JP2003508872A - ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用出力回路、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリからのデータ取り出し方法、及びデータストローブ信号提供方法 - Google Patents

ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用出力回路、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリからのデータ取り出し方法、及びデータストローブ信号提供方法

Info

Publication number
JP2003508872A
JP2003508872A JP2001520416A JP2001520416A JP2003508872A JP 2003508872 A JP2003508872 A JP 2003508872A JP 2001520416 A JP2001520416 A JP 2001520416A JP 2001520416 A JP2001520416 A JP 2001520416A JP 2003508872 A JP2003508872 A JP 2003508872A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
signal
circuit
clock signal
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001520416A
Other languages
English (en)
Inventor
ウェン リ,
Original Assignee
マイクロン テクノロジー, インク.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by マイクロン テクノロジー, インク. filed Critical マイクロン テクノロジー, インク.
Publication of JP2003508872A publication Critical patent/JP2003508872A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4096Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1057Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/106Data output latches
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1066Output synchronization
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1072Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2207/00Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C2207/10Aspects relating to interfaces of memory device to external buses
    • G11C2207/107Serial-parallel conversion of data or prefetch

Abstract

(57)【要約】 出力データ及びデータストローブ信号を同期化させるための方法及び装置は、外部クロックと同期した、ダブルデータレート(DDR)DRAM内の内部インタリーブクロック信号を用いる。DDR DRAM内の遅延ロックループは、外部クロック信号にロックされ、内部インタリーブクロック信号を発生させる。内部インタリーブクロック信号は、レイテンシ及びバースト長選択信号が接続されたタイミング回路を介して伝搬するとき、外部クロック信号に遅延整合される。データストローブ信号は、遅延ロックループからのクロック信号を用いて生成され、内部インタリーブクロック信号と同期化される。データストローブ信号及びデータは、外部クロック信号と所定の遅延関係を有する出力データ及びデータストローブ信号を提供するために、同様の数及びタイプの遅延素子を有する複数のパスを介して結合される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用出力回
路、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ、ダブルデータレ
ートダイナミックランダムアクセスメモリからのデータ取り出し方法、及びデー
タストローブ信号提供方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)集積回路(ICs)からの
データの読み書きが頻繁に要求される。各々のメモリIC内に蓄積されるデータ
量の増大に従い、及びメモリICとデータを交換する装置に対するクロック周波
数の増大に従い、次第により大きいバンド幅により、メモリICからデータを読
むことを可能とするための要求が増大している。この要求は、簡単には実現でき
ない。
【0003】 前世代のDRAMデバイスには、ファーストページモードDRAM及び拡張デ
ータ出力(EDO)DRAMがあった。これらのDRAMは、入力データを捕ら
え、カラムアドレスストローブ(CAS)信号の立ち下がりエッジで出力デ
ータをドライブする。ここで、「」は相補の関係を表わす。
【0004】 同期DRAM(SDRAM)において、読み書き動作のためのデータトリガ位
置は、クロック信号の立ち上がりエッジである。これらの従来のDRAMは、シ
ングルデータレート(SDR)DRAMデバイスと呼ばれている。SDR DR
AMを用いたメモリシステムのピークバンド幅(メガバイト/秒)は、以下の式
で求められる。 (メモリシステムバス幅)×(クロック周波数) (式1) SDR DRAMシステムから大きいピークバンド幅を得るためには、クロック
をできるだけ速くし、システムバス幅をできるだけ広く拡張する必要がある。
【0005】 しかしながら、クロックドライバは、メモリシステム内で全てのDRAMを並
列にドライブしなければならず、これは容量性負荷をドライブする必要があり、
同期化の要求が含まれる。従って、より高いクロック速度を達成することは、実
際には難しい。更に、バス幅の増大は、DRAMシステムを保持する回路基板上
に、より大きい領域を必要とする。その結果、SDR DRAMシステムのピー
クバンド幅を増大させることは簡単ではない。
【0006】 ダブルデータレート(DDR)DRAMシステムは、より高いデータレートで
より大きいシステムバンド幅を得るための、より魅力的な手法である。DDR
DRAMシステムにおいては、クロック信号又はデータストローブの、立ち上が
り及び立ち下がりの両方のエッジが、読み書き動作のためのトリガ位置となる。
従って、DDR DRAMシステムでは、同じロック周波数を用いた同様のSD
R DRAMシステムの二倍のピークデータレートを得られるが、タイミング精
度の向上が要求される。
【0007】 DDR DRAMメモリシステムでは、ディファレンシャルクロック(CLK
及びCLK)構成が、増大したタイミング精度要求を解決するために用いられ
る。しかしながら、DDR DRAMの外部回路におけるクロック信号に内部ク
ロック信号を同期させる要求が未だある。更に、データが転送されるときのこれ
らクロック信号の遷移は、SDR DRAMのCAS信号での遷移よりも実質
的により頻繁に起こるので、タイミング許容度はより厳しくなる。その結果、内
部クロック信号CLK及びCLKを生成するための、及びこれらのクロック信
号と出力データとを外部クロック信号XCLKに同期させるための、新たな方法
の開発が望まれている。
【0008】
【発明の開示】
一態様において、本発明は、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセ
スメモリのための出力回路を含む。出力回路には、外部クロック信号を受け入れ
るように構成される入力を有する遅延ロックループが含まれる。遅延ロックルー
プは、インタリーブされ且つ外部クロック信号と同期する第1及び第2内部クロ
ック信号を提供する。出力回路には、遅延ロックループと接続されるデータスト
ローブ回路も含まれる。データストローブ回路は、プリアンブル部を含むデータ
ストローブ信号を提供する。データストローブ回路は、データストローブ信号と
プリアンブル部を第1及び第2内部クロック信号に同期させる。他の態様では、
本発明は、このような出力回路を有するダブルデータレートダイナミックランダ
ムアクセスメモリ(DDR DRAM)を含む。
【0009】 更に別の態様では、本発明は、ダブルデータレートダイナミックランダムアク
セスメモリからのデータ取り出し方法を含む。本方法には、第1内部クロック信
号の立ち下がりエッジの後で且つ第2内部クロック信号の立ち上がりエッジの前
に、データイネーブル信号を提供する過程が含まれる。第1及び第2内部クロッ
ク信号は、インタリーブされる。また、本方法には、データイネーブル信号に応
じて、第1組合せ論理回路を介して第1データアレイから第1データを接続する
過程と、第1内部クロック信号により第1マルチプレクサを介して第1データを
取り出す過程と、データイネーブル信号に応じて第2組合せ論理回路を介して第
