JPH1011774A - 光ディスク再生装置 - Google Patents

光ディスク再生装置

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JPH1011774A
JPH1011774A JP17851496A JP17851496A JPH1011774A JP H1011774 A JPH1011774 A JP H1011774A JP 17851496 A JP17851496 A JP 17851496A JP 17851496 A JP17851496 A JP 17851496A JP H1011774 A JPH1011774 A JP H1011774A
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Japan
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gain
focus
disturbance
optical
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JP17851496A
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Yasuhiro Ueki
泰弘 植木
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Victor Company of Japan Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 フォーカスサーボ制御におけるSカーブの中
心からのずれの調整と、ループゲインのばらつきの修正
という2つの調整を簡単な構成で行う。 【解決手段】 フィードバック制御のための処理を全て
デジタル的に行うようにするとともに、サーボ制御にお
けるフィードバックループへ加えるべき外乱の注入を従
来のように2点から行うのではなく、外乱注入点を1点
(加算器36)にし、従来外乱周波数を2種類で行って
いたものを1つにし、さらに2つの調整を個々の時間帯
に行っていたものを実質的に同時にエラー信号を測定し
調整時間を短縮した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ディスク状の記録
媒体から信号を再生する情報再生装置に関し、特に光デ
ィスク再生装置の光ピックアップ(光ヘッド)のフォー
カス制御の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、CD、DVD、MDなどの光記
録媒体(光磁気記録媒体を含む)を用いた情報記録再生
装置では、光ヘッドのトラッキング制御とフォーカス制
御が行われ、記録時及び再生時にデータを正確に書き込
み、また読み出すようにしている。かかる制御は所謂サ
ーボ制御回路により光ヘッドを制御することにより行わ
れている。すなわち再生時についてのみ見ると、反射率
が異なる数種類のディスクに対してレーザパワーを複数
段階に可変にしておき、再生光を適正にするためにトラ
ッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号のゲイン
を切り換え、この切換えを行う毎にこれらのエラー信号
のオフセットを調整する。また、この際に他の装置との
互換性を考慮してトラッキングエラー信号及びフォーカ
スエラー信号のオフセットやバランスなどの調整対象を
正確に調整しなければならない。
【0003】かかる情報記録再生装置のサーボ制御回路
は次のように構成されている。光ヘッドあるいは光ヘッ
ドに含まれる光ピックアップにおける非点収差法による
4分割のA、B、C、Dの4つのセンサのそれぞれの出
力信号をI/V変換し、増幅した出力から基本的にA+
C−B−Dで表わされるフォーカスエラー信号を生成す
る。また、3ビーム法のE、Fの2つのセンサのそれぞ
れの出力信号をI/V変換し増幅した出力から基本的に
E−Fで表わされるトラッキングエラーを生成する
(A、B、C、D、E、Fは6つのセンサ自体とその出
力電圧の双方を示すものとする)。これらのエラー信号
はA/Dコンバータに与えられてデジタル信号とされ、
サーボ制御回路でデジタルサーボ処理が行われ、その出
力がD/Aコンバータを介して出力され、モータドライ
ブ回路によりフォーカスコイルとトラッキングコイルが
駆動される。またフォーカスエラー信号はその演算過程
で、複数のセンサ出力信号間のバランス調整と信号レベ
ルのオフセット調整が行われる。
【0004】ここで、例えば経時変化の影響でフォーカ
スエラー信号を生成する4分割のABCDセンサに対し
てレーザビームの反射光のスポットが光軸に対して垂直
方向で、かつジッタ方向(ディスク上のトラックの走行
方向)にずれると、フォーカスエラー信号のいわゆるS
カーブが非対称となり、Sカーブの合焦点であるセンタ
位置において再生信号(RF信号)の最良点とならない
という問題がある。なお、レーザビームの反射光のスポ
ットが検出センサに対して光軸方向にずれると、フォー
カスエラー信号であるSカーブは対称であるが、このS
カーブ上の再生信号の最良品質点が中心からシフトする
ため、4分割のABCDセンサの出力信号A+C又はB
+Dのどちらかのゲインを変更することにより、Sカー
ブを強引に非対称にして、フォーカスエラー信号のオフ
セットを変更することによって、フォーカスエラー信号
の最良品質点を中心にするものとして、特開平2−24
7827号公報の技術が提案されていた。
【0005】また、本来の形として再生信号の最良品質
点を中心にするものとして、特開平4−40633号公
報の技術が提案されていた。また、メカやピックアップ
内の磁気回路の温度変化などによりサーボ制御のループ
ゲインがばらつき、サーボ制御が不安定になる問題があ
り、この対策として特公平5−18122号公報や特開
平2−247827号公報の技術が提案されていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
