JP2003228865A - 光ディスク装置および光ディスク装置のチルト補償方法 - Google Patents
光ディスク装置および光ディスク装置のチルト補償方法Info
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- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
- G11B7/0909—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only by astigmatic methods
Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、高精度にチルト検出を行い、記録
再生に最適なチルト状態にすることで、光ディスクがお
椀型やその他の形状に歪んでいても、安定な記録再生性
能を実現することができる光ディスク装置および光ディ
スク装置のチルト補償方法を提供を提供することを課題
とする。 【解決手段】 ループゲイン測定手段３２は、トラック
サーボが動作して光スポットがトラックに追従している
状態でトラック追従手段２１に周期外乱を与え、その影
響をトラックエラー信号から検出して測定し、ループゲ
イン最適チルト指令値設定部２４は、収差補正のための
ループゲイン最適チルト指令値を選別又は算出して設定
し、ループゲイン最適チルト指令値を用いてコマ収差変
化手段２７で対物レンズ２０を所望のチルト角に制御す
る。
再生に最適なチルト状態にすることで、光ディスクがお
椀型やその他の形状に歪んでいても、安定な記録再生性
能を実現することができる光ディスク装置および光ディ
スク装置のチルト補償方法を提供を提供することを課題
とする。 【解決手段】 ループゲイン測定手段３２は、トラック
サーボが動作して光スポットがトラックに追従している
状態でトラック追従手段２１に周期外乱を与え、その影
響をトラックエラー信号から検出して測定し、ループゲ
イン最適チルト指令値設定部２４は、収差補正のための
ループゲイン最適チルト指令値を選別又は算出して設定
し、ループゲイン最適チルト指令値を用いてコマ収差変
化手段２７で対物レンズ２０を所望のチルト角に制御す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置お
よび光ディスク装置のチルト補償方法に関し、特に光デ
ィスクに対して情報を記録又は再生するヘッドと光ディ
スクとの傾きを常に正しい状態に調整可能な光ディスク
装置および光ディスク装置のチルト補償方法に関する。
よび光ディスク装置のチルト補償方法に関し、特に光デ
ィスクに対して情報を記録又は再生するヘッドと光ディ
スクとの傾きを常に正しい状態に調整可能な光ディスク
装置および光ディスク装置のチルト補償方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスク装置では、特許第３１１４６
６４号公報に記載されているように、光ディスクに傾き
が存在すると、光ピックアップの対物レンズの光軸が光
ディスクの記録面に垂直に交差せず、記録信号品位や再
生信号品位を低下させるため、チルト補償装置によっ
て、光ピックアップ光軸が光ディスク記録面に交差する
位置における該光ピックアップ光軸と光ディスク記録面
に垂直な方向との傾きを修正する。チルト補償装置の構
成としては、ヘッドキャリジに対し対物レンズをラジア
ルチルト方向に変化させるチルトアクチュエータ手段
と、チルトを検出する手段を具備し、記録又は再生する
トラック位置でチルト誤差を０に近づけ、記録信号品位
や再生信号品位を低下させないように補償する。
６４号公報に記載されているように、光ディスクに傾き
が存在すると、光ピックアップの対物レンズの光軸が光
ディスクの記録面に垂直に交差せず、記録信号品位や再
生信号品位を低下させるため、チルト補償装置によっ
て、光ピックアップ光軸が光ディスク記録面に交差する
位置における該光ピックアップ光軸と光ディスク記録面
に垂直な方向との傾きを修正する。チルト補償装置の構
成としては、ヘッドキャリジに対し対物レンズをラジア
ルチルト方向に変化させるチルトアクチュエータ手段
と、チルトを検出する手段を具備し、記録又は再生する
トラック位置でチルト誤差を０に近づけ、記録信号品位
や再生信号品位を低下させないように補償する。
【０００３】例えば、特開２００１−１９５７６２号公
報に記載されているように、光学式ピックアップを搭載
するキャリジベースの光ディスクに対する傾きを可変に
する機構と、光ディスクに対する光学式ピックアップの
傾きを検出するチルトセンサを有し、チルト誤差を０に
近づけることでチルト補償が可能になっている。この例
では、さらにチルトセンサの検出系でのオフセットを補
償するため、ＲＦ信号から得る同期クロックのジッタを
用い補正する手段が用いられている。
報に記載されているように、光学式ピックアップを搭載
するキャリジベースの光ディスクに対する傾きを可変に
する機構と、光ディスクに対する光学式ピックアップの
傾きを検出するチルトセンサを有し、チルト誤差を０に
近づけることでチルト補償が可能になっている。この例
では、さらにチルトセンサの検出系でのオフセットを補
償するため、ＲＦ信号から得る同期クロックのジッタを
用い補正する手段が用いられている。
【０００４】また、特開平９−７２０７号公報に記載さ
れている例では、さらに光ディスクから再生された信号
を検出する手段を具備し、トラッキングエラー振幅、お
よびＲＦ信号振幅、ＲＦ信号を２値化した信号のジッタ
を検出し、光ヘッドの傾きおよびチルトセンサの検出系
でのオフセットを補償する。この例では、光ディスクか
ら再生された信号を用いて、チルトを最適化する手段と
して、各信号が最適となるチルト角を、山登り法、急な
変化点の下りと上りの中心値を用いる方法が用いられて
いる。
れている例では、さらに光ディスクから再生された信号
を検出する手段を具備し、トラッキングエラー振幅、お
よびＲＦ信号振幅、ＲＦ信号を２値化した信号のジッタ
を検出し、光ヘッドの傾きおよびチルトセンサの検出系
でのオフセットを補償する。この例では、光ディスクか
ら再生された信号を用いて、チルトを最適化する手段と
して、各信号が最適となるチルト角を、山登り法、急な
変化点の下りと上りの中心値を用いる方法が用いられて
いる。
【０００５】その他に、限られた光ディスク半径位置
で、光ディスクと対物レンズの相対チルト角を測定し、
各トラックでのチルト角を推定する手段を用いた例が、
特開１０−２２２８６０号公報、特開２００１−１９０
８０号公報、特開２０００−５７６０７号公報に記載さ
れている。これらは、チルトセンサの経年変化や、光ピ
ックアップ機構系の経年変化でのチルト検出のずれを補
償する目的もある。
で、光ディスクと対物レンズの相対チルト角を測定し、
各トラックでのチルト角を推定する手段を用いた例が、
特開１０−２２２８６０号公報、特開２００１−１９０
８０号公報、特開２０００−５７６０７号公報に記載さ
れている。これらは、チルトセンサの経年変化や、光ピ
ックアップ機構系の経年変化でのチルト検出のずれを補
償する目的もある。
【０００６】特開２０００−３４８３６２号公報に記載
されている例では、フォーカスサーチ時の投入位置での
駆動電圧によりチルトを推定する手段と、フォーカスサ
ーチ時のフォーカスアクチュエータアップダウンで、投
入位置→ピーク→投入位置の周期でチルトを推定手段と
が用いられている。
されている例では、フォーカスサーチ時の投入位置での
駆動電圧によりチルトを推定する手段と、フォーカスサ
ーチ時のフォーカスアクチュエータアップダウンで、投
入位置→ピーク→投入位置の周期でチルトを推定手段と
が用いられている。
【０００７】以上の例では、ヘッドキャリジに設けたチ
ルトセンサで対物レンズと光ディスクの相対チルト角を
検出する場合と、光ディスクから再生した信号の特性を
用いて対物レンズと光ディスクの相対チルト角を検出す
る場合とがあり、得られた相対チルト角を使って対物レ
ンズの傾きを調整している。
ルトセンサで対物レンズと光ディスクの相対チルト角を
検出する場合と、光ディスクから再生した信号の特性を
用いて対物レンズと光ディスクの相対チルト角を検出す
る場合とがあり、得られた相対チルト角を使って対物レ
ンズの傾きを調整している。
【０００８】次に、「アクチュエータチルト機構」を用
いた例について説明する。アクチュエータチルト機構
は、対物レンズアクチュエータにフォーカス、トラック
方向の他にチルト方向を設け、対物レンズ傾きを調整す
る機構であり、「Matsushita Technical Journal Vol.
４５ No.６ Dec. １９９９、４.７GB DVD-RAMドライ
ブ」には、プリピットヘッダで光スポットをセンタ制御
した状態でのトラッキングエラー信号のオフセット値を
チルト量として検出し、この値を０に制御することでチ
ルト補償を行う手段が用いられている。チルトアクチュ
エータ機構は、フォーカスアクチュエータをトラック方
向中心線で２分割し、左右別々に駆動できる機構で構成
している。フォーカス方向移動は両者同位相で駆動し、
チルト方向への移動は逆位相で駆動する。以上のチルト
検出とチルトアクチュエータ機構を用い、対物レンズの
チルト方向の補償を実現している。
いた例について説明する。アクチュエータチルト機構
は、対物レンズアクチュエータにフォーカス、トラック
方向の他にチルト方向を設け、対物レンズ傾きを調整す
る機構であり、「Matsushita Technical Journal Vol.