2データアレイから第2データを接続する過程と、第2クロック信号により第2
マルチプレクサを介して第2データを取り出す過程と、第1及び第2マルチプレ
クサからの第1及び第2データをデータバッファに接続する過程と、データスト
ローブバッファへデータストローブ信号を提供する過程とが含まれる。データス
トローブ信号は、第1及び第2データに、及び外部クロック信号に同期化される
【0010】 別の態様では、本発明は、データストローブ信号を提供する方法を含む。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図示例と共に説明する。本発明は、データ入力及
び出力のための外部クロック信号に同期する、DDR DRAMへの相補内部ク
ロック信号を生成する方法及び装置を包含するものである。より具体的な実施例
においては、本発明は、DDR DRAM内部の内部遅延ロックループ(DLL
)から得られるクロック信号と、外部クロック信号との間の遅延を等しくするた
めの方法及び装置を包含するものである。
【0012】 以下に詳説する実施例から明らかとなるように、本発明の一態様には、データ
出力バースト長を、例えば、2バイトバーストから4又は8バイトバーストへ変
更する過程が含まれる。本発明の他の態様では、異なるデータレイテンシに適応
することを含む。ここで、データレイテンシは、コマンドがDRAMからの特定
のデータを要求したときから、DRAMから読み出されたデータが出力に現れる
ときまでの間の、クロックサイクルで計測された遅延、又はクロックサイクルの
比で計測された遅延を意味すると定義される。このデータバースト長及びデータ
レイテンシの変更は、特定の所定の遅延、具体的には所定のバースト長の出力信
号を提供するために、マルチプレクサ及びクロックシステムをセットするコント
ロール信号を用いて行われる。
【0013】 図1は、本発明の一実施例による、DDR DRAM10の簡略化したブロッ
ク図である。DDR DRAM10には、ロウとカラムに編成されるメモリセル
のアレイ12A,12Bと、ロウアドレス回路14と、カラムアドレス回路16
と、センス増幅器18と、出力回路19と、I/Oバス20とが含まれる。I/
Oバス20は、メモリアレイ12A,12Bを、DDR DRAM10のピン(
図示せず)、従ってコンピュータ、マイクロプロセッサ、又は他のデータ処理装
置等のプロセッサ22に接続する。一実施例において、I/Oバス20は2バイ
ト幅であり、200MHzまでのクロック速度において動作し、800メガバイ
ト/秒のデータI/Oバンド幅を提供する。
【0014】 プロセッサ22は、ロウアドレスをロウアドレスデコーダ14及びカラムアド
レスデコーダ16に提供すること、及び図2から7を参照して以下でより詳細に
説明する特定のデータ交換フォーマットのためにDDR DRAM10を構成す
るためのコマンドを提供することで、アレイ12A,12Bとデータを交換する
。プロセッサ22が、アレイ12A,12Bからデータを検索しているときは、
コマンド、アドレス及び外部クロック信号XCLKが、I/Oバス20を介して
プロセッサ22からDDR DRAM10へ接続される。それに応じて、センス
増幅器18は、アレイ12A,12Bからデータを読み出し、データを出力回路
19へ接続する。出力回路19は、クロック及びタイミング信号を生成し、これ
らの信号を、I/Oバス20を介して、センス増幅器18からのデータをプロセ
ッサ22へ同期して接続するために用いる。
【0015】 図2は、本発明の一実施例による、図1のDDR DRAM10の出力回路1
9の簡略化したブロック図である。出力回路19には、クロックバッファ回路2
4と、コマンドデコーダ26と、バーストカウンタ28と、QED0発生回路3
0と、遅延ロックループ32とが含まれる。外部クロック信号XCLKは、クロ
ックバッファ回路24への入力に接続される。内部クロック信号CLKは、クロ
ックバッファ回路24により外部クロック信号XCLKから得られる。内部クロ
ック信号CLKは、コマンドデコーダ26、バーストカウンタ28、QED0発
生回路30及び遅延ロックループ32に接続される。
【0016】 遅延ロックループ32は、出力CLK_DQ,DLLR0及びDLLF0を有
する。遅延ロックループの動作は、共に出願中である本発明の譲受人に譲渡され
た米国特許出願番号第09/303,076号で説明され、その開示内容は、こ
こに援用されるものとする。
【0017】 遅延ロックループは、1999年5月発行のIEEE JSSC, Vol.
34, No.5の632頁−644頁にある、ビー.ダブリュ.ガーレップら
による「高速CMOSインタフェース回路用ポータブルデジタルDLL」でも説
明され、その開示内容は、ここに援用されるものとする。DDR DRAM10
で使用するために特別に設計された遅延ロックループは、1999年4月発行の
IEEE JSSC, Vol.34, No.4の565頁−568頁にある
、エフ.リンらによる「ダブルデータレートDRAM用レジスタ制御対称DLL
」で説明され、その開示内容は、ここに援用されるものとする。
【0018】 信号DLLR0,DLLF0及びCLK_DQは、外部クロック信号XCLK
の異なる位置からの位相オフセットを有するように全て同期化される。その結果
、信号DLLR0,DLLF0及びCLK_DQは、全て外部クロック信号XC
LKと同じ周波数を有し、それらの信号のそれぞれが、その特定の信号に特有で
ある所定の範囲内に収まるような、外部クロック信号XLCKに対する位相又は
遅延の関係を有する。
【0019】 信号DLLR0及びDLLF0はインタリーブされる。即ち、DLLF0がロ
ジック「0」のときのみDLLR0はロジック「1」となり、DLLR0がロジ
ック「0」のときのみDLLF0がロジック「1」となる。ロジック「1」から
ロジック「0」への遷移によって、必要なことではないが、二つの信号が一時的
に符号が一致することがあり、その結果、クロックサイクルの一部分の間に同時
に両方の信号がロジック「0」となることがある。信号DLLR0の立ち上がり
エッジは、所定分だけ外部クロック信号XCLKの立ち上がりエッジよりも先行
する、即ち先に進む。
【0020】 コマンドデコーダ26は、図1のプロセッサ22のような、外部回路からDD
R DRAM10へのコマンドを受けるための入力XCMDを有し、バーストカ
ウンタ28及びQED0発生回路30への読み出しコマンドを提供するための出
力READを有する。コマンドデコーダ26は、レイテンシバス34を介してレ
イテンシコマンドも提供する。タイミング回路36は、タイミングバス38に一
群のタイミング信号を提供する。タイミング回路36の入力には、遅延ロックル
ープ32からの出力CLK_DQが接続される。タイミング回路36には、遅延
素子40及びインバータ42が含まれる。遅延素子40は、遅延ロックループ3
2からの出力CLK_DQが接続される入力を有し、インバータ42へ接続され
る出力を有する。
【0021】 タイミング回路36には、データ入力Dと、データ出力Qと、ラッチ入力LA
T及びLATとをそれぞれ有する5つの透過性ラッチ50,52,54,56
,58が含まれる。各入力LATには遅延素子40からの出力が接続され、また
入力LATにはインバータ42の出力が接続される。ラッチ50のデータ入力
Dには、QED0発生器30からの出力QED0が接続され、ラッチ50のデー
タ出力Qは、ラッチ52のデータ入力Dに接続される。ラッチ52,54,56
,58は、それぞれのデータ入力Dに一つ前のラッチのデータ出力Qが接続され
る状態でカスケード接続される。その結果、一組のタイミング信号Q0,Q1,
1h、Q2,2h,Q3が、タイミングバス38に提供される。タイミング信号
Q0−Q3は、タイミング信号QED0を提供するQED0発生器30に応じて
、一つ前のタイミング信号からそれぞれ1/2クロックサイクル分遅延している
。一組のタイミング信号Q0−Q3の各々は、一つ前のタイミング信号がロジッ
ク「1」になった1/2クロックサイクル後にロジック「1」になり、一つ前の
タイミング信号がロジック「0」に戻った1/2クロックサイクル後にロジック
「0」に戻る。
【0022】 その結果、信号QED0が所定の長さを有するロジック「1」のパルスを提供
するとき、それぞれのタイミング信号Q0−Q3も、所定の長さを有するロジッ
ク「1」のパルスであるが、一つ前のタイミング信号に対して1/2クロックサ
イクルだけ遅延しているパルスを提供する。一組のタイミング信号Q0−Q3は
、図3から図7を参照して以下により詳細に説明されるように、出力タイミング
信号を生成するために、レイテンシコマンドと共に使用される。
【0023】 タイミング発生器60は、レイテンシバス34とタイミングバス38に接続さ
れ、出力QED,QES,QS0を有する。データ出力ドライバDQ DRIV
ER62は、出力QEDに接続される入力を有し、出力データストローブドライ
バDQS DRIVER64は、出力QES,QS0に接続される入力を有する
。出力QEDは、図1のDDR DRAM10からデータDQを出力することを
可能とし、データストローブ出力QESは、DDR DRAM10から出力され
るデータストローブ信号DQSを出力することを可能とする。
【0024】 図3は、本発明の一実施例による、図2のタイミング発生器60の一実施例の
簡略化された回路図である。タイミング発生器60には、レイテンシ選択回路6
9が含まれる。レイテンシ選択回路69には、マルチプレクサMUX70,72
,74,76が含まれ、それぞれデータ入力A,B、選択入力S及びデータ出力