従来の技術ではSカーブの中心からのずれの調整と、サ
ーボ制御のループゲインのばらつきの修正という2つの
調整を別々に調整するために調整に必要な回路を重複し
て設けたり、ソフトウェアを重複したり、調整時間を多
く要したりする問題がある。特にアナログ方式の回路構
成では、構成部品が多く回路が複雑になり、また、回路
のオフセット電圧やばらつきなどで本来の測定の精度や
調整の精度が得られないという問題があった。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、光ディスク再生装置のフォーカス制御にお
けるフォーカスエラー信号のオフセットやばらつきを含
むアナログ回路構成に対するフィードバック制御のため
の処理を全てデジタル的に行うようにするとともに、サ
ーボ制御におけるフィードバックループへ加えるべき外
乱の注入を従来のように2点から行うのではなく、外乱
注入点を1点にし、かかる従来外乱周波数を2種類で行
っていたものを1つにし、さらに2つの調整を個々の時
間帯に行っていたものを実質的に同時にエラー信号を測
定し調整時間を短縮している。
【0008】すなわち本発明によれば、ディスク状の光
記録媒体に記録された情報を再生する光ディスク再生装
置であって、ディスクを回転駆動する手段と、前記ディ
スクに対してレーザビームを照射し、前記レーザビーム
の前記ディスクからの反射光を受光する複数に分割した
センサを有し、データを再生する光ヘッドと、前記セン
サの複数の出力信号の演算によりトラッキングエラー信
号を生成して帰還し、前記光ヘッドを前記ディスクのト
ラックに対して位置決めする手段と、前記センサの複数
の出力信号の演算によりフォーカスエラー信号を生成し
て帰還し、前記光ヘッドをフォーカス方向に位置決めす
るフォーカスサーボ制御手段と、前記光ヘッドの出力信
号から情報の再生を行うとともに再生信号を復調する復
調手段と、前記フォーカスサーボ制御手段を含む制御ル
ープのゲインを設定するゲイン設定手段とを有する光デ
ィスク再生装置において、前記制御ループ内に特定の周
波数の外乱信号を印加する外乱印加手段と、前記外乱の
印加される前と後の信号を比較して設定すべきゲインを
検出するゲイン検出手段と、前記ゲイン検出手段の出力
信号に応答して前記ゲイン設定手段で前記ゲインを最適
化するゲイン最適化手段と、前記外乱の変動タイミング
に同期して前記再生信号の状態を測定する再生信号測定
手段と、前記再生信号測定手段による測定結果に応じて
前記フォーカスサーボ制御手段におけるフォーカス位置
決めを最適化するフォーカス位置決め最適化手段とを、
有することを特徴とする光ディスク再生装置が提供され
る。
【0009】さらに本発明によれば、ディスク状の光記
録媒体に記録された情報を再生する光ディスク再生装置
であって、ディスクを回転駆動する手段と、前記ディス
クに対してレーザビームを照射し、前記レーザビームの
前記ディスクからの反射光を受光する複数に分割したセ
ンサを有し、データを再生する光ヘッドと、前記センサ
の複数の出力信号の演算によりトラッキングエラー信号
を生成して帰還し、前記光ヘッドを前記ディスクのトラ
ックに対して位置決めする手段と、前記センサの複数の
出力信号の演算によりフォーカスエラー信号を生成して
帰還し、前記光ヘッドをフォーカス方向に位置決めする
フォーカスサーボ制御手段と、前記光ヘッドの出力信号
から情報の再生を行うとともに再生信号を復調する復調
手段と、前記フォーカスサーボ制御手段を含む制御ルー
プのゲインを設定するゲイン設定手段とを有する光ディ
スク再生装置において、前記制御ループ内に特定の周波
数の外乱信号を印加する外乱印加手段と、前記外乱の印
加される前と後の信号の和信号の位相を前記外乱の位相
と比較して設定すべきゲインを検出するゲイン検出手段
と、前記ゲイン検出手段の出力信号に応答して前記ゲイ
ン設定手段で前記ゲインを最適化するゲイン最適化手段
と、前記外乱の変動タイミングに同期して前記再生信号
の状態を測定する再生信号測定手段と、前記再生信号測
定手段による測定結果に応じて前記フォーカスサーボ制
御手段におけるフォーカス位置決めを最適化するフォー
カス位置決め最適化手段とを、有することを特徴とする
光ディスク再生装置が提供される。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の光ディスク再生装
置の好ましい実施の形態を図面に従い詳細に説明する。
図3は、本発明の光ディスク再生装置の好ましい実施の
形態を示すブロック図である。図4は図3中の後述する
DSP16の機能の一部を示すブロック図である。ま
た、図1及び図2は図3中のマイクロコンピュータ(マ
イコン)19及びその指示に従って動作するDSP16
の動作中フォーカス制御に関連する部分の処理手順の一
例(第1実施例)を示すフローチャートである。
【0011】図3において、光記録媒体としての光ディ
スク1には内周から外周に向かって渦巻き状に形成され
たトラックがあり、光ピックアップ(PU:光ヘッドと
もいう)2はこのトラックに対してレーザビームスポッ
トを与えることにより、所定のフォーマットの書誌情
報、音声情報、映像情報などが光学的に再生される。こ
のディスク1の情報は光ピックアップ2により読み出さ
れて、再生された信号に基づいてプリアンプ部5とデジ
タルサーボ部13からなるサーボ回路でサーボ制御を行
い、駆動部4を介してフォーカスサーボ制御とトラッキ
ングサーボ制御が行われる。なお、光ディスク1はスピ
ンドル(SP)モータ3によりCLV(線速度一定)で
回転される。光ピックアップ2はフォーカスサーボ制御
のため、その対物レンズを光軸方向に移動させる駆動部
を有し、この駆動部はフォーカスコイルが設けられて
る。また、光ピックアップは図示省略のトラバースモー
タにてディスク1の半径方向に移動可能である。
【0012】光ピックアップ2はまた、レーザビームを
ディスク1に出射するレーザダイオードを有し、その反