４５ No.６ Dec. １９９９、４.７GB DVD-RAMドライ
ブ」には、プリピットヘッダで光スポットをセンタ制御
した状態でのトラッキングエラー信号のオフセット値を
チルト量として検出し、この値を０に制御することでチ
ルト補償を行う手段が用いられている。チルトアクチュ
エータ機構は、フォーカスアクチュエータをトラック方
向中心線で２分割し、左右別々に駆動できる機構で構成
している。フォーカス方向移動は両者同位相で駆動し、
チルト方向への移動は逆位相で駆動する。以上のチルト
検出とチルトアクチュエータ機構を用い、対物レンズの
チルト方向の補償を実現している。
【０００９】その他に、特開平９−７２０７号公報に記
載されている例のように、トラッキングエラー振幅、お
よびＲＦ信号振幅、ＲＦ信号を２値化した信号のジッタ
等を検出し、「Matsushita Technical Journal」の例と
同様なチルトアクチュエータ機構で、チルト補償を実現
している例もある。
載されている例のように、トラッキングエラー振幅、お
よびＲＦ信号振幅、ＲＦ信号を２値化した信号のジッタ
等を検出し、「Matsushita Technical Journal」の例と
同様なチルトアクチュエータ機構で、チルト補償を実現
している例もある。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
チルトセンサによりチルトを検出する技術では、設置す
る体積が十分確保できないと共に、チルトセンサを小型
化するとセンサ感度を十分確保することが困難になるた
め、装置が薄型化するとチルトセンサが設置できないと
いう問題点があった。
チルトセンサによりチルトを検出する技術では、設置す
る体積が十分確保できないと共に、チルトセンサを小型
化するとセンサ感度を十分確保することが困難になるた
め、装置が薄型化するとチルトセンサが設置できないと
いう問題点があった。
【００１１】また、トラッキングエラー振幅およびＲＦ
信号振幅、ＲＦ信号から２値化した信号のジッタを検出
し、それらとチルトとの関係を用いてチルト検出を行う
技術では、高い信号品質および高精度な検出手段が要求
されるが、チルト成分以外の外乱要素が多く、十分な精
度が確保できないという問題点があった。
信号振幅、ＲＦ信号から２値化した信号のジッタを検出
し、それらとチルトとの関係を用いてチルト検出を行う
技術では、高い信号品質および高精度な検出手段が要求
されるが、チルト成分以外の外乱要素が多く、十分な精
度が確保できないという問題点があった。
【００１２】また、フォーカス投入位置のフォーカス駆
動電圧等を用いてチルトを検出する技術では、装置の姿
勢に影響を受け精度が確保できない場合があると共に、
光ディスクの１回転の中で面ブレによるうねりがあるた
め、十分な精度が確保できないという問題点があった。
動電圧等を用いてチルトを検出する技術では、装置の姿
勢に影響を受け精度が確保できない場合があると共に、
光ディスクの１回転の中で面ブレによるうねりがあるた
め、十分な精度が確保できないという問題点があった。
【００１３】また、「Matsushita Technical Journal」
に代表される光ディスクの特殊な物理的フォーマットを
利用する手段は、それを持たない別の規格の光ディスク
に対しては適用できないという問題点があった。
に代表される光ディスクの特殊な物理的フォーマットを
利用する手段は、それを持たない別の規格の光ディスク
に対しては適用できないという問題点があった。
【００１４】本発明は斯かる問題点を鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、高精度に対物レン
ズと光ディスクの傾きであるチルト検出を行い、記録再
生に最適なチルト状態にすることで、光ディスクがお椀
型やその他の形状に歪んでいても、安定な記録再生性能
を実現することができる光ディスク装置および光ディス
ク装置のチルト補償方法を提供する点にある。
のであり、その目的とするところは、高精度に対物レン
ズと光ディスクの傾きであるチルト検出を行い、記録再
生に最適なチルト状態にすることで、光ディスクがお椀
型やその他の形状に歪んでいても、安定な記録再生性能
を実現することができる光ディスク装置および光ディス
ク装置のチルト補償方法を提供する点にある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
すべく、以下に掲げる構成とした。請求項１記載の発明
の要旨は、光ディスク上のトラックに光ビームを集束し
て照射し、光学的に情報の記録又は再生を行う光ディス
ク装置であって、光ビームをトラックに追従させるため
のトラッキング制御ループのループゲイン値を測定する
ループゲイン値測定手段と、該ループゲイン値測定手段
によって測定される前記ループゲイン値に基づいて光ビ
ームに生じるコマ収差を補正するための収差補正指令値
を設定する収差補正指令値設定手段と、該収差補正指令
値設定手段により設定された前記収差補正指令値に応じ
て光ビームに生じるコマ収差を補正するコマ収差変化手
段とを具備することを特徴とする光ディスク装置に存す
る。また請求項２記載の発明の要旨は、前記ループゲイ
ン値測定手段は、周期外乱成分を用いて前記ループゲイ
ン値を測定させることを特徴とする請求項１記載の光デ
ィスク装置に存する。また請求項３記載の発明の要旨
は、前記収差補正指令値設定手段は、前記ループゲイン
値測定手段により光ビームに生じるコマ収差を変化させ
て測定された複数の前記ループゲイン値に基づいて前記
収差補正指令値を設定させることを特徴とする請求項１
又は２記載の光ディスク装置に存する。また請求項４記
載の発明の要旨は、前記収差補正指令値設定手段は、前
記ループゲイン値が最大となる様に前記収差補正指令値
を設定させることを特徴とする請求項１乃至３のいずれ
かに記載の光ディスク装置に存する。また請求項５記載
の発明の要旨は、光ディスクに照射された光ビームの反
射光からディスク信号を検出するディスク信号検出手段
と、該ディスク信号検出手段により検出された前記ディ
スク信号に基づいて前記収差補正指令値を補正する収差
補正指令値補正手段とを具備することを特徴とする請求
項１乃至４のいずれかに記載の光ディスク装置に存す
る。また請求項６記載の発明の要旨は、前記ディスク信
号検出手段は、光ビームをトラックに追従させた状態で
前記ディスク信号を検出させることを特徴とする請求項
５記載の光ディスク装置に存する。また請求項７記載の
発明の要旨は、前記ディスク信号検出手段は、前記ディ
スク信号として光ディスクに記録されたデータ情報を示
すＲＦ信号の振幅値を検出させ、前記収差補正指令値補
正手段は、前記ディスク信号検出手段により検出された
前記ＲＦ信号の振幅値に基づいて前記収差補正指令値を
補正させることを特徴とする請求項５又は６記載の光デ
ィスク装置に存する。また請求項８記載の発明の要旨
は、前記ディスク信号検出手段は、前記ディスク信号と
して光ディスクに記録されたデータ情報を示すＲＦ信号
を２値化した信号のジッタ値を検出させ、前記収差補正
指令値補正手段は、前記ディスク信号検出手段により検
出された前記ジッタ値に基づいて前記収差補正指令値を
補正させることを特徴とする請求項５又は６記載の光デ
ィスク装置に存する。また請求項９記載の発明の要旨
は、前記収差補正指令値設定手段により光ディスクの複
数の半径位置においてそれぞれ設定された複数の前記収
差補正指令値を記憶する収差補正指令値記憶手段と、該
収差補正指令値記憶手段に記憶されている複数の前記収
差補正指令値に基づいて光ディスクの半径位置に応じた
前記収差補正指令値を算出する収差補正指令値算出手段
とを具備することを特徴とする請求項１乃至８のいずれ
かに記載の光ディスク装置に存する。また請求項１０記
載の発明の要旨は、前記収差補正指令値設定手段は、前
記収差補正指令値と前記ループゲイン値との関係を近似
曲線で近似させ、極値での収差補正指令値を前記収差補
正指令値として設定させることを特徴とする請求項１乃
至９のいずれかに記載の光ディスク装置に存する。また
請求項１１記載の発明の要旨は、前記収差補正指令値設
定手段は、前記ループゲイン値が所定値範囲外になる正
負それぞれの前記収差補正指令値の内、前記ループゲイ
ン値が上記所定範囲外で最大となる正負それぞれの収差
補正指令値の中心値を前記収差補正指令値と設定させる
ことを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記載の光
ディスク装置に存する。また請求項１２記載の発明の要
旨は、前記収差補正指令値設定手段は、前記収差補正指
令値と前記ループゲイン値との関係から山登り法により
前記ループゲイン値が最大となる前記収差補正指令値を
設定させることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか
に記載の光ディスク装置に存する。また請求項１３記載
の発明の要旨は、光ディスク上のトラックに光ビームを
集束して照射し、光学的に情報の記録又は再生を行う光
ディスク装置のチルト補償方法であって、光ビームをト
ラックに追従させるためのトラッキング制御ループのル
ープゲイン値を測定し、該測定した前記ループゲイン値
に基づいて光ビームに生じるコマ収差を補正するための
収差補正指令値を設定し、該設定した前記収差補正指令
値に応じて光ビームに生じるコマ収差を補正することを
特徴とする光ディスク装置のチルト補償方法に存する。
また請求項１４記載の発明の要旨は、周期外乱成分を用
いて前記ループゲイン値を測定することを特徴とする請
求項１３記載の光ディスク装置のチルト補償方法に存す
る。また請求項１５記載の発明の要旨は、光ビームに生
じるコマ収差を変化させて測定した複数の前記ループゲ
イン値に基づいて前記収差補正指令値を設定することを
特徴とする請求項１３又は１４記載の光ディスク装置の
チルト補償方法に存する。また請求項１６記載の発明の
要旨は、前記ループゲイン値が最大となる様に前記収差
補正指令値を設定することを特徴とする請求項１３乃至
１５のいずれかに記載の光ディスク装置のチルト補償方
法に存する。また請求項１７記載の発明の要旨は、光デ
ィスクに照射された光ビームの反射光からディスク信号
を検出し、該検出した前記ディスク信号に基づいて前記
収差補正指令値を補正することを特徴とする請求項１３