A0,B0を有する。
【0025】 マルチプレクサMUX70,72,74,76のデータ出力A0は全て互いに
接続され、データイネーブル信号LQEDを提供する。マルチプレクサMUX7
0,72,74,76のデータ出力B0は全て互いに接続され、データストロー
ブイネーブル信号LQESを提供する。マルチプレクサMUX70,72,74
,76の選択入力Sの各々は、レイテンシバス34からのそれぞれのレイテンシ
選択信号LATE1h,LATE2,LATE2h,LATE3に接続され、レ
イテンシ選択信号の内の一つだけが、ある時点では有効である。その結果、マル
チプレクサMUX70,72,74,76の内の一つだけが、ある時点では活性
化され、これは、図1のDDR DRAMからデータが出力される前に、データ
読み出しコマンドの後のクロックサイクルの数を決定する。
【0026】 一実施例において、マルチプレクサMUX70,72,74,76のデータ入
力A,Bには、図3に示したような図2のタイミング回路36からのタイミング
信号が図3に示すように接続される。他のレイテンシの場合には、他の接続方法
も利用可能である。
【0027】 タイミング発生器60には、コントロール信号発生器78も含まれる。コント
ロール信号発生器78には、ワンショット回路80と、インバータ82,84が
含まれる。ワンショット回路80は、マルチプレクサMUX70,72,74,
76からの信号LQES、LQEDへ接続される入力と、インバータ82の入力
に接続される出力とを有する。インバータ82は、インバータ84の入力に接続
される出力を有する。インバータ84からの出力は、出力信号QS0を提供する
。出力信号QS0は、図5から図7を参照して以下でより詳細に説明されるよう
に、データ出力ストローブ信号DQSのプリアンブル部を生成するために用いら
れる。
【0028】 タイミング発生器60には、NORゲート90及びインバータ92も含まれる
。NORゲート90は、信号LQEDに接続される一つの入力と、信号TEST
MODEに接続されるもう一つの入力を有する。信号TEST MODEは、
NORゲート90を通常はインバータとして動作させるように、通常ロジック「
0」である。NORゲート90の出力は、インバータ92への入力に接続される
。インバータ92の出力は、データ信号出力をイネーブルにする信号QEDを提
供する。
【0029】 タイミング発生器60には、NORゲート96及びインバータ98も含まれる
。NORゲート96は、信号LQEDに接続される一つの入力と、信号LQES
に接続されるもう一つの入力を有する。NORゲート96の出力は、インバータ
98への入力に接続される。インバータ98の出力は、データストローブ信号出
力をイネーブルにする信号QESを提供する。
【0030】 マルチプレクサMUX70−76と出力信号QS0,QED,QESとの間に
接続される素子(例えば、ゲート、インバータ等)の数は、種々の出力信号のパ
スに沿う遅延量を実質的に同一に維持させるために、整合されていなければなら
ない。広い温度にわたって同一の遅延態様を有する類似の素子を用いるパスを形
成することにより、遅延は、図1のDDR DRAMの動作温度が変化しても、
整合されたままに維持される。
【0031】 図4は、本発明の一実施例による、図2のデータ出力ドライバ62及びデータ
ストローブ出力ドライバ64の一実施例の簡略化された回路図である。データ出
力ドライバ62には、NANDゲート110及びインバータ112が含まれる。
NANDゲート110は、図3のタイミング発生器60からの信号QESに接続
される一つの入力と、信号TESTに接続されるもう一つの入力を有する。イ
ンバータ112の入力には、NANDゲート110の出力が接続される。NAN
Dゲート110の出力は、タイミング信号IQEDを提供し、インバータ11
2の出力は、相補タイミング信号IQEDを提供する。
【0032】 データ出力ドライバ62には、NANDゲート114及びNORゲート116
も含まれる。NANDゲート114は、信号IQEDに接続される一つの入力と
、図1のアレイ12Aからのデータに接続されるもう一つの入力を有する。NO
Rゲート116は、アレイ12Aからのデータに接続される一つの入力と、信号
IQEDに接続されるもう一つの入力を有する。
【0033】 データ出力ドライバ62には、NANDゲート118及びNORゲート120
も含まれる。NANDゲート118は、信号IQEDに接続される一つの入力と
、図1のアレイ12Bからのデータに接続されるもう一つの入力を有する。NO
Rゲート120は、アレイ12Bからのデータに接続される一つの入力と、信号
IQEDに接続されるもう一つの入力を有する。
【0034】 データ出力ドライバ62には、マルチプレクサ122,124の第1群及びマ
ルチプレクサ126,128の第2群も含まれる。マルチプレクサ122,12
4の第1群は、図2の遅延ロックループ32からの信号DLLR0及びDLLR
により信号が取り出され、マルチプレクサ126,128の第2群は、遅延
ロックループ32からの信号DLLF0及びDLLF0により信号が取り出さ
れる。整数のクロック周期であるレイテンシのために、信号DLLR0及びDL
LR0の立ち上がりエッジは、外部クロック信号XCLKの立ち上がりエッジ
よりも先行するようにタイミングが合わせられ、また信号DLLF0及びDLL
F0の立ち上がりエッジは、信号XCLKの立ち下がりエッジよりも先行する
ようにタイミングが合わせられる。整数ではないクロック周期であるレイテンシ
のために、信号DLLR0及びDLLR0の立ち上がりエッジは、外部クロッ
ク信号XCLKの立ち下がりエッジよりも先行するようにタイミングが合わせら
れ、また信号DLLF0及びDLLF0の立ち上がりエッジは、信号XCLK
の立ち上がりエッジよりも先行するようにタイミングが合わせられる。
【0035】 NANDゲート114の出力はマルチプレクサ122のデータ入力に接続され
、またNORゲート116の出力はマルチプレクサ124のデータ入力に接続さ
れる。同様に、NANDゲート118の出力はマルチプレクサ126のデータ入
力に接続され、またNORゲート120の出力はマルチプレクサ128のデータ
入力に接続される。
【0036】 データ出力ドライバ62には、インバータ130,132と、入力133,1
35を有するDQバッファ134と、インバータ136,138も含まれる。マ
ルチプレクサ124,128の出力は互いに接続され、そしてインバータ130
の入力に接続される。インバータ130の出力はインバータ132の入力に接続
される。インバータ132の出力は、DQバッファ134の第1入力133に接
続される。同様に、マルチプレクサ122,126の出力はインバータ136の
入力に接続される。インバータ136の出力はインバータ138の入力に接続さ
れる。インバータ138の出力は、DQバッファ134の入力135に接続され
る。
【0037】 データストローブ出力ドライバ64は、データ出力ドライバ62に類似してい
る。データストローブ出力ドライバ64には、NANDゲート150と、インバ
ータ152と、NANDゲート154と、NORゲート156と、NANDゲー
ト158と、NORゲート160と、マルチプレクサ162,164,166,
168と、インバータ170,172と、入力173,175を有するDQSバ
ッファ174と、インバータ176,178とが含まれる。
【0038】 NANDゲート150及びインバータ152は、信号QES及びTEST
らタイミング信号IQES及びIQESを生成する。NANDゲート154及
びNORゲート156の各々は、それぞれIQES及びIQESに接続された
一つの入力と、信号QS0に接続されたもう一つの入力を有する。NANDゲー
ト158及びNORゲート160の各々は、それぞれIQES及びIQES
接続された一つの入力と、ロジック「1」に接続されたもう一つの入力を有する
。ゲート154,156の出力は、それぞれマルチプレクサ162,164のデ
ータ入力に接続され、ゲート158,160の出力は、それぞれマルチプレクサ
166,168のデータ入力に接続される。
【0039】 図2の遅延ロックループ32からのクロック信号DLLR0,DLLF0に応
じて、マルチプレクサ164,168からの出力信号は、インバータ170,1
72を介してDQSバッファ174の第1入力173に接続される。同様に、マ
ルチプレクサ162,166からの出力信号は、インバータ176,178を介
して、DQSバッファ174の相補入力175に接続される。
【0040】 図5は、本発明の一実施例による、レイテンシが3、バースト長が4のデータ
出力動作を示す簡略化されたタイミング図である。図5及び図6には、8つの信
号が示されており、XCLK,DLLR0,DLLF0,QED(図5)又はL
QED(図6),QES,QS0,DQS,DQとラベルが付されている(上か
ら下の順番)。図2の外部クロック信号XCLKは、一番上の線で示されている
【0041】 外部クロック信号XCLKの下に示される遅延ロックループ出力信号DLLR
0の立ち上がりエッジは、約8ナノ秒だけ外部クロック信号XCLKの立ち上が
りエッジの先を進む。同様に、遅延ロックループ出力信号DLLF0の立ち上が
りエッジは、外部クロックXCLKの立ち下がりエッジの先を進む。これは、外
部クロック信号XCLKに対してデータ出力の非同期化無しで、図4のマルチプ
レクサ122−128が、DQバッファ134へ、従って、図1のI/Oバス2
0へデータを送ることを許容する。
【0042】 図5のレイテンシが3、バースト長が4のデータ出力動作のために、信号LQ