射光に基づいてディスク1に記録された光学的情報を再
生するためディスク上のEFM信号(ADIP信号の場
合もある)を電気信号に変換し、再生信号RF1、RF
2を出力したり、非点収差法の4分割のフォーカスエラ
ー信号検出用信号A〜Dと3ビーム法の2つのトラッキ
ングエラー信号検出用信号E、Fを出力する。これらの
8つの信号中、信号RF1、RF2はプリアンプ内のオ
ペアンプ6により増幅され、EFM再生信号として送出
される。EFM再生信号はLPF12を経ることにより
EFM再生信号のエンベロープEFMENVが検出され
る。なお、図中、光ピックアップ2の1つの出力信号が
各信号RF1、RF2、A〜Fに枝分れしているように
示されているが、実際は信号A〜Fが各センサ部分の信
号に対応し、信号RF1、RF2が信号A〜Dを適宜合
成した信号に対応し、合成のための回路部分は図示省略
している。また、EFM再生信号のデジタルデータは図
示省略の回路にて所定のデコードとエラー訂正処理が行
われ、必要に応じてD/A変換されて出力される。
【0013】4分割光センサ中、対角線上のセンサ同士
の出力信号は、I/V変換されて増幅され、それぞれA
+C及びB+Dとして、抵抗7、可変抵抗8を介してオ
ペアンプ9に入力される。信号E、Fは同様にそれぞれ
I/V変換されて増幅され、オペアンプ11に入力さ
れ、その出力信号E−Fは略トラッキングエラー信号T
Eとして用いられる。オペアンプ9はフォーカスバラン
ス(FBAL)を調整するもので、後述するD/Aコン
バータ17の出力信号により、可変抵抗8が制御される
ことにより、フォーカスバランスが制御される。オペア
ンプ9の出力信号は他のオペアンプ10の一方の入力と
なり、オペアンプ10の他方の入力はD/Aコンバータ
17に接続されている。このオペアンプ10はフォーカ
スバランスとフォーカスオフセットの一方又は双方を調
整するために用いられる。
【0014】デジタルサーボ部13はプリアンプ部5か
らの各信号EFMENV、FE、TE及び所定の基準信
号Vrefなどを時分割で選択的に取り込むマルチプレ
クサ14と、その出力信号をデジタル信号に変換するA
/Dコンバータ15と、その出力信号を処理するDSP
(デジタル信号処理装置)16と、その出力信号にそれ
ぞれ応答するD/Aコンバータ17及びPWM(パルス
幅変調)回路18を有している。D/Aコンバータ17
の出力信号は前述のように可変抵抗8及び/又はオペア
ンプ10に与えられている。PWM回路18の出力信号
は駆動部4に与えられている。
【0015】図4はDSP16の動作中、フォーカスの
定常位置サーボ制御に関する機能を分かりやすくブロッ
ク化したものであり、図4に示した構成は必ずしも実際
のハードウェアとは一致しない。外乱発生部20は所定
周波数の外乱信号を加算器36によりデジタル変換され
たフォーカスエラー信号FEに加算するものであり、そ
のタイミング信号Tが4つの加算部21〜24にそれぞ
れ与えられている。タイミング信号Tは外乱の半周期に
128回出力される。外乱が加算される前のフォーカス
エラー信号FEを信号aとし、外乱加算後の信号を信号
bとする。また、デジタル変換されたエンベロープ信号
EFMENVを信号cとする。外乱が加算された信号b
は微分器27、比例部28、積分器29にそれぞれ与え
られ、これらの各回路の出力信号はアンプ30、31を
介し、あるいは直接加算器32に与えられ、相互に加算
されてゲインアンプ(GA)33を介してPWM回路1
8に与えられる。信号aと信号bはそれぞれ前加算部2
3と後加算部24に与えられ、信号cは近加算部21と
遠加算部22に与えられている。近加算部21と遠加算
部22の出力信号は比較器25に与えられ、その出力信
号はD/Aコンバータ17に与えられている。一方、前
加算部23と後加算部24の出力信号は比較器26に与
えられ、その出力信号はゲインアンプ33のゲイン制御
信号として用いられる。
【0016】DSP16は図3に示すように、CPU
(中央演算処理装置)を含むマイコン19により制御さ
れていて、また、DSP16によりマルチプレクサ14
とA/Dコンバータ15の動作が制御される。また、マ
イコン19には、図示省略の入力手段と表示手段がそれ
ぞれ接続され、ユーザからの指示を受け、再生の状態や
制御状態などを表示する。DSP16の具体的動作につ
いては、フローチャートに従って後述するが、ここでは
DSP16が実行しようとする処理内容の概略を説明す
る。フォーカスエラー信号FEと、トラッキングエラー
信号TEと、基準電圧Vrefは、マルチプレクサ14
にて時分割で取り込まれ、デジタルサーボ部13のA/
Dコンバータ15でA/D変換される。その後DSP1
6では、各フォーカスエラー信号FEが基準電圧Vre
fに等しくなるように、サーボ処理を行い、得られた出
力をPWM18から駆動部4を介してフォーカスコイル
に与えて、駆動制御する。この制御ループを第1ループ
とする。なお、トラッキングエラー信号TEについても
同様の処理が行われ、トラッキングコイルが駆動制御さ
れるが本発明はフォーカスサーボ制御に関するものであ
るので、トラッキングについての説明は省略する。
【0017】本発明による自動調整の一部には、フォー
カスバランス調整及び/又はフォーカスオフセットを行
うため、RF信号をLPFを通過させて得たエンベロー
プ信号EFMENVをマルチプレクサ14にて時分割で
取り込み、A/Dコンバータ15でA/D変換する。そ
の後、DSP16にて外乱を用いて信号処理し、D/A
コンバータ17を介してA+Cに対してB+D側のゲイ
ンを調整するか(可変抵抗8への信号による)、同様な
効果が得られる方法としてA+C−B−Dにオフセット
を印加する方法(オペアンプアンプ10への信号の調
整)、又は外部を制御しないで、フォーカスエラー信号
をA/D変換する際にオフセットさせる方法(図示省
略)のいずれかによって処理する。この制御ループを第
2ループとする。これらの手法は適宜組み合わせること
もできる。
【0018】図4はDSP16の動作の一部を分かりや
すく示したものであり、周知のように一般にDSPでの
