JP2004222272A - パワー検出部を具備して漏洩電流経路を遮断するレベルシフト - Google Patents

パワー検出部を具備して漏洩電流経路を遮断するレベルシフト Download PDF

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潤雨 李
Boo-Yung Huh
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    • H03K3/356104Bistable circuits using complementary field-effect transistors
    • H03K3/356113Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit

Abstract

【課題】 パワー検出部を具備して漏洩電流経路を遮断するレベルシフトが開示される。
【解決手段】 本発明のレベルシフトはパワー検出部、入力段及び出力段を含む。パワー検出部は第1電源と第2電源の電圧レベルに応答して制御信号を発生する。入力段は第1電源と接地との間に接続され、入力信号を受信する。出力段は第2電源と接地との間に接続され、制御信号と入力段の出力に応答して出力信号を発生する。したがって、本発明のレベルシフトによると、パワーダウンモード時には、漏洩電流経路を遮断し、正常モード時には、第1電源レベルの入力信号を第2電源レベルの出力信号にレベルシフトさせる。
【選択図】 図2

Description

本発明は半導体集積回路に関するものであり、特に、パワー検出部を具備して漏洩電流経路を遮断するレベルシフトに関するものである。
アナログ回路とデジタル回路とが一チップにエンベデッド(embedded)されている混成集積回路(mixed integrated circuit)やメモリ回路などがある。アナログ回路とデジタル回路との間には互いに異なる二つの信号レベルを相互に変換するためのレベルシフトが設けられている。即ち、通常、アナログ回路の動作電圧レベルはデジタル回路の動作電圧レベルより高く設定される。このため、デジタル回路とアナログ回路との間にインターフェース回路としてレベルシフトが使用される。
図1は従来のレベルシフトを示す図面である。これを参照すると、レベルシフト100は入力段110と出力段120で構成される。入力段110には第1電源VDD1と接地VSSが供給され、出力段120には第2電源VDD2と接地VSSが供給される。第1電源VDD1の電圧は第2電源VDD2の電圧より低いと仮定し、例えば、第1電源VDD1の電圧は1.8V程度であり、そして第2電源VDD2の電圧は3.3V程度であると設定する。入力段110はインバータ10とインバータ20を含む。出力段120は第2電源VDD2にそのソースが連結され、互いに交差接続された第1及び第2PMOSトランジスタ31、32と、接地VSSにそのソースが連結され、そのゲートがインバータ20の出力ノード25とインバータ10の出力ノード15に各々連結される第1及び第2NMOSトランジスタ33、34と、インバータ40とを含む。
レベルシフト100は次のように動作される。
先ず、入力信号INが接地VSSレベルのロジックローレベルから第1電源VDD1レベルのロジックハイレベルに遷移する場合を説明する。この場合、インバータ10の出力ノード15は接地VSSレベルのロジックローレベルに変わり、そしてインバータ20の出力ノード25は第1電源VDD1レベルのロジックハイレベルに変わる。これによって、出力段120の第1NMOSトランジスタ33と第2PMOSトランジスタ32がターンオンされ、第1ノード35は接地VSSレベルのロジックローレベルになり、インバータ40の出力ノードに現れる出力信号Yは第2電源VDD2レベルのロジックハイレベルになる。
次に、入力信号INが第1電源VDD1レベルのロジックハイレベルから接地VSSレベルのロジックローレベルに遷移する場合は、インバータ10の出力ノード15は第1電源VDD1レベルのロジックハイレベルに、そしてインバータ20の出力ノード25は接地VSSレベルのロジックローレベルに変わる。出力段120の第2NMOSトランジスタ34と第1PMOSトランジスタ31がターンオンされ、第2ノード36は接地VSSレベルのロジックローレベルになる。ロジックローレベルの第2ノード36によって第1PMOSトランジスタ31がターンオンされ、第1ノード35は第2電源VDD2レベルのロジックハイレベルになる。これによって、インバータ40の出力ノードである出力信号Yは接地VSSレベルのロジックローレベルになる。