乃至１６のいずれかに記載の光ディスク装置のチルト補
償方法に存する。また請求項１８記載の発明の要旨は、
光ビームをトラックに追従させた状態で前記ディスク信
号を検出することを特徴とする請求項１７記載の光ディ
スク装置のチルト補償方法に存する。また請求項１９記
載の発明の要旨は、前記ディスク信号として光ディスク
に記録されたデータ情報を示すＲＦ信号の振幅値を検出
し、前記検出した前記ＲＦ信号の振幅値に基づいて前記
収差補正指令値を補正することを特徴とする請求項１７
又は１８記載の光ディスク装置のチルト補償方法に存す
る。また請求項２０記載の発明の要旨は、前記ディスク
信号として光ディスクに記録されたデータ情報を示すＲ
Ｆ信号を２値化した信号のジッタ値を検出し、前記検出
した前記ジッタ値に基づいて前記収差補正指令値を補正
することを特徴とする請求項１７又は１８記載の光ディ
スク装置のチルト補償方法に存する。また請求項２１記
載の発明の要旨は、光ディスクの複数の半径位置におい
てそれぞれ設定された複数の前記収差補正指令値を記憶
し、該記憶している複数の前記収差補正指令値に基づい
て光ディスクの半径位置に応じた前記収差補正指令値を
算出することを特徴とする請求項１３乃至２０のいずれ
かに記載の光ディスク装置のチルト補償方法に存する。
また請求項２２記載の発明の要旨は、前記収差補正指令
値と前記ループゲイン値との関係を近似曲線で近似し、
極値での収差補正指令値を前記収差補正指令値として設
定することを特徴とする請求項１３乃至２１のいずれか
に記載の光ディスク装置のチルト補償方法に存する。ま
た請求項２３記載の発明の要旨は、前記ループゲイン値
が所定値範囲外になる正負それぞれの前記収差補正指令
値の内、前記ループゲイン値が上記所定範囲外で最大と
なる正負それぞれの収差補正指令値の中心値を前記収差
補正指令値と設定することを特徴とする請求項１３乃至
２１のいずれかに記載の光ディスク装置のチルト補償方
法に存する。また請求項２４記載の発明の要旨は、前記
収差補正指令値と前記ループゲイン値との関係から山登
り法により前記ループゲイン値が最大となる前記収差補
正指令値を設定することを特徴とする請求項１３乃至２
１のいずれかに記載の光ディスク装置のチルト補償方法
に存する。また請求項２５記載の発明の要旨は、コンピ
ュータに請求項１３乃至２４のいずれかに記載の光ディ
スク装置のチルト補償方法を実行させるためのプログラ
ムに存する。
すべく、以下に掲げる構成とした。請求項１記載の発明
の要旨は、光ディスク上のトラックに光ビームを集束し
て照射し、光学的に情報の記録又は再生を行う光ディス
ク装置であって、光ビームをトラックに追従させるため
のトラッキング制御ループのループゲイン値を測定する
ループゲイン値測定手段と、該ループゲイン値測定手段
によって測定される前記ループゲイン値に基づいて光ビ
ームに生じるコマ収差を補正するための収差補正指令値
を設定する収差補正指令値設定手段と、該収差補正指令
値設定手段により設定された前記収差補正指令値に応じ
て光ビームに生じるコマ収差を補正するコマ収差変化手
段とを具備することを特徴とする光ディスク装置に存す
る。また請求項２記載の発明の要旨は、前記ループゲイ
ン値測定手段は、周期外乱成分を用いて前記ループゲイ
ン値を測定させることを特徴とする請求項１記載の光デ
ィスク装置に存する。また請求項３記載の発明の要旨
は、前記収差補正指令値設定手段は、前記ループゲイン
値測定手段により光ビームに生じるコマ収差を変化させ
て測定された複数の前記ループゲイン値に基づいて前記
収差補正指令値を設定させることを特徴とする請求項１
又は２記載の光ディスク装置に存する。また請求項４記
載の発明の要旨は、前記収差補正指令値設定手段は、前
記ループゲイン値が最大となる様に前記収差補正指令値
を設定させることを特徴とする請求項１乃至３のいずれ
かに記載の光ディスク装置に存する。また請求項５記載
の発明の要旨は、光ディスクに照射された光ビームの反
射光からディスク信号を検出するディスク信号検出手段
と、該ディスク信号検出手段により検出された前記ディ
スク信号に基づいて前記収差補正指令値を補正する収差
補正指令値補正手段とを具備することを特徴とする請求
項１乃至４のいずれかに記載の光ディスク装置に存す
る。また請求項６記載の発明の要旨は、前記ディスク信
号検出手段は、光ビームをトラックに追従させた状態で
前記ディスク信号を検出させることを特徴とする請求項
５記載の光ディスク装置に存する。また請求項７記載の
発明の要旨は、前記ディスク信号検出手段は、前記ディ
スク信号として光ディスクに記録されたデータ情報を示
すＲＦ信号の振幅値を検出させ、前記収差補正指令値補
正手段は、前記ディスク信号検出手段により検出された
前記ＲＦ信号の振幅値に基づいて前記収差補正指令値を
補正させることを特徴とする請求項５又は６記載の光デ
ィスク装置に存する。また請求項８記載の発明の要旨
は、前記ディスク信号検出手段は、前記ディスク信号と
して光ディスクに記録されたデータ情報を示すＲＦ信号
を２値化した信号のジッタ値を検出させ、前記収差補正
指令値補正手段は、前記ディスク信号検出手段により検
出された前記ジッタ値に基づいて前記収差補正指令値を
補正させることを特徴とする請求項５又は６記載の光デ
ィスク装置に存する。また請求項９記載の発明の要旨
は、前記収差補正指令値設定手段により光ディスクの複
数の半径位置においてそれぞれ設定された複数の前記収
差補正指令値を記憶する収差補正指令値記憶手段と、該
収差補正指令値記憶手段に記憶されている複数の前記収
差補正指令値に基づいて光ディスクの半径位置に応じた
前記収差補正指令値を算出する収差補正指令値算出手段
とを具備することを特徴とする請求項１乃至８のいずれ
かに記載の光ディスク装置に存する。また請求項１０記
載の発明の要旨は、前記収差補正指令値設定手段は、前
記収差補正指令値と前記ループゲイン値との関係を近似
曲線で近似させ、極値での収差補正指令値を前記収差補
正指令値として設定させることを特徴とする請求項１乃
至９のいずれかに記載の光ディスク装置に存する。また
請求項１１記載の発明の要旨は、前記収差補正指令値設
定手段は、前記ループゲイン値が所定値範囲外になる正
負それぞれの前記収差補正指令値の内、前記ループゲイ
ン値が上記所定範囲外で最大となる正負それぞれの収差
補正指令値の中心値を前記収差補正指令値と設定させる
ことを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記載の光
ディスク装置に存する。また請求項１２記載の発明の要
旨は、前記収差補正指令値設定手段は、前記収差補正指
令値と前記ループゲイン値との関係から山登り法により
前記ループゲイン値が最大となる前記収差補正指令値を
設定させることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか
に記載の光ディスク装置に存する。また請求項１３記載
の発明の要旨は、光ディスク上のトラックに光ビームを
集束して照射し、光学的に情報の記録又は再生を行う光
ディスク装置のチルト補償方法であって、光ビームをト
ラックに追従させるためのトラッキング制御ループのル
ープゲイン値を測定し、該測定した前記ループゲイン値
に基づいて光ビームに生じるコマ収差を補正するための
収差補正指令値を設定し、該設定した前記収差補正指令
値に応じて光ビームに生じるコマ収差を補正することを
特徴とする光ディスク装置のチルト補償方法に存する。
また請求項１４記載の発明の要旨は、周期外乱成分を用
いて前記ループゲイン値を測定することを特徴とする請
求項１３記載の光ディスク装置のチルト補償方法に存す
る。また請求項１５記載の発明の要旨は、光ビームに生
じるコマ収差を変化させて測定した複数の前記ループゲ
イン値に基づいて前記収差補正指令値を設定することを
特徴とする請求項１３又は１４記載の光ディスク装置の
チルト補償方法に存する。また請求項１６記載の発明の
要旨は、前記ループゲイン値が最大となる様に前記収差
補正指令値を設定することを特徴とする請求項１３乃至
１５のいずれかに記載の光ディスク装置のチルト補償方
法に存する。また請求項１７記載の発明の要旨は、光デ
ィスクに照射された光ビームの反射光からディスク信号
を検出し、該検出した前記ディスク信号に基づいて前記
収差補正指令値を補正することを特徴とする請求項１３
乃至１６のいずれかに記載の光ディスク装置のチルト補
償方法に存する。また請求項１８記載の発明の要旨は、
光ビームをトラックに追従させた状態で前記ディスク信
号を検出することを特徴とする請求項１７記載の光ディ
スク装置のチルト補償方法に存する。また請求項１９記
載の発明の要旨は、前記ディスク信号として光ディスク
に記録されたデータ情報を示すＲＦ信号の振幅値を検出
し、前記検出した前記ＲＦ信号の振幅値に基づいて前記
収差補正指令値を補正することを特徴とする請求項１７
又は１８記載の光ディスク装置のチルト補償方法に存す
る。また請求項２０記載の発明の要旨は、前記ディスク
信号として光ディスクに記録されたデータ情報を示すＲ
Ｆ信号を２値化した信号のジッタ値を検出し、前記検出
した前記ジッタ値に基づいて前記収差補正指令値を補正
することを特徴とする請求項１７又は１８記載の光ディ
スク装置のチルト補償方法に存する。また請求項２１記
載の発明の要旨は、光ディスクの複数の半径位置におい
てそれぞれ設定された複数の前記収差補正指令値を記憶
し、該記憶している複数の前記収差補正指令値に基づい
て光ディスクの半径位置に応じた前記収差補正指令値を
算出することを特徴とする請求項１３乃至２０のいずれ
かに記載の光ディスク装置のチルト補償方法に存する。
また請求項２２記載の発明の要旨は、前記収差補正指令
値と前記ループゲイン値との関係を近似曲線で近似し、
極値での収差補正指令値を前記収差補正指令値として設
定することを特徴とする請求項１３乃至２１のいずれか
に記載の光ディスク装置のチルト補償方法に存する。ま
た請求項２３記載の発明の要旨は、前記ループゲイン値
が所定値範囲外になる正負それぞれの前記収差補正指令
値の内、前記ループゲイン値が上記所定範囲外で最大と
なる正負それぞれの収差補正指令値の中心値を前記収差
補正指令値と設定することを特徴とする請求項１３乃至
２１のいずれかに記載の光ディスク装置のチルト補償方
法に存する。また請求項２４記載の発明の要旨は、前記
収差補正指令値と前記ループゲイン値との関係から山登
