JP4070051B2 - 半導体メモリ装置のデータマスキング方法とその回路、及び該回路を有する半導体メモリ装置 - Google Patents
半導体メモリ装置のデータマスキング方法とその回路、及び該回路を有する半導体メモリ装置 Download PDFInfo
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体メモリ装置に係り、特に半導体メモリ装置のデータマスキング方法とその回路、及び該回路を有する半導体メモリ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
コンピュータシステムの性能が向上されるに従って、半導体メモリ装置の速度がシステム性能を制限する要因になっており、これを解決するために、シンクDRAM(SDRAM)、RAMバスDRAM(RAM BUS DRAM)、シンク-リンクDRAM(Sync-Link DRAM)のような高性能DRAMが出現している。
【0003】
シンクDRAMは、SDR(Single Data Rate)シンクDRAMからDDR(Double Data Rate)シンクDRAMに変化してきている。SDRシンクDRAMは、クロックの立上りエッジまたは立下りエッジでのみデータの入出力が可能なのに比べ、DDRシンクDRAMは、クロックの立上りエッジのみならず立下りエッジでもデータの入出力ができるので、クロック周波数の2倍のデータ伝送幅を有するようになる。また、シンクDRAMは、データ読出し/書込みコマンドが発生する時に、望まないデータをマスキングするためのデータ入出力マスキングピン(DQM Pin:Data input/output masking Pin)を具備しており、データマスキング信号がアクチベーションされる時には、定められた待ち時間によってデータの入出力をディスエーブルする。
【0004】
図1は、従来の技術によるSDRシンクDRAMのデータマスキング方法を説明するために示したタイミング図である。
【0005】
前記図1を参照すれば、データDQ、コマンドCMD、及びデータマスキング信号DQMは、クロックCLKの立上りエッジに同期され、この時の前記データDQを読出す場合のマスキング待ち時間は2(クロック)であり、前記データDQを書込む場合のマスキング待ち時間は0(クロック)である。
【0006】
したがって、書込みコマンドCMDが発生する場合、データマスキング信号DQMが論理ハイにアクチベーションされる時のデータDQ、すなわち第1番入力データDIN1がマスキングされ、読出しコマンドCMDが発生する場合、前記データマスキング信号DQMが論理ハイにアクチベーションされた後の前記クロックCLKの2周期後のデータ、すなわち第1番出力データDOUT1がマスキングされる。図中、前記データDQ中マスキングされた第1番入力データDIN1及び第1番出力データDOUT1は斜線で示した。
【0007】
半導体メモリ装置はチップセットのコントロールによりデータの入出力がなされるが、データ読出し命令ではメモリセルからCPUにデータを伝達するので、DRAMでデータをマスキングする必要はなくチップセット自体でマスキングできるが、データ書込み命令ではCPUからメモリセルにデータを伝達するので、使いたくないデータをマスキングしなければならない。したがって、DRAMではデータ書込み命令によるデータ入力時にのみデータマスキングが必要であり、データ読出し命令によるデータ出力ではデータマスキングが必要でない。
【0008】
ところが、DDRシンクDRAMではデータがクロックの立上りエッジと立下りエッジでサンプリングされ、データを除いた全ての命令はクロックの立上りエッジでサンプリングされるので、クロックの1周期の間、データマスキング信号が論理ハイにアクチベーションされる時には、2個の連続されるデータがマスキングされ、データのサンプリングウィンドウがSDRシンクDRAMに比べ1/2になり、短い時間でデータをフェッチ(fetch)しなければならない問題点がある。
【0009】
前記のような問題点を解決するための方法として、入出力データをフェッチするためのデータストローブ(data strobe)信号を利用し、データを前記データストローブ信号に同期させて入出力する。
【0010】
図2は、従来の技術によるDDRシンクDRAMのデータマスキング方法を説明するために示したタイミング図である。
【0011】
前記図2を参照すれば、データマスキング信号DQMはクロックCLKの立上りエッジに同期され、データDQはクロックCLKに同期せず、前記データDQをフェッチするためのデータストローブ信号DSの立上りエッジと立下りエッジに同期する。したがって、前記データストローブ信号DSの一周期の間に、2個のデータDQが書込まれる。
【0012】