レベルシフト100は正常の場合、上述のように、第1電源VDD1のレベルを有するロジックハイレベルの入力信号INを第2電源VDD2のレベルを有する出力信号Yにレベルシフトさせる。しかし、パワーダウンモードなどによって第1電源VDD1または第2電源VDD2が遮断される場合において次のような問題点が発生する。
例えば、電力消費減少のために、第1電源VDD1を遮断する場合に、第1電源VDD1に駆動されるインバータ10の出力ノード15とインバータ20の出力ノード25はその電圧レベルが不定(indefinite)になる。もし、インバータ10の出力ノード15とインバータ20の出力ノード25が接地VSSよりNMOSトランジスタのしきい値電圧Vtnだけ高い電圧レベル、すなわちVSS+Vtnレベル以上であれば、第1及び第2NMOSトランジスタ33、34はターンオンされ、第1ノード35及び第2ノード36は接地VSSレベルのロジックローレベルになり、第1及び第2PMOSトランジスタ31、32がターンオンされる。結果的に、第1PMOSトランジスタ31と第1NMOSトランジスタ33がターンオンされると共に、第2PMOSトランジスタ32と第2NMOSトランジスタ34がターンオンされて、この結果、第2電源VDD2と接地VSSとの間に漏洩電流経路が形成される。
さらに、第1PMOSトランジスタ31と第1NMOSトランジスタ33との間のオン抵抗(on−resistance)により分圧されることにより、第1ノード35の電圧レベルがインバータ40の入力ロジックしきいレベル付近になれば、インバータ40にも漏洩電流経路が生ずる。このような漏洩電流経路は電力消費を増加させるという問題を招く。
したがって、漏洩電流経路を遮断することができるレベルシフトが切実に要求される。
米国特許6,373,285号
本発明の目的はパワー検出部を具備して漏洩電流経路を遮断するレベルシフト回路を提供することにある。
上述の目的を達成するために、本発明のレベルシフトはパワー検出部、入力段及び出力段を含む。パワー検出部は第1電源と第2電源の電圧レベルに応答して制御信号を発生する。入力段は第1電源と接地との間に接続され、入力信号を受信する。出力段は第2電源と接地との間に接続され、制御信号と入力段の出力に応答して出力信号を発生する。
望ましくは、パワー検出部は第1電源と接地との間に接続されて、第1電源の電圧レベルに従って所定の電圧レベルを出力する電源分配部と、第2電源と接地との間に接続され、電源分配部の出力を反転させる第1インバータ(インバータ230)と、電源分配部の出力と第1インバータの出力を比較する比較部と、比較部の出力を入力して制御信号を出力する第2インバータ(インバータ250)とを含む。
電源分配部は第1電源にそのソースが接続される第1PMOSトランジスタと、一端は接地に連結され、他の端は電源分配部の出力である第1PMOSトランジスタのドレインに接続される第1抵抗と、一端は接地に接続され、他の端は第1PMOSトランジスタのゲートに接続される第2抵抗とを含む。第1インバータ(インバータ230)はそのソースが第2電源に接続され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第2PMOSトランジスタと、そのソースが第2PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第3PMOSトランジスタと、そのソースが第3PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートが電源分配部の出力に接続される第4PMOSトランジスタと、そのソースが接地に接続され、そのゲートが電源分配部の出力に接続され、そのドレインが第1インバータ(インバータ230)の出力である第4PMOSトランジスタのドレインと接続される第1NMOSトランジスタとを含む。比較部は第2電源にそのソースが接続され、そのゲートとそのドレインが互いに交差接続された第5及び第6PMOSトランジスタと、第5PMOSトランジスタのドレインと接地との間に接続され、電源分配部の出力にゲーティングされる第2NMOSトランジスタと、第6PMOSトランジスタのドレインと接地との間に接続され、第1インバータ(インバータ230)の出力にゲーティングされる第3NMOSトランジスタとを含む。
