JP2003018864A - コンデンサモジュールおよびそれを用いた半導体装置 - Google Patents
コンデンサモジュールおよびそれを用いた半導体装置Info
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Abstract
より発生する応力を緩和するための端子部材が設けられ
たセラミックコンデンサを内蔵し、小型化が図れ、信頼
性が高いコンデンサモジュール及び半導体装置を得る。 【解決手段】 スイッチング素子およびダイオードで構
成された電力変換回路31と、回路1に電力を供給する
P極導体41およびN極導体43と、2つの外部電極を
有するセラミックコンデンサ61と、当該外部電極に接
続された可撓性を有する端子部材68と、ケース底部に
配置された放熱板71と、電力変換回路31を被覆する
絶縁樹脂81と、セラミックコンデンサの一方の端子部
材とP極導体を接続するP極接続導体63と、セラミッ
クコンデンサの他方の端子部材とN極導体を接続するN
極接続導体64と、セラミックコンデンサの主面を支持
するモールド配線板62とを備えている。
Description
ル及びそれを用いた半導体装置に関し、特に、インバー
タ装置を構成する際に用いられるコンデンサモジュール
及びそれを用いた半導体装置に関するものである。
用の電気機器に広く用いられている。例えば、交流モー
タによって推進される電気自動車や、エンジンと交流モ
ータによって推進されるハイブリッドカーにおいては、
図20に示すように、モータと直流電源との間にインバ
ータ101が介在している(以下、従来例1とす
る。)。インバータ101は、図18の平面図および図
19の断面図に示すように、半導体装置102とその外
部に配置された平滑用コンデンサ110とによって構成
される。平滑用コンデンサ110は直流電源のリプル電
圧変動を抑制するために必要とするものである。半導体
装置102は、絶縁基板125に搭載されたスイッチン
グ素子120とダイオード121とによって直流を交流
に変換する、または、その逆に交流を直流に変換するも
のであり、3相交流モータを使用する場合には、U相1
40、V相141およびW相142の3つの相で構成さ
れている。絶縁基板125は放熱板160に搭載され、
放熱板160は合成樹脂性のケース150に固定されて
いる。ケース150には、内部配線のための複数の導体
がインサート形成されており、この導体は、その一部が
ケース150の表面に露出し、直流側のP端子130と
N端子131および交流側のU端子132とV端子13
3とW端子134を形成するとともに、絶縁基板125
の表面に形成された図示していない配線パターンやアル
ミワイヤとによってスイッチング素子120とダイオー
ド121に接続され、図20に示した回路を構成してい
る。P端子130とN端子131には直流電源が接続さ
れ、交流側のU端子132とV端子133とW端子13
4には三相交流モータが接続される。
置はインバータを構成する際に、半導体装置102の外
部に平滑用コンデンサ110を配置しているため、平滑
用コンデンサ110と半導体装置102内部のスイッチ
ング素子120との間の配線経路が長く、インダクタン
スが大きくなり、サージ電圧が大きくなるため素子耐圧
を高くしなければならず高コストであった。また、イン
ダクタンスが大きくなることで直流電源のリプル電圧を
抑制するために平滑用コンデンサ110の静電容量を大
きくする必要があり、平滑用コンデンサ110の大型
化、ひいてはインバータ101の大型化の原因になって
いた。
て、円筒形等の電解コンデンサを使用するのが一般的で
あるため、スペースの有効利用が困難であり、インバー
タ101の小型化を阻害していた。
コンデンサを用いることで小型化して、半導体装置内部
のスイッチング素子近傍に設置する構造が、例えば、特
開平10−304680号公報に開示されている(以
下、従来例2とする。)。図21〜図23は、当該公報
に記載された従来の電力変換装置の構成を示したもので
ある。
れている電力変換装置に関する実施の形態においては、
平滑用コンデンサにセラミックコンデンサCを用い、図
21に示される通り、前記セラミックコンデンサCはI
GBT等が搭載されるスイッチング素子基板226上に
搭載され、前記IGBT等と共通の冷却部材218によ
って冷却される。より具体的には、図22に示される通
り、正側と負側の直流側電源配線(以下、P極導体23
6P、N極導体236Nと称す)の間に略直方体の形状
を有するセラミックコンデンサCが横置きの状態で配置
されるか、または、図23に示される通り、縦置きの状
態で配置される。また、平滑コンデンサを並列接続され
た3つのセラミックコンデンサによって実現し、各相ご
とに1個づつ設けることもできる。
ンサを用いる利点の1つは、電解コンデンサと比較して
内部抵抗が小さく、従来はリプル電圧吸収のために大き
めに設定していた静電容量を、平滑に必要な静電容量に
とどめることができる。具体的には、従来は十数ミリフ
ァラドの静電容量が必要であった平滑用コンデンサを、
数百マイクロファラド程度にでき、この結果、平滑用コ
ンデンサを小型化できることである。
P極導体236PおよびN極導体236Nとセラミック
コンデンサCの接続方法である。例えば上記公報で例と
して挙げている電気自動車に搭載されるインバータ装置
において、上記公報に記載の通り、3個の並列接続され
たセラミックコンデンサで平滑用コンデンサを構成した
場合について考える。
ラミックコンデンサを用いることによって平滑に必要な
静電容量を数百マイクロファラド程度にできるとある
が、この静電容量を上記公報の記載にある通り3個の並
列接続されたセラミックコンデンサで実現するために
は、1つのセラミックコンデンサの外形寸法は少なくと
も数十ミリ角になると考えられる。
よびN極導体236NとセラミックコンデンサCの接続
方法の詳細については述べられていないが、図22およ
び図23を見る限り、P極導体236PおよびN極導体
236NとセラミックコンデンサCとは面と面とを対向
させて接続されている。電気自動車に搭載されることを
考えると、この接続面は振動が加わった場合でも確実な
接続を維持する必要があり、単に接触しているだけでな
く、強固に固着されている必要がある。また、接触によ
って確実な接続を得るためには接続面に相当な接触圧を
付与する必要があるが、上記公報の記載を見る限り、接
続面に接触圧を付与する工夫はなく、接続面の単なる固
着を想定していることは容易に推察できる。
最大限に活用するためには、セラミックコンデンサ内部
の電流分布をなるべく均一にすることが必要である。そ
のためには、P極導体236PおよびN極導体236N
は、セラミックコンデンサの外部電極のほぼ全面に接続
されているか、あるいは、接続部をセラミックコンデン
サの外部電極全体にほぼ均一に分布させる必要がある。
P極導体236PおよびN極導体236Nの材質として
は、電気伝導率が高くて安価な銅等の金属が使用される
ことが一般的である。
するためには、セラミックと金属という線膨張係数の異
なる材料を数十ミリ角の面積で接続する必要がある。こ
の場合、その接合部には相当な熱応力が発生することは
避けられない。例えば上記公報で例として挙げている電
気自動車に搭載されるインバータ装置の場合、使用温度
範囲は一般的に−40度から125度であり、さらにこ
の温度差が繰り返し作用するため、発生する熱応力が接
合部またはセラミックコンデンサ自体に深刻なダメージ
を与えることは必至である。
セラミックを用いるような積層セラミックコンデンサを
特に高電圧や高周波領域で使用した場合コンデンサ本体
に備える誘電体の圧電現象により電歪が発生しやすく、
特に大容量の積層セラミックコンデンサにおいて大きく
