮定し、例えば、第1電源VDD1の電圧は1.8V程度であり、そして第2電源VDD2の電圧は3.3V程度であると設定する。入力段110はインバータ10とインバータ20を含む。出力段120は第2電源VDD2にそのソースが連結され、互いに交差接続された第1及び第2PMOSトランジスタ31、32と、接地VSSにそのソースが連結され、そのゲートがインバータ20の出力ノード25とインバータ10の出力ノード15に各々連結される第1及び第2NMOSトランジスタ33、34と、インバータ40とを含む。
レベルシフト100は次のように動作される。
先ず、入力信号INが接地VSSレベルのロジックローレベルから第1電源VDD1レベルのロジックハイレベルに遷移する場合を説明する。この場合、インバータ10の出力ノード15は接地VSSレベルのロジックローレベルに変わり、そしてインバータ20の出力ノード25は第1電源VDD1レベルのロジックハイレベルに変わる。これによって、出力段120の第1NMOSトランジスタ33と第2PMOSトランジスタ32がターンオンされ、第1ノード35は接地VSSレベルのロジックローレベルになり、インバータ40の出力ノードに現れる出力信号Yは第2電源VDD2レベルのロジックハイレベルになる。
次に、入力信号INが第1電源VDD1レベルのロジックハイレベルから接地VSSレベルのロジックローレベルに遷移する場合は、インバータ10の出力ノード15は第1電源VDD1レベルのロジックハイレベルに、そしてインバータ20の出力ノード25は接地VSSレベルのロジックローレベルに変わる。出力段120の第2NMOSトランジスタ34と第1PMOSトランジスタ31がターンオンされ、第2ノード36は接地VSSレベルのロジックローレベルになる。ロジックローレベルの第2ノード36によって第1PMOSトランジスタ31がターンオンされ、第1ノード35は第2電源VDD2レベルのロジックハイレベルになる。これによって、インバータ40の出力ノードである出力信号Yは接地VSSレベルのロジックローレベルになる。
レベルシフト100は正常の場合、上述のように、第1電源VDD1のレベルを有するロジックハイレベルの入力信号INを第2電源VDD2のレベルを有する出力信号Yにレベルシフトさせる。しかし、パワーダウンモードなどによって第1電源VDD1または第2電源VDD2が遮断される場合において次のような問題点が発生する。
例えば、電力消費減少のために、第1電源VDD1を遮断する場合に、第1電源VDD1に駆動されるインバータ10の出力ノード15とインバータ20の出力ノード25はその電圧レベルが不定(indefinite)になる。もし、インバータ10の出力ノード15とインバータ20の出力ノード25が接地VSSよりNMOSトランジスタのしきい値電圧Vtnだけ高い電圧レベル、すなわちVSS+Vtnレベル以上であれば、第1及び第2NMOSトランジスタ33、34はターンオンされ、第1ノード35及び第2ノード36は接地VSSレベルのロジックローレベルになり、第1及び第2PMOSトランジスタ31、32がターンオンされる。結果的に、第1PMOSトランジスタ31と第1NMOSトランジスタ33がターンオンされると共に、第2PMOSトランジスタ32と第2NMOSトランジスタ34がターンオンされて、この結果、第2電源VDD2と接地VSSとの間に漏洩電流経路が形成される。
さらに、第1PMOSトランジスタ31と第1NMOSトランジスタ33との間のオン抵抗(on−resistance)により分圧されることにより、第1ノード35の電圧レベルがインバータ40の入力ロジックしきいレベル付近になれば、インバータ40にも漏洩電流経路が生ずる。このような漏洩電流経路は電力消費を増加させるという問題を招く。
したがって、漏洩電流経路を遮断することができるレベルシフトが切実に要求される。
米国特許6,373,285号
本発明の目的はパワー検出部を具備して漏洩電流経路を遮断するレベルシフト回路を提供することにある。
上述の目的を達成するために、本発明のレベルシフトはパワー検出部、入力段及び出力段を含む。パワー検出部は第1電源と第2電源の電圧レベルに応答して制御信号を発生する。入力段は第1電源と接地との間に接続され、入力信号を受信する。出力段は第2電源と接地との間に接続され、制御信号と入力段の出力に応答して出力信号を発生する。
望ましくは、パワー検出部は第1電源と接地との間に接続されて、第1電源の電圧レベルに従って所定の電圧レベルを出力する電源分配部と、第2電源と接地との間に接続され、電源分配部の出力を反転させる第1インバータ(インバータ230)と、電源分配部の出力と第1インバータの出力を比較する比較部と、比較部の出力を入力して制御信号を出力する第2インバータ(インバータ250)とを含む。