入力段は入力信号を受信する第3インバータ(インバータ10)と、第3インバータ(インバータ10)の出力を受信する第4インバータ(インバータ20)とを含む。出力段は第2電源にそのソースが接続され、そのゲートに制御信号が印加される第7及び第8PMOSトランジスタと、そのソースが第7及び第8PMOSトランジスタのドレインに各々接続され、そのゲートとそのドレインが互いに交差接続される第9及び第10PMOSトランジスタと、そのドレインが第9及び第10PMOSトランジスタのドレインと各々接続され、入力段の出力にゲーティングされる第4及び第5NMOSトランジスタと、そのドレインが第4NMOSトランジスタのドレインと接続され、そのソースが接地に接続され、そのゲートが制御信号に接続される第6NMOSトランジスタと、その入力が第6NMOSトランジスタのドレインと接続されて出力信号を出力する第5インバータ(インバータ276)とを含む。
したがって、本発明のレベルシフトによると、パワーダウンモード時に、漏洩電流経路を遮断し、正常モード時に、第1電源電圧レベルの入力信号を第2電源電圧レベルの出力信号にレベルシフトさせる。
上述の本発明のレベルシフトはパワーダウンモード時に、漏洩電流経路を遮断し、正常モード時に、第1電源電圧レベルの入力信号を第2電源電圧レベルの出力信号にレベルシフトさせる。
以下、本発明の望ましい実施の形態の詳細な説明が添付の図面を参照して述べられるであろう。図面中の参照符号及び同一の構成要素については、他の図面上に表示されても可能な限り同一の参照番号及び符号で示していることは明白である。本明細書では、第1電源VDD1が1.8Vに、そして第2電源VDD2が3.3Vに設定される例を用いて説明する。
図2は本発明の一実施の形態によるレベルシフトを示す図面である。これを参照すると、レベルシフト200はパワー検出部210、入力段110、及び出力段260を含む。パワー検出部210は第1及び第2電源VDD1、VDD2の電圧レベルに応答して制御信号CTRLを発生する。入力段110は入力信号INを受信して第1ノード15と第2ノード25の電圧レベルを決める。出力段260は制御信号CTRLと第1ノード15及び第2ノード25に応答して出力信号Yを発生する。
パワー検出部210は電源分配部220、インバータ230(第1インバータ)、比較部240、及びインバータ250(第2インバータ)を含む。電源分配部220は第1電源VDD1と接地VSSとの間に直列接続された第1PMOSトランジスタ222と第1抵抗224、及び第1PMOSトランジスタ222のゲートと接地VSSとの間に接続される第2抵抗226を含む。望ましくは、第1抵抗224は第1抵抗226に比べて非常に大きい抵抗値を有するように設定される。インバータ230(第1インバータ)は第2電源VDD2と接地VSSとの間に直列接続された第2乃至第4PMOSトランジスタ232、234、236と第1NMOSトランジスタ238を含む。第2及び第3PMOSトランジスタ232、234はダイオード型に接続され、第4PMOSトランジスタ236と第1NMOSトランジスタ238のゲートは電源分配部220の出力ノード225に接続される。
比較部240は第2電源VDD2と接地VSSとの間に、交差接続された第5及び第6PMOSトランジスタ242、244と、第5PMOSトランジスタ242と接続される第2NMOSトランジスタ246と、第6PMOSトランジスタ244と接続される第3NMOSトランジスタ248とを含む。第2NMOSトランジスタ246のゲートは電源分配部220の出力ノード225に接続され、第3NMOSトランジスタ248のゲートはインバータ230(第1インバータ)の出力ノード235に接続される。インバータ250(第2インバータ)は比較部240の出力ノード245を入力して制御信号CTRLを発生する。
入力段110は、図1の入力段110と同一であり、即ちインバータ10(第3インバータ)およびインバータ20(第4インバータ)から構成され、その出力ノード15、25が出力段260に接続される。説明の重複を避けるために、入力段110の具体的な説明は省略する。