生じる。このように電歪が発生する状況において、上記
公報の従来例のように面と面とを対向させて接続部材が
外部電極に接合されていると、コンデンサ本体の電歪に
よる変位が接続部材によって比較的大きく拘束されるた
め、電歪による応力の逃げ道が大きく制限されてしま
い、セラミックコンデンサを破損することがある。
号公報に示される構造ではこれら熱や電歪による応力へ
の配慮が全くなされていない。
回避するため、セラミックコンデンサの外部電極に金属
板からなる端子部材を設け、この端子部材の撓みを伴う
変形によって接合部やセラミックコンデンサ本体に作用
する応力を緩和させる構造が特開2000−22335
5号公報および特開2000−235931号公報に記
載されている(以下、従来例3および従来例4とす
る。)。しかし、特開平10−304680号公報で
は、このような端子部材を有するセラミックコンデンサ
の適用を想定しておらず、その適用方法についての指針
を得ることができない。また、特開2000−2233
55号公報および特開2000−235931号公報に
記載されているセラミックコンデンサはプリント基板な
ど平面状の部材に接続されることを想定しており、特開
平10−304680号公報における図22および図2
3に示すような対向する導体間に挟み込まれることは想
定しておらず、やはりその適用方法についての指針を得
ることができない。
および特開2000−235931号公報に記載されて
いるセラミックコンデンサを適用するために、P極導体
およびN極導体を平面状に配置した場合、セラミックコ
ンデンサは横置きの状態となる。なお、横置きとは、セ
ラミックコンデンサの面のうち、面積が最も大きい面
(以下、主面とする。)が水平になるように配置した状
態をいう。これに対し、縦置きという配置の仕方がある
が、これは、セラミックコンデンサの主面が設置面に対
して垂直になるように配置した状態をいう。セラミック
コンデンサが数十ミリ角の大きさになった場合、これを
横置きにすると半導体装置が大型化する。これを避ける
ためにはセラミックコンデンサを縦置きにする、または
電力変換回路の上部に配置する必要があるが、特開20
00−223355号公報および特開2000−235
931号公報に記載されているセラミックコンデンサを
横置き以外の状態で平面状に配置されたP極導体および
N極導体に接続することは困難であり、コンデンサの配
置に自由度がない。
おいては、図23に示されるように、P極導体およびN
極導体の一部を立ち上げたとしても、セラミックコンデ
ンサを垂直面に接合するには、セラミックコンデンサが
接続および固定されるまで何らかの方法で支持するか、
半導体装置の向きを変えてセラミックコンデンサが接続
される部分を水平に保つなどの工夫が必要になるため、
作業が煩雑になり、半導体装置のコストが高くなってし
まう。
はんだ付けされており、端子部材とP極導体およびN極
導体とを接続する際に、セラミックコンデンサと端子部
材との接続部と同じはんだを用いると、セラミックコン
デンサと端子部材との接続部のはんだが溶融し、接合位
置がずれたり、セラミックコンデンサと端子部材が分解
する恐れがある。
例1においては、平滑用コンデンサとスイッチング素子
との間の配線経路が長いため、インダクタンスが大きく
なり、平滑用コンデンサの静電容量を大きくする必要が
あるため、平滑用コンデンサが大型化してしまうという
問題点があった。そのため、従来例2においては、セラ
ミックコンデンサを用いることで小型化を図ったが、P
極導体およびN極導体とセラミックコンデンサとが面と
面とを対向させて接続させているため、熱応力や電歪に
よる応力が加わった場合には、セラミックコンデンサが
当該応力により破損する可能性があるという問題点があ
った。従来例3及び従来例4においては、応力の問題は
一応解決されているが、半導体装置等に搭載する際のコ
ンデンサの配置に自由度がなく、装置の大型化を避ける
ことができないという問題点があった。
になされたものであり、セラミックコンデンサに作用す
る熱応力やセラミックコンデンサ自身の電歪により発生
する応力に強く、配置の自由度が高い、コンデンサモジ
ュールを得ることを目的とする。
ことにより、信頼性が高く、かつ、小型化が可能な半導
体装置を得ることを目的とする。
面と対向する側面とを有し、前記対向する側面に外部電
極が設けられたセラミックコンデンサと、前記セラミッ
クコンデンサの前記外部電極のそれぞれに対して接合さ
れた導電性及び可撓性を有する端子部材と、前記セラミ
ックコンデンサの一方の側の前記端子部材を、外部に設
けられたP極導体に接続するP極接続導体と、前記セラ
ミックコンデンサの他方の側の前記端子部材を、外部に
設けられたN極導体に接続するN極接続導体と、前記P
極接続導体及び前記N極接続導体が設けられているとと
もに、前記セラミックコンデンサの前記主面を支持して
いる配線板とを備えているコンデンサモジュールであ
る。
線板との間に、柔軟性を有する部材が介在されている。
導体のそれぞれが、前記端子部材と一体成型されてい
る。
体とが絶縁層を介して所定の距離だけ離間して平行に配
置されている。
よびN極接続導体を一体的にモールドしている合成樹脂
により構成されている。
部電極または前記外部電極に接続された前記端子部材
が、P極接続導体およびN極接続導体に固相接合されて
いる。
びダイオードで構成された複数の相を成す電力変換回路
と、前記電力変換回路のそれぞれの相に電力を供給する
P極導体およびN極導体と、前記P極導体および前記N
極導体に接続されたコンデンサモジュールと、前記電力
変換回路、前記P極導体、前記N極導体、前記コンデン
サモジュールを収納するケースと、前記ケースの底部に
配置された放熱板と、少なくとも前記電力変換回路を被
覆する絶縁樹脂とを備えた半導体装置であって、前記コ
ンデンサモジュールが、対向する主面と対向する側面と
を有し、前記対向する側面に外部電極を有するセラミッ
クコンデンサと、前記セラミックコンデンサの前記外部
電極のそれぞれに対して接合された導電性及び可撓性を
有する端子部材と、前記セラミックコンデンサの一方の
側の前記端子部材を前記P極導体に接続するP極接続導
体と、前記セラミックコンデンサの他方の側の前記端子
部材を前記N極導体に接続するN極接続導体と、前記P
極接続導体及び前記N極接続導体が設けられているとと
もに、前記セラミックコンデンサの前記主面を支持して
いる配線板とを備えている半導体装置である。
線板との間に柔軟性を有する部材が介在されている。
導体のそれぞれが、前記端子部材と一体成型されてい
る。
域と前記セラミックコンデンサの領域とを分離する仕切
り部材が設けられている。
体とが絶縁層を介して所定の距離だけ離間して平行に配
置されている。
よびN極接続導体を一体的にモールドしている合成樹脂
により構成されている。
部電極または前記外部電極に接続された前記端子部材
が、P極接続導体およびN極接続導体に固相接合されて
いる。
体が、直接または導電性の接続部材を介して前記P極導
体およびN極導体にネジ止めされている。
体が、直接または導電性の接続部材を介して前記P極導
体およびN極導体に熱伝導性を有する導電性固着剤によ
って固着されている。
体が、直接または導電性の接続部材を介して前記P極導
体およびN極導体に溶接されている。
ラミックコンデンサの領域において、少なくとも前記P
極導体および前記N極導体と前記放熱板との間に、前記
P極導体および前記N極導体と前記放熱板とを熱的に接
するための絶縁部材が配置されている。
シートである。
る。
態1に係るコンデンサモジュール及び半導体装置の構造
を示す上面から見た透視図を図1に、側面から見た断面
図を図2に、回路構成を図3に示す。本実施の形態で
は、図1に示す通り、6つのIGBT(スイッチング素