前記データマスキング信号DQMは前記クロックCLKの立上りエッジに同期して、偶数番号データDQをマスキングするための第1データマスキング信号DQM_EVENと、奇数番号データDQをマスキングするための第2データマスキング信号DQM_ODDとに区分される。前記第1及び第2データマスキング信号DQM_EVEN、DQM_ODDによりマスキングされたデータは斜線で示した。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記の方法では、データマスキング信号が2個に増えることによって前記データマスキング信号が入力されるピン数を2倍に増やさなければならないので、これに伴いチップセットのピン数も増やさなければならないという問題点が発生する。例えば、現PCチップセットはデータマスキング信号が入力されるデータマスキングピンを8個具備しているが、ここにシンクDRAMパッケージでデータマスキングピンを16個に増やせれば、チップセットのデータマスキングピンも16個に増やさなければならない。
【0014】
本発明の目的は、データマスキング信号が入力されるピン数を増やさずデータをマスキングする半導体メモリ装置のデータマスキング方法とその回路、及び該回路を有する半導体メモリ装置を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明では、クロックに同期されたアドレスと、データを書込むためのコマンドと、データをマスクするためのデータマスキング信号の第1信号と第2信号とを入力して、次のクロックの立ち上がりエッジに同期して奇数番目のデータを伝達あるいはマスキングする第1カラム選択線信号と偶数番目のデータを伝達あるいはマスキングする第2カラム選択線信号とを出力するカラム選択線信号発生部と、データストローブ信号の立下りエッジに同期して奇数番目のデータを入力して、前記データストローブ信号の立上りエッジに同期して偶数番目のデータを入力し、次のクロックの立ち上がりエッジに同期して奇数番目の第1データと偶数番目の第2データとを出力するデータ伝達部と、前記第1及び第2カラム選択線信号に各々応答し、前記第1データと第2データを各々第1及び第2データラインに伝達あるいはマスキングするカラム選択部と、奇数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立下りエッジに同期する前記第1信号と、偶数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立上りエッジに同期する前記第2信号とを含む1つのデータマスキング信号を入力するデータマスキング信号入力線とを有し、前記第1データと第2データとを前記第1信号と第2信号とによりそれぞれマスクして、各々第1及び第2データラインに伝達することを特徴とする半導体メモリ装置のデータマスキング回路を提供する。
【0016】
前記他の目的を達成するための本発明の一実施の形態は、次の通りである。
【0017】
まず、クロックに同期されたアドレスとデータを書込むためのコマンドを発生する。データストローブ信号に同期されたデータを入力する。前記データストローブ信号に同期されたデータマスキング信号を発生する。前記アドレス、コマンド、及び前記データマスキング信号を組合せてマスキングされた第1カラム選択線信号と第2カラム選択線信号を発生する。前記データを前記データストローブ信号の立上りエッジ及び立下りエッジ中のいずれか1つに同期された第1データと前記データストローブ信号の立上りエッジ及び立下りエッジ中の他の1つに同期された第2データとに区分する。前記第1カラム選択線信号がアクチベーションされれば前記第1データを伝送し、前記第2カラム選択線信号がアクチベーションされれば前記第2データを伝送する。
【0018】
前記他の目的を達成するための本発明の他の実施の形態は、次の通りである。
【0019】
クロックに同期されたアドレスとデータを書込むためのコマンドを発生する。データストローブ信号に同期されたデータを入力する。前記データストローブ信号に同期されたデータマスキング信号を発生する。前記アドレス及びコマンドを組合せて第1カラム選択線信号と第2カラム選択線信号を発生する。前記データを前記データストローブ信号の立上りエッジ及び立下りエッジ中のいずれか1つに同期され、前記データマスキング信号によりマスキングされた第1データと前記データストローブ信号の立上りエッジ及び立下りエッジ中の他の1つに同期され、前記データストローブ信号に同期されたデータマスキング信号によりマスキングされた第2データに区分する。前記第1カラム選択線信号がアクチベーションされれば前記第1データを伝送し、前記第2カラム選択線信号がアクチベーションされれば前記第2データを伝送する。
【0020】
かかる構成によれば、データマスキング信号DQMとデータDQのすべてがデータストローブ信号DSに同期されるので、電圧、温度、工程変化などの条件に同一に反応しデータのサンプリングウィンドウが大きくなり、またデータマスキング信号DQMを入力するためのピンを増やす必要がない。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下、添附した図面を参照して本発明の望ましい実施の形態を詳細に説明する。
【0022】
図3は、本発明による半導体メモリ装置のデータマスキング回路の一実施の形態を示す図である。
【0023】
前記図3を参照すれば、データマスキング回路は、アドレスバッファ41、コマンドバッファ42、データ入出力バッファ43、データマスキングバッファ44、カラム選択線信号発生部45、データ伝達部46、及びカラム選択部47とからなる。