ED,LQESをそれぞれ作り出すためにタイミング信号Q3,Q2を送ること
を図3のマルチプレクサ76にのみ許容する。これにより、LATE3信号が、
図2のコマンドデコーダ26により有効化される(即ち、ロジック「1」に設定
される)。マルチプレクサ122,124,126,128のクロック信号DL
LR0,DLLF0にアレイ12A,12Bからのデータを同期化させるために
、信号LQEDは、DLLF0の立ち下がりエッジでロジック「1」に変化する
ことが必要であり、且つDLLR0の次の立ち上がりエッジの前にロジック「1
」に完全に変化している必要もある。
【0043】 図3のワンショット回路80は、信号LQES,LQEDから信号QS0を生
成する。そして、この信号QS0は、高インピーダンス安定状態を有する、DQ
Sドライバ64の出力から信号DQSのロジック「0」のプリアンブル部を生成
するために、DQSドライバ64(図3,図4)のゲート154,156(図4
)により使用される。その結果、図4のDQSドライバ64の出力である信号D
QSは、信号QS0がロジック「1」となった直後に、安定状態の約1.4ボル
トの信号レベルからロジック「0」へと変化する。
【0044】 1クロックサイクルの後、外部クロック信号XCLKの4番目のサイクルの立
ち上がりエッジに同期して、図4のDQバッファ134の出力からのデータ信号
DQ及びデータストローブバッファ174の出力からのデータストローブ信号D
QSが、DDR DRAM10(図1)から出力され始める。アレイ12A,1
2B(図1)の各々から2バイトのバーストがDQバッファ134(図4)の出
力から取り出されたとき、DQ及びDQS信号の両方は、外部クロック信号XC
LKの7番目のサイクルの立ち上がりエッジに同期して、高インピーダンスな安
定状態に戻る。
【0045】 図6は、本発明の一実施例による、レイテンシが2と1/2、バースト長が8
のデータ出力動作を示す簡略化されたタイミング図である。LATE2h信号が
図2のコマンドデコーダ26によって活性化されると、図3のマルチプレクサ7
4のみが、信号LQED,LQESをそれぞれ作り出すために、タイミング信号
2h,1hを送ることを許容する。図3のワンショット回路80は、信号LQE
S,LQEDから信号QS0を生成し、この信号QS0は、DQS信号のプリア
ンブル部が外部クロック信号XCLKの第2サイクルの立ち下がりエッジで始ま
る点が異なるが、図5で説明されるように、DWSプリアンブル部を生成するた
めに用いられる。
【0046】 1クロックサイクルの後、外部クロック信号XCLKの3番目の立ち下がりエ
ッジに同期して(即ち、2と1/2クロックサイクル後)、データDQは、DD
R DRAM10(図1)の外に図4のDQバッファ134の出力から取り出さ
れる。各アレイ12A,12B(図1)から4バイト計8バイトのバーストが、
外部クロック信号XCLKの7番目のサイクルの立ち上がりエッジで、DQバッ
ファ134(図4)から取り出されると、DQ及びDQS信号の両方は、外部ク
ロック信号XCLKの7番目のサイクルの立ち下がりエッジに同期して、高イン
ピーダンスな安定状態に戻る。
【0047】 図7は、本発明の一実施例による、レイテンシが2、バースト長が8のデータ
出力動作を示す簡略化されたタイミング図である。8つの信号が図7に示されて
おり、XCLK,DLLR0,DLLF0,QES,QED,QS0,DQS,
DQとラベルが付されている(上から下の順番)。
【0048】 LATE2信号が図2のコマンドデコーダ26によって活性化されると、マル
チプレクサ72のみが、信号LQED,LQESをそれぞれ作り出すために、タ
イミング信号Q2,Q1を通過させることを許容する。信号QS0は、図5を参
照して上で説明したように、DQSプリアンブル部を生成するために作られ使用
される。この時、プリアンブル部が外部クロック信号XCLKの第2サイクルの
立ち上がりエッジで始まる点が前の場合とは異なる。
【0049】 1クロックサイクルの後に、外部クロック信号XCLKの3番目のサイクルの
立ち上がりエッジに同期して、データDQが、DDR DRAM10(図1)の
外部に、図4のDQバッファ134の出力から取り出される。アレイ12A,1
2B(図1)の各々からの4バイトのバーストが、外部クロック信号XCLKの
6番目の立ち下がりエッジにおいて、DQバッファ134(図4)から取り出さ
れたとき、DQ及びDQS信号の両方は、外部クロック信号XCLKの7番目の
サイクルの立ち上がりエッジに同期して、高インピーダンスな安定状態に復帰す
る。
【0050】 図5から図7の例は、1クロックサイクルの長さを有するプリアンブルを用い
ている。1/2クロックサイクルの長さを有するプリアンブル部が必要なときは
、図3のマルチプレクサ76への入力Q2は信号2hに、マルチプレクサ74へ
の入力1hは信号Q2に、マルチプレクサ72への入力Q1は信号1hに、マル
チプレクサ70への入力QED0はQ1にそれぞれ変更されれば良い。他のプリ
アンブル長は、マルチプレクサ70,72,74,76のためのタイミング信号
の適当な選択により選定されれば良い。図5から図7のデータ出力動作の全てに
共通する重要な点は、マルチプレクサ122−128,162−168(図4)
を介してデータを取り出すための信号DLLR0,DLLF0が、従来のクロッ
ク信号源からではなく、図2の遅延ロックループから取り出されていることであ
る。これは、遅延ロックループ32からの信号DLLR0,DLLF0が、外部
クロック信号XCLKに対して所定の位相関係を有するので有利である。その結
果、信号DLLR0,DLLF0により取り出された信号は、ダブルデータレー
ト動作に対して、即ち、より高いクロック周波数の使用例に対して要求される、
より厳格なタイミング時間の間で効果的なものと言える。
【0051】 遅延ロックループ32からタイミング信号Q1,1h,Q2,2h,Q3を引
き出すことは、これらのタイミング信号が、DDR DRAM動作に要求される
、より短いタイミング時間の間で有効的なものとなることを許容する。タイミン
グ信号の伝播遅延量をバランスさせること、制御信号QES,QED,QS0の
発生及び伝播をバランスさせること、信号DQ,DQSの発生をバランスさせる
ことは全て、信号DQとDQSの同期化を容易とし、且つ確固として同期化温度
追従性を提供する。
【0052】 図3のタイミング発生器69及びコントロール信号発生器78は、これらの利
益を得るため、並びに図2及び図4のデータ出力ドライバ62及びデータストロ
ーブ出力ドライバ64への入力信号を提供するための、簡単ではあるが確固とし
た方法を提供する。一実施例において、各々の信号パスのゲートの数を同じにす
ること、及びある一定の遅延量を適当に選択することを確実に行い、且つ図2の
遅延ロックループ32からのタイミング信号DLLR0,DLLF0を用いるこ
とで、外部クロック信号XCLKに対して、より厳格なタイミング規制と、増大
したデータ出力レートが達成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、本発明の一実施例による、DDR DRAMの簡略化したブロック図
を示す。
【図2】 図2は、本発明の一実施例による、図1のDDR DRAMの出力回路の簡略
化したブロック図を示す。
【図3】 図3は、本発明の一実施例による、図2のタイミング発生器の一実施例の簡略
化したブロック図を示す。
【図4】 図4は、本発明の一実施例による、図2の出力ドライバの一実施例の簡略化し
たブロック図を示す。
【図5】 図5は、本発明の一実施例による、レイテンシが3、バースト長が4のデータ
出力動作を示す簡略化されたタイミング図を示す。
【図6】 図6は、本発明の一実施例による、レイテンシが2と1/2、バースト長が8
のデータ出力動作を示す簡略化されたタイミング図を示す。
【図7】 図7は、本発明の一実施例による、レイテンシが2、バースト長が8のデータ
出力動作を示す簡略化されたタイミング図を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ,UG ,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD, RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM,AT, AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,BZ,C A,CH,CN,CR,CU,CZ,DE,DK,DM ,DZ,EE,ES,FI,GB,GD,GE,GH, GM,HR,HU,ID,IL,IN,IS,JP,K E,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,LS ,LT,LU,LV,MA,MD,MG,MK,MN, MW,MX,MZ,NO,NZ,PL,PT,RO,R U,SD,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM ,TR,TT,TZ,UA,UG,UZ,VN,YU, ZA,ZW (54)【発明の名称】 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用出力回路、ダブルデータレートダイ ナミックランダムアクセスメモリ、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリか らのデータ取り出し方法、及びデータストローブ信号提供方法