子)21と、6つのダイオード22とが、窒化アルミ等
のセラミックからなる絶縁基板25の上面に形成された
銅の配線パターン26にはんだ付けされている。IGB
T21とダイオード22とは、複数の相(図1の例では
3相)を成す電力変換回路を構成している。また、IG
BT21とダイオード22とは、入れ違いに配置されて
おり、すなわち、1つおきに、その向き及び配置が逆に
なっている。電力変換回路のそれぞれの相は、P極導体
41およびN極導体43により電力が供給される。絶縁
基板25は、図2に示すように、放熱板71にはんだ付
けされており、IGBT21およびダイオード22が発
する熱は絶縁基板25を介して放熱板71に伝達され、
放熱板71下面に設置される冷却手段(図示せず)によ
って冷却される。
成型品であり、P極導体41、N極導体43、U極導体
45、V極導体47、W極導体49が一体的にモールド
されている。前記それぞれの導体41,43,45,4
7,49は一部がケース30表面に露出して、P極端子
42、N極端子44、U極端子46、V極端子48、W
極端子50を形成している。図3に示す通り、P極端子
42およびN極端子44には直流電源92が、U極端子
46、V極端子48、W極端子50には3相交流モータ
ー91が接続されている。
内で一部が露出し、この露出部分に平滑コンデンサとし
て作用するコンデンサモジュール60が接続される。本
実施の形態においては、図2に示すようにコンデンサモ
ジュールが縦置きにされている。これにより、コンデン
サモジュール60部分の底面積を(横置きの場合に比べ
て)小さくできるため、その分だけ小型化を図ることが
できる。このコンデンサモジュール60の構造およびP
極導体41およびN極導体43との接続方法については
後に詳述する。これら各部品をアルミワイヤ23で接続
することによって図3に示す回路構成が実現する。
面図を図4に、上面から見た断面図を図5に、側面図を
図6に示す。コンデンサモジュール60は、対向する主
面と対向する側面とを有した略々矩形のセラミックコン
デンサ61とセラミックコンデンサ61の主面を支持し
ているモールド配線板62で構成される。さらにモール
ド配線板62は、銅やアルミなど、電気伝導率および熱
伝導率の高い金属からなるP極接続導体63およびN極
接続導体64が設けられ、これらを一体的にモールドす
る合成樹脂65で構成される。このP極接続導体63お
よびN極接続導体64が、一方の側端および下端を露出
させて合成樹脂65で一体的にモールドされ、P極接続
導体63およびN極接続導体64の間に合成樹脂65か
らなる絶縁層66が形成されている。
の、モールドから露出している側端には、平滑コンデン
サとして作用するブロック状のセラミックコンデンサ6
1が接続される。セラミックコンデンサ61の対向する
側面には外部電極67が形成され、この外部電極67に
は、例えば金属板などの高い導電性を有する端子部材6
8の一方の端部がはんだ付けされている。端子部材68
の他方の端部は、P極接続導体63およびN極接続導体
64の、モールドから露出している部分に、超音波圧接
等によって固相接合されている。端子部材68は、可撓
性を有していて、応力を緩和するために設けられたもの
であり、例えば、特開2000−235931号公報に
記載されているように、外部電極67、P極接続導体6
3及びN極接続導体64に向かって突出する突起(図示
せず)を有して、端子部材68による接合部分を、外部
電極67、P極接続導体63及びN極接続導体64の一
部において実質的に線状に延びるようにした構造を有す
るようにしてもよい。また、それに限らず、可撓性を有
するものであれば、何でもよく、図4〜図6に示すよう
な構造のものにしてもよい。すなわち、その形状は、図
4〜図6から明らかなように、細長い短冊型であり、そ
の両端部は、図5の上断面図に示されるように、それぞ
れ所定の角度を付けて折り曲げられて、接合される相手
の接続面に少なくともその折り曲げられた角が接触する
ように加工されている(この例では、バスタブ形状にな
っている。)。その構成において、外部電極67に対す
るはんだによる接合部分が、外部電極67、P極接続導
体63及びN極接続導体64の一部において実質的に線
状に延びるように接合するか、または、端子部材68を
可撓性を有する金属から構成するか、もしくは、端子部
材68がバネ構造を有していて、それにより可撓性を発
揮するように形成する等して、応力を緩和できるように
構成する。さらに合成樹脂65とセラミックコンデンサ
61の間は熱伝導率が高く接着力が強く柔軟性を有する
アンダーフィル69によって接着されている。P極接続
導体63およびN極接続導体64の、モールドから露出
している下端は、接続部70(図2参照)でP極導体4
1およびN極導体43に溶接される。
25が収納される電力変換回路部31と、コンデンサユ
ニット60が収納されるコンデンサ部32は、ケース3
0に設けられた仕切り部材33で分離されている。電力
変換回路部31には、一般的な半導体装置と同様に、熱
伝導率0.15W/mK程度の熱伝導率を考慮していな
い安価で柔軟性のあるシリコーンゲル等の絶縁樹脂81
が充填されて電力変換回路が被覆されており、コンデン
サ部32には熱伝導率の高いフィラーを配合したシリコ
ーンゲル等の絶縁樹脂55が充填されている。
は、一部が端子部材68を介して、その他がアンダーフ
ィル69および合成樹脂65を介してP極接続導体63
およびN極接続導体64に伝達され、さらに接続部70
を介してP極導体41およびN極導体43に伝達され、
コンデンサ部32に充填された熱伝導率の高い絶縁樹脂
55を介して放熱板71に伝達され、放熱板71下面に
設置される冷却手段(図示せず)によって冷却される。
イオード22を実装した絶縁基板25を放熱板71に実
装後、フラックス除去のために洗浄し、コンデンサモジ
ュール60を接続したケース30と放熱板71を図示せ
ぬネジや接着剤で密着させて固定し、電力変換回路部3
1に絶縁樹脂81を、コンデンサ部32に絶縁樹脂55
をそれぞれ充填する。
ための端子部材68を有するセラミックコンデンサを用
いるとともに、セラミックコンデンサがP極接続導体お
よびN極接続導体の一方または両方に、直接もしくは絶
縁部材(合成樹脂65)を介して、端子部材68以外の
個所で接触するようにしたので、熱や電歪による応力に
よってセラミックコンデンサ61が破損することがな
く、信頼性が高い。また、IGBT21およびダイオー
ド22を実装した絶縁基板25を放熱板71に実装後、
フラックス除去のために洗浄してからケース30が固定
されるので、ケース30は洗浄されることがなく、した
がってケース30に一体的にモールドされた各導体も洗
浄によって逆に汚損されることがなく、アルミワイヤ2
3の接続不良が低減され、且つアルミワイヤ23の接続
信頼性を低下させることがない。また、セラミックコン
デンサ61を半導体装置10内部のP極導体41および
N極導体43に直接はんだ付けしないので、フラックス
によるP極導体41およびN極導体43の汚損がなく、
やはりアルミワイヤ23の接続不良が低減され、且つア
ルミワイヤ23の接続信頼性を低下させることがない。
がシンプルでハンドリングが容易なモールド配線板62
に接続するので、接続作業時の制約がほとんどなく、接
続方法の自由度が増すと共に、どのような接続方法を用
いるにしても接続作業が容易である。
N極接続導体64、P極導体41、N極導体43を単に
電流経路として用いるのではなく、伝熱経路としても用
いることで、セラミックコンデンサ61を冷却すること
ができ、コンデンサの小型化、ひいては半導体装置の小
型化が可能となる。このため、上記各部材の材質として
は銅やアルミがふさわしいが、電気伝導率および熱伝導