【0024】
前記アドレスバッファ41は、半導体メモリ装置の外部からの外部アドレスADDとクロックCLKを入力にし、前記クロックCLKに同期してバッファリングされた内部アドレスPADDを出力し、前記コマンドバッファ42は、半導体メモリ装置の外部からデータを読出しまたは書込むためのコマンドCMDとクロックCLKを入力にし、前記クロックCLKに同期してバッファリングされた内部コマンドPCMDを出力する。
【0025】
そして、前記データ入出力バッファ43は、外部データDQとデータストローブ信号DSを入力にし、前記データストローブ信号DSに同期してバッファリングされた内部データPDQを出力する。この時、前記データストローブ信号DSは、前記外部データDQをフェッチするために半導体メモリ装置の外部から入力された信号である。
【0026】
前記データマスキングバッファ44は、前記外部データDQをマスキングするためのデータマスキング信号DQMと前記データストローブ信号DSを入力にし、前記データストローブ信号DSに同期してバッファリングされた内部データマスキング信号PDQMを出力する。
【0027】
前記データ伝達部46は、前記データストローブ信号DSの立上りエッジと立下りエッジに同期した内部データPDQを入力にし、それぞれ次のクロックCLKの立上りエッジに応答して所定の遅延時間後に同時に第1データD_EVEN及び第2データD_ODDを出力する。
【0028】
前記カラム選択線信号発生部45は、前記内部アドレスPADD、内部コマンドPCMD、及び内部データマスキング信号PDQMを入力にし、前記内部アドレスPADDと前記内部データマスキング信号PDQMを組合せて、前記第1データD_EVENを出力するための第1カラム選択線信号CSL_EVENと、前記第2データD_ODDを出力するための第2カラム選択線信号CSL_ODDを発生する。前記第1及び第2カラム選択線信号CSL_EVEN、CSL_ODDは、前記内部データマスキング信号PDQMがアクチベーションされる時にはアクチベーションされないように、上記次のクロックCLK立上りエッジに応答して内部データマスキング信号PDQMを受けて選択的に出力される。
【0029】
前記カラム選択部47は、第1NMOSトランジスタQ1と第2NMOSトランジスタQ2とで構成されるが、前記第1NMOSトランジスタQ1は前記第1カラム選択線信号CSL_EVENが論理ハイになる時ターンオンされ前記第1データD_EVENを伝送し、前記第2NMOSトランジスタQ2は前記第2カラム選択線信号CSL_ODDが論理ハイになる時ターンオンされ前記第2データD_ODDを伝送する。しかし、前記第1カラム選択線信号CSL_EVENがアクチベーションされないと前記第1データD_EVENはマスキングされ、前記第2カラム選択線信号CSL_ODDがアクチベーションされないと前記第2データD_ODDがマスキングされる。この時、前記第1及び第2カラム選択線信号CSL_EVEN、CSL_ODDは、前記データDQを書込むための外部コマンドCMDより前記クロックCLKの1周期以上後に発生されるのが望ましい。
【0030】
言い換えれば、本実施の形態では、外部データDQと外部データマスキング信号DQMを、クロックCLKではなくデータストローブ信号DSに同期させ、前記内部アドレスPADDと前記内部データマスキング信号PDQMを組合せて、第1及び第2カラム選択線信号CSL_EVEN、CSL_ODDを発生し、前記第1及び第2カラム選択線信号CSL_EVEN、CSL_ODDにより前記データDQの一部がマスキングされた第1及び第2データD_EVEN、D_ODDを、各々第1及び第2データラインDL_EVEN、DL_ODDに伝送する。したがって、データマスキング信号DQMとデータDQのすべてがデータストローブ信号DSに同期するので、電圧、温度、工程変化などの条件に同一に反応してデータのサンプリングウィンドウが大きくなり、またデータマスキング信号DQMを入力するためのピンを増やす必要がないという長所がある。
【0031】
図4は、前記図3に示した回路の各部の信号のタイミング図である。
【0032】
前記図4を参照すれば、外部データDQはデータストローブ信号DSの立上りエッジと立下りエッジに同期し、外部データマスキング信号DQMは前記データDQ中2番及び5番データ2、5をマスキングする場合あって、この時、前記データストローブ信号DSは外部データDQを書込むためのコマンドCMDが入力された後に入力される。
【0033】
第1データD_EVENは前記データストローブ信号DSの立上りエッジに同期されたデータ0、2、4、6により構成され、第2データD_ODDは前記データストローブ信号DSの立下りエッジに同期されたデータ1、3、5、7からなる。
【0034】