出力段260は第2電源VDD2と接地VSSとの間に、制御信号CTRLにゲーティングされる第7及び第8PMOSトランジスタ262、264と、交差接続された第9及び第10PMOSトランジスタ266、268と、入力段110のノード25及びノード15に各々ゲーティングされる第4及び第5NMOSトランジスタ270、272が接続される。出力段260は制御信号CTRLに応答してノード275をリセットする第6NMOSトランジスタ274とノード275に接続されるインバータ276(第5インバータ)をさらに含む。
本発明のレベルシフト200は次のように動作される。
先ず、正常の動作モードである時に、第1電源VDD1と第2電源VDD2の電圧レベルが、予め設定された電圧レベルすなわち、各々1.8Vと3.3Vに安定的に保持されれば、電源分配部220の出力ノード225はロジックハイレベルになる。ロジックハイレベルのノード225に応答してインバータ230(第1インバータ)の出力ノード235はロジックローレベルになる。ロジックハイレベルのノード225とロジックローレベルのノード235に応答して比較部240の出力ノード245はロジックハイレベルになる。インバータ250(第2インバータ)はロジックハイレベルのノード245に応答してロジックローレベルの制御信号CTRLを発生する。ロジックローレベルの制御信号CTRLに応答して出力段260の第7及び第8MOSトランジスタ262、264がターンオンされ、第6NMOSトランジスタ274はターンオフされる。
この時に、入力信号INの第1電源VDD1の電圧レベルであるロジックハイレベルに応答して入力段110のノード15はロジックローレベルに、そしてノード25はロジックハイレベルに発生されて、ノード275はロジックローレベルに、そして出力信号Yは、第2電源VDD2の電圧レベルであるロジックハイレベルに発生される。これに反して、入力信号INのロジックローレベルに応答して入力段110のノード15はロジックハイレベルに、そしてノード25はロジックローレベルに発生されて、ノード275はロジックハイレベルに、そして出力信号Yはロジックローレベルに発生される。したがって、正常モードである時に、レベルシフト200は第1電源VDD1の電圧レベルを有する入力信号INを第2電源VDD2の電圧レベルを有する出力信号Yにレベルシフトさせる。
次に、電源消費減少のために、パワーダウンモードである時に、第1電源VDD1が供給されなければ、電源分配部220の出力ノード225はロジックローレベルに、そしてインバータ230(第1インバータ)の出力ノード235は、PMOSトランジスタ232,234,236を通じてロジックハイレベルになる。ロジックローレベルのノード225とロジックハイレベルのノード235に応答して比較部240の出力ノード245はロジックローレベルになる。インバータ250(第2インバータ)はロジックローレベルのノード245に応答してロジックハイレベルの制御信号CTRLを発生する。ロジックハイレベルの制御信号CTRLに応答して出力段260の第7及び第8PMOSトランジスタ262、264がターンオフされ、第6NMOSトランジスタ274はターンオンされる。ターンオンされた第6NMOSトランジスタ274に応答してノード275はロジックローレベルになり、出力信号Yはロジックハイレベルに発生される。
この時に、第1電源VDD1の遮断により入力段110のノード15とノード25が以前の状態を維持しても、第7及び第8PMOSトランジスタ262、264がターンオフされて、第2電源VDD2の供給が遮断される。これにより、従来のレベルシフト100で生じた第2電源VDD2と接地VSSとの間の漏洩電流経路が遮断される。
したがって、本発明のレベルシフト200はパワーダウンモード時、漏洩電流経路を遮断し、正常モード時、第1電源VDD1レベルの入力信号を第2電源VDD2レベルの出力信号にレベルシフトさせる。
以上、本発明について実施の形態をあげて説明したが、この実施形態は一例に過ぎず、本発明の技術的思想及び範囲を制限、または限定するものではない。したがって、本発明の技術的思想及び範囲を逸脱しない限度内で多様な変形及び変更が可能であることは勿論である。
従来のレベルシフトを示す図である。 本発明の一実施の形態によるレベルシフト回路の構成を示す図である。
符号の説明
110 入力段
200 レベルシフト
210 パワー検出部
220 電源分配部
230 第1インバータ
240 比較部
260 出力段