信号処理は、ソフトウェアとハードウェアの組合せによ
るデジタル信号処理が実行されることから、図4のブロ
ックは単なる機能図として把握され、具体的処理手順は
後述のフローチャートに示すとおりである。図4におい
て、点線で囲んだ下半分のブロックは、フォーカスのデ
ジタルサーボの定常状態処理を示し、上半分のブロック
はDSP16による自動調整部分を示す。なお、その他
の処理、すなわちサーチ処理ほかトラッキングサーボな
どの機能は図示省略している。
【0019】フォーカスサーボのループゲイン調整処理
(第1ループ)ついて説明すると、まず基本クロックで
マルチプレクサ14にてフォーカスエラー信号FEと基
準電圧Vrefを選択的に取り込み、これらをA/D変
換する。同時にトラッキングエラー信号TEなども切り
替えながら測定を交互に行う。A/D変換されたフォー
カスエラー信号FEの電圧(図4の信号a)が基準電圧
Vrefに等しくなるように、測定したエラー信号の比
例項と、差分の微分項と、加算値の積分項を演算しそれ
ぞれにゲインアンプ(GA)33で所定のゲインを設定
し、PWM18に出力する。図5を参照し、ここで本来
ループゲインを1kHzでゲイン交点にするために、メ
カ部などの特性をカーブC(40dB/decade)
とし、サーボ系が安定になるために必要な位相補償に
て、250Hzより上を微分項にて補償し、250Hz
より下を積分項にて補償することで1kHzを交点にな
るように予め配分しカーブA’のように設計する。しか
し、メカばらつきや温度変化などにより、1kHzには
ならずに今、カーブAの状態になっているものとする。
【0020】この調整のための指示はマイコン19から
DSP16に与えられ、DSP16内のソフトウェアに
て処理される。ここで、ループゲイン調整はまず、図3
にてフォーカスサーボループが閉じた状態、すなわちサ
ーボオン状態で、サイン波で例えば500Hz(一般的
にゲイン交点を1kHzとすると外乱は200から1k
Hz程度)の外乱信号を64周期分DSP16にて生成
し、これをフォーカスエラー信号FEに加算する。な
お、外乱信号は、メカ系が応答しないこと、測定結果を
加算して積分値としていることから、三角、台形、矩形
波などの高い高調波を含む波形でもよい。その後、位相
補償処理を行いPWM18によりフォーカスコイルに印
加しつつ、この外乱に同期して、フォーカスエラー信号
FEとEFM信号のエンベロープ信号EFMENVをA
Dサンプリングクロックにより、マルチプレクサ14を
切り替えながら測定する。このクロックはフォーカスの
定常状態のサーボ処理に問題が発生しないようにフォー
カスのサンプリング時間を変えないで行う(例えばサン
プリングクロックを上げる方法や、図示しないがマルチ
プレクサ16で常時検出している信号の内、この測定の
間のみ1本を見ないようにし、これを信号EFMENV
に割り当てる)。ただし、一倍速のミニディスクやCD
などの場合、フォーカスのサンプリング時間が速く、速
度を落としても問題が発生しない場合もあり、この場合
は同じクロック速度で、信号EFMENVに割り当てて
行ってもよい。
【0021】サーボのループゲイン調整では、サーボオ
ン状態なので定常状態の処理を行うとともに、測定値a
と、外乱加算後のb(測定値aと発生外乱値の演算によ
り算出)を64周期分にわたり、例えば1周期当り25
6回測定して、それぞれ加算し、加算結果を比較する。
なお、基準電圧に対して符号が反転する場合には、絶対
値として加算する。いま、外乱の周波数を1kHzとす
ると、この信号aとbのそれぞれの64周期分の加算結
果の比較が、等しければなにも変更せず終了し、例えば
aの方が小さければ、図3のAのようにループゲインが
高いから、PWM前のゲインアンプGAのゲインを小さ
い比に相当する所定値下げて再度測定し、適正値になる
までこれを繰り返す。
【0022】ここでは、外乱を500Hzとすると、図
5のカーブA’が本来のゲイン交点1kHzのカーブで
あり、位相補償を設定する時点で、500Hz点Bで
の、ゲイン9dBは予め計算できるから、(カーブでの
1kHzに対する500Hzのゲインは12dB/oc
tであり、これに位相補償が3dBあるので9dBとす
る)、前記aとbを計算し、この比が9dBの点が、
A’の点となる。この比になるように、ゲインアンプ3
3のゲインを所定値変更して、適正値になるまでこれを
繰り返す。
【0023】また、フォーカスバランス調整は、図6の
グラフのようにディスクに対してフォーカス方向(ディ
スクに近づくか、遠ざかる方向)にて、RF信号の振幅
が変化(特にEFMの中で周波数の最も高い3Tの感度
が高いことが知られている)し、この信号の振幅最大点
がほぼフォーカス最良点であることを利用し、マルチプ
レクサ16を切り替えながら、外乱と同期して信号EF
MENVを測定し、外乱の上側(図7の外乱を示すカー
ブにおける0〜180゜の正の区間)、すなわちディス
クに近い側の測定結果を加算し、外乱の下側(図7の外
乱を示すカーブにおける180〜360゜の負の区
間)、すなわちディスクに遠い側の測定結果を加算し、
64周期分それぞれ加算し(基準電圧に対して符号が反
転する場合には、絶対値として)、加算結果を比較す
る。ここでは、調整開始位置が、遠い側にあるので、近
い側の振幅の方が大きくなる。
【0024】例えば、外乱の周波数を200Hz程度と
すると、この外乱周波数に対する信号EFMENVの応
答の位相が、あまりずれないが、実施例の500Hz程
度では多少位相がずれるため、同期検波時に位相ずれを
補償して、予め設定されたディレイ時間にてサンプリン
グ結果をディスクに近い側と遠い側とでシフトして演算
する。この比較結果が、等しければなにも変更せず終了
し、例えばこの例のように遠い側が小さければ、本来の
最良位置が図6のように近い側であるから、(1) D
/Aコンバータ17により図3のFBALのようにA+
Cに対してB+D側のゲインを調整するか、(2) 図
3のFOFSのようにA+C−B−Dにオフセットを印