第1及び第2カラム選択線信号CSL_EVEN、CSL_ODDは、上記次のクロックCLKの立上りエッジに同期し、前記データマスキング信号DQMが論理ハイにアクチベーションされる時にはアクチベーションされない。前記第1カラム選択線信号CSL_EVENがアクチベーションされる時、前記第1データD_EVENは第1データラインDL_EVENに出力され、前記第2カラム選択線信号CSL_ODDがアクチベーションされる時、前記第2データD_ODDは第2データラインDL_ODDに出力される。したがって、前記第1データラインDL_EVENでは前記第1データD_EVEN中の2番データ2がマスキングされ、前記第2データラインDL_ODDでは前記第2データD_ODD中の5番データ5がマスキングされる。
【0035】
図5は、本発明による半導体メモリ装置のデータマスキング回路の他の実施の形態を示す図である。
【0036】
前記図5を参照すれば、データマスキング回路は、アドレスバッファ61、コマンドバッファ62、データ入出力バッファ63、データマスキングバッファ64、カラム選択線信号発生部65、データ伝達部66、及びカラム選択部67からなる。
【0037】
前記アドレスバッファ61、前記コマンドバッファ62、前記データ入出力バッファ63、及び前記データマスキングバッファ64は、図3に示されたアドレスバッファ41、コマンドバッファ42、データ入出力バッファ43、及びデータマスキングバッファ44と同様な構成要素である。
【0038】
前記データ伝達部66は、前記データストローブ信号DSの立上りエッジと立下りエッジに同期した内部データPDQ及び内部データマスキング信号PDQMを入力にし、第1データD_EVENと第2データD_ODDとを出力する。前記第1及び第2データD_EVEN、D_ODDは、前記内部データマスキング信号PDQMが論理ハイにアクチベーションされる時にはマスキングされ、それぞれ次のクロックCLKの立上りエッジに応答して所定の遅延時間後に同時に出力される。
【0039】
前記カラム選択線信号発生部65は、前記アドレスバッファ61から出力された内部アドレスPADD及び前記コマンドバッファ62から出力された内部コマンドPCMDを入力にし、第1カラム選択線信号CSL_EVEN及び第2カラム選択線信号CSL_ODDを発生する。前記第1カラム選択線信号CSL_EVENは、上記次のクロックCLKの立上りエッジに応答してアクチベーションされ、前記データDQを書込むためのコマンドCMDより前記クロックCLKの1周期以上後に発生する。
【0040】
前記カラム選択部67は、第1NMOSトランジスタQ1と第2NMOSトランジスタQ2とで構成されるが、前記第1NMOSトランジスタQ1は前記第1カラム選択線信号CSL_EVENが論理ハイになる時ターンオンされ、第1データラインDL_EVENに前記第1データD_EVENを伝送し、前記第2NMOSトランジスタQ2は前記第2カラム選択線信号CSL_ODDが論理ハイになる時ターンオンされ、前記第2データラインDL_ODDに前記第2データD_ODDを伝送する。
【0041】
図6は、前記図5に示した回路の各部の信号のタイミング図である。
【0042】
前記図6を参照すれば、外部データDQはデータストローブ信号DSの立上りエッジと立下りエッジに交互に同期し、外部データマスキング信号DQMは前記データDQ中の2番及び5番データ2、5をマスキングする場合であって、この時、前記データストローブ信号DSは前記外部データDQを書込むためのコマンドCMDが入力された後に入力される。
【0043】
第1及び第2データD_EVEN、D_ODDは上記次のクロックCLKの立上りエッジに応答し、前記データマスキング信号DQMがアクチベーションされない場合にのみ発生する。したがって、前記第1データD_EVENでは2番データ2がマスキングされ、第2データD_ODDでは5番データ5がマスキングされる。
【0044】
第1及び第2カラム選択線信号CSL_EVEN、CSL_ODDは、上記次のクロックCLKの立上りエッジに応答してアクチベーションされる。前記第1及び第2カラム選択線信号CSL_EVEN、CSL_ODDがアクチベーションされる時、前記第1及び第2データD_EVEN、D_ODDは各々第1及び第2データラインDL_EVEN、DL_ODDに出力される。
【0045】
以上、本発明はこれに限らず、多くの変形が本発明の技術的思想内で当分野において通常の知識を有する者によって可能であることは明白である。
【0046】
【発明の効果】
前記のように、本発明による半導体メモリ装置のデータマスキング方法とその回路、及び該回路を有する半導体メモリ装置は、データマスキング信号DQMとデータDQのすべてがデータストローブ信号DSに同期されるので、電圧、温度、工程変化などの条件に同一に反応し、データのサンプリングウィンドウが大きくなり、またデータマスキング信号DQMを入力するためのピンを増やす必要がないという効果が得られる。
【0047】
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の技術によるSDRシンクDRAMのデータマスキング方法を説明するために示したタイミング図である。
【図2】従来の技術によるDDRシンクDRAMのデータマスキング方法を説明するために示したタイミング図である。
【図3】本発明による半導体メモリ装置のデータマスキング回路の一実施の形態を示す図である。
【図4】前記図3に示した回路の各部の信号のタイミング図である。