り法により前記ループゲイン値が最大となる前記収差補
正指令値を設定することを特徴とする請求項１３乃至２
１のいずれかに記載の光ディスク装置のチルト補償方法
に存する。また請求項２５記載の発明の要旨は、コンピ
ュータに請求項１３乃至２４のいずれかに記載の光ディ
スク装置のチルト補償方法を実行させるためのプログラ
ムに存する。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。
に基づいて詳細に説明する。
【００１７】（第一の実施の形態）図１は、本発明に係
る光ディスク装置の第一の実施の形態の構成を示す構成
図であり、図２は、図１に示す光ディスク装置のチルト
補償に関する構成を示すブロック図であり、図３は、図
２に示すコマ収差変化手段の構成を示す構成図であり、
図４は、図２に示すループゲイン測定手段の構成を示す
ブロック図である。
る光ディスク装置の第一の実施の形態の構成を示す構成
図であり、図２は、図１に示す光ディスク装置のチルト
補償に関する構成を示すブロック図であり、図３は、図
２に示すコマ収差変化手段の構成を示す構成図であり、
図４は、図２に示すループゲイン測定手段の構成を示す
ブロック図である。
【００１８】第一の実施の形態は、光ディスク１をスピ
ンドルモータ２により所定の速度で回転させ、光ヘッド
３により光ディスク１に対して対物レンズ２０を介して
レーザ光６を照射し、光ディスク１からの反射光を受光
する。光ヘッド３は、ヘッドキャリジ３０に取り付けら
れており、ヘッドキャリジ３０は、キャリジモータ１６
により回転駆動されるリードスクリュー３１によって光
ディスク１の半径方向に移動することができる。例えば
光ヘッド３は、非点収差法の原理に従って生成するフォ
ーカスエラー信号と、プッシュプル法の原理に従って生
成するトラッキングエラー信号とを含むディスク信号１
９をシステム制御手段１７に入力する。
ンドルモータ２により所定の速度で回転させ、光ヘッド
３により光ディスク１に対して対物レンズ２０を介して
レーザ光６を照射し、光ディスク１からの反射光を受光
する。光ヘッド３は、ヘッドキャリジ３０に取り付けら
れており、ヘッドキャリジ３０は、キャリジモータ１６
により回転駆動されるリードスクリュー３１によって光
ディスク１の半径方向に移動することができる。例えば
光ヘッド３は、非点収差法の原理に従って生成するフォ
ーカスエラー信号と、プッシュプル法の原理に従って生
成するトラッキングエラー信号とを含むディスク信号１
９をシステム制御手段１７に入力する。
【００１９】システム制御手段１７は、フォーカスサー
ボ回路９を制御してフォーカスコイル１２ａ、１２ｂを
駆動させ、チルト制御回路１１を制御してフォーカスコ
イル１２ａ、１２ｂを駆動させ、トラッキングサーボ回
路１０を制御してトラッキングコイル１３を駆動させ、
キャリジ制御回路１５を制御してキャリジモータ１６を
回転駆動させ、スピンドル制御回路８の動作シーケンス
を制御してスピンドルモータ２を回転駆動させる。
ボ回路９を制御してフォーカスコイル１２ａ、１２ｂを
駆動させ、チルト制御回路１１を制御してフォーカスコ
イル１２ａ、１２ｂを駆動させ、トラッキングサーボ回
路１０を制御してトラッキングコイル１３を駆動させ、
キャリジ制御回路１５を制御してキャリジモータ１６を
回転駆動させ、スピンドル制御回路８の動作シーケンス
を制御してスピンドルモータ２を回転駆動させる。
【００２０】フォーカスサーボ回路９は、光ヘッド３が
出力するフォーカスエラー信号の供給をシステム制御手
段１７から受け、当該フォーカスエラー信号に対応し
て、フォーカスコイル１２ａ、１２ｂを同じ電流で駆動
し、対物レンズ２０を光ディスク１の記録再生面に対し
て垂直な方向にフォーカス制御する。
出力するフォーカスエラー信号の供給をシステム制御手
段１７から受け、当該フォーカスエラー信号に対応し
て、フォーカスコイル１２ａ、１２ｂを同じ電流で駆動
し、対物レンズ２０を光ディスク１の記録再生面に対し
て垂直な方向にフォーカス制御する。
【００２１】トラッキングサーボ回路１０は、光ヘッド
３が出力するトラッキングエラー信号の供給をシステム
制御手段１７から受け、当該トラッキングエラー信号に
対応してトラッキングコイル１３を駆動し、対物レンズ
２０を光ディスク１のトラックと垂直な光ディスク１の
半径方向に移動し、光スポットをトラッキング制御す
る。また、トラッキングサーボ回路１０が出力する信号
は、システム制御手段１７を介してキャリジ制御回路１
５に供給され、キャリジ制御回路１５は、当該信号に対
応してキャリジモータ１６を駆動し、ヘッドキャリジ３
０を光ディスク１の半径方向に移動させる。
３が出力するトラッキングエラー信号の供給をシステム
制御手段１７から受け、当該トラッキングエラー信号に
対応してトラッキングコイル１３を駆動し、対物レンズ
２０を光ディスク１のトラックと垂直な光ディスク１の
半径方向に移動し、光スポットをトラッキング制御す
る。また、トラッキングサーボ回路１０が出力する信号
は、システム制御手段１７を介してキャリジ制御回路１
５に供給され、キャリジ制御回路１５は、当該信号に対
応してキャリジモータ１６を駆動し、ヘッドキャリジ３
０を光ディスク１の半径方向に移動させる。
【００２２】第一の実施の形態におけるチルト補償装置
は、図２に示すように、コマ収差変化手段２７と、トラ
ック追従手段２１と、キャリジ移動手段２２と、システ
ム制御手段１７に設けられたループゲイン最適チルト指
令値設定部２４と、ループゲイン測定手段３２とからな
り、コマ収差変化手段２７は、図１に示すチルト制御回
路１１と、フォーカスコイル１２ａ、１２ｂとが対応
し、トラック追従手段２１は、図１に示すトラッキング
サーボ回路１０と、トラッキングコイル１３とが対応
し、キャリジ移動手段２２は、図１に示すキャリジ制御
回路１５が対応する。
は、図２に示すように、コマ収差変化手段２７と、トラ
ック追従手段２１と、キャリジ移動手段２２と、システ
ム制御手段１７に設けられたループゲイン最適チルト指
令値設定部２４と、ループゲイン測定手段３２とからな
り、コマ収差変化手段２７は、図１に示すチルト制御回
路１１と、フォーカスコイル１２ａ、１２ｂとが対応
し、トラック追従手段２１は、図１に示すトラッキング
サーボ回路１０と、トラッキングコイル１３とが対応
し、キャリジ移動手段２２は、図１に示すキャリジ制御
回路１５が対応する。
【００２３】コマ収差変化手段２７は、システム制御手
段１７のループゲイン最適チルト指令値設定部２４に設
定された収差補正のためののループゲイン最適チルト指
令値に従って駆動信号を発生し、当該駆動信号により対
物レンズ２０の傾きを変化させる対物レンズアクチュエ
ータを有し、図３に示すように、フォーカスコイル１２
ａ、１２ｂを逆位相の電流で駆動し、対物レンズ２０の
光ディスク１に対する相対的傾きを調整する。図３で
は、対物レンズ２０は、傾きを生じていないチルト量０
の状態を示し、光ディスク１はチルトを生じている状
態、すなわち対物レンズ光軸が光ディスク面に対し垂直
ではない状態を示している。紙面垂直方向がトラック方
向になるが、対物レンズのトラック方向の中心面を対物
レンズトラック中心として図示する。フォーカスコイル
１２ａ、１２ｂは、対物レンズトラック方向中心に対
し、紙面上左右対称に配置される２つのコイルで構成さ
れ、左右のコイルに流す電流のアンバランスにより、チ
ルト方向の動きが発生する。
段１７のループゲイン最適チルト指令値設定部２４に設
定された収差補正のためののループゲイン最適チルト指
令値に従って駆動信号を発生し、当該駆動信号により対
物レンズ２０の傾きを変化させる対物レンズアクチュエ
ータを有し、図３に示すように、フォーカスコイル１２
ａ、１２ｂを逆位相の電流で駆動し、対物レンズ２０の
光ディスク１に対する相対的傾きを調整する。図３で
は、対物レンズ２０は、傾きを生じていないチルト量０
の状態を示し、光ディスク１はチルトを生じている状
態、すなわち対物レンズ光軸が光ディスク面に対し垂直
ではない状態を示している。紙面垂直方向がトラック方
向になるが、対物レンズのトラック方向の中心面を対物
レンズトラック中心として図示する。フォーカスコイル
１２ａ、１２ｂは、対物レンズトラック方向中心に対
し、紙面上左右対称に配置される２つのコイルで構成さ
れ、左右のコイルに流す電流のアンバランスにより、チ
ルト方向の動きが発生する。
【００２４】フォーカス方向の駆動電流成分をIf、チル
ト方向の駆動成分をItiとすると、フォーカスコイル１
２ａの駆動電流Iaと、フォーカスコイル１２ｂの駆動電
流Ibとは、 Ia＝If＋Iti 式（１） Ib＝If−Iti 式（２） とすることで、フォーカス方向とチルト方向独立に駆動
でき、Itiの電流値を変更することで、例えば図３に示
すチルト角（ａ）〜（ｇ）の位置に対物レンズ２０のチ
ルトを変更することができる。
ト方向の駆動成分をItiとすると、フォーカスコイル１
２ａの駆動電流Iaと、フォーカスコイル１２ｂの駆動電
流Ibとは、 Ia＝If＋Iti 式（１） Ib＝If−Iti 式（２） とすることで、フォーカス方向とチルト方向独立に駆動
でき、Itiの電流値を変更することで、例えば図３に示
すチルト角（ａ）〜（ｇ）の位置に対物レンズ２０のチ
ルトを変更することができる。
【００２５】第一の実施の形態では、図３に示すコマ収
差変化手段２７を用い、光ディスク１と対物レンズ２０
の相対チルト角を記録再生に最適な状態に補正、すなわ
ち対物レンズ光軸が光ディスク面に対し垂直ではない状
態を垂直に近づけ、記録再生に最適になるように対物レ
ンズ２０の傾きを変化させる。なお、対物レンズ傾き等
に起因するコマ収差は、対物レンズ２０の傾きを調整す
ることにより修正されるが、その他の手段、例えば光路
に複数の領域に分割された液晶光学素子を挿入し、各領
域に印加する電圧を変化させ透過光に対するコマ収差を
調整する手段や、ヘッド内部の光路に挿入したレンズな
どの光学素子を動かす手段によっても修正される。従っ
て、コマ収差変化手段２７は対物レンズ２０の傾き駆動
に限らないが、第一の実施の形態ではわかりやすい対物
レンズ傾き駆動による補正を例として示す。
差変化手段２７を用い、光ディスク１と対物レンズ２０
の相対チルト角を記録再生に最適な状態に補正、すなわ
ち対物レンズ光軸が光ディスク面に対し垂直ではない状