電源分配部は第1電源にそのソースが接続される第1PMOSトランジスタと、一端は接地に連結され、他の端は電源分配部の出力である第1PMOSトランジスタのドレインに接続される第1抵抗と、一端は接地に接続され、他の端は第1PMOSトランジスタのゲートに接続される第2抵抗とを含む。第1インバータ(インバータ230)はそのソースが第2電源に接続され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第2PMOSトランジスタと、そのソースが第2PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第3PMOSトランジスタと、そのソースが第3PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートが電源分配部の出力に接続される第4PMOSトランジスタと、そのソースが接地に接続され、そのゲートが電源分配部の出力に接続され、そのドレインが第1インバータ(インバータ230)の出力である第4PMOSトランジスタのドレインと接続される第1NMOSトランジスタとを含む。比較部は第2電源にそのソースが接続され、そのゲートとそのドレインが互いに交差接続された第5及び第6PMOSトランジスタと、第5PMOSトランジスタのドレインと接地との間に接続され、電源分配部の出力にゲーティングされる第2NMOSトランジスタと、第6PMOSトランジスタのドレインと接地との間に接続され、第1インバータ(インバータ230)の出力にゲーティングされる第3NMOSトランジスタとを含む。
入力段は入力信号を受信する第3インバータ(インバータ10)と、第3インバータ(インバータ10)の出力を受信する第4インバータ(インバータ20)とを含む。出力段は第2電源にそのソースが接続され、そのゲートに制御信号が印加される第7及び第8PMOSトランジスタと、そのソースが第7及び第8PMOSトランジスタのドレインに各々接続され、そのゲートとそのドレインが互いに交差接続される第9及び第10PMOSトランジスタと、そのドレインが第9及び第10PMOSトランジスタのドレインと各々接続され、入力段の出力にゲーティングされる第4及び第5NMOSトランジスタと、そのドレインが第4NMOSトランジスタのドレインと接続され、そのソースが接地に接続され、そのゲートが制御信号に接続される第6NMOSトランジスタと、その入力が第6NMOSトランジスタのドレインと接続されて出力信号を出力する第5インバータ(インバータ276)とを含む。
したがって、本発明のレベルシフトによると、パワーダウンモード時に、漏洩電流経路を遮断し、正常モード時に、第1電源電圧レベルの入力信号を第2電源電圧レベルの出力信号にレベルシフトさせる。
上述の本発明のレベルシフトはパワーダウンモード時に、漏洩電流経路を遮断し、正常モード時に、第1電源電圧レベルの入力信号を第2電源電圧レベルの出力信号にレベルシフトさせる。
以下、本発明の望ましい実施の形態の詳細な説明が添付の図面を参照して述べられるであろう。図面中の参照符号及び同一の構成要素については、他の図面上に表示されても可能な限り同一の参照番号及び符号で示していることは明白である。本明細書では、第1電源VDD1が1.8Vに、そして第2電源VDD2が3.3Vに設定される例を用いて説明する。
図2は本発明の一実施の形態によるレベルシフトを示す図面である。これを参照すると、レベルシフト200はパワー検出部210、入力段110、及び出力段260を含む。パワー検出部210は第1及び第2電源VDD1、VDD2の電圧レベルに応答して制御信号CTRLを発生する。入力段110は入力信号INを受信して第1ノード15と第2ノード25の電圧レベルを決める。出力段260は制御信号CTRLと第1ノード15及び第2ノード25に応答して出力信号Yを発生する。
パワー検出部210は電源分配部220、インバータ230(第1インバータ)、比較部240、及びインバータ250(第2インバータ)を含む。電源分配部220は第1電源VDD1と接地VSSとの間に直列接続された第1PMOSトランジスタ222と第1抵抗224、及び第1PMOSトランジスタ222のゲートと接地VSSとの間に接続される第2抵抗226を含む。望ましくは、第1抵抗224は第1抵抗226に比べて非常に大きい抵抗値を有するように設定される。インバータ230(第1インバータ)は第2電源VDD2と接地VSSとの間に直列接続された第2乃至第4PMOSトランジスタ232、234、236と第1NMOSトランジスタ238を含む。第2及び第3PMOSトランジスタ232、234はダイオード型に接続され、第4PMOSトランジスタ236と第1NMOSトランジスタ238のゲートは電源分配部220の出力ノード225に接続される。