加するか、(3) 図示しないが外部を制御しないで、
フォーカスエラー信号をA/D変換する際に通常は基準
電圧VrefとFEの差をエラー信号とするが、これに
前記オフセット値を加える方法のいずれかによって処理
する。この3つの方法ともフォーカスエラー信号の上の
最良点の方向にフォーカス位置を移動するという点で同
様な効果が得られる方法である。
【0025】これを、近い側と遠い側との差が所定値以
内の適正値になるまで繰り返す。以上フォーカスループ
ゲイン調整(第1ループ)とフォーカスバランス調整
(第2ループ)の2つを同時に行うが、両方が同じ時間
を必要とする場合は同時スタート、同時終了でよいが、
どちらかの調整時間が他方と異なる場合、スタートを同
時にしても、終了を同時にしても、片方の中間に片方を
位置させても、また、DSP16の処理能力などによっ
て一部を重複させて全ては重ならないように構成しても
よい。なお、マイコン19のコマンドにより、両方の調
整を行った後、片方の調整のみが必要と判断された場合
は、片方のみの調整を行ってもかまわない。また、ここ
での外乱の応答の測定として積分型の加算回路を用いて
いるが、ピークホールドなどの別の構成にすることもで
きる。
【0026】また、外乱の周波数をここでは500Hz
としたが、1kHZ程度に上げた場合のゲイン調整は、
信号aとbの比が1:1であり、測定精度が上がる一
方、フォーカスバランス調整での位相ずれの問題、ピッ
クアップの変位範囲が小さくなる問題が大きくなり、逆
に、200HZ程度に下げた場合のゲイン調整は、信号
aとbの比が大きくなり測定精度が下がり、調整時間が
大きくなる一方、フォーカスバランス調整での位相ずれ
は小さくなり精度は向上する。ここでは、ゲイン交点を
1kHzとした場合の外乱を200Hzから1kHzと
したが、一般的にゲイン交点の1/5から1倍程度まで
が、可能な範囲である。つまり、システムの検討にて最
適周波数が存在しこれを設定する。
【0027】また、本発明では、外乱の周波数を1つに
するためゲイン調整では、1:1でなく、固定比のゲイ
ンで調整することと、バランス調整では、正確には同期
検波の最中に位相シフトを行うことでこれを解決してい
る。また、上記実施例では、ループゲイン調整は、外乱
印加の前と後との比較により、最適調整値を求めたが、
調整の方法として、外乱をゲイン交点付近の周波数とし
た場合、特公平5−18122号公報に示されるよう
に、外乱と信号aとbの間の位相関係を測定して、これ
が所定値になるように制御しても同様である。また、こ
こでは、フォーカスバランス調整の方法として、RF信
号が最大になるように制御する例を示したが、特公平5
−42060号公報に示されるように、RF信号のジッ
タが最小になる点を求める方法でもよい。
【0028】上記動作を図1と図2で形成されるフロー
チャートに従って詳細に説明する。電源投入や、ディス
クの交換などにより動作が開始し、ステップS1にて必
要なデータやコマンドを読み込む。ステップS2でトラ
ッキングサーボ制御をオンとし、次いでステップS3で
粗フォーカスサーボ制御をオン状態とする。次に、ステ
ップS4でマイコン19よりフォーカスループゲイン、
フォーカスバランス(FBAL)調整要求があると、ス
テップS5以下の処理がスタートする。まず、ステップ
S5で初期設定を行い、各sumレジスタ=0とし、サ
ンプリングクロックを高速モードへ切り替える。ステッ
プS6では、外乱発生値上側gup(n)をフォーカス
ループに加算する。ここで外乱発生値上側gup(n)
は図7の外乱を示すカーブにおける0〜180゜の区間
における、例えば128回の測定値の1つであり、nは
測定開始からの測定回数を示し、本実施例では0〜12
8の整数である。また、外乱発生値下側gdown
(n)は図7の外乱を示すカーブにおける180〜36
0゜の区間における、例えば128回の測定値の1つで
ある。
【0029】次いでステップS7でフォーカスエラー信
号FEの外乱加算前の信号aを選択して、A/D変換
し、サーボループ制御を開始する。すなわちフォーカス
エラー信号FEのaを前回測定値(積算値)に加算し、
sum(n)a=sum(n−1)a+aとし、また、
加算器36による外乱加算後のフォーカスエラー信号F
Eのbを同様に前回測定値(積算値)に加算し、sum
(n)b=sum(n−1)b+a+gup(n)とす
る。ステップS8では、エンベロープ信号EFMENV
のcを選択し、A/D変換し、近加算側をkin(n)
=kin(n−1)+cとする。「近加算」とは、ディ
スク1に近い方、すなわち外乱の正の半周期内の信号c
の加算をいい、後述する「遠加算」とは、ディスク1に
遠い方、すなわち外乱の負の半周期内の信号cの加算を
いう。次に、ステップS9にて、上記測定回数nが定数
mに達したか否かを判断する。本実施例では、mは12
8に設定してある。すなわち、外乱の上側に相当する正
の半周期に128回測定が行われると、n=mとなっ
て、上側終了となる。nがmに達するまでは、ステップ
S6へ戻り、n=mとなるまでステップS6〜S8が繰
り返される。
【0030】次に、ステップS9がYESとなると、ス
テップS10で、nを0にリセットし、ステップS10
〜S13でステップS6〜S9と同様に外乱発生値下側
gdown(n)をフォーカスループに加算し、フォー
カスエラー信号FEのaを加算し、sum(n)a=s
um(n−1)a+aとするとともに、フォーカスエラ
ー信号FEのbを加算し、sum(n)b=sum(n
−1)b+a+gdown(n)とし、エンベロープ信
号EFMENVのcを選択し、A/D変換し、遠加算側
をen(n)=en(n−1)+cとし、n=mとなる
までステップS10〜S12を繰り返す。ステップS1
3がYESとなると、ステップS14でnを0にリセッ
トし、64周期にわたって加算が行われたかを判断す
る。64周期にわたる加算が終了したか否かは、例えば
ステップS13でn=mと判断された回数、すなわち1
周期終了の回数を別のカウンタで計数すればよい。ステ