態を垂直に近づけ、記録再生に最適になるように対物レ
ンズ２０の傾きを変化させる。なお、対物レンズ傾き等
に起因するコマ収差は、対物レンズ２０の傾きを調整す
ることにより修正されるが、その他の手段、例えば光路
に複数の領域に分割された液晶光学素子を挿入し、各領
域に印加する電圧を変化させ透過光に対するコマ収差を
調整する手段や、ヘッド内部の光路に挿入したレンズな
どの光学素子を動かす手段によっても修正される。従っ
て、コマ収差変化手段２７は対物レンズ２０の傾き駆動
に限らないが、第一の実施の形態ではわかりやすい対物
レンズ傾き駆動による補正を例として示す。
【００２６】ループゲイン測定手段３２は、トラックサ
ーボが動作して光スポットがトラックに追従している状
態でトラック追従手段２１に周期外乱を与え、その影響
をトラックエラー信号から検出して測定する。ループゲ
イン測定手段３２は、図４に示すように、ディスク信号
１９からトラックエラー信号を検出するトラックエラー
信号検出回路１２５と、周期外乱を発生する周期外乱発
生回路１２４と、バンドパス回路１１２、１１３と、全
波整流回路１１４、１１５と、ローパス回路１１６、１
１７とからなり、トラックエラー信号と周期外乱との和
の信号を入力１１０としてバンドパス回路１１２に入力
し、トラックエラー信号を出力１１１としてバンドパス
回路１１３に入力する。入力１１０と出力１１１は同じ
処理手段を用いるため、以下、入力１１０についてのみ
説明する。入力１１０は、波形１２０に示すように周期
外乱の周波数成分の他に、トラックエラー信号そのもの
の変動成分を含むため、周期外乱の周波数成分を抽出す
る目的でバンドパス回路１１２に入力し、波形１２１を
得る。バンドパス回路１１２からの出力波形である波形
１２１のレベルを検出するため、全波整流回路１１４に
入力した波形１２２を得、さらに波形１２２をローパス
回路１１６に入力して入力レベル１１８すなわち波形１
２３のＤＣレベルの信号を得る。
ーボが動作して光スポットがトラックに追従している状
態でトラック追従手段２１に周期外乱を与え、その影響
をトラックエラー信号から検出して測定する。ループゲ
イン測定手段３２は、図４に示すように、ディスク信号
１９からトラックエラー信号を検出するトラックエラー
信号検出回路１２５と、周期外乱を発生する周期外乱発
生回路１２４と、バンドパス回路１１２、１１３と、全
波整流回路１１４、１１５と、ローパス回路１１６、１
１７とからなり、トラックエラー信号と周期外乱との和
の信号を入力１１０としてバンドパス回路１１２に入力
し、トラックエラー信号を出力１１１としてバンドパス
回路１１３に入力する。入力１１０と出力１１１は同じ
処理手段を用いるため、以下、入力１１０についてのみ
説明する。入力１１０は、波形１２０に示すように周期
外乱の周波数成分の他に、トラックエラー信号そのもの
の変動成分を含むため、周期外乱の周波数成分を抽出す
る目的でバンドパス回路１１２に入力し、波形１２１を
得る。バンドパス回路１１２からの出力波形である波形
１２１のレベルを検出するため、全波整流回路１１４に
入力した波形１２２を得、さらに波形１２２をローパス
回路１１６に入力して入力レベル１１８すなわち波形１
２３のＤＣレベルの信号を得る。
【００２７】ループゲイン最適チルト指令値設定部２４
は、ローパス回路１１６からの入力レベル１１８と、ロ
ーパス回路１１７からの出力レベル１１９とを図示しな
いレベル検出回路で検出し、比を演算することでループ
ゲイン値を検出する。
は、ローパス回路１１６からの入力レベル１１８と、ロ
ーパス回路１１７からの出力レベル１１９とを図示しな
いレベル検出回路で検出し、比を演算することでループ
ゲイン値を検出する。
【００２８】トラック追従手段２１は、対物レンズ２０
を光ディスク１のトラックと垂直である半径方向に移動
制御し、光スポットをトラッキング制御する微動（微少
な移動）の役割を持ち、キャリジ移動手段２２は、トラ
ック追従手段２１からの信号を得て、キャリジモータ１
６を駆動し、ヘッドキャリジ３０を光ディスク１の半径
方向へ移動する粗動（大きな移動）の役割を持つ。
を光ディスク１のトラックと垂直である半径方向に移動
制御し、光スポットをトラッキング制御する微動（微少
な移動）の役割を持ち、キャリジ移動手段２２は、トラ
ック追従手段２１からの信号を得て、キャリジモータ１
６を駆動し、ヘッドキャリジ３０を光ディスク１の半径
方向へ移動する粗動（大きな移動）の役割を持つ。
【００２９】次に、第一の実施の形態の記録再生に最適
なチルト状態に対物レンズ２０を変更する動作について
詳細に説明する。図５は、図２に示すコマ収差変化手段
への指令値とループゲイン測定手段により測定されたル
ープゲイン値との関係を示す図である。
なチルト状態に対物レンズ２０を変更する動作について
詳細に説明する。図５は、図２に示すコマ収差変化手段
への指令値とループゲイン測定手段により測定されたル
ープゲイン値との関係を示す図である。
【００３０】まず、トラッキングサーボを動作させ光ス
ポットをトラックに追従させた状態で、コマ収差変化手
段２７により、光ディスク１と対物レンズ２０間のチル
ト角を複数のチルト角、例えば図３に示すチルト角
（ａ）〜（ｇ）に変化させ、各チルト角（ａ）〜（ｇ）
でループゲイン測定手段３２を用いてループゲイン値を
測定する。具体的には、システム制御手段１７から図示
しないパワーアンプへの出力値である指令値を変化さ
せ、式（１）、式（２）のItiに示す電流値を変えるこ
とにより、チルト角を変化させる。なお、各チルト角
（ａ）〜（ｇ）に対応したそれぞれ指令値については、
予め求めておく。
ポットをトラックに追従させた状態で、コマ収差変化手
段２７により、光ディスク１と対物レンズ２０間のチル
ト角を複数のチルト角、例えば図３に示すチルト角
（ａ）〜（ｇ）に変化させ、各チルト角（ａ）〜（ｇ）
でループゲイン測定手段３２を用いてループゲイン値を
測定する。具体的には、システム制御手段１７から図示
しないパワーアンプへの出力値である指令値を変化さ
せ、式（１）、式（２）のItiに示す電流値を変えるこ
とにより、チルト角を変化させる。なお、各チルト角
（ａ）〜（ｇ）に対応したそれぞれ指令値については、
予め求めておく。
【００３１】ループゲイン最適チルト指令値設定部２４
は、各チルト角（ａ）〜（ｇ）でのループゲイン値に基
づいて、収差補正のためのループゲイン最適チルト指令
値を選別又は算出して設定し、ループゲイン最適チルト
指令値を用いてコマ収差変化手段２７で対物レンズ２０
を所望のチルト角に制御する。
は、各チルト角（ａ）〜（ｇ）でのループゲイン値に基
づいて、収差補正のためのループゲイン最適チルト指令
値を選別又は算出して設定し、ループゲイン最適チルト
指令値を用いてコマ収差変化手段２７で対物レンズ２０
を所望のチルト角に制御する。
【００３２】ループゲイン最適チルト指令値設定部２４
によるループゲイン最適チルト指令値の設定方法には、
いくつかの方法が考えられるが、まず、ループゲイン値
が最大となる指令値をループゲイン最適チルト指令値と
して設定する例について説明する。ループゲイン値が最
大となることは、記録再生特性が最良になり、ループゲ
イン値が所望の値となることの１例である。
によるループゲイン最適チルト指令値の設定方法には、
いくつかの方法が考えられるが、まず、ループゲイン値
が最大となる指令値をループゲイン最適チルト指令値と
して設定する例について説明する。ループゲイン値が最
大となることは、記録再生特性が最良になり、ループゲ
イン値が所望の値となることの１例である。
【００３３】コマ収差変化手段２７に図３に示すチルト
角（ａ）〜（ｇ）対応する指令値を与え、それぞれの指
令値でのループゲイン値を測定すると、図５に７０〜７
６で示す測定点が得られ、測定点７０〜７６を近似曲線
７８で近似する。例えば２次曲線で近似すると、極値で
の指令値がループゲイン値が最大となるチルト角を発生
する指令値となり、ループゲイン最適チルト指令値設定
２４は、当該指令値をループゲイン最適チルト指令値と
して設定する。
角（ａ）〜（ｇ）対応する指令値を与え、それぞれの指
令値でのループゲイン値を測定すると、図５に７０〜７
６で示す測定点が得られ、測定点７０〜７６を近似曲線
７８で近似する。例えば２次曲線で近似すると、極値で
の指令値がループゲイン値が最大となるチルト角を発生
する指令値となり、ループゲイン最適チルト指令値設定
２４は、当該指令値をループゲイン最適チルト指令値と
して設定する。
【００３４】また、ループゲイン値が規定のレベル以下
になる測定点の内、ループゲイン値が最大になる正負２
点の指令値の中心値を、ループゲイン値が最大となる指
令値をループゲイン最適チルト指令値として設定するこ
ともできる。前述の近似曲線を使う場合に比較し、測定
点数が少なく精度は劣り、記録再生性能に対し精度劣化
が問題になるようであれば、この手段の有効性がなくな
るが、逆に精度劣化が問題にならなければ、測定点数が
少ない分、判別に掛かる時間が少なくなり有効になる。
になる測定点の内、ループゲイン値が最大になる正負２
点の指令値の中心値を、ループゲイン値が最大となる指
令値をループゲイン最適チルト指令値として設定するこ
ともできる。前述の近似曲線を使う場合に比較し、測定
点数が少なく精度は劣り、記録再生性能に対し精度劣化
が問題になるようであれば、この手段の有効性がなくな
るが、逆に精度劣化が問題にならなければ、測定点数が
少ない分、判別に掛かる時間が少なくなり有効になる。
【００３５】さらに、ループゲイン値が最大となるチル
ト角を発生する収差補正のためのループゲイン最適チル
ト指令値と判別するのに、山登り法を用いることができ
る。まず、３点のチルト角に対するループゲイン値を検
出する。図５に示す測定点７１、７２、７３のチルト角
（ａ）、（ｂ）、（ｃ）に対応する指令値をコマ収差変
化手段２７に与え、それぞれのループゲイン値を検出す
る。この場合測定点７３が最も振幅が大きいため、
（ｃ）よりもプラス側にループゲイン値が最大となるチ
ルト角を発生する指令値があると選別する。次にチルト
角（d）に相当する指令値をコマ収差変化手段２７に与
え、ループゲイン値を検出する。チルト角（d）でのル
ープゲイン値が最大であれば引き続きチルト角（ｅ）で
の検出を行う。一方、３点の中、例えばチルト角
（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の内、チルト角（ｂ）でのルー