率が高く、アルミワイヤボンドおよび溶接が可能な部材
であれば何でも良く、特に限定するものではない。
樹脂65とセラミックコンデンサ61の間はシリコーン
ゴム等の熱伝導率が高く接着力が強く柔軟性のあるアン
ダーフィル69によって接着されているので、セラミッ
クコンデンサ61はモールド配線板62で支持され、ど
のように配置しても剛性の低い端子部材68に過大な荷
重がかかることがなく、セラミックコンデンサ61の配
置の自由度が向上し、半導体装置10の小型化が可能と
なるだけでなく、耐震性向上にも寄与する。さらに合成
樹脂65とアンダーフィル69も単にモールド材や接着
剤として使用するのではなく、セラミックコンデンサ6
1を冷却するための伝熱経路としても用いるので、セラ
ミックコンデンサ61を冷却する能力が向上し、コンデ
ンサの小型化、ひいては半導体装置の小型化が可能とな
る。アンダーフィル69は、熱抵抗を低減させる観点か
ら、可能な限り薄く、広い接着面積を有することが望ま
しいが、セラミックコンデンサ61とモールド配線板6
2の線膨張係数の違いによる熱応力を緩和するため、柔
軟性を有する必要がある。このような材料としてはシリ
コーンゴムが挙げられるが、特にこれに限定するもので
はなく、接着性がよく、熱電伝導率が高く、柔軟性を有
するものであれば何でも良い。なお、端子部材68から
P極接続導体63およびN極接続導体64に至る伝熱経
路のみでも充分な冷却能力が確保できる場合には、合成
樹脂65とアンダーフィル69は特に熱伝導を考慮する
必要はなく、安価な材料で構成されても良い。
よびN極接続導体64は超音波圧接によって固相接合さ
れている。超音波圧接は接合部に圧力と超音波振動を印
加して接合するもので、アルミワイヤボンドなどに一般
的に使用されている。この接合方法は加熱昇温が不要
で、接合部材を溶融させることなく固相のままで接合す
ることから固相接合と呼ばれる。この接合方法を用いる
ことで、セラミックコンデンサ61の外部電極67と端
子部材68とを接合しているはんだを溶融させることな
く端子部材68とP極接続導体63およびN極接続導体
64を接続できるので、端子部材68がずれたり、外れ
てしまうことを防止でき、組立が容易になる。
体64の、モールドから露出している下端は、接続部7
0でP極導体41およびN極導体43に溶接によって接
続されるので、接続のために特別な部材を用いる必要が
なく、部品点数削減および低コスト化が可能である。ま
た、接続に要する時間が短いので、低コスト化に寄与す
る。さらに、接続部に熱伝導を阻害する界面が存在しな
いので熱伝導がよく、セラミックコンデンサ61が発す
る熱を小さい熱抵抗でP極導体41およびN極導体43
に伝達することができる。これによってセラミックコン
デンサ61を冷却する能力が向上し、したがってコンデ
ンサの小型化、ひいては半導体装置の小型化が可能とな
る。また、この溶接工程は、ケース30と放熱板71が
固定される前に行われる。本実施の形態においては、放
熱板71が固定される前であれば、ケース30の底面側
から容易に溶接できるよう接続部70を配置している。
い絶縁樹脂55が充填されているので、P極導体41、
N極導体43および放熱板71の絶縁距離が小さくても
充分な絶縁耐圧を確保でき、半導体装置10の小型化に
寄与するだけでなく、P極導体41およびN極導体43
から放熱板71に至る伝熱経路の熱抵抗を小さくするこ
とができる。これによってセラミックコンデンサ61を
冷却する能力が向上し、コンデンサの小型化、ひいては
半導体装置の小型化が可能となる。
32は、ケース30に設けられた仕切り部材33で分離
されているので、熱伝導率の高い高価な絶縁樹脂55を
コンデンサ部32だけに充填することができ、電力変換
回路部31には一般的な半導体装置と同様に熱伝導率を
考慮していない安価な絶縁樹脂81を使用できるので、
低コスト化が可能になる。
よびN極導体43で水平方向に熱を拡散させて伝熱面積
を拡大し、より小さい熱抵抗で放熱板71に熱を伝える
構造としている。さらに、P極導体41およびN極導体
43と放熱板71との間隔を、絶縁耐圧が確保できる範
囲で可能な限り小さくし、熱抵抗を低減するよう配慮し
ている。
クコンデンサ61がモールド配線板62の両面に接続さ
れているが、セラミックコンデンサ61の数を特に限定
するものではなく、平滑コンデンサとして必要な静電容
量が確保できればよいことは言うまでもない。
ミックコンデンサに作用する熱応力や、セラミックコン
デンサ自身の電歪により発生する応力を緩和するための
金属板からなる端子部材を用いることにより、信頼性の
向上を図るとともに、配置の自由度が高く、縦置き構造
を可能にした、コンデンサモジュールを得ることができ
る。さらに、当該コンデンサモジュールを内蔵すること
により、小型で、高機能で、組立が容易で、信頼性が高
く、安価な半導体装置を得ることができる。
るコンデンサモジュール60Aの構造を示す正面図を図
7に、上面から見た断面図を図8に、側面図を図9に示
す。本実施の形態においては、図7、図8、図9に示す
ように、P極接続導体63およびN極接続導体64の合
成樹脂65から露出している側端部63a,64aを圧
延によって薄くして剛性を低下させ、上述の図5で示し
た端子部材68と同様に、はんだ付けされる相手の接続
面に接触するように加工して折り曲げ、セラミックコン
デンサ61の外部電極67にはんだ付けする。合成樹脂
65には、PPS等のはんだ接合温度に耐える耐熱性を
有する樹脂を使用することで、モールド配線板62の熱
変形を防止する。本実施の形態によれば、実施の形態1
で示した端子部材68を削除し、P極接続導体63およ
びN極接続導体64の端部を延ばして用いる構成(すな
わち、一体成型)としたので、端子部材68を削除した
分だけ接合部が減るので信頼性が向上するとともに、部
品点数および接合工程が削減できるので半導体装置10
の低コスト化が可能になる。
る半導体装置の構造を示す側面から見た断面図を図10
に示す。本実施の形態においては、コンデンサモジュー
ル60Bを図10に示すように、電力変換回路部31の
上部に配置し、P極導体41およびN極導体43に接続
部70で溶接する構造とする。これにより、コンデンサ
モジュール60とP極導体41およびN極導体43は電
気的、熱的に接続される。コンデンサ61が発する熱
は、端子部材68、合成樹脂65、アンダーフィル69
を介してP極接続導体63およびN極接続導体64に伝
達され、さらに接続部70を介してP極導体41、N極
導体43に伝達され、絶縁樹脂55を介して放熱板71
に伝達されて、放熱板71の下部に設けられる図示せぬ
冷却手段によって冷却される。したがって、絶縁樹脂5
5としては、好ましくは高熱伝導の樹脂を用いる。な
お、コンデンサモジュール60は図示せぬ方法で支持さ
れており、どのように支持されても良い。また、コンデ
ンサモジュール60は半導体装置10のフタを兼ねてい
ても良い。
ンサ61を合成樹脂65からなるモールド配線板により
支持するようにしたので、どのように配置しても剛性の
低い端子部材68に過大な荷重がかかることがないた
め、セラミックコンデンサ61の配置の自由度が向上す
るので、セラミックコンデンサ61を電力変換回路部3
1の上部に配置できるため、半導体装置10の小型化が
可能になる。
る半導体装置の構造を示す側面から見た断面図を図11
に示す。本実施の形態においては、コンデンサモジュー
ル60Cを図11に示すように、モールド配線板62を
L字型とし、セラミックコンデンサ61を電力変換回路
部31の上部に配置する。コンデンサモジュール60は
P極導体41およびN極導体43に接続部70で溶接す
る。これにより、コンデンサモジュール60とP極導体
41およびN極導体43は電気的、熱的に接続される。