ップS14がNOならステップS6へ戻り、YESなら
ステップS15へ行く。
【0031】ステップS15では、64周期の信号aの
和sum(n)aと,64周期の信号bの和sum
(n)bを比較し、両者間の差あるいは比を算出する。
ステップS16ではステップS15で求めた差又は比が
所定値以下か否かを判断する。図7からわかるように、
フォーカス位置が適正であれば、外乱を加算する前の測
定値の合計値と、外乱を加算した後の測定値の合計値は
一定の差又は比以下となる。適正値内であればステップ
S18でsokフラグを設定する。適正値内でないとき
は、ステップS17でゲインアンプ33のゲインを変更
する(図4参照)。このとき、ゲインを増加させるのか
低下させるのかは、上記差又は比が所定値より大か小か
により決定する。
【0032】ステップS17又はステップS18を終了
すると、ステップS8とステップS12でそれぞれ64
周期分加算された近加算値kin(n)と遠加算値en
(n)を比較し、上記ステップS15、S16と同様に
両者の差又は比が一定値以下か否かをステップS20で
判断する。適正値内であればステップS21でtokフ
ラグを設定する。適正値内でないときは、ステップS2
2でフォーカスバランス(FBAL)、フォーカスオフ
セット(FOFS)又はA/Dオフセットを変更する。
なお、前述のように、これら3種類のパラメータは、1
つのみを調整してもよいし、2つ以上を調整してもよ
い。なお、これらのパラメータの調整の方向は、上記6
4周期分加算された近加算値kin(n)と遠加算値e
n(n)の差又は比が所定値より大か小かにより決定す
る。ステップS21又はS22を終了後、ステップS2
3で各フラグ sokとtokが1に設定されているか
否かを判断し、双方が1であれば調整を終了し、一方又
は双方が1でないときはステップS6へ戻る。
【0033】次に、外乱周波数を1kHzにするためゲ
イン調整では、特公平5−18122号公報のように外
乱と信号aとbの間の位相関係を測定して、この位相差
が90度になるように制御し、バランス調整では、正確
に同期検波を行うため位相シフトを行う例を第2実施例
として図8〜11に沿って説明する。図10は第1実施
例を示す図4の代わりに用いられるDSP16の第2実
施例における機能を示すブロック図である。点線の区分
は図4と同様である。まず第1ループとして、信号eは
外乱加算後のフォーカスエラー信号であり、信号eは信
号aに加算器37で加算されて信号bとなる。フォーカ
スエラー信号aと、外乱の加算前後の和であるbとの位
相を位相比較器39で比較し、図11のdのように立ち
上がりから立ち上がりまで、立ち下がりから立ち下がり
までの時間を外乱の時間と比較することにより、位相が
90度になっていることを検出し、位相ずれの方向によ
ってゲインアンプ33のゲインを増減するようにしてい
る。
【0034】また、バランス調整などの第2ループでは
エンベロープ信号EFMENVに外乱を同期加算する際
に、予め決められた位相分サンプリング計数時間をディ
レイしてディスクに近い側と遠い側のサンプリングを行
うようにし、それらの64周期分の加算値同志を比較す
るようにしている。
【0035】上記第2実施例の動作を図8と図9で形成
されるフローチャートに従って詳細に説明する。電源投
入や、ディスクの交換などにより動作が開始し、ステッ
プS1〜S6は第1実施例と同様であるので説明を省略
する。ステップS37にて、フォーカスエラー信号FE
の外乱加算前の信号aを選択、A/D変換し、サーボル
ープ制御を開始する。すなわち、フォーカスエラー信号
FEのaを外乱加算後のフォーカスエラー信号FEのe
に加算して、b=a+eとする。ステップS38では、
外乱と信号bの位相を位相比較器39で比較し、ステッ
プS39で位相比較器39にてゼロクロス判定を行って
図11の信号HL(2値)信号dを生成する。次いでス
テップS40では、誤差検出・比較器40で信号dの位
相誤差peをpe=(π/2)−H区間として求める。
外乱と信号bの時間軸の遅れ関係がゲイン交点であると
きは、H区間がπ/2になり、位相誤差peが0となる
ので、この位相誤差peを求めておくものである。
【0036】次にステップS41で、エンベロープ信号
EFMENVのcを選択し、A/D変換するとともに、
サンプリング回数nが所定値dlyより小さいか否かを
判断する。この所定値dlyは外乱周波数に対して、対
物レンズを動かすまでに発生する時間遅れに相当する時
間をサンプリング回数で示すものであり、例えば24に
設定する。図10中の位相シフト回路38は外乱発生部
20からのタイミング信号Tを、この時間遅れ分遅延す
るものである。n>dlyなら、ステップS42で近加
算側をkin(n)=kin(n−1)+cとする(遅
延タイミング信号T1の印加される近加算部21によ
る)。一方、n≦dlyなら、ステップS43で近加算
側をen(n)=en(n−1)+cとする(遅延タイ
ミング信号T2の印加される遠加算部22による)。
「近加算」、「遠加算」は、上記遅延時間を除いて第1
実施例と同様である。次に、ステップS9にて、上記測
定回数nが定数mに達したか否かを判断する。本実施例
でも、mは128に設定してある。nがmに達するまで
は、ステップS6へ戻り、n=mとなるまでステップS
6、S37〜S43が繰り返される。
【0037】次に、ステップS9がYESとなると、ス
テップS10で、nを0にリセットし、ステップS10
〜S13でステップS6〜S9と同様に外乱発生値下側
gdown(n)をフォーカスループに加算し、次にス
テップS44〜S50でステップS37〜S43と同様
の処理を行う。次に、ステップS13にて、上記測定回
数nが定数mに達したか否かを判断し、nがmに達する
までは、ステップS10へ戻り、n=mとなるまでステ
ップS10、S44〜S50が繰り返される。ステップ
S13がYESとなると、ステップS14でnを0にリ
セットし、64周期にわたる加算が終了したか否かを判
断する。ステップS14がNOならステップS6へ戻
り、YESならステップS51へ行く。