Claims (11)

  1. 第1電源と第2電源の電圧レベルに応答して制御信号を発生するパワー検出部と、
    前記第1電源と接地との間に接続され、入力信号を受信する入力段と、
    前記第2電源と前記接地との間に接続され、前記制御信号と前記入力段の出力に応答して出力信号を発生する出力段とを具備することを特徴とするレベルシフト。
  2. 前記パワー検出部は
    前記第1電源と前記接地との間に接続されて前記第1電源の電圧レベルに従って所定の電圧レベルを出力する電源分配部と、
    前記第2電源と前記接地との間に接続され、前記電源分配部の出力を反転させる第1インバータと、
    前記電源分配部の出力と前記第1インバータの出力とを比較する比較部と、
    前記比較部の出力を入力して前記制御信号を出力する第2インバータとを具備することを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト。
  3. 前記電源分配部は
    前記第1電源にそのソースが接続される第1PMOSトランジスタと、
    一端は前記接地に接続され、他の端は前記電源分配部の出力である前記第1PMOSトランジスタのドレインに接続される第1抵抗と、
    一端は前記接地に接続され、他の段は前記第1PMOSトランジスタのゲートに接続される第2抵抗とを具備することを特徴とする請求項2に記載のレベルシフト。
  4. 前記第1インバータは
    そのソースが前記第2電源に連結され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第2PMOSトランジスタと、
    そのソースが前記第2PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第3PMOSトランジスタと、
    そのソースが前記第3PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートが前記電源分配部の出力に接続される第4PMOSトランジスタと、
    そのソースが前記接地に連結され、そのゲートが前記電源分配部の出力に接続され、そのドレインが前記第1インバータの出力である前記第4PMOSトランジスタのドレインと接続される第1NMOSトランジスタとを具備することを特徴とする請求項2に記載のレベルシフト。
  5. 比較部は
    前記第2電源にそのソースが接続され、そのゲートとそのドレインが互いに交差接続された第5及び第6PMOSトランジスタと、
    前記第5PMOSトランジスタのドレインと前記接地との間に接続され、前記電源分配部の出力にゲーティングされる第2NMOSトランジスタと、
    前記第6PMOSトランジスタのドレインと前記接地との間に接続され、前記第1インバータの出力にゲーティングされる第3NMOSトランジスタとを具備することを特徴とする請求項2に記載のレベルシフト。
  6. 前記入力段は
    前記入力信号を受信する第3インバータと、
    第3インバータの出力を受信する第4インバータを具備することを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト。
  7. 前記出力段は
    前記第2電源にそのソースが接続され、そのゲートに前記制御信号が印加される第7及び第8PMOSトランジスタと、
    そのソースが前記第7及び第8PMOSトランジスタのドレインに各々接続され、そのゲートとそのドレインが互いに交差接続される第9及び第10PMOSトランジスタと、
    そのドレインが前記第9及び第10PMOSトランジスタのドレインと各々接続され、前記入力段の出力にゲーティングされる第4及び第5NMOSトランジスタと、
    そのドレインが前記第4NMOSトランジスタのドレインと接続され、そのソースが前記接地に接続され、そのゲートに前記制御信号が印加される第6NMOSトランジスタと、
    その入力が前記第6NMOSトランジスタのドレインと接続され、前記出力信号を出力する第5インバータとを具備することを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト。
  8. 第1電源と接地との間に接続されて、前記第1電源の電圧レベルに従って所定の電圧レベルを出力する電源分配部と、
    第2電源と前記接地との間に接続され、前記電源分配部の出力に応答して前記第2電源の電圧を分配させる第1インバータと、
    前記電源分配部の出力と前記第1インバータの出力を比較する比較部と、
    前記比較部の出力を入力して制御信号を出力する第2インバータとを具備することを特徴とするパワー検出部。
  9. 前記電源分配部は
    前記第1電源にそのソースが接続される第1PMOSトランジスタと、
    一端は前記接地に接続され、他の端は前記電源分配部の出力である前記第1PMOSトランジスタのドレインに接続される第1抵抗と、
    一端は前記接地に接続され、他の端は前記第1PMOSトランジスタのゲートに接続される第2抵抗とを具備することを特徴とする請求項8に記載のパワー検出部。
  10. 前記第1インバータは
    そのソースが前記第2電源に接続され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第2PMOSトランジスタと、
    そのソースが前記第2PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートとそのドレインが互いに接続された第3PMOSトランジスタと、
    そのソースが前記第3PMOSトランジスタのドレインに接続され、そのゲートが前記電源分配部の出力に接続される第4PMOSトランジスタと、
    そのソースが前記接地に接続され、そのゲートが前記電源分配部の出力に接続され、そのドレインが前記第1インバータの出力である前記第4PMOSトランジスタのドレインと接続される第1NMOSトランジスタとを具備することを特徴とする請求項8に記載のパワー検出部。
  11. 比較部は
    前記第2電源にそのソースが接続され、そのゲートとそのドレインが互いに交差接続された第5及び第6PMOSトランジスタと、
    前記第5PMOSトランジスタのドレインと前記接地との間に接続され、前記電源分配部の出力にゲーティングされる第2NMOSトランジスタと、
    前記第6PMOSトランジスタのドレインと前記接地との間に連結され、前記第1インバータの出力にゲーティングされる第3NMOSトランジスタとを具備することを特徴とする請求項8に記載のパワー検出部。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006073098A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Sony Corp レベルシフト回路とこれを用いた半導体記憶装置
JP2007150987A (ja) * 2005-11-30 2007-06-14 Toshiba Corp 半導体集積装置
KR100842402B1 (ko) 2007-02-27 2008-07-01 삼성전자주식회사 스태틱 전류를 차단하고 고속 레벨 쉬프팅을 수행하기 위한레벨 쉬프터
JP2008295047A (ja) * 2007-05-24 2008-12-04 Nvidia Corp 低電圧ドメインがパワーダウンされる際の漏れ電流を防止する装置及び方法
WO2011132022A1 (en) * 2010-04-22 2011-10-27 Freescale Semiconductor, Inc. Voltage level shifter having a first operating mode and a second operating mode