Claims (24)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用
    出力回路であって、該出力回路は、 外部クロック信号を受け入れるように構成された入力を有する遅延ロックルー
    プであって、該遅延ロックループは、第1内部クロック信号及び第2内部クロッ
    ク信号を提供し、該第1及び第2内部クロック信号は、インタリーブされ且つ外
    部クロック信号に対して所定のタイミングを有する、遅延ロックループと、 遅延ロックループに接続され、プリアンブル部を含むデータストローブ信号を
    提供するように、且つデータストローブ信号及びプリアンブル部を第1及び第2
    内部クロック信号に同期させるように構成される、データストローブ回路と、 を具備することを特徴とする出力回路。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の出力回路において、前記データストローブ
    回路は、 第1の内部クロック信号により取り出されるように構成される一対の第1マル
    チプレクサと、 第2の内部クロック信号により取り出されるように構成される一対の第2マル
    チプレクサと、 タイミング信号に接続される入力を有し、一対の第1及び一対の第2のマルチ
    プレクサへの入力に接続される出力を有する組合せ論理回路と、 を具備することを特徴とする出力回路。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の出力回路において、前記データストローブ
    回路は、更に、 第1及び第2マルチプレクサからの出力に接続される入力と、出力とを有する
    遅延等価化回路と、 遅延等価化回路からの出力に接続されると相補の入力と、データ出力ストロー
    ブ信号を提供するように構成される出力とを有する出力バッファ回路と、 を具備することを特徴とする出力回路。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の出力回路において、前記遅延等価化回路に
    は、組合せ論理回路が含まれることを特徴とする出力回路。
  5. 【請求項5】 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用
    出力回路であって、該出力回路は、 外部クロック信号を受け入れるように構成された入力を有する遅延ロックルー
    プであって、該遅延ロックループは、第1内部クロック信号及び第2内部クロッ
    ク信号を提供し、該第1及び第2内部クロック信号は、インタリーブされ且つ外
    部クロック信号に対して所定のタイミングを有する、遅延ロックループと、 メモリセルの第1及び第2アレイから入力データを受け入れるように構成され
    たデータ出力回路であって、該データ出力回路は、遅延ロックループに接続され
    、メモリセルの第1及び第2アレイからのデータを第1及び第2内部クロック信
    号に同期させるように構成される、データ出力回路と、 遅延ロックループに接続され、プリアンブル部を含むデータストローブ信号を
    提供するように、且つデータストローブ信号及びプリアンブル部を第1及び第2
    内部クロック信号に同期させるように構成される、データストローブ回路と、 を具備することを特徴とする出力回路。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載の出力回路において、前記データストローブ
    回路は、 第1の内部クロック信号により取り出されるように構成される一対の第1マル
    チプレクサと、 第2の内部クロック信号により取り出されるように構成される一対の第2マル
    チプレクサと、 タイミング信号に接続される入力と、一対の第1及び一対の第2のマルチプレ
    クサの入力に接続される出力とを有する組合せ論理回路と、 第1及び第2マルチプレクサからの出力に接続される入力と、出力とをそれぞ
    れ有する遅延等価化回路と、 遅延等価化回路からの出力に接続される相補の入力と、データ出力ストローブ
    信号を提供するように構成される出力とを有する出力バッファ回路と、 を具備することを特徴とする出力回路。
  7. 【請求項7】 請求項6に記載の出力回路において、前記遅延等価化回路は
    、それぞれ直列に接続されるインバータからなることを特徴とする出力回路。
  8. 【請求項8】 請求項6に記載の出力回路において、前記遅延等価化回路は
    、直列に接続される第1インバータと第2インバータとからなることを特徴とす
    る出力回路。
  9. 【請求項9】 請求項5に記載の出力回路であって、更に、タイミング発生
    器を含み、該タイミング発生回路は、 データ入力、選択入力、及びデータ出力を有する一群のマルチプレクサと、 一群のマルチプレクサのうちの選択された一つを活性化させるために、一群の
    マルチプレクサのうちの一つのそれぞれの選択入力にレイテンシ選択信号を接続
    するレイテンシ選択バスと、 一連のタイミングパルスを提供するように構成されるタイミングバスであって
    、該一連のタイミングパルスの各々は、一連の次のタイミングパルスと比べて1
    /2のクロックサイクルだけ遅延され、1クロックサイクルの遅延により分けら
    れた一対のタイミングパルスの内の一つは、マルチプレクサのそれぞれのデータ
    入力に接続される、タイミングバスと、 データストローブプリアンブル信号を形成するための1クロックサイクル長パ
    ルスを提供するために、マルチプレクサからのデータ出力にそれぞれ接続される
    入力を有する組合せ論理回路と、 データストローブイネーブル信号を提供するために、マルチプレクサの選択さ
    れた一つを介して接続される後の一対のタイミングパルスを受信するために接続
    される入力を有する組合せ論理回路と、 を具備することを特徴とする出力回路。
  10. 【請求項10】 請求項5に記載の出力回路において、前記データ出力回路
    は、 第1の内部クロック信号により取り出されるように構成される一対の第1マル
    チプレクサと、 第2の内部クロック信号により取り出されるように構成される一対の第2マル
    チプレクサと、 タイミング信号及び一対のメモリセルアレイに接続される入力と、一対の第1
    マルチプレクサの入力に一対の第1メモリセルアレイからデータを提供するよう
    に構成されると共に、一対の第2マルチプレクサへ一対の第2メモリセルアレイ
    からデータを提供するように構成される出力とを有する組合せ論理回路と、 一対の第1及び一対の第2マルチプレクサからの出力に接続される入力と、出
    力とを有する遅延等価化回路と、 遅延等価化回路からの出力に接続される相補の入力と、第1及び第2メモリセ
    ルアレイからのデータを交互に提供する出力とを有する出力バッファ回路と、 を具備することを特徴とする出力回路。
  11. 【請求項11】 請求項5に記載の出力回路において、前記データ出力回路
    は、データストローブ信号のそれぞれのサイクルの間に、第1及び第2メモリセ
    ルアレイからのデータを交互に提供するように構成されることを特徴とする出力
    回路。
  12. 【請求項12】 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ
    (DDR DRAM)は、 ロウとカラムに配列される第1のメモリセルアレイと、 ロウとカラムに配列される第2のメモリセルアレイと、 第1及び第2メモリセルのロウに接続されるロウデコーダと、 第1及び第2メモリセルのカラムに接続されるカラムデコーダと、 メモリのピンと、ロウデコーダ及びカラムデコーダに接続され、メモリと外部
    デジタル回路との間のデータ、アドレス、及びコマンドを接続するI/Oバスと
    、 第1及び第2メモリセルアレイに接続されるセンス増幅器と、 データ出力回路及びデータストローブ回路を含む出力回路であって、該出力回
    路は、センス増幅器に接続される入力とI/Oバスに接続される出力とを有し、
    データ出力回路は、第1及び第2メモリセルアレイからの入力データを受け入れ
    且つデータバーストを供給するように構成され、該データバーストは、データス
    トローブ回路からのデータストローブ信号の各々のサイクルの間に、第1及び第
    2メモリセルアレイからのデータを交互に含み、データバーストは、データスト
    ローブ回路からのプリアンブル部により先行させられる、出力回路と、 を具備することを特徴とするDDR DRAM。
  13. 【請求項13】 請求項12に記載のDDR DRAMにおいて、前記出力
    回路は、更に、インタリーブされた第1及び第2の内部クロック信号を供給する
    ように構成された遅延ロックループを含み、データ出力回路は、第1内部クロッ
    ク信号に応じて第1メモリセルアレイからデータを供給し、且つ第2内部クロッ
    ク信号に応じて第2メモリセルアレイからデータを供給するように構成されるこ
    とを特徴とするDDR DRAM。
  14. 【請求項14】 請求項13に記載のDDR DRAMにおいて、前記デー
    タ出力回路及びデータストローブ回路はそれぞれ、 第1の内部クロック信号により取り出される一対の第1マルチプレクサと、 第2の内部クロック信号により取り出される一対の第2マルチプレクサと、 タイミング信号に接続される入力と、一対の第1及び一対の第2のマルチプレ
    クサの入力に接続される出力とを有する組合せ論理回路と、 第1及び第2マルチプレクサから出力に接続される入力と、出力とを有する一
    対の遅延等価化回路と、 遅延等価化回路から出力に接続される相補の入力と、出力信号を提供するよう