【0038】ステップS51では、64周期の位相誤差
信号peの平均値を求め、ステップS52でこの平均値
が所定範囲内か否かを判断する。図11からわかるよう
に、フォーカス位置が適正であれば、外乱と信号bの位
相差は一定の値(適正値)以下となる(あるいは両者の
比が一定値以下となる)。適正値内であればステップS
18でsokフラグを設定する。適正値内でないとき
は、ステップS17でゲインアンプ33のゲインを変更
する(図10参照)。このとき、ゲインを増加させるの
か低下させるのかは、上記差又は比が所定値より大か小
かにより決定する。
【0039】ステップS17又はステップS18を終了
すると、ステップS42、S49とステップS43、S
50でそれぞれ64周期分加算された近加算値kin
(n)と遠加算値en(n)をステップS19で比較
し、上記ステップS51、S52と同様に両者の差又は
比が一定値以下か否かをステップS20で判断する(比
較器25による)。すなわち、再生信号を、基準電圧に
対して符号が反転しないときはそのまま、反転するとき
は絶対値として、外乱の正の半周期と負の半周期にわけ
て、かつ所定遅延時間に相当する各半周期の冒頭から所
定サンプリング回数までは、当該半周期の前の半周期の
ものとして、それそれぞれ複数周期加算してから加算結
果同士の比較をする手段が構成されている。
【0040】適正値内であればステップS21でtok
フラグを設定する。適正値内でないときは、ステップS
22でフォーカスバランス(FBAL)、フォーカスオ
フセット(FOFS)又はA/Dオフセットを変更す
る。なお、前述のように、これら3種類のパラメータ
は、1つのみを調整してもよいし、2つ以上を調整して
もよい。なお、これらのパラメータの調整の方向は、上
記64周期分加算された近加算値kin(n)と遠加算
値en(n)の差又は比が所定値より大か小かにより決
定する。ステップS21又はS22を終了後、ステップ
S23で各フラグsokとtokが1に設定されている
か否かを判断し、双方が1であれば調整を終了し、一方
又は双方が1でないときはステップS6へ戻る。
【0041】上記各実施例では、特定の構成の光ディス
ク装置について説明したが、記録/再生の両機能を有す
る光ディスク装置にも本発明は適用可能であるのみなら
ず、各実施例で用いた定数mや64周期などは、一例に
すぎないので、適宜変更することができる。
【0042】
【発明の効果】本発明の光ディスク再生装置は上記のよ
うに構成されているので、次のような効果を有する。す
なわち、フォーカスサーボが適切に制御されて再生信号
が最適になり、フォーカス制御系のサーボ動作が安定な
ものとなるとともに、調整時間が短縮できる。また、本
発明の光ディスク再生装置は回路構成が従来のものと比
較して簡略化でき、調整精度を向上させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光ディスク再生装置におけるフォーカ
ス制御手順の第1実施例を示すフローチャートの前半部
である。
【図2】本発明の光ディスク再生装置におけるフォーカ
ス制御手順の第1実施例を示すフローチャートの後半部
である。
【図3】本発明の光ディスク再生装置の実施の形態を示
すブロック図である。
【図4】本発明の光ディスク再生装置におけるフォーカ
ス制御手順の第1実施例の場合の図3の装置中のDSP
の機能を示すブロック図である。
【図5】本発明の光ディスク再生装置におけるフォーカ
ス制御手順を説明するグラフである。
【図6】本発明の光ディスク再生装置におけるフォーカ
ス制御手順を説明するグラフである。
【図7】本発明の光ディスク再生装置におけるフォーカ
ス制御手順の第1実施例の場合の、図4中の各信号波形
を示す波形図である。
【図8】本発明の光ディスク再生装置におけるフォーカ
ス制御手順の第2実施例を示すフローチャートの前半部
である。
【図9】本発明の光ディスク再生装置におけるフォーカ
ス制御手順の第2実施例を示すフローチャートの後半部
である。
【図10】本発明の光ディスク再生装置におけるフォー
カス制御手順の第1実施例の場合の図3の装置中のDS
Pの機能を示すブロック図である。
【図11】本発明の光ディスク再生装置におけるフォー
カス制御手順の第2実施例の場合の、図10中の各信号
波形を示す波形図である。
【符号の説明】
1 光ディスク(光記録媒体) 2 光ピックアップ(光ヘッド) 3 スピンドルモータ(ディスクを回転駆動する手段) 4 駆動部(DSP16とともにトラックに対して位置
決めする手段と、フォーカスサーボ制御手段を構成す
る) 5 プリアンプ部 6、9、10、11 オペアンプ 7 抵抗 8 可変抵抗 12 LPF 13 デジタルサーボ部 14 マルチプレクサ 15 A/Dコンバータ 16 DSP(デジタル信号処理回路) 17 D/Aコンバータ(可変抵抗8、オペアンプアン
プ9及び/又は10と共にフォーカス位置決め最適化手
段を構成する) 18 PWM(パルス幅変調回路) 19 マイコン 20 外乱発生部(加算器36と共に外乱印加手段を構
成する) 21 近加算部(遠加算部22、比較器25と共に請求
項1の再生信号測定手段を構成する) 22 遠加算部 23 前加算部(後加算部24、比較器26と共に請求
項1のゲイン検出手段を構成する) 24 後加算部 25、26 比較器 27 微分器 28 比例部 29 積分器 30、31 アンプ 32、36、37 加算器 33 ゲイン調整アンプ(GA)(ゲイン最適化手段) 38 位相シフト回路(近加算部21、遠加算部22、
比較器25と共に請求項4の再生信号測定手段を構成す
る) 39 位相比較器(加算器37、誤差検出・比較回路4
0と共に請求項4のゲイン検出手段を構成する) 40 誤差検出・比較回路

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ディスク状の光記録媒体に記録された情
    報を再生する光ディスク再生装置であって、ディスクを
    回転駆動する手段と、前記ディスクに対してレーザビー