プゲイン値が最大であれば、チルト角（ｂ）をループゲ
イン値が最大になるチルト角とし、ループゲイン最適チ
ルト指令値として選別して設定する。逆に、チルト角
（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の内で、チルト角（ａ）でのル
ープゲイン値が最大になる場合は、マイナス方向に探索
する。
ト角を発生する収差補正のためのループゲイン最適チル
ト指令値と判別するのに、山登り法を用いることができ
る。まず、３点のチルト角に対するループゲイン値を検
出する。図５に示す測定点７１、７２、７３のチルト角
（ａ）、（ｂ）、（ｃ）に対応する指令値をコマ収差変
化手段２７に与え、それぞれのループゲイン値を検出す
る。この場合測定点７３が最も振幅が大きいため、
（ｃ）よりもプラス側にループゲイン値が最大となるチ
ルト角を発生する指令値があると選別する。次にチルト
角（d）に相当する指令値をコマ収差変化手段２７に与
え、ループゲイン値を検出する。チルト角（d）でのル
ープゲイン値が最大であれば引き続きチルト角（ｅ）で
の検出を行う。一方、３点の中、例えばチルト角
（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の内、チルト角（ｂ）でのルー
プゲイン値が最大であれば、チルト角（ｂ）をループゲ
イン値が最大になるチルト角とし、ループゲイン最適チ
ルト指令値として選別して設定する。逆に、チルト角
（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の内で、チルト角（ａ）でのル
ープゲイン値が最大になる場合は、マイナス方向に探索
する。
【００３６】（第二の実施の形態）図６は、本発明に係
る光ディスク装置の第二の実施の形態のチルト補償に関
する構成を示すブロック図であり、図７は、図６に示す
コマ収差変化手段への指令値とディスク信号検出手段に
より測定されたジッタ値との関係を示す図であり、図８
は、図６に示すコマ収差変化手段への指令値とディスク
信号検出手段により測定されたＲＥ信号振幅値との関係
を示す図である。
る光ディスク装置の第二の実施の形態のチルト補償に関
する構成を示すブロック図であり、図７は、図６に示す
コマ収差変化手段への指令値とディスク信号検出手段に
より測定されたジッタ値との関係を示す図であり、図８
は、図６に示すコマ収差変化手段への指令値とディスク
信号検出手段により測定されたＲＥ信号振幅値との関係
を示す図である。
【００３７】第二の実施の形態は、第一の実施の形態の
構成に加えて、ディスク信号検出手段２３と、ディスク
信号最適チルト指令値設定部２６と、補正値保持手段２
５と、第二トラックチルト指令値演算手段２８とを有す
る。
構成に加えて、ディスク信号検出手段２３と、ディスク
信号最適チルト指令値設定部２６と、補正値保持手段２
５と、第二トラックチルト指令値演算手段２８とを有す
る。
【００３８】まず、図６に示す第一のトラック上又はそ
の付近のトラックにおいて、光ディスク１と対物レンズ
２０の間のチルト角をコマ収差変化手段２７により、複
数のチルト角、すなわち図３に示すチルト角（ａ）〜
（ｇ）に変化させ、ディスク信号検出手段２３は、それ
ぞれのチルト角（ａ）〜（ｇ）で光ディスク１上に記録
されたデータ情報を示すＲＦ信号を２値化した信号のジ
ッタ値を測定する。
の付近のトラックにおいて、光ディスク１と対物レンズ
２０の間のチルト角をコマ収差変化手段２７により、複
数のチルト角、すなわち図３に示すチルト角（ａ）〜
（ｇ）に変化させ、ディスク信号検出手段２３は、それ
ぞれのチルト角（ａ）〜（ｇ）で光ディスク１上に記録
されたデータ情報を示すＲＦ信号を２値化した信号のジ
ッタ値を測定する。
【００３９】具体的には、システム制御手段１７から図
示しないパワーアンプへの出力値である指令値を変化さ
せ、式（１）、式（２）のItiに示す電流値を変え、チ
ルト角を変化させる。なお、チルト角（ａ）〜（ｇ）に
対応した指令値については、予め求めておく。
示しないパワーアンプへの出力値である指令値を変化さ
せ、式（１）、式（２）のItiに示す電流値を変え、チ
ルト角を変化させる。なお、チルト角（ａ）〜（ｇ）に
対応した指令値については、予め求めておく。
【００４０】ディスク信号最適チルト指令値設定部２６
は、ディスク信号検出手段２３が検出したジッタ値が所
望の値となるチルト角を発生させる指令値を、ディスク
信号最適チルト指令値として選別又は算出して設定し、
設定したディスク信号最適チルト指令値を補正値保持手
段２５に保持させる。
は、ディスク信号検出手段２３が検出したジッタ値が所
望の値となるチルト角を発生させる指令値を、ディスク
信号最適チルト指令値として選別又は算出して設定し、
設定したディスク信号最適チルト指令値を補正値保持手
段２５に保持させる。
【００４１】コマ収差変化手段２７にチルト角（ａ）〜
（ｇ）に対応する指令値を与え、それぞれの指令値での
ジッタ値を測定すると、図７に５０〜５６で示す測定点
が得られ、測定点５０〜５６を近似曲線５８で近似す
る。例えば２次曲線で近似すると、極値での指令値がル
ープゲイン値が最小となるチルト角を発生する指令値と
なり、ディスク信号最適チルト指令値設定部２６は、例
えば当該指令値をディスク信号最適チルト指令値として
設定する。
（ｇ）に対応する指令値を与え、それぞれの指令値での
ジッタ値を測定すると、図７に５０〜５６で示す測定点
が得られ、測定点５０〜５６を近似曲線５８で近似す
る。例えば２次曲線で近似すると、極値での指令値がル
ープゲイン値が最小となるチルト角を発生する指令値と
なり、ディスク信号最適チルト指令値設定部２６は、例
えば当該指令値をディスク信号最適チルト指令値として
設定する。
【００４２】また、補正値保持手段２５は、ループゲイ
ン最適チルト指令値設定部２４で設定されたループゲイ
ン最適チルト指令値も保持し、ループゲイン最適チルト
指令値設定部２４で設定したループゲイン最適チルト指
令値からディスク信号最適チルト指令値設定部２６で設
定したディスク信号最適チルト指令値を引いた値を補正
値として保持する。
ン最適チルト指令値設定部２４で設定されたループゲイ
ン最適チルト指令値も保持し、ループゲイン最適チルト
指令値設定部２４で設定したループゲイン最適チルト指
令値からディスク信号最適チルト指令値設定部２６で設
定したディスク信号最適チルト指令値を引いた値を補正
値として保持する。
【００４３】次に、光スポットがキャリジ移動手段２２
およびトラック追従手段２１を用いて第二のトラック上
又はその付近のトラックに移動すると、ループゲイン最
適チルト指令値設定部２４は、ループゲインが所望の値
となるチルト角を発生させる指令値をループゲイン最適
チルト指令値として選別又は算出して設定し、第二トラ
ックチルト指令値演算手段２８は、ループゲイン最適チ
ルト指令値設定部２４が設定したループゲイン最適チル
ト指令値を補正値保持手段２５に保持してある補正値で
補正して補正指令値を求め、コマ収差変化手段２７は、
第二トラックチルト指令値演算手段２８により求められ
た補正指令値に基づいてチルト補償を行い、対物レンズ
２０のチルト角を所望の状態に制御する。
およびトラック追従手段２１を用いて第二のトラック上
又はその付近のトラックに移動すると、ループゲイン最
適チルト指令値設定部２４は、ループゲインが所望の値
となるチルト角を発生させる指令値をループゲイン最適
チルト指令値として選別又は算出して設定し、第二トラ
ックチルト指令値演算手段２８は、ループゲイン最適チ
ルト指令値設定部２４が設定したループゲイン最適チル
ト指令値を補正値保持手段２５に保持してある補正値で
補正して補正指令値を求め、コマ収差変化手段２７は、
第二トラックチルト指令値演算手段２８により求められ
た補正指令値に基づいてチルト補償を行い、対物レンズ
２０のチルト角を所望の状態に制御する。
【００４４】ループゲイン最適チルト指令値設定部２４
が設定したループゲイン最適チルト指令値をIti_ref１
とし、補正値保持手段２５に保持してある補正値をIti_
cとすると、第二トラックチルト指令値演算手段２８に
より求められる補正指令値をIti_ref２は、 Iti_ref２＝Iti_ref１−Iti_c により求められる。
が設定したループゲイン最適チルト指令値をIti_ref１
とし、補正値保持手段２５に保持してある補正値をIti_
cとすると、第二トラックチルト指令値演算手段２８に
より求められる補正指令値をIti_ref２は、 Iti_ref２＝Iti_ref１−Iti_c により求められる。
【００４５】次に、ジッタ値について説明する。光ディ
スク１と対物レンズ２０の光軸が最適状態にないと、Ｒ
Ｆ信号を２値化した信号のジッタが増大することは周知
の事実である〔例えば日本光学会誌「光学」第１２巻第
６号第４３７頁〜第４４３頁（１９８３年１２月）参
照〕。ここで問題にするチルトはディスク半径方向のラ
イジアルチルトであるが、隣接トラックに記録されてい
るピット情報が漏れ込むというクロストーク現象を引き
起こし、記録ピットのパターンによってその度合いが変
わるので、ジッタを招くこととなる。ジッタの検出手段
の具体例としては、再生クロックをトリガとして再生デ
ータの時間位置を検出する際、予め規定した時間幅から
はずれる数をカウントし、カウント値をジッタ値として
検出する。
スク１と対物レンズ２０の光軸が最適状態にないと、Ｒ
Ｆ信号を２値化した信号のジッタが増大することは周知
の事実である〔例えば日本光学会誌「光学」第１２巻第
６号第４３７頁〜第４４３頁（１９８３年１２月）参
照〕。ここで問題にするチルトはディスク半径方向のラ
イジアルチルトであるが、隣接トラックに記録されてい
るピット情報が漏れ込むというクロストーク現象を引き
起こし、記録ピットのパターンによってその度合いが変
わるので、ジッタを招くこととなる。ジッタの検出手段
の具体例としては、再生クロックをトリガとして再生デ
ータの時間位置を検出する際、予め規定した時間幅から
はずれる数をカウントし、カウント値をジッタ値として
検出する。
【００４６】なお、第二の実施の形態では、ジッタ値に
基づいて指令値を求めたが、ＲＥ信号振幅値に基づいて
指令値を求めるようにしても良く、この場合には、コマ
収差変化手段２７にチルト角（ａ）〜（ｇ）に対応する