    に構成される出力とを有する出力バッファ回路と、 を具備することを特徴とするDDR DRAM。
  15. 【請求項15】 請求項12に記載のDDR DRAMであって、更に、 パルスを提供するパルス発生器と、パルスに応じて一連のパルスを提供するよ
    うに構成される一連の透過性ラッチとを含むタイミング回路であって、一連の各
    々のラッチは、直前の透過性ラッチからのパルスに対して1/2のクロックサイ
    クル遅延させられたパルスを提供するタイミング回路と、 データ出力レイテンシを選択するためのレイテンシコマンドに応答するレイテ
    ンシ選択回路であって、該レイテンシ選択回路は、対をなす透過性ラッチからの
    タイミング信号を接続するために複数のマルチプレクサのうちの一つを選択し、
    データストローブ回路は、複数のマルチプレクサのうちの一つからのタイミング
    信号に応じてプリアンブル部を提供する、レイテンシ選択回路と、 を具備することを特徴とするDDR DRAM。
  16. 【請求項16】 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ
    からデータを取り出す方法であって、該方法は、 第1内部クロック信号の立ち下がりエッジの後であって第2内部クロック信号
    の立ち上がりエッジの前に、データイネーブル信号を提供する過程であって、第
    1及び第2内部クロック信号はインタリーブされる、データイネーブル信号を提
    供する過程と、 データイネーブル信号に応じて、第1組合せ論理回路を介して第1データアレ
    イからの第1データを接続する過程と、 第1内部クロック信号により第1マルチプレクサを介して第1のデータを取り
    出す過程と、 データイネーブル信号に応じて、第2組合せ論理回路を介して第2データアレ
    イからの第2データを接続する過程と、 第2クロック信号により第2マルチプレクサを介して第2データを取り出す過
    程と、 第1及び第2マルチプレクサからデータバッファへ第1及び第2データを接続
    する過程と、 データストローブバッファへデータストローブ信号を提供する過程であって、
    該データストローブ信号は、第1及び第2データに、並びに外部クロック信号に
    同期化されている、データストローブ信号を提供する過程と、 からなることを特徴とするデータ取り出し方法。
  17. 【請求項17】 請求項16に記載の方法において、前記第1及び第2デー
    タをデータバッファへ接続する過程は、所定の遅延量を提供するための論理素子
    を介して第1及び第2データを接続する過程を含むことを特徴とする方法。
  18. 【請求項18】 請求項16に記載の方法であって、更に、 遅延ロックループを用いて外部クロック信号から、整数のクロックサイクルの
    レイテンシが選択されたときには、外部クロック信号の立ち上がりエッジに先行
    する立ち上がりエッジを有する第1内部クロック信号を取り出す過程と、 遅延ロックループを用いて外部クロック信号から、整数のクロックサイクルの
    レイテンシが選択されたときには、外部クロック信号の立ち下がりエッジに先行
    する立ち上がりエッジを有する第2内部クロック信号を取り出す過程と、 を含むことを特徴とする方法。
  19. 【請求項19】 請求項16に記載の方法において、前記データストローブ
    信号を提供する過程は、 第1内部クロック信号の立ち下がりエッジの後であって第2内部クロック信号
    の立ち上がりエッジの前に、データストローブイネーブル信号を提供する過程と
    、 第1位相関係を有するデータストローブ信号を提供するために、第1内部クロ
    ック信号により第3のマルチプレクサを介してデータストローブイネーブル信号
    を取り出す過程と、 第2位相関係を有するデータストローブ信号を提供するために、第2クロック
    信号により第4のマルチプレクサを介してデータストローブイネーブル信号を取
    り出す過程と、 データストローブバッファへデータストローブ信号を提供するために、第3及
    び第4のマルチプレクサからの第1及び第2位相関係データストローブ信号をデ
    ータストローブバッファへ接続する過程と、 を含むことを特徴とする方法。
  20. 【請求項20】 請求項19に記載の方法であって、更に、 データイネーブル信号をワンショット回路の第1入力に接続する過程と、 データストローブイネーブル信号をワンショット回路の第2入力に接続する過
    程と、 データストローブイネーブル信号とデータイネーブル信号が異なるロジック状
    態のときに、ワンショット回路により1クロックサイクルのパルス幅を有するパ
    ルスを生成する過程と、 所定の遅延量を提供するために、論理素子を介してパルスを接続する過程と、 データストローブ信号のためのプリアンブルを提供するために、論理素子から
    データストローブバッファへパルスを接続する過程と、 を含むことを特徴とする方法。
  21. 【請求項21】 データストローブ信号を提供する方法であって、該方法は
    、 第1内部クロック信号の立ち下がりエッジの後であって第2内部クロック信号
    の立ち上がりエッジの前に、データストローブイネーブル信号を提供する過程で
    あって、第1及び第2内部クロック信号はインタリーブされているデータストロ
    ーブイネーブル信号を提供する過程と、 第1位相関係を有するデータストローブ信号を提供するために、第1内部クロ
    ック信号により第1マルチプレクサを介してデータストローブイネーブル信号を
    取り出す過程と、 第2位相関係を有するデータストローブ信号を提供するために、第2クロック
    信号により第2マルチプレクサを介してデータストローブイネーブル信号を取り
    出す過程と、 データストローブバッファへデータストローブ信号を提供するために、第1及
    び第2のマルチプレクサからの第1及び第2位相関係を有するデータストローブ
    信号をデータストローブバッファへ接続する過程であって、データストローブ信
    号は、第1及び第2データと、並びに外部クロック信号と同期化されている、第
    1及び第2位相関係を有するデータストローブ信号を接続する過程と、 を含むことを特徴とする方法。
  22. 【請求項22】 請求項21に記載の方法であって、更に、 データイネーブル信号をワンショット回路の第1入力に接続する過程と、 データストローブイネーブル信号をワンショット回路の第2入力に接続する過
    程と、 データストローブイネーブル信号とデータイネーブル信号が異なるロジック状
    態のときに、ワンショット回路により1クロックサイクルのパルス幅を有するパ
    ルスを生成する過程と、 所定の遅延量を提供するために、論理素子を介してパルスを接続する過程と、 データストローブ信号のためのプリアンブルを提供するために、論理素子から
    データストローブバッファへパルスを接続する過程と、 を含むことを特徴とする方法。
  23. 【請求項23】 請求項21に記載の方法であって、更に、 遅延ロックループを用いて外部クロック信号から、整数のクロックサイクルの
    レイテンシが選択されたときには、外部クロック信号の立ち上がりエッジに先行
    する立ち上がりエッジを有する第1内部クロック信号を得る過程と、 遅延ロックループを用いて外部クロック信号から、整数のクロックサイクルの
    レイテンシが選択されたときには、外部クロック信号の立ち下がりエッジに先行
    する立ち上がりエッジを有する第2内部クロック信号を得る過程と、 を含むことを特徴とする方法。
  24. 【請求項24】 請求項21に記載の方法であって、更に、 遅延ロックループを用いて外部クロック信号から、非整数のクロックサイクル
    のレイテンシが選択されたときには、外部クロック信号の立ち下がりエッジに先
    行する立ち上がりエッジを有する第1内部クロック信号を得る過程と、 遅延ロックループを用いて外部クロック信号から、非整数のクロックサイクル
    のレイテンシが選択されたときには、外部クロック信号の立ち上がりエッジに先
    行する立ち上がりエッジを有する第2内部クロック信号を得る過程と、 を含むことを特徴とする方法。
JP2001520416A 1999-09-02 2000-08-31 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用出力回路、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリからのデータ取り出し方法、及びデータストローブ信号提供方法 Pending JP2003508872A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/389,531 US6240042B1 (en) 1999-09-02 1999-09-02 Output circuit for a double data rate dynamic random access memory, double data rate dynamic random access memory, method of clocking data out from a double data rate dynamic random access memory and method of providing a data strobe signal
US09/389,531 1999-09-02
PCT/US2000/024076 WO2001016957A1 (en) 1999-09-02 2000-08-31 Apparatus for analogue information transfer