    ムを照射し、前記レーザビームの前記ディスクからの反
    射光を受光する複数に分割したセンサを有し、データを
    再生する光ヘッドと、前記センサの複数の出力信号の演
    算によりトラッキングエラー信号を生成して帰還し、前
    記光ヘッドを前記ディスクのトラックに対して位置決め
    する手段と、前記センサの複数の出力信号の演算により
    フォーカスエラー信号を生成して帰還し、前記光ヘッド
    をフォーカス方向に位置決めするフォーカスサーボ制御
    手段と、前記光ヘッドの出力信号から情報の再生を行う
    とともに再生信号を復調する復調手段と、前記フォーカ
    スサーボ制御手段を含む制御ループのゲインを設定する
    ゲイン設定手段とを有する光ディスク再生装置におい
    て、 前記制御ループ内に特定の周波数の外乱信号を印加する
    外乱印加手段と、 前記外乱の印加される前と後の信号を比較して設定すべ
    きゲインを検出するゲイン検出手段と、 前記ゲイン検出手段の出力信号に応答して前記ゲイン設
    定手段で前記ゲインを最適化するゲイン最適化手段と、 前記外乱の変動タイミングに同期して前記再生信号の状
    態を測定する再生信号測定手段と、 前記再生信号測定手段による測定結果に応じて前記フォ
    ーカスサーボ制御手段におけるフォーカス位置決めを最
    適化するフォーカス位置決め最適化手段とを、 有することを特徴とする光ディスク再生装置。
  2. 【請求項2】 前記ゲイン検出手段が前記外乱の印加さ
    れる前と後の信号を、基準電圧に対して符号が反転しな
    いときはそのまま、反転するときは絶対値として、前記
    外乱の正の半周期と負の半周期にわけて、それぞれ複数
    周期加算してから加算結果同士の比較をする手段を有す
    る請求項1記載の光ディスク再生装置。
  3. 【請求項3】 前記再生信号測定手段が前記再生信号
    を、基準電圧に対して符号が反転しないときはそのま
    ま、反転するときは絶対値として、前記外乱の正の半周
    期と負の半周期にわけて、それぞれ複数周期加算してか
    ら加算結果同士の比較をする手段を有する請求項1又は
    2記載の光ディスク再生装置。
  4. 【請求項4】 ディスク状の光記録媒体に記録された情
    報を再生する光ディスク再生装置であって、ディスクを
    回転駆動する手段と、前記ディスクに対してレーザビー
    ムを照射し、前記レーザビームの前記ディスクからの反
    射光を受光する複数に分割したセンサを有し、データを
    再生する光ヘッドと、前記センサの複数の出力信号の演
    算によりトラッキングエラー信号を生成して帰還し、前
    記光ヘッドを前記ディスクのトラックに対して位置決め
    する手段と、前記センサの複数の出力信号の演算により
    フォーカスエラー信号を生成して帰還し、前記光ヘッド
    をフォーカス方向に位置決めするフォーカスサーボ制御
    手段と、前記光ヘッドの出力信号から情報の再生を行う
    とともに再生信号を復調する復調手段と、前記フォーカ
    スサーボ制御手段を含む制御ループのゲインを設定する
    ゲイン設定手段とを有する光ディスク再生装置におい
    て、 前記制御ループ内に特定の周波数の外乱信号を印加する
    外乱印加手段と、 前記外乱の印加される前と後の信号の和信号の位相を前
    記外乱の位相と比較して設定すべきゲインを検出するゲ
    イン検出手段と、 前記ゲイン検出手段の出力信号に応答して前記ゲイン設
    定手段で前記ゲインを最適化するゲイン最適化手段と、 前記外乱の変動タイミングに同期して前記再生信号の状
    態を測定する再生信号測定手段と、 前記再生信号測定手段による測定結果に応じて前記フォ
    ーカスサーボ制御手段におけるフォーカス位置決めを最
    適化するフォーカス位置決め最適化手段とを、 有することを特徴とする光ディスク再生装置。
  5. 【請求項5】 前記再生信号測定手段が前記再生信号
    を、基準電圧に対して符号が反転しないときはそのま
    ま、反転するときは絶対値として、前記外乱の正の半周
    期と負の半周期にわけて、かつ所定遅延時間に相当する
    前記各半周期の冒頭から所定サンプリング回数までは、
    当該半周期の前の半周期のものとして、それぞれ複数周
    期加算してから加算結果同士の比較をする手段を有する
    請求項4記載の光ディスク再生装置。
  6. 【請求項6】 前記ゲイン最適化手段が前記フォーカス
    エラー信号の微分成分、比例成分及び積分成分の和のゲ
    インを最適とするものである請求項1ないし5記載の光
    ディスク再生装置。
  7. 【請求項7】 前記フォーカス位置決め最適化手段が前
    記フォーカスエラー信号を生成するためのフォーカスバ
    ランス調整手段、フォーカスオフセット調整手段、前記
    フォーカスエラー信号のA/D変換におけるオフセット
    調整手段である請求項1ないし6記載の光ディスク再生
    装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040025256A (ko) * 2002-09-19 2004-03-24 주식회사 대우일렉트로닉스 광 픽업과 광 디스크 사이의 틸트 판별 방법
CN1297966C (zh) * 2003-12-11 2007-01-31 株式会社日立制作所 光盘装置及其盘记录再现方法
US7599256B2 (en) 2005-11-08 2009-10-06 Victor Company Of Japan, Ltd. Method and apparatus for reproducing information from recording medium

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