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7190206B2 (en) * 2003-07-22 2007-03-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Interface circuit and signal clamping circuit using level-down shifter
US7227383B2 (en) 2004-02-19 2007-06-05 Mosaid Delaware, Inc. Low leakage and data retention circuitry
US20050184788A1 (en) * 2004-02-25 2005-08-25 Johansson Brian D. Logic level voltage translator
JP3884439B2 (ja) * 2004-03-02 2007-02-21 株式会社東芝 半導体装置
JP4421365B2 (ja) * 2004-04-21 2010-02-24 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 レベル変換回路
US7378896B2 (en) * 2005-05-13 2008-05-27 O2Micro International Ltd. Single pin for multiple functional control purposes
KR20060134313A (ko) * 2005-06-22 2006-12-28 삼성전자주식회사 모드선택기능을 가지는 레벨쉬프터 및 레벨쉬프팅 방법
KR100733407B1 (ko) * 2005-06-30 2007-06-29 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자의 벌크 바이어스 전압 레벨 검출기
JP2009526461A (ja) * 2006-02-09 2009-07-16 エヌエックスピー ビー ヴィ 電圧供給源のパワーダウン状態を検出するための回路装置及び方法
KR100780951B1 (ko) 2006-02-15 2007-12-03 삼성전자주식회사 레벨 쉬프터 회로
JP2007306042A (ja) * 2006-05-08 2007-11-22 Sony Corp レベル変換回路及びこれを用いた入出力装置
US7777712B2 (en) * 2006-10-17 2010-08-17 Himax Technologies Limited Level shift circuit and display using same
US8063662B2 (en) * 2007-07-06 2011-11-22 Analog Devices, Inc. Methods and apparatus for predictable level shifter power-up state
US7804327B2 (en) * 2007-10-12 2010-09-28 Mediatek Inc. Level shifters
US7560971B2 (en) * 2007-12-13 2009-07-14 Honeywell International Inc. Level shift circuit with power sequence control
KR100968594B1 (ko) * 2008-05-13 2010-07-08 주식회사 실리콘웍스 전류 제한 방식의 레벨쉬프터
US8587359B2 (en) * 2009-08-07 2013-11-19 Atmel Corporation Level shifter with output latch
JP5584527B2 (ja) * 2010-06-21 2014-09-03 ルネサスエレクトロニクス株式会社 電圧検出システム及びその制御方法
CN103176414B (zh) * 2011-12-21 2016-06-15 国民技术股份有限公司 一种漏电控制电路及其方法
TWI477788B (zh) * 2012-04-10 2015-03-21 Realtek Semiconductor Corp 偵測發光二極體短路的方法及其裝置
KR101745753B1 (ko) * 2013-06-21 2017-06-13 매그나칩 반도체 유한회사 다중 전원용 레벨 시프터
US9197454B2 (en) * 2014-01-16 2015-11-24 Via Technologies, Inc. Differential signal transmitters
US9257973B1 (en) * 2014-11-04 2016-02-09 Texas Instruments Incorporated Supply-state-enabled level shifter interface circuit and method
KR102493876B1 (ko) * 2015-11-27 2023-01-30 엘지디스플레이 주식회사 영상 표시장치 및 그 구동방법
US10191086B2 (en) 2016-03-24 2019-01-29 Apple Inc. Power detection circuit
CN108322210A (zh) * 2017-01-16 2018-07-24 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种电平转换电路
CN108667449A (zh) * 2017-03-27 2018-10-16 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 电子系统及其上、下电状态检测电路
US10187061B1 (en) * 2017-06-16 2019-01-22 Apple Inc. Level shifting circuit with data resolution and grounded input nodes
JP6962071B2 (ja) * 2017-08-29 2021-11-05 セイコーエプソン株式会社 レベルシフター、および電子機器
US10535400B2 (en) 2017-09-12 2020-01-14 Apple Inc. Level shifting dynamic write driver
KR102461866B1 (ko) 2018-03-27 2022-11-02 에스케이하이닉스 주식회사 전압 생성 회로
US11152921B1 (en) * 2021-03-17 2021-10-19 Qualcomm Incorporated Systems and methods for control signal latching in memories
CN115657573B (zh) * 2022-12-28 2023-03-28 济钢防务技术有限公司 低空飞行体识别控制器