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005339494A Division JP5017708B2 (ja) 1999-09-02 2005-11-24 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリからのデータ取り出し方法、及びデータストローブ信号提供方法
JP2005339491A Division JP4787988B2 (ja) 1999-09-02 2005-11-24 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用出力回路、及びダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003508872A true JP2003508872A (ja) 2003-03-04

Family

ID=23538652

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001520416A Pending JP2003508872A (ja) 1999-09-02 2000-08-31 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用出力回路、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリからのデータ取り出し方法、及びデータストローブ信号提供方法
JP2005339494A Expired - Fee Related JP5017708B2 (ja) 1999-09-02 2005-11-24 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリからのデータ取り出し方法、及びデータストローブ信号提供方法
JP2005339491A Expired - Fee Related JP4787988B2 (ja) 1999-09-02 2005-11-24 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用出力回路、及びダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005339494A Expired - Fee Related JP5017708B2 (ja) 1999-09-02 2005-11-24 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリからのデータ取り出し方法、及びデータストローブ信号提供方法
JP2005339491A Expired - Fee Related JP4787988B2 (ja) 1999-09-02 2005-11-24 ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用出力回路、及びダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ

Country Status (8)

Country Link
US (2) US6240042B1 (ja)
JP (3) JP2003508872A (ja)
KR (1) KR100493477B1 (ja)
AU (1) AU7342200A (ja)
DE (1) DE10084993B3 (ja)
GB (1) GB2368947B (ja)
TW (1) TW546668B (ja)
WO (1) WO2001016957A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004327008A (ja) * 2003-04-29 2004-11-18 Hynix Semiconductor Inc ドメインクロシング回路
JP2006313616A (ja) * 2005-05-03 2006-11-16 Samsung Electronics Co Ltd 半導体メモリ装置及びその装置のデータストローブ信号発生方法

Families Citing this family (65)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2393004B (en) * 1999-09-02 2004-06-23 Micron Technology Inc Apparatus for analogue information transfer
JP2002108693A (ja) * 2000-10-03 2002-04-12 Fujitsu Ltd データ読み出し方法、メモリコントローラ及び半導体集積回路装置
US6377096B1 (en) * 2000-10-24 2002-04-23 Hewlett-Packard Company Static to dynamic logic interface circuit
US6546461B1 (en) 2000-11-22 2003-04-08 Integrated Device Technology, Inc. Multi-port cache memory devices and FIFO memory devices having multi-port cache memory devices therein
US6889336B2 (en) * 2001-01-05 2005-05-03 Micron Technology, Inc. Apparatus for improving output skew for synchronous integrate circuits has delay circuit for generating unique clock signal by applying programmable delay to delayed clock signal
US6570813B2 (en) 2001-05-25 2003-05-27 Micron Technology, Inc. Synchronous mirror delay with reduced delay line taps
US6876239B2 (en) * 2001-07-11 2005-04-05 Micron Technology, Inc. Delay locked loop “ACTIVE command” reactor
US7082071B2 (en) * 2001-08-23 2006-07-25 Integrated Device Technology, Inc. Integrated DDR/SDR flow control managers that support multiple queues and MUX, DEMUX and broadcast operating modes
US6795360B2 (en) * 2001-08-23 2004-09-21 Integrated Device Technology, Inc. Fifo memory devices that support all four combinations of DDR or SDR write modes with DDR or SDR read modes
US6577552B2 (en) * 2001-08-30 2003-06-10 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for generating an oscillating signal
US6930524B2 (en) * 2001-10-09 2005-08-16 Micron Technology, Inc. Dual-phase delay-locked loop circuit and method
KR100446291B1 (ko) 2001-11-07 2004-09-01 삼성전자주식회사 카스 레이턴시를 이용하여 락킹 레졸루션 조절이 가능한지연동기 루프 회로
US6759911B2 (en) 2001-11-19 2004-07-06 Mcron Technology, Inc. Delay-locked loop circuit and method using a ring oscillator and counter-based delay
US6950350B1 (en) * 2002-01-08 2005-09-27 #Dlabs, Inc., Ltd. Configurable pipe delay with window overlap for DDR receive data
US6597628B1 (en) * 2002-01-08 2003-07-22 3Dlabs, Inc., Ltd Auto-disable receive control for DDR receive strobes
KR100470995B1 (ko) * 2002-04-23 2005-03-08 삼성전자주식회사 클럭수신 동기회로를 갖는 멀티클럭 도메인 데이터 입력처리장치 및 그에 따른 클럭신호 인가방법
US7319728B2 (en) 2002-05-16 2008-01-15 Micron Technology, Inc. Delay locked loop with frequency control
US6801070B2 (en) 2002-05-16 2004-10-05 Micron Technology, Inc. Measure-controlled circuit with frequency control
US6943044B1 (en) * 2002-06-11 2005-09-13 Etron Technology, Inc. Method of high speed data rate testing
US6621316B1 (en) 2002-06-20 2003-09-16 Micron Technology, Inc. Synchronous mirror delay (SMD) circuit and method including a counter and reduced size bi-directional delay line
US6809990B2 (en) * 2002-06-21 2004-10-26 Micron Technology, Inc. Delay locked loop control circuit
US6819599B2 (en) 2002-08-01 2004-11-16 Micron Technology, Inc. Programmable DQS preamble
US6727740B2 (en) * 2002-08-29 2004-04-27 Micron Technology, Inc. Synchronous mirror delay (SMD) circuit and method including a ring oscillator for timing coarse and fine delay intervals
US6687185B1 (en) * 2002-08-29 2004-02-03 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for setting and compensating read latency in a high speed DRAM
US7010713B2 (en) * 2002-12-19 2006-03-07 Mosaid Technologies, Inc. Synchronization circuit and method with transparent latches
US7738496B1 (en) 2002-12-31 2010-06-15 Cypress Semiconductor Corporation Device that provides the functionality of dual-ported memory using single-ported memory for multiple clock domains
US6762974B1 (en) 2003-03-18 2004-07-13 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for establishing and maintaining desired read latency in high-speed DRAM
US6839301B2 (en) * 2003-04-28 2005-01-04 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for improving stability and lock time for synchronous circuits
KR100927395B1 (ko) * 2003-04-29 2009-11-19 주식회사 하이닉스반도체 데이터 인 스트로브 신호 발생 장치
US7177379B1 (en) 2003-04-29 2007-02-13 Advanced Micro Devices, Inc. DDR on-the-fly synchronization
TWI303427B (en) * 2003-04-30 2008-11-21 Hynix Semiconductor Inc Synchronous memory device having advanced data align circuit
US6937076B2 (en) * 2003-06-11 2005-08-30 Micron Technology, Inc. Clock synchronizing apparatus and method using frequency dependent variable delay
US7685456B1 (en) 2003-07-30 2010-03-23 Marvell Israel (Misl) Ltd. DDR interface bus control
US7120075B1 (en) 2003-08-18 2006-10-10 Integrated Device Technology, Inc. Multi-FIFO integrated circuit devices that support multi-queue operating modes with enhanced write path and read path queue switching
US7031205B2 (en) 2003-09-29 2006-04-18 Infineon Technologies North America Corp. Random access memory with post-amble data strobe signal noise rejection
US20050073901A1 (en) * 2003-10-06 2005-04-07 Infineon Technologies North America Corp. Random access memory with data strobe locking circuit
KR100557636B1 (ko) * 2003-12-23 2006-03-10 주식회사 하이닉스반도체 클럭신호를 이용한 데이터 스트로브 회로
US7934057B1 (en) * 2003-12-24 2011-04-26 Cypress Semiconductor Corporation Logic for implementing a dual clock domain read access with predictable timing for bi-directional inputs/outputs
KR100521049B1 (ko) 2003-12-30 2005-10-11 주식회사 하이닉스반도체 더블 데이터 레이트 싱크로너스 디램의 쓰기 회로
US7042792B2 (en) * 2004-01-14 2006-05-09 Integrated Device Technology, Inc. Multi-port memory cells for use in FIFO applications that support data transfers between cache and supplemental memory arrays
US7078950B2 (en) * 2004-07-20 2006-07-18 Micron Technology, Inc. Delay-locked loop with feedback compensation
KR100668829B1 (ko) 2004-10-12 2007-01-16 주식회사 하이닉스반도체 메모리 장치용 데이타 출력 제어 회로
KR100636929B1 (ko) * 2004-11-15 2006-10-19 주식회사 하이닉스반도체 메모리 장치의 데이터 출력 회로
US7466783B2 (en) * 2004-12-13 2008-12-16 Lexmark International, Inc. Method and system to implement a double data rate (DDR) interface
US7130226B2 (en) * 2005-02-09 2006-10-31 Micron Technology, Inc. Clock generating circuit with multiple modes of operation
US7233543B2 (en) * 2005-03-01 2007-06-19 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method to change data window
US7702839B2 (en) * 2005-04-12 2010-04-20 Nokia Corporation Memory interface for volatile and non-volatile memory devices
US7280417B2 (en) * 2005-04-26 2007-10-09 Micron Technology, Inc. System and method for capturing data signals using a data strobe signal
US7123524B1 (en) 2005-05-13 2006-10-17 Infineon Technologies Ag Input circuit having updated output signal synchronized to clock signal
US7428603B2 (en) 2005-06-30 2008-09-23 Sigmatel, Inc. System and method for communicating with memory devices via plurality of state machines and a DMA controller
US7277357B1 (en) 2006-06-05 2007-10-02 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for reducing oscillation in synchronous circuits
US8589632B1 (en) 2007-03-09 2013-11-19 Cypress Semiconductor Corporation Arbitration method for programmable multiple clock domain bi-directional interface
US8145809B1 (en) 2007-03-09 2012-03-27 Cypress Semiconductor Corporation Busy detection logic for asynchronous communication port
KR100911197B1 (ko) * 2007-12-27 2009-08-06 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 데이터 출력 회로
KR100911201B1 (ko) 2008-02-14 2009-08-06 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 데이터 스트로브 클럭 버퍼 및 그제어 방법
KR100955267B1 (ko) * 2008-04-30 2010-04-30 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리장치 및 이의 동작 방법
WO2011022114A1 (en) * 2009-08-20 2011-02-24 Rambus Inc. Atomic memory device
KR101132799B1 (ko) * 2010-04-01 2012-04-02 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 시스템
KR101796116B1 (ko) 2010-10-20 2017-11-10 삼성전자 주식회사 반도체 장치, 이를 포함하는 메모리 모듈, 메모리 시스템 및 그 동작방법
RU2011115528A (ru) 2011-04-21 2012-10-27 Дженерал Электрик Компани (US) Топливная форсунка, камера сгорания и способ работы камеры сгорания
JP6179206B2 (ja) * 2013-06-11 2017-08-16 株式会社リコー メモリ制御装置
KR102211709B1 (ko) * 2014-05-19 2021-02-02 삼성전자주식회사 신호 송수신 특성을 향상한 불휘발성 메모리 시스템, 호스트 장치, 불휘발성 메모리 시스템 및 호스트의 동작방법
KR102323569B1 (ko) 2015-09-30 2021-11-08 삼성전자주식회사 샘플링 포인트를 독립적으로 조절할 수 있는 데이터 처리 회로와 이를 포함하는 데이터 처리 시스템
US10649849B2 (en) * 2017-07-14 2020-05-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory device including detection clock pattern generator for generating detection clock output signal including random data pattern
US10431293B1 (en) 2018-07-23 2019-10-01 Micron Technology, Inc. Systems and methods for controlling data strobe signals during read operations