比較部240は第2電源VDD2と接地VSSとの間に、交差接続された第5及び第6PMOSトランジスタ242、244と、第5PMOSトランジスタ242と接続される第2NMOSトランジスタ246と、第6PMOSトランジスタ244と接続される第3NMOSトランジスタ248とを含む。第2NMOSトランジスタ246のゲートは電源分配部220の出力ノード225に接続され、第3NMOSトランジスタ248のゲートはインバータ230(第1インバータ)の出力ノード235に接続される。インバータ250(第2インバータ)は比較部240の出力ノード245を入力して制御信号CTRLを発生する。
入力段110は、図1の入力段110と同一であり、即ちインバータ10(第3インバータ)およびインバータ20(第4インバータ)から構成され、その出力ノード15、25が出力段260に接続される。説明の重複を避けるために、入力段110の具体的な説明は省略する。
出力段260は第2電源VDD2と接地VSSとの間に、制御信号CTRLにゲーティングされる第7及び第8PMOSトランジスタ262、264と、交差接続された第9及び第10PMOSトランジスタ266、268と、入力段110のノード25及びノード15に各々ゲーティングされる第4及び第5NMOSトランジスタ270、272が接続される。出力段260は制御信号CTRLに応答してノード275をリセットする第6NMOSトランジスタ274とノード275に接続されるインバータ276(第5インバータ)をさらに含む。
本発明のレベルシフト200は次のように動作される。
先ず、正常の動作モードである時に、第1電源VDD1と第2電源VDD2の電圧レベルが、予め設定された電圧レベルすなわち、各々1.8Vと3.3Vに安定的に保持されれば、電源分配部220の出力ノード225はロジックハイレベルになる。ロジックハイレベルのノード225に応答してインバータ230(第1インバータ)の出力ノード235はロジックローレベルになる。ロジックハイレベルのノード225とロジックローレベルのノード235に応答して比較部240の出力ノード245はロジックハイレベルになる。インバータ250(第2インバータ)はロジックハイレベルのノード245に応答してロジックローレベルの制御信号CTRLを発生する。ロジックローレベルの制御信号CTRLに応答して出力段260の第7及び第8MOSトランジスタ262、264がターンオンされ、第6NMOSトランジスタ274はターンオフされる。
この時に、入力信号INの第1電源VDD1の電圧レベルであるロジックハイレベルに応答して入力段110のノード15はロジックローレベルに、そしてノード25はロジックハイレベルに発生されて、ノード275はロジックローレベルに、そして出力信号Yは、第2電源VDD2の電圧レベルであるロジックハイレベルに発生される。これに反して、入力信号INのロジックローレベルに応答して入力段110のノード15はロジックハイレベルに、そしてノード25はロジックローレベルに発生されて、ノード275はロジックハイレベルに、そして出力信号Yはロジックローレベルに発生される。したがって、正常モードである時に、レベルシフト200は第1電源VDD1の電圧レベルを有する入力信号INを第2電源VDD2の電圧レベルを有する出力信号Yにレベルシフトさせる。
次に、電源消費減少のために、パワーダウンモードである時に、第1電源VDD1が供給されなければ、電源分配部220の出力ノード225はロジックローレベルに、そしてインバータ230(第1インバータ)の出力ノード235は、PMOSトランジスタ232,234,236を通じてロジックハイレベルになる。ロジックローレベルのノード225とロジックハイレベルのノード235に応答して比較部240の出力ノード245はロジックローレベルになる。インバータ250(第2インバータ)はロジックローレベルのノード245に応答してロジックハイレベルの制御信号CTRLを発生する。ロジックハイレベルの制御信号CTRLに応答して出力段260の第7及び第8PMOSトランジスタ262、264がターンオフされ、第6NMOSトランジスタ274はターンオンされる。ターンオンされた第6NMOSトランジスタ274に応答してノード275はロジックローレベルになり、出力信号Yはロジックハイレベルに発生される。
この時に、第1電源VDD1の遮断により入力段110のノード15とノード25が以前の状態を維持しても、第7及び第8PMOSトランジスタ262、264がターンオフされて、第2電源VDD2の供給が遮断される。これにより、従来のレベルシフト100で生じた第2電源VDD2と接地VSSとの間の漏洩電流経路が遮断される。