ケース30下部には放熱板71と72がそれぞれ配置さ
れている。コンデンサ61が発する熱は、端子部材6
8、合成樹脂65、アンダーフィル69を介してP極接
続導体63およびN極接続導体64に伝達され、さらに
接続部70を介してP極導体41、N極導体43に伝達
され、絶縁樹脂55を介して放熱板72に伝達されて、
放熱板72の下部に設けられる図示せぬ冷却手段によっ
て冷却される。したがって、絶縁樹脂55としては、好
ましくは高熱伝導の樹脂を用いる。この場合モールド配
線板62を支持するため、絶縁樹脂55としてエポキシ
樹脂を用いて、これをケース30の上面付近まで充填す
る。エポキシ樹脂については後述する。なお、モールド
配線板62の支持方法はこれに限定するものではなく、
どのように支持されても良い。また、コンデンサモジュ
ール60は半導体装置10のフタを兼ねていても良い。
ンサ61を電力変換回路部31の上部に配置できるた
め、半導体装置10の小型化が可能になる。
るコンデンサモジュール60Dの構造を示す正面図を図
12に、上面から見た断面図を図13に、側面図を図1
4に示す。本実施の形態においては、図12、図13、
図14に示すように、P極接続導体63およびN極接続
導体64が互いに重なり合うように(所定の距離だけ離
間して)近接して平行に配置する。
とN極接続導体64には対向する電流が流れ、磁界がキ
ャンセルされることによってインダクタンスが低減でき
るだけでなく、P極接続導体63とN極接続導体64の
断面積を大きくできるので、コンデンサ61を冷却する
ための伝熱経路の熱抵抗を低減できる。これによってセ
ラミックコンデンサ61を冷却する能力が向上し、コン
デンサの小型化、ひいては半導体装置の小型化が可能と
なる。なお、ここでは第一の実施の形態に適用した場合
を例として説明したが、第二の実施の形態および第三の
実施の形態に適用しても同様の効果が得られることは言
うまでもない。
る半導体装置の構造を示す側面から見た断面図を15に
示す。本実施の形態においては、図15に示すように、
コンデンサモジュール60Eの下端で露出しているP極
接続導体63およびN極接続導体64をL字型にまげ、
このL字型の水平部分がP極導体41およびN極導体4
3に面で接触する構造とする。L字型の水平部分にはネ
ジ穴72を設け、ケース30の底面側からネジ73で固
定する。L字型の水平部分とP極導体41およびN極導
体43の接触面はネジの軸力によって密着し、電気的お
よび熱的な導通が図られる。
ンデンサモジュール60とP極導体41およびN極導体
43が面で接触するので、熱伝導面積が大きくなり、接
続部の熱抵抗が低減され、セラミックコンデンサ61を
冷却する能力が向上し、コンデンサの小型化、ひいては
半導体装置の小型化が可能となる。また、P極接続導体
63およびN極接続導体64をP極導体41およびN極
導体43に対してネジ止めにより固定するようにしたの
で、ネジをはずすことにより、コンデンサモジュール6
0の交換や再利用が可能となる。
る半導体装置の構造を示す側面から見た断面図を図16
に示す。本実施の形態においては、図16に示すよう
に、コンデンサモジュール60FとP極導体41および
N極導体43が高熱伝導性を有する導電性固着材74で
固着する。この場合も先に述べたネジ止めの場合と同じ
くコンデンサモジュール60の下端で露出しているP極
接続導体63およびN極接続導体64をL字型にまげ
る。このL字型の水平部分とP極導体41およびN極導
体43とを、はんだ等のろう材や、エポキシ等の樹脂に
銀フィラーを配合した銀ペースト等の高熱伝導性を有す
る導電性固着材74で固着する。ろう材による接合や、
銀ペーストによる接着には、加熱工程が必要となるの
で、ケース30やモールド配線板62を構成する合成樹
脂65にはPPS等の耐熱性を有する樹脂を用いる。ま
た、ろう材や銀ペーストによる固着部に過大な応力が発
生すると、固着部が破壊される恐れがあるので、コンデ
ンサ部32には絶縁樹脂55としてエポキシ樹脂を充填
し、絶縁を確保すると共に接着部に過大な応力が発生す
ることを防止し、且つ仕切り部材33を介して電力変換
回路部31は通常用いられる絶縁樹脂81を使用し、絶
縁を確保する。
ンデンサモジュール60とP極導体41およびN極導体
43が高熱伝導の導電性接着剤74によって面で接着さ
れているので、熱伝導面積が大きくなり、接続部の熱抵
抗が低減され、セラミックコンデンサ61を冷却する能
力が向上し、コンデンサの小型化、ひいては半導体装置
の小型化が可能となる。
る半導体装置の構造を示す側面から見た断面図を17に
示す。本実施の形態においては、図17に示すように、
P極導体41およびN極導体43と放熱板71の間にシ
リコーンゴムシート56を挟み込む構造とする。シリコ
ーンゲルは高熱伝導化のためにフィラーの配合量を増や
すと、粘度が高くなってコンデンサ部32への充填が困
難になるため、高熱伝導化には限界がある。シリコーン
ゴムシートはすでに硬化した状態のものであり、製造時
に粘度を気にせずフィラーの配合量を増やすことができ
るため、シリコーンゲル以上の高熱伝導化が可能であ
る。このような高熱伝導のシリコーンゴムシート56
を、P極導体41およびN極導体43と放熱板71の間
隔よりも若干厚くしておき、P極導体41およびN極導
体43と放熱板71の間に挟み込むと、ケース30と放
熱板71がネジや接着剤で密着して固定されることによ
り、シリコーンゴムシート56はP極導体41およびN
極導体43と放熱板71に密着し、良好な熱伝導が得ら
れる。本実施の形態によれば、セラミックコンデンサ6
1を冷却する能力が向上し、コンデンサの小型化、ひい
ては半導体装置の小型化が可能となる。また、シリコー
ンゴムシート56はP極導体41およびN極導体43と
放熱板71の間に挟み込まれているだけなので、ケース
30と放熱板71を分離するとシリコーンゴムシート5
6を取り出すことができる。つまり、製造工程で発生し
た不良品、修理不可能な故障品や破損品からシリコーン
ゴムシート56を取り出して再利用することが可能とな
る。
る半導体装置について説明する。本実施の形態において
は、コンデンサ部32に充填する絶縁樹脂55としてエ
ポキシ樹脂を使用する。エポキシ樹脂は硬化するとシリ
コーンゲルと比較して非常に硬くなる。このエポキシ樹
脂がコンデンサモジュール60とP極導体41およびN
極導体43を接続する接続部70を覆うことによって、
振動が加わった場合でも接続部70に過大な応力が発生
することを防止することができ、半導体装置の耐震性が
向上する。また、エポキシ樹脂をケース30の上面付近
まで充填することにより、コンデンサモジュール60の
振動を抑制し、より耐震性を向上させることができる。
また、エポキシ樹脂はシリコーンゲルと比較して安価で
あり、半導体装置の低コスト化を図ることができる。ま
た、エポキシ樹脂は特に高熱伝導化の工夫をしなくて
も、高熱伝導フィラーを配合していない一般的なシリコ
ーンゲルより熱伝導率が高く、高熱伝導フィラーを配合
することによって高熱伝導化を図ることも可能である。
ンサ61を冷却する能力が向上し、コンデンサの小型
化、ひいては半導体装置の小型化が可能となるだけでな
く、半導体装置の耐震性が向上するとともに、半導体装
置の低コスト化を図ることができる。
面とを有し、前記対向する側面に外部電極が設けられた
セラミックコンデンサと、前記セラミックコンデンサの
前記外部電極のそれぞれに対して接合された導電性及び
可撓性を有する端子部材と、前記セラミックコンデンサ
の一方の側の前記端子部材を、外部に設けられたP極導
体に接続するP極接続導体と、前記セラミックコンデン
サの他方の側の前記端子部材を、外部に設けられたN極
導体に接続するN極接続導体と、前記P極接続導体及び