【図5】本発明による半導体メモリ装置のデータマスキング回路の他の実施の形態を示す図である。
【図6】前記図5に示した回路の各部の信号のタイミング図である。
【符号の説明】
41,61 アドレスバッファ
42,62 コマンドバッファ
43,63 データ入出力バッファ
44,64 データマスキングバッファ
45,65 カラム選択線信号発生部
46,66 データ伝達部
47,67 カラム選択部
ADD 外部アドレス
CLK クロック
CMD コマンド
CSL_EVEN 第1データD_EVENを出力するための第1カラム選択線信号
CSL_ODD 第2データD_ODDを出力するための第2カラム選択線信号D_EVEN データストローブ信号DSの立上りエッジに同期された第1データ
D_ODD データストローブ信号DSの立下りエッジに同期された第2データ
DQ 外部データ
DQM マスキングするためのデータマスキング信号
DS データストローブ信号
PADD バッファリングされた内部アドレス
PCMD バッファリングされた内部コマンド
PDQ 立上りエッジと立下りエッジに同期された内部データ
PDQM バッファリングされた内部データマスキング信号
Claims (23)
- クロックに同期されたアドレスと、データを書込むためのコマンドと、データをマスクするためのデータマスキング信号の第1信号と第2信号とを入力して、次のクロックの立ち上がりエッジに同期して奇数番目のデータを伝達あるいはマスキングする第1カラム選択線信号と偶数番目のデータを伝達あるいはマスキングする第2カラム選択線信号とを出力するカラム選択線信号発生部と、
データストローブ信号の立下りエッジに同期して奇数番目のデータを入力して、前記データストローブ信号の立上りエッジに同期して偶数番目のデータを入力し、次のクロックの立ち上がりエッジに同期して奇数番目の第1データと偶数番目の第2データとを出力するデータ伝達部と、
前記第1及び第2カラム選択線信号に各々応答し、前記第1データと第2データを各々第1及び第2データラインに伝達あるいはマスキングするカラム選択部と、
奇数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立下りエッジに同期する前記第1信号と、偶数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立上りエッジに同期する前記第2信号とを含む1つのデータマスキング信号を入力するデータマスキング信号入力線とを有し、
前記第1データと第2データとを前記第1信号と第2信号とによりそれぞれマスクして、各々第1及び第2データラインに伝達することを特徴とする半導体メモリ装置のデータマスキング回路。 - クロックに同期されたアドレスとデータを書込むためのコマンドとを入力して、次のクロックの立ち上がりエッジに同期して奇数番目のデータを伝達する第1カラム選択線信号と偶数番目のデータを伝達する第2カラム選択線信号とを出力するカラム選択線信号発生部と、
データストローブ信号の立下りエッジに同期して奇数番目のデータを入力して、前記データストローブ信号の立上りエッジに同期して偶数番目のデータを入力すると共に、データをマスクするためのデータマスキング信号の第1信号と第2信号とを入力し、次のクロックの立ち上がりエッジに同期して前記第1信号と第2信号とによりそれぞれマスクされた奇数番目の第1データと偶数番目の第2データとを出力するデータ伝達部と、
前記第1及び第2カラム選択線信号に各々応答し、前記第1データと第2データを各々第1及び第2データラインに伝達するカラム選択部と、
奇数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立下りエッジに同期する前記第1信号と、偶数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立上りエッジに同期する前記第2信号とを含む1つのデータマスキング信号を入力するデータマスキング信号入力線とを有し、
前記第1データと第2データとを前記第1信号と第2信号とによりそれぞれマスクして、各々第1及び第2データラインに伝達することを特徴とする半導体メモリ装置のデータマスキング回路。 - 前記アドレスは、前記半導体メモリ装置の外部からアドレスとクロックを入力してバッファリングするアドレスバッファから出力されることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング回路。
- 前記コマンドは、前記半導体メモリ装置の外部からコマンドとクロックを入力してバッファリングするコマンドバッファから出力されることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング回路。
- 前記データは、前記半導体メモリ装置の外部からデータとデータストローブ信号を入力してバッファリングするデータ入出力バッファから出力されることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング回路。