したがって、本発明のレベルシフト200はパワーダウンモード時、漏洩電流経路を遮断し、正常モード時、第1電源VDD1レベルの入力信号を第2電源VDD2レベルの出力信号にレベルシフトさせる。
以上、本発明について実施の形態をあげて説明したが、この実施形態は一例に過ぎず、本発明の技術的思想及び範囲を制限、または限定するものではない。したがって、本発明の技術的思想及び範囲を逸脱しない限度内で多様な変形及び変更が可能であることは勿論である。
110 入力段
200 レベルシフト
210 パワー検出部
220 電源分配部
230 第1インバータ
240 比較部
260 出力段
200 レベルシフト
210 パワー検出部
220 電源分配部
230 第1インバータ
240 比較部
260 出力段
Claims (11)
- 第1電源と第2電源の電圧レベルに応答して制御信号を発生するパワー検出部と、
前記第1電源と接地との間に接続され、入力信号を受信する入力段と、
前記第2電源と前記接地との間に接続され、前記制御信号と前記入力段の出力に応答して出力信号を発生する出力段とを具備することを特徴とするレベルシフト。 - 前記パワー検出部は
前記第1電源と前記接地との間に接続されて前記第1電源の電圧レベルに従って所定の電圧レベルを出力する電源分配部と、
前記第2電源と前記接地との間に接続され、前記電源分配部の出力を反転させる第1インバータと、
前記電源分配部の出力と前記第1インバータの出力とを比較する比較部と、
前記比較部の出力を入力して前記制御信号を出力する第2インバータとを具備することを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト。 - 前記電源分配部は
前記第1電源にそのソースが接続される第1PMOSトランジスタと、
一端は前記接地に接続され、他の端は前記電源分配部の出力である前記第1PMOSトランジスタのドレインに接続される第1抵抗と、
一端は前記接地に接続され、他の段は前記第1PMOSトランジスタのゲートに接続される第2抵抗とを具備することを特徴とする請求項2に記載のレベルシフト。 - 前記第1インバータは
そのソースが前記第2電源に連結され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第2PMOSトランジスタと、
そのソースが前記第2PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第3PMOSトランジスタと、
そのソースが前記第3PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートが前記電源分配部の出力に接続される第4PMOSトランジスタと、
そのソースが前記接地に連結され、そのゲートが前記電源分配部の出力に接続され、そのドレインが前記第1インバータの出力である前記第4PMOSトランジスタのドレインと接続される第1NMOSトランジスタとを具備することを特徴とする請求項2に記載のレベルシフト。 - 比較部は
前記第2電源にそのソースが接続され、そのゲートとそのドレインが互いに交差接続された第5及び第6PMOSトランジスタと、
前記第5PMOSトランジスタのドレインと前記接地との間に接続され、前記電源分配部の出力にゲーティングされる第2NMOSトランジスタと、
前記第6PMOSトランジスタのドレインと前記接地との間に接続され、前記第1インバータの出力にゲーティングされる第3NMOSトランジスタとを具備することを特徴とする請求項2に記載のレベルシフト。 - 前記入力段は
前記入力信号を受信する第3インバータと、
第3インバータの出力を受信する第4インバータを具備することを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト。 - 前記出力段は
前記第2電源にそのソースが接続され、そのゲートに前記制御信号が印加される第7及び第8PMOSトランジスタと、
そのソースが前記第7及び第8PMOSトランジスタのドレインに各々接続され、そのゲートとそのドレインが互いに交差接続される第9及び第10PMOSトランジスタと、
そのドレインが前記第9及び第10PMOSトランジスタのドレインと各々接続され、前記入力段の出力にゲーティングされる第4及び第5NMOSトランジスタと、
そのドレインが前記第4NMOSトランジスタのドレインと接続され、そのソースが前記接地に接続され、そのゲートに前記制御信号が印加される第6NMOSトランジスタと、
その入力が前記第6NMOSトランジスタのドレインと接続され、前記出力信号を出力する第5インバータとを具備することを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト。 - 第1電源と接地との間に接続されて、前記第1電源の電圧レベルに従って所定の電圧レベルを出力する電源分配部と、