指令値を与え、それぞれの指令値でのＲＥ信号振幅値を
測定すると、図８に４０〜４６で示す測定点が得られ、
測定点４０〜４６を近似曲線４８で近似する。例えば２
次曲線で近似すると、極値での指令値がＲＥ信号振幅値
が最大となるチルト角を発生する指令値となり、ディス
ク信号最適チルト指令値設定部２６は、例えば当該指令
値をディスク信号最適チルト指令値として設定する。
基づいて指令値を求めたが、ＲＥ信号振幅値に基づいて
指令値を求めるようにしても良く、この場合には、コマ
収差変化手段２７にチルト角（ａ）〜（ｇ）に対応する
指令値を与え、それぞれの指令値でのＲＥ信号振幅値を
測定すると、図８に４０〜４６で示す測定点が得られ、
測定点４０〜４６を近似曲線４８で近似する。例えば２
次曲線で近似すると、極値での指令値がＲＥ信号振幅値
が最大となるチルト角を発生する指令値となり、ディス
ク信号最適チルト指令値設定部２６は、例えば当該指令
値をディスク信号最適チルト指令値として設定する。
【００４７】（第三の実施の形態）図９は、本発明に係
る光ディスク装置の第三の実施の形態のチルト補償に関
する構成を示すブロック図である。
る光ディスク装置の第三の実施の形態のチルト補償に関
する構成を示すブロック図である。
【００４８】第三の実施の形態は、第二の実施の形態に
加え、所定半径位置指令値保持手段３３と、任意半径位
置指令値演算手段３４とを有する。
加え、所定半径位置指令値保持手段３３と、任意半径位
置指令値演算手段３４とを有する。
【００４９】所定半径位置指令値保持手段３３は、所定
の半径位置（例えば第一トラック、第二トラック）で
の、ループゲイン最適チルト指令値設定部２４で設定さ
れるループゲイン最適チルト指令値、ディスク信号最適
チルト指令値設定部２６で設定されるディスク信号最適
チルト指令値、第二トラックチルト指令値演算手段２８
で補正された補正指令値を保持する。
の半径位置（例えば第一トラック、第二トラック）で
の、ループゲイン最適チルト指令値設定部２４で設定さ
れるループゲイン最適チルト指令値、ディスク信号最適
チルト指令値設定部２６で設定されるディスク信号最適
チルト指令値、第二トラックチルト指令値演算手段２８
で補正された補正指令値を保持する。
【００５０】任意半径位置指令値演算手段３４は、指令
値を求めるべき光スポットのトラック位置に関する情報
である半径位置情報３５をシステム制御手段１７から得
て、半径位置情報３５と、所定半径位置指令値保持手段
３３に保持してある複数の半径位置での指令値とから、
外挿又は内挿の演算によって、目的の半径位置での指令
値を演算する。
値を求めるべき光スポットのトラック位置に関する情報
である半径位置情報３５をシステム制御手段１７から得
て、半径位置情報３５と、所定半径位置指令値保持手段
３３に保持してある複数の半径位置での指令値とから、
外挿又は内挿の演算によって、目的の半径位置での指令
値を演算する。
【００５１】具体的には、目的の半径位置tでの指令値I
ti_ref_tは、 Iti_ref_t=f（r_t，r_a，Iti_ref_a，r_b，Iti_ref_b，
・・・） の関係から得ることができ、fの関数は、最も簡単には
線形比例関数で実現できる。なお、r_t，r_a，r_bは、
半径位置t、a、bを表し、Iti_ref_a，Iti_ref_bは、半
径位置a、bでのそれぞれの指令値を表す。
ti_ref_tは、 Iti_ref_t=f（r_t，r_a，Iti_ref_a，r_b，Iti_ref_b，
・・・） の関係から得ることができ、fの関数は、最も簡単には
線形比例関数で実現できる。なお、r_t，r_a，r_bは、
半径位置t、a、bを表し、Iti_ref_a，Iti_ref_bは、半
径位置a、bでのそれぞれの指令値を表す。
【００５２】以上説明したように、本実施の形態によれ
ば、所定の周期外乱成分を用いてノイズの影響を抑える
ことにより、ループゲイン値を用いて対物レンズと光デ
ィスクのチルト角を高精度に最適化することができ、高
精度に対物レンズと光ディスクの傾きであるチルト検出
を行い、記録再生に最適なチルト状態にすることで、光
ディスクがお椀型やその他の形状に歪んでいても、安定
な記録再生性能を実現することができるという効果を奏
する。
ば、所定の周期外乱成分を用いてノイズの影響を抑える
ことにより、ループゲイン値を用いて対物レンズと光デ
ィスクのチルト角を高精度に最適化することができ、高
精度に対物レンズと光ディスクの傾きであるチルト検出
を行い、記録再生に最適なチルト状態にすることで、光
ディスクがお椀型やその他の形状に歪んでいても、安定
な記録再生性能を実現することができるという効果を奏
する。
【００５３】さらに、本実施の形態によれば、トラック
サーボを必要とする全ての光ディスク装置に適用するこ
とができ、光ディスク装置に幅広く適用可能であるとい
う効果を奏する。
サーボを必要とする全ての光ディスク装置に適用するこ
とができ、光ディスク装置に幅広く適用可能であるとい
う効果を奏する。
【００５４】さらに、本実施の形態によれば、予め複数
の所定の半径位置で収差補正のための指令値を設定し、
実際に光スポットが記録再生を行うトラックに到達する
際には、この手段により得た収差補正ための指令値を用
いることで、瞬時に対物レンズの最適チルト状態を実現
することが可能であるという効果を奏する。
の所定の半径位置で収差補正のための指令値を設定し、
実際に光スポットが記録再生を行うトラックに到達する
際には、この手段により得た収差補正ための指令値を用
いることで、瞬時に対物レンズの最適チルト状態を実現
することが可能であるという効果を奏する。
【００５５】なお、本実施の形態では、内容の明快さの
ために、コマ収差を補正する手段として対物レンズの傾
きを変える例について説明したが、コマ収差補正手段は
これに限らず、液晶その他の使用も可能であり、それら
のコマ収差補正手段を使用した場合にも、本発明が有効
に適用され得ることは勿論である。
ために、コマ収差を補正する手段として対物レンズの傾
きを変える例について説明したが、コマ収差補正手段は
これに限らず、液晶その他の使用も可能であり、それら
のコマ収差補正手段を使用した場合にも、本発明が有効
に適用され得ることは勿論である。
【００５６】なお、本発明が上記各実施形態に限定され
ず、本発明の技術思想の範囲内において、各実施形態は
適宜変更され得ることは明らかである。また、上記構成
部材の数、位置、形状等は上記実施の形態に限定され
ず、本発明を実施する上で好適な数、位置、形状等にす
ることができる。なお、各図において、同一構成要素に
は同一符号を付している。
ず、本発明の技術思想の範囲内において、各実施形態は
適宜変更され得ることは明らかである。また、上記構成
部材の数、位置、形状等は上記実施の形態に限定され
ず、本発明を実施する上で好適な数、位置、形状等にす
ることができる。なお、各図において、同一構成要素に
は同一符号を付している。
【００５７】
【発明の効果】本発明の光ディスク装置および光ディス
ク装置のチルト補償方法は、所定の周期外乱成分を用い
てノイズの影響を抑えることにより、ループゲイン値を
用いて対物レンズと光ディスクのチルト角を高精度に最
適化することができ、高精度に対物レンズと光ディスク
の傾きであるチルト検出を行い、記録再生に最適なチル
ト状態にすることで、光ディスクがお椀型やその他の形
状に歪んでいても、安定な記録再生性能を実現すること
ができるという効果を奏する。
ク装置のチルト補償方法は、所定の周期外乱成分を用い
てノイズの影響を抑えることにより、ループゲイン値を
用いて対物レンズと光ディスクのチルト角を高精度に最
適化することができ、高精度に対物レンズと光ディスク
の傾きであるチルト検出を行い、記録再生に最適なチル
ト状態にすることで、光ディスクがお椀型やその他の形
状に歪んでいても、安定な記録再生性能を実現すること
ができるという効果を奏する。
【００５８】さらに、本発明の光ディスク装置および光
ディスク装置のチルト補償方法は、トラックサーボを必
要とする全ての光ディスク装置に適用することができ、
光ディスク装置に幅広く適用可能であるという効果を奏
する。
ディスク装置のチルト補償方法は、トラックサーボを必
要とする全ての光ディスク装置に適用することができ、
光ディスク装置に幅広く適用可能であるという効果を奏
する。
【００５９】さらに、本発明の光ディスク装置および光
ディスク装置のチルト補償方法は、予め複数の所定の半
径位置で収差補正ための指令値を設定し、実際に光スポ
ットが記録再生を行うトラックに到達する際には、この
手段により得た収差補正ための指令値を用いることで、
瞬時に対物レンズの最適チルト状態を実現することが可
能であるという効果を奏する。
ディスク装置のチルト補償方法は、予め複数の所定の半
径位置で収差補正ための指令値を設定し、実際に光スポ
ットが記録再生を行うトラックに到達する際には、この
手段により得た収差補正ための指令値を用いることで、
瞬時に対物レンズの最適チルト状態を実現することが可
能であるという効果を奏する。
【図１】本発明に係る光ディスク装置の第一の実施の形
態の構成を示す構成図である。
態の構成を示す構成図である。
【図２】図１に示す光ディスク装置のチルト補償に関す
る構成を示すブロック図である。
る構成を示すブロック図である。
【図３】図２に示すコマ収差変化手段の構成を示す構成
図である。
図である。
【図４】図２に示すループゲイン測定手段の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図５】図２に示すコマ収差変化手段への指令値とルー
プゲイン測定手段により測定されたループゲイン値との
関係を示す図である。
プゲイン測定手段により測定されたループゲイン値との
関係を示す図である。
【図６】本発明に係る光ディスク装置の第二の実施の形
態のチルト補償に関する構成を示すブロック図である。
態のチルト補償に関する構成を示すブロック図である。
【図７】図６に示すコマ収差変化手段への指令値とディ
スク信号検出手段により測定されたジッタ値との関係を
示す図である。
スク信号検出手段により測定されたジッタ値との関係を
示す図である。
【図８】図６に示すコマ収差変化手段への指令値とディ
スク信号検出手段により測定されたＲＥ信号振幅値との
関係を示す図である。
スク信号検出手段により測定されたＲＥ信号振幅値との
関係を示す図である。