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05315931A (ja) * 1991-11-13 1993-11-26 Nec Corp レベルシフト回路
KR100239884B1 (ko) * 1997-03-21 2000-01-15 윤종용 전압 레벨 쉬프트 회로
KR100297707B1 (ko) * 1997-10-13 2001-08-07 윤종용 반도체메모리장치의입력버퍼
KR100290892B1 (ko) * 1998-01-26 2001-06-01 김영환 씨모스전압레벨쉬프트회로
CN1173405C (zh) * 1999-05-06 2004-10-27 松下电器产业株式会社 互补型金属氧化物半导体的半导体集成电路
JP2000353946A (ja) * 1999-06-10 2000-12-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd レベルシフタ回路
JP4353593B2 (ja) * 1999-09-16 2009-10-28 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
KR100335496B1 (ko) * 1999-11-26 2002-05-08 윤종용 낮은 외부전원전압에서도 안정적으로 동작하는내부전압발생회로
AU2319600A (en) * 2000-01-27 2001-08-07 Hitachi Limited Semiconductor device
JP2002032988A (ja) * 2000-07-18 2002-01-31 Mitsubishi Electric Corp 内部電圧発生回路

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006073098A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Sony Corp レベルシフト回路とこれを用いた半導体記憶装置
JP2007150987A (ja) * 2005-11-30 2007-06-14 Toshiba Corp 半導体集積装置
KR100842402B1 (ko) 2007-02-27 2008-07-01 삼성전자주식회사 스태틱 전류를 차단하고 고속 레벨 쉬프팅을 수행하기 위한레벨 쉬프터
JP2008295047A (ja) * 2007-05-24 2008-12-04 Nvidia Corp 低電圧ドメインがパワーダウンされる際の漏れ電流を防止する装置及び方法
WO2011132022A1 (en) * 2010-04-22 2011-10-27 Freescale Semiconductor, Inc. Voltage level shifter having a first operating mode and a second operating mode

Also Published As

Publication number Publication date
KR100521370B1 (ko) 2005-10-12
US7005908B2 (en) 2006-02-28
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KR20040065013A (ko) 2004-07-21

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