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5598113A (en) * 1995-01-19 1997-01-28 Intel Corporation Fully asynchronous interface with programmable metastability settling time synchronizer
US5831929A (en) 1997-04-04 1998-11-03 Micron Technology, Inc. Memory device with staggered data paths
US6104225A (en) * 1997-04-21 2000-08-15 Fujitsu Limited Semiconductor device using complementary clock and signal input state detection circuit used for the same
JP3901297B2 (ja) * 1997-09-09 2007-04-04 富士通株式会社 Dll回路及びそれを利用した半導体記憶装置
JP3788867B2 (ja) * 1997-10-28 2006-06-21 株式会社東芝 半導体記憶装置
KR100252057B1 (ko) 1997-12-30 2000-05-01 윤종용 단일 및 이중 데이터 율 겸용 반도체 메모리 장치
KR100278653B1 (ko) * 1998-01-23 2001-02-01 윤종용 이중 데이터율 모드 반도체 메모리 장치
JPH11213666A (ja) 1998-01-30 1999-08-06 Mitsubishi Electric Corp 出力回路および同期型半導体記憶装置
US5923613A (en) 1998-03-18 1999-07-13 Etron Technology, Inc. Latched type clock synchronizer with additional 180°-phase shift clock
US6043694A (en) * 1998-06-24 2000-03-28 Siemens Aktiengesellschaft Lock arrangement for a calibrated DLL in DDR SDRAM applications

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004327008A (ja) * 2003-04-29 2004-11-18 Hynix Semiconductor Inc ドメインクロシング回路
JP4535747B2 (ja) * 2003-04-29 2010-09-01 株式会社ハイニックスセミコンダクター ドメインクロシング回路
JP2006313616A (ja) * 2005-05-03 2006-11-16 Samsung Electronics Co Ltd 半導体メモリ装置及びその装置のデータストローブ信号発生方法

Also Published As

Publication number Publication date
GB2368947A (en) 2002-05-15
DE10084993B3 (de) 2013-03-21
GB2368947B (en) 2004-02-18
JP4787988B2 (ja) 2011-10-05
DE10084993T1 (de) 2002-08-01
KR100493477B1 (ko) 2005-06-03
JP2006120311A (ja) 2006-05-11
JP2006172695A (ja) 2006-06-29
US6240042B1 (en) 2001-05-29
TW546668B (en) 2003-08-11
WO2001016957A1 (en) 2001-03-08
US20010014053A1 (en) 2001-08-16
GB0204835D0 (en) 2002-04-17
AU7342200A (en) 2001-03-26
US6381194B2 (en) 2002-04-30
KR20030009292A (ko) 2003-01-29
JP5017708B2 (ja) 2012-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003508872A (ja) ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ用出力回路、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリ、ダブルデータレートダイナミックランダムアクセスメモリからのデータ取り出し方法、及びデータストローブ信号提供方法
US7415404B2 (en) Method and apparatus for generating a sequence of clock signals
US6151271A (en) Integrated circuit memory devices having data selection circuits therein which are compatible with single and dual rate mode operation and methods of operating same
US7178001B2 (en) Semiconductor memory asynchronous pipeline
US7085906B2 (en) Memory device
JP4070051B2 (ja) 半導体メモリ装置のデータマスキング方法とその回路、及び該回路を有する半導体メモリ装置
US5544124A (en) Optimization circuitry and control for a synchronous memory device with programmable latency period
US6130856A (en) Method and apparatus for multiple latency synchronous dynamic random access memory
US6445642B2 (en) Synchronous double data rate DRAM
EP1010179B1 (en) Two step memory device command buffer apparatus and method and memory devices and computer systems using same
US20110298512A1 (en) Circuit, system and method for controlling read latency
US6768698B2 (en) Semiconductor memory device with internal clock generation circuit
JP3259696B2 (ja) 同期型半導体記憶装置
JP2002531966A (ja) ビット対ビットのタイミング補正を用いる高速データキャプチャ方法および装置ならびにメモリデバイス
JP2001060392A (ja) 半導体装置
US6539454B2 (en) Semiconductor memory asynchronous pipeline
US20120008437A1 (en) Counter circuit, latency counter, semiconductor memory device including the same, and data processing system
JP2001527262A (ja) パイプラインメモリコマンドを処理するための方法およびシステム
JP2002506554A (ja) メモリデバイスにおけるローカル制御信号発生のための方法および装置
US20070245096A1 (en) Finding a data pattern in a memory
JP2817685B2 (ja) 半導体メモリ
JP2003536201A (ja) 均衡が取れたデュアルエッジでトリガーされたデータビットシフトの回路および方法
GB2393004A (en) Output circuit for a double data rate DRAM with a data strobe signal with a preamble.

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041102

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050524

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20050824

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20050831

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060221