前記N極接続導体が設けられているとともに、前記セラ
ミックコンデンサの前記主面を支持している配線板とを
備えているコンデンサモジュールであるので、応力を緩
和させ、応力によるセラミックコンデンサの破損等を防
止できるので、応力に強く信頼性が向上するとともに、
配線板によりセラミックコンデンサの主面を支持する構
造にしたので、どのように配置しても端子部材に過大な
荷重がかかることがなく、コンデンサモジュールの配置
の自由度が高まり、所定の装置に内蔵した場合に小型化
を図ることができる。
線板との間に、柔軟性を有する部材が介在されているの
で、さらに応力を緩和させることができ、信頼性をより
高くすることができる。
導体のそれぞれが、前記端子部材と一体成型されている
ので、一体に成型したことにより接合部が減り、信頼性
が向上するとともに、部品点数及び接合工程が削減でき
るので、低コスト化が図れる。
体とが絶縁層を介して所定の距離だけ離間して平行に配
置されているので、P極接続導体およびN極接続導体に
は対向する電流が流れ、磁界がキャンセルされることに
よって、インダクタンスが低減でき、さらに、P極接続
導体とN極接続導体の断面積を大きくできるので、コン
デンサを冷却するための伝熱経路の熱抵抗を低減でき
る。
よびN極接続導体を一体的にモールドしている合成樹脂
により構成されているので、応力に対しての強度が高ま
り、信頼性の向上を図ることができる。
部電極または前記外部電極に接続された前記端子部材
が、P極接続導体およびN極接続導体に固相接合されて
いるので、溶接させることなく接合できるので、端子部
材がずれたり、外れてしまうということを防止でき、組
み立てが容易になる。
で構成された複数の相を成す電力変換回路と、前記電力
変換回路のそれぞれの相に電力を供給するP極導体およ
びN極導体と、前記P極導体および前記N極導体に接続
されたコンデンサモジュールと、前記電力変換回路、前
記P極導体、前記N極導体、前記コンデンサモジュール
を収納するケースと、前記ケースの底部に配置された放
熱板と、少なくとも前記電力変換回路を被覆する絶縁樹
脂とを備えた半導体装置であって、前記コンデンサモジ
ュールが、対向する主面と対向する側面とを有し、前記
対向する側面に外部電極を有するセラミックコンデンサ
と、前記セラミックコンデンサの前記外部電極のそれぞ
れに対して接合された導電性及び可撓性を有する端子部
材と、前記セラミックコンデンサの一方の側の前記端子
部材を前記P極導体に接続するP極接続導体と、前記セ
ラミックコンデンサの他方の側の前記端子部材を前記N
極導体に接続するN極接続導体と、前記P極接続導体及
び前記N極接続導体が設けられているとともに、前記セ
ラミックコンデンサの前記主面を支持している配線板と
を備えている半導体装置であるので、セラミックコンデ
ンサに作用する熱応力や、セラミックコンデンサ自身の
電歪により発生する応力を緩和するための金属板からな
る端子部材が設けられたセラミックコンデンサを用い、
かつ、セラミックコンデンサを配線板により支持してい
るため、どのように配置しても端子部材に過大な荷重が
かかることがなく、セラミックコンデンサの配置の自由
度が向上するため、小型で信頼性の高い半導体装置を得
ることができる。
線板との間に、柔軟性を有する部材が介在されているの
で、さらに応力を緩和させることができ、信頼性をより
高くすることができる。
導体のそれぞれが、前記端子部材と一体成型されている
ので、一体に成型したことにより、接合部が減り、信頼
性が向上するとともに、部品点数および接合工程が削減
できるので、低コスト化が図れる。
域と前記セラミックコンデンサの領域とを分離する仕切
り部材が設けられているので、領域ごとに異なる絶縁樹
脂を充填されることが可能になり、安価な絶縁樹脂でよ
い領域にはそれを用いることによりコスト削減も図るこ
とができる。
体とが絶縁層を介して所定の距離だけ離間して平行に配
置されているので、P極接続導体およびN極接続導体に
は対向する電流が流れ、磁界がキャンセルされることに
よって、インダクタンスが低減でき、さらに、P極接続
導体とN極接続導体の断面積を大きくできるので、コン
デンサを冷却するための伝熱経路の熱抵抗を低減でき
る。
よびN極接続導体を一体的にモールドしている合成樹脂
により構成されているので、応力に対しての強度が高ま
り、信頼性の向上を図ることができる。
部電極または前記外部電極に接続された前記端子部材
が、P極接続導体およびN極接続導体に固相接合されて
いるので、溶融させることなく接合できるので、端子部
材がずれたり、外れてしまうということを防止でき、組
立が容易になる。
体が、直接または導電性の接続部材を介して前記P極導
体およびN極導体にネジ止めされているので、ネジを外
すことにより、交換や再利用が可能となる。
体が、直接または導電性の接続部材を介して前記P極導
体およびN極導体に熱伝導性を有する導電性固着剤によ
って固着されているので、接続部の熱抵抗が低減され、
冷却能力が向上する。
体が、直接または導電性の接続部材を介して前記P極導
体およびN極導体に溶接されているので、接続のために
特別な部材を用いる必要がなく、部品点数削減および低
コスト化が図れる。
ラミックコンデンサの領域において、少なくとも前記P
極導体および前記N極導体と前記放熱板との間に、前記
P極導体および前記N極導体と前記放熱板とを熱的に接
するための絶縁部材が配置されているので、冷却能力が
高まり、コンデンサを容易に冷却することができる。
シートであるので、良好な熱伝導が得られ、コンデンサ
を冷却する能力を向上させることができる。
るので、硬化すると非常に硬くなるので、振動が加わっ
た場合でも過大な応力の発生を防止することができる。
造を示す上面から見た透視図である。
造を示す側面から見た断面図である。
路構成図である。
ュール60の構造を示す正面図である。
ュール60の構造を示す上面から見た断面図である。
ュール60の構造を示す側面図である。
ュール60の構造を示す正面図である。
ュール60の構造を示す上面から見た断面図である。
ュール60の構造を示す側面図である。
構造を示す側面から見た断面図である。
構造を示す側面から見た断面図である。
ジュール60の構造を示す正面図である。
ジュール60の構造を示す上面から見た断面図である。
ジュール60の構造を示す側面図である。
構造を示す側面から見た断面図である。
構造を示す側面から見た断面図である。
構造を示す側面から見た断面図である。
た透視図である。
た断面図である。
よび(b)実装状態を示した説明図である。
素子基板の構成の一例を示した斜視図である。
素子基板の構成の変形例を示した斜視図である。
ド、23 アルミワイヤ、25 絶縁基板、26 配線
パターン、30 ケース、31 電力変換回路部、32
コンデンサ部、33 仕切り部材、41 P極導体、
42 P極端子、43 N極導体、44 N極端子、4
5 U極導体、46 U極端子、47 V極導体、48
V極端子、49 W極導体、50 W極端子、55
絶縁樹脂、56 シリコーンゴムシート、60 コンデ
ンサモジュール、61 セラミックコンデンサ、62
モールド配線板、63 P極接続導体、64 N極接続
導体、65 合成樹脂、66 絶縁層、67 外部電
極、69 アンダーフィル、70 接続部、71 放熱
板、72 ネジ穴、81 絶縁樹脂。
Claims (19)
- 【請求項1】 対向する主面と対向する側面とを有し、
前記対向する側面に外部電極が設けられたセラミックコ
ンデンサと、 前記セラミックコンデンサの前記外部電極のそれぞれに
対して接合された導電性及び可撓性を有する端子部材
と、 前記セラミックコンデンサの一方の側の前記端子部材
を、外部に設けられたP極導体に接続するP極接続導体