【図９】本発明に係る光ディスク装置の第三の実施の形
態のチルト補償に関する構成を示すブロック図である。
態のチルト補償に関する構成を示すブロック図である。
１ 光ディスク
２ スピンドルモータ
３ 光ヘッド
６ レーザ光
８ スピンドル制御回路
９ フォーカスサーボ回路
１０ トラッキングサーボ回路
１１ チルト制御回路
１２ａ、１２ｂ フォーカスコイル
１３ トラッキングコイル
１５ キャリジ制御回路
１６ キャリジモータ
１７ システム制御手段
１９ ディスク信号
２０ 対物レンズ
２１ トラック追従手段
２２ キャリジ移動手段
２３ ディスク信号検出手段
２４ ループゲイン最適チルト指令値設定部
２５ 補正値保持手段
２６ ディスク信号最適チルト指令値設定部
２７ コマ収差変化手段
２８ 第二トラックチルト指令値演算手段
３０ ヘッドキャリジ
３１ リードスクリュー
３２ ループゲイン測定手段
３３ 所定半径位置指令値保持手段
３４ 任意半径位置指令値演算手段
３５ 半径位置情報
１１２、１１３ バンドパス回路
１１４、１１５ 全波整流回路
１１６、１１７ ローパス回路
１２４ 周期外乱発生回路
１２５ トラックエラー信号検出回路
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 片山 龍一
東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気株
式会社内
(72)発明者 三浦 雅史
東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気株
式会社内
(72)発明者 清水 大晃
東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気株
式会社内
Ｆターム(参考） 5D118 AA13 BA01 BB02 BF02 BF03
CA02 CA13 CB03 CD04 CD13
5D119 AA28 BA01 EA02 EC04 EC15
KA43
5D789 AA28 BA01 EA02 EC04 EC15
KA43
Claims (25)
- 【請求項１】 光ディスク上のトラックに光ビームを集
束して照射し、光学的に情報の記録又は再生を行う光デ
ィスク装置であって、 光ビームをトラックに追従させるためのトラッキング制
御ループのループゲイン値を測定するループゲイン値測
定手段と、 該ループゲイン値測定手段によって測定される前記ルー
プゲイン値に基づいて光ビームに生じるコマ収差を補正
するための収差補正指令値を設定する収差補正指令値設
定手段と、 該収差補正指令値設定手段により設定された前記収差補
正指令値に応じて光ビームに生じるコマ収差を補正する
コマ収差変化手段とを具備することを特徴とする光ディ
スク装置。 - 【請求項２】 前記ループゲイン値測定手段は、周期外
乱成分を用いて前記ループゲイン値を測定させることを
特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。 - 【請求項３】 前記収差補正指令値設定手段は、前記ル
ープゲイン値測定手段により光ビームに生じるコマ収差
を変化させて測定された複数の前記ループゲイン値に基
づいて前記収差補正指令値を設定させることを特徴とす
る請求項１又は２記載の光ディスク装置。 - 【請求項４】 前記収差補正指令値設定手段は、前記ル
ープゲイン値が最大となる様に前記収差補正指令値を設
定させることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに
記載の光ディスク装置。 - 【請求項５】 光ディスクに照射された光ビームの反射
光からディスク信号を検出するディスク信号検出手段
と、 該ディスク信号検出手段により検出された前記ディスク
信号に基づいて前記収差補正指令値を補正する収差補正
指令値補正手段とを具備することを特徴とする請求項１
乃至４のいずれかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項６】 前記ディスク信号検出手段は、光ビーム
をトラックに追従させた状態で前記ディスク信号を検出
させることを特徴とする請求項５記載の光ディスク装
置。 - 【請求項７】 前記ディスク信号検出手段は、前記ディ
スク信号として光ディスクに記録されたデータ情報を示
すＲＦ信号の振幅値を検出させ、 前記収差補正指令値補正手段は、前記ディスク信号検出
手段により検出された前記ＲＦ信号の振幅値に基づいて
前記収差補正指令値を補正させることを特徴とする請求
項５又は６記載の光ディスク装置。 - 【請求項８】 前記ディスク信号検出手段は、前記ディ
スク信号として光ディスクに記録されたデータ情報を示
すＲＦ信号を２値化した信号のジッタ値を検出させ、 前記収差補正指令値補正手段は、前記ディスク信号検出
手段により検出された前記ジッタ値に基づいて前記収差
補正指令値を補正させることを特徴とする請求項５又は
６記載の光ディスク装置。 - 【請求項９】 前記収差補正指令値設定手段により光デ
ィスクの複数の半径位置においてそれぞれ設定された複
数の前記収差補正指令値を記憶する収差補正指令値記憶
手段と、 該収差補正指令値記憶手段に記憶されている複数の前記
収差補正指令値に基づいて光ディスクの半径位置に応じ
た前記収差補正指令値を算出する収差補正指令値算出手
段とを具備することを特徴とする請求項１乃至８のいず
れかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項１０】 前記収差補正指令値設定手段は、前記
収差補正指令値と前記ループゲイン値との関係を近似曲
線で近似させ、極値での収差補正指令値を前記収差補正
指令値として設定させることを特徴とする請求項１乃至
９のいずれかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項１１】 前記収差補正指令値設定手段は、前記
ループゲイン値が所定値範囲外になる正負それぞれの前
記収差補正指令値の内、前記ループゲイン値が上記所定
範囲外で最大となる正負それぞれの収差補正指令値の中
心値を前記収差補正指令値と設定させることを特徴とす
る請求項１乃至９のいずれかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項１２】 前記収差補正指令値設定手段は、前記
収差補正指令値と前記ループゲイン値との関係から山登
り法により前記ループゲイン値が最大となる前記収差補
正指令値を設定させることを特徴とする請求項１乃至９
のいずれかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項１３】 光ディスク上のトラックに光ビームを
集束して照射し、光学的に情報の記録又は再生を行う光
ディスク装置のチルト補償方法であって、 光ビームをトラックに追従させるためのトラッキング制
御ループのループゲイン値を測定し、 該測定した前記ループゲイン値に基づいて光ビームに生
じるコマ収差を補正するための収差補正指令値を設定
し、 該設定した前記収差補正指令値に応じて光ビームに生じ
るコマ収差を補正することを特徴とする光ディスク装置
のチルト補償方法。 - 【請求項１４】 周期外乱成分を用いて前記ループゲイ
ン値を測定することを特徴とする請求項１３記載の光デ
ィスク装置のチルト補償方法。 - 【請求項１５】 光ビームに生じるコマ収差を変化させ
て測定した複数の前記ループゲイン値に基づいて前記収
差補正指令値を設定することを特徴とする請求項１３又
は１４記載の光ディスク装置のチルト補償方法。 - 【請求項１６】 前記ループゲイン値が最大となる様に
前記収差補正指令値を設定することを特徴とする請求項
１３乃至１５のいずれかに記載の光ディスク装置のチル
ト補償方法。 - 【請求項１７】 光ディスクに照射された光ビームの反
射光からディスク信号を検出し、 該検出した前記ディスク信号に基づいて前記収差補正指
令値を補正することを特徴とする請求項１３乃至１６の
いずれかに記載の光ディスク装置のチルト補償方法。 - 【請求項１８】 光ビームをトラックに追従させた状態
で前記ディスク信号を検出することを特徴とする請求項
１７記載の光ディスク装置のチルト補償方法。 - 【請求項１９】 前記ディスク信号として光ディスクに
記録されたデータ情報を示すＲＦ信号の振幅値を検出
し、 前記検出した前記ＲＦ信号の振幅値に基づいて前記収差
補正指令値を補正することを特徴とする請求項１７又は
１８記載の光ディスク装置のチルト補償方法。 - 【請求項２０】 前記ディスク信号として光ディスクに
記録されたデータ情報を示すＲＦ信号を２値化した信号
のジッタ値を検出し、 前記検出した前記ジッタ値に基づいて前記収差補正指令
値を補正することを特徴とする請求項１７又は１８記載
の光ディスク装置のチルト補償方法。 - 【請求項２１】 光ディスクの複数の半径位置において
それぞれ設定された複数の前記収差補正指令値を記憶
し、 該記憶している複数の前記収差補正指令値に基づいて光
ディスクの半径位置に応じた前記収差補正指令値を算出
することを特徴とする請求項１３乃至２０のいずれかに
記載の光ディスク装置のチルト補償方法。 - 【請求項２２】 前記収差補正指令値と前記ループゲイ
ン値との関係を近似曲線で近似し、極値での収差補正指
令値を前記収差補正指令値として設定することを特徴と
する請求項１３乃至２１のいずれかに記載の光ディスク
装置のチルト補償方法。 - 【請求項２３】 前記ループゲイン値が所定値範囲外に
なる正負それぞれの前記収差補正指令値の内、前記ルー
プゲイン値が上記所定範囲外で最大となる正負それぞれ
の収差補正指令値の中心値を前記収差補正指令値と設定
することを特徴とする請求項１３乃至２１のいずれかに
記載の光ディスク装置のチルト補償方法。 - 【請求項２４】 前記収差補正指令値と前記ループゲイ
ン値との関係から山登り法により前記ループゲイン値が
最大となる前記収差補正指令値を設定することを特徴と
する請求項１３乃至２１のいずれかに記載の光ディスク
装置のチルト補償方法。 - 【請求項２５】 コンピュータに請求項１３乃至２４の
いずれかに記載の光ディスク装置のチルト補償方法を実
行させるためのプログラム。
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