第2電源と前記接地との間に接続され、前記電源分配部の出力に応答して前記第2電源の電圧を分配させる第1インバータと、
前記電源分配部の出力と前記第1インバータの出力を比較する比較部と、
前記比較部の出力を入力して制御信号を出力する第2インバータとを具備することを特徴とするパワー検出部。 - 前記電源分配部は
前記第1電源にそのソースが接続される第1PMOSトランジスタと、
一端は前記接地に接続され、他の端は前記電源分配部の出力である前記第1PMOSトランジスタのドレインに接続される第1抵抗と、
一端は前記接地に接続され、他の端は前記第1PMOSトランジスタのゲートに接続される第2抵抗とを具備することを特徴とする請求項8に記載のパワー検出部。 - 前記第1インバータは
そのソースが前記第2電源に接続され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第2PMOSトランジスタと、
そのソースが前記第2PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第3PMOSトランジスタと、
そのソースが前記第3PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートが前記電源分配部の出力に接続される第4PMOSトランジスタと、
そのソースが前記接地に接続され、そのゲートが前記電源分配部の出力に接続され、そのドレインが前記第1インバータの出力である前記第4PMOSトランジスタのドレインと接続される第1NMOSトランジスタとを具備することを特徴とする請求項8に記載のパワー検出部。 - 比較部は
前記第2電源にそのソースが接続され、そのゲートとそのドレインが互いに交差接続された第5及び第6PMOSトランジスタと、
前記第5PMOSトランジスタのドレインと前記接地との間に接続され、前記電源分配部の出力にゲーティングされる第2NMOSトランジスタと、
前記第6PMOSトランジスタのドレインと前記接地との間に連結され、前記第1インバータの出力にゲーティングされる第3NMOSトランジスタとを具備することを特徴とする請求項8に記載のパワー検出部。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2003-0002112A KR100521370B1 (ko) | 2003-01-13 | 2003-01-13 | 파워 검출부를 구비하여 누설 전류 경로를 차단하는 레벨쉬프터 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004222272A true JP2004222272A (ja) | 2004-08-05 |
Family
ID=32709863
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003430532A Pending JP2004222272A (ja) | 2003-01-13 | 2003-12-25 | パワー検出部を具備して漏洩電流経路を遮断するレベルシフト |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7005908B2 (ja) |
JP (1) | JP2004222272A (ja) |
KR (1) | KR100521370B1 (ja) |
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KR100521370B1 (ko) | 2005-10-12 |
US7005908B2 (en) | 2006-02-28 |
US20040140842A1 (en) | 2004-07-22 |
KR20040065013A (ko) | 2004-07-21 |
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Legal Events
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060622 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080919 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080930 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090303 |