と、 前記セラミックコンデンサの他方の側の前記端子部材
を、外部に設けられたN極導体に接続するN極接続導体
と、 前記P極接続導体及び前記N極接続導体が設けられてい
るとともに、前記セラミックコンデンサの前記主面を支
持している配線板とを備えていることを特徴とするコン
デンサモジュール。 - 【請求項2】 前記セラミックコンデンサと前記配線板
との間に柔軟性を有する部材を介在させたことを特徴と
する請求項1に記載のコンデンサモジュール。 - 【請求項3】 前記P極接続導体及び前記N極接続導体
のそれぞれが、前記端子部材と一体成型されていること
を特徴とする請求項1または2に記載のコンデンサモジ
ュール。 - 【請求項4】 前記P極接続導体およびN極接続導体と
が絶縁層を介して所定の距離だけ離間して平行に配置さ
れていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか
に記載のコンデンサモジュール。 - 【請求項5】 前記配線板が、前記P極接続導体および
N極接続導体を一体的にモールドしている合成樹脂によ
り構成されていることを特徴とする請求項1ないし4の
いずれかに記載のコンデンサモジュール。 - 【請求項6】 前記セラミックコンデンサの前記外部電
極または前記外部電極に接続された前記端子部材が、P
極接続導体およびN極接続導体に固相接合されているこ
とを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載のコ
ンデンサモジュール。 - 【請求項7】 スイッチング素子およびダイオードで構
成された複数の相を成す電力変換回路と、 前記電力変換回路のそれぞれの相に電力を供給するP極
導体およびN極導体と、 前記P極導体および前記N極導体に接続されたコンデン
サモジュールと、 前記電力変換回路、前記P極導体、前記N極導体、前記
コンデンサモジュールを収納するケースと、 前記ケースの底部に配置された放熱板と、 少なくとも前記電力変換回路を被覆する絶縁樹脂とを備
えた半導体装置であって、 前記コンデンサモジュールが、 対向する主面と対向する側面とを有し、前記対向する側
面に外部電極を有するセラミックコンデンサと、 前記セラミックコンデンサの前記外部電極のそれぞれに
対して接合された導電性及び可撓性を有する端子部材
と、 前記セラミックコンデンサの一方の側の前記端子部材を
前記P極導体に接続するP極接続導体と、 前記セラミックコンデンサの他方の側の前記端子部材を
前記N極導体に接続するN極接続導体と、 前記P極接続導体及び前記N極接続導体が設けられてい
るとともに、前記セラミックコンデンサの前記主面を支
持している配線板とを備えていることを特徴とする半導
体装置。 - 【請求項8】 前記セラミックコンデンサと前記配線
板との間に柔軟性を有する部材が介在されたことを特徴
とする請求項7に記載の半導体装置。 - 【請求項9】 前記P極接続導体及び前記N極接続導体
のそれぞれが、前記端子部材と一体成型されていること
を特徴とする請求項7または8に記載の半導体装置。 - 【請求項10】 前記ケースに前記電力変換回路の領域
と前記セラミックコンデンサの領域とを分離する仕切り
部材が設けられていることを特徴とする請求項7ないし
9のいずれかに記載の半導体装置。 - 【請求項11】 前記P極接続導体およびN極接続導体
とが絶縁層を介して所定の距離だけ離間して平行に配置
されていることを特徴とする請求項7ないし10のいず
れかに記載の半導体装置。 - 【請求項12】 前記配線板が、前記P極接続導体およ
びN極接続導体を一体的にモールドしている合成樹脂に
より構成されていることを特徴とする請求項7ないし1
0のいずれかに記載の半導体装置。 - 【請求項13】 前記セラミックコンデンサの前記外部
電極または前記外部電極に接続された前記端子部材が、
P極接続導体およびN極接続導体に固相接合されている
ことを特徴とする請求項7ないし12のいずれかに記載
の半導体装置。 - 【請求項14】 前記P極接続導体およびN極接続導体
が、直接または導電性の接続部材を介して前記P極導体
およびN極導体にネジ止めされていることを特徴とする
請求項7ないし13のいずれかに記載の半導体装置。 - 【請求項15】 前記P極接続導体およびN極接続導体
が、直接または導電性の接続部材を介して前記P極導体
およびN極導体に熱伝導性を有する導電性固着剤によっ
て固着されていることを特徴とする請求項7ないし14
のいずれかに記載の半導体装置。 - 【請求項16】 前記P極接続導体およびN極接続導体
が、直接または導電性の接続部材を介して前記P極導体
およびN極導体に溶接されていることを特徴とする請求
項7ないし15のいずれかに記載の半導体装置。 - 【請求項17】 前記仕切り部材で仕切られた前記セラ
ミックコンデンサの領域において、少なくとも前記P極
導体および前記N極導体と前記放熱板との間に、前記P
極導体および前記N極導体と前記放熱板とを熱的に接す
るための絶縁部材が配置されていることを特徴とする請
求項10ないし16のいずれかに記載の半導体装置。 - 【請求項18】 前記絶縁部材が、シリコーンゴムのシ
ートであることを特徴とする請求項17に記載の半導体
装置。 - 【請求項19】 前記絶縁部材が、エポキシ樹脂である
ことを特徴とする請求項17に記載の半導体装置。
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FR (1) | FR2824180B1 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008061474A (ja) * | 2006-09-04 | 2008-03-13 | Nissan Motor Co Ltd | 電力変換装置 |
JP2010098895A (ja) * | 2008-10-20 | 2010-04-30 | Mitsubishi Electric Corp | 回転電機装置 |
JP2010153527A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Denso Corp | 半導体モジュール冷却装置 |
TWI427294B (zh) * | 2007-06-22 | 2014-02-21 | Qualitau Inc | 用以測試封裝半導體裝置之高溫陶瓷插座 |
WO2020169998A1 (ja) * | 2019-02-18 | 2020-08-27 | 日産自動車株式会社 | 電力変換装置 |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10339156B3 (de) | 2003-08-26 | 2005-03-17 | Epcos Ag | Schaltungsanordnung mit mehreren Kapazitäten |
US8390131B2 (en) * | 2004-06-03 | 2013-03-05 | International Rectifier Corporation | Semiconductor device with reduced contact resistance |
ES2425084T3 (es) * | 2005-05-02 | 2013-10-11 | Epcos Ag | Condensador de potencia |
JP2008541416A (ja) * | 2005-05-02 | 2008-11-20 | エプコス アクチエンゲゼルシャフト | パワーキャパシタ |
JP2006318953A (ja) | 2005-05-10 | 2006-11-24 | Toyota Industries Corp | 半導体装置の端子接続構造 |