- 前記データマスキング信号は、前記半導体メモリ装置の外部からデータマスキング信号とデータストローブ信号を入力してバッファリングするデータマスキングバッファから出力されることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング回路。
- 前記カラム選択部は、前記第1カラム選択線信号がアクチベーションされる時にターンオンされ前記第1データを前記第1データラインに伝送する第1トランジスタと、前記第2カラム選択線信号がアクチベーションされる時にターンオンされ前記第2データを前記第2データラインに伝送する第2トランジスタとを含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング回路。
- 前記半導体メモリ装置にデータを書込むためのコマンドが入力された後に前記データストローブ信号が入力されることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング回路。
- 前記第1及び第2カラム選択線信号は、前記半導体メモリ装置にデータを書込むためのコマンドが入力された後の前記クロックの1周期以上後に発生されることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング回路。
- クロックに同期されたアドレス及びデータを書込むためのコマンドを発生する段階と、
データをフェッチするためのデータストローブ信号の立下りエッジに同期される奇数番目のデータを入力し、前記データストローブ信号の立上りエッジに同期される偶数番目のデータを入力する段階と、
奇数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立下りエッジに同期する第1信号と、偶数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立上りエッジに同期する第2信号とを含む1つのデータマスキング信号を入力する段階と、
前記アドレス、コマンド、及びデータマスキング信号の前記第1信号及び第2信号を組合せて、奇数番目のデータを伝達あるいはマスキングする第1カラム選択線信号と偶数番目のデータを伝達あるいはマスキングする第2カラム選択線信号とを発生する段階と、
前記データを、前記データストローブ信号の立下りエッジに同期して入力された第1データと、前記データストローブ信号の立上りエッジに同期して入力された第2データとに区分して出力する段階と、
前記第1カラム選択線信号がアクチベーションされれば前記第1データを第1データラインに伝達し、前記第2カラム選択線信号がアクチベーションされれば前記第2データを第2データラインに伝達する段階とを具備することを特徴とする半導体メモリ装置のデータマスキング方法。 - 前記アドレスは、前記半導体メモリ装置の外部からアドレスとクロックを入力してバッファリングするアドレスバッファから出力することを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング方法。
- 前記コマンドは、前記半導体メモリ装置の外部からコマンドとクロックを入力してバッファリングするコマンドバッファから出力することを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング方法。
- 前記データは、前記半導体メモリ装置の外部からデータとデータストローブ信号を入力してバッファリングするデータ入出力バッファから出力することを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング方法。
- 前記データマスキング信号は、前記半導体メモリ装置の外部からデータマスキング信号とデータストローブ信号を入力してバッファリングするデータマスキングバッファから出力することを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング方法。
- 前記第1及び第2カラム選択線信号は、前記半導体メモリ装置にデータを書込むためのコマンドを入力した後の前記クロックの1周期以上後に発生することを特徴とする請求項10に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング方法。
- クロックに同期されたアドレス及びデータを書込むためのコマンドを発生する段階と、
データをフェッチするためのデータストローブ信号の立下りエッジに同期される奇数番目のデータを入力し、前記データストローブ信号の立上りエッジに同期される偶数番目のデータを入力する段階と、
奇数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立下りエッジに同期する第1信号と、偶数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立上りエッジに同期する第2信号とを含む1つのデータマスキング信号を入力する段階と、
前記アドレス及びコマンドを組合せて、奇数番目のデータを伝達する第1カラム選択線信号と偶数番目のデータを伝達する第2カラム選択線信号とを発生する段階と、