DE102005053397A1 (de) * | 2005-11-09 | 2007-05-10 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Drehstromumrichter und Kondensatoreinheit für einen Drehstromumrichter |
JP4911370B2 (ja) * | 2006-02-17 | 2012-04-04 | 株式会社安川電機 | 電力変換装置 |
JP4564937B2 (ja) | 2006-04-27 | 2010-10-20 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 電気回路装置及び電気回路モジュール並びに電力変換装置 |
KR100905862B1 (ko) * | 2007-02-26 | 2009-07-02 | 삼성전기주식회사 | 집적된 적층형 칩 커패시터 모듈 및 이를 구비하는 집적회로 장치 |
US20080291602A1 (en) * | 2007-05-24 | 2008-11-27 | Daniel Devoe | Stacked multilayer capacitor |
US7633739B2 (en) * | 2007-05-24 | 2009-12-15 | Daniel Devoe | Stacked multilayer capacitor |
US8289675B2 (en) * | 2007-05-24 | 2012-10-16 | Daniel Devoe | Stacked multilayer capacitor |
KR100964962B1 (ko) * | 2007-07-03 | 2010-06-21 | 주식회사 엘지화학 | 그라비아 인쇄법을 이용한 촉매 패턴 형성에 사용되는 촉매전구체 수지 조성물, 이를 이용한 금속패턴 형성방법 및이에 따라 형성된 금속패턴 |
JP5412098B2 (ja) * | 2008-12-05 | 2014-02-12 | 三菱重工業株式会社 | インバータ一体型電動圧縮機およびそのインバータ装置 |
CN102737833A (zh) * | 2011-04-07 | 2012-10-17 | 徐孝华 | 一种具缓冲防裂功能的陶瓷电容器 |
JP5783928B2 (ja) * | 2012-02-15 | 2015-09-24 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 車載用降圧スイッチング電源、車載用電子制御装置、およびアイドルストップシステム |
JP6033337B2 (ja) * | 2013-01-24 | 2016-11-30 | 三菱電機株式会社 | 蓄電池均等化装置 |
JP2017126715A (ja) * | 2016-01-15 | 2017-07-20 | 株式会社村田製作所 | 電子部品、実装電子部品および電子部品の実装方法 |
DE112017007484T5 (de) * | 2017-04-27 | 2020-01-09 | Mitsubishi Electric Corporation | Leistungsumwandlungseinheit |
JP7306279B2 (ja) * | 2020-01-24 | 2023-07-11 | 株式会社デンソー | コンデンサモジュールおよび電力変換装置 |
JP6884244B1 (ja) * | 2020-02-13 | 2021-06-09 | 三菱電機株式会社 | 電力変換装置 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1409717A (en) * | 1971-11-23 | 1975-10-15 | Lucas Industries Ltd | Method of mounting electric wiring arrangements |
JPS6185886A (ja) * | 1984-10-04 | 1986-05-01 | 日本電気株式会社 | フレキシブル印刷配線基板の配線交差方法 |
JPS63301585A (ja) | 1987-05-31 | 1988-12-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プリント基板 |
JPH0669625A (ja) * | 1992-08-19 | 1994-03-11 | Fujitsu General Ltd | コンデンサの実装方法 |
JPH10304680A (ja) | 1997-04-25 | 1998-11-13 | Toyota Motor Corp | 電力変換装置 |
JPH11273984A (ja) | 1998-03-18 | 1999-10-08 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック電子部品 |
JP2000049042A (ja) * | 1998-07-31 | 2000-02-18 | Kyocera Corp | コンデンサ装置 |
JP3687832B2 (ja) | 1998-12-15 | 2005-08-24 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
JP2000195753A (ja) | 1998-12-24 | 2000-07-14 | Kyocera Corp | スタック型セラミックコンデンサ |
JP3780399B2 (ja) | 1999-02-04 | 2006-05-31 | 株式会社村田製作所 | セラミック電子部品 |
US6181599B1 (en) * | 1999-04-13 | 2001-01-30 | Sandisk Corporation | Method for applying variable row BIAS to reduce program disturb in a flash memory storage array |
JP3501685B2 (ja) | 1999-06-04 | 2004-03-02 | 三菱電機株式会社 | 電力変換装置 |
JP3460973B2 (ja) | 1999-12-27 | 2003-10-27 | 三菱電機株式会社 | 電力変換装置 |
-
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008061474A (ja) * | 2006-09-04 | 2008-03-13 | Nissan Motor Co Ltd | 電力変換装置 |
TWI427294B (zh) * | 2007-06-22 | 2014-02-21 | Qualitau Inc | 用以測試封裝半導體裝置之高溫陶瓷插座 |
JP2010098895A (ja) * | 2008-10-20 | 2010-04-30 | Mitsubishi Electric Corp | 回転電機装置 |
JP2010153527A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Denso Corp | 半導体モジュール冷却装置 |
WO2020169998A1 (ja) * | 2019-02-18 | 2020-08-27 | 日産自動車株式会社 | 電力変換装置 |
JPWO2020169998A1 (ja) * | 2019-02-18 | 2020-08-27 | ||
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