前記データを、前記データストローブ信号の立下りエッジに同期して入力され前記データマスキング信号の第1信号によりマスキングされた奇数番目の第1データと、前記データストローブ信号の立上りエッジに同期して入力され前記データマスキング信号の第2信号によりマスキングされた偶数番目の第2データとに区分して出力する段階と、
前記第1カラム選択線信号がアクチベーションされれば前記第1データを第1データラインに伝達し、前記第2カラム選択線信号がアクチベーションされれば前記第2データを第1データラインに伝達する段階とを具備することを特徴とする半導体メモリ装置のデータマスキング方法。 - 前記アドレスは、前記半導体メモリ装置の外部からアドレスとクロックを入力してバッファリングするアドレスバッファから出力することを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング方法。
- 前記コマンドは、前記半導体メモリ装置の外部からコマンドとクロックを入力してバッファリングするコマンドバッファから出力することを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング方法。
- 前記データは、前記半導体メモリ装置の外部からデータとデータストローブ信号を入力してバッファリングするデータ入出力バッファから出力することを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング方法。
- 前記データマスキング信号は、前記半導体メモリ装置の外部からデータマスキング信号とデータストローブ信号を入力してバッファリングするデータマスキングバッファから出力することを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング方法。
- 前記第1及び第2カラム選択線信号は、前記半導体メモリ装置にデータを書込むためのコマンドを入力した後前記クロックの1周期以上後に発生することを特徴とする請求項16に記載の半導体メモリ装置のデータマスキング方法。
- データマスキング回路を有する半導体メモリ装置であって、
該データマスキング回路が、
クロックに同期されたアドレスと、データを書込むためのコマンドと、データをマスクするためのデータマスキング信号の第1信号と第2信号とを入力して、次のクロックの立ち上がりエッジに同期して奇数番目のデータを伝達あるいはマスキングする第1カラム選択線信号と偶数番目のデータを伝達あるいはマスキングする第2カラム選択線信号とを出力するカラム選択線信号発生部と、
データストローブ信号の立下りエッジに同期して奇数番目のデータを入力して、前記データストローブ信号の立上りエッジに同期して偶数番目のデータを入力し、次のクロックの立ち上がりエッジに同期して奇数番目の第1データと偶数番目の第2データとを出力するデータ伝達部と、
前記第1及び第2カラム選択線信号に各々応答し、前記第1データと第2データを各々第1及び第2データラインに伝達あるいはマスキングするカラム選択部と、
奇数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立下りエッジに同期する前記第1信号と、偶数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立上りエッジに同期する前記第2信号とを含む1つのデータマスキング信号を入力するデータマスキング信号入力線とを有し、
前記第1データと第2データとを前記第1信号と第2信号とによりそれぞれマスクして、各々第1及び第2データラインに伝達することを特徴とする半導体メモリ装置。 - データマスキング回路を有する半導体メモリ装置であって、
該データマスキング回路が、
クロックに同期されたアドレスとデータを書込むためのコマンドとを入力して、次のクロックの立ち上がりエッジに同期して奇数番目のデータを伝達する第1カラム選択線信号と偶数番目のデータを伝達する第2カラム選択線信号とを出力するカラム選択線信号発生部と、
データストローブ信号の立下りエッジに同期して奇数番目のデータを入力して、前記データストローブ信号の立上りエッジに同期して偶数番目のデータを入力すると共に、データをマスクするためのデータマスキング信号の第1信号と第2信号とを入力し、次のクロックの立ち上がりエッジに同期して前記第1信号と第2信号とによりそれぞれマスクされた奇数番目の第1データと偶数番目の第2データとを出力するデータ伝達部と、
前記第1及び第2カラム選択線信号に各々応答し、前記第1データと第2データを各々第1及び第2データラインに伝達するカラム選択部と、
奇数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立下りエッジに同期する前記第1信号と、偶数番目のデータをマスクするための前記データストローブ信号の立上りエッジに同期する前記第2信号とを含む1つのデータマスキング信号を入力するデータマスキング信号入力線とを有し、
前記第1データと第2データとを前記第1信号と第2信号とによりそれぞれマスクして、各々第1及び第2データラインに伝達することを特徴とする半導体メモリ装置。
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